專(zhuān)利名稱(chēng)：一種外掛式并行存儲(chǔ)器防呆方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及電路技術(shù)，尤其涉及一種外掛式并行存儲(chǔ)器防呆的實(shí)現(xiàn)方法。
背景技術(shù)：
當(dāng)前并行存儲(chǔ)器以其空間并行傳輸技術(shù)，具備傳輸數(shù)據(jù)量大，速度快的特點(diǎn)，作為
存儲(chǔ)器件廣泛應(yīng)用于電子產(chǎn)品領(lǐng)域。在實(shí)際應(yīng)用中，并行存儲(chǔ)器常作為一種外掛式的信息 載體，結(jié)合單片機(jī)用于數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)及讀取，將數(shù)據(jù)分解讀寫(xiě)到每個(gè)產(chǎn)品中，具備可移動(dòng)性和
復(fù)用性。 例如，在彩色電視機(jī)生產(chǎn)行業(yè)，將存儲(chǔ)器用于存儲(chǔ)每批訂單的生產(chǎn)調(diào)試數(shù)據(jù)(如 HDCP( (High-bandwidth Digital Content Protection):高帶寬數(shù)字內(nèi)容保護(hù)技術(shù))KEY 碼、MAC(Media Access Control,介質(zhì)訪問(wèn)控制)地址碼數(shù)據(jù)等)，在生產(chǎn)過(guò)程中將存儲(chǔ)器 插到燒錄儀器的接口上，由儀器將數(shù)據(jù)分解到每臺(tái)電視機(jī)中，生產(chǎn)下一訂單時(shí)，只需拆下存 儲(chǔ)器，燒錄下一批訂單新數(shù)據(jù)。在使用過(guò)程中，因存儲(chǔ)器被多次插拔重復(fù)使用，常出現(xiàn)引腳 易損壞或接觸不良，特別是地址、數(shù)據(jù)引腳，最終導(dǎo)致讀寫(xiě)數(shù)據(jù)錯(cuò)而又無(wú)法像串行存儲(chǔ)器能 被燒錄儀器的MCU(Microprocessor Control Unit,微處理機(jī)控制單元)有效偵測(cè)，將造成
批量質(zhì)量事故。 盡管并行存儲(chǔ)器的傳輸數(shù)據(jù)量大、速度快、處理簡(jiǎn)單，能像U盤(pán)一樣作為一種外掛 式的信息載體來(lái)分解數(shù)據(jù)到具體產(chǎn)品中，且與U盤(pán)比較具有成本低和接口協(xié)議簡(jiǎn)單的優(yōu) 點(diǎn)，但在實(shí)際使用中其缺乏一種行而有效的方法來(lái)檢測(cè)并行存儲(chǔ)器引腳的好壞，難以確保 數(shù)據(jù)燒錄的正確性。 因此，如何確保數(shù)據(jù)燒錄的正確性，使產(chǎn)品更具有市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力，成為急待解決的問(wèn) 題。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明目的在于提供一種外掛式并行存儲(chǔ)器防呆方法，解決了因多次插拔、重復(fù)
使用存儲(chǔ)器易引起的地址、數(shù)據(jù)引腳損壞或接觸不良，而導(dǎo)致讀寫(xiě)數(shù)據(jù)錯(cuò)的問(wèn)題。 為解決本發(fā)明的技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明公開(kāi)一種外掛式并行存儲(chǔ)器防呆方法，包括 在設(shè)置存儲(chǔ)器的芯片數(shù)據(jù)時(shí)，將最高地址單元置數(shù)據(jù)0 ; 升級(jí)儀器MCU軟件程序，增加開(kāi)機(jī)自檢最高位數(shù)據(jù)的功能。 較優(yōu)的，所述芯片為W27E040芯片，所述儀器為燒錄儀器。 較優(yōu)的，所述方法還包括 將已制作好數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)器插到燒錄儀器中。 較優(yōu)的，還包括 燒錄儀器的MCU自檢最高地址單元數(shù)據(jù)，從而對(duì)存儲(chǔ)器的地址、數(shù)據(jù)引腳進(jìn)行檢 驗(yàn)。
