專利名稱：磁盤驅(qū)動器測試的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及磁盤驅(qū)動器測試。
背景技術(shù)：
磁盤驅(qū)動器制造商典型地對制造的磁盤驅(qū)動器進行測試，以符合許多要求。存在 用于串行或并行測試大量磁盤驅(qū)動器的測試設(shè)備和測試方法。制造商趨向于成批同時測試 大量磁盤驅(qū)動器。磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)典型包括一個或多個機架，所述機架具有接納用于 測試的磁盤驅(qū)動器的多個測試槽。精密調(diào)節(jié)緊鄰磁盤驅(qū)動器的周圍測試環(huán)境。測試環(huán)境中的最小溫度波動對磁盤驅(qū) 動器的精確測試條件以及安全性至關(guān)重要。容量更高、轉(zhuǎn)速更快且磁頭間隙更小的最新代 磁盤驅(qū)動器對振動更敏感。過大的振動會影響測試結(jié)果的可靠性以及電連接的完整性。在 測試條件下，驅(qū)動器本身能經(jīng)由支撐結(jié)構(gòu)或固定裝置將振動傳播到相鄰單元。此振動“串 擾”與振動的外部來源一同增加可能會導(dǎo)致低測試合格率并提高制造成本的撞擊誤差、磁 頭撞擊以及不可重復(fù)偏離(NRRO)。當前的磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)采用導(dǎo)致系統(tǒng)的振動過大和/或需要大的占地面積 的自動控制以及結(jié)構(gòu)支撐系統(tǒng)。當前的磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)還需要操作人員或傳送帶將磁 盤驅(qū)動器分別供給到測試系統(tǒng)用于測試。

發(fā)明內(nèi)容
一方面，磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)包括至少一個機器人臂，所述機器人臂限定大致垂 直于地板表面的第一軸線。機器人臂能被操作成繞第一軸線旋轉(zhuǎn)預(yù)定弧度(例如360° ) 和從第一軸線徑向延伸。多個機架布置在機器人臂的周圍，用于由機器人臂提供服務(wù)。每 個機架容納多個測試槽，每個測試槽被構(gòu)造成接納磁盤驅(qū)動器運送器，所述磁盤驅(qū)動器運 送器被構(gòu)造成攜載用于測試的磁盤驅(qū)動器。本公開的實施方案包括一個或多個以下特征。在一些實施方案中，機器人臂包括 機械手，所述機械手被構(gòu)造成接合其中一個測試槽的磁盤驅(qū)動器運送器。機器人臂能被操 作成將磁盤驅(qū)動器運送器中的磁盤驅(qū)動器攜載至測試槽用于測試。機器人臂限定大致圓柱 形的工作包絡(luò)體，機架和傳送站布置在工作包絡(luò)體內(nèi)，用于由機器人臂提供服務(wù)。在一些示 例中，機架和傳送站繞機器人臂的第一軸線被布置成至少部分封閉的多邊形。機架可被布 置成與機器人臂的第一軸線的徑向距離相同或不同。機器人臂可通過從其中一個測試槽取回磁盤驅(qū)動器運送器以在傳送站與測試槽 之間傳送磁盤驅(qū)動器來獨立服務(wù)于每個測試槽。在一些實施方案中，磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng) 包括豎直致動支架，所述豎直致動支架支撐機器人臂，并能被操作成使機器人臂相對于地 板表面豎直移動。磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)還可包括線性致動器，所述線性致動器支撐機器人 臂，并能被操作成使機器人臂沿地板表面水平移動。在一些實施方案中，磁盤驅(qū)動器測試系 統(tǒng)包括可旋轉(zhuǎn)工作臺，所述可旋轉(zhuǎn)工作臺支撐機器人臂，并能被操作成使機器人臂繞大致垂直于地板表面的第二軸線旋轉(zhuǎn)。磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)可包括傳送站，所述傳送站被布置成由機器人臂提供服務(wù)。 所述傳送站被構(gòu)造成供應(yīng)和/或存儲用于測試的磁盤驅(qū)動器。在一些實施方案中，傳送站 能被操作成繞由傳送站限定的大致垂直于地板表面的縱軸線旋轉(zhuǎn)。傳送站包括傳送站殼 體，所述傳送站殼體限定背對的第一儲箱容座和第二儲箱容座。在一些示例中，傳送站包 括站基底、從站基底大致垂直向上延伸的心軸以及可旋轉(zhuǎn)地安裝在心軸上的多個儲箱收容 器。每個儲箱收容器能相互獨立地旋轉(zhuǎn)，并限定背對的第一儲箱容座和第二儲箱容座。機器人臂可通過在傳送站的被接納磁盤驅(qū)動器儲箱與測試槽之間傳送磁盤驅(qū)動 器來為獨立服務(wù)于每個測試槽。在一些實施方案中，磁盤驅(qū)動器儲箱包括限定多個磁盤驅(qū) 動器容座的儲箱本體，每個磁盤驅(qū)動器容座被構(gòu)造成容納磁盤驅(qū)動器。每個磁盤驅(qū)動器容 座限定磁盤驅(qū)動器支架，所述磁盤驅(qū)動器支架被構(gòu)造成支撐所接納的磁盤驅(qū)動器的中心部 分，以允許沿非中心部分操縱磁盤驅(qū)動器。在一些示例中，磁盤驅(qū)動器儲箱包括儲箱本體， 所述儲箱本體限定多個柱腔；以及多個懸臂式磁盤驅(qū)動器支架，所述懸臂式磁盤驅(qū)動器支 架設(shè)置在每個柱腔內(nèi)(例如形成柱腔的后壁的懸臂)，將柱腔分成多個磁盤驅(qū)動器容座，每 個磁盤驅(qū)動器容座被構(gòu)造成接納磁盤驅(qū)動器。每個磁盤驅(qū)動器支架被構(gòu)造成支撐所接納的 磁盤驅(qū)動器的中心部分，以允許沿非中心部分操縱磁盤驅(qū)動器。磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)有時包括設(shè)置在機器人臂上的視覺系統(tǒng)，所述視覺系統(tǒng)在輸 送磁盤驅(qū)動器時輔助機器人臂的制導(dǎo)。具體而言，視覺系統(tǒng)可用于對保持磁盤驅(qū)動器運送 器的機器人臂上的機械手進行制導(dǎo)，以將磁盤驅(qū)動器運送器可靠地插入其中一個測試槽或 者磁盤驅(qū)動器儲箱。視覺系統(tǒng)可通過使機器人臂與機架、測試槽、傳送站和/或磁盤驅(qū)動器 儲箱上的準標對準來校準機器人臂。在一些實施方案中，磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)包括與測試槽通信的至少一臺計算機。 電源系統(tǒng)將電源供應(yīng)至磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)并可被構(gòu)造成監(jiān)控和/或調(diào)節(jié)供應(yīng)至測試槽 中接納的磁盤驅(qū)動器的電源。溫度控制系統(tǒng)控制每個測試槽的溫度。所述溫度控制系統(tǒng)可 包括鼓風機(例如風扇)，所述鼓風機能被操作成使空氣從測試槽上方和/或經(jīng)過測試槽循 環(huán)。