專利名稱：閃存器件測(cè)試方法、裝置及板卡和網(wǎng)絡(luò)設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及數(shù)據(jù)存儲(chǔ)技術(shù)領(lǐng)域，尤指一種閃存器件測(cè)試方法、裝置及板卡和網(wǎng) 絡(luò)設(shè)備。
背景技術(shù)：
設(shè)備單板在出產(chǎn)前一般都需要進(jìn)行一系列的生產(chǎn)測(cè)試，這其中就包括對(duì)單板上 的閃存(flash)器件進(jìn)行讀寫(xiě)測(cè)試，而單板上的flash—般用于存儲(chǔ)包括單板軟件在內(nèi)的 單板文件。如果在測(cè)試時(shí)單板斷電或異常重啟且沒(méi)有做好數(shù)據(jù)備份，將可能導(dǎo)致測(cè)試 后flash中的數(shù)據(jù)被破壞，即導(dǎo)致單板上的軟件不可用或者更為嚴(yán)重導(dǎo)致單板文件系統(tǒng)異 常。那么這種情況下就需要重新下載單板軟件后重新進(jìn)行flash測(cè)試，導(dǎo)致測(cè)試效率低 下。
因此，針對(duì)flash進(jìn)行測(cè)試時(shí)一般需要確保在測(cè)試過(guò)程中不能斷電或異常重啟的 現(xiàn)狀，一般通過(guò)對(duì)軟件的改進(jìn)達(dá)到降低在進(jìn)行flash測(cè)試時(shí)系統(tǒng)發(fā)生異常重啟的概率，而 斷電重啟一般很難通過(guò)對(duì)設(shè)備的改進(jìn)來(lái)保障。
且由于flash器件較為特殊，它的讀寫(xiě)無(wú)法像同步動(dòng)態(tài)隨機(jī)存儲(chǔ)器Synchronous Dynamic Random Access Memory, SDRAM)等存儲(chǔ)器那樣可以隨意寫(xiě)入，如果需要對(duì)flash進(jìn)行寫(xiě)操作，需要將對(duì)應(yīng)的整塊flash擦除后再將數(shù)據(jù)寫(xiě)入，flash本身的讀寫(xiě)速度 又比較慢，導(dǎo)致其測(cè)試需要占用相當(dāng)長(zhǎng)的時(shí)間，且一般的測(cè)試模型需要盡量覆蓋故障模 型，在進(jìn)行flash存儲(chǔ)空間測(cè)試時(shí)一般都不是只對(duì)測(cè)試空間進(jìn)行一次遍歷讀寫(xiě)，遍歷讀寫(xiě) 的次數(shù)越多或者flash容量越大，則測(cè)試所需時(shí)間就越長(zhǎng)，有的甚至達(dá)數(shù)小時(shí)，在這么長(zhǎng) 的測(cè)試時(shí)間內(nèi)需要確保單板不斷電比較困難，特別是在生產(chǎn)測(cè)試過(guò)程中，一般都是自動(dòng) 化測(cè)試，即單板上電后不會(huì)有專門人員全程監(jiān)控，而如果考慮到某些單板功耗較大，那 要確保在測(cè)試過(guò)程中不掉電就更加困難了。
因此，現(xiàn)有技術(shù)中難以保證單板測(cè)試過(guò)程中不發(fā)生斷電或異常重啟，在對(duì)flash 進(jìn)行測(cè)試時(shí)，若發(fā)生單板斷電或異常重啟時(shí)，則會(huì)使單板flash上的數(shù)據(jù)被破壞，導(dǎo)致單 板上的軟件不可用或者更為嚴(yán)重導(dǎo)致單板文件系統(tǒng)異常，從而需要重新下載單板軟件且 重新進(jìn)行flash測(cè)試，導(dǎo)致測(cè)試效率低下。可見(jiàn)，現(xiàn)有的測(cè)試方式，一般都不能有效地防 止因斷電或異常重啟導(dǎo)致的數(shù)據(jù)破壞，在重新啟動(dòng)后也不能及時(shí)、正確的恢復(fù)數(shù)據(jù)。發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明實(shí)施例提供一種閃存器件測(cè)試方法、裝置及板卡和網(wǎng)絡(luò)設(shè)備，用以解決 現(xiàn)有技術(shù)中存在閃存器件測(cè)試過(guò)程中斷電或異常重啟導(dǎo)致數(shù)據(jù)破壞，需要下載數(shù)據(jù)重新 測(cè)試，測(cè)試效率低的問(wèn)題。
