專利名稱：記錄功率的調(diào)節(jié)方法以及光盤(pán)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及記錄功率的調(diào)節(jié)方法以及光盤(pán)裝置，特別涉及對(duì)可改寫(xiě)光盤(pán)(CD-RW、 DVD-RAM、 DVD+RW、 DVD-RW、 BD-RE等)進(jìn)行數(shù)據(jù)的記錄以及再現(xiàn)的光盤(pán)裝置。
背景技術(shù)：
可以記錄的光盤(pán)中，在每一個(gè)光盤(pán)上記錄著應(yīng)該以怎樣的記錄波形怎樣的激光記錄功率進(jìn)行記錄。但是，由于實(shí)際上介質(zhì)制造商的測(cè) 定儀器與實(shí)際的記錄機(jī)或驅(qū)動(dòng)器的激光束不同，或是由于記錄波形的前沿的快慢不同等，即使利用記錄于光盤(pán)的波形和功率對(duì)光盤(pán)進(jìn)行記 錄有時(shí)也會(huì)結(jié)果不佳。為此，在光盤(pán)中準(zhǔn)備有被稱為試寫(xiě)區(qū)域(PCA (Power Calibration area))的區(qū)域。光盤(pán)裝置在該區(qū)域形成記錄標(biāo)記并進(jìn)行試寫(xiě)，由此可 以校正進(jìn)行記錄時(shí)的記錄波形和記錄功率，以對(duì)該光盤(pán)而言最佳的條 件進(jìn)行處理(以下，稱為試寫(xiě)處理(OPC (Optimum Power Control))。專利文獻(xiàn)1公開(kāi)了避開(kāi)試寫(xiě)區(qū)域中的、存在有記錄膜惡化、欠缺 的區(qū)域而進(jìn)行試寫(xiě)的技術(shù)。專利文獻(xiàn)2公開(kāi)了基于記錄速度一最佳記錄功率特性，測(cè)定由再 現(xiàn)試寫(xiě)后數(shù)據(jù)而得到的再現(xiàn)信號(hào)的品質(zhì)，求出最高可記錄速度的技術(shù)。專利文獻(xiàn)3公開(kāi)了利用高功率的激光對(duì)試寫(xiě)區(qū)域進(jìn)行消去處理， 可以得到與試寫(xiě)區(qū)域的狀態(tài)無(wú)關(guān)的穩(wěn)定的試寫(xiě)結(jié)果的技術(shù)。專利文獻(xiàn)l:日本特開(kāi)2005—182886號(hào)公報(bào)專利文獻(xiàn)2:日本特開(kāi)2002—298356號(hào)公報(bào)專利文獻(xiàn)3:日本特開(kāi)2005—038466號(hào)公報(bào)為了確定從未記錄狀態(tài)開(kāi)始形成記錄標(biāo)記時(shí)的記錄功率，光盤(pán)裝 置將記錄在試寫(xiě)區(qū)域的記錄標(biāo)記消去。但是，如果記錄標(biāo)記的半徑方 向的寬度比能夠消去的區(qū)域大，則會(huì)導(dǎo)致記錄標(biāo)記不能完全消去，出 現(xiàn)殘留記錄標(biāo)記，或者，以高記錄功率進(jìn)行記錄時(shí)，會(huì)發(fā)生光盤(pán)記錄發(fā)明內(nèi)容因此，本發(fā)明的目的在于，提供一種記錄功率的調(diào)節(jié)方法以及光 盤(pán)裝置，在對(duì)可改寫(xiě)光盤(pán)進(jìn)行試寫(xiě)處理時(shí)，排除沒(méi)能消去的區(qū)域而對(duì) 記錄功率進(jìn)行調(diào)節(jié)，從而確保高穩(wěn)定性和高精度的試寫(xiě)處理。為了解決上述課題，本發(fā)明提供一種具有用于向光盤(pán)的試寫(xiě)區(qū)域 輸出記錄光的輸出電路，和調(diào)節(jié)所述輸出電路輸出的記錄光的記錄功 率的控制電路的光盤(pán)裝置的記錄功率的調(diào)節(jié)方法，其具有如下步驟 所述控制電路消去記錄在所述試寫(xiě)區(qū)域的記錄標(biāo)記；在所述試寫(xiě)區(qū)域 的記錄中，以比開(kāi)始記錄動(dòng)作的閾值功率低的預(yù)定記錄功率進(jìn)行記錄； 一邊改變所述記錄功率一邊對(duì)所述試寫(xiě)區(qū)域進(jìn)行記錄。另外，本發(fā)明提供一種光盤(pán)裝置，具有，用于向光盤(pán)的試寫(xiě)區(qū)域 輸出記錄光的輸出電路，和調(diào)節(jié)所述輸出電路輸出的記錄光的記錄功 率的控制電路，其中，在消去記錄在所述試寫(xiě)區(qū)域的記錄標(biāo)記的消去 處理和一邊改變所述記錄功率一邊對(duì)所述試寫(xiě)區(qū)域進(jìn)行記錄的記錄處 理之間，所述控制電路控制所述記錄功率，從而利用比開(kāi)始記錄動(dòng)作 的閾值功率低的預(yù)定記錄功率在所述試寫(xiě)區(qū)域的記錄中進(jìn)行記錄。根據(jù)本發(fā)明，在對(duì)可改寫(xiě)光盤(pán)進(jìn)行試寫(xiě)處理時(shí)，排除由消去時(shí)的 殘留物等造成的、得不到對(duì)應(yīng)于記錄功率的特性的區(qū)域而進(jìn)行記錄功 率的調(diào)節(jié)，從而能夠確保高穩(wěn)定性和高精度的試寫(xiě)處理。


圖1是表示本發(fā)明實(shí)施方式中的光盤(pán)裝置的整體構(gòu)成的框圖。圖2 (A)是表示說(shuō)明標(biāo)記計(jì)數(shù)方式的試寫(xiě)區(qū)域的說(shuō)明圖。圖2 (B) 是表示說(shuō)明標(biāo)記計(jì)數(shù)方式的記錄處理的說(shuō)明圖。圖2 (C)是表示說(shuō)明 標(biāo)記計(jì)數(shù)方式的標(biāo)記計(jì)數(shù)處理的說(shuō)明圖。圖3是表示記錄功率的調(diào)節(jié)處理的流程圖。圖4是表示不良扇區(qū)的檢測(cè)處理的流程圖。圖5是表示不良扇區(qū)的檢測(cè)處理的流程圖。圖6 (A)是表示標(biāo)記計(jì)數(shù)方式中的試寫(xiě)區(qū)域的說(shuō)明圖。圖6 (B) 是表示標(biāo)記計(jì)數(shù)方式中、以一定的低功率進(jìn)行消去處理的說(shuō)明圖。圖6 (C)是表示標(biāo)記計(jì)數(shù)處理的說(shuō)明圖。圖6 (D)是表示標(biāo)記計(jì)數(shù)方式 中的判定結(jié)果的說(shuō)明圖。圖6 (E)是表示標(biāo)記計(jì)數(shù)方式中的記錄處理 的說(shuō)明圖。圖6 (F)是表示標(biāo)記計(jì)數(shù)處理的說(shuō)明圖。
圖7 (A)是表示標(biāo)記計(jì)數(shù)方式中的試寫(xiě)區(qū)域的說(shuō)明圖。圖7 (B) 是表示標(biāo)記計(jì)數(shù)方式中、以一定的低功率進(jìn)行消去處理的說(shuō)明圖。圖7 (C)是表示標(biāo)記計(jì)數(shù)的說(shuō)明圖。圖7 (D)是表示標(biāo)記計(jì)數(shù)方式中的 判定結(jié)果的說(shuō)明圖。
圖8 (A)是表示標(biāo)記計(jì)數(shù)方式中的試寫(xiě)區(qū)域的說(shuō)明圖。圖8 (B) 是表示標(biāo)記計(jì)數(shù)方式中、以一定的低功率進(jìn)行消去處理的說(shuō)明圖。圖8 (C)是表示標(biāo)記計(jì)數(shù)處理的說(shuō)明圖。圖8 (D)是表示標(biāo)記計(jì)數(shù)方式 中的判定結(jié)果的說(shuō)明圖。圖8 (E)是表示標(biāo)記計(jì)數(shù)方式中的記錄處理 的說(shuō)明圖。圖8 (F)是表示標(biāo)記計(jì)數(shù)的說(shuō)明圖。
圖9 (A)是表示標(biāo)記計(jì)數(shù)方式中的試寫(xiě)區(qū)域的說(shuō)明圖。圖9 (B) 是表示標(biāo)記計(jì)數(shù)方式中、以一定的低功率進(jìn)行消去處理的說(shuō)明圖。圖9 (C)是表示標(biāo)記計(jì)數(shù)的說(shuō)明圖。圖9 (D)是表示標(biāo)記計(jì)數(shù)方式中的 判定結(jié)果的說(shuō)明圖。圖9 (E)是表示標(biāo)記計(jì)數(shù)方式中的記錄處理的說(shuō) 明圖。圖9 (F)是表示標(biāo)記計(jì)數(shù)的說(shuō)明圖。