振動控制系統(tǒng)(例如通過無源衰減)控制機架振動。數(shù)據(jù)接口與每個測試槽通信，并 被構(gòu)造成與由測試槽接納的磁盤驅(qū)動器運送器中的磁盤驅(qū)動器通信。每個機架可包括與至少一個測試槽通信的至少一個自測系統(tǒng)。所述自測系統(tǒng)包括 群集控制器、與接納在測試槽中的磁盤驅(qū)動器電通信的連接接口電路以及與連接接口電路 電通信的塊接口電路。所述塊接口電路被構(gòu)造成控制測試槽的電源和溫度。連接接口電路 和塊接口電路被構(gòu)造成測試磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)的至少一個部件的功能性(例如當測試 槽為空時，或者當容納由磁盤驅(qū)動器運送器保持的磁盤驅(qū)動器時，對測試槽的功能性進行 測試)。在一些實施方案中，每個機架包括與至少一個測試槽通信的至少一個功能測試系 統(tǒng)。所述功能測試系統(tǒng)包括群集控制器、與所述群集控制器電通信的至少一個功能接口電 路以及與接納在測試槽中的磁盤驅(qū)動器以及功能接口電路電通信的連接接口電路。所述功 能接口電路被構(gòu)造成向磁盤驅(qū)動器通信功能測試例程。在一些示例中，功能測試系統(tǒng)包括 用于在群集控制器與至少一個功能接口電路之間提供電通信的以太網(wǎng)交換機。另一方面，進行磁盤驅(qū)動器測試的方法包括提供用于測試的磁盤驅(qū)動器；致動單個機器人臂以取回所提供的磁盤驅(qū)動器，并將磁盤驅(qū)動器攜載至容納在磁盤驅(qū)動器測試 系統(tǒng)的機架中的測試槽。機器人臂能被操作成繞由機器人臂限定的大致垂直于地板表面的 第一軸線旋轉(zhuǎn)預(yù)定弧度和從所述第一軸線徑向延伸。所述方法包括致動機器人臂以將磁 盤驅(qū)動器插入測試槽；對容納在測試槽中的磁盤驅(qū)動器進行功能性測試；以及致動機器人 臂以從測試槽取回已被測試的磁盤驅(qū)動器，并將已被測試的磁盤驅(qū)動器運送至測試完成位 置，比如傳送站。在一些實施方案中，所述方法還包括將磁盤驅(qū)動器裝載到傳送站中，以提 供磁盤驅(qū)動器用于測試；致動機器人臂以從測試槽取回磁盤驅(qū)動器運送器；致動機器人臂 以從傳送站取回所提供的磁盤驅(qū)動器，并在磁盤驅(qū)動器運送器中攜載磁盤驅(qū)動器。所述方 法包括致動機器人臂以將攜載磁盤驅(qū)動器的磁盤驅(qū)動器運送器運送至測試槽，且例如在測 試之后，致動機器人臂以從測試槽取回攜載已被測試的磁盤驅(qū)動器的磁盤驅(qū)動器運送器， 并將已被測試的磁盤驅(qū)動器運送回傳送站。在又一方面，進行磁盤驅(qū)動器測試的方法包括(例如通過將磁盤驅(qū)動器裝載到由 磁盤驅(qū)動器儲箱限定的磁盤驅(qū)動器容座中，并將磁盤驅(qū)動器儲箱裝載到由傳送站限定的儲 箱容座中)將多個磁盤驅(qū)動器裝載到傳送站中。所述方法包括致動機器人臂以從容納在機 架中的測試槽取回磁盤驅(qū)動器運送器，以及致動機器人臂以從傳送站取回其中一個磁盤驅(qū) 動器，并在磁盤驅(qū)動器運送器中攜載磁盤驅(qū)動器。機器人臂被能被操作成繞由機器人臂限 定的大致垂直于地板表面的第一軸線旋轉(zhuǎn)預(yù)定弧度和從所述第一軸線徑向延伸。所述方法 包括致動機器人臂以將攜載磁盤驅(qū)動器的磁盤驅(qū)動器運送器運送至測試槽，并對由所接納 的磁盤驅(qū)動器運送器以及測試槽容納的磁盤驅(qū)動器進行功能性測試。然后，所述方法包括 致動機器人臂以從測試槽取回攜載已被測試的磁盤驅(qū)動器的磁盤驅(qū)動器運送器，并將已被 測試的磁盤驅(qū)動器運送回傳送站。在一些示例中，所述方法包括(例如在將已被測試的磁盤驅(qū)動器放置到磁盤驅(qū)動 器儲箱的磁盤驅(qū)動器容座中之后)致動機器人臂以將磁盤驅(qū)動器運送器放置到測試槽中。 在一些示例中，將磁盤驅(qū)動器運送器運送至測試槽包括將攜載磁盤驅(qū)動器的磁盤驅(qū)動器 運送器插入機架中的測試槽，在磁盤驅(qū)動器與機架之間建立電連接。在一些實施方案中，對所接納的磁盤驅(qū)動器進行功能性測試包括在操作磁盤驅(qū)動 器的同時調(diào)節(jié)測試槽的溫度。另外，操作所接納的磁盤驅(qū)動器可包括對磁盤驅(qū)動器進行數(shù) 據(jù)讀寫。在一些示例中，所述方法包括下列步驟中的一個或多個步驟使空氣從測試槽上方 和/或經(jīng)過測試槽循環(huán)，以控制測試槽的溫度；監(jiān)控和/或調(diào)節(jié)供應(yīng)至所接納的磁盤驅(qū)動器 的電源；以及使利用由機架容納的自測系統(tǒng)對測試槽進行自測，以檢驗測試槽的功能性。所述方法可包括與視覺系統(tǒng)通信，所述視覺系統(tǒng)設(shè)置在機器人臂上以在輸送磁盤 驅(qū)動器的同時輔助機器人臂的制導(dǎo)。所述方法還可包括通過使機器人臂與由視覺系統(tǒng)識別 的機架、測試槽、傳送站和/或磁盤驅(qū)動器儲箱上的準標對準來校準機器人臂。在以下的附圖和說明中闡明了本公開的一個或多個實施方案的細節(jié)。通過說明、 附圖以及權(quán)利要求，其它特征、目的和優(yōu)點將變得顯而易見。


圖1是磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)的透視圖。
圖2是磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)的頂視圖。
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圖3是磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)的透視圖。圖4至圖5是具有不同尺寸的機架和占地面積的磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)的頂視圖。圖6是磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)的透視圖。圖7是支撐在豎直致動支架和水平致動支架上的機器人臂的側(cè)視圖。圖8是具有兩個機器人臂的磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)的透視圖。圖9是包括支撐在旋轉(zhuǎn)支架上的機器人臂的磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)的頂視圖。圖10是傳送站的透視圖。圖11是限定多個磁盤驅(qū)動器容座的儲箱的透視圖。圖12是具有懸臂式磁盤驅(qū)動器支架的儲箱的透視圖。圖13是磁盤驅(qū)動器運送器的透視圖。圖14是攜載磁盤驅(qū)動器的磁盤驅(qū)動器運送器的透視圖。圖15是攜載磁盤驅(qū)動器的磁盤驅(qū)動器運送器的底部透視圖。圖16是為插入測試槽而對準的攜載磁盤驅(qū)動器的磁盤驅(qū)動器運送器的透視圖。圖17是磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)的示意圖。圖18是具有自測和功能測試能力的磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)的示意圖。在各附圖中相同的附圖標志表示相同的元件。