—種閃存器件測(cè)試方法，包括
在閃存器件中預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)備份區(qū)、測(cè)試結(jié)果區(qū)和可用存儲(chǔ)區(qū)，將可用存儲(chǔ)區(qū)劃分 為若干測(cè)試區(qū)域；對(duì)每個(gè)所述測(cè)試區(qū)域進(jìn)行測(cè)試的過(guò)程包括
將當(dāng)前測(cè)試區(qū)域的數(shù)據(jù)備份至數(shù)據(jù)備份區(qū)，并更新測(cè)試結(jié)果區(qū)中的當(dāng)前測(cè)試區(qū) 域的起始地址以及更新數(shù)據(jù)恢復(fù)標(biāo)識(shí)為未恢復(fù)標(biāo)識(shí)；對(duì)當(dāng)前測(cè)試區(qū)域進(jìn)行測(cè)試后，將數(shù) 據(jù)備份區(qū)中的數(shù)據(jù)恢復(fù)至當(dāng)前測(cè)試區(qū)域，并更新所述數(shù)據(jù)恢復(fù)標(biāo)識(shí)為已恢復(fù)標(biāo)識(shí)。
一種閃存器件測(cè)試裝置，包括測(cè)試控制模塊、預(yù)處理模塊、測(cè)試模塊和后處 理模塊；
所述測(cè)試控制模塊，用于控制所述預(yù)處理模塊對(duì)閃存器件中的可用存儲(chǔ)區(qū)劃分 出的測(cè)試區(qū)域依次進(jìn)行測(cè)試；
所述預(yù)處理模塊，用于將當(dāng)前測(cè)試區(qū)域的數(shù)據(jù)備份至閃存器件中預(yù)設(shè)的數(shù)據(jù)備 份區(qū)，并更新閃存器件中預(yù)設(shè)的測(cè)試結(jié)果區(qū)中的當(dāng)前測(cè)試區(qū)域的起始地址以及更新數(shù)據(jù) 恢復(fù)標(biāo)識(shí)為未恢復(fù)標(biāo)識(shí)，并指示所述測(cè)試模塊開(kāi)始測(cè)試；
所述測(cè)試模塊，用于根據(jù)預(yù)處理模塊的指示對(duì)當(dāng)前測(cè)試區(qū)域進(jìn)行測(cè)試；
所述后處理模塊，用于所述測(cè)試模塊對(duì)當(dāng)前測(cè)試區(qū)域進(jìn)行測(cè)試后，將數(shù)據(jù)備份 區(qū)中的數(shù)據(jù)恢復(fù)至當(dāng)前測(cè)試區(qū)域，并更新所述數(shù)據(jù)恢復(fù)標(biāo)識(shí)為已恢復(fù)標(biāo)識(shí)。
一種板卡，包括閃存器件和上述的閃存器件測(cè)試裝置。
所述閃存器件中預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)備份區(qū)、測(cè)試結(jié)果區(qū)和可用存儲(chǔ)區(qū)，所述可用存儲(chǔ)區(qū) 劃分為若干測(cè)試區(qū)域。
一種網(wǎng)絡(luò)設(shè)備，包括上述的閃存器件測(cè)試裝置、板卡；所述板卡上設(shè)置閃存 器件；
所述閃存器件中預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)備份區(qū)、測(cè)試結(jié)果區(qū)和可用存儲(chǔ)區(qū)，所述可用存儲(chǔ)區(qū) 劃分為若干測(cè)試區(qū)域。
本發(fā)明有益效果如下