圖10 (A)是表示說(shuō)明電平方式的試寫(xiě)區(qū)域的說(shuō)明圖。圖10 (B) 是表示說(shuō)明電平方式的記錄處理的說(shuō)明圖。圖10 (C)是表示說(shuō)明電 平方式的再現(xiàn)信號(hào)的說(shuō)明圖。圖10 (D)是表示說(shuō)明電平方式的調(diào)制 度處理的說(shuō)明圖。圖10 (E)是表示說(shuō)明電平方式的Y的說(shuō)明圖。
圖ll-l (A)是表示電平方式的試寫(xiě)區(qū)域的說(shuō)明圖。圖ll-l (B) 是表示電平方式中、利用一定的低功率進(jìn)行消去處理的說(shuō)明圖。圖11-1 (C)是表示電平方式的再現(xiàn)信號(hào)的說(shuō)明圖。圖11-1 (D)是表示電平 方式的調(diào)制度處理的說(shuō)明圖。
圖11-2 (E)是表示電平方式的判定結(jié)果的說(shuō)明圖。圖11-2 (F) 是表示電平方式的記錄處理的說(shuō)明圖。圖11-2 (G)是表示電平方式的 再現(xiàn)信號(hào)的說(shuō)明圖。圖11-2 (H)是表示電平方式的調(diào)制度處理的說(shuō)明 圖 圖ll-2 (E)是表示電平方式的Y的說(shuō)明圖。 7圖12 (A)是表示電平方式的試寫(xiě)區(qū)域的說(shuō)明圖。圖12 (B)是 表示電平方式中、利用一定的低功率進(jìn)行消去處理的說(shuō)明圖。圖12(C) 是表示電平方式的再現(xiàn)信號(hào)的說(shuō)明圖。圖12 (D)是表示電平方式的 調(diào)制度處理的說(shuō)明圖。圖12(E)是表示電平方式的判定結(jié)果的說(shuō)明圖。
圖13 (A)是表示說(shuō)明抖動(dòng)方式的試寫(xiě)區(qū)域的說(shuō)明圖。圖13 (B) 是表示說(shuō)明抖動(dòng)方式的記錄處理的說(shuō)明圖。圖13 (C)是表示說(shuō)明抖 動(dòng)方式的抖動(dòng)的說(shuō)明圖。
圖14 (A)是表示抖動(dòng)方式的試寫(xiě)區(qū)域的說(shuō)明圖。圖14 (B)是 表示抖動(dòng)方式中、以一定的低功率進(jìn)行消去處理的說(shuō)明圖。圖14 (C) 是表示抖動(dòng)方式的抖動(dòng)的說(shuō)明圖。圖14 (D)是表示抖動(dòng)方式的判定 結(jié)果的說(shuō)明圖。圖14 (E)是表示說(shuō)明抖動(dòng)方式的記錄處理的說(shuō)明圖。 圖14 (D)是表示抖動(dòng)方式的抖動(dòng)的說(shuō)明圖。
圖15 (A)是表示抖動(dòng)方式的試寫(xiě)區(qū)域的說(shuō)明圖。圖15 (B)是 表示抖動(dòng)方式中、以一定的低功率進(jìn)行消去處理的說(shuō)明圖。圖15 (C) 是表示抖動(dòng)方式的抖動(dòng)的說(shuō)明圖。圖15 (D)是表示抖動(dòng)方式的判定 結(jié)果的說(shuō)明圖。
符號(hào)說(shuō)明-
1:光盤(pán)裝置
2:主計(jì)算機(jī)
3:光盤(pán)
4:微機(jī)控制電路
5:旋轉(zhuǎn)控制部
6:主軸電動(dòng)機(jī)
7:錯(cuò)誤改正器
8:調(diào)制器
9:時(shí)間控制器
10:特殊模式輸出器
11:記錄功率控制部
12:激光驅(qū)動(dòng)器
13:光拾取器
14:物鏡15: IV放大器 16: 2值化器
17: PLL
18:解調(diào)器
19:標(biāo)記計(jì)數(shù)檢測(cè)器
20:不良扇區(qū)檢測(cè)器
21:閾值檢測(cè)器
Pw:記錄功率
Pe-消去功率
STH:不良扇區(qū)檢測(cè)用閾值 Th:閾值 Pth:閾值功率 MK:標(biāo)記計(jì)數(shù)
具體實(shí)施例方式
下面，根據(jù)附圖對(duì)本發(fā)明的實(shí)施方式進(jìn)行說(shuō)明。
(1)光盤(pán)裝置的構(gòu)成 圖1中的1表示本實(shí)施方式的光盤(pán)裝置。
該光盤(pán)裝置1對(duì)應(yīng)于來(lái)自主計(jì)算機(jī)2的要求，在光盤(pán)3上進(jìn)行記 錄，或?qū)τ涗浽诠獗P(pán)3上的數(shù)據(jù)進(jìn)行再現(xiàn)。
該光盤(pán)裝置1的情況下，從主計(jì)算機(jī)2發(fā)送來(lái)的各種命令被付與 微機(jī)控制電路4。微型機(jī)控制電路4由具有CPU (未圖示)以及收容 有各種表格或各種程序的內(nèi)部存儲(chǔ)器(未圖示)的微機(jī)構(gòu)成，基于主 計(jì)算機(jī)2付與的命令或光盤(pán)裝置1內(nèi)的各種電路付與的各種信息執(zhí)行 必要的控制處理或計(jì)算處理。
例如，微機(jī)控制電路4，在被付與了來(lái)自主計(jì)算機(jī)2的記錄命令的 情況下，經(jīng)由旋轉(zhuǎn)控制部5驅(qū)動(dòng)主軸電動(dòng)機(jī)6，使以規(guī)定狀態(tài)安裝的光 盤(pán)3旋轉(zhuǎn)。此時(shí)，安裝于主軸電動(dòng)機(jī)6的頻率發(fā)生器(未圖示)在主 軸電動(dòng)機(jī)6的輸出軸每旋轉(zhuǎn)規(guī)定角度時(shí)產(chǎn)生FG (Frequency Generator) 信號(hào)。旋轉(zhuǎn)控制部5對(duì)該FG信號(hào)進(jìn)行二值化，將得到的二值化FG信 號(hào)發(fā)送到微機(jī)控制電路4。然后，微機(jī)控制電路4基于該二值化FG信號(hào)控制主軸電動(dòng)機(jī)6，以使安裝的光盤(pán)3以對(duì)應(yīng)于該光盤(pán)3的記錄方式 (例如，旋轉(zhuǎn)數(shù)保持一定的CAV方式或光學(xué)頭對(duì)光盤(pán)3描繪的速度保
持一定的CLV方式)的旋轉(zhuǎn)狀態(tài)旋轉(zhuǎn)。
另外，微機(jī)控制電路4將記錄命令與主計(jì)算機(jī)2付與的記錄對(duì)象
的數(shù)據(jù)(以下稱為記錄對(duì)象數(shù)據(jù))，經(jīng)由錯(cuò)誤改正器7發(fā)送到調(diào)制器8。
調(diào)制器8將記錄對(duì)象數(shù)據(jù)按照既定的調(diào)制規(guī)則變換成寬度為3T到14T (T是標(biāo)準(zhǔn)時(shí)鐘時(shí)間)的0或1的信號(hào)序列，作為調(diào)制信號(hào)向時(shí)間控制
器9輸出。
微機(jī)控制電路4將生成命令發(fā)送到特殊模式輸出器10。
特殊模式輸出器10重復(fù)生成作為記錄標(biāo)記的標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度的模式。比 如，本實(shí)施方式中，生成6T (T是時(shí)鐘)的標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度。在記錄在光盤(pán) 3的記錄標(biāo)記的消去處理結(jié)束后，特殊模式輸出器10開(kāi)始動(dòng)作。特殊 模式輸出器10將生成的標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度發(fā)送到時(shí)間控制器9。
時(shí)間控制器9基于調(diào)制器8或特殊模式輸出器10發(fā)送來(lái)的調(diào)制信 號(hào)，將成為記錄功率或消去功率的時(shí)間信號(hào)發(fā)送到激光驅(qū)動(dòng)器12。另 外，在記錄標(biāo)記的消去處理結(jié)束后，時(shí)間控制器9發(fā)送標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度。
