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一種eeprom存儲(chǔ)器電路的制作方法

文檔序號(hào):6769395閱讀:321來(lái)源:國(guó)知局
專(zhuān)利名稱(chēng):一種eeprom存儲(chǔ)器電路的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種存儲(chǔ)器電路,尤其是一種EEPROM存儲(chǔ)器電路。背景技術(shù)
此類(lèi)電路常用于無(wú)源RFID電子標(biāo)簽的存儲(chǔ)電路中。存儲(chǔ)陣列可以在掉電情況下 保存數(shù)據(jù)信息。在上電情況下讀取存儲(chǔ)信息,并且可以根據(jù)外部命令更改存儲(chǔ)信息。但對(duì) 電路設(shè)計(jì)不精細(xì),對(duì)于陣列瞬態(tài)產(chǎn)生的漏電流沒(méi)有采取措施。且由于標(biāo)簽內(nèi)部沒(méi)有電源,如 何節(jié)省瞬態(tài)所耗能量是重中之重。
現(xiàn)有電路結(jié)構(gòu)如圖5所示,陣列每個(gè)block通過(guò)一個(gè)控制管控制所有存儲(chǔ)單元的 浮柵電壓,所有block的Ag端相連由控制電路共同控制。引起在操作時(shí)產(chǎn)生很大的漏電流。 圖6是常規(guī)電路單Block的電路結(jié)構(gòu),圖中標(biāo)出了電路存在漏電流的通路。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種EEPROM存儲(chǔ)器電路,它可以克服現(xiàn)有技術(shù)的不足,是 一種低功耗且可以降低RFID TAG存儲(chǔ)陣列電路的漏電流的電路。
本發(fā)明的技術(shù)方案一種EEPROM存儲(chǔ)器電路,其特征在于它包括Cg端子控制電 路、Ag端子控制電路和存儲(chǔ)單元電路;其中所說(shuō)的Cg端子控制電路的輸入端和Ag端子控 制電路的輸入端分別接收采集到的數(shù)字信號(hào),二者的輸出端與存儲(chǔ)單元電路的輸入端連接。
上述所說(shuō)的Cg端子控制電路和Ag端子控制電路由二輸入或非門(mén)、兩個(gè)反相器、 二輸入與門(mén)和二輸入與非門(mén)構(gòu)成,其中所說(shuō)的二輸入或非門(mén)的輸入端采集待處理的數(shù)字信 號(hào),其輸出端分別與1個(gè)反相器的輸入端和二輸入與非門(mén)的一個(gè)輸入端連接;所說(shuō)的與二 輸入或非門(mén)連接的反相器的輸出端與二輸入與門(mén)的一個(gè)輸入端連接;所說(shuō)的二輸入與門(mén) 另一個(gè)輸入端與另一個(gè)反向器的輸入端連接,同時(shí)接受讀寫(xiě)信號(hào),其輸出端輸出Cg控制信 號(hào);所說(shuō)的二輸入與非門(mén)的另一輸入端連接與二輸入與門(mén)連接的反相器的輸出端,其輸出 端輸出Ag控制信號(hào)。
上述所說(shuō)的存儲(chǔ)單元電路是η行m列的陣列結(jié)構(gòu),共有n*m個(gè)Block單元組成;所 說(shuō)的每個(gè)Block單元的輸入端分別與Cg端子控制電路的輸出端、Ag端子控制電路的輸出 端連接。