具體實施例方式參照圖1至圖3，在一些實施方案中，磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)100包括至少一個機器 人臂200，所述至少一個機器人臂200限定大致垂直于地板表面10的第一軸線205。機器 人臂200能被操作成繞第一軸線205旋轉(zhuǎn)預(yù)定弧度和從第一軸線205徑向延伸。在一些示 例中，機器人臂200能被操作成繞第一軸線205旋轉(zhuǎn)360°，而且包括設(shè)置于機器人臂200 遠端的機械手212，以搬運磁盤驅(qū)動器500和/或攜載磁盤驅(qū)動器500的磁盤驅(qū)動器運送器 550 (例如參見圖13和圖14)。多個機架300布置在機器人臂200的周圍，用于由機器人臂 200提供服務(wù)。每個機架300容納多個測試槽310，所述測試槽被構(gòu)造成接納用于測試的磁 盤驅(qū)動器500。機器人臂200限定大致圓柱形的工作包絡(luò)體210，機架300布置在工作包絡(luò) 體210內(nèi)(例如參見圖4和圖5)，以便能夠?qū)γ總€測試槽310進行存取而由所述機器人臂 (200)提供服務(wù)。大致圓柱形的工作包絡(luò)體210實現(xiàn)了緊湊的占地面積，且容量通常僅受到 高度約束的限制。機器人臂200可被構(gòu)造成獨立服務(wù)于每個測試槽310，以提供經(jīng)過測試系統(tǒng)100的 磁盤驅(qū)動器500的連續(xù)流。經(jīng)過測試系統(tǒng)100的單個磁盤驅(qū)動器500的連續(xù)流允許每個磁 盤驅(qū)動器500的隨機開始和停止時間，而需要一次運行大量磁盤驅(qū)動器500的系統(tǒng)必須全 部具有相同的開始和結(jié)束時間。因此，利用連續(xù)流，不同容量的磁盤驅(qū)動器500能同時運行 并根據(jù)需要被服務(wù)(裝載/卸載)。自立式機器人臂200與機架300的隔離有助于機架300的振動控制，所述機器人臂只共用地板表面10作為共同支撐結(jié)構(gòu)(例如 參見圖10)。換言之，機器人臂200與機架300分離，而且只共用地板表面10作為兩個結(jié)構(gòu) 之間的連接的唯一方式。在一些情況下，每個機架300容納大約480個測試槽310。在其它 情況下，機架300的尺寸和測試槽容量不同。
在圖1至圖3圖示的示例中，機架300被布置成與機器人臂200的第一軸線205 的徑向距離相同。但是，機架300可以在工作包絡(luò)體210內(nèi)在機器人臂200周圍以任意圖 案和任意距離布置。機架300繞機器人臂200的第一軸線205被布置成至少部分封閉的多 邊形，比如開口的或封閉的八邊形、正方形、三角形、梯形或其它多邊形，如圖4和圖5所示 的示例?？梢酝ㄟ^不同尺寸和形狀來構(gòu)造機架300，以匹配具體占地面積。機架300在機器 人臂200周圍的布置可以是對稱的或不對稱的。在圖3和圖6所示的示例中，機器人臂200由地板表面10上的基座或升降裝置250 升高并支撐在所述基座或升降裝置250上。基座或升降裝置250通過允許機器人臂200不 僅向上伸展而且還向下伸展以服務(wù)于測試槽310，來增加工作包絡(luò)體210的高度。能通過 將豎直致動器附加至基座或升降裝置250，并將所述致動器構(gòu)造成支撐機器人臂200的豎 直致動支架252，來進一步增加工作包絡(luò)體210的高度，如圖7所示。豎直致動支架252能 被操作成使機器人臂200相對于地板表面10豎直移動。在一些示例中，豎直致動支架252 被構(gòu)造成支撐機器人臂200的豎直軌道，并包括使機器人臂200沿著所述軌道豎直移動的 致動器(例如從動滾珠絲杠或運動帶)。同樣如圖7所示，水平致動支架254(例如線性致 動器)可用于支撐機器人臂200，并能被操作成使機器人臂200沿著地板表面10水平移動。 在所示的示例中，支撐機器人臂200的豎直致動支架252和水平致動支架254的組合提供 從頂部看具有細長的大致橢圓形輪廓的放大工作包絡(luò)體210。在圖8所示的示例中，磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)100包括兩個機器人臂200A和200B， 所述兩個機器人臂均繞第一軸線205旋轉(zhuǎn)。一個機器人臂200A支撐在地板表面10上，而 另一個機器人臂200B懸掛于天花板結(jié)構(gòu)12。類似地，在圖7所示的示例中，附加的機器人 臂200可在豎直致動支架252上被操作。在圖9所示的示例中，磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)100包括支撐機器人臂200的可旋轉(zhuǎn) 工作臺260。可旋轉(zhuǎn)工作臺260能被操作成使機器人臂200繞大致垂直于地板表面10的 第二軸線262旋轉(zhuǎn)，從而提供比只繞第一軸線205旋轉(zhuǎn)的機器人臂200更大的工作包絡(luò)體 210。再次參照圖7至圖8，在一些實施方案中，磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)100包括設(shè)置在機 器人臂200上的視覺系統(tǒng)270。視覺系統(tǒng)270被構(gòu)造成在輸送磁盤驅(qū)動器500的同時輔助 機器人臂200的制導(dǎo)。具體而言，視覺系統(tǒng)270輔助由機械手212保持的、用于插入測試槽 310和/或儲箱450的磁盤驅(qū)動器運送器550的校準。視覺系統(tǒng)270通過使機器人臂200 與機架300上、優(yōu)選測試槽310上的準標314對準來校準機器人臂200。在一些示例中，準 標314為靠近機架300上的測試槽310的開口 312的角部定位的“L”形標志。機器人臂 200在對測試槽310進行存取(例如以拾取或者放置可能正攜載磁盤驅(qū)動器500的磁盤驅(qū) 動器運送器550)之前使自身與準標314對準。連續(xù)的機器人臂對準在使攜載磁盤驅(qū)動器 500的磁盤驅(qū)動器運送器550的錯誤放置(這可能損壞磁盤驅(qū)動器500和/或磁盤驅(qū)動器 測試系統(tǒng)100)最小化的同時，提高了機器人臂200的準確性和規(guī)范性。在一些實施方案中，磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)100包括傳送站400，如圖1至圖3以及 圖10所示。而在其它實施方案中，磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)100可包括將磁盤驅(qū)動器500供給 到機器人臂200的傳送帶(未示出)或者操作裝置。在包括傳送站400的示例中，機器人 臂200通過在傳送站400與測試槽310之間傳送磁盤驅(qū)動器500來獨立服務(wù)于每個測試槽
