專利名稱：用于迭代解碼中與相位相關(guān)的數(shù)據(jù)檢測的系統(tǒng)和方法
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用于迭代解碼中與相位相關(guān)的數(shù)據(jù)檢測的系統(tǒng)和方法
背景技術(shù)：
本發(fā)明涉及用于傳送信息的系統(tǒng)和方法，并且更具體地涉及用于對接收的數(shù)據(jù)集 進(jìn)行數(shù)據(jù)檢測的系統(tǒng)和方法。多種系統(tǒng)依賴于在發(fā)射機(jī)和接收機(jī)之間傳送信息。例如，無線傳輸系統(tǒng)包括通過 無線傳輸介質(zhì)向接收機(jī)發(fā)送信息的發(fā)送裝置，所述接收機(jī)嘗試再次創(chuàng)建原始傳送的信息。 作為另一實例，硬盤驅(qū)動器向存儲介質(zhì)發(fā)送或者寫入數(shù)據(jù)，并且之后從所述存儲介質(zhì)訪問 所述數(shù)據(jù)。在這兩種情況中，一個或多個數(shù)據(jù)檢測器電路可以被用于檢測所接收的數(shù)據(jù)，以 嘗試再次創(chuàng)建原始發(fā)送的信息。在有些情況下，未校正的錯誤留在了接收數(shù)據(jù)中，并且原始 發(fā)送的信息可能會丟失。因此，由于至少上述的原因，在現(xiàn)有技術(shù)中存在對于處理接收數(shù)據(jù)的先進(jìn)的系統(tǒng) 和方法的需要。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明涉及用于傳送信息的系統(tǒng)和方法，并且更具體地涉及用于對接收數(shù)據(jù)集進(jìn) 行數(shù)據(jù)檢測的系統(tǒng)和方法。本發(fā)明的一些實施例提供了數(shù)據(jù)處理電路。上述電路包括第一數(shù)據(jù)檢測電路，其 向數(shù)據(jù)集應(yīng)用與相位相關(guān)的數(shù)據(jù)檢測算法，由此使得第一數(shù)據(jù)檢測電路的第一輸出取決于 對第一數(shù)據(jù)檢測電路呈現(xiàn)的數(shù)據(jù)集的相位而變化。對于第一數(shù)據(jù)檢測電路呈現(xiàn)數(shù)據(jù)集的第 一相位。所述電路進(jìn)一步包括相移電路，其對第一輸出的衍生進(jìn)行相移，由此使得所述數(shù)據(jù) 集的第二相位被提供作為相移輸出；以及第二數(shù)據(jù)檢測電路，所述第二數(shù)據(jù)檢測電路對所 述相移輸出應(yīng)用與相位相關(guān)的數(shù)據(jù)檢測算法，由此使得第二數(shù)據(jù)檢測電路的第二輸出至少 部分地由于對第二數(shù)據(jù)檢測電路呈現(xiàn)的數(shù)據(jù)集的不同相位而從第一輸出變化。本發(fā)明的各種實施例提供了數(shù)據(jù)處理電路。上述電路包括第一數(shù)據(jù)檢測電路，其 向數(shù)據(jù)集應(yīng)用與相位相關(guān)的數(shù)據(jù)檢測算法，由此使得第一數(shù)據(jù)檢測電路的第一輸出取決于 對第一數(shù)據(jù)檢測電路呈現(xiàn)的相位而變化。對于第一數(shù)據(jù)檢測電路呈現(xiàn)所述數(shù)據(jù)集的第一相 位。所述電路進(jìn)一步包括解碼器電路，其向所述第一輸出應(yīng)用解碼算法以產(chǎn)生解碼輸出，和 相移電路，其對解碼輸出進(jìn)行相移，由此使得所述數(shù)據(jù)集的第二相位被提供作為相移輸出。 第二檢測電路對所述相移輸出應(yīng)用與相位相關(guān)的數(shù)據(jù)檢測算法，由此使得第二數(shù)據(jù)檢測電 路的第二輸出至少部分地由于對第二數(shù)據(jù)檢測電路呈現(xiàn)的數(shù)據(jù)集的不同相位而從所述第 一輸出變化。在上述實施例的某些情況下，第一數(shù)據(jù)檢測電路與第二數(shù)據(jù)檢測電路不同。在上 述實施例的其他情況下，第一數(shù)據(jù)檢測電路和第二數(shù)據(jù)檢測電路被實現(xiàn)作為一個數(shù)據(jù)檢測 電路。在上述實施例的特定情況下，所述解碼器是低密度奇偶校驗解碼器，以及第一數(shù)據(jù)檢 測電路是SOVA檢測器電路或者M(jìn)AP檢測器電路。在上述實施例的某些情況下，第一數(shù)據(jù)檢測電路和第二數(shù)據(jù)檢測電路提供兩種與 相位相關(guān)的檢測處理。在上述實施例的其他情況下，第一數(shù)據(jù)檢測電路和第二數(shù)據(jù)檢測電路提供四種與相位相關(guān)的檢測處理。在上述實施例的多種情況下，相移電路是延遲電路。所 述延遲電路可以是可變延遲電路，其可操作用于使得數(shù)據(jù)輸入被移動可變的量。在特定的 情況中，所述電路進(jìn)一步包括相位對準(zhǔn)電路，其可操作用于在向解碼器電路呈現(xiàn)第一輸出 之前將第一輸出對準(zhǔn)到解碼器邊界。在一種特定的情況下，解碼器邊界是4T邊界。在有些 情況下，所述相位對準(zhǔn)電路是可變延遲電路。本發(fā)明的其他實施例提供了用于數(shù)據(jù)處理的方法。所述方法包括接收數(shù)據(jù)集并且 對所述數(shù)據(jù)集進(jìn)行第一數(shù)據(jù)檢測。所述第一數(shù)據(jù)檢測是產(chǎn)生第一輸出的與相位相關(guān)的數(shù)據(jù) 檢測，所述第一輸出取決于向其應(yīng)用第一數(shù)據(jù)檢測的數(shù)據(jù)集的相位而變化。第一數(shù)據(jù)檢測 應(yīng)用于數(shù)據(jù)集的第一相位。對第一輸出進(jìn)行數(shù)據(jù)解碼以產(chǎn)生解碼輸出，并且對所述解碼輸 出施加相移，由此使得所述數(shù)據(jù)集的第二相位被提供作為相移輸出。對所述相移輸出進(jìn)行 第二數(shù)據(jù)檢測。所述第二數(shù)據(jù)檢測是產(chǎn)生第二輸出的與相位相關(guān)的數(shù)據(jù)檢測，所述第二輸 出取決于呈現(xiàn)的輸入的相位而變化。在上述實施例的某些情況下，所述方法進(jìn)一步包括相位對準(zhǔn)第一輸出，由此使得 在向所述解碼器電路呈現(xiàn)第一輸出之前將第一輸出對準(zhǔn)解碼器邊界。在有些情況下，相位 對準(zhǔn)第一輸出包括對第一輸出施加可變延遲。在上述實施例的特定情況中，利用相同的數(shù) 據(jù)檢測電路完成第一數(shù)據(jù)檢測和第二數(shù)據(jù)檢測。在此情況下，所述方法可以進(jìn)一步包括在 進(jìn)行第一數(shù)據(jù)檢測之前相移所述數(shù)據(jù)集以與特定的相位對準(zhǔn)。上述發(fā)明內(nèi)容僅僅提供了本發(fā)明的一些實施例的總體概要。從以下的具體實施方 式、所附的權(quán)利要求書和附圖，本發(fā)明的多種其他目的、特征、優(yōu)點及其他實施例將變得非
常清楚。


參考在說明書的其他部分中描述的附圖可以實現(xiàn)對本發(fā)明的各種實施例的進(jìn)一 步理解。在附圖中，相同的參考數(shù)字被用于在所有若干附圖中指代相同的部件。在有些情 況下，由小寫字母組成的下標(biāo)與參考數(shù)字相關(guān)聯(lián)以表示多個同類部件中的一個。當(dāng)在沒有 對現(xiàn)有的下標(biāo)進(jìn)行說明的情況下涉及參考數(shù)字時，其意圖是指所有這樣的多個相同部件。圖1示出了數(shù)據(jù)處理電路，其包括根據(jù)本發(fā)明的一些實施例的多相位數(shù)據(jù)檢測電 路；圖2a、2b和2c示出了根據(jù)本發(fā)明的一些實施例的相移數(shù)據(jù)處理的圖解；圖3示出了根據(jù)本發(fā)明的各種實施例的基于排隊的檢測/解碼的數(shù)據(jù)處理電路， 其包括多相位數(shù)據(jù)檢測電路；圖4示出了根據(jù)本發(fā)明的一個或多個實施例的多相位數(shù)據(jù)檢測處理的方法的流 程圖；圖5示出了根據(jù)本發(fā)明各種實施例的包括多相位數(shù)據(jù)檢測電路的存儲系統(tǒng)；以及圖6示出了根據(jù)本發(fā)明一個或多個實施例的包括多相位數(shù)據(jù)檢測電路的通信系統(tǒng)。
