專利名稱：光盤檢查裝置及檢查方法
技術領域：
本發(fā)明涉及一種光盤檢查裝置及方法，特別是涉及利用RF信號、跟蹤錯誤信號、 聚焦錯誤信號等的缺陷檢測。
背景技術：
以往提出了檢查光盤有無缺陷的檢查裝置。例如，在下文所述的專利文獻1中公 開了一種根據(jù)來自光盤的反射光來檢測光盤有無損壞的技術。 圖9表示該現(xiàn)有技術。根據(jù)現(xiàn)有技術的說明，1是CD-R盤，2是驅(qū)動盤1旋轉(zhuǎn)的主 軸電機，3是進行該主軸電機2的驅(qū)動控制的主軸伺服電路，4是具有光檢測器(未圖示)的 光頭，該光頭射出照射盤1的激光束，接收由盤1反射的反射束，5是頭伺服電路，其進行向 盤1照射的激光束的聚焦控制及跟蹤控制，并進行驅(qū)動傳送電機6將光頭4本身向盤1的 徑向傳送的移動傳送控制，7是控制主軸伺服電路3及頭伺服電路5的伺服控制電路，8是 RF信號生成電路，相加從構(gòu)成光檢測器的特定的受光元件得到的各受光輸出，生成主信號 輸出，以由光頭4的光檢測器生成盤1的記錄信號即RF信號，9是反射光量檢測電路，檢測 由該RF信號生成電路8生成的主信號輸出的電平，檢測盤1的反射光量。由RF信號生成 電路8生成的主信號輸出除了提供給上述反射光量檢測電路9之外，還將RF信號2值化， 提供給將其數(shù)字數(shù)據(jù)解碼的主信號處理系統(tǒng)的電路。 并且，10是伴隨著傳送電機6的旋轉(zhuǎn)產(chǎn)生檢測輸出的傳感器，11是用于檢測光頭 4在盤1最內(nèi)周側(cè)的初始設定位置的開關，12是位移量檢測電路，將該開關11被切換的位 置作為基點，通過上述傳感器10的檢測輸出檢測光頭4在盤1的徑向上的位移量，13是數(shù) 據(jù)制作電路，其將來自反射光量檢測電路9的檢測輸出及來自位移量檢測電路12的檢測輸 出制作成可以由下文所述的作為主機的微型計算機A解釋的數(shù)字數(shù)據(jù)，14是進行與微型計 算機A的匹配的接口。 另外，在作為主機的微型計算機A中具有產(chǎn)生向與連接端子16連接的外部存儲 裝置發(fā)出要求的命令的命令產(chǎn)生單元17;以及進行與外部存儲裝置的匹配的接口 18。命 令產(chǎn)生單元17產(chǎn)生分別設定以下各檢查條件的命令驅(qū)動盤1的旋轉(zhuǎn)速度、反射光量檢測 電路9及位移量檢測電路12的檢測時刻、以及光頭4進行的盤1的移動傳送速度，該各檢 查條件由設定單元19設定，可以由鍵盤等輸入單元20任意變更。另外，微型計算機A具 有數(shù)據(jù)提取單元21，其從由數(shù)據(jù)制作電路13制作出的數(shù)字數(shù)據(jù)提取由反射光量檢測電路 9得到的檢測輸出的反射光量信息、以及由位移量檢測電路12得到的檢測輸出的盤位置信 息分別作為反射光量數(shù)據(jù)及位置數(shù)據(jù)；盤損傷判斷單元22，根據(jù)由該數(shù)據(jù)提取單元21提取 出的反射光量數(shù)據(jù)判斷盤1的損傷；位置檢測單元23，考慮由該數(shù)據(jù)提取單元21提取出的 位置數(shù)據(jù)以及驅(qū)動盤1的旋轉(zhuǎn)速度來檢測盤位置；以及顯示控制單元24，根據(jù)盤損傷判斷 單元22的判斷輸出及位置檢測單元23的盤位置檢測輸出，控制與微型計算機A連接的顯 示器25。位置檢測單元23通過輸入的位置數(shù)據(jù)來檢測取入了上述盤損傷判斷單元22進行 盤損傷判斷的反射光量數(shù)據(jù)的盤1的徑向上的盤位置，并且計算驅(qū)動盤1的旋轉(zhuǎn)速度并由