另外，記錄功率控制器11是通過(guò)微機(jī)控制電路4的控制命令進(jìn)行 動(dòng)作的控制部，控制照射到光盤(pán)3的激光(記錄光)的記錄功率或消 去功率，并控制光盤(pán)3的各扇區(qū)的功率切換。
基于^時(shí)間控制器9發(fā)送來(lái)的時(shí)間信號(hào)，激光驅(qū)動(dòng)器12向光拾取 器13內(nèi)的激光二極管輸出再現(xiàn)功率、消去功率以及記錄功率的發(fā)光輸 出的電流。此時(shí)，各電流設(shè)定值由記錄功率控制部ll控制。其結(jié)果， 基于驅(qū)動(dòng)信號(hào)發(fā)射激光，該激光經(jīng)由物鏡14會(huì)聚在光盤(pán)3的記錄面上。 此時(shí)，微機(jī)控制電路4驅(qū)動(dòng)滑動(dòng)機(jī)構(gòu)，使固定有光拾取器13的滑塊以 規(guī)定的速度沿光盤(pán)3的徑向移動(dòng)。由此，數(shù)據(jù)被記錄在光盤(pán)3上。
照射到光盤(pán)3的激光的反射光，經(jīng)由物鏡14導(dǎo)入光拾取器13內(nèi) 的光電檢測(cè)器(未圖示)，在該光電檢測(cè)器中進(jìn)行光電變換。然后， 由該光電變換得到的輸出電流通過(guò)IV放大器15變換為輸出電壓，即 RF信號(hào)，然后通過(guò)二值化器16進(jìn)行數(shù)字變換。
二值化器16將由PLL (Phase Locked Loop) 17與時(shí)鐘頻率同步的 數(shù)字RF信號(hào)發(fā)送到解調(diào)器18。另一方面，當(dāng)標(biāo)記記數(shù)MK檢測(cè)器19從數(shù)字RF信號(hào)檢測(cè)出后述的標(biāo)記計(jì)數(shù)MK后，不良扇區(qū)檢測(cè)器20對(duì) 檢測(cè)出標(biāo)記計(jì)數(shù)MK的光盤(pán)3的扇區(qū)進(jìn)行檢測(cè)，閾值檢測(cè)器21利用檢 測(cè)出的標(biāo)記計(jì)數(shù)MK檢測(cè)后述的記錄功率的閾值。檢測(cè)出的不良扇區(qū) 以及記錄功率的閾值被發(fā)送到微機(jī)控制電路4。微機(jī)控制電路4利用這 些信息計(jì)算出最佳記錄功率值，決定下次照射的激光的功率和照射位 置，通知記錄功率控制部ll。
解調(diào)器18對(duì)數(shù)字RF信號(hào)進(jìn)行規(guī)定的解調(diào)處理，將得到的再現(xiàn)數(shù) 據(jù)經(jīng)由錯(cuò)誤改正器7發(fā)送到微機(jī)控制電路4。
光拾取器13將光電變換得到的輸出電流發(fā)送到IV放大器15，通 過(guò)對(duì)IV放大器15的輸出進(jìn)行計(jì)算得到伺服用信號(hào)，將得到的伺服用 信號(hào)發(fā)送到補(bǔ)償器22，作為用于伺服控制的輸出發(fā)送到驅(qū)動(dòng)器23。
補(bǔ)償器22對(duì)聚焦控制或跟蹤控制的特性進(jìn)行補(bǔ)正，輸出用于對(duì)光 盤(pán)3進(jìn)行聚焦控制或跟蹤控制的驅(qū)動(dòng)信號(hào)或指示物鏡14的傾斜角的傾 斜驅(qū)動(dòng)信號(hào)。驅(qū)動(dòng)器23對(duì)這些信號(hào)進(jìn)行增幅，將增幅后的信號(hào)施加到 光拾取器13。由此，從光拾取器13發(fā)射的激光在光盤(pán)3的記錄面上聚 焦并照射在軌道的中心。
(2)記錄功率的調(diào)節(jié)方法
試寫(xiě)區(qū)域PCA由多個(gè)區(qū)段形成， 一個(gè)區(qū)段由16個(gè)扇區(qū)構(gòu)成。光 盤(pán)裝置1在一次試寫(xiě)中使用16個(gè)扇區(qū)。光盤(pán)裝置1 一邊在該試寫(xiě)區(qū)域 PCA中階梯狀地變化記錄功率Pw， 一邊檢測(cè)最佳記錄功率，利用最佳 記錄功率在數(shù)據(jù)區(qū)域記錄。
雖然有各種檢測(cè)最佳記錄功率的方法，但是，都是求得記錄開(kāi)始 點(diǎn)的記錄功率Pw，即閾值功率Pth，將該閾值功率Pth乘以規(guī)定的數(shù) 值得到的結(jié)果作為最佳記錄功率。該規(guī)定的數(shù)值一般記載在光盤(pán)3上。 萬(wàn)一在試寫(xiě)區(qū)域PCA上存在殘留記錄標(biāo)記或記錄膜特性異常，由于閾 值功率Pth與利用正常的試寫(xiě)區(qū)域PCA求得的閾值功率Pth不同，因 而不能計(jì)算出適當(dāng)?shù)挠涗浌β?。為了檢測(cè)出穩(wěn)定的閾值功率Pth，需要 將存在有殘留記錄標(biāo)記或記錄膜特性異常的不良扇區(qū)(不良區(qū)域)從 檢測(cè)對(duì)象中排除。
在本實(shí)施方式中說(shuō)明使用標(biāo)記計(jì)數(shù)方式檢測(cè)不良扇區(qū)并調(diào)節(jié)記錄 功率的方法。(2-1)標(biāo)記計(jì)數(shù)方式 首先，對(duì)標(biāo)記計(jì)數(shù)方式進(jìn)行說(shuō)明。
標(biāo)記計(jì)數(shù)方式是一種表征記錄標(biāo)記長(zhǎng)度與標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度的差的指標(biāo)的 方法，具體講，該指標(biāo)是指從以標(biāo)記長(zhǎng)度記錄方式(或標(biāo)記邊緣記錄 方式)記錄的記錄標(biāo)記長(zhǎng)度，決定標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度，某記錄標(biāo)記長(zhǎng)度與標(biāo)準(zhǔn) 長(zhǎng)度的差為多少。光盤(pán)裝置1在對(duì)記錄的記錄標(biāo)記進(jìn)行再現(xiàn)(讀取) 時(shí)以標(biāo)記計(jì)數(shù)方式進(jìn)行評(píng)價(jià)。即，標(biāo)記長(zhǎng)度記錄方式是將信息記錄在 光盤(pán)3上的方式之一，其中，記錄標(biāo)記的邊緣位置被付與信息，邊緣 的間隔(記錄標(biāo)記長(zhǎng)度或記錄標(biāo)記間的空白(空間)的長(zhǎng)度)成為信 息量。這樣記錄的光盤(pán)3，其記錄標(biāo)記長(zhǎng)度為3T到14T (T表示時(shí)鐘 周期)。
圖2A是將試寫(xiě)區(qū)域PCA分割為扇區(qū)的示意圖。圖2B是隨著扇區(qū) 階梯狀地改變記錄功率Pw以及消去功率Pe的示意圖。圖2C是對(duì)應(yīng) 于扇區(qū)，以標(biāo)記計(jì)數(shù)方式測(cè)量各個(gè)扇區(qū)的圖。圖2C的縱軸表示，相對(duì) 于在各個(gè)扇區(qū)得到的各個(gè)記錄標(biāo)記長(zhǎng)度，檢測(cè)出的偏離標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度范圍 的記錄標(biāo)記長(zhǎng)度、或不是標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度的記錄標(biāo)記長(zhǎng)度的比例(以下，稱 為標(biāo)記計(jì)數(shù)MK)。在此，如果各扇區(qū)內(nèi)以適當(dāng)?shù)挠涗浌β蔬M(jìn)行記錄， 并檢測(cè)出各記錄標(biāo)記長(zhǎng)度在標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度范圍內(nèi)，則標(biāo)記計(jì)數(shù)MK顯示低 值。相反地，如果記錄功率偏離適當(dāng)?shù)挠涗浌β?，特別是記錄功率低 的時(shí)候，則會(huì)檢測(cè)出很多偏離標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度的記錄標(biāo)記長(zhǎng)度，標(biāo)記計(jì)數(shù)MK 顯示高值。如圖2B所示，由于在記錄時(shí)改變各扇區(qū)的記錄功率Pw和 消去功率Pe，橫軸與各扇區(qū)的記錄功率對(duì)應(yīng)。