具體實施例方式本發(fā)明涉及用于傳送信息的系統(tǒng)和方法，并且更具體地涉及用于對接收數(shù)據(jù)集進(jìn)行數(shù)據(jù)檢測的系統(tǒng)和方法。本發(fā)明的多種實施例執(zhí)行數(shù)據(jù)處理，其包括通過一系列數(shù)據(jù)檢測器電路和/或通 過經(jīng)由相同數(shù)據(jù)檢測器電路的連續(xù)傳遞的處理。數(shù)據(jù)檢測器電路是與相位相關(guān)的，由此使 得通過相同檢測器電路與樣本集的一個相位不同地處理該樣本集的另一相位。作為一個例 子，利用應(yīng)用于較高基數(shù)網(wǎng)格(radix trellis)的全速率數(shù)據(jù)檢測算法的檢測器將表現(xiàn)出 某些相位相關(guān)性。例如，1/2速率數(shù)據(jù)檢測器使用基數(shù)4的網(wǎng)格，其中存在離開和進(jìn)入每一 種狀態(tài)的四個分支，以及每一分支對應(yīng)于2T，其中T表示位周期。作為另一實例，1/4速率數(shù) 據(jù)檢測器使用基數(shù)16的網(wǎng)格，其中存在離開和進(jìn)入每一種狀態(tài)的十六個分支，并且每一分 支對應(yīng)于4T。更高階基數(shù)的檢測器也是可能的，其中每分支的位數(shù)是N，而所述基數(shù)是2n。 基數(shù)2N的檢測器將采樣的數(shù)據(jù)集分到N個分支位置，并且對所述數(shù)據(jù)集執(zhí)行與位置有關(guān)的 檢測算法。當(dāng)進(jìn)行連續(xù)的檢測器迭代時，數(shù)據(jù)集被引入了不同的相位，從而對于每個分支位 置獲得了不同的處理。如此處使用的，術(shù)語"相位"被用于描述數(shù)據(jù)集的相對于通過數(shù)據(jù) 檢測器電路應(yīng)用的不同數(shù)據(jù)檢測算法的定位或者位置。因此，例如，在數(shù)據(jù)集被分到二個位 置中的情況下(即，位0位于A位置，位1位于B位置，位2位于A位置，位3位于B位置等 等)，在第一數(shù)據(jù)檢測迭代期間，利用數(shù)據(jù)檢測器電路的第一算法或者分支來處理位0，而 利用數(shù)據(jù)檢測器電路的第二算法或者分支來處理位1。在隨后的數(shù)據(jù)檢測迭代中，利用數(shù)據(jù) 檢測器電路的第二算法或者分支來處理位0，以及利用數(shù)據(jù)檢測器電路的第一算法或者分 支來處理位1。作為一個例子，在本發(fā)明的一些實施例中，利用一次對四個樣本進(jìn)行操作的檢測 器電路(即，4T檢測器)，其中第一檢測處理或算法應(yīng)用于第一和第三樣本，而第二檢測處 理或算法應(yīng)用于第二和第四樣本。因此，在這種情況下，檢測器電路的輸出取決于特定輸入 是奇數(shù)相位或偶數(shù)相位而變化，相位的變化產(chǎn)生了檢測器電路的不同輸出。應(yīng)當(dāng)注意，上述 例子對于一次處理兩個樣本的檢測器(即，2T檢測器)也同樣適用。在本發(fā)明的其他實施 例中，檢測器電路被用于一次操作四個樣本，其中第一檢測處理或算法應(yīng)用于第一樣本，第 二檢測處理或算法應(yīng)用于第二樣本，第三檢測處理或算法應(yīng)用于第三樣本，以及第四檢測 處理應(yīng)用于第四樣本。因此，在這種情況下，檢測器電路的輸出取決于特定輸入是第一、第 二、第三或者第四相位而變化，相位的變化產(chǎn)生了檢測器電路的不同輸出。應(yīng)當(dāng)指出，在這 里提供的大部分討論著重于4T數(shù)據(jù)檢測器電路，其提供兩個或者四個與相位相關(guān)的路徑， 但是也可以使用其他數(shù)據(jù)檢測器，包括但不限于，提供某些數(shù)目的與數(shù)據(jù)相關(guān)的路徑的2T 和8T數(shù)據(jù)檢測器。在實施例中，對于通過檢測器電路(多個)的連續(xù)傳遞改變樣本的相位。例如，在 實現(xiàn)了提供兩個不同的相位處理的相同檢測器電路的三種情況的系統(tǒng)中，輸入數(shù)據(jù)的一個 相位可以被應(yīng)用于第一檢測器電路，輸入數(shù)據(jù)的不同相位可以被應(yīng)用于第二檢測器電路， 以及輸入數(shù)據(jù)的另一不同相位可以被應(yīng)用于第三檢測器電路。以這種方法，在每個連續(xù)傳 遞上應(yīng)用了不同的檢測處理或算法，獲得相應(yīng)的檢測器輸出的變化。對于數(shù)據(jù)輸入表現(xiàn)出 某些類型的錯誤的情況，上述系統(tǒng)擾動增加了數(shù)據(jù)收斂的可能性。轉(zhuǎn)向圖1，示出了根據(jù)本發(fā)明的一些實施例的包括多相位數(shù)據(jù)檢測電路的數(shù)據(jù)處 理電路100 ；數(shù)據(jù)處理電路100包括模數(shù)轉(zhuǎn)換器104，其接收模擬輸入102并且提供一系列 數(shù)據(jù)樣本106。可以基于從原始數(shù)據(jù)源(未示出)獲得的信息從模擬處理電路(未示出)接收模擬輸入102。作為一個例子，所述原始數(shù)據(jù)源可以是存儲介質(zhì)，其中數(shù)據(jù)處理電路100 被實現(xiàn)為硬盤驅(qū)動器的一部分。作為另一實例，所述原始數(shù)據(jù)源可以是傳輸介質(zhì)，其中數(shù)據(jù) 處理電路100被實現(xiàn)為傳輸系統(tǒng)的一部分。基于此處提供的教導(dǎo)，本領(lǐng)域技術(shù)人員將認(rèn)識 到可以與本發(fā)明的不同實施例相關(guān)地使用的各種原始數(shù)據(jù)源。數(shù)字樣本106被提供到全局迭代電路110。這些樣本可以被直接提供或者通過某 些中間電路(例如數(shù)字濾波器，未示出)提供。全局迭代電路110包括數(shù)據(jù)檢測器電路112， 其提供檢測器輸出114到相位對準(zhǔn)電路116。數(shù)據(jù)檢測器電路112可以是在現(xiàn)有技術(shù)中已 知的任何類型的數(shù)據(jù)檢測器，包括但不限于，軟輸出維特比算法檢測器(SOVA)或者最大后 驗(MAP)檢測器。數(shù)據(jù)檢測器電路112施加與相位相關(guān)的數(shù)據(jù)檢測處理。例如，在本發(fā)明的 一些實施例中，數(shù)據(jù)檢測器電路112 —次操作四個樣本，其中第一檢測處理或算法應(yīng)用于 第一和第三樣本，以及第二檢測處理或算法應(yīng)用于第二和第四樣本。因此，在這種情況下， 檢測器輸出114取決于特定輸入是奇數(shù)相位或偶數(shù)相位而變化，而相位變化產(chǎn)生了數(shù)據(jù)檢 測器電路112的不同輸出。在本發(fā)明的其他實施例中，數(shù)據(jù)檢測器電路112 —次操作四個 樣本，其中第一檢測處理或算法應(yīng)用于第一樣本，第二檢測處理或算法應(yīng)用于第二樣本，第 三檢測處理或算法應(yīng)用于第三樣本，以及第四檢測處理應(yīng)用于第四樣本。因此，在這種情況 下，檢測器輸出114取決于特定輸入是第一、第二、第三或者第四相位而變化，以及相位變 化產(chǎn)生了數(shù)據(jù)檢測器電路112的不同輸出。在Fitzpatrick等人在2008年1月22日提交 的題為"Methods and Apparatus for MAP Detection withReduced Complexity"的美國 專利申請No. 12/017，765中公開了可以與本發(fā)明的不同實施例相關(guān)地使用的數(shù)據(jù)檢測器 電路的一個例子。上述的專利申請被轉(zhuǎn)讓給與本申請共同的實體，并且上述專利申請的全 部內(nèi)容出于各種目的被并入本文中?；诖颂幪峁┑慕虒?dǎo)，本領(lǐng)域技術(shù)人員將認(rèn)識到，可以 與本發(fā)明的不同實施例相關(guān)地使用的各種數(shù)據(jù)檢測器電路。根據(jù)此處提供的教導(dǎo)，本領(lǐng)域 技術(shù)人員將認(rèn)識到，可以根據(jù)本發(fā)明的不同實施例使用的、提供對輸入集的與相位相關(guān)的 處理的各種數(shù)據(jù)檢測器。相位對準(zhǔn)電路116接收檢測器輸出114并且提供解碼器輸入118，所述解碼器輸入 118相對于同步標(biāo)記或者其他位置指示符對準(zhǔn)特定的相位。例如，在本發(fā)明的一些實施例 中，解碼器輸入118對準(zhǔn)在4T邊界上。在本發(fā)明的一些實施例中，相位對準(zhǔn)電路116被實 現(xiàn)為延遲電路，其能夠延遲解碼器輸入118，由此使得解碼器輸入118對準(zhǔn)定義的邊界。因 此，例如，當(dāng)解碼器輸入118將要對準(zhǔn)在4T邊界上以及相位對準(zhǔn)電路116接收3T相位的輸 入時，相位對準(zhǔn)電路116將輸入延遲1T。作為另一實例，在相位對準(zhǔn)電路116接收2T相位 的輸入的情況下，相位對準(zhǔn)電路116將輸入延遲2T。再一個實例，在相位對準(zhǔn)電路116接收 IT相位的輸入的情況下，相位對準(zhǔn)電路116將輸入延遲3T。還一個實例，在相位對準(zhǔn)電路 116接收4T相位的輸入的情況下，相位對準(zhǔn)電路116僅僅使輸入傳遞通過作為解碼器輸入 118。應(yīng)當(dāng)注意，可以在解碼器輸入118處提供除了 4T之外的相位對準(zhǔn)，具有對由相位對準(zhǔn) 電路116提供的延遲的相應(yīng)的修正。數(shù)據(jù)解碼器電路120接收解碼器輸入118，對其施加解碼算法，并且提供解碼輸出 122。數(shù)據(jù)解碼器電路120可以是在現(xiàn)有技術(shù)中已知的任何解碼器電路，包括但不限于，低 密度奇偶校驗解碼器(LDPC)。基于此處提供的教導(dǎo)，本領(lǐng)域技術(shù)人員將認(rèn)識到可以與本發(fā) 明的不同實施例相關(guān)地使用的各種解碼器電路。