3該旋轉(zhuǎn)速度檢測取入了上述反射光量數(shù)據(jù)的盤l的旋轉(zhuǎn)方向上的盤位置。盤損傷判斷單元 22預先設定基準光量電平數(shù)據(jù)，作為能夠判斷盤1處于正常狀態(tài)的反射光量的正常電平范 圍的平均電平，將所輸入的反射光量數(shù)據(jù)與該基準光量電平數(shù)據(jù)相比較，當檢測到該比較 得到的電平差超出了能夠判斷盤為1處于正常狀態(tài)的反射光量的正常電平范圍時，判斷為 盤1損傷。并且，盤損傷判斷單元22取入由上述位置檢測單元23檢測出的盤位置數(shù)據(jù)，檢 測出被判斷為損傷的時刻的盤位置，從而確定損傷部位。27是對從微型計算機A產(chǎn)生的命 令進行解釋的命令解釋電路，28是根據(jù)由該命令解釋電路27解釋的命令，控制光頭4改變 在盤上的跟蹤位置的訪問動作的訪問控制電路。
進而，在專利文獻2、3中也公開了檢測缺陷的技術。
專利文獻1 :日本特開平11-086286號公報
專利文獻2 :日本特開昭63-168837號公報
專利文獻3 :日本特開2008-165846號公報 另一方面，在租賃盤的商店等要求迅速且切實地檢測光盤有無缺陷，另外，考慮到 租賃光盤并將其重放的用戶利用各種光盤裝置進行重放，則需要進行光盤有無缺陷的檢 查，以使即使是重放條件沒有設置成優(yōu)選的條件的光盤裝置也要保證能夠重放的程度。例 如，在光盤上發(fā)現(xiàn)損傷的缺陷時，在某光盤裝置中由于該缺陷而不能重放，但在其他光盤裝 置中，即使有該缺陷的存在，由于伺服增益等恰好設置為較好條件，因而可以重放。由于租 賃該光盤的用戶僅能在后者的光盤裝置上重放，因而這種光盤最終只能作為有缺陷的光 盤，被判斷成不可使用(NG)。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種能夠迅速檢查光盤是否有缺陷以保證在多種光盤裝
置中均能夠重放的裝置及方法。
本發(fā)明是一種光盤檢查裝置，檢查光盤的缺陷，具有缺陷檢測單元，從光盤的內(nèi)
周到外周檢測上述光盤的缺陷；存儲單元，存儲檢測出的上述缺陷的位置；以及錯誤率檢
測單元，在上述缺陷的位置使重放條件劣化而從上述光盤重放數(shù)據(jù)并檢測錯誤率。 在本發(fā)明的一個實施方式中，上述缺陷檢測單元根據(jù)上述光盤的重放信號中包含
的RF信號檢測上述缺陷，上述錯誤率檢測單元通過在上述缺陷的位置減少提升上述RF信
號的均衡器的提升量來使上述重放條件劣化。 另外，在本發(fā)明的其他實施方式中，上述缺陷檢測單元根據(jù)跟蹤錯誤信號檢測上 述缺陷，上述錯誤率檢測單元通過在上述缺陷的位置增大跟蹤伺服增益來使上述重放條件 劣化。 另外，在本發(fā)明的其他實施方式中，上述缺陷檢測單元根據(jù)聚焦錯誤信號檢測上 述缺陷，上述錯誤率檢測單元通過在上述缺陷的位置增大聚焦伺服增益來使上述重放條件 劣化。 并且，本發(fā)明是一種光盤檢查方法，檢查光盤的缺陷，包括以下步驟從光盤的內(nèi) 周到外周檢測上述光盤的缺陷；將檢測出的上述缺陷的位置存儲到存儲單元中；以及在上 述缺陷的位置使重放條件劣化而從上述光盤重放數(shù)據(jù)并檢測錯誤率。 根據(jù)本發(fā)明，能夠迅速檢查光盤是否有缺陷，以保證在多種光盤裝置上均能夠重放。


