專利名稱：光盤設(shè)備、其控制方法、程序以及信息記錄介質(zhì)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及讀取記錄在諸如⑶、DVD、和藍(lán)光盤(注冊商標(biāo))的光盤介質(zhì)上的信息的光盤設(shè)備、控制光盤設(shè)備的方法、程序以及信息存儲介質(zhì)。
背景技術(shù)：
近年來，各種各樣的光盤介質(zhì)被用作信息記錄介質(zhì)。光盤設(shè)備用于讀取記錄在這樣光盤介質(zhì)上的信息。光盤設(shè)備包括用光照射光盤介質(zhì)以檢測來自光盤介質(zhì)的反射光的光學(xué)拾取器。光盤設(shè)備控制關(guān)于光盤介質(zhì)的表面相對地移動光學(xué)拾取器的驅(qū)動系統(tǒng)將光學(xué)拾取器移動到可以讀取信息的位置。這樣，光盤設(shè)備從光盤介質(zhì)中讀取信息。當(dāng)光盤設(shè)備控制諸如光學(xué)拾取器和驅(qū)動系統(tǒng)的各個部分從光盤介質(zhì)中讀取信息時，設(shè)置與控制有關(guān)的各種控制參數(shù)。那些控制參數(shù)的一個示例是與物鏡的球面像差校正有關(guān)的參數(shù)(下文稱為SA參數(shù))。例如，在光學(xué)拾取器內(nèi)部，配備了準(zhǔn)直透鏡，以便校正用于將光線聚焦在光盤介質(zhì)上的物鏡的球面像差。然后，通過按照SA參數(shù)的設(shè)置值適當(dāng)調(diào)整準(zhǔn)直透鏡的位置，使物鏡的球面像差得到校正，結(jié)果是，可以高精度地將來自物鏡的光線聚焦在光盤介質(zhì)上。如上所述，通過為諸如SA參數(shù)的控制設(shè)備設(shè)置適當(dāng)值，并且在與設(shè)置值對應(yīng)的工作條件下控制設(shè)備的各個部分，可以在從光盤介質(zhì)中讀取信息的精度方面改進(jìn)光盤設(shè)備。要為那些控制參數(shù)設(shè)置的值根據(jù)作為讀取目標(biāo)的光盤介質(zhì)的類型、獨(dú)特可變性等而改變。因此，當(dāng)重新將光盤介質(zhì)放置在設(shè)備內(nèi)部時，光盤設(shè)備在開始讀取信息之前首先進(jìn)行調(diào)整控制參數(shù)的處理(例如，參見專利文獻(xiàn)1)。尤其，這種調(diào)整處理牽涉到如下控制。也就是說，光盤設(shè)備首先在可指定范圍內(nèi)改變控制參數(shù)的設(shè)置值，并且通過設(shè)置幾個設(shè)置值來嘗試從介質(zhì)中讀取信息，從而評估相應(yīng)信息讀取精度。然后，通過使用為多個設(shè)置值的每一個獲得的讀取精度的評估值，計算這樣可以提高信息讀取精度的控制參數(shù)的設(shè)置值(調(diào)整值)，并且將計算值設(shè)置成預(yù)定控制參數(shù)的值。現(xiàn)有技術(shù)文件專利文件專利文件JP 4001024B

發(fā)明內(nèi)容
當(dāng)重新將光盤介質(zhì)放置在設(shè)備內(nèi)部時，對控制參數(shù)的上述調(diào)整處理通常只進(jìn)行一次。然而，在一些情況下，控制參數(shù)的所希望設(shè)置值在設(shè)備正在使用的時候發(fā)生變化。例如， 取決于物鏡的材料等，在正在使用光盤設(shè)備的同時，當(dāng)溫度發(fā)生了變化時，物鏡的透鏡特性也發(fā)生變化。其結(jié)果是，SA參數(shù)的最佳設(shè)置值也發(fā)生變化。但是，對控制參數(shù)進(jìn)行上述調(diào)整處理要花費(fèi)一些時間。