例如，設(shè)定6T的標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度，當(dāng)從試寫(xiě)區(qū)域PCA的全部的正常的 扇區(qū)中檢測(cè)出一個(gè)扇區(qū)記錄的記錄標(biāo)記長(zhǎng)度為5T時(shí)，如圖2C所示， 由于該記錄標(biāo)記長(zhǎng)度比標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度短，則判定為標(biāo)記長(zhǎng)度不適當(dāng)，因此， 標(biāo)記計(jì)數(shù)MK為100%。將記錄標(biāo)記長(zhǎng)度不斷接近標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度的一個(gè)標(biāo)記 計(jì)數(shù)MK設(shè)定為閾值Th，將與該閾值交叉的交點(diǎn)MKth的x坐標(biāo)作為 閾值功率Pth檢測(cè)。
另外，在試寫(xiě)區(qū)域PCA記錄的記錄標(biāo)記不能完全消去時(shí)，意味著 存在不良扇區(qū)。盡管該光盤(pán)3處于該狀態(tài)，在再現(xiàn)時(shí)，當(dāng)以標(biāo)記計(jì)數(shù) 方式對(duì)試寫(xiě)區(qū)域PCA記錄的記錄標(biāo)記(包含該不良扇區(qū))進(jìn)行評(píng)價(jià)時(shí)，與不良扇區(qū)對(duì)應(yīng)的標(biāo)記計(jì)數(shù)MK的值不是對(duì)應(yīng)于該扇區(qū)的記錄功率的 值，因此無(wú)法檢測(cè)出適當(dāng)?shù)拈撝倒β蔖th。所以，為了檢測(cè)出最佳記錄 功率，需要排除不良扇區(qū)的影響，檢測(cè)適當(dāng)?shù)拈撝倒β蔖th。
(2-2)不良扇區(qū)的檢測(cè)方法 下面，利用圖3的流程圖對(duì)標(biāo)記計(jì)數(shù)方式中的不良扇區(qū)的檢測(cè)方 法進(jìn)行說(shuō)明。光盤(pán)裝置1的CPU檢測(cè)光盤(pán)3的試寫(xiě)區(qū)域PCA的不良 扇區(qū)，檢測(cè)適當(dāng)?shù)拈撝倒β蔖th。該流程圖在光盤(pán)3被安裝時(shí)或向光盤(pán) 3記錄時(shí)開(kāi)始。
在本實(shí)施方式中說(shuō)明在位于光盤(pán)3的內(nèi)周和外周的各試寫(xiě)區(qū)域 PCA分別執(zhí)行一次，并且光盤(pán)3為DVD-RAM時(shí)的處理流程。對(duì)于 DVD-RAM，檢測(cè)凸出軌道(land track)以及凹陷軌道(groove tmck)的適 當(dāng)?shù)拈撝倒β蔖th。
CPU進(jìn)行判定，是否對(duì)光盤(pán)3的內(nèi)周和外周的試寫(xiě)區(qū)域PCA進(jìn)行 了內(nèi)周和外周的各一次的總共兩次記錄功率的調(diào)節(jié)。
如果沒(méi)有執(zhí)行兩次(SI: NO) ， CPU判定閾值功率Pth的檢測(cè)是 否是第二次執(zhí)行(S2)。
如果是第二次執(zhí)行(S2: YES) ， CPU指定相對(duì)于光盤(pán)3的中心、 第一次執(zhí)行的試寫(xiě)區(qū)域PCA的相反側(cè)的試寫(xiě)區(qū)域PCA( 1區(qū)段)(S3)。 須注意，這里的相反側(cè)的試寫(xiě)區(qū)域PCA無(wú)需為正相反側(cè)，處于大致相 反側(cè)的試寫(xiě)區(qū)域PCA即可。
如果是第一次執(zhí)行(S2: NO) ， CPU從全部的試寫(xiě)區(qū)域PCA中 隨機(jī)指定檢測(cè)閾值功率Pth的試寫(xiě)區(qū)域PCA (l區(qū)段)(S4)。
決定了用于執(zhí)行閾值功率Pth的試寫(xiě)區(qū)域PCA后，CPU指定將激 光誘導(dǎo)至該已決定的試寫(xiě)區(qū)域PCA的凸出軌道(S5)。
指定凸出軌道后，CPU執(zhí)行后述的不良扇區(qū)的檢測(cè)處理(S6)， 除去不良扇區(qū)，之后檢測(cè)閾值功率Pth，計(jì)算出最佳記錄功率。
之后，CPU指定將激光誘導(dǎo)至該已決定的試寫(xiě)區(qū)域PCA的凹陷軌 道(S7) 。 CPU再次進(jìn)行后述的不良扇區(qū)的檢測(cè)處理(S8)，執(zhí)行步 驟S1的處理。在步驟S1中，如果第二次記錄功率的調(diào)節(jié)已經(jīng)結(jié)束(SI: YES)， CPU判定第二次調(diào)節(jié)是否失敗(S9)，如果第二次調(diào)節(jié)失敗(S9: YES), 則只使用第一次求得的凸出軌道以及凹陷軌道各自的記錄功率Pw的 結(jié)果(S10)，然后結(jié)束該處理。
如果兩次調(diào)節(jié)成功(S9: NO) ， CPU對(duì)凸出軌道以及凹陷軌道各 自的兩次的記錄功率進(jìn)行平均化(Sll)，結(jié)束該處理。
以下，利用圖4以及圖5的流程圖對(duì)不良扇區(qū)的檢測(cè)處理進(jìn)行說(shuō)明。
CPU以一定的消去功率對(duì)決定的試寫(xiě)區(qū)域PCA進(jìn)行消去(S21)。 如果是第一次記錄功率調(diào)節(jié)，則利用記載在光盤(pán)3的消去功率Pe對(duì)試 寫(xiě)區(qū)域PCA進(jìn)行消去處理。另外，如果記錄功率的調(diào)節(jié)、即試寫(xiě)，已 執(zhí)行過(guò)至少一次，則使用該執(zhí)行時(shí)求得的消去功率Pe消去試寫(xiě)區(qū)域 PCA記錄的數(shù)據(jù)。
然后，CPU利用一定的低功率對(duì)試寫(xiě)區(qū)域PCA進(jìn)行記錄(S22)。 一定的低功率是指比閾值功率Pth低的功率。如果是第一次記錄功率調(diào) 節(jié)，則該低功率為記載在光盤(pán)3的記錄功率的60%的記錄功率，若記 錄功率的調(diào)節(jié)至少執(zhí)行過(guò)一次，則為該執(zhí)行時(shí)求得的記錄功率的60% 的記錄功率。
CPU在各個(gè)扇區(qū)取得以一定的低功率記錄的記錄標(biāo)記的標(biāo)記計(jì)數(shù) MK (S23)，確認(rèn)標(biāo)記計(jì)數(shù)在為檢測(cè)不良扇區(qū)而設(shè)定的標(biāo)記計(jì)數(shù)MK 閾值(以下稱為不良扇區(qū)閾值)STh以下的不良扇區(qū)(S24)。為了確 確實(shí)實(shí)檢測(cè)出不良扇區(qū)，該用于檢測(cè)不良扇區(qū)的閾值STh被設(shè)定為比 用來(lái)求記錄功率時(shí)所需要的標(biāo)記計(jì)數(shù)MK的閾值Th高的值。
然后，CPU判定確認(rèn)過(guò)的扇區(qū)數(shù)是否為8扇區(qū)以上的不良扇區(qū) (S25)。在本實(shí)施方式中，雖然閾值扇區(qū)數(shù)被設(shè)為8扇區(qū)，但是，并 不限定為8扇區(qū)，只要是可用來(lái)判定是否使用了步驟S3或S4指定的 試寫(xiě)區(qū)域PCA (16扇區(qū))的值就可以。