本發(fā)明實(shí)施例提供的閃存器件測(cè)試方法、裝置及板卡和網(wǎng)絡(luò)設(shè)備，在閃存器件 中預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)備份區(qū)和測(cè)試結(jié)果區(qū)，將閃存器件劃分為若干測(cè)試區(qū)域，在對(duì)測(cè)試區(qū)域進(jìn)行 測(cè)試時(shí)，先將當(dāng)前測(cè)試區(qū)域的數(shù)據(jù)備份至數(shù)據(jù)備份區(qū)，并更新測(cè)試結(jié)果區(qū)中的當(dāng)前測(cè)試 區(qū)域的起始地址以及更新數(shù)據(jù)恢復(fù)標(biāo)識(shí)為未恢復(fù)標(biāo)識(shí)；對(duì)當(dāng)前測(cè)試區(qū)域進(jìn)行測(cè)試后，將 數(shù)據(jù)備份區(qū)中的數(shù)據(jù)恢復(fù)至當(dāng)前測(cè)試區(qū)域，并更新所述數(shù)據(jù)恢復(fù)標(biāo)識(shí)為已恢復(fù)標(biāo)識(shí)。使 得閃存器件即使在測(cè)試過(guò)程中發(fā)生重啟，也可以正確、有效的恢復(fù)出測(cè)試區(qū)域的數(shù)據(jù)， 避免數(shù)據(jù)丟失，保證閃存器件的正常重啟，即能夠保證在閃存器件測(cè)試時(shí)，即使出現(xiàn)重 啟也不會(huì)破壞閃存器件中的數(shù)據(jù)，不會(huì)導(dǎo)致閃存器件的系統(tǒng)故障；在重啟后，還可以確 定出閃存器件重啟前測(cè)試到的測(cè)試區(qū)域，以便從重啟前測(cè)試到的位置繼續(xù)進(jìn)行測(cè)試，不 僅保證了閃存器件測(cè)試的健壯性，也極大提高了測(cè)試效率。


圖1為本發(fā)明實(shí)施例中閃存器件測(cè)試方法的總體流程圖2為本發(fā)明實(shí)施例中閃存器件分區(qū)測(cè)試的流程圖3為本發(fā)明實(shí)施例中單個(gè)測(cè)試區(qū)域的測(cè)試流程圖4為本發(fā)明實(shí)施例中重啟時(shí)的數(shù)據(jù)恢復(fù)流程圖5為本發(fā)明實(shí)施例中重啟時(shí)繼續(xù)測(cè)試的流程圖6為本發(fā)明實(shí)施例中閃存器件測(cè)試裝置的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式
本發(fā)明實(shí)施例提供的閃存器件測(cè)試方法，其總體流程如圖1所示，執(zhí)行步驟如 下
步驟Sll:在閃存器件中預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)備份區(qū)、測(cè)試結(jié)果區(qū)和可用存儲(chǔ)區(qū)，并將可 用存儲(chǔ)區(qū)劃分為若干測(cè)試區(qū)域。
其中，數(shù)據(jù)備份區(qū)用于存儲(chǔ)當(dāng)前測(cè)試區(qū)域的數(shù)據(jù)，測(cè)試結(jié)果區(qū)用于記錄當(dāng)前 測(cè)試區(qū)域的起始地址、表征數(shù)據(jù)備份區(qū)中的數(shù)據(jù)是否已經(jīng)恢復(fù)的數(shù)據(jù)恢復(fù)標(biāo)識(shí)；此 外，還可以存儲(chǔ)用于對(duì)當(dāng)前測(cè)試區(qū)域的數(shù)據(jù)進(jìn)行正確性校驗(yàn)的循環(huán)冗余校驗(yàn)碼(Cyclic Redundancy Check, CRC)校驗(yàn)值，以及已測(cè)試的測(cè)試區(qū)域的測(cè)試結(jié)果，例如詳細(xì)的錯(cuò)誤碼等。
優(yōu)選的，測(cè)試結(jié)果區(qū)可以包括測(cè)試結(jié)果主區(qū)和測(cè)試結(jié)果備區(qū)。當(dāng)測(cè)試結(jié)果主區(qū) 或測(cè)試結(jié)果備區(qū)中存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)發(fā)生變化時(shí)，相應(yīng)的，測(cè)試結(jié)果備區(qū)或測(cè)試結(jié)果主區(qū)隨之 動(dòng)態(tài)更新。測(cè)試結(jié)果主區(qū)與測(cè)試結(jié)果備區(qū)保存的數(shù)據(jù)互為備份。