上述所說(shuō)的Block單元是由8個(gè)存儲(chǔ)單元組成,每個(gè)存儲(chǔ)單元都是由存儲(chǔ)單元浮 柵端控制管Ml、存儲(chǔ)單元浮柵端控制管M2、浮柵管源端控制管M3、存儲(chǔ)單元控制管M4和存 儲(chǔ)單元控制管M5構(gòu)成;其中,所說(shuō)的存儲(chǔ)單元浮柵端控制管Ml的柵極與存儲(chǔ)單元控制管 M4的柵極相互連接作為行選擇管控制柵端Sg,其源級(jí)作為Block單元的第i位存儲(chǔ)浮柵電 壓端子Cgi (i = 0-7),其漏極與存儲(chǔ)單元浮柵端控制管M2的漏極、存儲(chǔ)單元控制管M5的柵 極連接;所說(shuō)的存儲(chǔ)單元浮柵端控制管M2的柵極作為Cg控制端NCg,其源級(jí)接地;所說(shuō)的 存儲(chǔ)單元控制管M5的漏極與浮柵管源端控制管M3的漏極相連,其源級(jí)與存儲(chǔ)單元控制管M4的漏極連接;所說(shuō)的存儲(chǔ)單元控制管M4的源級(jí)作為Block單元的第i位的位線(xiàn)電壓端 BLi (i = 0-7);所說(shuō)的浮柵管源端控制管M3的源級(jí)接地,其柵極作為Ag控制端Ag_ctrl ;且 每個(gè)存儲(chǔ)單元中的存儲(chǔ)單元控制管M4的柵極連接在一起作為行選擇管控制柵端Sg ;所說(shuō) 的每個(gè)存儲(chǔ)單元中的存儲(chǔ)單元浮柵端控制管M2的柵極連接在一起作為Cg控制端NCg ;所 說(shuō)的每個(gè)存儲(chǔ)單元中的浮柵管源端控制管M3的柵極連接在一起作為Ag控制端Ag_ctrl。
上述所說(shuō)的每一個(gè)Block單元中的每個(gè)存儲(chǔ)單元的存儲(chǔ)單元控制管M4的柵極相 互連接。
上述所說(shuō)的Cg端子控制電路的輸出端與每個(gè)Block單元中的每個(gè)存儲(chǔ)單元的存 儲(chǔ)單元浮柵端控制管M2的柵極連接;所說(shuō)的Ag端子控制電路的輸出端分別與每個(gè)Block 單元中的每個(gè)存儲(chǔ)單元的浮柵管源端控制管M3的柵極連接。
本發(fā)明的工作原理存儲(chǔ)單元電路用于存儲(chǔ)數(shù)據(jù)信息;Cg端子控制電路、Ag端子 控制電路用于降低存儲(chǔ)陣列電路的漏電流;可以保證在掉電情況下保存數(shù)據(jù)信息,在上電 情況下讀取存儲(chǔ)信息,并且可以根據(jù)外部命令更改存儲(chǔ)信息,使未被選中的存儲(chǔ)單元通路 處于截至狀態(tài);Cg端子控制電路決定某行列Cg端子是否被作為放電對(duì)象;Ag端子控制電 路用于決定某行列Ag端子是否選擇相互獨(dú)立。
圖1、2中7給出的是η行m列的陣列結(jié)構(gòu),由n*m個(gè)Block組成;每個(gè)Block由8 個(gè)存儲(chǔ)單元組成,如圖3中的16-23所示。整個(gè)陣列由8*n*m個(gè)存儲(chǔ)單元組成;圖1可以 看出所有Block都與控制電路和數(shù)據(jù)相連接,而彼此之間沒(méi)有相互控制關(guān)系;3-6是陣列的 基本操作單元,n*m個(gè)Block(3-6)中的結(jié)構(gòu)跟都如圖3所示。SGi (i = 0-n)與第i行的 Block中存儲(chǔ)單元選擇管柵端相連,如8-15。Cg、Ag控制電路與每個(gè)Block的CG、AG控制 管柵端分別連在一起,如M2、M3、。Cgi (i = 0-7) ,BLi (i = 0-7)為數(shù)據(jù)輸入端,通過(guò)選擇電 路后將數(shù)據(jù)送入到某個(gè)Block中。BL端既是輸出又是輸入端。圖2和3中每個(gè)Block的所 有的M2的柵端都連在一起,接控制端子NCg,所有的M3的柵端也都連在一起,控制端子為 AG_ctrl。
