專利名稱：光盤裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及對光盤進(jìn)行再現(xiàn)的光盤裝置，例如適用于能夠?qū)邆涠鄠€記錄層的光 盤進(jìn)行再現(xiàn)的光盤裝置。
背景技術(shù)：
近年來，提出了在BD(BlU-ray)標(biāo)準(zhǔn)的光盤中，為了增大記錄容量而增大記錄層 的技術(shù)，而且已經(jīng)有雙層光盤得到實用化?？梢灶A(yù)料，為了實現(xiàn)進(jìn)一步大容量化，將來具有 三層或四層以上記錄層的光盤(以下稱為多層光盤)會變得實用化。但是，在多層光盤的再現(xiàn)中，容易因記錄層的反射率降低而引起再現(xiàn)品質(zhì)的降低。 因此，增大向?qū)⒓す庹丈涞焦獗P的激光二極管供給的直流電流和高頻疊加電流，使S/N比 變得良好，從而解決該問題。但是，在記錄型光盤的情況下，若只單純增大向激光二極管供給的直流電流和高 頻疊加電流，將不能夠確保所謂的再現(xiàn)耐力。對此，在專利文獻(xiàn)1中公開了下述技術(shù)，即，在光盤裝置中，逐漸增大再現(xiàn)功率，并 測定表示以各再現(xiàn)功率再現(xiàn)時的再現(xiàn)信號的品質(zhì)的指標(biāo)值，參照所測定的指標(biāo)值變得最小 的下限再現(xiàn)功率，設(shè)定最佳再現(xiàn)功率。此外，專利文獻(xiàn)2公開的技術(shù)中，在光盤裝置中，抖動檢測器再現(xiàn)記錄的信息，檢 測為再現(xiàn)信號，控制器根據(jù)抖動檢測器檢測出的再現(xiàn)信號來設(shè)定高頻電流的疊加電平。專利文獻(xiàn)1 日本特開2009-140580號公報專利文獻(xiàn)2 日本特開2007-172770號公報

發(fā)明內(nèi)容
但是，使用上述技術(shù)的光盤裝置在進(jìn)行多層光盤的再現(xiàn)時，來自記錄再現(xiàn)對象層 以外的層的反射光的影響，會導(dǎo)致伺服信號和再現(xiàn)信號產(chǎn)生變動。這些信號的變動，會引起 再現(xiàn)品質(zhì)的降低。因此，需要對用于驅(qū)動激光二極管的直流電流和高頻疊加電流的電流值 進(jìn)行調(diào)整，以使之不受到來自記錄再現(xiàn)對象層以外的層的反射光的影響。本發(fā)明考慮以上問題點，提出一種能夠?qū)Ⅱ?qū)動激光二極管的直流電流和高頻疊加 電流的電流值調(diào)整為最佳的光盤裝置。為了解決該課題，本發(fā)明的一個方式提供一種光盤裝置，其使從激光光源射出的 激光在光盤上反射，用光電二極管將反射的反射光檢測為電信號，根據(jù)檢測出的電信號生 成伺服信號或再現(xiàn)信號，該光盤裝置的特征在于，包括激光驅(qū)動器，其在直流電流上疊加 高頻電流作為驅(qū)動電流向上述激光光源供給，并驅(qū)動該激光光源；和控制部，其基于上述伺 服信號或再現(xiàn)信號，對由上述激光驅(qū)動器向上述激光光源供給的上述直流電流和/或上述 高頻疊加電流的電流值進(jìn)行調(diào)整，其中，上述控制部，對上述直流電流和/或上述高頻疊加 電流的電流值進(jìn)行調(diào)整，以使表示上述伺服信號或再現(xiàn)信號的波形變動的值滿足波形變 動的規(guī)格值，表示上述再現(xiàn)信號的再現(xiàn)性能的值滿足再現(xiàn)性能的規(guī)格值，并且表示上述光盤對于上述激光的耐久性能的值滿足耐久性能的規(guī)格值。根據(jù)本發(fā)明，可實現(xiàn)一種能夠?qū)Ⅱ?qū)動激光二極管的直流電流和高頻疊加電流的電 流值調(diào)整為最佳的光盤裝置。