較優(yōu)的，所述在設(shè)置存儲(chǔ)器的芯片數(shù)據(jù)時(shí)，將最高地址單元置數(shù)據(jù)0具體包括
在設(shè)置W27E040數(shù)據(jù)時(shí)，打開(kāi)編程器并選擇W27E040芯片的存儲(chǔ)器； 在數(shù)據(jù)編輯界面中將HDCP KEY、MAC地址碼數(shù)據(jù)填入，同時(shí)將最高地址單元置數(shù)據(jù)
0 ; 數(shù)據(jù)制作完畢后再通過(guò)編程器燒錄到W27E040的存儲(chǔ)器中。
較優(yōu)的，所述方法還包括 讀取最高位地址単元內(nèi)的數(shù)據(jù)返回?cái)?shù)據(jù)非0，則提示校驗(yàn)出錯(cuò)，表明地址、數(shù)據(jù)引 腳已損壞。 與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明具有如下有益效果 本發(fā)明為一低成本方案，無(wú)需增加任何的硬件，只需修改預(yù)置數(shù)據(jù)及MCU自檢軟 件，即可實(shí)現(xiàn)外掛式并行存儲(chǔ)器的防呆。解決了因多次插拔、重復(fù)使用存儲(chǔ)器易引起的地 址、數(shù)據(jù)引腳損壞或接觸不良，而導(dǎo)致讀寫(xiě)數(shù)據(jù)錯(cuò)的問(wèn)題。


圖1為本發(fā)明實(shí)施例之W27E040芯片的引腳示意圖； 圖2為本發(fā)明實(shí)施例之一種外掛式并行存儲(chǔ)器防呆方法的流程示意圖。
具體實(shí)施例方式
本發(fā)明公開(kāi)一種外掛式并行存儲(chǔ)器防呆方法，該方法通過(guò)將外掛式可移動(dòng)的并行 存儲(chǔ)器最高地址單元置數(shù)據(jù)0，由燒錄儀器的MCU自檢最高地址單元數(shù)據(jù)，從而對(duì)存儲(chǔ)器的 地址、數(shù)據(jù)引腳進(jìn)行檢驗(yàn)。在不增加硬件的前提下，修改預(yù)置數(shù)據(jù)及MCU自檢軟件，解決了 因多次插拔、重復(fù)使用存儲(chǔ)器易引起引腳損壞或接觸不良，而導(dǎo)致讀寫(xiě)數(shù)據(jù)錯(cuò)的問(wèn)題，實(shí)現(xiàn) 了并行存儲(chǔ)器的防呆工藝。 本發(fā)明給出了一種外掛式并行存儲(chǔ)器防呆的實(shí)現(xiàn)方法，例如以W27E040并行存儲(chǔ) 器為例進(jìn)行說(shuō)明。 如圖1所示，為本發(fā)明實(shí)施例之W27E040芯片的引腳示意圖，該W27E040芯片的存 儲(chǔ)器共有32個(gè)引腳，分別是地址引腳A0-A18、數(shù)據(jù)引腳Q0-Q7、芯片選擇引腳CE、讀引腳 OE、寫(xiě)引腳VPP、電源VCC、地GND、空引腳NC。在實(shí)際使用中，除地址、數(shù)據(jù)引腳外的其它引 腳若出現(xiàn)異常，燒錄儀器很容易發(fā)現(xiàn)而且無(wú)法讀寫(xiě)，但若引腳異常發(fā)送在地址、數(shù)據(jù)引腳， 燒錄儀器MCU則無(wú)法校驗(yàn)讀寫(xiě)的數(shù)據(jù)的正確性。例如存儲(chǔ)器中第9地址單元的數(shù)據(jù)為4， 則燒錄儀器讀取時(shí)應(yīng)該送地址為000 0000 0000 0000 IOOI，得到數(shù)據(jù)為0000 0100。但
當(dāng)?shù)刂坊驍?shù)據(jù)引腳損壞或接觸不良時(shí)會(huì)出現(xiàn)以下兩種情況 (1)地址引腳損壞或接觸不良例如地址引腳AO損壞，當(dāng)儀器要讀9地址單元數(shù) 據(jù)時(shí)，雖然儀器MCU送了地址000 0000 0000 0000 IOOI，但因芯片引腳AO的損壞時(shí)會(huì)一 直處于低電平O，最終導(dǎo)致儀器實(shí)際讀取的地址單元為000 0000 0000 1000，誤讀了8地 址單元的數(shù)據(jù)而不是9地址單元數(shù)據(jù)。 (2)數(shù)據(jù)引腳損壞或接觸不良例如數(shù)據(jù)引腳DO損壞，儀器要讀取的數(shù)據(jù)為4時(shí)， 正確的返回?cái)?shù)據(jù)應(yīng)為0000 OIOO，但因引腳DO損壞時(shí)會(huì)一直處于高電平l，最終導(dǎo)致儀器 實(shí)際讀取的數(shù)據(jù)為0000 OlOl，返回錯(cuò)誤數(shù)據(jù)5。 