數(shù)字樣本106也被提供到延遲電路124，所述延遲電路124延遲數(shù)字樣本以匹配通 過全局迭代電路Iio的延遲，由此使得樣本與解碼輸出122對準(zhǔn)。這些樣本可以被直接提 供或者通過某些中間電路(例如數(shù)字濾波器，未示出)提供。延遲電路124提供延遲輸出 125。相移電路126接收延遲輸出125和解碼輸出122，并且向全局迭代電路130提供相移 后的數(shù)據(jù)輸出128。全局迭代電路130包括數(shù)據(jù)檢測器電路132，所述數(shù)據(jù)檢測器電路132 向相位對準(zhǔn)電路136提供檢測器輸出134。數(shù)據(jù)檢測器電路132可以與數(shù)據(jù)檢測器電路112 相同。相移電路126對延遲輸出125和解碼輸出122施加足夠的相移，由此保證對數(shù)據(jù)檢 測器電路132呈現(xiàn)的相位不同于先前對于數(shù)據(jù)檢測器電路112呈現(xiàn)的相位。相位對準(zhǔn)電路136從數(shù)據(jù)檢測器電路132接收檢測器輸出134，并且提供相對于同 步標(biāo)記或者其他位置指示符與特定相位對準(zhǔn)的解碼器輸入138。該對準(zhǔn)類似于上述與解碼 器輸入118相關(guān)所討論的對準(zhǔn)。數(shù)據(jù)解碼器電路140接收解碼器輸入138，對其施加解碼算 法，并且提供解碼輸出142。數(shù)據(jù)解碼器電路140可以是在現(xiàn)有技術(shù)中已知的任何解碼器電 路，包括但不限于，低密度奇偶校驗解碼器(LDPC)?；诖颂幪峁┑慕虒?dǎo)，本領(lǐng)域技術(shù)人員 將認(rèn)識到可以與本發(fā)明的不同實施例相關(guān)地使用的各種解碼器電路。數(shù)字樣本106還被提供到延遲電路144，所述延遲電路144延遲數(shù)字樣本以匹配通 過全局迭代電路110、相移電路126和全局迭代電路130的延遲，由此使得樣本與解碼輸出 142對準(zhǔn)。這些樣本可以被直接提供或者通過某些中間電路(例如數(shù)字濾波器，未示出)提 供。延遲電路144提供延遲輸出145。相移電路146接收延遲輸出145和解碼輸出142，并 且向數(shù)據(jù)檢測器電路150提供相移后的數(shù)據(jù)輸出148。數(shù)據(jù)檢測器電路150可以與數(shù)據(jù)檢 測器電路112和/或數(shù)據(jù)檢測器電路132相同。相移電路146對延遲輸出145和解碼輸出 142施加足夠的相移，由此確保對數(shù)據(jù)檢測器電路150呈現(xiàn)的相位不同于先前對于數(shù)據(jù)檢 測器電路132呈現(xiàn)的相位，并且可能與先前對于數(shù)據(jù)檢測器電路112呈現(xiàn)的相位不同。相 位對準(zhǔn)電路146從數(shù)據(jù)檢測器電路150接收檢測器輸出152，并且提供相對于同步標(biāo)記或者 其他位置指示符與特定相位對準(zhǔn)的恢復(fù)輸出160。該對準(zhǔn)類似于上述與解碼器輸入118相 關(guān)地討論的對準(zhǔn)。通過對連續(xù)的數(shù)據(jù)檢測器電路呈現(xiàn)數(shù)據(jù)集的不同相位，對于通過連續(xù)的數(shù)據(jù)檢測 器電路的每個連續(xù)的傳遞施加了不同的檢測處理或算法，獲得了數(shù)據(jù)檢測器電路輸出的相 應(yīng)變化。當(dāng)數(shù)據(jù)輸入表現(xiàn)出某些類型的錯誤時，上述系統(tǒng)干擾增加了數(shù)據(jù)收斂的可能性。
轉(zhuǎn)向圖2a，示出了根據(jù)本發(fā)明的一些實施例的在通過連續(xù)數(shù)據(jù)檢測器電路的處理 期間的數(shù)據(jù)相移的圖示200。具體來說，圖示200示出了其中使用了三個連續(xù)的數(shù)據(jù)檢測器 電路(或者迭代通過相同的檢測器電路)的情況，其中每個數(shù)據(jù)檢測器電路提供兩種與相 位相關(guān)的檢測處理或算法。如圖所示，利用一系列數(shù)據(jù)樣本210相對于同步標(biāo)記205的絕 對位置對所述數(shù)據(jù)樣本210進(jìn)行編號。數(shù)據(jù)樣本210被呈現(xiàn)給由一系列樣本220表示的數(shù) 據(jù)檢測器電路。數(shù)據(jù)檢測器電路提供兩種與相位相關(guān)的檢測處理或算法，被標(biāo)記為A和B。 如圖所示，利用A檢測處理對來自數(shù)據(jù)樣本210的數(shù)據(jù)樣本0進(jìn)行處理，以及利用B檢測處 理對來自數(shù)據(jù)樣本210的數(shù)據(jù)樣本1進(jìn)行處理。如圖所示，對于其余的數(shù)據(jù)樣本220交替 地使用A和B處理。 一旦數(shù)據(jù)檢測器電路的處理完成，在被引入解碼器電路之前對數(shù)據(jù)進(jìn)行相位對 準(zhǔn)。所述相位對準(zhǔn)被描述為樣本225。在這種情況下，在4T邊界245上完成了相位對準(zhǔn)。應(yīng)當(dāng)注意，根據(jù)本發(fā)明的不同實施例可以使用其他的相位對準(zhǔn)。由于數(shù)據(jù)檢測處理的輸出 (樣本220)已經(jīng)被對準(zhǔn)到4T邊界上，因此在執(zhí)行解碼處理之前增加OT延遲以實現(xiàn)期望的 相位對準(zhǔn)。還應(yīng)注意，所描述的4T邊界不是連續(xù)的或者重合的4T邊界，而是取決于通過 數(shù)據(jù)檢測器電路和數(shù)據(jù)解碼器電路的處理所需的時間而可以被分開數(shù)百乃至于數(shù)千周期。 因此，例如，4T邊界245b是在4T邊界245a之后四個周期，而4T邊界245c可以在4T邊界 245b之后數(shù)百或者數(shù)千周期。一旦解碼器電路的處理完成，在被引入檢測器電路(或者另一檢測器電路或者另 一通過相同檢測器電路的迭代)之前對數(shù)據(jù)進(jìn)行相移。所述相移被描述為樣本230。所述 相移被設(shè)計為當(dāng)與先前的檢測處理(即，應(yīng)用于樣本220的檢測處理)相比時保證對給定 樣本應(yīng)用不同的與相位相關(guān)的檢測處理。在這種情況下，樣本被延遲1T，由此使得利用B檢 測處理對來自數(shù)據(jù)樣本210的數(shù)據(jù)樣本0進(jìn)行處理，以及利用A檢測處理對來自數(shù)據(jù)樣本 210的數(shù)據(jù)樣本1進(jìn)行處理。這與應(yīng)用于樣本220的檢測處理相反。類似地，對于數(shù)據(jù)樣本 210的其他樣本也使得A和B處理相反。一旦數(shù)據(jù)檢測器電路的處理完成，在被引入解碼器電路之前對數(shù)據(jù)進(jìn)行相位對 準(zhǔn)。所述相位對準(zhǔn)被描述為樣本225。在這種情況下，在4T邊界245上完成了相位對準(zhǔn)。 再次，應(yīng)當(dāng)注意，根據(jù)本發(fā)明的不同實施例可以使用其他的相位對準(zhǔn)。由于數(shù)據(jù)檢測處理的 輸出(樣本230)表現(xiàn)出IT相位對準(zhǔn)，因此在執(zhí)行解碼處理之前加入3T延遲以實現(xiàn)期望的 相位對準(zhǔn)。一旦解碼器電路的處理完成，在被引入檢測器電路(或者另一檢測器電路或者另 一通過相同檢測器電路的迭代)之前對數(shù)據(jù)進(jìn)行相移。所述相移被描述為樣本240。所述 相移被設(shè)計為當(dāng)與先前的檢測處理(即，應(yīng)用于樣本230的檢測處理)相比時確保將不同 的與相位相關(guān)的檢測處理應(yīng)用于給定的樣本。在這種情況下，樣本已經(jīng)被相位對準(zhǔn)，由此使 得將施加不同的與相位相關(guān)的處理。具體來說，利用A檢測處理對來自數(shù)據(jù)樣本210的數(shù) 據(jù)樣本0進(jìn)行處理，以及利用B檢測處理對來自數(shù)據(jù)樣本210的數(shù)據(jù)樣本1進(jìn)行處理。這 與應(yīng)用于樣本230的檢測處理相反。類似地，對于數(shù)據(jù)樣本220的其他樣本也使得A和B 處理相反。因此，施加了 OT相移。如圖所示，對于每個連續(xù)的數(shù)據(jù)檢測步驟，對數(shù)據(jù)檢測器呈現(xiàn)了數(shù)據(jù)的不同相位。 通過對連續(xù)的數(shù)據(jù)檢測步驟呈現(xiàn)數(shù)據(jù)集的不同相位，對于通過連續(xù)的數(shù)據(jù)檢測器電路的每 個連續(xù)的傳遞施加了不同的檢測處理或算法，獲得了數(shù)據(jù)檢測器電路的輸出的相應(yīng)變化。 對于數(shù)據(jù)輸入表現(xiàn)出某些類型的錯誤的情況，上述系統(tǒng)干擾增加了數(shù)據(jù)收斂的可能性。應(yīng) 當(dāng)注意，圖2a的圖示僅僅是示例性的，基于此處提供的教導(dǎo)，本領(lǐng)域技術(shù)人員將認(rèn)識到可 以與本發(fā)明不同實施例相關(guān)地實現(xiàn)的相移和對準(zhǔn)的許多其他例子。