例如以測(cè)試區(qū)域(一個(gè)測(cè)試區(qū)域包含至少一個(gè)塊)為單位對(duì)flash進(jìn)行測(cè)試。 首先預(yù)留數(shù)據(jù)備份區(qū)、測(cè)試結(jié)果主區(qū)和測(cè)試結(jié)果備區(qū)，當(dāng)然，若有其他需求，也可以預(yù) 先預(yù)留相應(yīng)的區(qū)域。一般預(yù)留的數(shù)據(jù)備份區(qū)、測(cè)試結(jié)果主區(qū)和測(cè)試結(jié)果備區(qū)不進(jìn)行測(cè) 試，因此，閃存器件中需要?jiǎng)澐譁y(cè)試區(qū)域的是預(yù)留之后剩下的可用存儲(chǔ)區(qū)。假設(shè)每塊大 小為U8K，則預(yù)留的數(shù)據(jù)備份區(qū)、測(cè)試結(jié)果主區(qū)和測(cè)試結(jié)果備區(qū)至少為U8K。此時(shí)， 閃存器件的存儲(chǔ)空間結(jié)構(gòu)如下表1所示
表 權(quán)利要求
1.一種閃存器件測(cè)試方法，其特征在于，包括在閃存器件中預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)備份區(qū)、測(cè)試結(jié)果區(qū)和可用存儲(chǔ)區(qū)，將可用存儲(chǔ)區(qū)劃分為若 干測(cè)試區(qū)域；對(duì)每個(gè)所述測(cè)試區(qū)域進(jìn)行測(cè)試的過(guò)程包括將當(dāng)前測(cè)試區(qū)域的數(shù)據(jù)備份至數(shù)據(jù)備份區(qū)，并更新測(cè)試結(jié)果區(qū)中的當(dāng)前測(cè)試區(qū)域的 起始地址以及更新數(shù)據(jù)恢復(fù)標(biāo)識(shí)為未恢復(fù)標(biāo)識(shí)；對(duì)當(dāng)前測(cè)試區(qū)域進(jìn)行測(cè)試后，將數(shù)據(jù)備 份區(qū)中的數(shù)據(jù)恢復(fù)至當(dāng)前測(cè)試區(qū)域，并更新所述數(shù)據(jù)恢復(fù)標(biāo)識(shí)為已恢復(fù)標(biāo)識(shí)。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，還包括閃存器件重啟時(shí)，根據(jù)測(cè)試結(jié)果區(qū)的數(shù)據(jù)恢復(fù)標(biāo)識(shí)確定數(shù)據(jù)備份區(qū)的數(shù)據(jù)是否已恢 復(fù)；當(dāng)未恢復(fù)時(shí)，從所述數(shù)據(jù)備份區(qū)中恢復(fù)數(shù)據(jù)至所述測(cè)試結(jié)果區(qū)中存儲(chǔ)的起始地址對(duì) 應(yīng)的當(dāng)前測(cè)試區(qū)域中；重啟完成后，從所述當(dāng)前測(cè)試區(qū)域的起始地址對(duì)應(yīng)的測(cè)試區(qū)域繼 續(xù)進(jìn)行測(cè)試。
3.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在測(cè)試完一個(gè)測(cè)試區(qū)域時(shí)，還包括獲取下一個(gè)測(cè)試區(qū)域的起始地址，當(dāng)獲取到的起始地址不小于閃存器件的最大存儲(chǔ)地址時(shí)或獲取到的起始地址對(duì)應(yīng)的測(cè)試區(qū)域的標(biāo)識(shí)號(hào)不小于劃分出的測(cè)試區(qū)域的最大標(biāo) 識(shí)號(hào)時(shí)，確認(rèn)已經(jīng)測(cè)試完所有的測(cè)試區(qū)域。