因此，如果在設(shè)備正在使用的同時執(zhí)行這樣的調(diào)整處理，則可能使信息讀取操作中止。本發(fā)明就是在考慮了上述情況之后作出的，并且本發(fā)明的目的在于提供能夠在從光盤介質(zhì)中讀取信息的操作期間校正控制參數(shù)的值的光盤設(shè)備，以及提供控制該光盤設(shè)備的方法、程序、和信息存儲介質(zhì)。進(jìn)一步，本發(fā)明的另一個目的在于提供能夠在設(shè)備正在使用的同時，在相對較短時間間隔內(nèi)校正控制參數(shù)的設(shè)置值的光盤設(shè)備，以及提供控制該光盤設(shè)備的方法、程序、和信息存儲介質(zhì)。按照本發(fā)明，提供了在與關(guān)于預(yù)定控制參數(shù)設(shè)置的值對應(yīng)的工作條件下，讀取記錄在光盤介質(zhì)上的信息的光盤設(shè)備，所述光盤設(shè)備包括校正部分，用于通過在正在進(jìn)行從光盤介質(zhì)中讀取信息的操作的同時重復(fù)執(zhí)行如下處理，校正預(yù)定控制參數(shù)的值關(guān)于預(yù)定控制參數(shù)的兩個值，分別獲取指示從光盤介質(zhì)中讀取信息的精度的評估值；以及根據(jù)兩個所獲取評估值更新預(yù)定控制參數(shù)的值。在上述光盤設(shè)備中，所述校正部分可以根據(jù)分別關(guān)于預(yù)定控制參數(shù)的兩個值獲取的兩個評估值之間的幅度關(guān)系，確定增大還是減小預(yù)定控制參數(shù)的值。在上述光盤設(shè)備中，所述校正部分可以關(guān)于控制參數(shù)的兩個值的每一個獲取多個評估值，并且基于比較為兩個值的每一個獲取的多個評估值的結(jié)果，更新預(yù)定控制參數(shù)的值。在上述光盤設(shè)備中，所述校正部分可以獲取根據(jù)通過從光盤介質(zhì)中讀取信息的操作獲得的再現(xiàn)信號計算的值，作為評估值之一。按照本發(fā)明，還提供了控制在與關(guān)于預(yù)定控制參數(shù)設(shè)置的值對應(yīng)的工作條件下， 讀取記錄在光盤介質(zhì)上的信息的光盤設(shè)備的方法，所述方法包括通過在正在進(jìn)行從光盤介質(zhì)中讀取信息的操作的同時重復(fù)執(zhí)行如下處理，校正預(yù)定控制參數(shù)的值關(guān)于預(yù)定控制參數(shù)的兩個值，分別獲取指示從光盤介質(zhì)中讀取信息的精度的評估值；以及基于兩個所獲取評估值更新預(yù)定控制參數(shù)的值。按照本發(fā)明，還提供了其中存儲著控制在與關(guān)于預(yù)定控制參數(shù)設(shè)置的值相對應(yīng)的工作條件下，讀取記錄在光盤介質(zhì)上的信息的光盤設(shè)備的程序的計算機(jī)可讀信息存儲介質(zhì)，所述程序使計算機(jī)起校正部分的作用，所述校正部分用于通過在正在進(jìn)行從光盤介質(zhì)中讀取信息的操作的同時重復(fù)執(zhí)行如下處理，校正預(yù)定控制參數(shù)的值關(guān)于預(yù)定控制參數(shù)的兩個值，分別獲取指示從光盤介質(zhì)中讀取信息的精度的評估值；以及基于兩個所獲取評估值更新預(yù)定控制參數(shù)的值。按照本發(fā)明，還提供了在與關(guān)于預(yù)定控制參數(shù)設(shè)置的值對應(yīng)的工作條件下，讀取記錄在光盤介質(zhì)上的信息的光盤設(shè)備，所述光盤設(shè)備包括測量單元，用于測量所述光盤設(shè)備內(nèi)部的溫度；第一校正部分，用于通過評估從光盤介質(zhì)中讀取信息的精度，校正預(yù)定控制參數(shù)的值；第二校正部分，用于根據(jù)所述測量單元測量的溫度和預(yù)定常數(shù)值校正預(yù)定控制參數(shù)的值；以及校正控制部分，用于在開始從光盤介質(zhì)中讀取信息之后的每個預(yù)定定時有選擇地使所述第一校正部分和所述第二校正部分的任意一個進(jìn)行預(yù)定控制參數(shù)的值的校正。