應(yīng)當(dāng)注意，盡管與以4T邊界操作的4T檢測器相關(guān)地描述了圖2a，然而其還可以應(yīng) 用于以2T邊界操作的2T檢測器。在這種情況下，任何相移被對準(zhǔn)到2T邊界，而不是如圖 所示的4T邊界245。2T檢測器的一個例子如圖2b所示，其中示出了根據(jù)本發(fā)明一些實施 例的在通過連續(xù)的數(shù)據(jù)檢測器電路的處理期間的數(shù)據(jù)相移的圖示201。具體來說，圖示201 示出了其中使用兩個連續(xù)數(shù)據(jù)檢測器電路(或者通過相同檢測器電路的迭代)的情況，其 中每個數(shù)據(jù)檢測器電路提供兩種與相位相關(guān)的檢測處理或算法。如圖所示，利用一系列數(shù) 據(jù)樣本210相對于同步標(biāo)記205的絕對位置對所述數(shù)據(jù)樣本210進(jìn)行編號。數(shù)據(jù)樣本210被呈現(xiàn)給由一系列樣本221表示的數(shù)據(jù)檢測器電路。數(shù)據(jù)檢測器電路提供兩種與相位相關(guān) 的檢測處理或算法，被標(biāo)記為A和B。如圖所示，利用A檢測處理對來自數(shù)據(jù)樣本210的數(shù) 據(jù)樣本0進(jìn)行處理，以及利用B檢測處理對來自數(shù)據(jù)樣本210的數(shù)據(jù)樣本1進(jìn)行處理。如 圖所示，對于其余的數(shù)據(jù)樣本221交替地使用A和B處理。一旦數(shù)據(jù)檢測器電路的處理完成，在被引入解碼器電路之前對數(shù)據(jù)進(jìn)行相位對 準(zhǔn)。所述相位對準(zhǔn)被描述為樣本226。在這種情況下，在2T邊界246上完成了相位對準(zhǔn)。 應(yīng)當(dāng)注意，根據(jù)本發(fā)明的不同實施例可以使用其他的相位對準(zhǔn)。由于已經(jīng)以2T邊界對準(zhǔn)數(shù) 據(jù)檢測處理的輸出(樣本221)，由此在執(zhí)行解碼處理之前增加OT延遲以實現(xiàn)期望的相位 對準(zhǔn)。還應(yīng)當(dāng)注意，所描述的2T邊界不是連續(xù)的或者重合的2T邊界，而是取決于通過數(shù)據(jù) 檢測器電路和數(shù)據(jù)解碼器電路的處理所需要的時間而可以被分開數(shù)百乃至于數(shù)千周期。因 此，例如，2T邊界246b在2T邊界246a之后兩個周期，而2T邊界246c可以在2T邊界246b 之后數(shù)百或者數(shù)千周期。一旦解碼器電路的處理完成，在被引入檢測器電路(或者另一檢測器電路或者另 一通過相同檢測器電路的迭代)之前對數(shù)據(jù)進(jìn)行相移。所述相移被描述為樣本231。所述 相移被設(shè)計為當(dāng)與先前的檢測處理(即，應(yīng)用于樣本221的檢測處理)相比時，確保將不同 的與相位相關(guān)的檢測處理應(yīng)用于給定的樣本。在這種情況下，樣本被延遲1T，由此使得利 用B檢測處理對來自數(shù)據(jù)樣本210的數(shù)據(jù)樣本0進(jìn)行處理，以及利用A檢測處理對來自數(shù) 據(jù)樣本210的數(shù)據(jù)樣本1進(jìn)行處理。這與應(yīng)用于樣本221的檢測處理相反。類似地，對于 數(shù)據(jù)樣本210的其他樣本也使得A和B處理相反。如圖所示，對于每個連續(xù)的數(shù)據(jù)檢測步驟，對數(shù)據(jù)檢測器呈現(xiàn)了數(shù)據(jù)的不同相位。 通過對連續(xù)的數(shù)據(jù)檢測步驟呈現(xiàn)數(shù)據(jù)集的不同相位，對于通過連續(xù)的數(shù)據(jù)檢測器電路的每 個連續(xù)的傳遞應(yīng)用了不同的檢測處理或算法，獲得了數(shù)據(jù)檢測器電路的輸出的相應(yīng)變化。 對于當(dāng)數(shù)據(jù)輸入表現(xiàn)出某些類型的錯誤的情況，上述系統(tǒng)干擾增加了數(shù)據(jù)收斂的可能性。 應(yīng)當(dāng)注意，圖2b的圖示僅僅是示例性的，基于此處提供的教導(dǎo)，本領(lǐng)域技術(shù)人員將認(rèn)識到 可以與本發(fā)明不同實施例相關(guān)地實現(xiàn)的相移和對準(zhǔn)的許多其他例子。 轉(zhuǎn)向圖2c，示出了根據(jù)本發(fā)明的一些實施例的在通過連續(xù)數(shù)據(jù)檢測器電路的處理 期間的數(shù)據(jù)相移的圖示250。具體來說，圖示250示出了其中使用了四個連續(xù)數(shù)據(jù)檢測器電 路(或者通過相同檢測器電路的迭代)的情況，其中每個數(shù)據(jù)檢測器電路提供四種與相位 相關(guān)的檢測處理或算法。相對于圖2a的同步標(biāo)記205和相同的一系列數(shù)據(jù)樣本210示出 了數(shù)據(jù)。數(shù)據(jù)樣本210被呈現(xiàn)給由一系列樣本260表示的數(shù)據(jù)檢測器電路。該數(shù)據(jù)檢測器 電路提供四種與相位相關(guān)的檢測處理或算法，被分別標(biāo)記為A、B、C和D。如圖所示，利用A 檢測處理對來自數(shù)據(jù)樣本210的數(shù)據(jù)樣本0進(jìn)行處理，利用B檢測處理對來自數(shù)據(jù)樣本210 的數(shù)據(jù)樣本1進(jìn)行處理，利用C檢測處理對來自數(shù)據(jù)樣本210的數(shù)據(jù)樣本2進(jìn)行處理，以及 利用D檢測處理對來自數(shù)據(jù)樣本210的數(shù)據(jù)樣本3進(jìn)行處理。如圖所示，對其余的數(shù)據(jù)樣 本260重復(fù)地使用A、B、C和D處理。 一旦數(shù)據(jù)檢測器電路的處理完成，在被引入解碼器電路之前對數(shù)據(jù)進(jìn)行相位對 準(zhǔn)。所述相位對準(zhǔn)被描述為樣本265。在這種情況下，在4T邊界295上完成了相位對準(zhǔn)。 應(yīng)當(dāng)注意，根據(jù)本發(fā)明的不同實施例可以使用其他的相位對準(zhǔn)。由于數(shù)據(jù)檢測處理的輸出 (樣本260)已經(jīng)被對準(zhǔn)到4T邊界上，由此在執(zhí)行解碼處理之前加入OT延遲以實現(xiàn)期望的相位對準(zhǔn)。還應(yīng)注意，所描述的4T邊界不是連續(xù)的或者重合的4T邊界，而是取決于通過數(shù) 據(jù)檢測器電路和數(shù)據(jù)解碼器電路的處理所需要的時間而可以被分開數(shù)百乃至于數(shù)千周期。 因此，例如，4T邊界295b是在4T邊界295a之后四個周期，而4T邊界295c可以在4T邊界 295b之后數(shù)百或者數(shù)千周期。一旦解碼器電路的處理完成，在被引入檢測器電路(或者另一檢測器電路或者另 一通過相同檢測器電路的迭代)之前對數(shù)據(jù)進(jìn)行相移。所述相移被描述為樣本270。所述 相移被設(shè)計為當(dāng)與先前的檢測處理(即，應(yīng)用于樣本260的檢測處理)相比時確保將不同 的與相位相關(guān)的檢測處理應(yīng)用于給定的樣本。在這種情況下，將樣本延遲1T，由此使得利用 B檢測處理對來自數(shù)據(jù)樣本210的數(shù)據(jù)樣本0進(jìn)行處理，利用C檢測處理對來自數(shù)據(jù)樣本 210的數(shù)據(jù)樣本1進(jìn)行處理，利用D檢測處理對來自數(shù)據(jù)樣本210的數(shù)據(jù)樣本2進(jìn)行處理， 以及利用A檢測處理對來自數(shù)據(jù)樣本210的數(shù)據(jù)樣本3進(jìn)行處理。這是從應(yīng)用于樣本260 的檢測處理向前移動。如圖所示，對數(shù)據(jù)樣本210的其他樣本類似地移動A、B、C和D處理。一旦數(shù)據(jù)檢測器電路的處理完成，在被引入解碼器電路之前對數(shù)據(jù)進(jìn)行相位對 準(zhǔn)。所述相位對準(zhǔn)被描述為樣本275。在這種情況下，在4T邊界295上完成了相位對準(zhǔn)。 再次，應(yīng)當(dāng)注意，根據(jù)本發(fā)明的不同實施例可以使用其他的相位對準(zhǔn)。由于數(shù)據(jù)檢測處理的 輸出(樣本270)表現(xiàn)出IT相位對準(zhǔn)，因此在執(zhí)行解碼處理之前加入3T延遲以實現(xiàn)期望的 相位對準(zhǔn)。一旦解碼器電路的處理完成，在被引入檢測器電路(或者另一檢測器電路或者另 一通過相同檢測器電路的迭代)之前對數(shù)據(jù)進(jìn)行相移。所述相移被描述為樣本280。所述 相移被設(shè)計為當(dāng)與先前的檢測處理(即，應(yīng)用于樣本270的檢測處理)相比時，確保將不同 的與相位相關(guān)的檢測處理應(yīng)用于給定的樣本。在這種情況下，將樣本延遲2T，由此使得利用 C檢測處理對來自數(shù)據(jù)樣本210的數(shù)據(jù)樣本0進(jìn)行處理，利用D檢測處理對來自數(shù)據(jù)樣本 210的數(shù)據(jù)樣本1進(jìn)行處理，利用A檢測處理對來自數(shù)據(jù)樣本210的數(shù)據(jù)樣本2進(jìn)行處理， 以及利用B檢測處理對來自數(shù)據(jù)樣本210的數(shù)據(jù)樣本3進(jìn)行處理。