10310。傳送站400包括多個儲箱容座430，每個所述儲箱容座被構(gòu)造成接納儲箱450。儲箱 450限定容納磁盤驅(qū)動器500的磁盤驅(qū)動器容座454用于測試和/或存儲。在每個磁盤驅(qū) 動器容座454中，所容納的磁盤驅(qū)動器500由磁盤驅(qū)動器支架456支撐。機器人臂200被 構(gòu)造成利用機械手212將磁盤驅(qū)動器運送器550從其中一個測試槽310移出，然后利用磁 盤驅(qū)動器運送器550從位于傳送站400的其中一個磁盤驅(qū)動器容座454拾取磁盤驅(qū)動器 500，然后使其中有磁盤驅(qū)動器500的磁盤驅(qū)動器運送器550返回到用于磁盤驅(qū)動器500的 測試的測試槽310。在測試之后，機器人臂200通過從測試槽310 (即利用機械手212)移除 攜載已被測試的磁盤驅(qū)動器500的磁盤驅(qū)動器運送器550、將磁盤驅(qū)動器運送器550中的 已被測試的磁盤驅(qū)動器500運載至傳送站400、然后操縱磁盤驅(qū)動器運送器550使已被測 試的磁盤驅(qū)動器500返回到位于傳送站400的其中一個磁盤驅(qū)動器容座454，從測試槽310 取回已被測試的磁盤驅(qū)動器500。在于機器人臂200上包括視覺系統(tǒng)270的實施方案中，準 標314可鄰近一個或多個磁盤驅(qū)動器容座454定位，以在傳送站400取回或者放置磁盤驅(qū) 動器500的過程中輔助機器人臂的制導(dǎo)。在一些示例中，傳送站400包括限定縱軸線415的站殼體410。一個或多個儲箱收 容器420例如在沿縱軸線415延伸的心軸412上可旋轉(zhuǎn)地安裝在站殼體410中。每個儲箱 收容器420可在單獨的各心軸412上或者共用心軸412上旋轉(zhuǎn)。每個儲箱收容器420限定 背對的第一儲箱容座430A和第二儲箱容座430B。在示出的示例中，傳送站400包括堆疊 在心軸412上的三個儲箱收容器420。每個儲箱收容器420可獨立于另一個儲箱收容器旋 轉(zhuǎn)，并可使所接納的磁盤驅(qū)動器儲箱450在(例如由操作人員可存取的)服務(wù)位置與由機 器人臂200可存取的測試位置之間旋轉(zhuǎn)。在示出的示例中，每個儲箱收容器420可在第一 位置(例如服務(wù)位置)與第二位置(測試位置)之間旋轉(zhuǎn)。當在第一位置時，使操作人員 存取第一儲箱容座430A，而使機器人臂200在相反側(cè)上存取第二儲箱容座430B。當在第二 位置時，使機器人臂200存取第一儲箱容座430A，而使操作人員在相反側(cè)上存取第二儲箱 容座430B。結(jié)果，在機器人臂200在傳送站400的一側(cè)上存取容納于儲箱容座430中的儲 箱450用于裝載/卸載磁盤驅(qū)動器500的同時，操作人員可通過在傳送站400的相反側(cè)上 將儲箱450裝載到儲箱容座430中/將儲箱從儲箱容座430中卸載來服務(wù)于傳送站400。傳送站400提供用于將磁盤驅(qū)動器500運送至磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)100以及從所 述磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)100取回磁盤驅(qū)動器500的服務(wù)點。儲箱450允許操作人員將一批 磁盤驅(qū)動器500運送至傳送站400和從所述傳送站400取回所述磁盤驅(qū)動器500。在圖10 所示的示例中，可將在第二位置可從各個儲箱收容器420存取的每個儲箱450指定為用于 供應(yīng)用于測試的磁盤驅(qū)動器500的源儲箱450或者用于接納已被測試的磁盤驅(qū)動器500的 目的儲箱450?？蓪⒛康膬ο?50分類為分別用于接納已經(jīng)通過功能項性測試或者未通過 功能性測試的相應(yīng)磁盤驅(qū)動器500的“通過返回儲箱”或者“未通過返回儲箱”。殼體門416可樞轉(zhuǎn)或者可滑動地附接至傳送站殼體410，并被構(gòu)造成提供到一個 或多個儲箱容座430的操作人員入口。操作人員打開與具體儲箱收容器420相聯(lián)的殼體門 416，以將儲箱450裝載到相應(yīng)儲箱容座430中或從所述儲箱容座430卸載。傳送站400可 被構(gòu)造成在相聯(lián)的殼體門416打開時保持相應(yīng)儲箱收容器420固定。在一些示例中，傳送站400包括站指示器418，所述站指示器418提供傳送站400 的一種或多種狀態(tài)的可見、可聽或其它可識別的指示。在一個示例中，站指示器418包括燈
11(例如LED)，所述燈在一個或多個儲箱收容器420需要服務(wù)(例如從具體儲箱收容器420裝 載/卸載儲箱450)時進行指示。在另一示例中，站指示器418包括一個或多個音頻設(shè)備， 所述音頻設(shè)備提供一個或多個可聽信號(例如，唧唧聲、噼拍聲等等)，以向操作人員發(fā)出 服務(wù)傳送站400的信號。如圖所示，可沿縱軸線415設(shè)置站指示器418，或在站殼體410的 其它部分上設(shè)置所述站指示器418。在圖11所示的示例中，儲箱450A包括限定多個磁盤驅(qū)動器容座454A的儲箱本體 452A。每個磁盤驅(qū)動器容座454A被構(gòu)造成容納磁盤驅(qū)動器500。在此示例中，每個磁盤驅(qū) 動器容座454A包括磁盤驅(qū)動器支架456A，所述磁盤驅(qū)動器支架456A被構(gòu)造成支撐所接納 的磁盤驅(qū)動器500的中心部分502，以允許沿非中心部分操縱磁盤驅(qū)動器500。為將所容納 的磁盤驅(qū)動器500從磁盤驅(qū)動器容座454A移除，(例如通過機器人臂200)將磁盤驅(qū)動器 運送器550定位在磁盤驅(qū)動器容座454A中的磁盤驅(qū)動器500下面，并使得磁盤驅(qū)動器運送 器升高，以使磁盤驅(qū)動器500升高而脫離磁盤驅(qū)動器支架456A。然后，將攜載用于運送至 最終目的地比如測試槽310的磁盤驅(qū)動器500的磁盤驅(qū)動器運送器550從磁盤驅(qū)動器容座 454A移除。在圖12所示的示例中，儲箱450B包括限定柱腔453B的儲箱本體452B，所述柱腔 由多個磁盤支架456B分成磁盤驅(qū)動器容座454B。磁盤驅(qū)動器支架456B形成柱腔453B的 后壁457B的懸臂。磁盤驅(qū)動器支架456B被構(gòu)造成支撐所接納的磁盤驅(qū)動器的中心部分 502，以允許沿非中心部分操縱磁盤驅(qū)動器500。懸臂式磁盤驅(qū)動器支架456B允許通過將磁 盤驅(qū)動器運送器550(例如，如圖13所示)剛好從下面插入空磁盤驅(qū)動器容座454B，并使 磁盤驅(qū)動器500升高脫離磁盤驅(qū)動器支架456B以從磁盤驅(qū)動器容座454B移除，來從儲箱 450B取回磁盤驅(qū)動器500。以相反順序重復(fù)相同步驟將磁盤驅(qū)動器500放置到儲箱450B。 