圖1是表示本實施方式的光盤裝置的框圖。圖2是表示激光二極管的驅(qū)動電流與發(fā)光波形的關(guān)系的圖。圖3是用于說明來自光盤的反射光投影在探測器上的狀態(tài)的圖。圖4(A)是單層光盤中的跟蹤誤差信號的波形圖，(B)是多層光盤中的跟蹤信號的 波形圖。圖5是表示對于再現(xiàn)功率和HF調(diào)制度的TE信號的波形變動的圖。圖6是表示對于再現(xiàn)功率和HF調(diào)制度的再現(xiàn)信號的再現(xiàn)性能的圖。圖7是表示對于再現(xiàn)功率和HF調(diào)制度的光盤的再現(xiàn)耐力的圖。圖8是表示對于再現(xiàn)功率和HF調(diào)制度的波形變動、再現(xiàn)性能和再現(xiàn)耐力滿足各規(guī) 格值的范圍的圖。圖9是用于說明再現(xiàn)功率和HF調(diào)制度決定處理的流程圖。圖10是用于說明波形變動測定處理的流程圖。圖11是用于說明再現(xiàn)性能測定處理的流程圖。圖12是用于說明再現(xiàn)耐力測定處理的流程圖。圖13是用于說明其他實施方式的再現(xiàn)耐力的測定方法的圖。附圖標(biāo)記說明1……光盤裝置，2……光盤，3……光拾取器，4……微型計算機(jī)，5……模擬信號 處理器，6……數(shù)字信號處理器，31……激光二極管，32……激光驅(qū)動器，33……分束器， 34……功率監(jiān)視器，35……偏振分束器，36……探測器，37……1/4波片，38……物鏡
具體實施例方式以下針對附圖詳細(xì)敘述本發(fā)明的實施方式。(1)本實施方式的光盤裝置的結(jié)構(gòu)在圖1中，1整體上表示本實施方式的光盤裝置。該光盤裝置1，具備光拾取器3、 微型計算機(jī)4、模擬信號處理器5和數(shù)字信號處理器6，構(gòu)成為已裝入光盤2的狀態(tài)。光拾取器3，將激光照射到光盤2上，檢測出反射的反射光并通過光電轉(zhuǎn)換來轉(zhuǎn)換 為電信號，向模擬信號處理器5供給。此外，光拾取器3，具備激光二極管31、激光驅(qū)動器 32、分束器33、功率監(jiān)視器34、偏振分束器35、探測器36、1/4波片37和物鏡38。激光二極管31，以與從激光驅(qū)動器32供給的驅(qū)動電流相應(yīng)的發(fā)光功率發(fā)射激光。激光驅(qū)動器32，具備未圖示的直流電流電路和高頻電流電路。激光驅(qū)動器32，根 據(jù)微型計算機(jī)4的控制，在直流電流電路輸出的直流電流上疊加高頻電流電路輸出的高頻 電流，并供給到激光二極管31，驅(qū)動激光二極管31。此處，參照圖2，說明激光二極管31發(fā)射的激光的發(fā)光功率與激光驅(qū)動器32對激 光二極管31供給的驅(qū)動電流的關(guān)系。
對激光二極管31供給的驅(qū)動電流的電流值與激光二極管31發(fā)射的激光的發(fā)光功 率的關(guān)系，是如直線201所示的比例關(guān)系。該特性因激光二極管而各異。此外，激光驅(qū)動器 32對激光二極管31供給像正弦波202那樣的驅(qū)動電流。該驅(qū)動電流，是在直流電流上疊加 高頻電流而得的。在將正弦波202所示的驅(qū)動電流，向具有直線201所示的特性的激光二 極管31供給的情況下，激光二極管31輸出發(fā)光功率成為像波形203那樣的發(fā)光波形的激 光。即，通過使激光驅(qū)動器32輸出的驅(qū)動電流中包含的直流成分和高頻成分發(fā)生變 化，能夠控制發(fā)光波形。此處，將發(fā)光波形203的峰值功率相對于平均功率的比定義為“HF 調(diào)制度”。此外，后文中“再現(xiàn)功率”表示圖2中的平均功率。分束器33使來自激光二極管31的激光的一部分透過，使另一部分反射導(dǎo)向功率 監(jiān)視器；34。功率監(jiān)視器；34是用于進(jìn)行APC (Automatic Power Control 自動功率控制)驅(qū)動 的光電二極管，通過分束器33檢測從激光二極管31輸出的激光，利用光電轉(zhuǎn)換將檢測到的 激光轉(zhuǎn)換為電信號并輸出到微型計算機(jī)4。偏振分束器35使來自分束器33的激光透過，1/4波片37使來自偏振分束器35的 激光的相位偏移η/2，使偏振方向變化。物鏡38使來自1/4波片37的激光聚集在光盤2 的記錄層上，并將在光盤2的記錄層上反射的激光轉(zhuǎn)換為平行光。在光盤2上反射的激光， 將光盤2的記錄層上寫入的信息保持為光的強(qiáng)度變化。1/4波片37使來自物鏡38的激光的偏振方向變化，偏振分束器35使來自1/4波 片37的激光反射，聚集在探測器36上。探測器36由分割為多個部分的光電二極管構(gòu)成，對來自偏振分束器35的激光進(jìn) 行檢測，利用光電轉(zhuǎn)換將檢測到的激光轉(zhuǎn)換為電信號，輸出到模擬信號處理器5。