這是從應(yīng)用于樣本270 的檢測處理向前移動。如圖所示，對數(shù)據(jù)樣本210的其他樣本類似地移動A、B、C和D處理?！?shù)據(jù)檢測器電路的處理完成，在被引入解碼器電路之前對數(shù)據(jù)進(jìn)行相位對 準(zhǔn)。所述相位對準(zhǔn)被描述為樣本285。在這種情況下，在4T邊界295上完成了相位對準(zhǔn)。 再次，應(yīng)當(dāng)注意，根據(jù)本發(fā)明的不同實施例可以使用其他的相位對準(zhǔn)。由于數(shù)據(jù)檢測處理的 輸出(樣本280)表現(xiàn)出2T相位對準(zhǔn)，因此在執(zhí)行解碼處理之前加入2T延遲以實現(xiàn)期望的 相位對準(zhǔn)。一旦解碼器電路的處理完成，在被引入檢測器電路(或者另一檢測器電路或者另 一通過相同檢測器電路的迭代)之前對數(shù)據(jù)進(jìn)行相移。所述相移被描述為樣本290。所述 相移被設(shè)計為當(dāng)與先前的檢測處理(即，應(yīng)用于樣本280的檢測處理)相比時，確保將不同 的與相位相關(guān)的檢測處理應(yīng)用于給定的樣本。在這種情況下，將樣本延遲3T，由此使得利用 D檢測處理對來自數(shù)據(jù)樣本210的數(shù)據(jù)樣本0進(jìn)行處理，利用A檢測處理對來自數(shù)據(jù)樣本 210的數(shù)據(jù)樣本1進(jìn)行處理，利用B檢測處理對來自數(shù)據(jù)樣本210的數(shù)據(jù)樣本2進(jìn)行處理， 利用C檢測處理對來自數(shù)據(jù)樣本210的數(shù)據(jù)樣本3進(jìn)行處理。這是從應(yīng)用于樣本280的檢 測處理向前移動。如圖所示，對數(shù)據(jù)樣本210的其他樣本類似地移動A、B、C和D處理。如圖所示，對于每個連續(xù)的數(shù)據(jù)檢測步驟，對數(shù)據(jù)檢測器呈現(xiàn)了數(shù)據(jù)的不同相位。通過對連續(xù)的數(shù)據(jù)檢測步驟呈現(xiàn)數(shù)據(jù)集的不同相位，對于通過連續(xù)數(shù)據(jù)檢測器電路的每個 連續(xù)的傳遞施加了不同的檢測處理或算法，獲得了數(shù)據(jù)檢測器電路的輸出的相應(yīng)變化。對 于數(shù)據(jù)輸入表現(xiàn)出某些類型的錯誤的情況，上述系統(tǒng)干擾增加了數(shù)據(jù)收斂的可能性。應(yīng)當(dāng) 注意，圖2b的圖示僅僅是示例性的，基于此處提供的教導(dǎo)，本領(lǐng)域技術(shù)人員將認(rèn)識到可以 與本發(fā)明的不同實施例相關(guān)地實現(xiàn)的相移和對準(zhǔn)的許多其他例子。轉(zhuǎn)向圖3，示出了根據(jù)本發(fā)明各種實施例的包括多相位數(shù)據(jù)檢測電路的排隊檢測 /解碼電路300。排隊檢測/解碼電路300包括數(shù)據(jù)輸入304，該數(shù)據(jù)輸入304被饋送到 數(shù)據(jù)檢測器308。數(shù)據(jù)檢測器308可以是在現(xiàn)有技術(shù)中已知的任何類型的數(shù)據(jù)檢測器，包 括但不限于，軟輸出維特比算法檢測器(SOVA)或者最大后驗(MAP)檢測器。數(shù)據(jù)檢測器 308應(yīng)用與相位相關(guān)的數(shù)據(jù)檢測處理。例如，在本發(fā)明的一些實施例中，數(shù)據(jù)檢測器308 — 次操作四個樣本，其中第一檢測處理或算法應(yīng)用于第一和第三樣本，以及第二檢測處理或 算法應(yīng)用于第二和第四樣本。因此，在這種情況下，數(shù)據(jù)檢測器308的輸出取決于特定輸 入是奇數(shù)相位或偶數(shù)相位而變化，相位的變化產(chǎn)生了數(shù)據(jù)檢測器308的不同輸出。在本發(fā) 明的其他實施例中，數(shù)據(jù)檢測器308 —次操作四個樣本，其中第一檢測處理或算法應(yīng)用于 第一樣本，第二檢測處理或算法應(yīng)用于第二樣本，第三檢測處理或算法應(yīng)用于第三樣本，以 及第四檢測處理應(yīng)用于第四樣本。因此，在這種情況下，數(shù)據(jù)檢測器308的輸出取決于特 定輸入是第一、第二、第三或者第四相位而變化，相位的變化產(chǎn)生了數(shù)據(jù)檢測器308的不同 輸出?？梢耘c本發(fā)明的不同實施例相關(guān)地使用的數(shù)據(jù)檢測器電路的一個例子公開在題為 "Methods and Apparatus for MAP Detection with ReducedComplexity” 白勺禾Ij 串 請No. 12/017，765中。出于各種目的，上述專利申請通過引用上文中被并入本文?；诖?處提供的教導(dǎo)，本領(lǐng)域技術(shù)人員將認(rèn)識到可以與本發(fā)明的不同實施例相關(guān)地使用的各種數(shù) 據(jù)檢測器電路。根據(jù)此處提供的教導(dǎo)，本領(lǐng)域技術(shù)人員將認(rèn)識到可以根據(jù)本發(fā)明的不同實 施例使用的、提供對輸入集的與相位相關(guān)的處理的各種數(shù)據(jù)檢測器。此外，數(shù)據(jù)輸入304被提供到輸入數(shù)據(jù)緩存器312，所述輸入數(shù)據(jù)緩存器312被 設(shè)計為保持從數(shù)據(jù)輸入304接收的多個數(shù)據(jù)集。如以下將更詳細(xì)描述的，可以選擇輸入數(shù) 據(jù)緩存器312的尺寸以提供足夠的緩存，由此使得通過數(shù)據(jù)輸入304的數(shù)據(jù)集輸入保持可 用至少直到相同數(shù)據(jù)集的第一迭代處理完成以及所處理的數(shù)據(jù)在乒乓緩存器348中可用 (即，排隊緩存器)。輸入數(shù)據(jù)緩存器312向數(shù)據(jù)檢測器316提供數(shù)據(jù)集。數(shù)據(jù)檢測器316 可以與數(shù)據(jù)檢測器308相同。數(shù)據(jù)檢測器308和數(shù)據(jù)檢測器316的輸出通過多路復(fù)用器320被提供到交織電路 328。例如，上述輸出可以是對數(shù)似然比值。交織電路320對數(shù)據(jù)檢測器308的輸出進(jìn)行交 織并且分別利用兩個乒乓緩存器324、332交織數(shù)據(jù)檢測器316的輸出。乒乓緩存器324中 的其中一個緩存器保持?jǐn)?shù)據(jù)檢測器308的輸出的先前交織處理的結(jié)果，并且通過相位對準(zhǔn) 電路390卸載到LDPC解碼器336。相位對準(zhǔn)電路390使解碼器輸入392與相對于同步標(biāo)記 的特定相位對準(zhǔn)。例如，在本發(fā)明的一些實施例中，解碼器輸入392對準(zhǔn)在4T邊界上。在 本發(fā)明的一些實施例中，相位對準(zhǔn)電路390被實現(xiàn)為延遲電路，其能夠延遲LDPC解碼器336 的輸入，由此使得其對準(zhǔn)定義的邊界。因此，例如，在解碼器輸入392將在4T邊界上對準(zhǔn)且 相位對準(zhǔn)電路390接收3T相位的輸入的情況下，相位對準(zhǔn)電路390將輸入延遲1T。作為另 一實例，在相位對準(zhǔn)電路390接收2T相位的輸入的情況下，相位對準(zhǔn)電路390將輸入延遲2T。再一個實例，在相位對準(zhǔn)電路390接收IT相位的輸入的情況下，相位對準(zhǔn)電路390將 輸入延遲3T。還一個實例，在相位對準(zhǔn)電路390接收4T相位的輸入的情況下，相位對準(zhǔn)電 路390僅僅使輸入傳遞通過作為解碼器輸入392。應(yīng)當(dāng)注意，可以在解碼器輸入392處提供 除了 4T之外的相位對準(zhǔn)，其具有對相位對準(zhǔn)電路390提供的延遲的相應(yīng)的修正。當(dāng)來自乒乓緩存器324的數(shù)據(jù)正在被提供到LDPC336時，另一個乒乓緩存器324 保持當(dāng)前被交織的、來自數(shù)據(jù)檢測器308的數(shù)據(jù)集。類似地，乒乓緩存器332中的其中一個 緩存器保持?jǐn)?shù)據(jù)檢測器316的輸出的先前交織處理的結(jié)果，并且卸載到LDPC解碼器336，同 時乒乓緩存器324的另一個緩存器保持當(dāng)前正在被交織的、來自數(shù)據(jù)檢測器316的數(shù)據(jù)集。LDPC解碼器336能夠同時對一個或多個數(shù)據(jù)集進(jìn)行解碼。作為一個例子，LDPC解 碼器336可以被設(shè)計為解碼來自乒乓緩存器324的交織數(shù)據(jù)集，或者解碼來自乒乓緩存器 332的交織數(shù)據(jù)集，或者同時解碼來自乒乓緩存器324和乒乓緩存器332的交織數(shù)據(jù)集。解 碼的數(shù)據(jù)被提供作為硬判決輸出340，和/或被提供至去交織電路344，所述去交織電路344 使用乒乓緩存器348去交織該解碼數(shù)據(jù)并且通過相移電路380提供去交織數(shù)據(jù)作為數(shù)據(jù)檢 測器316的輸入。