圖1是實施方式的結(jié)構(gòu)框圖。 圖2是RF缺陷部的電路結(jié)構(gòu)圖。 圖3是圖2的時序圖。 圖4是FE缺陷部的電路結(jié)構(gòu)圖。 圖5是圖4的時序圖。 圖6是TE缺陷部的電路結(jié)構(gòu)圖。 圖7是圖6的時序圖。 圖8是表示缺陷部的重放的時序圖。 圖9是現(xiàn)有裝置的結(jié)構(gòu)圖。
具體實施例方式以下根據(jù)附圖對本發(fā)明的實施方式進行說明。 圖1表示本實施方式的光盤檢查裝置的功能框圖。重放部50具有圖9中的主軸 電機2及光頭4、傳送電機6、伺服控制電路7、 RF信號生成電路8、傳感器10等，向光盤照 射激光，接收其反射光，生成RF信號。另外，生成跟蹤錯誤信號及聚焦錯誤信號，根據(jù)上述 錯誤信號，通過伺服控制部7執(zhí)行聚焦伺服及跟蹤伺服。在RF信號生成電路8中設有均衡 器(EQ)，其將RF信號的預定頻率成分例如3T(T表示基準時鐘周期)信號提升(Boost)預 定量。在圖中，作為重放部50的代表部件，表示出了均衡器(EQ)、聚焦伺服部、跟蹤伺服部。 在重放部50中生成的RF信號、聚焦錯誤信號、跟蹤錯誤信號被提供給檢測部52。
檢測部52具有檢測RF信號有無缺陷的RF缺陷部；檢測跟蹤錯誤(TE)信號有無 缺陷的TE缺陷部；檢測FE(聚焦錯誤)信號有無缺陷的FE缺陷部；以及檢測重放信號的錯 誤率的錯誤率檢測部。各缺陷部及檢測部的檢測結(jié)果提供給CPU 54。 CPU 54是例如圖9所示的微型計算機A的CPU。另外，也可以由光盤裝置內(nèi)的CPU 構(gòu)成。即，圖1的構(gòu)成框圖可以全部設在光盤裝置內(nèi)。CPU 54根據(jù)來自各缺陷部的缺陷信 號，將作為檢測對象的光盤的缺陷候選的位置依次存儲到存儲器56。 S卩，將RF信號的缺陷 位置、FE信號的缺陷位置、TE信號的缺陷位置分別存儲到存儲器56。 具體的步驟如下文所述。首先，將作為檢查對象的光盤置于重放部50，在進行了各 種參數(shù)的調(diào)整后，將聚焦伺服及跟蹤伺服接通(0N)。接著，利用傳送電機6將光頭4移動到 光盤的最內(nèi)周。最內(nèi)周是指，更準確地說是指應當進行數(shù)據(jù)重放的區(qū)域中最內(nèi)側(cè)的軌道，能 夠得到RF信號及TE信號的區(qū)域。應當進行數(shù)據(jù)重放的最內(nèi)側(cè)的軌道的半徑位置為rin，應 當進行數(shù)據(jù)重放的最外側(cè)的軌道的半徑位置為rout。將光頭4移動到rin的位置后，將跟 蹤伺服斷開(0FF)。此時的TE信號是產(chǎn)生打開錯誤(open error)的狀態(tài)，并且RF信號是 振幅與軌道交叉同步地變化的狀態(tài)。在該狀態(tài)下，利用傳送電機6將光頭4移動到rout的 位置。隨著光頭4的移動，RF信號、TE信號、FE信號依次變化，如果在光盤上存在缺陷，則 在該位置上，RF信號、TE信號、FE信號中的任一個或多個信號會產(chǎn)生異常。在各缺陷部檢 測出該異常。將檢測出的半徑位置存儲到存儲器56。