如果不良扇區(qū)為8扇區(qū)以上(S25: YES) ， CPU判定不使用該指 定的試寫(xiě)區(qū)域PCA (16扇區(qū))。然后，CPU改變作為記錄功率的調(diào)節(jié) 對(duì)象的試寫(xiě)區(qū)域PCA (S33)，在改變后的試寫(xiě)區(qū)域PCA再次執(zhí)行步 驟S21。如果不良扇區(qū)數(shù)不足8扇區(qū)(S25: NO)，則消去以低功率記錄 的記錄標(biāo)記(S26)。接著，CPU—邊階梯狀地改變各扇區(qū)的消去功率 Pe和記錄功率Pw， 一邊進(jìn)行記錄(S27)。在本實(shí)施方式中，由于記 錄功率Pw和消去功率Pe的比是一定的，因此，消去功率Pe和記錄功 率Pw以相同的比率被改變。
CPU從正常扇區(qū)記錄的記錄標(biāo)記取得標(biāo)記計(jì)數(shù)MK (S28)，判定 標(biāo)記計(jì)數(shù)MK的閾值Th前后的標(biāo)記計(jì)數(shù)MK是否為步驟S24中確認(rèn) 過(guò)的不良扇區(qū)的標(biāo)記計(jì)數(shù)MK (S29)。
如果在標(biāo)記計(jì)數(shù)MK的閾值前后的標(biāo)記計(jì)數(shù)MK是不良扇區(qū)的標(biāo) 記計(jì)數(shù)MK (S29: YES) ， CPU不使用該試寫(xiě)區(qū)域PCA (16扇區(qū))， 改變指定的試寫(xiě)區(qū)域PCA (S33),在改變后的試寫(xiě)區(qū)域PCA再一次 執(zhí)行步驟S21。
如果在標(biāo)記計(jì)數(shù)MK的閾值Th前后的標(biāo)記計(jì)數(shù)MK是正常扇區(qū)的 標(biāo)記計(jì)數(shù)MK (S29: YES) ， CPU求出閾值功率Pth (S30)。在本實(shí) 施方式中，對(duì)標(biāo)記計(jì)數(shù)MK的閾值Th前后的標(biāo)記計(jì)數(shù)MK進(jìn)行線形插 入，計(jì)算出閾值功率Pth。假設(shè)x軸表示記錄功率，y軸表示標(biāo)記計(jì)數(shù) MK，前后的標(biāo)記計(jì)數(shù)MK的坐標(biāo)為MKO (xO， y0) 、 MK1 (xl， yl)， 欲求的閾值標(biāo)記計(jì)數(shù)MK的坐標(biāo)為MKth (x， y)。此時(shí)，式l
(y—y0) / (yl —y0) = (x—x0) / (xl—x0)......(式1)
成立。如果設(shè)插入系數(shù)為a ，
a= (y—y0) / (yl—y0)......(式2)
a= (x—x0) / (xl—x0)......(式3)
成立，因此
y=y0+a (yl—y0)......(式4)
x=x0+a (xl—x0)......(式5)成立。由此，從標(biāo)記計(jì)數(shù)MK的閾值Th、即y，可以計(jì)算出x、 即閾值功率Pth。
CPU利用從閾值功率Pth求得的記錄功率Pw在試寫(xiě)區(qū)域PCA記 錄后(步驟31)，利用從閾值Pth求得的消去功率Pe對(duì)試寫(xiě)區(qū)域PCA 進(jìn)行消去(S32)，結(jié)束該處理。
需注意，步驟S5到步驟S8的處理流程是光盤(pán)3為DVD-RAM時(shí) 的處理流程，其中對(duì)凸出軌道以及凹陷軌道各自進(jìn)行了掃掃描處理， 但是無(wú)需對(duì)所有的光盤(pán)3都執(zhí)行這些處理。對(duì)于數(shù)據(jù)區(qū)域在單面的光 盤(pán)3，在CPU指定了試寫(xiě)區(qū)域PCA后執(zhí)行掃描處理即可。另夕卜，CPU 也可以只進(jìn)行內(nèi)周或外周的掃描處理。當(dāng)檢測(cè)出記錄功率的偏離時(shí)， 或在周圍溫度發(fā)生了規(guī)定值以上的變化，需再次執(zhí)行試寫(xiě)時(shí)，CPU只 在內(nèi)周或外周執(zhí)行，將與前次的調(diào)節(jié)結(jié)果的差或比作為沒(méi)有執(zhí)行一側(cè) 的記錄功率的差或比進(jìn)行修正。
作為功率設(shè)定值的一例，在DVD-RAM3x的光盤(pán)中，CPU設(shè)上述 一定的低功率為6.8mW，對(duì)試寫(xiě)區(qū)域進(jìn)行記錄。此時(shí)，通過(guò)上述方法 求得的記錄功率為14.1mW，消去功率為5.6mW。 (2-3)具體實(shí)施例
在此，列舉具體實(shí)施例說(shuō)明本處理。 (2-3-1)正常扇區(qū)的情形
圖6A中表示被扇區(qū)S分割的試寫(xiě)區(qū)域PCA。
圖6B表示步驟S22中CPU以一定的低功率在試寫(xiě)區(qū)域PCA記錄 記錄記錄功率Pw時(shí)的記錄功率Pw和消去功率Pe。本實(shí)施方式中，由 于記錄功率Pw和消去功率Pe的比是固定的，因此求出記錄功率Pw 后，即可求出一定的低功率的消去功率Pe。
圖6C表示步驟S23中CPU在各個(gè)扇區(qū)S取得的標(biāo)記計(jì)數(shù)MK。 其中，縱軸是標(biāo)記計(jì)數(shù)MK，橫軸是記錄功率Pw。圖中的白色圓圈表 示在各個(gè)扇區(qū)S取得的標(biāo)記計(jì)數(shù)MK。在步驟S23中，CPU消去記錄 在試寫(xiě)區(qū)域PCA的記錄標(biāo)記后，又以新的低功率記錄新的記錄標(biāo)記， 因此，以低功率記錄的記錄標(biāo)記長(zhǎng)度比標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度短。因此，以低功率 記錄的記錄標(biāo)記長(zhǎng)度大大偏離標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度，所以標(biāo)記計(jì)數(shù)MK為高值。如圖6D所示的判定結(jié)果，當(dāng)標(biāo)記計(jì)數(shù)MK全部為比用于檢測(cè)不良扇區(qū) 的閾值STh高的情況下，則意味著不存在不良扇區(qū)。
如圖6E所示，CPU隨扇區(qū)S階梯狀地改變記錄功率Pw。由于記 錄功率Pw和消去功率Pe的比固定，因此在改變記錄功率Pw的同時(shí)， CPU也隨扇區(qū)S改變消去功率Pe (S27)。如圖6F所示，CPU取得各 個(gè)扇區(qū)S的標(biāo)記計(jì)數(shù)MK (S28)。然后，確認(rèn)標(biāo)記計(jì)數(shù)的閾值Th前 后的標(biāo)記計(jì)數(shù)MK不是不良扇區(qū)具有的標(biāo)記計(jì)數(shù)MK (S29)，計(jì)算閾 值功率Pth (S30)。
(2-3-2)存在8扇區(qū)S以上的不良扇區(qū)的情形
圖7A表示被扇區(qū)S分割的試寫(xiě)區(qū)域PCA。
圖7B表示步驟S22中CPU以低功率在試寫(xiě)區(qū)域PCA記錄記錄功 率Pw時(shí)的記錄功率pw和消去功率Pe。
圖7C表示步驟S23中CPU在各個(gè)扇區(qū)S取得的標(biāo)記計(jì)數(shù)MK。 其中，縱軸是標(biāo)記計(jì)數(shù)MK，橫軸是記錄功率Pw。圖中的白色圓圈表 示在各個(gè)扇區(qū)S取得的標(biāo)記計(jì)數(shù)MK。本來(lái)，以低功率記錄的記錄標(biāo) 記長(zhǎng)度大大偏離標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度，因此標(biāo)記計(jì)數(shù)MK是高值。但是，圖中， 在有些扇區(qū)，標(biāo)記計(jì)數(shù)MK比用于檢測(cè)不良扇區(qū)的閾值STh低。在這 些扇區(qū)，由于在試寫(xiě)區(qū)域有沒(méi)完全消去的記錄標(biāo)記，因此該標(biāo)記接近 標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度，以比閾值STh低地標(biāo)記計(jì)數(shù)被記錄。如圖7D所示的判定 結(jié)果，具有比用于檢測(cè)不良扇區(qū)的閾值STh低的標(biāo)記計(jì)數(shù)MK的扇區(qū) S，被判定為不良扇區(qū)(區(qū)域)。進(jìn)一步，在該例中，由于不良扇區(qū)有 9扇區(qū)，即比閾值扇區(qū)(8扇區(qū))大，CPU判定不使用該試寫(xiě)區(qū)域PCA (16扇區(qū))(S25: YES)。
