專利名稱：再現(xiàn)裝置和再現(xiàn)方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及用于再現(xiàn)被記錄在光盤上的數(shù)據(jù)的再現(xiàn)裝置和方法，并且更具體地涉
及用于高效地從光盤上的缺陷位置讀取數(shù)據(jù)的再現(xiàn)裝置和方法。
背景技術(shù)：
再現(xiàn)被記錄在光盤上的數(shù)據(jù)的再現(xiàn)裝置以RUB (讀取單元塊)為單位讀取數(shù)據(jù)，所 述RUB是光盤上的最小記錄單位。 在這種類型的再現(xiàn)裝置中，從光盤上的特定RUB讀出的數(shù)據(jù)可能會由于對用于所
述數(shù)據(jù)的糾錯碼(ECC)解碼失敗而被丟失。ECC解碼可能會因為光盤表面上的缺陷而失敗，
所述缺陷例如劃痕、灰塵、指紋污漬和光盤被成型時所產(chǎn)生的微小氣泡。 在相關(guān)技術(shù)的再現(xiàn)裝置中，為了防止由于這些缺陷而導(dǎo)致的數(shù)據(jù)丟失，用于再現(xiàn)
處理的參數(shù)被設(shè)置，并且通過將這些參數(shù)應(yīng)用于從光盤中讀出的數(shù)據(jù)來嘗試ECC解碼。通
常，這些參數(shù)可以根據(jù)缺陷的類型而被改變以提高數(shù)據(jù)讀取性能。 例如，日本未審查專利申請公開No. 2006-286112描述了通過確定缺陷的有/無以 及基于缺陷的細微度和大小確定缺陷的種類來設(shè)置最佳參數(shù)的再現(xiàn)技術(shù)。
除了日本未審查專利申請公開No. 2006-286112中所描述的再現(xiàn)技術(shù)以外，另一 種再現(xiàn)技術(shù)也是在實際使用的，其中用于多種缺陷的多個參數(shù)被預(yù)先準備好，并且通過順 序地改變參數(shù)來嘗試ECC解碼。在這種再現(xiàn)技術(shù)中，預(yù)先被準備好的參數(shù)預(yù)先以特定的順 序被排列，并且通過按此順序改變參數(shù)來重試ECC解碼， 一直到ECC解碼被成功完成為止。
現(xiàn)在將更具體地描述相關(guān)技術(shù)中的這種再現(xiàn)裝置中的數(shù)據(jù)再現(xiàn)技術(shù)。在這種再現(xiàn) 裝置中，數(shù)據(jù)從RUB中被順序地讀取，所述RUB例如以類似年輪的結(jié)構(gòu)被布置在記錄介質(zhì) 上。在針對從特定RUB讀出的數(shù)據(jù)的第一再現(xiàn)處理(下面視情況被稱為"正常再現(xiàn)處理") 中，參數(shù)被設(shè)置為其初始值并且針對所述的數(shù)據(jù)的ECC解碼被嘗試。如果在正常再現(xiàn)處理 中ECC解碼未被成功完成，則再現(xiàn)裝置改變參數(shù)設(shè)置并重試再現(xiàn)處理(下面視情況被稱為 "重試再現(xiàn)處理")。 重試再現(xiàn)處理中所使用的參數(shù)值被列在參數(shù)表中。例如，多個參數(shù)值按照應(yīng)用于 ECC解碼的順序被列出。更具體而言，例如，針對光盤上的劃痕有效的參數(shù)值第一個被列在 參數(shù)表中，并且針對灰塵有效的參數(shù)值第二個被列出。針對光盤上的氣泡有效的參數(shù)值第 三個被列出并且針對指紋污漬有效的參數(shù)值第三個被列出。 如果在正常再現(xiàn)處理中ECC解碼失敗，則再現(xiàn)裝置通過查找參數(shù)表來順序地改變參 數(shù)值并重復(fù)重試再現(xiàn)處理，直到ECC解碼被成功完成。 一旦ECC解碼完成，數(shù)據(jù)就從下一個 RUB中被讀出并且針對該數(shù)據(jù)的ECC解碼在正常再現(xiàn)處理中被嘗試。由于缺陷通常出現(xiàn)在光 盤上非常有限的區(qū)域內(nèi)，所以在針對特定RUB的ECC解碼完成之后，參數(shù)被重置為其初始值。
如上所述，在例如被安裝在個人計算機(PC)中的相關(guān)技術(shù)中的再現(xiàn)裝置中，如果 在正常再現(xiàn)處理中ECC解碼未被成功完成，則重試再現(xiàn)處理被重復(fù)進行所允許的次數(shù)以完 成ECC解碼。
3
假設(shè)缺陷存在于特定的RUB中并且針對從該RUB中讀出的數(shù)據(jù)的ECC解碼被利用 參數(shù)表中的第四個參數(shù)值而成功完成，就是說，ECC解碼在正常再現(xiàn)處理中未被成功完成， 而在第四次重試再現(xiàn)處理中被成功完成。 在針對從特定RUB中讀出的數(shù)據(jù)的ECC解碼利用第四個參數(shù)值被完成之后，再現(xiàn) 裝置將參數(shù)重置為其初始值，從下一個RUB中讀出數(shù)據(jù)，并嘗試針對該數(shù)據(jù)的ECC解碼。按 照這種方式，針對從每個RUB中讀出的數(shù)據(jù)獨立地嘗試ECC解碼。 假設(shè)在再現(xiàn)裝置的光學(xué)頭已經(jīng)利用旋轉(zhuǎn)讀取了光盤上的數(shù)據(jù)之后，針對從與在重 試再現(xiàn)處理先前被執(zhí)行的地方的RUB在徑向上相鄰的RUB中讀取的數(shù)據(jù)的ECC解碼被嘗 試。如果當(dāng)前的RUB也是有缺陷的并且再現(xiàn)處理被重試，則當(dāng)前RUB中的缺陷類型很可能 與重試再現(xiàn)處理先前被執(zhí)行的地方的RUB中的缺陷類型一樣，因為缺陷通常在多個徑向相 鄰的RUB上延伸。在這種情況下，如果第四個參數(shù)值被使用，則針對當(dāng)前RUB的ECC解碼將 很可能被成功完成。
發(fā)明內(nèi)容
在相關(guān)技術(shù)的再現(xiàn)裝置中，在針對從有缺陷的RUB中讀出的數(shù)據(jù)的ECC解碼完成 之后，參數(shù)被重置為其初始值，如上所述。當(dāng)針對從下一個有缺陷的RUB中讀出的數(shù)據(jù)的 ECC解碼被嘗試時，參數(shù)值從其初始值開始被順序地改變，即使缺陷的類型與前一個缺陷的 類型一樣也是如此。 就是說，在該示例中，即使缺陷的類型是可預(yù)測的，正常再現(xiàn)處理還是被最先執(zhí) 行，然后，重試再現(xiàn)處理被重復(fù)四次一直到ECC解碼完成為止。利用不同的參數(shù)值來完成 ECC解碼要花很長的時間，這就可能相應(yīng)地導(dǎo)致再現(xiàn)比特率被降低。在使用實時操作的廣播 站或其它系統(tǒng)中，用于再現(xiàn)的時間的增加將引起很大的問題。 在相關(guān)技術(shù)的再現(xiàn)裝置中，如果缺陷存在，則通過從初始值開始改變參數(shù)值來重 復(fù)地嘗試ECC解碼，如上所述。這就增加了重試再現(xiàn)處理的重復(fù)次數(shù)并因而增加了完成ECC 解碼的時間。 另外，由于重試再現(xiàn)處理的次數(shù)的增加而導(dǎo)致的用于ECC解碼的時間的增加，會 導(dǎo)致用于ECC解碼的功率消耗的增加。增加的功率消耗會引起很大的問題，尤其是對于諸 如筆記本PC之類的電池驅(qū)動的移動電子設(shè)備。 因此，希望提供一種再現(xiàn)裝置和方法，用于高效地完成針對被記錄在記錄介質(zhì)上