圖4為Cg、Ag的控制電路。受讀寫(xiě)信號(hào),行控制信號(hào),列控制信號(hào)。通過(guò)三個(gè)信號(hào) 的控制,使得未被選中的Block與選中的Block各端斷開(kāi)。其作用通過(guò)線(xiàn)M、25實(shí)現(xiàn)。線(xiàn) 24,25通過(guò)對(duì)M3、M4M0S管的柵壓控制使得所有Block之間,以及同Block內(nèi)的存儲(chǔ)單元之 間處于相互隔離的狀態(tài)。使得每個(gè)存儲(chǔ)單元相互不受影響,Block之間也相互隔離。以達(dá) 到最大程度的降低電路的漏電流。
根據(jù)存儲(chǔ)單元內(nèi)所存數(shù)據(jù)不同,浮柵管具有不同的閾值電壓。
數(shù)據(jù)為邏輯“1”的浮柵管具有高的閾值電壓,Vth_h > OV0數(shù)據(jù)為邏輯“0”的浮 柵管具有低的閾值電壓,vth_l <0V。假設(shè)BitO存儲(chǔ)數(shù)據(jù)為邏輯“1”,Bitl存儲(chǔ)數(shù)據(jù)為邏 輯“0”。在此情況下,再次對(duì)存儲(chǔ)單元進(jìn)行具有相同存儲(chǔ)數(shù)據(jù)信息的擦寫(xiě)操作。浮柵CgO, 1分別加大于10V的高壓和OV偏置,選擇柵Sg加大于10V的高壓偏置。常規(guī)技術(shù)電路,如 圖3,4所示,AG_ctrl接0V。對(duì)于Bitl,由于Bitl的閾值電壓Vth_l < 0V,即使Cgl = OV 浮柵已經(jīng)打開(kāi)。此時(shí)在存儲(chǔ)單元Bit0、Bitl之間便產(chǎn)生一條通路,因而產(chǎn)生很大的漏電流。 本發(fā)明如圖2所示,對(duì)存儲(chǔ)單元的Ag端進(jìn)行了控制,使得每個(gè)存儲(chǔ)單元獨(dú)立工作,完全避免 了此種情況的發(fā)生。
對(duì)于同行沒(méi)有被選中的Block,如果其存儲(chǔ)單元內(nèi)容為邏輯“0”。在對(duì)其它模塊操作時(shí),電路出現(xiàn)導(dǎo)通通路,同樣產(chǎn)生很大的漏電流。本發(fā)明存儲(chǔ)單元在不工作狀態(tài)下被接成 二極管形式。在此狀態(tài)下二極管處于截止區(qū)。同時(shí),在高速操作情況下,在存儲(chǔ)單元浮柵會(huì) 產(chǎn)生很大的寄生電容。本發(fā)明可以對(duì)儲(chǔ)單元浮柵及時(shí)放電,以防止寄生電容導(dǎo)致的數(shù)據(jù)錯(cuò)誤。
本發(fā)明的優(yōu)越性可以降低RFID TAG存儲(chǔ)陣列電路的漏電流;能夠極大地降低電 路的瞬態(tài)功耗。

圖1為本發(fā)明所涉一種EEPROM存儲(chǔ)器電路的電路流程框圖。
圖2為本發(fā)明所涉一種EEPROM存儲(chǔ)器電路的電路結(jié)構(gòu)圖。
圖3為本發(fā)明所涉一種EEPROM存儲(chǔ)器電路中一個(gè)Block單元的電路結(jié)構(gòu)圖。
圖4為為本發(fā)明所涉一種EEPROM存儲(chǔ)器電路的Cg、Ag控制電路的電路示意圖。
圖5為現(xiàn)有技術(shù)中的EEPROM ARRAY電路框圖。
圖6為現(xiàn)有技術(shù)中的單Block電路框圖。