針對(duì)上述兩種情況，本發(fā)明提供了一種檢測(cè)地址、數(shù)據(jù)引腳損壞的防呆方法，其主要原理是首先在制作存儲(chǔ)器數(shù)據(jù)時(shí)，將存儲(chǔ)器的最高地址位，即末尾地址單元預(yù)留并置字節(jié)數(shù)據(jù)0 ;在實(shí)際使用時(shí)，由燒錄儀器的MCU自檢最高地址單元數(shù)據(jù)。 根據(jù)儀器MCU與并行存儲(chǔ)器的通信原理，在MCU通過(guò)地址線送地址數(shù)據(jù)時(shí)，如果地址引腳損壞或接觸不良則外掛存儲(chǔ)器該地址引腳會(huì)一直處于低電平0狀態(tài)，而在單片機(jī)通過(guò)數(shù)據(jù)線讀取數(shù)據(jù)時(shí)，如果數(shù)據(jù)引腳損壞或接觸不良則該數(shù)據(jù)引腳會(huì)一直處于高電平1狀態(tài)，因此采取將存儲(chǔ)器的最高地址單元置數(shù)據(jù)0，通過(guò)MCU校驗(yàn)最高地址單元數(shù)據(jù)來(lái)驗(yàn)證存儲(chǔ)器的地址、數(shù)據(jù)引腳是否損壞。例如，MCU在校驗(yàn)最高位地址單元數(shù)據(jù)時(shí)，將送地址1111111 11111111 1111，由于地址引腳AO已損壞，實(shí)際讀取111 1111 1111 1111 lllO地址的數(shù)據(jù)，非最高位地址單元的數(shù)據(jù)，自檢出錯(cuò)；若數(shù)據(jù)引腳DO損壞，則實(shí)際讀取最高位地址單元的數(shù)據(jù)為OOOO OOOl，非OOOO 0000，自檢出錯(cuò)?？芍狹CU在校驗(yàn)最高位地址單元數(shù)據(jù)時(shí)，如果存儲(chǔ)器地址、數(shù)據(jù)引腳損壞，則無(wú)法正確讀取最高位地址單元數(shù)據(jù)0，從而在不增加硬件的前提下，修改預(yù)置數(shù)據(jù)及MCU自檢軟件，有效解決因地址、數(shù)據(jù)引腳損壞或接觸不良而引起的讀寫(xiě)數(shù)據(jù)錯(cuò)問(wèn)題。 例如，在彩色電視機(jī)生產(chǎn)領(lǐng)域，使用到W27E040存儲(chǔ)器作為數(shù)據(jù)信息的載體，按訂單在線燒寫(xiě)HDCP KEY碼、MAC地址碼數(shù)據(jù)到每臺(tái)電視機(jī)中，為避免由于重復(fù)使用和多次插拔存儲(chǔ)器會(huì)引起地址、數(shù)據(jù)引腳損壞或接觸不良，最終導(dǎo)致批量數(shù)據(jù)燒寫(xiě)錯(cuò)的問(wèn)題，將本發(fā)明的防呆方案應(yīng)用在W27E040存儲(chǔ)器的數(shù)據(jù)燒錄上，由燒錄儀器的MCU開(kāi)機(jī)自檢預(yù)先存儲(chǔ)的最高地址單元內(nèi)的數(shù)據(jù)，從而檢驗(yàn)其地址、數(shù)據(jù)引腳是否有損壞并給出及時(shí)報(bào)警提示。其具體實(shí)現(xiàn)方式可以如圖2所示，為本發(fā)明實(shí)施例之一種外掛式并行存儲(chǔ)器防呆方法的流程示意圖，該方法包括如下內(nèi)容。 步驟201，在設(shè)置存儲(chǔ)器芯片數(shù)據(jù)時(shí)，將最高地址單元置數(shù)據(jù)0 ;
例如，在設(shè)置W27E040數(shù)據(jù)時(shí)，首先打開(kāi)編程器并選擇W27E040芯片的存儲(chǔ)器，在數(shù)據(jù)編輯界面中將HDCP KEY、 MAC地址碼數(shù)據(jù)填入，同時(shí)將最高地址單元置數(shù)據(jù)0，數(shù)據(jù)制作完畢后再通過(guò)編程器燒錄到W27E040的存儲(chǔ)器中。 步驟202，升級(jí)儀器MCU軟件程序，增加開(kāi)機(jī)自檢最高位數(shù)據(jù)的功能； 如果讀取最高位地址単元內(nèi)的數(shù)據(jù)返回?cái)?shù)據(jù)非0，則提示校驗(yàn)出錯(cuò)，表明地址、數(shù)