的缺陷位置中的數(shù)據(jù)的ECC解碼，并且從而減少用于ECC解碼的時間。 根據(jù)本發(fā)明的實施例，提供了一種再現(xiàn)裝置，包括再現(xiàn)單元，以記錄單位讀取被記
錄在光盤上的數(shù)據(jù)的再現(xiàn)信號；再現(xiàn)信號處理單元，利用被設(shè)置用于ECC解碼的預(yù)定參數(shù)
值執(zhí)行對再現(xiàn)信號的ECC解碼；存儲單元，存儲與當(dāng)前設(shè)置的參數(shù)值相關(guān)聯(lián)的參數(shù)序號和
列出了多個參數(shù)值和指示參數(shù)值的應(yīng)用順序的相關(guān)聯(lián)的參數(shù)序號的參數(shù)表；以及控制單
元，控制再現(xiàn)單元和再現(xiàn)信號處理單元?？刂茊卧贓CC解碼未被成功完成時，按照參數(shù)表
中所列出的參數(shù)序號的順序順序地改變參數(shù)值，并控制再現(xiàn)信號處理單元，以便執(zhí)行作為
重試再現(xiàn)處理的ECC解碼，直到ECC解碼被成功完成為止，并且控制單元在ECC解碼被成功
完成時，將與當(dāng)前設(shè)置的參數(shù)值相關(guān)聯(lián)的參數(shù)序號存儲在存儲單元中，并在下一次重試再
現(xiàn)處理中把與所存儲的參數(shù)序號相關(guān)聯(lián)的參數(shù)值設(shè)置在再現(xiàn)信號處理單元中。
根據(jù)本發(fā)明的另一實施例，提供了一種再現(xiàn)方法，包括以下步驟以記錄單位讀取 被記錄在光盤上的數(shù)據(jù)的再現(xiàn)信號；通過利用被設(shè)置用于ECC解碼的預(yù)定參數(shù)值執(zhí)行對從 光盤中讀出的再現(xiàn)信號的ECC解碼來處理再現(xiàn)信號；在存儲單元中存儲與當(dāng)前設(shè)置的參數(shù) 值相關(guān)聯(lián)的參數(shù)序號和列出了多個參數(shù)值和指示參數(shù)值的應(yīng)用順序的相關(guān)聯(lián)的參數(shù)序號 的參數(shù)表；以及控制執(zhí)行再現(xiàn)的步驟和處理再現(xiàn)信號的步驟?？刂撇襟E在ECC解碼未被成 功完成時，按照參數(shù)表中所列出的參數(shù)序號的順序順序地改變參數(shù)設(shè)置，并控制處理再現(xiàn) 信號的步驟，以便執(zhí)行作為重試再現(xiàn)處理的ECC解碼，直到ECC解碼被成功完成為止，并且 控制步驟在ECC解碼被成功完成時，將與當(dāng)前設(shè)置的參數(shù)值相關(guān)聯(lián)的參數(shù)序號存儲在存儲 單元中，并將與所存儲的參數(shù)序號相關(guān)聯(lián)的參數(shù)值設(shè)置在下一次重試再現(xiàn)處理中。
如上所述，根據(jù)本發(fā)明的實施例，再現(xiàn)信號以記錄單位從光盤中被讀出；參數(shù)被設(shè) 置為針對從光盤中讀出的再現(xiàn)信號的ECC解碼所預(yù)定的值；針對再現(xiàn)信號的ECC解碼被嘗 試；與當(dāng)前設(shè)置的參數(shù)值相關(guān)聯(lián)的參數(shù)序號以及列出了多個參數(shù)值和指示這些參數(shù)值的應(yīng) 用順序的參數(shù)序號的參數(shù)表被存儲在存儲單元中；如果ECE解碼未被成功完成，則參數(shù)設(shè) 置按照參數(shù)表中所列出的參數(shù)序號的順序被改變，并且處理再現(xiàn)信號的步驟被控制以在重 試再現(xiàn)處理中嘗試ECC解碼， 一直到ECC解碼被成功完成為止；并且如果ECC解碼被成功完 成，則與當(dāng)前設(shè)置的參數(shù)值相關(guān)聯(lián)的參數(shù)序號被存儲在存儲單元中，并且與所存儲的參數(shù) 序號相關(guān)聯(lián)的參數(shù)值被設(shè)置在下一次重試再現(xiàn)處理中以使得ECC解碼在重試再現(xiàn)處理中 被高效地完成。 根據(jù)本發(fā)明的實施例，與在成功完成ECC解碼的重試再現(xiàn)處理中設(shè)置的參數(shù)值相 關(guān)聯(lián)的參數(shù)序號被存儲用于下一次重試再現(xiàn)處理中的ECC解碼。在下一次重試再現(xiàn)處理 中，通過從與所存儲的參數(shù)序號相關(guān)聯(lián)的參數(shù)值開始順序地改變參數(shù)值，來嘗試ECC解碼。 因為被認定為針對當(dāng)前缺陷最有效的參數(shù)值被最先設(shè)置在重試再現(xiàn)處理中，所以在重試再 現(xiàn)處理中，ECC解碼被在短時間內(nèi)高效地完成。
圖1是示出了可應(yīng)用于本發(fā)明實施例的示例性再現(xiàn)裝置的配置的框圖； 圖2是示出了示例性再現(xiàn)信號處理單元的配置的框圖； 圖3是示出了示例性旁路濾波器的配置的示意圖； 圖4是示出了示例性參數(shù)表的示意圖； 圖5是圖示出可應(yīng)用于本發(fā)明實施例的再現(xiàn)方法的示意圖； 圖6是圖示出重試次數(shù)與讀取完成百分比之間的關(guān)系的示意圖； 圖7是示出了示例性參數(shù)表的示意圖； 圖8是圖示出用于第一次從光盤中讀取數(shù)據(jù)的再現(xiàn)處理的流程圖； 圖9是圖示出用于從另一 RUB讀取數(shù)據(jù)的再現(xiàn)處理的流程圖； 圖10是可應(yīng)用于本發(fā)明實施例的修改版本的再現(xiàn)裝置的示例性操作流程； 圖11是圖示出可應(yīng)用于本發(fā)明實施例的修改版本的再現(xiàn)處理的流程圖。
具體實施例方式
現(xiàn)在將按照這樣的順序來描述
具體實施例方式
5例 2.實施例的修改版本 〈1.實施例> 將參考附圖描述本發(fā)明的實施例。根據(jù)實施例，當(dāng)缺陷出現(xiàn)在諸如光盤之類的記錄介質(zhì)的表面上時，通過順序地改變參數(shù)來重試再現(xiàn)處理， 一直到ECC解碼被成功完成為止。在其中完成ECC解碼的重試再現(xiàn)處理中設(shè)置的參數(shù)被存儲。當(dāng)數(shù)據(jù)從下一個缺陷位置被讀出時，通過從所存儲的參數(shù)開始順序地改變參數(shù)來嘗試ECC解碼。[OO39][再現(xiàn)裝置的配置] 圖1示出了可應(yīng)用于本發(fā)明實施例的示例性再現(xiàn)裝置1的配置。在圖1中所示的示例中，只有那些與本發(fā)明實施例緊密相關(guān)的元件被描述，而其它元件被省略，不在附圖和描述中出現(xiàn)。再現(xiàn)裝置1包括主軸電機11、光學(xué)拾取器12、移動電機13、射頻(RF)單元14、再現(xiàn)信號處理單元15、中央處理單元(CPU)16、雙軸控制單元17、伺服控制單元18、放大器19和存儲單元20. 主軸電機11的驅(qū)動軸被集成有用于安裝光盤10的光盤座。