微型計算機(jī)4對后文所述的伺服信號的波形變動、再現(xiàn)信號的再現(xiàn)性能和光盤2 的再現(xiàn)耐力進(jìn)行測定，確定它們滿足各自的規(guī)格值的HF調(diào)制度和再現(xiàn)功率的范圍，在確定 的范圍內(nèi)決定要使用的HF調(diào)制度和再現(xiàn)功率，對直流電流和/或上述高頻疊加電流進(jìn)行調(diào) 整以使再現(xiàn)功率和HF調(diào)制度成為所決定的值，開始光盤2的再現(xiàn)。之后，微型計算機(jī)4基 于從功率監(jiān)視器34供給的電信號，以維持所決定的再現(xiàn)功率的方式一面進(jìn)行APC驅(qū)動，一 面使激光二極管31照射激光。此外，微型計算機(jī)4基于從數(shù)字信號處理器6供給的伺服信 號，對驅(qū)動物鏡38的致動器(圖未登載)進(jìn)行反饋控制。此外，微型計算機(jī)4具備未圖示 的ATAPI (AT Attachment Packet hterface，異步終端附屬信息包接口)等標(biāo)準(zhǔn)的接口，通 過該接口與個人計算機(jī)等主機(jī)裝置進(jìn)行通信。模擬信號處理器5，基于從探測器36供給的電信號生成再現(xiàn)信號，對于生成的再 現(xiàn)信號進(jìn)行均衡、放大等處理，輸出到數(shù)字信號處理器6。數(shù)字信號處理器6對于由模擬信 號處理器5供給的再現(xiàn)信號，進(jìn)行模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換、均衡、解碼等信號處理，并測定再現(xiàn)信號 的抖動和解碼的數(shù)據(jù)的誤碼率。解碼后的數(shù)據(jù)、再現(xiàn)信號的抖動和數(shù)據(jù)的誤碼率輸出到微 型計算機(jī)4。此外，模擬信號處理器5基于從探測器36供給的電信號，生成聚焦誤差信號、跟蹤 誤差信號(以下稱為TE信號)和擺動(wobble)信號等伺服信號，輸出到數(shù)字信號處理器 6。數(shù)字信號處理器6對從模擬信號處理器5供給的伺服信號的抖動等進(jìn)行測定。此外，伺服信號和伺服信號的抖動，輸出到微型計算機(jī)4。(2)現(xiàn)有的光盤裝置的問題點首先，參照圖3，說明光盤2的反射光在探測器36上聚集時的狀態(tài)。探測器36由 兩個以上的光電二極管301構(gòu)成。當(dāng)來自光盤2的作為再現(xiàn)對象的記錄層的反射光，作為 光斑302投影在光電二極管301上時，探測器36輸出與光盤2的記錄層上的結(jié)構(gòu)和記錄狀 態(tài)相對應(yīng)的電信號。但是，在對多層光盤進(jìn)行記錄再現(xiàn)的情況下，來自作為再現(xiàn)對象的記錄 層以外的記錄層的反射光，也會作為光斑303投影在光電二極管301上。結(jié)果，在單層光盤中，如圖4(A)所示，TE信號中的極大值和極小值，在所有時間中 幾乎是恒定的，但在多層光盤中，如圖4(B)所示，TE信號中的極大值和極小值會發(fā)生變動。 這是因為在探測器36上來自對象層的反射光與來自其它層的反射光發(fā)生干涉而導(dǎo)致。若 產(chǎn)生這樣的波形變動，則不能夠正常進(jìn)行跟蹤，是致使記錄再現(xiàn)性能惡化的重要原因。(3)本實施方式的光盤裝置的動作的概況接著，參照圖5至8，簡單說明光盤裝置1的動作。光盤裝置1，在裝入了光盤2時，按每規(guī)定步長(st印size)的HF調(diào)制度、并按每 規(guī)定步長的再現(xiàn)功率，測定TE信號的波形變動，生成如圖5所示的表示TE信號的波形變動 與再現(xiàn)功率和HF調(diào)制度的關(guān)系的二維圖(map)。TE信號的波形變動，例如用TE信號的各 極大值的標(biāo)準(zhǔn)差、TE信號的各極小值的標(biāo)準(zhǔn)差或者TE信號的各振幅中心的標(biāo)準(zhǔn)差來表示。 