(2-3-3)存在不足8扇區(qū)S的不良扇區(qū)的情形
如圖8A以及圖9A中表示被扇區(qū)S分割的試寫(xiě)區(qū)域PCA。
圖8B以及圖9B表示步驟S22中CPU以低功率在試寫(xiě)區(qū)域PCA 記錄記錄功率Pw時(shí)的記錄功率Pw和消去功率Pe。
圖8C以及圖9C表示步驟S23中CPU在各個(gè)扇區(qū)S取得的標(biāo)記 計(jì)數(shù)MK。圖8C以及圖9C表示以標(biāo)記計(jì)數(shù)方式進(jìn)行的評(píng)價(jià)，其中縱 軸是標(biāo)記計(jì)數(shù)MK，橫軸是記錄功率Pw。圖中的白色圓圈表示在各個(gè) 扇區(qū)S取得的標(biāo)記計(jì)數(shù)MK。如圖所示，存在有標(biāo)記計(jì)數(shù)MK比用于檢測(cè)不良扇區(qū)的閾值STh低地扇區(qū)。如圖8D以及圖9D所示的判定結(jié) 果，具有比不良扇區(qū)檢測(cè)用閾值STh低的標(biāo)記計(jì)數(shù)MK的扇區(qū)S被判 定為不良扇區(qū)(區(qū)域)。圖8D表示判定在高功率一側(cè)存在有不良扇區(qū) S的情形。圖9D表示判定在低功率一側(cè)存在有不良扇區(qū)S的情形。
由于各情形中不良扇區(qū)都是5扇區(qū)，都不足閾值扇區(qū)數(shù)、即8扇 區(qū)，因此CPU判定使用該試寫(xiě)扇區(qū)PCA (S25: NO)。
如圖8E以及圖9E所示，CPU隨扇區(qū)S階梯狀地改變消去功率Pe 和記錄功率Pw并進(jìn)行記錄(S27)，如圖8F以及圖9F所示，CPU取 得標(biāo)記計(jì)數(shù)MK (S28)。然后判定標(biāo)記計(jì)數(shù)的閾值Th前后的標(biāo)記計(jì) 數(shù)MK是否為不良扇區(qū)S。取標(biāo)記計(jì)數(shù)的閩值Th與標(biāo)記計(jì)數(shù)的閾值 Th前后的標(biāo)記計(jì)數(shù)MK的交點(diǎn)，則存在兩個(gè)交點(diǎn)(MKThl， MKTh2)。 但是，與標(biāo)記計(jì)數(shù)的閾值Th相交形成交點(diǎn)MKTh2的前后的標(biāo)記計(jì)數(shù) 是被判定為不良扇區(qū)的扇區(qū)S所有的標(biāo)記計(jì)數(shù)，因此不使用這些標(biāo)記 計(jì)數(shù)MK計(jì)算閾值功率Pth (S29: YES)。而與標(biāo)記計(jì)數(shù)的閾值Th 相交形成交點(diǎn)MKThl的前后的標(biāo)記計(jì)數(shù)不是不良扇區(qū)所有的標(biāo)記計(jì) 數(shù)MK(S29)，因此CPU使用這些標(biāo)記計(jì)數(shù)MK計(jì)算閾值功率Pth( S30)。
綜上所述，檢測(cè)不良扇區(qū)，除去檢測(cè)出的不良扇區(qū)后檢測(cè)閾值功 率Pth，可以檢測(cè)出最佳記錄功率Pw。在本實(shí)施方式中，對(duì)標(biāo)記計(jì)數(shù) 方式進(jìn)行了說(shuō)明，對(duì)于不良扇區(qū)的檢測(cè)方法，除了稱為標(biāo)記計(jì)數(shù)方式 的方式以外，還有錯(cuò)誤脈沖方式等其他的稱呼或方式，它們也屬于本 發(fā)明的范圍內(nèi)。
(3)以其他的方式迸行閾值功率的檢測(cè)
下面，對(duì)檢測(cè)最佳記錄功率Pw的其他方法進(jìn)行說(shuō)明。 (3-1)電平方式
電平方式是以相對(duì)于再現(xiàn)時(shí)的記錄功率Pw的再現(xiàn)信號(hào)的信號(hào)成 分為指標(biāo)測(cè)量 評(píng)價(jià)記錄功率Pw的方式。光盤(pán)裝置1在各個(gè)扇區(qū)S 取得再現(xiàn)信號(hào)的信號(hào)成分。當(dāng)光盤(pán)3為CD-RW、 DVD士RW時(shí)，大多 利用該方式進(jìn)行閾值功率Pth的檢測(cè)。
在圖IOB所示的記錄處理中，按圖10A所示，隨扇區(qū)S階梯狀地 改變記錄功率Pw，可以取得圖IOC表示的再現(xiàn)信號(hào)。以該再現(xiàn)信號(hào)的 信號(hào)成分為指標(biāo)取得調(diào)制度。具體地，如下定義調(diào)制度。Mod= (Ih—Il-) /Ih......(式6)
其中，Mod表示調(diào)制度，Il表示再現(xiàn)信號(hào)的信號(hào)成分中的低電平 值(標(biāo)記電平)，Ih表示再現(xiàn)信號(hào)的信號(hào)成分中的高電平值(空間電 平)。調(diào)制度高，表示以高記錄功率進(jìn)行了記錄。在電平方式中，基 于該調(diào)制度求得閾值功率Pth。圖10E中，橫軸表示記錄功率Pw，縱 軸表示Y。 Y的定義如下。
Y =dMod Pw/Mod dPw ......(式7)
成為目標(biāo)Y值時(shí)的記錄功率是閾值功率Pth。由于Y是調(diào)制度相對(duì) 于記錄功率的變化率，因此，在任何條件下，只要知道記錄功率Pw和 消去功率Pe的比以及刻錄方法就可以求得穩(wěn)定的閾值功率Pth。需注 意，即使在電平方式中，也以標(biāo)記長(zhǎng)度記錄方式對(duì)記錄標(biāo)記進(jìn)行記錄。
說(shuō)明利用電平方式檢測(cè)不良扇區(qū)的方法。 (3-1-1)正常扇區(qū)S的情形
圖IIA中表示被扇區(qū)S分割的試寫(xiě)區(qū)域PCA。
圖11B表示步驟S22中CPU以低功率在試寫(xiě)區(qū)域PCA記錄記錄 功率Pw時(shí)的記錄功率Pw和消去功率Pe。本實(shí)施方式中，由于記錄功 率Pw和消去功率Pe的比是固定的，因此，求得記錄功率Pw后便可 求得一定的低功率的消去功率Pe。
圖11C表示步驟S23中在各個(gè)扇區(qū)S取得的再現(xiàn)信號(hào)。縱軸表示 再現(xiàn)信號(hào)的電平值，橫軸表示記錄功率Pw。由于利用一定的低功率對(duì) 消去后的試寫(xiě)區(qū)域PCA進(jìn)行記錄，因此通常空間電平和標(biāo)記電平幾乎 不存在差，標(biāo)記電平為接近空間電平的一定值。
圖IID表示利用該再現(xiàn)信號(hào)取得的調(diào)制度。縱軸表示調(diào)制度，橫 軸表示記錄功率Pw。圖中的直線表示在各個(gè)扇區(qū)S取得的調(diào)制度。在 空間電平與標(biāo)記電平的幾乎不存在差的情況下，調(diào)制度為低值。所以， 在調(diào)制度全部為低于用于檢測(cè)不良扇區(qū)的閾值STh的數(shù)值時(shí)，如圖llE 所示的判定結(jié)果所示，不存在不良扇區(qū)。如圖IIF所示，CPU隨扇區(qū)S階梯狀地改變記錄功率Pw。由于記 錄功率Pw和消去功率Pe的比是固定的，在改變記錄功率Pw的同時(shí)， CPU—邊階梯狀地改變各扇區(qū)S的消去功率Pe， 一邊進(jìn)行記錄(S27)， 如圖IIG所示，CPU取得再現(xiàn)信號(hào)，如圖IIH所示，基于取得的再現(xiàn) 信號(hào)取得調(diào)節(jié)度(S28)。最終，如圖11I所示，當(dāng)求得相對(duì)于記錄功 率Pw的調(diào)制度Y值時(shí)，確認(rèn)Y閾值Th前后的Y值不是不良扇區(qū)S具 有的Y值(S29)，計(jì)算出閾值功率Pth (S30)。 (3-1-2)存在8扇區(qū)S以上的不良扇區(qū)的情形
圖12A表示被扇區(qū)S分割的試寫(xiě)區(qū)域PCA。
圖12B表示在步驟S22中CPU以低功率在試寫(xiě)區(qū)域PCA記錄記 錄功率Pw時(shí)的記錄功率Pw和消去功率Pe。