主軸電機11通過響應(yīng)于從下面要描述的伺服控制單元18提供的驅(qū)動信號旋轉(zhuǎn)驅(qū)動軸來旋轉(zhuǎn)被安裝在光盤座上的光盤10。例如，主軸電機11按照恒定的線速率(CLV)或按照恒定的角速率(CAV)來旋轉(zhuǎn)驅(qū)動軸。伺服控制單元18生成用于驅(qū)動主軸電機11的驅(qū)動信號，并通過放大器19將它們提供給主軸電機ll。 光學(xué)拾取器12將激光束引導(dǎo)至光盤10上，并接收從光盤10反射回來的激光。雖然未被示出，但是光學(xué)拾取器12還包括作為激光源的激光二極管、驅(qū)動激光二極管的激光二極管驅(qū)動器、將從激光二極管發(fā)出的激光聚焦為被引導(dǎo)至光盤10上的記錄層上的激光束的光學(xué)系統(tǒng)、以及檢測從光盤10反射的激光的光檢測器。光學(xué)系統(tǒng)是在光盤表面方向和光盤徑向兩個方向上被雙軸驅(qū)動的，以響應(yīng)于從雙軸控制單元17提供的驅(qū)動信號控制聚焦和跟蹤。 光學(xué)系統(tǒng)通過光柵或類似元件將一個激光束分成一個零階光束和兩個一階光束，并將這些光束引導(dǎo)至光盤10上。光檢測器例如包括分別具有兩個等分光接收表面的兩個平分檢測器，以及具有四個象限光接收表面的象限檢測器。光檢測器在兩個平分檢測器上分別接收兩個被反射的一階光束，并且在象限檢測器上接收一個被反射的零階光束，并輸出在光接收表面上檢測到的信號。 RF單元14接收在光檢測器的每個光接收表面上被檢測到并從光學(xué)拾取器12被輸出的信號。RF單元14放大所接收的信號并通過執(zhí)行信號之間的預(yù)定計算來生成聚焦誤差信號和跟蹤誤差信號。RF單元14還根據(jù)從光盤10反射的激光生成再現(xiàn)RF信號。RF單元14所生成的再現(xiàn)RF信號、聚焦誤差信號和跟蹤誤差信號被提供給再現(xiàn)信號處理單元15。
此外，RF單元14基于從光學(xué)拾取器12提供的信號生成光量(lightquantity)控制信號，并將光量控制信號提供給光學(xué)拾取器12中的激光二極管驅(qū)動器以控制被引導(dǎo)至光盤10上的激光束的光量。 在再現(xiàn)期間，再現(xiàn)信號處理單元15在CPU 16的控制下對從RF單元14提供的再現(xiàn)RF信號執(zhí)行預(yù)定的信號處理。在預(yù)定的信號處理之后，再現(xiàn)信號處理單元15對再現(xiàn)RF信號執(zhí)行A/D轉(zhuǎn)換，并對糾錯碼和再現(xiàn)數(shù)據(jù)的被記錄碼進行解碼。在被解碼之后，再現(xiàn)數(shù)據(jù)
6通過接口 (未示出)被輸出到外部。再現(xiàn)信號處理單元15對被提供的聚焦誤差信號和跟蹤誤差信號執(zhí)行預(yù)定的信號處理和A/D轉(zhuǎn)換，并將數(shù)字化的信號提供給雙軸控制單元17。
圖2示出了示例性再現(xiàn)信號處理單元15的配置。在圖2中所示的示例中，為了清楚起見，只有那些與對從RF單元14提供的再現(xiàn)RF信號的信號處理和A/D轉(zhuǎn)換相關(guān)的元件被示出了 ，而與A/D轉(zhuǎn)換之后的處理相關(guān)的元件被省略了 。再現(xiàn)信號處理單元15在再現(xiàn)RF信號被輸入的一側(cè)包括高通濾波器(HPF)21、自動增益控制(AGC)電路22、均衡器23、模擬/數(shù)字(A/D)轉(zhuǎn)換單元24和鎖相環(huán)(PLL)電路25。 高通濾波器21抑制被輸入到再現(xiàn)信號處理單元15中的再現(xiàn)RF信號的頻帶中的低頻成分。要被抑制的低頻成分由低頻截止頻率決定。低頻截止頻率可以在下述CPU 16的控制下被改變和設(shè)置。 高通濾波器21包括例如圖3中所示的與信號線串聯(lián)的電容器C和與信號線并聯(lián)的電阻器R。高通濾波器21中的低頻截止頻率可以由電容器C和電阻器R的值確定并且可以例如通過改變電阻器R的值而被改變。更具體而言，多個電阻器R可以并聯(lián)以例如用開關(guān)等進行選擇。低頻截止頻率可以利用從并聯(lián)的多個電阻器R中選擇特定的電阻器的開關(guān)來改變。 當(dāng)從高通濾波器21輸出的再現(xiàn)RF信號的信號電平隨著光盤10或者RF信號的讀取位置而改變時，AGC電路22自動地將信號電平穩(wěn)定在特定電平上。從AGC電路22輸出的再現(xiàn)RF信號的響應(yīng)速度，即上升速度，由AGC時間常數(shù)決定。AGC時間常數(shù)可以在CPU 16的控制下被改變和設(shè)置。 均衡器23補償從AGC電路22輸出的再現(xiàn)RF信號的高頻電平的衰減。A/D轉(zhuǎn)換單元24把從均衡器23輸出的模擬信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號。PLL電路25基于被記錄在光盤10上的同步信號生成時鐘信號，并將它們提供給A/D轉(zhuǎn)換單元24。 再次參考圖l，CPU 16根據(jù)被預(yù)先存儲在只讀存儲器(ROM)(未示出)中的程序?qū)υ佻F(xiàn)裝置1作為一個整體進行控制?；诒淮鎯υ诖鎯卧?0中的參數(shù)表中所列出的參數(shù)值，CPU 16控制再現(xiàn)信號處理單元15以設(shè)置高通濾波器21的低頻截止頻率和AGC電路22的AGC時間常數(shù)，如圖2中所示。下面將更詳細地描述參數(shù)表。 基于被提供的信號，雙軸控制單元17控制光學(xué)拾取器12的雙軸機制的操作。雙軸控制單元17根據(jù)來自CPU 16的指示生成驅(qū)動信號，并將它們提供給移動電機13以將光學(xué)拾取器12移動到光盤10上的被指定跟蹤位置?；趶碾p軸控制單元17提供的驅(qū)動信號，移動電機13沿光盤10的徑向移動光學(xué)拾取器12。[OO54][再現(xiàn)方法的概覽] 現(xiàn)在將詳細描述可應(yīng)用于本發(fā)明實施例的再現(xiàn)裝置的再現(xiàn)方法。為了再現(xiàn)被記錄在諸如光盤之類的記錄介質(zhì)上的數(shù)據(jù)，再現(xiàn)裝置以RUB(讀取單元塊)為單位讀取數(shù)據(jù)，并且通過應(yīng)用預(yù)定參數(shù)執(zhí)行對所述數(shù)據(jù)的ECC解碼，其中RUB是光盤上的最小記錄單位。
在針對從特定RUB中讀出的數(shù)據(jù)的第一再現(xiàn)處理(下面視情況被稱為"正常再現(xiàn)處理")中，參數(shù)被設(shè)置為其初始值，并且針對所述數(shù)據(jù)的ECC解碼被嘗試。正常再現(xiàn)處理中的ECC解碼可能會由于諸如劃痕、灰塵和指紋污漬之類的光盤表面上的缺陷而失敗。如果在正常再現(xiàn)處理中ECC解碼失敗，則再現(xiàn)處理被重試(下面視情況被稱為"重試再現(xiàn)處理")，其中參數(shù)設(shè)置被改變并且ECC解碼被再次嘗試。
7
參數(shù)的初始值是當(dāng)光盤10的表面上的無缺陷位置被再現(xiàn)時、確保最佳錯誤率的
值。對于由于光盤10表面上的缺陷而引起的重試再現(xiàn)處理，參數(shù)設(shè)置被改變。在重試再現(xiàn)