此處，線501是TE信號的波形變動為規(guī)格值(例如標(biāo)準(zhǔn)差“A”)的線，線502是波形變動為 不滿足規(guī)格值的值(例如標(biāo)準(zhǔn)差“Α+α ”)的線，線503 506是波形變動為滿足規(guī)格值的 值(例如標(biāo)準(zhǔn)差“Α-α ”、“Α-2α ”、“Α-3α ”、“Α-4α，，)的線。S卩，若增大HF調(diào)制度，則能夠 抑制來自對象層的反射光與來自其他層的反射光的干涉，抑制波形變動。此外，波形變動也 依賴于再現(xiàn)功率。此處，如果以線501的線503 506 —側(cè)的HF調(diào)制度和再現(xiàn)功率輸出激 光，則TE信號的波形變動能夠滿足規(guī)格值。接著，光盤裝置1按每規(guī)定步長的HF調(diào)制度、并按每規(guī)定步長的再現(xiàn)功率，測定再 現(xiàn)信號的再現(xiàn)性能，生成如圖6所示的表示再現(xiàn)信號的再現(xiàn)性能與再現(xiàn)功率和HF調(diào)制度的 關(guān)系的二維圖。再現(xiàn)信號的再現(xiàn)性能，例如用再現(xiàn)信號的抖動或者誤碼率來表示。此處，線 601是再現(xiàn)信號的再現(xiàn)性能為規(guī)格值(例如抖動Β[%])的線，線602、603是再現(xiàn)性能為不 滿足規(guī)格值的值(例如抖動Β+β [%],Β+2β [% ])的線，線604、605是再現(xiàn)性能為滿足規(guī) 格值的值(例如抖動Β-β ]、Β-2β ])的線。即，若增大HF調(diào)制度，則能夠通過抑 制返回光的影響而降低激光噪聲，提高再現(xiàn)性能。此外，若增大再現(xiàn)功率，則信號振幅增大， 能夠提高再現(xiàn)性能。此處，如果以線601的線604、605 —側(cè)的HF調(diào)制度和再現(xiàn)功率輸出激 光，則再現(xiàn)信號的再現(xiàn)性能能夠滿足規(guī)格值。之后，光盤裝置1按每規(guī)定步長的HF調(diào)制度、并按每規(guī)定步長的再現(xiàn)功率，測定光 盤2的再現(xiàn)耐力，生成如圖7所示的表示光盤2的再現(xiàn)耐力與再現(xiàn)功率和HF調(diào)制度的關(guān)系 的二維圖。再現(xiàn)耐力例如是在光盤2的規(guī)定的記錄區(qū)域中再現(xiàn)規(guī)定次數(shù)后的再現(xiàn)信號的再 現(xiàn)性能的劣化量。此處，線701是再現(xiàn)耐力為規(guī)格值(例如抖動的劣化量C[%])的線，線 702是再現(xiàn)耐力為不滿足規(guī)格值的值(例如抖動的劣化量C+γ [% ])的線，線703 705 是再現(xiàn)耐力取得滿足規(guī)格值的值(例如抖動的劣化量C- γ ]、C-2 γ ]、C-3 γ ]) 的線。即，再現(xiàn)耐力隨著再現(xiàn)功率和HF調(diào)制度的增大而減少。這是因為對光盤2的記錄層施加的熱量會增大。此處，如果以線701的線703 705 —側(cè)的HF調(diào)制度和再現(xiàn)功率輸出 激光，則光盤2的再現(xiàn)耐力能夠滿足規(guī)格值。然后，光盤裝置1確定TE信號的波形變動、再現(xiàn)信號的再現(xiàn)性能和光盤2的再現(xiàn) 耐力滿足各規(guī)格值的范圍，即如圖8所示的線501、601、701包圍的范圍，在確定的范圍內(nèi)決 定再現(xiàn)功率和HF調(diào)制度，以所決定的HF調(diào)制度和再現(xiàn)功率進(jìn)行再現(xiàn)。在能夠取得多個HF 調(diào)制度的值或者多個再現(xiàn)功率的值的情況下，例如以耗電量最小的方式?jīng)Q定HF調(diào)制度和 再現(xiàn)功率。另一方面，如果不存在滿足規(guī)格值的范圍，則中止再現(xiàn)。這樣，光盤裝置1能夠以TE信號的波形變動、再現(xiàn)信號的再現(xiàn)性能和光盤2的再 現(xiàn)耐力滿足各規(guī)格值的最佳HF調(diào)制度和再現(xiàn)功率進(jìn)行再現(xiàn)。(4)光盤裝置中的具體處理(4-1)再現(xiàn)功率和HF調(diào)制度決定處理此處，參照圖9，說明光盤裝置1決定再現(xiàn)功率和HF調(diào)制度的再現(xiàn)功率和HF調(diào)制 度決定處理。