在上述光盤設(shè)備中，所述校正控制部分可以在與所述測量單元測量的溫度的變化相對應(yīng)的每個定時使預(yù)定控制參數(shù)的值的校正被執(zhí)行。進(jìn)一步，在上述光盤設(shè)備中，所述校正控制部分可以在所述測量單元測量到預(yù)定溫度變化之后第一次滿足與讀取操作有關(guān)的預(yù)定條件的每個定時使得預(yù)定控制參數(shù)的值的校正被執(zhí)行。在光盤設(shè)備中，所述校正控制部分可以在使所述第二校正部分進(jìn)行預(yù)定次數(shù)校正之后使所述第一校正部分進(jìn)行校正。按照本發(fā)明，還提供了控制在與關(guān)于預(yù)定控制參數(shù)設(shè)置的值對應(yīng)的工作條件下， 讀取記錄在光盤介質(zhì)上的信息的光盤設(shè)備的方法，所述光盤設(shè)備包括測量所述光盤設(shè)備內(nèi)部的溫度的測量單元，所述方法包括在開始從光盤介質(zhì)中讀取信息之后的每個預(yù)定定時通過第一校正處理和第二校正處理的任意一種有選擇地校正預(yù)定控制參數(shù)的值，所述第一校正處理包括通過評估從光盤介質(zhì)中讀取信息的精度，校正預(yù)定控制參數(shù)的值，所述第二校正處理包括基于所述測量單元測量的溫度和預(yù)定常數(shù)值校正預(yù)定控制參數(shù)的值。按照本發(fā)明，還提供了其中存儲著控制在與關(guān)于預(yù)定控制參數(shù)設(shè)置的值對應(yīng)的工作條件下，讀取記錄在光盤介質(zhì)上的信息的光盤設(shè)備的程序的計算機(jī)可讀信息存儲介質(zhì)， 所述光盤設(shè)備包括測量所述光盤設(shè)備內(nèi)部的溫度的測量單元，所述程序使計算機(jī)起如下作用第一校正部分，用于通過評估從光盤介質(zhì)中讀取信息的精度，校正預(yù)定控制參數(shù)的值； 第二校正部分，用于基于所述測量單元測量的溫度和預(yù)定常數(shù)值校正預(yù)定控制參數(shù)的值; 以及校正控制部分，用于在開始從光盤介質(zhì)中讀取信息之后的每個預(yù)定定時有選擇地使所述第一校正部分和所述第二校正部分的任意一個執(zhí)行預(yù)定控制參數(shù)的值的校正。


圖1是例示按照本發(fā)明實施例的光盤設(shè)備的配置示例的框圖；圖2是例示按照本發(fā)明實施例的光盤設(shè)備的光學(xué)拾取器的內(nèi)部配置示例的示意圖；圖3是示出控制參數(shù)的設(shè)置值與評估值之間的關(guān)系的示例的曲線圖；圖4是例示按照本發(fā)明第一實施例的光盤設(shè)備的功能的示例的功能框圖；圖5是示出溫度變化與控制參數(shù)的設(shè)置值之間的關(guān)系的示例的曲線圖；圖6是例示按照本發(fā)明第二實施例的光盤設(shè)備執(zhí)行的校正處理的流程的示例的流程圖；圖7是例示準(zhǔn)直透鏡移動處理的流程的示例的流程圖；圖8是例示抖動值測量/比較處理的流程的示例的流程圖；圖9是例示抖動值測量/比較處理的流程的示例的流程圖；圖10是例示中心值更新處理的流程的示例的流程圖；以及圖11是例示組合使用第一校正處理、第二校正處理、和第三校正處理時進(jìn)行的處理的流程的示例的流程圖。