圖12C表示步驟S23中CPU在各個(gè)扇區(qū)S取得的再現(xiàn)信號(hào)。縱軸 表示再現(xiàn)信號(hào)的電平值，橫軸表示記錄功率Pw。由于以低功率記錄消 去后的試寫(xiě)區(qū)域PCA，因此，本來(lái)基本上不存在空間電平和標(biāo)記電平 的差，標(biāo)記電平為更接近空間電平的一定的值。但是，圖中也存在標(biāo) 記電平和空間電平的差較大之處。
圖12D表示從該再現(xiàn)信號(hào)取得的調(diào)制度?？v軸表示調(diào)制度，橫軸 表示記錄功率Pw。圖中的直線表示在各個(gè)扇區(qū)S取得的調(diào)制度。在標(biāo) 記電平和空間電平之間存在差時(shí)，調(diào)制度為高于用于檢測(cè)不良扇區(qū)的 閾值STh的值。所以，如圖12E所示的判定結(jié)果，調(diào)制度高于用于檢 測(cè)不良扇區(qū)的閾值STh的扇區(qū)被判定為不良扇區(qū)。在該例中，不良扇 區(qū)為9扇區(qū)S，高于閾值扇區(qū)數(shù)、即8扇區(qū)，CPU判定不使用該試寫(xiě) 區(qū)域PCA (S25: YES)。
在以上電平方式中，檢測(cè)不良扇區(qū)，除去檢測(cè)出的不良扇區(qū)后檢 測(cè)閾值功率Pth,因此可以求得最佳記錄功率Pw。在存在不足8扇區(qū)S 的不良扇區(qū)S時(shí)，與標(biāo)記計(jì)數(shù)方式相同，可以排除不良扇區(qū)的影響， 穩(wěn)定地求 比閾值功率Pth更適當(dāng)?shù)挠涗浌β蔖w。 (3-2)抖動(dòng)方式
抖動(dòng)方式是將標(biāo)記長(zhǎng)度記錄方式中記錄的記錄標(biāo)記的長(zhǎng)度或記錄 標(biāo)記間的空間的長(zhǎng)度作為指標(biāo)，對(duì)記錄功率Pw進(jìn)行計(jì)測(cè)"評(píng)價(jià)的方式。具體地，利用通過(guò)二值化得到的記錄標(biāo)記的長(zhǎng)度與標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度的差 檢測(cè)閾值功率Pth。數(shù)據(jù)到數(shù)據(jù)抖動(dòng)方式檢測(cè)所記錄的記錄標(biāo)記是否于
適當(dāng)?shù)奈恢?、以適當(dāng)?shù)拈L(zhǎng)度被記錄。在標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度設(shè)定為6T的情況下， 以抖動(dòng)表示記錄標(biāo)記的邊緣偏離標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度多少、即偏移量。即，抖動(dòng) 值高，則表示記錄標(biāo)記的邊緣大大偏離標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度。在本實(shí)施方式中， 標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度設(shè)定為6T。
在圖13B所示的記錄處理中，如果如圖13A所示隨扇區(qū)S階梯狀 地改變記錄功率，則可以在各個(gè)扇區(qū)取得如圖13C所示的抖動(dòng)。抖動(dòng) 的閾值Th與波形的交點(diǎn)被檢為閾值功率Pth。
下面說(shuō)明適用抖動(dòng)方式于不良扇區(qū)的檢測(cè)。 (3-2-1)正常扇區(qū)S的情形
圖14A表示被扇區(qū)S分割的試寫(xiě)區(qū)域PCA。
圖14B表示步驟S22中，CPU以低功率在試寫(xiě)區(qū)域PCA記錄記錄 功率Pw時(shí)的記錄功率Pw和消去功率Pe。本實(shí)施方式中，記錄功率 Pw與消去功率Pe的比是固定的，因此，求得記錄功率Pw則可求得一 定的低功率的消去功率Pe。
圖14C表示步驟S23中CPU在各個(gè)扇區(qū)S取得的抖動(dòng)?？v軸表示 抖動(dòng)，橫軸表示記錄功率Pw。圖中的直線表示在各個(gè)扇區(qū)S取得的抖 動(dòng)。在步驟S23中，CPU在消去記錄在試寫(xiě)區(qū)域PCA的記錄標(biāo)記后以 新的低功率進(jìn)行記錄標(biāo)記的記錄，因此，以低功率記錄的記錄標(biāo)記長(zhǎng)
度比標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度短。這樣，以低功率記錄的記錄標(biāo)記長(zhǎng)度大大偏離標(biāo)準(zhǔn) 長(zhǎng)度，所以抖動(dòng)為高值。如圖14D所示的判定結(jié)果，在抖動(dòng)全部為高 于不良扇區(qū)S檢測(cè)用閾值的值時(shí)，表示不存在不良扇區(qū)。
如圖14E所示，CPU隨扇區(qū)S階梯狀地改變記錄功率Pw。另夕卜， 由于記錄功率Pw和消去功率Pe的比是固定的，在改變功率Pw的同 時(shí)，CPU也隨扇區(qū)S階梯狀地改變消去功率P、進(jìn)行記錄(S27)，如 圖14F所示，CPU取得抖動(dòng)(S28)。確認(rèn)抖動(dòng)閾值前后的抖動(dòng)不是不 良扇區(qū)S具有的抖動(dòng)(S29)，計(jì)算閾值功率Pth (S30)。 (3-2-2)存在8扇區(qū)S以上的不良扇區(qū)S的情形
圖15A表示被扇區(qū)S分割的試寫(xiě)區(qū)域PCA。圖15B表示步驟S22中CPU以低功率在試寫(xiě)區(qū)域PCA記錄功率 Pw時(shí)的記錄功率Pw和消去功率Pe。圖15C表示步驟S23中CPU在 各個(gè)扇區(qū)S取得的抖動(dòng)?？v軸表示抖動(dòng)，橫軸表示記錄功率Pw。圖中 的曲線表示在各個(gè)扇區(qū)S取得的抖動(dòng)。本來(lái)，以低功率記錄的記錄標(biāo) 記長(zhǎng)度大大偏離標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度，因此抖動(dòng)為高值。但是，圖中存在有抖動(dòng) 比用于檢測(cè)不良扇區(qū)S的閾值低地記錄之處。如圖15D所示的判定結(jié) 果，具有比用于檢測(cè)不良扇區(qū)S的閾值低的抖動(dòng)的扇區(qū)S被判定為不 良扇區(qū)S (區(qū)域)。另外，在該例中，不良扇區(qū)S為9扇區(qū)S，即大于 閾值扇區(qū)數(shù)(8扇區(qū))，因此CPU判定不使用該試寫(xiě)區(qū)域PCA (S25: YES)。
在以上抖動(dòng)方式中，檢測(cè)不良扇區(qū)，除去檢測(cè)出的不良扇區(qū)后檢 測(cè)閾值功率Pth，因此可以求得最佳記錄功率Pw。另外，即使存在不 足8扇區(qū)S的不良扇區(qū)S時(shí)，與標(biāo)記計(jì)數(shù)方式相同，可以排除不良扇 區(qū)的影響，穩(wěn)定地求得比閾值功率Pth更適當(dāng)?shù)挠涗浌β蔖w。
在以上的各方式中，不用一定的高功率對(duì)試寫(xiě)區(qū)域PCA進(jìn)行照射 的理由有如下兩點(diǎn)，1)由于沒(méi)有求得適當(dāng)?shù)挠涗浌β?，若使用記錄?的允許界限以上的記錄功率，則會(huì)對(duì)記錄膜本身造成破壞，2)利用高 功率進(jìn)行照射會(huì)使標(biāo)記電平整體上下降，但是很難設(shè)定可以清楚地辨 別消去時(shí)的殘留物或惡化區(qū)域的電平差。通過(guò)以一定的低功率進(jìn)行照 射，可以得到更明確的再現(xiàn)信號(hào)的電平差。另外，可以一次性辨別試 寫(xiě)區(qū)域的不良扇區(qū)，提取可以使用的區(qū)域。
(6) 本實(shí)施方式的效果
根據(jù)本實(shí)施方式，在對(duì)可改寫(xiě)光盤(pán)進(jìn)行試寫(xiě)處理時(shí)，排除消去時(shí) 的殘留物等造成的、不具有對(duì)應(yīng)于記錄功率的特性的區(qū)域進(jìn)行記錄功 率的調(diào)節(jié)，可以確保高穩(wěn)定性和高精度的試寫(xiě)處理。