首先，微型計算機(jī)4在檢測到光盤2裝入了光盤裝置1的情況下(SPl)，以初始再 現(xiàn)功率和初始HF調(diào)制度使激光二極管31發(fā)光(SP2)。此處，初始再現(xiàn)功率可以是在能夠進(jìn)行聚焦和跟蹤的伺服控制，并且能夠測定再 現(xiàn)性能的范圍中較小的值，例如對于多層光盤來說為1. OmW，也可以是記錄在光盤上的推薦 再現(xiàn)功率。初始HF調(diào)制度也同樣為較小的值，例如為調(diào)制度1即可。這表示不疊加高頻電 流，僅以直流電流發(fā)光。通過以這樣的條件進(jìn)行再現(xiàn)，能夠抑制記錄在光盤上的信息被破壞 的可能性。接著，微型計算機(jī)4開始聚焦伺服的控制(SP;3)，進(jìn)行波形變動測定處理(SP4)，用 于得到如圖5所示的波形變動對于再現(xiàn)功率和HF調(diào)制度的二維圖。其中，關(guān)于波形變動測 定處理將在后文中詳細(xì)敘述。然后，微型計算機(jī)4再次將再現(xiàn)條件設(shè)定為初始再現(xiàn)功率和初始HF調(diào)制度(SP5)， 驅(qū)動未圖示的致動器使物鏡38移動，使激光的在光盤2的記錄層上的光斑位置移動到記錄 區(qū)域，開始跟蹤伺服的控制(SP6)。微型計算機(jī)4，進(jìn)行再現(xiàn)性能測定處理(SP7)，用于得到如圖6所示的再現(xiàn)性能對 于再現(xiàn)功率和HF調(diào)制度的二維圖。其中，關(guān)于再現(xiàn)性能測定處理將在后文中詳細(xì)敘述。微型計算機(jī)4，進(jìn)行再現(xiàn)耐力測定處理(SP8)，用于得到如圖7所示的再現(xiàn)耐力對 于再現(xiàn)功率和HF調(diào)制度的二維圖。其中，關(guān)于再現(xiàn)耐力測定處理將在后文中詳細(xì)敘述。微型計算機(jī)4使用步驟SP4、SP7、SP8中得到的二維圖，決定滿足波形變動、再現(xiàn)性 能、再現(xiàn)耐力的規(guī)格的再現(xiàn)功率和HF調(diào)制度(SP9)，并對直流電流和/或上述高頻疊加電流 的電流值進(jìn)行調(diào)整，以使再現(xiàn)功率和HF調(diào)制度成為所決定的值，開始光盤2的再現(xiàn)(SPlO)， 結(jié)束處理。(4-2)波形變動測定處理此處，參照圖10，說明得到波形變動對于再現(xiàn)功率和HF調(diào)制度的二維圖的波形變 動測定處理(SP4)。微型計算機(jī)4從規(guī)定的范圍以預(yù)先決定的步長依次選擇再現(xiàn)功率(SPll)，從規(guī)定 的范圍以預(yù)先決定的步長依次選擇HF調(diào)制度(SP12)，以所選擇的再現(xiàn)功率和HF調(diào)制度測定跟蹤誤差信號的波形變動(SP13)，并判別是否已經(jīng)以規(guī)定范圍內(nèi)的各HF調(diào)制度測定了 波形變動(SP14)。步驟SP14中，如果得到否定結(jié)果，則返回步驟SP12。步驟SP14中，如果得到肯定結(jié)果，則微型計算機(jī)4判別是否已經(jīng)以規(guī)定范圍內(nèi)的 各再現(xiàn)功率測定了波形變動(SP15)。步驟SP15中，如果得到否定結(jié)果，則返回步驟SP11。 步驟SP15中，如果得到肯定結(jié)果，則結(jié)束處理。這樣，在每次使再現(xiàn)功率或HF調(diào)制度變化規(guī)定的步長時，測定跟蹤誤差信號的波 形變動，得到波形變動對于再現(xiàn)功率和HF調(diào)制度的二維圖。(4-3)再現(xiàn)性能測定處理此處，參照圖11，說明得到再現(xiàn)性能對于再現(xiàn)功率和HF調(diào)制度的二維圖的波形變 動測定處理(SP7)。微型計算機(jī)4，從規(guī)定的范圍以預(yù)先決定的步長依次選擇再現(xiàn)功率(SP21)，從規(guī) 定的范圍以預(yù)先決定的步長依次選擇HF調(diào)制度(SP22)，以所選擇的再現(xiàn)功率和HF調(diào)制度 測定再現(xiàn)信號的再現(xiàn)性能(SP23)，并判別是否已經(jīng)以規(guī)定范圍內(nèi)的各HF調(diào)制度測定了再 現(xiàn)性能(SP24)。