其中1為Ncg控制電路;2為Ag控制電路;3為第0行0列Block單元;4為n+1 行0列Block單元;5為第0行m+1列Block單元;6為第n+1行m+1列Block單元;7為本 發(fā)明提出的EEPR0MARRAY電路框圖;8、9、10、11、12、13、14、15為結(jié)構(gòu)相同的存儲(chǔ)單元;16、 17、18、19、20、21、22、23為結(jié)構(gòu)相同的單存儲(chǔ)單元加控制電路;對(duì)為連接所有Ncg柵端控制 電壓的控制線(xiàn);25為連接所有Ag_ctrl柵端控制電壓的控制線(xiàn);Ml、M2為是存儲(chǔ)單元浮柵 端控制管;M3為是浮柵管源端控制電路;M4、M5為是存儲(chǔ)單元;26為二輸入或非門(mén);27為 反相器;28為二輸入與門(mén);四為二輸入與非門(mén);BitO為Block單元第0位存儲(chǔ)單元;Bit7 為Block單元第7位存儲(chǔ)單元;SgO為第0行選擇管控制柵端;Sgn為第η行選擇管控制柵 端;CgO為Block單元第0位存儲(chǔ)浮柵電壓;Cg7為Block單元第7位存儲(chǔ)浮柵電壓;BLO為 Block單元第0位位線(xiàn)電壓;BL7為Block單元第7位位線(xiàn)電壓;AGO為Block單元第0位 接地端;AG7為Block單元第7位接地端;NCg為Cg控制端;AG_ctrol為AG控制端;Y0、Ym 分別是第0列第m列控制信號(hào);NCgOO、NCgnm分別控制0行0列和η行m列的Cg控制端; AG_ctrl00,AG_ctrlnm分別控制0行0列和η行m列的AG控制端。具體實(shí)施例方式
實(shí)施例一種EEPROM存儲(chǔ)器電路(見(jiàn)圖1、圖2),其特征在于它包括Cg端子控制 電路、Ag端子控制電路和存儲(chǔ)單元電路;其中所說(shuō)的Cg端子控制電路的輸入端和Ag端子 控制電路的輸入端分別接收采集到的數(shù)字信號(hào),二者的輸出端與存儲(chǔ)單元電路的輸入端連接。
上述所說(shuō)的Cg端子控制電路和Ag端子控制電路(見(jiàn)圖4)由二輸入或非門(mén)、兩個(gè) 反相器、二輸入與門(mén)和二輸入與非門(mén)構(gòu)成,其中所說(shuō)的二輸入或非門(mén)的輸入端采集待處理 的數(shù)字信號(hào),其輸出端分別與1個(gè)反相器的輸入端和二輸入與非門(mén)的一個(gè)輸入端連接;所 說(shuō)的與二輸入或非門(mén)連接的反相器的輸出端與二輸入與門(mén)的一個(gè)輸入端連接;所說(shuō)的二輸 入與門(mén)另一個(gè)輸入端與另一個(gè)反向器的輸入端連接,同時(shí)接受讀寫(xiě)信號(hào),其輸出端輸出Cg 控制信號(hào);所說(shuō)的二輸入與非門(mén)的另一輸入端連接與二輸入與門(mén)連接的反相器的輸出端,其輸出端輸出Ag控制信號(hào)。
上述所說(shuō)的存儲(chǔ)單元電路(見(jiàn)圖2)是η行m列的陣列結(jié)構(gòu),共有n*m個(gè)Block單 元組成;所說(shuō)的每個(gè)Block單元的輸入端分別與Cg端子控制電路的輸出端、Ag端子控制電 路的輸出端連接。