處理中，參數(shù)被設(shè)置為適合于當(dāng)前缺陷的值以使得ECC解碼可以被成功完成。 對于重試再現(xiàn)處理，若干的參數(shù)值被預(yù)先準備好并被列在參數(shù)表中。如圖4中所
示，多個參數(shù)值和相關(guān)聯(lián)的參數(shù)序號被列在參數(shù)表中。在該示例中，四個參數(shù)值被列在參數(shù)表中。 參數(shù)序號指示在重復(fù)執(zhí)行重試再現(xiàn)處理時將要應(yīng)用的參數(shù)值的順序。這些參數(shù)值例如在預(yù)先執(zhí)行的實驗中被證實為對于各種缺陷是有效的。更具體而言，例如，與參數(shù)序號#1相關(guān)聯(lián)的參數(shù)值對于劃痕有效，與參數(shù)序號#2相關(guān)聯(lián)的參數(shù)值對于灰塵有效。與參數(shù)序號#3相關(guān)聯(lián)的參數(shù)值對于氣泡有效，與參數(shù)序號#4相關(guān)聯(lián)的參數(shù)值對于指紋污漬有效。下面將描述參數(shù)的細節(jié)。 假設(shè)要被再現(xiàn)的光盤10在其表面上具有缺陷100，如圖5中所示。在光盤10上，數(shù)據(jù)被記錄在預(yù)定長度的RUB中，所述RUB按照類似年輪的結(jié)構(gòu)被順序地排列。為了再現(xiàn)被記錄在光盤10上的數(shù)據(jù)，當(dāng)再現(xiàn)裝置的光學(xué)頭從內(nèi)圈到外圈順序地掃描光盤10時，通過以RUB為單位從在內(nèi)圈的第一個RUB 101到在外圈的第八個RUB 108順序地讀取數(shù)據(jù)來執(zhí)行再現(xiàn)處理。在該示例中，由于指紋污漬所引起的缺陷100存在于第一RUB 101、第四RUB104和第八RUB 108上。 首先，再現(xiàn)裝置將參數(shù)設(shè)置為其初始值并執(zhí)行針對第一RUB 101的正常再現(xiàn)處理。參數(shù)的初始值是當(dāng)不存在缺陷100的位置被再現(xiàn)時確保最佳錯誤率的值。在該示例中，ECC解碼因為第一RUB 101上的缺陷100而未被成功完成。因此，再現(xiàn)裝置改變參數(shù)值并且執(zhí)行針對第一 RUB 101的重試再現(xiàn)處理。 當(dāng)重試再現(xiàn)處理被重復(fù)時，通過按照圖4中所示的參數(shù)表中所列出的參數(shù)序號的順序應(yīng)用參數(shù)值來重復(fù)嘗試ECC解碼。 在該示例中，在針對第一RUB 101的第一重試再現(xiàn)處理中，再現(xiàn)裝置通過應(yīng)用參數(shù)序號#1的參數(shù)值來嘗試針對第一 RUB 101的ECC解碼。然而，在該示例中，缺陷100是由指紋污漬引起的。因為參數(shù)序號#1的參數(shù)值是對劃痕有效而不適合于當(dāng)前缺陷ioo，所以ECC解碼未被成功完成。 接下來，再現(xiàn)裝置通過應(yīng)用參數(shù)序號#2的參數(shù)值在第二次重試再現(xiàn)處理中嘗試ECC解碼。因為參數(shù)序號ft2的參數(shù)值是對灰塵有效的，所以ECC解碼再次失敗。然后，再現(xiàn)裝置通過應(yīng)用參數(shù)序號ft3的參數(shù)值在第三次重試再現(xiàn)處理中嘗試ECC解碼。因為參數(shù)序號#3的參數(shù)值是對氣泡有效的，所以ECC解碼再次失敗。 接下來，再現(xiàn)裝置通過應(yīng)用參數(shù)序號#4的參數(shù)值在第四次重試再現(xiàn)處理中嘗試ECC解碼。這一次，因為參數(shù)序號#4的參數(shù)值對指紋污漬有效、適合于當(dāng)前缺陷100，所以ECC解碼被成功完成。 按照這種方式，在針對光盤10的再現(xiàn)處理開始之后對光盤10上的第一個缺陷RUB所執(zhí)行的重試再現(xiàn)處理中，首先利用參數(shù)序號#1的參數(shù)值嘗試ECC解碼。
在本發(fā)明的實施例中，與其中ECC解碼被成功完成的前一重試再現(xiàn)處理中所應(yīng)用的參數(shù)值相關(guān)聯(lián)的參數(shù)序號被存儲。在該示例中，因為利用與參數(shù)序號#4相關(guān)聯(lián)的參數(shù)值成功完成了 ECC解碼，所以參數(shù)序號#4被存儲。
8
—旦針對第一 RUB 101的ECC解碼完成，再現(xiàn)裝置就將參數(shù)重置為其初始值并執(zhí)行針對下一個或第二RUB 102的正常再現(xiàn)處理。因為在第二RUB 102上沒有缺陷IOO，所以ECC解碼在正常再現(xiàn)處理中被成功完成。 一旦針對第二 RUB 102的ECC解碼完成，再現(xiàn)裝置就執(zhí)行針對第三RUB103的正常再現(xiàn)處理。因為在RUB 103上沒有缺陷100，所以ECC解碼在針對第三RUB 103的正常再現(xiàn)處理中被成功完成。 —旦針對第三RUB 103的ECC解碼完成，再現(xiàn)裝置就執(zhí)行針對第四RUB 104的正常再現(xiàn)處理。由于第四RUB 104上的缺陷100，所以針對從第四RUB 104讀出的數(shù)據(jù)的ECC解碼失敗。因此，再現(xiàn)裝置改變參數(shù)值并執(zhí)行針對第四RUB 104的重試再現(xiàn)處理。
在本發(fā)明的實施例中，與其中ECC解碼被成功完成的前一重試再現(xiàn)處理中所應(yīng)用的參數(shù)值相關(guān)聯(lián)的參數(shù)序號被存儲。因此，再現(xiàn)裝置通過應(yīng)用與所存儲的參數(shù)序號相關(guān)聯(lián)的參數(shù)值來在針對第四RUB 104的第一次重試再現(xiàn)處理中嘗試ECC解碼。
在該示例中，通過應(yīng)用與所存儲的參數(shù)序號#4相關(guān)聯(lián)的參數(shù)值來嘗試ECC解碼。因為該參數(shù)值對于指紋污漬有效、適合于當(dāng)前缺陷IOO，所以該ECC解碼被成功完成。再現(xiàn)裝置存儲與該參數(shù)值相關(guān)聯(lián)的參數(shù)序號#4。 —旦針對第四RUB 104的ECC解碼完成，再現(xiàn)裝置就將參數(shù)重置為其初始值并順序地執(zhí)行針對第五RUB 105到第八RUB 108的再現(xiàn)處理，如上所述。在不存在缺陷100的情況下，針對第五RUB 105、第六RUB106和第七RUB 107的ECC解碼在正常再現(xiàn)處理中被成功完成。 在第八RUB 108中，在缺陷100存在的情況下，ECC解碼在正常再現(xiàn)處理中未被成功完成。通過應(yīng)用與所存儲的參數(shù)序號#4相關(guān)聯(lián)的參數(shù)值在重試再現(xiàn)處理中嘗試ECC解碼。這時，因為所述參數(shù)值對指紋污漬有效、適合于當(dāng)前缺陷IOO，所以ECC解碼被成功完成。然后，再現(xiàn)裝置存儲與所述參數(shù)值相關(guān)聯(lián)的參數(shù)序號#4。 按照這種方式，通過應(yīng)用與所存儲的參數(shù)序號相關(guān)聯(lián)的參數(shù)值并執(zhí)行ECC解碼，重試再現(xiàn)處理的重復(fù)次數(shù)可以被減少并且成功完成ECC解碼的時間可以相應(yīng)地被縮短。