乒乓緩存器348中的其中一個緩存器保持先前去交織處理的結(jié)果并且卸 載到數(shù)據(jù)檢測器316，同時乒乓緩存器348中的另一個緩存器保持當(dāng)前正在被去交織的解 碼數(shù)據(jù)集。硬判決輸出340被提供至去交織電路356，所述去交織電路356去交織硬判決輸 出340，并且將去交織結(jié)果存儲在輸出數(shù)據(jù)緩存器360中。最終，去交織電路356將存儲在 輸出數(shù)據(jù)緩存器360中的去交織數(shù)據(jù)提供作為輸出370。按照相位對準(zhǔn)電路390執(zhí)行的相位對準(zhǔn)，對從去交織電路344接收到的數(shù)據(jù)進(jìn)行 相位對準(zhǔn)。相移電路380使從去交織電路344接收的數(shù)據(jù)相移，由此使得對于數(shù)據(jù)檢測器 316呈現(xiàn)的數(shù)據(jù)相位不同于取決于處理階段的由數(shù)據(jù)檢測器308或者數(shù)據(jù)檢測器316處理 的前期的數(shù)據(jù)相位。在有些情況下，相移電路被實現(xiàn)為延遲電路。在一個實施例中，通過代 碼字延遲計數(shù)值376控制相位變化。代碼字延遲計數(shù)值表示已經(jīng)應(yīng)用于給定數(shù)據(jù)集的全局 迭代的數(shù)目。這相應(yīng)于已經(jīng)通過數(shù)據(jù)檢測器308和數(shù)據(jù)檢測器316處理數(shù)據(jù)集的次數(shù)。代 碼字延遲計數(shù)316對數(shù)據(jù)檢測器316支持的與相位相關(guān)的檢測處理或算法的數(shù)目取模，這 可以被用于確定相移電路380將施加的相移量。例如，在數(shù)據(jù)檢測器316提供兩種與相位 相關(guān)的檢測處理或算法，并且數(shù)據(jù)集僅僅通過LDPC解碼器336—次的情況下，相移電路380 可以在信號中提供IT延遲。作為另一實例，在數(shù)據(jù)集已經(jīng)通過LDPC解碼器336兩次的情 況下，相移電路380可以提供0T。相反，在數(shù)據(jù)檢測器316提供了四種與相位相關(guān)的檢測處 理或算法，并且數(shù)據(jù)集僅僅通過了 LDPC解碼器336 —次的情況下，相移電路380可以在信 號中提供IT延遲；在數(shù)據(jù)集已經(jīng)通過了 LDPC解碼器336兩次的情況下，相移電路380可以 提供2T ；在數(shù)據(jù)集已經(jīng)通過了 LDPC解碼器336三次的情況下，相移電路380可以提供3T ； 以及在數(shù)據(jù)集已經(jīng)通過了 LDPC解碼器336四次的情況下，相移電路380可以提供0T?；?此處提供的教導(dǎo)，本領(lǐng)域技術(shù)人員將認(rèn)識到各種相位移動，可以根據(jù)數(shù)據(jù)檢測器316支持 的與相位相關(guān)的處理或算法的數(shù)目，通過相移電路380來實現(xiàn)所述各種相位移動。在操作中，第一數(shù)據(jù)集通過數(shù)據(jù)輸入304被引入至數(shù)據(jù)檢測器308。數(shù)據(jù)檢測器 308執(zhí)行其通道檢測算法并且向多路復(fù)用器320提供硬輸出和軟輸出。該硬判定數(shù)據(jù)和軟 判定數(shù)據(jù)被寫入乒乓緩存器324中的一個緩存器。同時，檢測器輸出被寫入到緩存器中，交 織器328根據(jù)交織算法/映射通過將連續(xù)的數(shù)據(jù)寫入到非連續(xù)的存儲器/緩存器地址中，從而對數(shù)據(jù)集進(jìn)行交織。一旦交織器324完成其交織處理，交織數(shù)據(jù)通過相位對準(zhǔn)電路390 被傳送到LDPC解碼器336，所述相位對準(zhǔn)電路390沿著LDPC解碼器336期望的相位邊界對 準(zhǔn)所述數(shù)據(jù)。LDPC解碼器336對所述相位對準(zhǔn)的數(shù)據(jù)進(jìn)行解碼。當(dāng)數(shù)據(jù)收斂時，LDPC解碼 器336將其輸出作為硬判決輸出340寫入到輸出數(shù)據(jù)緩存器360，并且完成了對于該特定數(shù) 據(jù)集的處理?？蛇x地，當(dāng)數(shù)據(jù)沒有收斂時，LDPC解碼器336將其輸出(軟和硬)寫入到乒 乓緩存器348。寫入乒乓緩存器348的數(shù)據(jù)通過相移電路380被反饋到數(shù)據(jù)檢測器316。相移電 路380對所述數(shù)據(jù)施加相移，由此使得在可能時對數(shù)據(jù)檢測器316呈現(xiàn)數(shù)據(jù)的新的相位。 數(shù)據(jù)檢測器316選擇來自輸入數(shù)據(jù)緩存器312的對應(yīng)于乒乓緩存器348中的輸出的數(shù)據(jù) 集，將其與從相移電路380提供的數(shù)據(jù)集相位對準(zhǔn)，并且執(zhí)行從乒乓緩存器348反饋的、通 過LDPC解碼器336產(chǎn)生的軟輸出數(shù)據(jù)輔助的后續(xù)數(shù)據(jù)檢測。通過對于保存在輸入數(shù)據(jù)緩 存器312中的數(shù)據(jù)使用先前產(chǎn)生的軟數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)檢測器316通常以增加的精確度執(zhí)行后續(xù) 的通道檢測。該后續(xù)的通道檢測的輸出通過多路復(fù)用器320被傳送到交織器328。數(shù)據(jù)被 寫入乒乓緩存器332的一個緩存器，并且交織器328對所述數(shù)據(jù)進(jìn)行交織。交織數(shù)據(jù)隨后 通過相位對準(zhǔn)電路390被傳送到LDPC解碼器336，在那里進(jìn)行第二次解碼。類似于第一迭 代，判斷數(shù)據(jù)是否收斂或者乒乓緩存器348中的空間是否不足以處理所述數(shù)據(jù)。當(dāng)情況是 這樣時，LDPC解碼器336將其輸出作為硬判決輸出340寫入到輸出數(shù)據(jù)緩存器360，并且完 成了對于該特定數(shù)據(jù)集的處理。可選地，當(dāng)數(shù)據(jù)沒有收斂并且在乒乓緩存器348中存在足 夠接收額外的數(shù)據(jù)集的緩存器空間時，LDPC解碼器336將其輸出(軟和硬)寫入到乒乓緩 存器348，在那里其被傳送回到數(shù)據(jù)檢測器316進(jìn)行第三次傳遞，在可能的情況下，所述第 三次傳遞使用對于數(shù)據(jù)檢測器316呈現(xiàn)的、與先前呈現(xiàn)的相位不同的數(shù)據(jù)相位。通過在來 自第二檢測器和解碼器的數(shù)據(jù)集被寫入到乒乓緩存器中之后至少具有用于來自第一檢測 器和解碼器的數(shù)據(jù)集的保留空間，從而在乒乓緩存器348中定義了足夠的空間。應(yīng)當(dāng)注意，作為一個例子，可以在數(shù)據(jù)輸入304處施加第一數(shù)據(jù)集，這需要花費多 次迭代以收斂，同時施加在數(shù)據(jù)輸入304處的所有后續(xù)數(shù)據(jù)集在第一遍傳遞上收斂(S卩，在 一個迭代上)。在這種情況下，可以多次處理第一數(shù)據(jù)集(即，多次迭代)，所述次數(shù)受到輸 出數(shù)據(jù)緩存器360中可用的存儲器量的限制。一旦輸出數(shù)據(jù)緩存器360滿了或者一旦輸出 的有序集可用，與第一數(shù)據(jù)集相對應(yīng)的最近的硬判決輸出被提供作為硬判決輸出，并且去 交織器356對將第一輸出置于第一相位的輸出進(jìn)行再次排序。隨著完成了上述操作，清空 輸出數(shù)據(jù)緩存器360作為輸出370。在本發(fā)明的一些實施例中，去交織器356不執(zhí)行再排序 功能，并且輸出數(shù)據(jù)緩存器360具有非常有限的尺寸。在這種情況下，可以設(shè)想，可以對數(shù) 據(jù)集進(jìn)行大量次數(shù)的處理(即，大量迭代)，所述次數(shù)僅僅受到輸出370的接收方愿意等待 數(shù)據(jù)多久的限制。作為另一實例，所有被施加作為數(shù)據(jù)輸入304的數(shù)據(jù)在其第一遍傳遞就 收斂是可能的。在這種情況下，數(shù)據(jù)檢測器316、LDPC解碼器336和/或去交織器344可以 配置在節(jié)能模式中以節(jié)省功率。作為另一例子，有如下的情況，施加在數(shù)據(jù)輸入304處的所 有數(shù)據(jù)集沒有在第一遍傳遞(即，一個迭代)上收斂。在這種情況下，所有數(shù)據(jù)集將迭代兩 次。還應(yīng)注意，可以加入一個或多個額外的數(shù)據(jù)檢測器以及在乒乓緩存器324、332、248中 加入額外的空間，在接近地安置的多個數(shù)據(jù)集沒有收斂的情況下這將有利于更多的迭代。 在此情況下，可以保證以與檢測器數(shù)目相同的迭代次數(shù)對所有數(shù)據(jù)集進(jìn)行解碼。