如圖所示，每個柱腔453B中的底部磁盤驅(qū)動器容座454B為空，以便于移除容納在其上方的 磁盤驅(qū)動器容座454B的磁盤驅(qū)動器500。因此，在具體柱內(nèi)必須以順序次序裝載/卸載磁 盤驅(qū)動器500 ；但實現(xiàn)了比圖11所示的儲箱方案更大的存儲密度。參照圖13至圖16，在一些示例中，測試槽310被構(gòu)造成接納磁盤驅(qū)動器運送器 550。磁盤驅(qū)動器運送器550被構(gòu)造成接納磁盤驅(qū)動器500并由機器人臂200搬運。在使 用過程中，利用機器人臂200 (例如通過利用機器人臂200的機械手212抓取或者以其它方 式接合運送器550的凹口 552)將其中一個磁盤驅(qū)動器運送器550從其中一個測試槽310 移除。如圖13所示，磁盤驅(qū)動器運送器550包括框架560，所述框架限定由側(cè)壁562、564以 及底板566形成的大致U形開口 561，所述側(cè)壁和底板共同允許框架560配合在儲箱450中 的磁盤驅(qū)動器支架456的周圍，以使磁盤驅(qū)動器運送器550能(例如通過機器人臂200)移 動到容納在儲箱450的其中一個磁盤驅(qū)動器容座454中的其中一個磁盤驅(qū)動器500下面的 位置。然后，(例如通過機器人臂200)能使磁盤驅(qū)動器運送器550升高到接合磁盤驅(qū)動器 500以移除出儲箱450中的磁盤驅(qū)動器支架456的位置。在磁盤驅(qū)動器500位于磁盤驅(qū)動器運送器550的框架560中的適當位置時，磁盤 驅(qū)動器運送器550和磁盤驅(qū)動器500能通過機器人臂200 —同移動，從而被放置在其中一 個測試槽310內(nèi)，如圖16所示。機械手212還被構(gòu)造成啟動設(shè)置在磁盤驅(qū)動器運送器550 中的夾緊機構(gòu)570的致動。這使得能在運送器550從儲箱450移動到測試槽310之前致 動夾緊機構(gòu)570，以防止磁盤驅(qū)動器500在此移動過程中相對于磁盤驅(qū)動器運送器550移動。在插入測試槽310之前，機械手212能再次致動夾緊機構(gòu)570，以釋放框架560內(nèi)的磁 盤驅(qū)動器500。這使得將磁盤驅(qū)動器運送器550插入其中一個測試槽310，直到磁盤驅(qū)動器 500利用與測試槽連接器(未示出)接合的磁盤驅(qū)動器連接器510處于測試位置。夾緊機 構(gòu)570還可被構(gòu)造成一旦被接納在測試槽310內(nèi)就接合所述測試槽，以防止磁盤驅(qū)動器運 送器550相對于測試槽310移動。在這些實施方案中，一旦磁盤驅(qū)動器500處于測試位置， 夾緊機構(gòu)570就(例如通過機械手212)再次被接合，以防止磁盤驅(qū)動器運送器550相對于 測試槽310移動。磁盤驅(qū)動器運送器550這樣的夾緊會有助于減小測試過程中的振動。在 一些示例中，在被插入之后，磁盤驅(qū)動器運送器550以及其中攜載的磁盤驅(qū)動器500以組合 或單獨的方式被夾緊或者固定在測試槽310內(nèi)。夾緊機構(gòu)570的詳細說明以及可與本文所 述內(nèi)容組合的細節(jié)和特征可從以下與本發(fā)明同時提交的序列號為11/959，133、代理機構(gòu)卷 號為 18523-067001、發(fā)明人為 Brian Merrow 等、名稱為“DISK DRIVE TRANSPORT, CLAMPING AND TESTING(磁盤驅(qū)動器輸送、夾緊和測試)”的美國專利申請獲知。磁盤驅(qū)動器500會對振動敏感。使多個磁盤驅(qū)動器500配合在單個測試機架300 中和(例如在測試過程中)運行磁盤驅(qū)動器500，以及分別選擇性攜載磁盤驅(qū)動器500的磁 盤驅(qū)動器運送器550插入和移除測試機架300中的各個測試槽310，都會是不期望出現(xiàn)的振 動的產(chǎn)生源。在一些情況下，例如，其中一個磁盤驅(qū)動器500可以正在其中一個測試槽310 內(nèi)的測試過程中操作，同時其它磁盤驅(qū)動器正在被移除并被插入同一測試機架300中的相 鄰測試槽310。如上所述，在將磁盤驅(qū)動器運送器550完全插入測試槽310之后將磁盤驅(qū)動 器運送器550夾緊至測試槽310能有助于在磁盤驅(qū)動器運送器550的插入和移除過程中， 通過限制磁盤驅(qū)動器運送器550與測試槽310之間的接觸和刮擦減小或限制振動。參照圖17，在一些實施方案中，磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)100包括與測試槽310通信 的至少一臺計算機320。計算機320可被構(gòu)造成提供磁盤驅(qū)動器500的存量控制和/或控 制磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)100的自動接口。電源系統(tǒng)330將電源供應(yīng)至磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng) 100。電源系統(tǒng)330可監(jiān)控和/或調(diào)節(jié)供應(yīng)至測試槽310中接納的磁盤驅(qū)動器500的電源。 溫度控制系統(tǒng)340控制每個測試槽310的溫度。溫度控制系統(tǒng)340可以是鼓風機342 (例 如風扇)，所述鼓風機342能被操作成使空氣從測試槽310上方和/或經(jīng)過測試槽310循 環(huán)。在一些示例中，鼓風機342位于測試槽310的外面。比如有源或無源衰減的振動控制系 統(tǒng)350控制每個測試槽310的振動。在一些示例中，振動控制系統(tǒng)350包括無源衰減系統(tǒng)， 其中，測試槽310的部件通過墊圈隔離器(例如熱塑性乙烯)和/或彈性底座(例如聚氨 酯彈性體)連接。在一些示例中，振動控制系統(tǒng)350包括有源控制系統(tǒng)，所述有源控制系統(tǒng) 具有彈簧、阻尼器以及控制回路，控制機架300和/或測試槽310中的振動。數(shù)據(jù)接口 360 與每個測試槽310通信。數(shù)據(jù)接口 360被構(gòu)造成與由測試槽310接納的磁盤驅(qū)動器500通 在圖18所示的示例中，每個機架300包括與至少一個測試槽310通信的至少一個 自測系統(tǒng)600。自測系統(tǒng)600包括群集控制器610、與接納在測試槽310中的磁盤驅(qū)動器 500電通信的連接接口電路620以及與連接接口電路620電通信的塊接口電路630。群集 控制器610可被構(gòu)造成運行一個或多個測試程序，比如對測試槽310的多次自測和/或?qū)?磁盤驅(qū)動器500的功能性測試。連接接口電路620和塊接口電路630可被構(gòu)造成自測。但 在一些示例中，自測系統(tǒng)600包括自測電路660，所述自測電路660被構(gòu)造成對磁盤驅(qū)動器