[參數(shù)] 現(xiàn)在將詳細描述用于ECC解碼的參數(shù)設(shè)置。如上所述，在相關(guān)技術(shù)中，通過在正常再現(xiàn)處理和重試再現(xiàn)處理中應(yīng)用預(yù)定的參數(shù)來嘗試針對從光盤10中讀出的數(shù)據(jù)的ECC解碼。 以前，這些參數(shù)被用于設(shè)置例如用于再現(xiàn)RF信號的放大器增益、用于濾波的截止頻率、增加的帶寬、增加的電平、偏移反饋增益、偏移模式、用于獲得再現(xiàn)時鐘的PLL環(huán)路增益以及用于Viterbi解碼的參考幅度值。 但是，在這種情況下，由于參數(shù)設(shè)置中所使用的大量條目，所以對參數(shù)改變的效果的驗證可能會很復(fù)雜。 因此，在本發(fā)明的實施例中，只有圖2中所示的高通濾波器21的低頻截止頻率和AGC電路22的AGC時間常數(shù)通過被應(yīng)用于ECC解碼的參數(shù)來設(shè)置。 低頻截止頻率是被輸入到高通濾波器21中的再現(xiàn)RF信號的頻帶的被抑制的低頻成分。低頻截止頻率被改變以改變被抑制的低頻頻帶，從而在數(shù)據(jù)從缺陷位置處被讀出時抑制再現(xiàn)RF信號包絡(luò)的瞬態(tài)變化。另外，不必要頻帶中所產(chǎn)生的噪聲被去除，并且再現(xiàn)RF信號的信噪比(SNR)被提高了。
AGC時間常數(shù)指示被輸入到AGC電路22中的再現(xiàn)RF信號的響應(yīng)速度或上升速度。AGC時間常數(shù)被改變以改變被讀取數(shù)據(jù)的再現(xiàn)RF信號的響應(yīng)速度，以進行更精確的瞬態(tài)響應(yīng)控制。 按照這種方式，低頻截止頻率和AGC時間常數(shù)可以被設(shè)置為針對各種缺陷的最有效的值，以使得PLL電路25的操作可以被穩(wěn)定，再現(xiàn)RF信號的SNR可以提高，并且數(shù)據(jù)讀取錯誤率可以被改善。此外，與復(fù)雜的相關(guān)技術(shù)中的參數(shù)設(shè)置相比，本發(fā)明實施例中的參數(shù)可以簡化控制軟件的控制算法并且在非常短的時間內(nèi)達到其效果。因此，參數(shù)改變的效果可以很容易地得到驗證。 現(xiàn)在將更詳細地描述參數(shù)表。雖然不同的參數(shù)值被列在圖4和圖5中所示的示例中的參數(shù)表中，但是本發(fā)明的實施例不局限于此。例如，當(dāng)數(shù)據(jù)從缺陷位置被讀取出時，再現(xiàn)RF信號處理系統(tǒng)和伺服系統(tǒng)可能會由于隨機干擾而以不穩(wěn)定的方式進行操作。在這種情況下，如果對當(dāng)前缺陷有效的參數(shù)值在重試再現(xiàn)處理中只被應(yīng)用一次，數(shù)據(jù)可能不能被可靠地讀取。 在本發(fā)明的實施例中，單一參數(shù)值被連續(xù)地設(shè)置給參數(shù)表中的多個參數(shù)序號，并且重試再現(xiàn)處理被利用同一參數(shù)值重復(fù)若干次。這就確保了數(shù)據(jù)可以從缺陷位置被可靠地讀出。 實驗證明當(dāng)重試再現(xiàn)處理被利用同一參數(shù)值重復(fù)進行三次時，數(shù)據(jù)可以從缺陷位置被可靠地讀出。 圖6示出了重試次數(shù)和讀取完成百分比之間的示例性關(guān)系，該關(guān)系是通過在針對從100個RUB中讀出的數(shù)據(jù)的重試再現(xiàn)處理中重復(fù)應(yīng)用同一參數(shù)值而得到的。水平軸指示重試再現(xiàn)處理的重復(fù)次數(shù)。垂直軸指示ECC解碼被成功完成的RUB的數(shù)目相對于數(shù)據(jù)被讀取的RUB的總數(shù)的讀取完成百分比。該示例示出了 ECC解碼被成功完成的RUB的數(shù)目相對于ECC解碼被嘗試的100個RUB的百分比。 在圖6中所示的示例中，針對從100個RUB中讀出的數(shù)據(jù)的ECC解碼被嘗試。在第一次正常再現(xiàn)處理中，參數(shù)被設(shè)置為其初始值。在第一次到第三次重復(fù)進行的重試再現(xiàn)處理中，參數(shù)被設(shè)置為"參數(shù)值A(chǔ)"，并且在第四次和第五次重復(fù)進行的重試再現(xiàn)處理中，參數(shù)被設(shè)置為另一"參數(shù)值B"。 在利用被設(shè)置為其初始值的參數(shù)所執(zhí)行的正常再現(xiàn)處理(重試計數(shù)為零)中，讀取完成百分比近似為40%。接下來，在利用被設(shè)置為"參數(shù)值A(chǔ)"所執(zhí)行的第一次重試再現(xiàn)處理中，讀取完成百分比提高到近似為75%。然后，在利用被設(shè)置為同一"參數(shù)值A(chǔ)"所執(zhí)行的第二次重試再現(xiàn)處理中，讀取完成百分比提高到近似為95%。最終，在利用被設(shè)置為同一"參數(shù)值A(chǔ)"所執(zhí)行的第三次重試再現(xiàn)處理中，讀取完成百分比達到100%，并且針對從100個RUB讀出的全部數(shù)據(jù)的ECC解碼被成功完成。 在圖6中，點線指示在利用被固定為其初始值的參數(shù)所執(zhí)行的五次重復(fù)的重試再現(xiàn)處理中所得到的讀取完成百分比。在這種情況下，在第五次重試再現(xiàn)處理之后，讀取完成百分比近似為42%。 如上所述，通過利用被設(shè)置為同一值的參數(shù)重復(fù)進行重試再現(xiàn)處理，可以成功完成針對從RUB讀取的數(shù)據(jù)的ECC解碼。 圖7示出了參數(shù)表中所設(shè)置的示例性參數(shù)值。例如，參數(shù)值"0x0d"與參數(shù)序號ftl
10到#3相關(guān)聯(lián)。另一參數(shù)值"0x09"與參數(shù)序號#4和#5相關(guān)聯(lián)。每個參數(shù)值的前綴'Ox'指示該值是十六進制表示。 參數(shù)值"OxOd"對劃痕、氣泡或者大小等于或大于100iim的其它缺陷有效。該參數(shù)值指示高通濾波器21中的最高低頻截止頻率設(shè)置，更具體而言是近似為初始參數(shù)值所設(shè)置的頻率的四倍的低頻截止頻率。AGC時間常數(shù)被設(shè)置為初始參數(shù)值所設(shè)置的時間參數(shù)的大約兩倍的值。 參數(shù)值"0x09"對灰塵或者大小等于或小于100 ii m的其它缺陷有效。該參數(shù)值指示高通濾波器21中第二高的低頻截止頻率設(shè)置，更具體而言是近似為初始參數(shù)值所設(shè)置的頻率的兩倍的低頻截止頻率。AGC時間常數(shù)被設(shè)置為初始參數(shù)值所設(shè)置的時間參數(shù)的大約兩倍的值。 雖然五個參數(shù)值被列在該示例的參數(shù)表中，但是參數(shù)表中所列的參數(shù)值的數(shù)目不