另夕卜，CPU 54在將RF信號、TE信號、FE信號的缺陷位置分別存儲在存儲器56中 后，再次重放光盤，將光頭4移動到存儲在存儲器56中的上述缺陷位置，改變重放條件并重 放。CPU 54判斷上述缺陷位置是RF信號、FE信號、TE信號中哪一種的缺陷，根據(jù)缺陷位置 上的信號的種類，使重放條件暫時變化。例如，使均衡器(EQ)的提升量(Q值)變化，使聚 焦伺服的增益變化，使跟蹤伺服的增益變化等。但是，在本實施方式中，CPU 54在缺陷位置 以使重放條件劣化的方式改變重放條件。例如，關于均衡器(EQ)，在通常重放時的3T信號 的提升量為A(dB)的情況下，暫時設定為比其小的提升量B而重放缺陷位置。并且，關于跟 蹤伺服及聚焦伺服，暫時設定為比通常重放時的增益量大的增益量而重放缺陷位置。并且， 檢測如上所述使重放條件劣化而重放缺陷位置時的錯誤率，判斷檢測錯誤率是否在規(guī)定值 以下。這樣使重放條件劣化是出于以下原因由于用戶側(cè)的光盤裝置多種多樣，可以想到其 中也存在重放條件不太適當?shù)墓獗P裝置，因而使重放條件劣化，評價利用這種光盤裝置重 放時缺陷的影響。在使重放條件劣化而得到的錯誤率在規(guī)定值以下、錯誤率較少的情況下， 可以認為在用戶側(cè)的任意光盤裝置中均可以毫無問題地重放，判斷為無缺陷(0K)。另一方 面，在使重放條件劣化而得到的錯誤率大于規(guī)定值的情況下，可以認為在用戶側(cè)的任意光 盤中也會同樣地在重放時產(chǎn)生問題，判斷為有缺陷(NG)。 0K/NG的判斷結(jié)果例如與圖9同 樣地顯示在微型計算機A的顯示器25上?；蛘?，也可以通過點亮、點滅設在光盤裝置上的 LED等來顯示OK/NG。 圖2表示檢測部52中的RF缺陷部的結(jié)構(gòu)。另夕卜，圖3表示RF缺陷部中各信號的 時序圖。在重放部50得到的RF信號通過LPF 60除去高頻噪聲后，提供給峰值檢波器62 及谷值檢波器64。峰值檢波器62及谷值檢波器64分別對RF信號的峰值及谷值進行檢波， 提供給差動放大器66。 差動放大器66輸入來自峰值檢波器62的峰值檢波信號以及來自谷值檢波器64 的谷值檢波信號，計算上述信號的差分，生成VRF信號。圖3表示峰值檢波信號、谷值檢波 信號以及VRF信號。VRF信號提供給比較器70。 比較器70通過對VRF信號與閾值(Vref+Vth)68進行大小比較來生成RF信號的缺 陷部檢測信號。圖3 (b)表示VRF信號和閾值(Vref+Vth)。另外，圖3 (c)表示RF信號的缺 陷部檢測信號。在VRF〈閾值的時刻，缺陷部檢測信號的電平從低(Low)變化為高(High)。
圖4表示檢測部52的FE缺陷部的結(jié)構(gòu)。另夕卜，圖5表示FE缺陷部的各信號的時 序圖。在重放部50得到的FE信號通過LPF 72除去高頻噪聲后，分別提供給比較器74、76。