上述所說(shuō)的Block單元(見(jiàn)圖幻是由8個(gè)存儲(chǔ)單元組成,每個(gè)存儲(chǔ)單元都是由存 儲(chǔ)單元浮柵端控制管Ml、存儲(chǔ)單元浮柵端控制管M2、浮柵管源端控制管M3、存儲(chǔ)單元控制 管M4和存儲(chǔ)單元控制管M5構(gòu)成;其中,所說(shuō)的存儲(chǔ)單元浮柵端控制管Ml的柵極與存儲(chǔ)單 元控制管M4的柵極相互連接作為行選擇管控制柵端Sg,其源級(jí)作為Block單元的第i位存 儲(chǔ)浮柵電壓端子Cgi (i = 0-7),其漏極與存儲(chǔ)單元浮柵端控制管M2的漏極、存儲(chǔ)單元控制 管M5的柵極連接;所說(shuō)的存儲(chǔ)單元浮柵端控制管M2的柵極作為Cg控制端NCg,其源級(jí)接 地;所說(shuō)的存儲(chǔ)單元控制管M5的漏極與浮柵管源端控制管M3的漏極相連,其源級(jí)與存儲(chǔ)單 元控制管M4的漏極連接;所說(shuō)的存儲(chǔ)單元控制管M4的源級(jí)作為Block單元的第i位的位 線(xiàn)電壓端BLi (i = 0-7);所說(shuō)的浮柵管源端控制管M3的源級(jí)接地,其柵極作為Ag控制端 Ag_ctrl ;且每個(gè)存儲(chǔ)單元中的存儲(chǔ)單元控制管M4的柵極連接在一起作為行選擇管控制柵 端Sg ;所說(shuō)的每個(gè)存儲(chǔ)單元中的存儲(chǔ)單元浮柵端控制管M2的柵極連接在一起作為Cg控制 端NCg ;所說(shuō)的每個(gè)存儲(chǔ)單元中的浮柵管源端控制管M3的柵極連接在一起作為Ag控制端 Ag_ctrlο
上述所說(shuō)的每一個(gè)Block單元中的每個(gè)存儲(chǔ)單元的存儲(chǔ)單元控制管M4的柵極相 互連接(見(jiàn)圖2、圖3)。
上述所說(shuō)的Cg端子控制電路的輸出端與每個(gè)Block單元中的每個(gè)存儲(chǔ)單元的存 儲(chǔ)單元浮柵端控制管M2的柵極連接;所說(shuō)的Ag端子控制電路的輸出端分別與每個(gè)Block 單元中的每個(gè)存儲(chǔ)單元的浮柵管源端控制管M3的柵極連接(見(jiàn)圖2)。
權(quán)利要求
1.一種EEPROM存儲(chǔ)器電路,其特征在于它包括Cg端子控制電路、Ag端子控制電路和 存儲(chǔ)單元電路;其中所說(shuō)的Cg端子控制電路的輸入端和Ag端子控制電路的輸入端分別接 收采集到的數(shù)字信號(hào),二者的輸出端與存儲(chǔ)單元電路的輸入端連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種EEPROM存儲(chǔ)器電路,其特征在于所說(shuō)的Cg端子控制電 路和Ag端子控制電路由二輸入或非門(mén)、兩個(gè)反相器、二輸入與門(mén)和二輸入與非門(mén)構(gòu)成,其 中所說(shuō)的二輸入或非門(mén)的輸入端采集待處理的數(shù)字信號(hào),其輸出端分別與1個(gè)反相器的輸 入端和二輸入與非門(mén)的一個(gè)輸入端連接;所說(shuō)的與二輸入或非門(mén)連接的反相器的輸出端與 二輸入與門(mén)的一個(gè)輸入端連接;所說(shuō)的二輸入與門(mén)另一個(gè)輸入端與另一個(gè)反向器的輸入端 連接,同時(shí)接受讀寫(xiě)信號(hào),其輸出端輸出Cg控制信號(hào);所說(shuō)的二輸入與非門(mén)的另一輸入端 連接與二輸入與門(mén)連接的反相器的輸出端,其輸出端輸出Ag控制信號(hào)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種EEPROM存儲(chǔ)器電路,其特征在于所說(shuō)的存儲(chǔ)單元電路是 η行m列的陣列結(jié)構(gòu),共有n*m個(gè)Block單元組成;所說(shuō)的每個(gè)Block單元的輸入端分別與 