4.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，對(duì)當(dāng)前測(cè)試區(qū)域進(jìn)行測(cè)試前，還包括 在測(cè)試結(jié)果區(qū)中寫(xiě)入當(dāng)前測(cè)試區(qū)域的數(shù)據(jù)的CRC校驗(yàn)值；當(dāng)將數(shù)據(jù)備份區(qū)中的數(shù)據(jù)恢復(fù)到當(dāng)前測(cè)試區(qū)域中時(shí)，還包括使用所述CRC校驗(yàn)值 進(jìn)行數(shù)據(jù)正確性校驗(yàn)。
5.如權(quán)利要求1-4任一所述的方法，其特征在于，所述測(cè)試結(jié)果區(qū)包括測(cè)試結(jié)果主區(qū) 和測(cè)試結(jié)果備區(qū)；所述更新測(cè)試結(jié)果區(qū)中的當(dāng)前測(cè)試區(qū)域的起始地址以及更新數(shù)據(jù)恢復(fù)標(biāo)識(shí)為未恢復(fù) 標(biāo)識(shí)，具體包括在測(cè)試結(jié)果主區(qū)中寫(xiě)入當(dāng)前測(cè)試區(qū)域的起始地址以及更新數(shù)據(jù)恢復(fù)標(biāo) 識(shí)為未恢復(fù)標(biāo)識(shí)，將測(cè)試結(jié)果主區(qū)中的數(shù)據(jù)備份測(cè)試結(jié)果備區(qū)中；所述更新所述數(shù)據(jù)恢復(fù)標(biāo)識(shí)為已恢復(fù)標(biāo)識(shí)，具體包括更新測(cè)試結(jié)果主區(qū)中的數(shù)據(jù) 恢復(fù)標(biāo)識(shí)為已恢復(fù)標(biāo)識(shí)，以及將測(cè)試結(jié)果主區(qū)中的數(shù)據(jù)備份至測(cè)試結(jié)果備區(qū)。
6.如權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，所述閃存器件重啟時(shí)，根據(jù)測(cè)試結(jié)果區(qū)的 數(shù)據(jù)恢復(fù)標(biāo)識(shí)確定數(shù)據(jù)備份區(qū)的數(shù)據(jù)是否已恢復(fù)，具體包括判斷測(cè)試結(jié)果主區(qū)中的數(shù)據(jù)是否有效，若有效，從測(cè)試結(jié)果主區(qū)中獲取數(shù)據(jù)恢復(fù)標(biāo) 識(shí)；否則判斷測(cè)試結(jié)果備區(qū)中的數(shù)據(jù)是否有效，當(dāng)有效時(shí)，從測(cè)試結(jié)果備區(qū)中獲取數(shù)據(jù) 恢復(fù)標(biāo)識(shí)；根據(jù)獲取到的數(shù)據(jù)恢復(fù)標(biāo)識(shí)確定數(shù)據(jù)備份區(qū)的數(shù)據(jù)是否已恢復(fù)。
7.如權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，對(duì)所述測(cè)試區(qū)域進(jìn)行測(cè)試后，還包括 將測(cè)試結(jié)果寫(xiě)入所述測(cè)試結(jié)果區(qū)；具體包括將測(cè)試結(jié)果寫(xiě)入測(cè)試結(jié)果主區(qū)，并將測(cè)試結(jié)果主區(qū)的數(shù)據(jù)更新至測(cè)試結(jié)果備區(qū)。
8.—種閃存器件測(cè)試裝置，其特征在于，包括測(cè)試控制模塊、預(yù)處理模塊、測(cè)試 模塊和后處理模塊；所述測(cè)試控制模塊，用于控制所述預(yù)處理模塊對(duì)閃存器件中的可用存儲(chǔ)區(qū)劃分出的 測(cè)試區(qū)域依次進(jìn)行測(cè)試；所述預(yù)處理模塊，用于將當(dāng)前測(cè)試區(qū)域的數(shù)據(jù)備份至閃存器件中預(yù)設(shè)的數(shù)據(jù)備份 區(qū)，并更新閃存器件中預(yù)設(shè)的測(cè)試結(jié)果區(qū)中的當(dāng)前測(cè)試區(qū)域的起始地址以及更新數(shù)據(jù)恢 復(fù)標(biāo)識(shí)為未恢復(fù)標(biāo)識(shí)，并指示所述測(cè)試模塊開(kāi)始測(cè)試；所述測(cè)試模塊，用于根據(jù)預(yù)處理模塊的指示對(duì)當(dāng)前測(cè)試區(qū)域進(jìn)行測(cè)試；所述后處理模塊，用于所述測(cè)試模塊對(duì)當(dāng)前測(cè)試區(qū)域進(jìn)行測(cè)試后，將數(shù)據(jù)備份區(qū)中 的數(shù)據(jù)恢復(fù)至當(dāng)前測(cè)試區(qū)域，并更新所述數(shù)據(jù)恢復(fù)標(biāo)識(shí)為已恢復(fù)標(biāo)識(shí)。