局限于該示例的情況，而是可以根據(jù)所允許的重試次數(shù)來決定的。[再現(xiàn)處理] 現(xiàn)在將參考圖8和圖9中所示的流程圖來描述可應(yīng)用于本發(fā)明實施例的再現(xiàn)裝置l的再現(xiàn)處理的流程。除另外說明，下述處理都是在CPU 16的控制下被執(zhí)行的。在該示例中，允許重復(fù)五次重試再現(xiàn)處理。下面，從第一次到第五次重復(fù)進行的重試再現(xiàn)處理的一系列處理將作為一組重試再現(xiàn)處理來描述。 首先，將參考圖8描述針對第一次從特定光盤10中讀出的數(shù)據(jù)的再現(xiàn)處理。在步驟Sl中，參數(shù)被設(shè)置為其初始值，并且針對從特定RUB讀出的數(shù)據(jù)的ECC解碼在正常再現(xiàn)處理中被嘗試。在步驟S2中，檢查ECC解碼在正常再現(xiàn)處理中是否被成功完成。如果確定ECC解碼完成，則處理返回到步驟Sl，其中，數(shù)據(jù)從下一個RUB中被讀出并且針對所讀取數(shù)據(jù)的正常再現(xiàn)處理被執(zhí)行。如果確定ECC解碼未被成功完成，則處理進行到步驟S3。
在步驟S3中，參數(shù)被設(shè)置為與參數(shù)表中的參數(shù)序號#1相關(guān)聯(lián)的值。針對所讀取數(shù)據(jù)的ECC解碼在第一次重試再現(xiàn)處理中被嘗試。在步驟S4中，檢查ECC解碼在第一次重試再現(xiàn)處理中是否被成功完成。如果確定ECC解碼被成功完成，則處理進行到步驟S15。如果確定ECC解碼未被成功完成，則處理進行到步驟S5。 在步驟S5中，參數(shù)被設(shè)置為與參數(shù)表中的參數(shù)序號#2相關(guān)聯(lián)的值。針對所讀取數(shù)據(jù)的ECC解碼在第二次重試再現(xiàn)處理中被嘗試。在步驟S6中，檢查ECC解碼在第二次重試再現(xiàn)處理中是否被成功完成。如果確定ECC解碼被成功完成，則處理進行到步驟S15。如果確定ECC解碼未被成功完成，則處理進行到步驟S7。 在步驟S7中，參數(shù)被設(shè)置為與參數(shù)表中的參數(shù)序號#3相關(guān)聯(lián)的值。針對所讀取數(shù)據(jù)的ECC解碼在第三次重試再現(xiàn)處理中被嘗試。在步驟S8中，檢查ECC解碼在第三次重試再現(xiàn)處理中是否被成功完成。如果確定ECC解碼被成功完成，則處理進行到步驟S15。如果確定ECC解碼未被成功完成，則處理進行到步驟S9。 在步驟S9中，參數(shù)被設(shè)置為與參數(shù)表中的參數(shù)序號#4相關(guān)聯(lián)的值。針對所讀取數(shù)據(jù)的ECC解碼在第四次重試再現(xiàn)處理中被嘗試。在步驟SIO中，檢查ECC解碼在第四次重試再現(xiàn)處理中是否被成功完成。如果確定ECC解碼被成功完成，則處理進行到步驟S15。如果確定ECC解碼未被成功完成，則處理進行到步驟Sll。 在步驟Sll中，參數(shù)被設(shè)置為與參數(shù)表中的參數(shù)序號#5相關(guān)聯(lián)的值。針對所讀取
11數(shù)據(jù)的ECC解碼在第五次重試再現(xiàn)處理中被嘗試。在步驟S12中，檢查ECC解碼在第五次重試再現(xiàn)處理中是否被成功完成。如果確定ECC解碼被成功完成，則處理進行到步驟S15。如果確定ECC解碼未被成功完成，則處理進行到步驟S13并且再現(xiàn)處理停止。在步驟S14中，參數(shù)表中的第一個參數(shù)序號#1被存儲在存儲單元20中的表指針中。
如果ECC解碼在第一次到第五次重復(fù)進行的重試再現(xiàn)處理中的任一次重試再現(xiàn)處理中被成功完成，則在步驟S15中，與這一次重試再現(xiàn)處理中所設(shè)置的參數(shù)值相關(guān)聯(lián)的參數(shù)序號被存儲在表指針中。例如，如果ECC解碼在第一次重試再現(xiàn)處理中被成功完成，則與第一次重試再現(xiàn)處理中所設(shè)置的參數(shù)值相關(guān)聯(lián)的參數(shù)序號#1被存儲在表指針中。類似地，如果ECC解碼在第二次到第五次重復(fù)進行的重試再現(xiàn)處理中的任一次處理中被成功完成，則參數(shù)序號#2到#5中的相應(yīng)序號被存儲在表指針中。 參數(shù)在步驟S16中被設(shè)置為其初始值，并且處理返回到步驟SI以重復(fù)對下一個RUB的以上處理。 接下來，將參考圖9描述ECC解碼在前一組重試再現(xiàn)處理中被完成之后針對從另一 RUB讀出的數(shù)據(jù)所執(zhí)行的再現(xiàn)處理。下面所描述的是這樣的情況，其中ECC解碼在前一組重試再現(xiàn)處理中的第三次重試再現(xiàn)處理中被完成，并且參數(shù)序號#3被存儲在表指針中。
在步驟S21中，參數(shù)被設(shè)置為其初始值，并且針對從特定RUB讀出的數(shù)據(jù)的ECC解碼在正常再現(xiàn)處理中被嘗試。在步驟S22中，檢查ECC解碼在正常再現(xiàn)處理中是否被成功完成。如果確定ECC解碼完成，則處理返回到步驟S21，其中數(shù)據(jù)從下一個RUB中被讀出并且針對該數(shù)據(jù)的正常再現(xiàn)處理被執(zhí)行。如果確定ECC解碼未被成功完成，則處理進行到步驟S23。 在步驟S23中，表指針被參考并且參數(shù)被設(shè)置為與表指針中所存儲的參數(shù)序號相關(guān)聯(lián)的值。ECC解碼在針對所讀取數(shù)據(jù)的第一次重試再現(xiàn)處理中被嘗試。更具體而言，在該示例中，參數(shù)被設(shè)置為與參數(shù)序號#3相關(guān)聯(lián)的值，因為參數(shù)序號#3被存儲在表指針中。在步驟S24中，檢查ECC解碼在第一次重試再現(xiàn)處理中是否被成功完成。如果確定ECC解碼被成功完成，則處理進行到步驟S35。如果確定ECC解碼未被成功完成，則處理進行到步驟S25。 在步驟S25中，參數(shù)被設(shè)置為與表指針中所存儲的參數(shù)序號(即，步驟S23中所參考的參數(shù)序號加1)相關(guān)聯(lián)的值。ECC解碼在針對所讀取數(shù)據(jù)的第二次重試再現(xiàn)處理中被嘗試。在該示例中，參數(shù)被設(shè)置為與參數(shù)序號#4(即，步驟S23中所參考的參數(shù)序號#3加1)相關(guān)聯(lián)的值。 在步驟S26中，檢查ECC解碼在第二次重試再現(xiàn)處理中是否被成功完成。如果確定ECC解碼被成功完成，則處理進行到步驟S35。如果確定ECC解碼未被成功完成，則處理進行到步驟S27。 在步驟S27中，參數(shù)被設(shè)置為與表指針中所存儲的參數(shù)序號(即，步驟S25中所參考的參數(shù)序號加1)相關(guān)聯(lián)的值。ECC解碼在針對所讀取數(shù)據(jù)的第三次重試再現(xiàn)處理中被嘗試。