比較器74對FE信號的正向側(cè)與閾值(Vref+Vth) 78進行大小比較。并且，比較器 76對FE信號的負向側(cè)與閾值(Vref-Vth)80進行大小比較。表示各比較結(jié)果的信號被提供 給或門82。圖5(a)表示比較器74、76中FE信號及2個閾值。另外，圖5 (b)、圖5 (c)表示 分別來自比較器74(上側(cè)比較器)的輸出信號、來自比較器76(下側(cè)比較器)的輸出信號。 圖5(d)表示來自或門82的輸出信號。該輸出信號作為FE信號的缺陷部檢測信號而輸出。 在FE信號的電平為閾值以上的時刻，缺陷部檢測信號的電平從低變化為高。
圖6表示檢測部52中的TE缺陷部的結(jié)構(gòu)。另夕卜，圖7表示TE缺陷部中各信號的 時序圖。在重放部50得到的TE信號通過微分放大器84轉(zhuǎn)換成微分波形而提供給零交比 較器(Zero cross comparator) 86。圖7 (a)表示TE信號。另外，圖7(b)表示來自微分放 大器84的微分波形。
零交比較器86對微分信號與閾值88進行大小比較。圖7 (c)表示來自零交比較 器86的信號。 F-V轉(zhuǎn)換電路90將來自零交比較器86的零交信號的頻率轉(zhuǎn)換為電壓信號并輸出。
圖7(d)表示來自F-V轉(zhuǎn)換電路90的輸出信號。在高頻部分，電壓值變高。 比較器92對來自F-V轉(zhuǎn)換電路90的電壓信號與閾值(Vref+Vth)94進行大小比
較，作為TE信號的缺陷部檢測信號而輸出。圖7(e)表示缺陷部檢測信號。在電壓變高到
閾值以上的時刻，缺陷部檢測信號的電平從低變化為高。 如上所述，檢測RF、 TE、 FE各信號的缺陷部，將其位置存儲到存儲器56。另外，從 檢查對象的光盤的最內(nèi)周到最外周檢測了缺陷之后，再次將光頭4移動到最內(nèi)周，在存儲 器56中存儲的缺陷位置上重放數(shù)據(jù)，檢測其錯誤率。 圖8表示RF信號、TE信號、FE信號的各缺陷部的重放條件。在各缺陷部，根據(jù)該 缺陷部的信號的種類，有意識地使重放條件"劣化"。圖8(a)表示FE信號的缺陷部，圖8(b) 表示RF信號的缺陷部，圖8(c)表示TE信號的缺陷部。在各圖中，箭頭部分表示存在各信 號的缺陷部。另外，在圖8(d)中表示進行重放錯誤率檢查的范圍以及與各缺陷部對應的重 放條件的劣化。在存在FE信號的缺陷部的情況下，暫時地增大聚焦伺服增益并進行重放。 例如，在存在FE信號的缺陷部的情況下，在該位置的前后lmm的范圍，使聚焦伺服增益增大 預定量或預定比例。使聚焦伺服增益增大意味著，如果有傷痕等，則隨之引起聚焦位置大 幅度變動。另外，在存在RF信號的缺陷部的情況下，使提升RF信號的3T成分的均衡器的 提升量暫時減少預定量或預定比例。使均衡器的提升量減少意味著，3T成分的提取及重放 相應地變得困難。暫時使提升量減少的期間與FE信號的缺陷部的情況相同。另外，在存在 TE信號的缺陷部的情況下，使跟蹤伺服增益暫時增大并進行重放。使跟蹤伺服增益增大意 味著，如果有傷痕等，則隨之引起跟蹤位置大幅度變動。這樣，有意識地使重放條件劣化，重 放缺陷部，檢查其錯誤率。并且，在得到的錯誤率在預定的規(guī)定值以下，錯誤率較少的情況 下，可以認為不過是即使是重放條件不適當?shù)墓獗P裝置也可以毫無問題地進行重放的程度 的缺陷部，判斷為檢查對象的光盤沒有問題(OK)。另一方面，在得到的錯誤率大于預定的規(guī) 定值的情況下，可以認為是重放條件不適當?shù)墓獗P裝置無法進行重放的程度的缺陷部，判 斷為檢查對象的光盤有問題(NG)。 