據(jù)引腳已損壞。 步驟203，將已設(shè)置好數(shù)據(jù)的芯片的存儲(chǔ)器插到燒錄儀器中。 例如，將已制作好數(shù)據(jù)的W27E040存儲(chǔ)器插到燒錄儀器中，此時(shí)儀器開(kāi)機(jī)則自檢存儲(chǔ)器最高地址單元內(nèi)的數(shù)據(jù)，檢驗(yàn)地址、數(shù)據(jù)引腳是否有損壞。 綜上所述，本發(fā)明所公開(kāi)的一種外掛式并行存儲(chǔ)器防呆方法，具有如下的有益效果 (1)本發(fā)明為一低成本方案，無(wú)需增加任何的硬件，只需修改預(yù)置數(shù)據(jù)及MCU自檢軟件，即可實(shí)現(xiàn)外掛式并行存儲(chǔ)器的防呆。 (2)預(yù)先將存儲(chǔ)器最高地址單元置數(shù)據(jù)O，實(shí)際應(yīng)用中再由燒錄儀器的MCU自檢最高位數(shù)據(jù)，從而檢驗(yàn)存儲(chǔ)器的地址、數(shù)據(jù)引腳的好壞，解決了因多次插拔、重復(fù)使用存儲(chǔ)器易引起的地址、數(shù)據(jù)引腳損壞或接觸不良，而導(dǎo)致讀寫(xiě)數(shù)據(jù)錯(cuò)的問(wèn)題。
權(quán)利要求
一種外掛式并行存儲(chǔ)器防呆方法，其特征在于，包括在設(shè)置存儲(chǔ)器的芯片數(shù)據(jù)時(shí)，將最高地址單元置數(shù)據(jù)0；升級(jí)儀器MCU軟件程序，增加開(kāi)機(jī)自檢最高位數(shù)據(jù)的功能。
2. 如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述芯片為W27E040芯片，所述儀器為燒錄 儀器。
3. 如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法還包括 將已制作好數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)器插到燒錄儀器中。
4. 如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，還包括燒錄儀器的MCU自檢最高地址單元數(shù)據(jù)，從而對(duì)存儲(chǔ)器的地址、數(shù)據(jù)引腳進(jìn)行檢驗(yàn)。
5. 如權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述在設(shè)置存儲(chǔ)器的芯片數(shù)據(jù)時(shí)，將最高地 址單元置數(shù)據(jù)0具體包括在設(shè)置W27E040數(shù)據(jù)時(shí)，打開(kāi)編程器并選擇W27E040芯片的存儲(chǔ)器； 在數(shù)據(jù)編輯界面中將HDCP KEY、MAC地址碼數(shù)據(jù)填入，同時(shí)將最高地址單元置數(shù)據(jù)0 ; 數(shù)據(jù)制作完畢后再通過(guò)編程器燒錄到W27E040的存儲(chǔ)器中。
6. 如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括讀取最高位地址單元內(nèi)的數(shù)據(jù)返回?cái)?shù)據(jù)非o，則提示校驗(yàn)出錯(cuò)，表明地址、數(shù)據(jù)引腳已損壞。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)一種外掛式并行存儲(chǔ)器防呆方法，包括在設(shè)置存儲(chǔ)器的芯片數(shù)據(jù)時(shí)，將最高地址單元置數(shù)據(jù)0；升級(jí)儀器MCU軟件程序，增加開(kāi)機(jī)自檢最高位數(shù)據(jù)的功能。本發(fā)明為一低成本方案，無(wú)需增加任何的硬件，只需修改預(yù)置數(shù)據(jù)及MCU自檢軟件，即可實(shí)現(xiàn)外掛式并行存儲(chǔ)器的防呆。解決了因多次插拔、重復(fù)使用存儲(chǔ)器易引起的地址、數(shù)據(jù)引腳損壞或接觸不良，而導(dǎo)致讀寫(xiě)數(shù)據(jù)錯(cuò)的問(wèn)題。
文檔編號(hào)G11C7/00GK101740112SQ200910109900
公開(kāi)日2010年6月16日 申請(qǐng)日期2009年11月27日 優(yōu)先權(quán)日2009年11月27日
發(fā)明者朱其盛, 王勇 申請(qǐng)人:深圳創(chuàng)維－Rgb電子有限公司