在該示例中，參數(shù)被設(shè)置為與參數(shù)序號#5(即，步驟S25中所參考的參數(shù)序號#4加1)相關(guān)聯(lián)的值。 在步驟S28中，檢查ECC解碼在第三次重試再現(xiàn)處理中是否被成功完成。如果確定ECC解碼被成功完成，則處理進行到步驟S35。如果確定ECC解碼未被成功完成，則處理進行到步驟S29。 在步驟S29中，參數(shù)被設(shè)置為與表指針中所存儲的參數(shù)序號(即，步驟S27中所參 考的參數(shù)序號加1)相關(guān)聯(lián)的值。ECC解碼在針對所讀取數(shù)據(jù)的第四次重試再現(xiàn)處理中被嘗 試。在該示例中，參數(shù)應(yīng)當(dāng)被設(shè)置為與參數(shù)序號恥(即，步驟S27中所參考的參數(shù)序號#5加 1)相關(guān)聯(lián)的值。但是，在該示例中，參數(shù)序號#5是參數(shù)表中的最高序號。在這種情況下， 處理返回到第一個參數(shù)序號并且參數(shù)被設(shè)置為與參數(shù)表中的第一個參數(shù)序號#1相關(guān)聯(lián)的 值。 在步驟S30中，檢查ECC解碼在第四次重試再現(xiàn)處理中是否被成功完成。如果確 定ECC解碼被成功完成，則處理進行到步驟S35。如果確定ECC解碼未被成功完成，則處理 進行到步驟S31。 在步驟S31中，參數(shù)被設(shè)置為與表指針中所存儲的參數(shù)序號(即，步驟S29中所參 考的參數(shù)序號加1)相關(guān)聯(lián)的值。ECC解碼在針對所讀取數(shù)據(jù)的第五次重試再現(xiàn)處理中被嘗 試。在該示例中，參數(shù)被設(shè)置為與參數(shù)序號#2(即，步驟S29中所參考的參數(shù)序號#1加1) 相關(guān)聯(lián)的值。 在步驟S32中，檢查ECC解碼在第五次重試再現(xiàn)處理中是否被成功完成。如果確 定ECC解碼被成功完成，則處理進行到步驟S35。如果確定ECC解碼未被成功完成，則處理 進行到步驟S33并且再現(xiàn)處理停止。在步驟S34中，參數(shù)表中的第一參數(shù)序號#1被存儲在 表指針中。 如果ECC解碼在第一次到第五次重復(fù)進行的重試再現(xiàn)處理中的任一次重試再現(xiàn) 處理中被成功完成，則在步驟S35中，與這一次重試再現(xiàn)處理中所設(shè)置的參數(shù)值相關(guān)聯(lián)的 參數(shù)序號被存儲在表指針中。例如，如果ECC解碼在第一次重試再現(xiàn)處理中被成功完成，則 與第一次重試再現(xiàn)處理中所設(shè)置的參數(shù)值相關(guān)聯(lián)的參數(shù)序號#3被存儲在表指針中。類似 地，如果ECC解碼在第二次到第五次重復(fù)進行的重試再現(xiàn)處理中的任一次處理中被成功完 成，則參數(shù)序號#4到#2中的相應(yīng)序號被存儲在表指針中。 參數(shù)在步驟S36中被設(shè)置為其初始值，并且處理返回到步驟S21以重復(fù)針對下一 個RUB的以上處理。 雖然在以上描述中，針對第一次從RUB中讀出的數(shù)據(jù)所執(zhí)行的再現(xiàn)處理與在ECC 解碼在前一組重試再現(xiàn)處理中被完成之后針對從下一個RUB中讀出的數(shù)據(jù)所執(zhí)行的再現(xiàn) 處理不相同，但是本發(fā)明的實施例不局限于該示例。例如，參數(shù)序號#1可以被預(yù)先存儲在 表指針中，并且數(shù)據(jù)第一次從RUB中被讀出時所要設(shè)置的參數(shù)值可以通過參考表指針來確 定。 因此，可以針對第一次從RUB讀出的數(shù)據(jù)和在前一組重試再現(xiàn)處理中完成ECC解 碼之后從另一 RUB中讀出的數(shù)據(jù)應(yīng)用類似的再現(xiàn)處理。 如上所述，在本發(fā)明的實施例中，與其中成功完成ECC解碼的前一重試再現(xiàn)處理 中所設(shè)置的參數(shù)值相關(guān)聯(lián)的參數(shù)序號被存儲并且被用在針對從下一個缺陷RUB中讀出的 數(shù)據(jù)的重試再現(xiàn)處理中。當(dāng)數(shù)據(jù)從下一個缺陷RUB中被讀出時，與所存儲的參數(shù)序號相關(guān) 聯(lián)的參數(shù)值被首先應(yīng)用于ECC解碼；如果ECC解碼失敗，則通過順序地改變參數(shù)值來嘗試 ECC解碼。由于通過首先應(yīng)用被認定為對當(dāng)前缺陷最有效的參數(shù)值來執(zhí)行重試再現(xiàn)處理，所 以ECC解碼可以在短時間內(nèi)被高效地完成。
13
重試再現(xiàn)處理的重復(fù)次數(shù)和用于ECC解碼的時間的減少相應(yīng)地降低了用于ECC解
碼的功率消耗。 〈2.實施例的修改〉 現(xiàn)在將描述對本發(fā)明實施例的修改。在再現(xiàn)裝置1中，啟動處理通常發(fā)生在光盤
10被安裝之后。在啟動處理中，參數(shù)被設(shè)置為其初始值并且通過測量抖動和從被安裝在再
現(xiàn)裝置1上的光盤10中讀取的數(shù)據(jù)的再現(xiàn)RF信號的其它現(xiàn)象來評估光盤10的表面狀況。
基于評估結(jié)果，各種參數(shù)被設(shè)置并且在啟動處理之后正常再現(xiàn)處理被執(zhí)行。 如果重試再現(xiàn)處理發(fā)生在啟動處理期間，則參數(shù)設(shè)置可能會被改變并且光盤IO
的表面狀況可能就不能被準確測量。這可能會影響基于評估結(jié)果所設(shè)置的參數(shù)的設(shè)置準確度。 在對本發(fā)明實施例的修改中，重試再現(xiàn)處理功能可以在必要的情況下被關(guān)閉以防 止在啟動處理期間改變參數(shù)設(shè)置。 圖10示出了再現(xiàn)裝置1的示例性操作流程。在光盤10在步驟S51中被安裝之后，
在步驟S52中，啟動處理發(fā)生在再現(xiàn)裝置1中。在光盤10的表面狀況在啟動處理中被測量
之后，在步驟S53中，正常再現(xiàn)處理發(fā)生。在步驟S54中，光盤IO被移走。 在啟動處理期間，參數(shù)被設(shè)置為其初始值并且重試再現(xiàn)處理功能被關(guān)閉以防止改
變參數(shù)設(shè)置，從而光盤10的表面狀況可以被準確測量。 一旦啟動處理被完成，重試再現(xiàn)處
理功能被開啟以進行正常再現(xiàn)處理，從而參數(shù)可以根據(jù)光盤表面狀況被改變并且數(shù)據(jù)被讀取。[再現(xiàn)處理] 現(xiàn)在將參考圖11中所示的流程圖來描述可應(yīng)用于本發(fā)明實施例的修改的再現(xiàn)裝 置l的再現(xiàn)處理的流程。下述處理在CPU 16的控制下被執(zhí)行，除非另外說明。執(zhí)行與上述 實施例類似的處理的相似元件用相似的標號來表示，并且關(guān)于它們的詳細描述將被省略。