13測試系統(tǒng)100的一個或多個部件執(zhí)行和控制自測例程。例如，自測電路660可被構(gòu)造成對 磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)100的一個或多個部件執(zhí)行“磁盤驅(qū)動器”式和/或“僅僅測試槽”式 自測。群集控制器610可通過以太網(wǎng)(例如千兆位以太網(wǎng))與自測電路640通信，所述自 測電路640可與塊接口電路630通信并通過通用異步接收/發(fā)送器(UART)串行鏈路連接 到連接接口電路620和磁盤驅(qū)動器500。UART通常為用于通過計算機或外圍設(shè)備串行端口 進行串行通信的單獨集成電路(或者集成電路的部分)。塊接口電路630被構(gòu)造成控制測 試槽310的電源和溫度，并可控制多個測試槽310和/或磁盤驅(qū)動器500。在一些實施方案中，每個機架300包括與至少一個測試槽310通信的至少一個功 能測試系統(tǒng)650。功能測試系統(tǒng)650測試由磁盤驅(qū)動器運送器550保持和/或支撐在測試 槽310中的被接納的磁盤驅(qū)動器500是否正確運行。功能性測試可包括測試由磁盤驅(qū)動器 500接收到的功率值、工作溫度、讀寫數(shù)據(jù)的能力和在不同溫度讀寫數(shù)據(jù)的能力(例如在高 溫時讀取而在低溫時寫入，反之亦然)。功能性測試可測試磁盤驅(qū)動器500的每個存儲扇 區(qū)或者只是隨機采樣的存儲扇區(qū)。功能性測試可測試磁盤驅(qū)動器500的工作溫度以及與磁 盤驅(qū)動器500通信的數(shù)據(jù)完整性。功能測試系統(tǒng)650包括群集控制器610以及與群集控制 器610電通信的至少一個功能接口電路660。連接接口電路620與接納在測試槽310中的 磁盤驅(qū)動器500以及功能接口電路660電通信。功能接口電路660被構(gòu)造成向磁盤驅(qū)動器 500通信功能測試例程。功能測試系統(tǒng)650可包括通信交換機670 (例如千兆位以太網(wǎng))，以 在群集控制器610與一個或多個功能接口電路660之間提供電通信。優(yōu)選地，計算機320、 通信交換機670、群集控制器610以及功能接口電路660在以太網(wǎng)上進行通信。但也可使 用其它形式的通信。功能接口電路660可通過并行AT附件(硬盤接口，也稱作IDE、ΑΤΑ、 ATAPI、UDMA以及ΡΑΤΑ)、SATA或者SAS (串行附接SCSI)與連接接口電路620通信。進行磁盤驅(qū)動器測試的方法包括(例如通過將磁盤驅(qū)動器500裝載到由磁盤驅(qū)動 器儲箱450限定的磁盤驅(qū)動器容座454中，并將磁盤驅(qū)動器儲箱450裝載到由傳送站400 限定的儲箱容座430中)將多個磁盤驅(qū)動器500裝載到傳送站400中。所述方法包括致動 機器人臂200以從容納在機架300中的測試槽310取回磁盤驅(qū)動器運送器550，以及致動機 器人臂200以從傳送站400取回其中一個磁盤驅(qū)動器500并在磁盤驅(qū)動器運送器550中攜 載磁盤驅(qū)動器500。機器人臂200能被操作成繞由機器人臂200限定的大致垂直于地板表 面10的第一軸線205旋轉(zhuǎn)預(yù)定弧度和從所述第一軸線205徑向延伸。所述方法包括致動 機器人臂200以將攜載磁盤驅(qū)動器500的磁盤驅(qū)動器運送器550運送至測試槽310，并對由 磁盤驅(qū)動器運送器550和測試槽310所容納的磁盤驅(qū)動器500進行功能性測試。然后，所 述方法包括致動機器人臂200以從測試槽310取回攜載已被測試的磁盤驅(qū)動器500的磁盤 驅(qū)動器運送器550，并將已被測試的磁盤驅(qū)動器500送回傳送站400。在一些實施方案中， 如果測試槽310被設(shè)置成用于各種測試，則機架300以及兩個或兩個以上相關(guān)聯(lián)的測試槽 310被構(gòu)造成在內(nèi)部將磁盤驅(qū)動器500從其中一個測試槽310移動到另一測試槽310。在一些示例中，所述方法包括在將已被測試的磁盤驅(qū)動器500放置到磁盤驅(qū)動器 儲箱450的磁盤驅(qū)動器容座454中之后致動機器人臂200以將磁盤驅(qū)動器運送器550放置 到測試槽310中，或者通過從磁盤驅(qū)動器儲箱450的另一個磁盤驅(qū)動器容座454取回用于 測試的另一個磁盤驅(qū)動器500重復(fù)所述方法。在一些示例中，將磁盤驅(qū)動器運送器550運 送至測試槽310包括將攜載磁盤驅(qū)動器500的磁盤驅(qū)動器運送器550插入機架300中的測試槽310，在磁盤驅(qū)動器500與機架300之間建立電連接。在一些實施方案中，所述方法包括對所接納的磁盤驅(qū)動器500進行功能性測試， 所述功能性測試包括在操作磁盤驅(qū)動器500的同時調(diào)節(jié)測試槽310的溫度。所接納的磁盤 驅(qū)動器500的操作包括對磁盤驅(qū)動器500進行數(shù)據(jù)讀寫。所述方法還可包括使空氣從測試 槽310上方和/或經(jīng)過測試槽310循環(huán)，以及控制測試槽310的溫度，并監(jiān)控和/或調(diào)節(jié)供 應(yīng)至磁盤驅(qū)動器500的電源。在一些示例中，所述方法包括利用由機架300容納的自測系統(tǒng)600對測試槽310 進行“磁盤驅(qū)動器”式和/或“僅僅測試槽”式自測，以檢驗測試槽310的功能性?！按疟P驅(qū) 動器”式自測利用由磁盤驅(qū)動器運送器550保持和/或支撐在測試槽310中的所接納的磁 盤驅(qū)動器500來測試磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)的功能性。“僅僅測試槽”式自測在測試槽310為 空時測試所述測試槽的功能性。在一些示例中，所述方法包括與視覺系統(tǒng)270通信，所述視覺系統(tǒng)270設(shè)置在機器 人臂200上以在輸送可由磁盤驅(qū)動器運送器550攜載的磁盤驅(qū)動器500的同時輔助機器人 臂200的制導(dǎo)。所述方法包括通過使機器人臂200與由視覺系統(tǒng)270識別的機架300、測試 槽310、傳送站400和/或儲箱450上的準標314對準來校準機器人臂200。能與本文所述的細節(jié)和特征相結(jié)合的其它細節(jié)和特征可從以下與本發(fā)明同時提 交的序列號為11/958，817、代理機構(gòu)卷號為18523-064001、發(fā)明人為Edward Garcia等、名 稱為“DISK DRIVE TESTING(磁盤驅(qū)動器測試)”的美國專利申請獲知。已經(jīng)描述了許多實施方案。但應(yīng)理解的是，在沒有背離本公開的精神和范圍的前 提下，可作出各種改型。因此，其它實施方案屬于所附權(quán)利要求的范圍。
權(quán)利要求