步驟SPM中，如果得到否定結(jié)果，則返回步驟SP22。步驟SPM中，如果得到肯定結(jié)果，則微型計算機(jī)4判別是否已經(jīng)以規(guī)定范圍內(nèi)的 各再現(xiàn)功率測定了波形變動(SP25)。步驟SP25中，如果得到否定結(jié)果，則返回步驟SP21。 步驟SP25中，如果得到肯定結(jié)果，則結(jié)束處理。這樣，在每次使再現(xiàn)功率或HF調(diào)制度變化規(guī)定的步長時，測定再現(xiàn)信號的再現(xiàn)性 能，得到再現(xiàn)性能對于再現(xiàn)功率和HF調(diào)制度的二維圖。(4-4)再現(xiàn)耐力測定處理此處，參照圖12，說明得到再現(xiàn)耐力對于再現(xiàn)功率和HF調(diào)制度的二維圖的再現(xiàn)耐 力測定處理(SP8)。微型計算機(jī)4，從規(guī)定的范圍以預(yù)先決定的步長依次選擇再現(xiàn)功率(SP31)，從規(guī) 定的范圍以預(yù)先決定的步長順序選擇HF調(diào)制度(SP32)，例如，對于多層光盤來說，使再現(xiàn) 功率從初始再現(xiàn)功率每次增大0. 2mW直到增大lmW，使HF調(diào)制度從初始HF調(diào)制度每次增大 0.5直到調(diào)制度4。該步長按每種光盤預(yù)先決定。微型計算機(jī)4移動物鏡38，使激光的焦點位置移動到未被再現(xiàn)耐力測定處理使用 的記錄區(qū)域(SP3!3)。接著，微型計算機(jī)4以初始再現(xiàn)功率和初始HF調(diào)制度測定再現(xiàn)性能 (SP34)。之后，微型計算機(jī)4以所選擇的再現(xiàn)功率和HF調(diào)制度對光盤2上的同一區(qū)域反復(fù) 規(guī)定次數(shù)進(jìn)行再現(xiàn)(SP3Q。規(guī)定次數(shù)例如是500次等，但也可以根據(jù)在啟動中確保的時間 來決定。微型計算機(jī)4再次以初始再現(xiàn)功率和初始HF調(diào)制度測定再現(xiàn)性能(SP36)，計算 SP34和SP36中測定的再現(xiàn)性能的劣化量(再現(xiàn)耐力)(SP37)。微型計算機(jī)4判別是否已 經(jīng)以規(guī)定范圍內(nèi)的各HF調(diào)制度測定了再現(xiàn)性能(SP38)。步驟SP38中，如果得到否定結(jié)果， 則返回步驟SP32。步驟SP38中，如果得到肯定結(jié)果，則微型計算機(jī)4判別是否已經(jīng)以規(guī)定范圍內(nèi)的 各再現(xiàn)功率測定了波形變動(SP39)。步驟SP39中，如果得到否定結(jié)果，則返回步驟SP31。 步驟SP39中，如果得到肯定結(jié)果，則結(jié)束處理。
這樣，在每次使再現(xiàn)功率或HF調(diào)制度變化規(guī)定的步長時，測定光盤2的再現(xiàn)耐力，得到光盤2的再現(xiàn)耐力對于再現(xiàn)功率和HF調(diào)制度的的二維圖。以上，本實施方式的光盤裝置1，通過使再現(xiàn)功率和HF調(diào)制度根據(jù)光盤2動態(tài)地變 化，能夠抑制波形變動，確保再現(xiàn)耐力，同時得到良好的再現(xiàn)性能。(5)其他實施方式其中，上述實施方式中，為了測定波形變動，使用了 TE信號，但是也可以使用再現(xiàn) 信號。該情況下，也可以在測定再現(xiàn)信號的再現(xiàn)性能的同時測定波形變動。此外，上述實施方式中，使用再現(xiàn)信號作為再現(xiàn)性能的指標(biāo)，但是也可以使用擺動信號。此外，上述實施方式中，按每規(guī)定步長的HF調(diào)制度、每規(guī)定步長的再現(xiàn)功率，測定 波形變動等，但也可以使HF調(diào)制度和再現(xiàn)功率的某一個為固定值，僅使另一個按每規(guī)定的 步長變化，測定波形變動等。此外，上述實施方式中，按每種HF調(diào)制度測定波形變動等，但是也可以按每種高 頻疊加電流的振幅測定波形變動等，也可以按每種HF頻率測定波形變動等。此外，上述實施方式中，測定了波形變動、再現(xiàn)性能和再現(xiàn)耐力，但也可以僅測定 其中的一個或兩個。