在步驟S1中，參數(shù)被設(shè)置為其初始值并且針對從特定RUB中讀出的數(shù)據(jù)的ECC解 碼在正常再現(xiàn)處理中被嘗試。在步驟S2中，檢查ECC解碼在正常再現(xiàn)處理中是否被成功完 成。如果確定ECC解碼完成，則處理返回到步驟Sl，其中數(shù)據(jù)從下一個RUB中被讀出并且針 對所讀取數(shù)據(jù)的正常再現(xiàn)處理被執(zhí)行。如果確定ECC解碼未被成功完成，則處理進行到步 驟S40。 在步驟S40中，檢查啟動處理是否正在進行。如果啟動處理正在進行，則處理返回 到步驟S1。如果啟動處理沒有正在進行，則處理進行到步驟S3。從步驟S3開始的再現(xiàn)處 理與實施例中的再現(xiàn)處理相同，關(guān)于其的描述將被省略。 如上所示，如果啟動處理正在進行，則處理返回到正常再現(xiàn)處理以防止重試再現(xiàn) 處理發(fā)生，以使得光盤10的表面狀況可以被準確測量。 本申請包含與2008年11月20日向日本專利局提交的日本在先專利申請JP 2008-296734中所公開的主題有關(guān)的主題，該在先專利申請的全部內(nèi)容通過引用結(jié)合于此。
雖然參考本發(fā)明的實施例和修改實施例描述了本發(fā)明，但是本發(fā)明不局限于上述 實施例和修改實施例，而是可以在不脫離本發(fā)明的精神和范圍的情況下被修改和應(yīng)用。例 如，雖然在修改實施例中，重試再現(xiàn)處理功能在啟動處理中被關(guān)閉，但是本發(fā)明不局限于 此，并且重試再現(xiàn)處理功能可以在需要將參數(shù)固定為其初始值時被關(guān)閉。
權(quán)利要求
一種再現(xiàn)裝置，包括再現(xiàn)單元，該再現(xiàn)單元以記錄單位讀取被記錄在光盤上的數(shù)據(jù)的再現(xiàn)信號；再現(xiàn)信號處理單元，該再現(xiàn)信號處理單元利用被設(shè)置用于ECC解碼的預(yù)定參數(shù)值執(zhí)行對所述再現(xiàn)信號的ECC解碼；存儲單元，該存儲單元存儲與當(dāng)前設(shè)置的參數(shù)值相關(guān)聯(lián)的參數(shù)序號和參數(shù)表，該參數(shù)表列出了多個參數(shù)值和指示所述參數(shù)值的應(yīng)用順序的相關(guān)聯(lián)的參數(shù)序號；以及控制單元，該控制單元控制所述再現(xiàn)單元和所述再現(xiàn)信號處理單元；其中，所述控制單元在所述ECC解碼未被成功完成時，按照所述參數(shù)表中所列出的所述參數(shù)序號的順序來順序地改變所述參數(shù)值，并控制所述再現(xiàn)信號處理單元，以便執(zhí)行作為重試再現(xiàn)處理的ECC解碼，直到所述ECC解碼被成功完成為止，并且所述控制單元在所述ECC解碼成功完成時，將與所述當(dāng)前設(shè)置的參數(shù)值相關(guān)聯(lián)的參數(shù)序號存儲在所述存儲單元中，并在下一次重試再現(xiàn)處理中把與所存儲的參數(shù)序號相關(guān)聯(lián)的參數(shù)值設(shè)置在再現(xiàn)信號處理單元中。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的再現(xiàn)裝置，其中所述再現(xiàn)信號處理單元包括 高通濾波器，該高通濾波器抑制所述再現(xiàn)信號的低頻成分；以及AGC電路，該AGC電路自動將所述再現(xiàn)信號電平控制為恒定的；其中所述參數(shù)值被用于設(shè)置用于所述高通濾波器的低頻截止頻率以及用于所述AGC 電路的時間常數(shù)。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的再現(xiàn)裝置，其中多個相同的參數(shù)值被順序地列在所述參數(shù)表中。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的再現(xiàn)裝置，其中所述控制單元控制所述再現(xiàn)信號處理單元， 以便在對所述光盤的表面狀況進行檢測的啟動處理中即使在所述正常再現(xiàn)處理中未成功 完成所述ECC解碼也防止發(fā)生所述重試再現(xiàn)處理。
5. —種再現(xiàn)方法，包括以下步驟再現(xiàn)步驟，通過按照記錄單位讀取被記錄在光盤上的數(shù)據(jù)的再現(xiàn)信號來執(zhí)行再現(xiàn)；再現(xiàn)信號處理步驟，通過利用被設(shè)置用于ECC解碼的預(yù)定參數(shù)值執(zhí)行對從所述光盤中 讀出的所述再現(xiàn)信號的ECC解碼來處理所述再現(xiàn)信號；在存儲單元中存儲與當(dāng)前設(shè)置的參數(shù)值相關(guān)聯(lián)的參數(shù)序號和參數(shù)表，該參數(shù)表列出了 多個參數(shù)值和指示所述參數(shù)值的應(yīng)用順序的相關(guān)聯(lián)的參數(shù)序號；以及控制所述再現(xiàn)步驟和所述再現(xiàn)信號處理步驟；其中，所述控制步驟在所述ECC解碼未被成功完成時，按照所述參數(shù)表中所列出的所 述參數(shù)序號的順序改變參數(shù)設(shè)置，并控制所述再現(xiàn)信號處理步驟，以便執(zhí)行作為重試再現(xiàn) 處理的ECC解碼，直到所述ECC解碼被成功完成為止，并且所述控制步驟在所述ECC解碼被 成功完成時，將與所述當(dāng)前設(shè)置的參數(shù)值相關(guān)聯(lián)的參數(shù)序號存儲在所述存儲單元中，并將 與所存儲的參數(shù)序號相關(guān)聯(lián)的參數(shù)值設(shè)置在下一次重試再現(xiàn)處理中。
全文摘要
本發(fā)明公開了再現(xiàn)裝置和再現(xiàn)方法。一種再現(xiàn)裝置，包括再現(xiàn)單元，以記錄單位讀取被記錄在光盤上的數(shù)據(jù)的再現(xiàn)信號；再現(xiàn)信號處理單元，利用預(yù)定參數(shù)值執(zhí)行對再現(xiàn)信號的ECC解碼；存儲單元，存儲與當(dāng)前設(shè)置的參數(shù)值相關(guān)聯(lián)的參數(shù)序號和列出了參數(shù)值和相關(guān)聯(lián)的參數(shù)序號的參數(shù)表；以及控制單元，控制再現(xiàn)單元和再現(xiàn)信號處理單元?？刂茊卧贓CC解碼失敗時，按照參數(shù)序號的順序改變參數(shù)值，并控制再現(xiàn)信號處理單元，直到在重試再現(xiàn)處理中ECC解碼成功為止，并且控制單元在ECC解碼成功時，存儲與當(dāng)前設(shè)置的參數(shù)值相關(guān)聯(lián)的參數(shù)序號，并在下一次重試再現(xiàn)處理中把與所存儲的參數(shù)序號相關(guān)聯(lián)的參數(shù)值設(shè)置在再現(xiàn)信號處理單元中。
文檔編號G11B7/004GK101740049SQ200910222890
公開日2010年6月16日 申請日期2009年11月20日 優(yōu)先權(quán)日2008年11月20日
發(fā)明者村山敏之, 飯野浩 申請人:索尼株式會社