根據(jù)此處提供的教導(dǎo)，將會理解，在數(shù)據(jù)檢測器316處引入數(shù)據(jù)之前包括數(shù)據(jù)的 相移的排隊檢測/解碼電路300允許將不同的檢測處理或算法施加在通過數(shù)據(jù)檢測器316 的每個連續(xù)傳遞上，其具有數(shù)據(jù)檢測器316輸出的相應(yīng)的變化。對于數(shù)據(jù)輸入表現(xiàn)出某些 類型的錯誤的情況，上述系統(tǒng)干擾增加了數(shù)據(jù)收斂的可能性。轉(zhuǎn)向圖4，流程圖400示出了根據(jù)本發(fā)明一個或多個實施例的多相位數(shù)據(jù)檢測處 理的方法。跟隨流程圖400，接收模擬輸入(塊402)。可以從任意的多個不同的數(shù)據(jù)源接 收模擬輸入。例如，當(dāng)在硬盤驅(qū)動器中實現(xiàn)所述方法時，可以從存儲介質(zhì)獲得模擬輸入。可 選地，當(dāng)在數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)中實現(xiàn)所述方法時，可以從接收機(jī)獲得模擬輸入?；诖颂幪峁┑?教導(dǎo)，本領(lǐng)域技術(shù)人員將認(rèn)識到用于所述模擬輸入的各種源。所述模擬輸入可以經(jīng)受各種 模擬處理(塊404)。如在現(xiàn)有技術(shù)中已知的，上述處理可以包括但不限于放大、均衡化和/ 或濾波。基于此處提供的教導(dǎo)，本領(lǐng)域技術(shù)人員將認(rèn)識到，根據(jù)本發(fā)明的不同實施例可以應(yīng) 用于模擬信號的各種模擬處理。使用模數(shù)轉(zhuǎn)換器將處理后的模擬輸入轉(zhuǎn)換為一系列數(shù)字樣本(塊406)。可以使 用在現(xiàn)有技術(shù)中用于將模擬信號轉(zhuǎn)換為一系列相應(yīng)的數(shù)字樣本的任何已知的方法實現(xiàn)該 處理。在有些情況下，對得到的數(shù)字樣本進(jìn)行濾波(塊408)。如在現(xiàn)有技術(shù)中已知的，例 如可以使用數(shù)字有限沖激響應(yīng)濾波器完成上述濾波。濾波后的數(shù)據(jù)被呈現(xiàn)給數(shù)據(jù)檢測電 路，在所述數(shù)據(jù)檢測電路中，將數(shù)據(jù)檢測算法應(yīng)用于所述數(shù)據(jù)(塊410)。數(shù)據(jù)檢測電路可以 是在現(xiàn)有技術(shù)中已知的任何數(shù)據(jù)檢測電路，其提供兩個或更多與相位相關(guān)的檢測處理或算 法。在有些情況下，所述數(shù)據(jù)檢測電路可以是軟輸出維特比算法檢測器(SOVA)或者最大后 驗(MAP)檢測器。例如，在本發(fā)明的一些實施例中，數(shù)據(jù)檢測器電路一次操作四個樣本，其 中第一檢測處理或算法應(yīng)用于第一和第三樣本，以及第二檢測處理或算法應(yīng)用于第二和第 四樣本。因此，在這種情況下，數(shù)據(jù)檢測器電路的輸出取決于特定輸入是奇數(shù)相位或偶數(shù)相 位而變化，且相位變化產(chǎn)生了不同的輸出。在本發(fā)明的其他實施例中，數(shù)據(jù)檢測器電路一次 操作四個樣本，其中第一檢測處理或算法應(yīng)用于第一樣本，第二檢測處理或算法應(yīng)用于第 二樣本，第三檢測處理或算法應(yīng)用于第三樣本，以及第四檢測處理應(yīng)用于第四樣本。因此， 在這種情況下，數(shù)據(jù)檢測器電路的輸出取決于特定輸入是第一、第二、第三或者第四相位而 變化，相位的變化產(chǎn)生了不同的輸出。數(shù)據(jù)檢測處理的輸出隨后被相位對準(zhǔn)到下一個最近的解碼器邊界(塊412)。例 如，當(dāng)解碼器邊界為4T邊界以及數(shù)據(jù)檢測處理的輸出的相位對準(zhǔn)處于4T邊界上時，對數(shù)據(jù) 檢測處理的輸出應(yīng)用OT的延遲。當(dāng)數(shù)據(jù)檢測處理的輸出的相位對準(zhǔn)處于IT邊界上時，將 3T延遲應(yīng)用于所述數(shù)據(jù)檢測處理的輸出；當(dāng)數(shù)據(jù)檢測處理的輸出的相位對準(zhǔn)處于2T邊界 上時，將2T延遲應(yīng)用于所述數(shù)據(jù)檢測處理的輸出；以及當(dāng)數(shù)據(jù)檢測處理的輸出的相位對準(zhǔn) 處于3T邊界上時，將IT延遲應(yīng)用于所述數(shù)據(jù)檢測處理的輸出。應(yīng)當(dāng)注意，可以與本發(fā)明的 不同實施例相關(guān)地使用其他邊界。隨后，將所述數(shù)據(jù)檢測處理的相位對準(zhǔn)的輸出呈現(xiàn)給解 碼器電路，在所述解碼器電路中將解碼算法應(yīng)用于所述數(shù)據(jù)(塊414)?？梢允褂迷诂F(xiàn)有技 術(shù)中已知的任何解碼處理。例如，如在現(xiàn)有技術(shù)中已知的，所述解碼處理可以是低密度奇偶 校驗解碼處理。隨后確定是否將執(zhí)行另一全局迭代(塊420)。在執(zhí)行了固定次數(shù)的全局迭代的情 況下，其包括確定是否已經(jīng)處理了全部期望的全局迭代。可選地，在可以進(jìn)行可變數(shù)目的全局迭代的情況下，其包括確定是否確定先前的處理是否收斂或者是否已經(jīng)執(zhí)行了迭代的最 大數(shù)量。在不再要求全局迭代的情況下(塊420)，報告處理的結(jié)果(塊422)并且在塊402 重新開始所述處理?？蛇x地，在需要額外的全局迭代的情況下(塊420)，確定在先前的數(shù)據(jù)檢測處理 (多個)(塊410)中呈現(xiàn)的數(shù)據(jù)相位(塊424)。例如，在所述數(shù)據(jù)檢測處理提供兩種與相位 相關(guān)的處理或算法A和B的情況下，確定是否使用A或B處理對第一樣本進(jìn)行了處理。作 為另一實例，在所述數(shù)據(jù)檢測處理提供了兩種與相位相關(guān)的處理或算法A、B、C和D的情況 下，確定是否使用了 A、B、C或D處理對第一樣本進(jìn)行了處理?；趯ο惹皯?yīng)用的數(shù)據(jù)檢測 處理(多個)的確定，選擇下一個相位(塊426)。如上使用兩個相位的例子，在先前處理期 間處理的數(shù)據(jù)的第一樣本被施加A算法的情況下，隨后將B算法施加于后續(xù)處理的第一樣 本。對解碼的數(shù)據(jù)進(jìn)行相移，由此使得其與數(shù)據(jù)檢測器的選擇相位對準(zhǔn)(塊426)。在實現(xiàn) 該相移之后，重復(fù)塊410-420的處理。繼續(xù)該處理直至不再期望額外的全局迭代(塊420)。轉(zhuǎn)向圖5，示出了根據(jù)本發(fā)明各種實施例的包括多相位數(shù)據(jù)檢測電路的存儲系統(tǒng) 500。例如，存儲系統(tǒng)500可以是硬盤驅(qū)動器。存儲系統(tǒng)500包括具有集成的多相位數(shù)據(jù)檢 測電路的讀出通道510。所述集成的多相位數(shù)據(jù)檢測電路可以是任何能夠改變饋送到連續(xù) 的數(shù)據(jù)檢測迭代的數(shù)據(jù)相位的采樣更新電路。因此，所述集成的多相位數(shù)據(jù)檢測電路可以 是，例如但不限于，與上述圖1或者圖3相關(guān)地描述的任何多相位數(shù)據(jù)檢測電路。此外，存 儲系統(tǒng)500包括接口控制器520、前置放大器570、硬盤控制器566、電機(jī)控制器568、主軸電 機(jī)572、磁盤578和讀/寫頭組件576。接口控制器520控制去往/來自磁盤578的數(shù)據(jù)的 尋址和時序。磁盤578上的數(shù)據(jù)構(gòu)成了磁信號組，當(dāng)讀/寫頭組件576被正確地定位在磁 盤578上時，可以通過該組件檢測出所述磁信號組。在典型的讀取操作中，電機(jī)控制器568 準(zhǔn)確地將讀/寫頭組件576定位在磁盤578上的期望的數(shù)據(jù)磁道之上。在硬盤控制器566 的指引下通過移動讀/寫頭組件至磁盤578上正確的數(shù)據(jù)磁道，電機(jī)控制器568與磁盤578 相關(guān)地定位讀/寫頭組件576并驅(qū)動主軸電機(jī)572。主軸電機(jī)572以確定的旋轉(zhuǎn)速度(RPM) 旋轉(zhuǎn)磁盤578。一旦讀/寫頭組件576被定位鄰接正確的數(shù)據(jù)磁道，隨著主軸電機(jī)572旋轉(zhuǎn)磁盤 578，表示磁盤578上的數(shù)據(jù)的磁信號被讀/寫頭組件576讀出。所讀出的磁信號被提供作 為連續(xù)的、微小的模擬信號，其表示磁盤578上的磁數(shù)據(jù)。從讀/寫頭組件576通過前置放 大器570將該微小的模擬信號傳送到讀出通道模塊564。前置放大器570可操作用于放大 從磁盤578獲取的微小的模擬信號。此外，前置放大器570可操作用于放大來自讀出通道 模塊510的注定要被寫入磁盤578的數(shù)據(jù)。隨后，讀出通道模塊510對收到的模擬信號進(jìn) 行解碼和數(shù)字化，從而重新創(chuàng)建最初寫入磁盤578的信息。該數(shù)據(jù)被提供作為至接收電路 的讀出數(shù)據(jù)503。