該情況下，對于不測定的指標(biāo)，可以在光盤裝置設(shè)計時預(yù)先測定。此外，上述實施方式中，在光盤裝入時決定HF調(diào)制度和再現(xiàn)功率，但是在根據(jù)光 盤的半徑等以多種再現(xiàn)速度進(jìn)行再現(xiàn)的情況下，也可以在每次變更再現(xiàn)速度時決定HF調(diào) 制度和再現(xiàn)功率。這是因為，在再現(xiàn)性能和再現(xiàn)耐力根據(jù)再現(xiàn)速度的變化而變化的情況下， 最佳再現(xiàn)功率和HF調(diào)制度也會不同。此外，再現(xiàn)多層光盤的情況下，也可以在每次對要再現(xiàn)的記錄層進(jìn)行變更時，決定 HF調(diào)制度和再現(xiàn)功率。這是因為，當(dāng)波形變動、再現(xiàn)性能和再現(xiàn)耐力因記錄層的不同而不同 時，最佳再現(xiàn)功率和HF調(diào)制度也會不同。此外，在測定再現(xiàn)耐力時，因為存在使記錄的數(shù)據(jù)劣化的可能性，所以也可以在 OPC區(qū)域等即使使數(shù)據(jù)劣化也不會造成問題的區(qū)域進(jìn)行測定。此外，傾斜和聚焦調(diào)整等對于再現(xiàn)功率和HF條件幾乎沒有依賴性的動作，也可以 在再現(xiàn)功率和HF調(diào)制度的決定處理前進(jìn)行。該情況下，只要用初始再現(xiàn)功率和初始HF調(diào) 制度進(jìn)行調(diào)整即可。對于增益調(diào)整等依賴于再現(xiàn)功率的動作，可以在再現(xiàn)功率與HF條件的 調(diào)整前后進(jìn)行。此外，上述實施方式中，應(yīng)用于記錄有信息的光盤2，在應(yīng)用于未記錄信息的光盤 2的情況下，需要在再現(xiàn)功率和HF調(diào)制度的調(diào)整前對光盤2進(jìn)行信息記錄。此外，上述實施方式中，在測定再現(xiàn)耐力時，以規(guī)定的步長依次按每個再現(xiàn)功率測 定再現(xiàn)性能的劣化量，但因為再現(xiàn)功率較低的區(qū)域劣化量較小，有時難以測定，所以也可以 如圖13所示，通過擬合來預(yù)測劣化量。圖13的例子中，基于測定點707進(jìn)行擬合，計算出 近似曲線708，由此能夠預(yù)測較低再現(xiàn)功率下的劣化量。此外，上述實施方式中，在光拾取器3上分離地搭載激光二極管31和功率監(jiān)視器 34，但也可以在光拾取器上搭載封裝有功率監(jiān)視器、將檢測出的功率輸出到微型計算機(jī)101 的激光二極管。該情況下，能夠?qū)崿F(xiàn)省空間化，并且控制變得容易。此外，也可以將微型計 算機(jī)101和激光驅(qū)動器102、模擬信號處理器111、數(shù)字信號處理器112中的兩個以上的模 塊合并為一個。
本發(fā)明能夠應(yīng)用于符合BD標(biāo)準(zhǔn)、DVD標(biāo)準(zhǔn)、⑶標(biāo)準(zhǔn)或此外的標(biāo)準(zhǔn)的光盤裝置。
權(quán)利要求
1.一種光盤裝置，其使從激光光源射出的激光在光盤上反射，用光電二極管將反射的 反射光檢測為電信號，根據(jù)檢測出的電信號生成伺服信號或再現(xiàn)信號，該光盤裝置的特征 在于，包括激光驅(qū)動器，其在直流電流上疊加高頻電流作為驅(qū)動電流向所述激光光源供給，并驅(qū) 動該激光光源；和控制部，其基于所述伺服信號或再現(xiàn)信號，對由所述激光驅(qū)動器向所述激光光源供給 的所述直流電流和/或所述高頻疊加電流的電流值進(jìn)行調(diào)整，其中 所述控制部，對所述直流電流和/或所述高頻疊加電流的電流值進(jìn)行調(diào)整，以使表示所述伺服信 號或再現(xiàn)信號的波形變動的值滿足波形變動的規(guī)格值，表示所述再現(xiàn)信號的再現(xiàn)性能的值 滿足再現(xiàn)性能的規(guī)格值，并且表示所述光盤對于所述激光的耐久性能的值滿足耐久性能的 規(guī)格值。