9.如權(quán)利要求8所述的裝置，其特征在于，還包括重啟動(dòng)模塊；所述重啟動(dòng)模塊，用于閃存器件重啟時(shí)，根據(jù)測(cè)試結(jié)果區(qū)的數(shù)據(jù)恢復(fù)標(biāo)識(shí)確定數(shù)據(jù) 備份區(qū)的數(shù)據(jù)是否已恢復(fù)；當(dāng)未恢復(fù)時(shí)，從所述數(shù)據(jù)備份區(qū)中恢復(fù)數(shù)據(jù)至所述當(dāng)前測(cè)試 區(qū)域的起始地址對(duì)應(yīng)的當(dāng)前測(cè)試區(qū)域中；所述測(cè)試控制模塊，還用于重啟完成后，從閃存器件中預(yù)設(shè)的測(cè)試結(jié)果區(qū)中的當(dāng)前 測(cè)試區(qū)域的起始地址對(duì)應(yīng)的測(cè)試區(qū)域繼續(xù)進(jìn)行測(cè)試。
10.如權(quán)利要求8所述的裝置，其特征在于，所述測(cè)試控制模塊，具體用于測(cè)試完一個(gè)測(cè)試區(qū)域，獲取下一個(gè)測(cè)試區(qū)域的起始地址時(shí)，當(dāng)獲取到的起始地址不 小于閃存器件的最大存儲(chǔ)地址時(shí)或獲取到的起始地址對(duì)應(yīng)的測(cè)試區(qū)域的標(biāo)識(shí)號(hào)不小于劃 分出的測(cè)試區(qū)域的最大標(biāo)識(shí)號(hào)時(shí)，確認(rèn)已經(jīng)測(cè)試完所有的測(cè)試區(qū)域。
11.如權(quán)利要求8所述的裝置，其特征在于，還包括校驗(yàn)?zāi)K；所述預(yù)處理模塊，還用于對(duì)當(dāng)前測(cè)試區(qū)域進(jìn)行測(cè)試前，在測(cè)試結(jié)果區(qū)中寫(xiě)入當(dāng)前測(cè) 試區(qū)域的數(shù)據(jù)的CRC校驗(yàn)值；所述校驗(yàn)?zāi)K，用于當(dāng)將數(shù)據(jù)備份區(qū)中的數(shù)據(jù)恢復(fù)到當(dāng)前測(cè)試區(qū)域中時(shí)，使用所述 CRC校驗(yàn)值進(jìn)行數(shù)據(jù)正確性校驗(yàn)。
12.如權(quán)利要求8-11所述的裝置，其特征在于，所述預(yù)處理模塊，具體用于在預(yù) 設(shè)的測(cè)試結(jié)果區(qū)中的測(cè)試結(jié)果主區(qū)中寫(xiě)入當(dāng)前測(cè)試區(qū)域的起始地址以及更新數(shù)據(jù)恢復(fù)標(biāo) 識(shí)為未恢復(fù)標(biāo)識(shí)，將測(cè)試結(jié)果主區(qū)中的數(shù)據(jù)備份至預(yù)設(shè)的測(cè)試結(jié)果區(qū)中的測(cè)試結(jié)果備區(qū) 中；所述后處理模塊，具體用于更新測(cè)試結(jié)果主區(qū)中的數(shù)據(jù)恢復(fù)標(biāo)識(shí)為已恢復(fù)標(biāo)識(shí)， 以及將測(cè)試結(jié)果主區(qū)中的數(shù)據(jù)備份至測(cè)試結(jié)果備區(qū)。