Cg端子控制電路的輸出端、Ag端子控制電路的輸出端連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種EEPROM存儲(chǔ)器電路,其特征在于所說(shuō)的Block單元是 由8個(gè)存儲(chǔ)單元組成,每個(gè)存儲(chǔ)單元都是由存儲(chǔ)單元浮柵端控制管Ml、存儲(chǔ)單元浮柵端控 制管M2、浮柵管源端控制管M3、存儲(chǔ)單元控制管M4和存儲(chǔ)單元控制管M5構(gòu)成;其中,所說(shuō) 的存儲(chǔ)單元浮柵端控制管Ml的柵極與存儲(chǔ)單元控制管M4的柵極相互連接作為行選擇管控 制柵端Sg,其源級(jí)作為Block單元的第i位存儲(chǔ)浮柵電壓端子Cgi (i = 0-7),其漏極與存 儲(chǔ)單元浮柵端控制管M2的漏極、存儲(chǔ)單元控制管M5的柵極連接;所說(shuō)的存儲(chǔ)單元浮柵端控 制管M2的柵極作為Cg控制端NCg,其源級(jí)接地;所說(shuō)的存儲(chǔ)單元控制管M5的漏極與浮柵 管源端控制管M3的漏極相連,其源級(jí)與存儲(chǔ)單元控制管M4的漏極連接;所說(shuō)的存儲(chǔ)單元控 制管M4的源級(jí)作為Block單元的第i位的位線(xiàn)電壓端BLi (i = 0-7);所說(shuō)的浮柵管源端 控制管M3的源級(jí)接地,其柵極作為Ag控制端Ag_ctrl ;且每個(gè)存儲(chǔ)單元中的存儲(chǔ)單元控制 管M4的柵極連接在一起作為行選擇管控制柵端Sg ;所說(shuō)的每個(gè)存儲(chǔ)單元中的存儲(chǔ)單元浮 柵端控制管M2的柵極連接在一起作為Cg控制端NCg ;所說(shuō)的每個(gè)存儲(chǔ)單元中的浮柵管源 端控制管M3的柵極連接在一起作為Ag控制端Ag_ctrl。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種EEPROM存儲(chǔ)器電路,其特征在于所說(shuō)的每一個(gè)Block單 元中的每個(gè)存儲(chǔ)單元的存儲(chǔ)單元控制管M4的柵極相互連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種EEPROM存儲(chǔ)器電路,其特征在于所說(shuō)的每個(gè)Block單元 中的每個(gè)存儲(chǔ)單元的存儲(chǔ)單元浮柵端控制管M2的柵極與Cg端子控制電路的輸出端連接; 所說(shuō)的每個(gè)Block單元中的每個(gè)存儲(chǔ)單元的浮柵管源端控制管M3的柵極與Ag端子控制電 路的輸出端分別連接。
全文摘要
一種EEPROM存儲(chǔ)器電路,其特征在于它包括Cg端子控制電路、Ag端子控制電路和存儲(chǔ)單元電路;其優(yōu)越性可以降低RFID TAG存儲(chǔ)陣列電路的漏電流;能夠極大地降低電路的瞬態(tài)功耗。
文檔編號(hào)G11C16/10GK102034544SQ201010616038
公開(kāi)日2011年4月27日 申請(qǐng)日期2010年12月30日 優(yōu)先權(quán)日2010年12月30日
發(fā)明者呂英杰, 張小興, 戴宇杰, 程兆賢 申請(qǐng)人:天津南大強(qiáng)芯半導(dǎo)體芯片設(shè)計(jì)有限公司
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