一種磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)(100)，包括至少一個機器人臂(200)，所述至少一個機器人臂(200)限定大致垂直于地板表面(10)的第一軸線(205)，所述機器人臂(200)能被操作成繞所述第一軸線(205)旋轉(zhuǎn)預(yù)定弧度和從所述第一軸線(205)徑向延伸；多個機架(300)，所述多個機架(300)布置在所述機器人臂(200)的周圍，用于由所述機器人臂(200)提供服務(wù)；以及多個測試槽(310)，所述多個測試槽(310)由每個機架(300)容納，每個測試槽(310)被構(gòu)造成接納磁盤驅(qū)動器運送器(550)，所述磁盤驅(qū)動器運送器(550)被構(gòu)造成攜載用于測試的磁盤驅(qū)動器(500)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)(100)，其中所述機器人臂(200)包括 機械手(212)，所述機械手(212)被構(gòu)造成接合其中一個所述測試槽(310)的所述磁盤驅(qū)動 器運送器(550)，所述機器人臂(200)能被操作成將所述磁盤驅(qū)動器運送器(550)中的磁盤 驅(qū)動器(500)攜載至所述測試槽(310)用于測試。
3.根據(jù)前述權(quán)利要求中的任一項所述的磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)(100)，其中所述機架 (300)被布置成與所述機器人臂(200)的第一軸線(205)的徑向距離相同，和/或繞所述機 器人臂(200)的第一軸線(205)被布置成至少部分封閉的多邊形。
4.根據(jù)前述權(quán)利要求中的任一項所述的磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)(100)，還包括至少一臺計算機(320)，所述至少一臺計算機(320)與所述測試槽(310)通信；電源系統(tǒng)(330)，所述電源系統(tǒng)(330)用于將電源供應(yīng)至所述磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng) (100)；溫度控制系統(tǒng)(340)，所述溫度控制系統(tǒng)(340)用于控制每個測試槽(310)的溫度；振動控制系統(tǒng)(350)，所述振動控制系統(tǒng)(350)用于控制機架振動；以及數(shù)據(jù)接口(360)，所述數(shù)據(jù)接口(360)與每個測試槽(310)通信，所述數(shù)據(jù)接口(360) 被構(gòu)造成與由所述測試槽(310)接納的磁盤驅(qū)動器運送器(550)中的磁盤驅(qū)動器(500)通
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)(100)，其中所述電源系統(tǒng)(330)被構(gòu) 造成監(jiān)控和/或調(diào)節(jié)供應(yīng)至所述測試槽(310)中接納的磁盤驅(qū)動器(500)的電源。
6.根據(jù)權(quán)利要求4或5所述的磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)(100)，其中所述溫度控制系統(tǒng) (340)包括鼓風機(342)，所述鼓風機(342)能被操作成使空氣經(jīng)過所述測試槽(310)循環(huán)。
7.根據(jù)前述權(quán)利要求中的任一項所述的磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)(100)，其中每個機架 (300)包括與至少一個測試槽(310)通信的至少一個自測系統(tǒng)(600)，所述自測系統(tǒng)(600) 包括群集控制器(610)；連接接口電路(620)，所述連接接口電路(620)與接納在所述測試槽(310)中的磁盤驅(qū) 動器(500)電通信；以及塊接口電路(630)，所述塊接口電路(630)與所述連接接口電路(620)電通信，所述塊 接口電路(630)被構(gòu)造成控制所述測試槽(310)的電源和溫度；其中所述連接接口電路(620)和所述塊接口電路(630)被構(gòu)造成測試所述磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)(100)的至少一個部件的功能性。
8.根據(jù)前述權(quán)利要求中的任一項所述的磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)(100)，其中每個機架 (300)包括與至少一個測試槽(310)通信的至少一個功能測試系統(tǒng)(650)，所述功能測試系 統(tǒng)(650)包括群集控制器(610)；至少一個功能接口電路(660)，所述至少一個功能接口電路(660)與所述群集控制器 (610)電通信；以及連接接口電路(620)，所述連接接口電路(620)與接納在所述測試槽(310)中的磁盤驅(qū) 動器(500)以及所述至少一個功能接口電路(660)電通信，其中所述至少一個功能接口電 路(660)被構(gòu)造成向所述磁盤驅(qū)動器(500)通信功能測試例程。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)(100)，其中所述功能測試系統(tǒng)(650) 還包括通信交換機(670)，優(yōu)選以太網(wǎng)交換機，用于在所述群集控制器(610)與所述至少一 個功能接口電路(660)之間提供電通信。
10.根據(jù)前述權(quán)利要求中的任一項所述的磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)(100)，其中所述機器 人臂(200)限定大致圓柱形的工作包絡(luò)體(210)，所述機架(300)布置在所述工作包絡(luò)體 (210)內(nèi)，以便能夠?qū)γ總€測試槽(310)進行存取而由所述機器人臂(200)提供服務(wù)。
11.根據(jù)前述權(quán)利要求中的任一項所述的磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)(100)，其中，所述機器 人臂(200)通過從其中一個測試槽(310)取回所述磁盤驅(qū)動器運送器(550)以在傳送站 (400)與所述測試槽(310)之間傳送磁盤驅(qū)動器(500)來獨立地服務(wù)于每個測試槽(310)。
12.根據(jù)前述權(quán)利要求中的任一項所述的磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)(100)，其中所述機器 人臂(200)能被操作成繞所述第一軸線(205)旋轉(zhuǎn)360°。
13.根據(jù)前述權(quán)利要求中的任一項所述的磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)(100)，還包括豎直致 動支架(252)，所述豎直致動支架(252)支撐所述機器人臂(200)，并能被操作成使所述機 器人臂(200)相對于所述地板表面(10)豎直移動。