13.如權(quán)利要求12所述的裝置，其特征在于，所述重啟動(dòng)模塊，具體用于閃存器件重啟時(shí)，判斷測(cè)試結(jié)果主區(qū)中的數(shù)據(jù)是否有效，若有效，從測(cè)試結(jié)果主區(qū) 中獲取數(shù)據(jù)恢復(fù)標(biāo)識(shí)；否則判斷測(cè)試結(jié)果備區(qū)中的數(shù)據(jù)是否有效，當(dāng)有效時(shí)，從測(cè)試結(jié) 果備區(qū)中獲取數(shù)據(jù)恢復(fù)標(biāo)識(shí)；根據(jù)獲取到的數(shù)據(jù)恢復(fù)標(biāo)識(shí)確定數(shù)據(jù)備份區(qū)的數(shù)據(jù)是否已恢復(fù)；當(dāng)未恢復(fù)時(shí)，從所 述數(shù)據(jù)備份區(qū)中恢復(fù)數(shù)據(jù)至所述當(dāng)前測(cè)試區(qū)域的起始地址對(duì)應(yīng)的當(dāng)前測(cè)試區(qū)域中。
14.如權(quán)利要求12所述的裝置，其特征在于，所述后處理模塊，還用于對(duì)所述測(cè)試區(qū)域進(jìn)行測(cè)試后，將測(cè)試結(jié)果寫(xiě)入所述測(cè)試結(jié)果區(qū)；具體包括將測(cè)試 結(jié)果寫(xiě)入測(cè)試結(jié)果主區(qū)，并將測(cè)試結(jié)果主區(qū)的數(shù)據(jù)更新至測(cè)試結(jié)果備區(qū)。
15.—種板卡，其特征在于，包括閃存器件和如權(quán)利要求8-14任一所述的閃存器 件測(cè)試裝置；所述閃存器件中預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)備份區(qū)、測(cè)試結(jié)果區(qū)和可用存儲(chǔ)區(qū)，所述可用存儲(chǔ)區(qū)劃分為若干測(cè)試區(qū)域。
16. —種網(wǎng)絡(luò)設(shè)備，其特征在于，包括如權(quán)利要求8-14任一所述的閃存器件測(cè)試 裝置、板卡；所述板卡上設(shè)置閃存器件；所述閃存器件中預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)備份區(qū)、測(cè)試結(jié)果區(qū)和可用存儲(chǔ)區(qū)，所述可用存儲(chǔ)區(qū)劃分 為若干測(cè)試區(qū)域。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)了一種閃存器件測(cè)試方法、裝置及板卡和網(wǎng)絡(luò)設(shè)備，該方法包括在閃存器件中預(yù)設(shè)數(shù)據(jù)備份區(qū)、測(cè)試結(jié)果區(qū)和可用存儲(chǔ)區(qū)，將可用存儲(chǔ)區(qū)劃分為若干測(cè)試區(qū)域；對(duì)每個(gè)所述測(cè)試區(qū)域進(jìn)行測(cè)試的過(guò)程包括將當(dāng)前測(cè)試區(qū)域的數(shù)據(jù)備份至數(shù)據(jù)備份區(qū)，并更新測(cè)試結(jié)果區(qū)中的當(dāng)前測(cè)試區(qū)域的起始地址以及更新數(shù)據(jù)恢復(fù)標(biāo)識(shí)為未恢復(fù)標(biāo)識(shí)；對(duì)當(dāng)前測(cè)試區(qū)域進(jìn)行測(cè)試后，將數(shù)據(jù)備份區(qū)中的數(shù)據(jù)恢復(fù)至當(dāng)前測(cè)試區(qū)域，并更新所述數(shù)據(jù)恢復(fù)標(biāo)識(shí)為已恢復(fù)標(biāo)識(shí)。在閃存器件重啟時(shí)，能夠正確恢復(fù)數(shù)據(jù)并中斷的位置繼續(xù)測(cè)試，提高了測(cè)試效率。
文檔編號(hào)G11C29/56GK102024502SQ20101058059
公開(kāi)日2011年4月20日 申請(qǐng)日期2010年12月9日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月9日
發(fā)明者鄭昌華 申請(qǐng)人:福建星網(wǎng)銳捷網(wǎng)絡(luò)有限公司