另外，在圖8(d)中，在RF信號、TE信號、FE信號的各缺陷部靠近存在的情況下，在 各缺陷部前后lmm的范圍內(nèi)使重放條件分別劣化，因此其結(jié)果是多個重放條件的劣化重復 進行。例如，在FE信號的缺陷部與TE信號的缺陷部靠近存在的情況下，存在有使聚焦伺服 增益增大且使跟蹤伺服增益也增大的期間。通過允許上述重復，也可以再現(xiàn)聚焦伺服增益 和跟蹤伺服增益均不適當?shù)墓獗P裝置的重放條件。 在本實施方式中，根據(jù)錯誤率的程度來判斷光盤的OK/NG，并顯示在顯示器上，但 也可以顯示缺陷部的有無以及錯誤率的好壞等。 另外，在本實施方式中，在缺陷位置的前后lmm的范圍內(nèi)使重放條件劣化，但這僅
是示例，也可以設定為其他范圍。例如，不是lmm，而是前后幾個 幾十個軌道。 并且，在本實施方式中，作為重放條件的劣化，示例了均衡器的提升量(Q值)的減
少、跟蹤伺服增益的增大、聚焦伺服增益的增大，但并不限于此。重放條件的劣化表示光盤
裝置的所謂耐傷性減小，可以調(diào)整與其相當?shù)娜我鈪?shù)。例如，也可以降低重放功率并進行
7重放。
權利要求
一種光盤檢查裝置，檢查光盤的缺陷，其特征在于，具有缺陷檢測單元，從光盤的內(nèi)周到外周檢測上述光盤的缺陷；存儲單元，存儲檢測出的上述缺陷的位置；以及錯誤率檢測單元，在上述缺陷的位置使重放條件劣化，而從上述光盤重放數(shù)據(jù)并檢測錯誤率。
2. 根據(jù)權利要求l所述的光盤檢查裝置，其特征在于，上述缺陷檢測單元根據(jù)上述光盤的重放信號中包含的RF信號檢測上述缺陷， 上述錯誤率檢測單元通過在上述缺陷的位置減少提升上述RF信號的均衡器的提升量 來使上述重放條件劣化。
3. 根據(jù)權利要求l所述的光盤檢查裝置，其特征在于， 上述缺陷檢測單元根據(jù)跟蹤錯誤信號檢測上述缺陷，上述錯誤率檢測單元通過在上述缺陷的位置增大跟蹤伺服增益來使上述重放條件劣化。
4. 根據(jù)權利要求l所述的光盤檢查裝置，其特征在于， 上述缺陷檢測單元根據(jù)聚焦錯誤信號檢測上述缺陷，上述錯誤率檢測單元通過在上述缺陷的位置增大聚焦伺服增益來使上述重放條件劣化。
5. —種光盤檢查方法，檢查光盤的缺陷，其特征在于，包括以下步驟 從光盤的內(nèi)周到外周檢測上述光盤的缺陷； 將檢測出的上述缺陷的位置存儲到存儲單元中；以及在上述缺陷的位置使重放條件劣化，而從上述光盤重放數(shù)據(jù)并檢測錯誤率。
全文摘要
本發(fā)明提供一種光盤檢查裝置及檢查方法，迅速檢查光盤是否有缺陷，以保證在多種光盤裝置中能夠重放。檢測部(52)利用來自重放部(50)的信號，根據(jù)RF信號、聚焦錯誤信號、跟蹤錯誤信號，從光盤的內(nèi)周向著外周分別檢測缺陷。CPU(54)在存儲器(56)中存儲缺陷的位置。重放部(50)在缺陷的位置使重放條件劣化而重放數(shù)據(jù)。檢測部(52)檢查此時的錯誤率，最終判斷光盤的OK/NG。
文檔編號G11B20/18GK101727945SQ20091017326
公開日2010年6月9日 申請日期2009年9月22日 優(yōu)先權日2008年10月15日
發(fā)明者上野圭司 申請人:蒂雅克股份有限公司