14.根據(jù)前述權(quán)利要求中的任一項所述的磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)(100)，還包括線性致 動器(254)，所述線性致動器(254)用于支撐所述機器人臂(200)，并能被操作成使所述機 器人臂(200)沿著所述地板表面(10)水平移動。
15.根據(jù)前述權(quán)利要求中的任一項所述的磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)(100)，還包括可旋轉(zhuǎn) 工作臺(260)，所述可旋轉(zhuǎn)工作臺(260)支撐所述機器人臂(200)，并能被操作成使所述機 器人臂( )繞大致垂直于所述地板表面(10)的第二軸線(262)旋轉(zhuǎn)。
16.根據(jù)前述權(quán)利要求中的任一項所述的磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)(100)，還包括設(shè)置在 所述機器人臂(200)上的視覺系統(tǒng)(270)，所述視覺系統(tǒng)(270)在輸送磁盤驅(qū)動器(500)的 同時輔助所述機器人臂(200)的制導(dǎo)，并通過使所述機器人臂(200)與準標(314)對準輔 助所述機器人臂(200)的校準。
17.根據(jù)前述權(quán)利要求中的任一項所述的磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)(100)，還包括傳送站 (400)，所述傳送站(400)被布置成由所述機器人臂(200)提供服務(wù)，所述傳送站(400)供 應(yīng)用于測試的磁盤驅(qū)動器(500)。
18.一種進行磁盤驅(qū)動器測試的方法包括提供用于測試的磁盤驅(qū)動器(500)；致動單個機器人臂(200)以取回所提供的磁盤驅(qū)動器(500)，并將所述磁盤驅(qū)動器 (500)攜載至容納在磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)(100)的機架(300)中的測試槽(310)，所述機器 人臂(200)能被操作成繞由所述機器人臂(200)限定的大致垂直于地板表面(10)的第一 軸線(205)旋轉(zhuǎn)預(yù)定弧度和從所述第一軸線(205)徑向延伸；致動所述機器人臂(200)以將所述磁盤驅(qū)動器(500)插入所述測試槽(310)；對容納在所述測試槽(310)中的磁盤驅(qū)動器(500)進行功能性測試；以及致動所述機器人臂(200)以從所述測試槽(310)取回已被測試的磁盤驅(qū)動器(500)，并 將所述已被測試的磁盤驅(qū)動器(500)運送至測試完成位置。
19.根據(jù)權(quán)利要求18所述的方法，還包括將所述磁盤驅(qū)動器(500)裝載到傳送站(400)中，提供所述磁盤驅(qū)動器(500)用于測試；致動所述機器人臂(200)以從所述測試槽(310)取回磁盤驅(qū)動器運送器(550)；致動所述機器人臂(200)以從所述傳送站(400)取回所提供的磁盤驅(qū)動器(500)，并在 所述磁盤驅(qū)動器運送器(550)中攜載所述磁盤驅(qū)動器(500)；致動所述機器人臂(200)以將攜載磁盤驅(qū)動器(500)的所述磁盤驅(qū)動器運送器(550) 運送至所述測試槽(310)；以及致動所述機器人臂(200)以從所述測試槽(310)取回攜載所述已被測試的磁盤驅(qū)動器 (500)的磁盤驅(qū)動器運送器(550)，并將所述已被測試的磁盤驅(qū)動器(500)運送回所述傳送 站(400)。
20.根據(jù)權(quán)利要求18或19所述的方法，還包括致動所述機器人臂(200)以將空的磁盤 驅(qū)動器運送器(550)放置到所述測試槽(310)中。
21.根據(jù)權(quán)利要求18至20中的任一項所述的方法，其中對所接納的磁盤驅(qū)動器(500) 進行功能性測試包括在操作所述磁盤驅(qū)動器(500)的同時，特別是在對所述磁盤驅(qū)動器 (500)進行數(shù)據(jù)讀寫的同時，調(diào)節(jié)所述測試槽(310)的溫度。
22.根據(jù)權(quán)利要求18至21中的任一項所述的方法，還包括使空氣經(jīng)過所述測試槽 (310)循環(huán)以控制所述測試槽(310)的溫度。
23.根據(jù)權(quán)利要求18至22中的任一項所述的方法，還包括監(jiān)控供應(yīng)至接納在所述測試 槽(310)中的磁盤驅(qū)動器(500)的電源。
24.根據(jù)權(quán)利要求18至中的任一項所述的方法，還包括調(diào)節(jié)供應(yīng)至接納在所述測試槽 (310)中的磁盤驅(qū)動器(500)的電源。
25.根據(jù)權(quán)利要求18至24中的任一項所述的方法，還包括利用由所述機架(300)容納 的自測系統(tǒng)(600)對所述測試槽(310)進行自測，以檢驗所述測試槽(310)的功能性。
26.根據(jù)權(quán)利要求18至25中的任一項所述的方法，其中致動所述機器人臂(200)包 括致動支撐所述機器人臂(200)的支架(252)，以使所述機器人臂(200)相對于地板表面 (10)豎直移動。
27.根據(jù)權(quán)利要求18至26中的任一項所述的方法，其中，致動所述機器人臂(200)包 括致動支撐所述機器人臂的(200)的線性致動器(254)，以使所述機器人臂(200)相對于地 板表面(10)水平移動。
28.根據(jù)權(quán)利要求18至27中的任一項所述的方法，還包括與視覺系統(tǒng)(270)通信，所述視覺系統(tǒng)(270)設(shè)置在所述機器人臂(200)上以在輸送所述磁盤驅(qū)動器(500)的同時輔 助所述機器人臂(200)的制導(dǎo)，和/或用于通過使所述機器人臂(200)與所述機架(300) 上的準標(314)對準來校準所述機器人臂(200)。全文摘要
一種磁盤驅(qū)動器測試系統(tǒng)(100)，包括至少一個機器人臂(200)，所述至少一個機器人臂限定大致垂直于地板表面(10)的第一軸線(205)。所述機器人臂能被操作成繞所述第一軸線旋轉(zhuǎn)預(yù)定弧度和從所述第一軸線徑向延伸。多個機架(300)布置在所述機器人臂的周圍，用于由所述機器人臂提供服務(wù)。每個機架容納多個測試槽(310)，每個測試槽被構(gòu)造成接納磁盤驅(qū)動器運送器(550)，所述磁盤驅(qū)動器運送器被構(gòu)造成攜載用于測試的磁盤驅(qū)動器(500)。
文檔編號G11B33/12GK101939785SQ200880126182
公開日2011年1月5日 申請日期2008年12月15日 優(yōu)先權(quán)日2007年12月18日
發(fā)明者伊夫根尼·波利亞科夫, 埃里克·L·特呂本巴赫, 布萊恩·S·梅洛, 沃爾特·瓦伊, 愛德華·加西亞 申請人:泰拉丁公司