(7) 其他的實(shí)施方式
本實(shí)施方式中，標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度的記錄標(biāo)記長(zhǎng)度被設(shè)為6T，但是也可以 設(shè)為6T以外的長(zhǎng)度或多種組合，例如可以為6T和7T的組合。
以上將閾值功率Pth乘以規(guī)定的數(shù)值得到的數(shù)值作為記錄功率，但 是，規(guī)定的數(shù)值也可以為微機(jī)控制電路保持的、基于光盤(pán)的種類或預(yù) 先埋入到光盤(pán)的信息的數(shù)值。
權(quán)利要求
1、一種光盤(pán)裝置的記錄功率的調(diào)節(jié)方法，該光盤(pán)裝置具有用于向光盤(pán)的試寫(xiě)區(qū)域輸出記錄光的輸出電路，和調(diào)節(jié)所述輸出電路輸出的記錄光的記錄功率的控制電路，該方式的特征在于，具有如下步驟所述控制電路消去記錄在所述試寫(xiě)區(qū)域的記錄標(biāo)記；在所述試寫(xiě)區(qū)域的記錄中，以比開(kāi)始記錄動(dòng)作的閾值功率低的預(yù)定記錄功率進(jìn)行記錄；一邊改變所述記錄功率一邊對(duì)所述試寫(xiě)區(qū)域進(jìn)行記錄。
2、 如權(quán)利要求1所述的記錄功率的調(diào)節(jié)方法，其特征在于，還含 有如下步驟利用以比所述閾值功率低的預(yù)定記錄功率記錄在被分割于多個(gè)扇 區(qū)的所述試寫(xiě)區(qū)域中的記錄標(biāo)記，所述控制電路對(duì)每個(gè)扇區(qū)分別判定 是否作為記錄功率的調(diào)節(jié)對(duì)象。
3、 如權(quán)利要求2所述的記錄功率的調(diào)節(jié)方法，其特征在于，還含 有如下步驟在存在有閾值數(shù)以上的不良扇區(qū)時(shí)，所述控制電路將該試寫(xiě)區(qū)域 排除在記錄功率的調(diào)節(jié)對(duì)象的范圍之外。
4、 如權(quán)利要求2所述的記錄功率的調(diào)節(jié)方法，其特征在于，還含 有如下步驟在存在有小于閾值數(shù)的不良扇區(qū)時(shí)，所述控制電路排除該不良扇 區(qū)而進(jìn)行記錄功率的調(diào)節(jié)。
5、 如權(quán)利要求2所述的記錄功率的調(diào)節(jié)方法，其特征在于，還含 有如下步驟所述控制電路比較以比所述閾值功率低的預(yù)定記錄功率記錄的標(biāo) 記的長(zhǎng)度與設(shè)定為規(guī)定長(zhǎng)度的標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度，當(dāng)從得到的各個(gè)扇區(qū)的所述記錄標(biāo)記長(zhǎng)度檢測(cè)出的偏離所述標(biāo)準(zhǔn) 長(zhǎng)度或不是所述標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度的記錄標(biāo)記長(zhǎng)度的個(gè)數(shù)為規(guī)定的閾值個(gè)數(shù)以下時(shí)，所述控制電路將記錄有該標(biāo)記的扇區(qū)判定為應(yīng)排除在記錄功率 調(diào)節(jié)之外的扇區(qū)。
6、 如權(quán)利要求1所述的記錄功率的調(diào)節(jié)方法，其特征在于，所述 閾值功率為以下各閾值功率之一，即從記載在所述光盤(pán)的設(shè)定值計(jì)算 出的閾值功率；由記載在所述光盤(pán)的記錄功率的值以及所述記錄功率 與所述光盤(pán)上記載的閾值功率值的比計(jì)算出的閾值功率；表示所述記 錄標(biāo)記的邊緣的偏離量的數(shù)據(jù)一時(shí)鐘抖動(dòng)成為13%的閾值功率。
7、 一種光盤(pán)裝置，其特征在于，具有 用于向光盤(pán)的試寫(xiě)區(qū)域輸出記錄光的輸出電路，禾口 調(diào)節(jié)所述輸出電路輸出的記錄光的記錄功率的控制電路， 其中，在消去記錄在所述試寫(xiě)區(qū)域的記錄標(biāo)記的消去處理和一邊改變所 述記錄功率一邊對(duì)所述試寫(xiě)區(qū)域進(jìn)行記錄的記錄處理之間，所述控制 電路控制所述記錄功率，從而利用比開(kāi)始記錄動(dòng)作的閾值功率低的預(yù) 定記錄功率在所述試寫(xiě)區(qū)域的記錄中進(jìn)行記錄。
8、 如權(quán)利要求7所述的光盤(pán)裝置，其特征在于，所述控制電路利 用以比所述閾值功率低的預(yù)定記錄功率記錄在被分割于多個(gè)扇區(qū)的所 述試寫(xiě)區(qū)域中的記錄標(biāo)記，對(duì)每個(gè)扇區(qū)分別判定是否作為記錄功率的 調(diào)節(jié)對(duì)象。
9、 如權(quán)利要求8所述的光盤(pán)裝置，其特征在于，在存在有閾值數(shù) 以上的不良扇區(qū)時(shí)，所述控制電路將該試寫(xiě)區(qū)域排除在記錄功率的調(diào) 節(jié)對(duì)象的范圍之外。
10、 如權(quán)利要求8所述的光盤(pán)裝置，其特征在于，在存在有小于 閾值數(shù)的不良扇區(qū)時(shí)，所述控制電路排除該不良扇區(qū)而進(jìn)行記錄功率 的調(diào)節(jié)。
11、 如權(quán)利要求8所述的光盤(pán)裝置，其特征在于，所述控制電路比較以比所述閾值功率低的預(yù)定記錄功率記錄的標(biāo)記的長(zhǎng)度與設(shè)定為規(guī)定長(zhǎng)度的標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度，當(dāng)從得到的各個(gè)扇區(qū)的所述記錄標(biāo)記長(zhǎng)度檢測(cè)出的偏離所述標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度或不是所述標(biāo)準(zhǔn)長(zhǎng)度的記錄標(biāo)記長(zhǎng)度的個(gè)數(shù)為規(guī)定的閾值個(gè)數(shù)以下時(shí)，所述控制電路將記錄有該標(biāo)記的扇區(qū)判定為應(yīng)排除在記錄功率調(diào)節(jié)之外的扇區(qū)。
12、如權(quán)利要求7所述的光盤(pán)裝置，其特征在于，所述閾值功率為以下各閾值功率之一，即從記載在所述光盤(pán)的設(shè)定值計(jì)算出的閾值功率；由記載在所述光盤(pán)的記錄功率的值以及所述記錄功率與所述光盤(pán)上記載的閾值功率值的比計(jì)算出的閾值功率；表示所述記錄標(biāo)記的邊緣的偏離量的數(shù)據(jù)一時(shí)鐘抖動(dòng)成為13%的閾值功率。
全文摘要
一種記錄功率的調(diào)節(jié)方法以及光盤(pán)裝置，在對(duì)可改寫(xiě)光盤(pán)的試寫(xiě)處理中，排除沒(méi)有消去的區(qū)域而對(duì)記錄功率進(jìn)行調(diào)節(jié)，可以確保高穩(wěn)定性和高精度的試寫(xiě)處理。光盤(pán)裝置具有，用于向光盤(pán)的試寫(xiě)區(qū)域輸出記錄光的輸出電路，對(duì)輸出電路輸出的記錄光的記錄功率進(jìn)行調(diào)節(jié)的控制電路?？刂齐娐废ビ涗浽谠噷?xiě)區(qū)域的記錄標(biāo)記，在試寫(xiě)區(qū)域的記錄中，利用比開(kāi)始記錄動(dòng)作的閾值功率低的一定的記錄功率進(jìn)行記錄，一邊改變記錄功率一邊對(duì)試寫(xiě)區(qū)域進(jìn)行記錄。
文檔編號(hào)G11B7/125GK101645282SQ20091000687
公開(kāi)日2010年2月10日 申請(qǐng)日期2009年2月27日 優(yōu)先權(quán)日2008年8月8日
發(fā)明者伏見(jiàn)哲也, 山田敦史, 池田仁也 申請(qǐng)人:日立樂(lè)金資料儲(chǔ)存股份有限公司