2.如權(quán)利要求1所述的光盤裝置，其特征在于 所述控制部，對所述伺服信號或再現(xiàn)信號的波形的極大值和極小值進(jìn)行檢測， 測定所述極大值和極小值的變動量或振幅中心的變動量，作為表示所述伺服信號或再 現(xiàn)信號的波形變動的值，對所述直流電流和/或所述高頻疊加電流的電流值進(jìn)行調(diào)整，以使所測定的值滿足其 規(guī)格值。
3.如權(quán)利要求1所述的光盤裝置，其特征在于 所述控制部，對所述再現(xiàn)信號的抖動、誤碼率和振幅中的至少一個進(jìn)行測定，作為表示所述再現(xiàn)信 號的再現(xiàn)性能的值，對所述直流電流和/或所述高頻疊加電流的電流值進(jìn)行調(diào)整，以使所測定的值滿足其 規(guī)格值。
4.如權(quán)利要求1所述的光盤裝置，其特征在于 所述控制部，對將所述光盤再現(xiàn)規(guī)定次數(shù)后的所述再現(xiàn)信號的抖動、誤碼率和振幅中的至少一個的 變化量進(jìn)行測定，作為表示所述光盤對于所述激光的耐久性能的值，對所述直流電流和/或所述高頻疊加電流的電流值進(jìn)行調(diào)整，以使所測定的值滿足其 規(guī)格值。
5.如權(quán)利要求1所述的光盤裝置，其特征在于 所述控制部，使所述驅(qū)動電流的平均功率和作為平均功率與所述驅(qū)動電流的峰值功率的比的驅(qū)動 電流調(diào)制度分別變化，按每次變化測定表示所述伺服信號或再現(xiàn)信號的波形變動的值，表 示所述再現(xiàn)信號的再現(xiàn)性能的值，或者表示所述光盤對于所述激光的耐久性能的值，確定表示所述波形變動的值滿足其規(guī)格值，表示所述再現(xiàn)性能的值滿足其規(guī)格值，并 且表示所述光盤對于所述激光的耐久性能的值滿足其規(guī)格值的所述平均功率和所述驅(qū)動 電流調(diào)制度的范圍，對所述直流電流和/或所述高頻疊加電流的電流值進(jìn)行調(diào)整，以使所述平均功率和所 述驅(qū)動電流調(diào)制度處于所確定的所述范圍內(nèi)。
6.如權(quán)利要求1所述的光盤裝置，其特征在于所述控制部，對所述直流電流和/或所述高頻疊加電流的電流值進(jìn)行調(diào)整，以使所述 驅(qū)動電流的耗電量變得最小。
7.如權(quán)利要求1所述的光盤裝置，其特征在于所述控制部，當(dāng)不存在表示所述伺服信號或再現(xiàn)信號的波形變動的值滿足波形變動的 規(guī)格值，表示所述再現(xiàn)信號的再現(xiàn)性能的值滿足再現(xiàn)性能的規(guī)格值，并且表示所述光盤對 于所述激光的耐久性能的值滿足耐久性能的規(guī)格值的條件的情況下，中止再現(xiàn)。
8.如權(quán)利要求1所述的光盤裝置，其特征在于所述控制部，在每次對再現(xiàn)所述光盤的速度進(jìn)行變更時，調(diào)整所述直流電流值和/或 所述高頻疊加電流值。
9.如權(quán)利要求1所述的光盤裝置，其特征在于所述控制部，在每次對要再現(xiàn)的所述光盤上的記錄層進(jìn)行變更時，調(diào)整所述直流電流 值和/或所述高頻疊加電流值。
全文摘要
本發(fā)明提供一種能夠?qū)Ⅱ?qū)動激光二極管的直流電流和高頻疊加電流的電流值調(diào)整為最佳的光盤裝置。光盤裝置中，具備激光驅(qū)動器，其在直流電流上疊加高頻電流作為驅(qū)動電流向上述激光光源供給，并驅(qū)動該激光光源；和控制部，其基于上述伺服信號或再現(xiàn)信號，對由上述激光驅(qū)動器向上述激光光源供給的上述直流電流和/或上述高頻疊加電流的電流值進(jìn)行調(diào)整，其中，上述控制部，對上述直流電流和/或上述高頻疊加電流的電流值進(jìn)行調(diào)整，以使表示上述伺服信號或再現(xiàn)信號的波形變動的值滿足波形變動的規(guī)格值，表示上述再現(xiàn)信號的再現(xiàn)性能的值滿足再現(xiàn)性能的規(guī)格值，并且表示上述光盤對于上述激光的耐久性能的值滿足耐久性能的規(guī)格值。
文檔編號G11B7/13GK102054493SQ201010536608
公開日2011年5月11日 申請日期2010年11月4日 優(yōu)先權(quán)日2009年11月6日
發(fā)明者鹽澤學(xué) 申請人:日立樂金資料儲存股份有限公司, 日立民用電子株式會社