寫入操作大體上與先前的讀取操作相反，而寫入數(shù)據(jù)501被提供至讀出通 道模塊510。該數(shù)據(jù)隨后被編碼并被寫入磁盤578。轉(zhuǎn)向圖6，示出了根據(jù)本發(fā)明的一個或多個實施例的包括接收機(jī)620的通信系統(tǒng) 600，所述接收機(jī)620具有多相位數(shù)據(jù)檢測電路。通信系統(tǒng)600包括發(fā)射機(jī)，如在現(xiàn)有技術(shù) 中已知的，所述發(fā)射機(jī)可操作用于通過傳輸介質(zhì)630發(fā)射編碼信息。接收機(jī)620從傳輸介 質(zhì)630接收該編碼數(shù)據(jù)。接收機(jī)620集成有多相位數(shù)據(jù)檢測電路。所述集成的多相位數(shù)據(jù) 檢測電路可以是任何能夠改變饋送到連續(xù)的數(shù)據(jù)檢測迭代的數(shù)據(jù)相位的采樣更新電路。因此，所述集成的多相位數(shù)據(jù)檢測電路可以是，例如但不限于，與上述圖1或者圖3相關(guān)地描述的任何多相位數(shù)據(jù)檢測電路。 總之，本發(fā)明提供了用于執(zhí)行數(shù)據(jù)處理的新穎的系統(tǒng)、設(shè)備、方法和裝置。盡管已 經(jīng)如上給出了本發(fā)明的一個或多個實施例的具體描述，然而在不改變本發(fā)明的精神的情況 下，本領(lǐng)域技術(shù)人員將會清楚各種替換物、改型和等價物。因此，上述說明不應(yīng)被視為限制 本發(fā)明的保護(hù)范圍，本發(fā)明的保護(hù)范圍由所附的權(quán)利要求書限定。
權(quán)利要求
一種數(shù)據(jù)處理電路，所述電路包括第一數(shù)據(jù)檢測電路，其中所述第一數(shù)據(jù)檢測電路對數(shù)據(jù)集應(yīng)用與相位相關(guān)的數(shù)據(jù)檢測算法，由此使得所述第一數(shù)據(jù)檢測電路的第一輸出取決于所述數(shù)據(jù)集對于所述第一數(shù)據(jù)檢測電路呈現(xiàn)的相位而變化，以及其中所述數(shù)據(jù)集的第一相位被呈現(xiàn)給所述第一數(shù)據(jù)檢測電路；相移電路，其中所述相移電路對第一輸出的衍生進(jìn)行相移，由此使得數(shù)據(jù)集的第二相位被提供作為相移輸出；以及第二數(shù)據(jù)檢測電路，其中所述第二數(shù)據(jù)檢測電路對所述相移輸出應(yīng)用與相位相關(guān)的數(shù)據(jù)檢測算法，由此使得所述第二數(shù)據(jù)檢測電路的第二輸出至少部分地由于所述數(shù)據(jù)集對于所述第二數(shù)據(jù)檢測電路呈現(xiàn)的不同相位而從所述第一輸出變化。
2.如權(quán)利要求1的數(shù)據(jù)處理電路，其中所述第一數(shù)據(jù)檢測電路與第二數(shù)據(jù)檢測電路不同。
3.如權(quán)利要求1的數(shù)據(jù)處理電路，其中所述第一數(shù)據(jù)檢測電路和所述第二數(shù)據(jù)檢測電 路被實現(xiàn)為一個數(shù)據(jù)檢測電路。
4.如權(quán)利要求1的數(shù)據(jù)處理電路，其中所述數(shù)據(jù)處理電路進(jìn)一步包括解碼器電路，其中所述解碼器電路對第一輸出施加解碼算法以產(chǎn)生解碼輸出，以及其 中第一輸出的衍生是所述解碼輸出。
5.如權(quán)利要求1的數(shù)據(jù)處理電路，其中所述第一數(shù)據(jù)檢測電路和所述第二數(shù)據(jù)檢測電 路提供兩種與相位相關(guān)的檢測處理。
6.如權(quán)利要求1的數(shù)據(jù)處理電路，其中所述第一數(shù)據(jù)檢測電路和所述第二數(shù)據(jù)檢測電 路提供四種與相位相關(guān)的檢測處理。
7.如權(quán)利要求1的數(shù)據(jù)處理電路，其中所述數(shù)據(jù)處理電路被實現(xiàn)為硬盤驅(qū)動器的一部分。
8.如權(quán)利要求1的數(shù)據(jù)處理電路，其中所述數(shù)據(jù)處理電路被實現(xiàn)為無線接收裝置的一 部分。
9.如權(quán)利要求1的數(shù)據(jù)處理電路，其中所述相移電路是延遲電路。
10.一種用于數(shù)據(jù)處理的方法，所述方法包括 接收數(shù)據(jù)集；對數(shù)據(jù)集執(zhí)行第一數(shù)據(jù)檢測，其中第一數(shù)據(jù)檢測是產(chǎn)生第一輸出的與相位相關(guān)的數(shù)據(jù) 檢測，所述第一輸出取決于施加了第一數(shù)據(jù)檢測的數(shù)據(jù)集的相位而變化，以及其中第一數(shù) 據(jù)檢測應(yīng)用于數(shù)據(jù)集的第一相位；對第一輸出執(zhí)行數(shù)據(jù)解碼以產(chǎn)生解碼輸出；對解碼輸出進(jìn)行相移，由此使得數(shù)據(jù)集的第二相位被提供作為相移輸出；以及 對所述相移輸出執(zhí)行第二數(shù)據(jù)檢測，其中第二數(shù)據(jù)檢測是產(chǎn)生第二輸出的與相位相關(guān) 的數(shù)據(jù)檢測，所述第二輸出取決于呈現(xiàn)的輸入的相位而變化。
11.如權(quán)利要求10的方法，其中所述方法進(jìn)一步包括相位對準(zhǔn)第一輸出，由此使得在向所述解碼器電路呈現(xiàn)第一輸出之前將第一輸出對準(zhǔn) 到解碼器邊界。
12.如權(quán)利要求11的方法，其中相位對準(zhǔn)第一輸出包括向第一輸出施加可變延遲。
13.如權(quán)利要求10的方法，其中使用相同的數(shù)據(jù)檢測電路進(jìn)行第一數(shù)據(jù)檢測和第二數(shù) 據(jù)檢測，以及其中所述方法進(jìn)一步包括在執(zhí)行第一數(shù)據(jù)檢測之前相移所述數(shù)據(jù)集以與特定的相位對準(zhǔn)。
14.如權(quán)利要求10的方法，其中相移所述解碼輸出包括向所述解碼輸出施加可變延遲。
15.一種硬盤驅(qū)動器系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括 存儲介質(zhì)；與存儲介質(zhì)相關(guān)地配置的讀/寫頭組件；模數(shù)轉(zhuǎn)換器，其中所述模數(shù)轉(zhuǎn)換器通過所述讀/寫頭組件接收從所述存儲介質(zhì)獲得的 模擬輸入，并且提供與所述模擬輸入相對應(yīng)的數(shù)據(jù)集；第一數(shù)據(jù)檢測電路，其中第一數(shù)據(jù)檢測電路對所述數(shù)據(jù)集應(yīng)用與相位相關(guān)的數(shù)據(jù)檢測 算法，由此使得第一數(shù)據(jù)檢測電路的第一輸出取決于所述數(shù)據(jù)集對于第一數(shù)據(jù)檢測電路呈 現(xiàn)的相位而變化，以及其中數(shù)據(jù)集的第一相位被呈現(xiàn)給第一數(shù)據(jù)檢測電路；解碼器電路，其中所述解碼器電路對第一輸出應(yīng)用解碼算法以產(chǎn)生解碼輸出； 相移電路，其中所述相移電路對解碼輸出進(jìn)行相移，由此使得數(shù)據(jù)集的第二相位被提 供作為相移輸出；以及第二數(shù)據(jù)檢測電路，其中第二數(shù)據(jù)檢測電路對所述相移輸出應(yīng)用與相位相關(guān)的數(shù)據(jù)檢 測算法，由此使得第二數(shù)據(jù)檢測電路的第二輸出至少部分地由于所述數(shù)據(jù)集對于第二數(shù)據(jù) 檢測電路呈現(xiàn)的不同相位而從所述第一輸出變化。
全文摘要
本發(fā)明的各種實施例提供了用于數(shù)據(jù)處理的系統(tǒng)和方法。例如，公開了數(shù)據(jù)處理電路，其包括第一數(shù)據(jù)檢測電路，所述第一數(shù)據(jù)檢測電路向數(shù)據(jù)集應(yīng)用與相位相關(guān)的數(shù)據(jù)檢測算法，由此使得第一數(shù)據(jù)檢測電路的第一輸出取決于所述數(shù)據(jù)集對于第一數(shù)據(jù)檢測電路呈現(xiàn)的相位而變化。數(shù)據(jù)集的第一相位被呈現(xiàn)給第一數(shù)據(jù)檢測電路。所述電路進(jìn)一步解碼器電路，其向第一輸出應(yīng)用解碼算法以產(chǎn)生解碼輸出，和相移電路，其對解碼輸出進(jìn)行相移由此使得數(shù)據(jù)集的第二相位被提供作為相移輸出。第二檢測電路對所述相移輸出應(yīng)用與相位相關(guān)的數(shù)據(jù)檢測算法，由此使得第二數(shù)據(jù)檢測電路的第二輸出至少部分地由于所述數(shù)據(jù)集對于第二數(shù)據(jù)檢測電路呈現(xiàn)的不同相位而從第一輸出變化。
文檔編號G11B31/00GK101989891SQ20091020518
公開日2011年3月23日 申請日期2009年10月16日 優(yōu)先權(quán)日2009年7月30日
發(fā)明者K·菲茲帕特里克, 李宗旺, 楊少華, 譚衛(wèi)軍 申請人:Lsi公司