具體實施例方式下文參照附圖詳細(xì)描述本發(fā)明的實施例。[第一實施例]按照本發(fā)明第一實施例的光盤設(shè)備1讀取記錄在光盤介質(zhì)上的信息。如圖1所示， 光盤設(shè)備1包括介質(zhì)支承部分11、主軸電機(jī)12、光學(xué)拾取器13、三軸致動器14、饋送電機(jī) 15、驅(qū)動電路16、RF放大器17、伺服信號處理單元18、記錄信號處理單元19、控制單元20、和熱敏電阻21。注意，光盤設(shè)備1要從中讀取信息的光盤介質(zhì)M包括記錄信息的數(shù)據(jù)記錄層、和配備在數(shù)據(jù)記錄層的兩側(cè)的、保護(hù)數(shù)據(jù)記錄層的保護(hù)層。在下文中，將數(shù)據(jù)記錄層的表面稱為信號表面。光盤設(shè)備1可以配置成不僅讀取記錄在光盤介質(zhì)M上的信息，而且能夠?qū)⑿畔懺诠獗P介質(zhì)M上。進(jìn)一步，光盤設(shè)備1也可以配置成能夠讀取記錄在諸如⑶、DVD或藍(lán)光盤的多種光盤介質(zhì)M上的信息。介質(zhì)支承部分11可轉(zhuǎn)動地支承光盤介質(zhì)M。介質(zhì)支承部分11通過從主軸電機(jī)12 傳遞的力量轉(zhuǎn)動光盤介質(zhì)M。光學(xué)拾取器13用光照射光盤介質(zhì)M，并且檢測光盤介質(zhì)M對照射光的反射光，以便輸出根據(jù)所檢測反射光的輸出信號。三軸致動器14可以沿著包括光盤介質(zhì)M的直徑方向和與光盤介質(zhì)M的表面垂直的方向(具體地說，沿著光盤介質(zhì)M的轉(zhuǎn)軸的方向)的兩個方向移動光學(xué)拾取器13。進(jìn)一步，三軸致動器14可以改變光學(xué)拾取器13關(guān)于光盤介質(zhì)M的相對傾斜。三軸致動器14沿著與光盤介質(zhì)M的表面垂直的方向移動光學(xué)拾取器13，以改變從包括在光學(xué)拾取器13中的物鏡36到光盤介質(zhì)M的表面的距離。圖2是圖示光學(xué)拾取器13的內(nèi)部配置示例的視圖。在圖2中圖示的示例中，光學(xué)拾取器13包括發(fā)光元件31、偏振光分束器32、準(zhǔn)直透鏡33、準(zhǔn)直透鏡驅(qū)動單元34、正像鏡 35、物鏡36、和光檢測器37。發(fā)光元件31是輸出具有預(yù)定波長的激光束的半導(dǎo)體激光元件。從發(fā)光元件31發(fā)射的輸出光經(jīng)過偏振光分束器32和準(zhǔn)直透鏡33，然后被正像鏡35反射。進(jìn)一步，正像鏡35 反射的輸出光由物鏡36聚焦在與物鏡36相隔焦距F的聚焦位置上，被光盤介質(zhì)M反射。在光盤介質(zhì)M的反射光經(jīng)過物鏡36之后，反射光被正像鏡35反射，由偏振光分束器32引向光檢測器37。光檢測器37包括，例如，以NXN的矩陣排列的多個光接收元件。 當(dāng)偏振光分束器32引導(dǎo)的反射光到達(dá)光接收元件時，光檢測器37輸出根據(jù)多個光接收元件的每一個接收的光的強(qiáng)度的信號作為輸出信號。準(zhǔn)直透鏡驅(qū)動單元34包括致動器等，沿著激光束的光軸方向前后驅(qū)動準(zhǔn)直透鏡 33。準(zhǔn)直透鏡驅(qū)動單元34沿著光軸方向移動準(zhǔn)直透鏡33，以使得能夠校正物鏡36的球面像差。饋送電機(jī)15沿著光盤介質(zhì)M的直徑方向移動光學(xué)拾取器13和三軸致動器14兩者。通過饋送電機(jī)15的驅(qū)動，光學(xué)拾取器13可以從光盤介質(zhì)M的中心附近的位置移動到光盤介質(zhì)M的外圍附近的位置。驅(qū)動電路16按照從伺服信號處理單元18輸入的控制信號，輸出用于驅(qū)動準(zhǔn)直透鏡驅(qū)動單元34、三軸致動器14、主軸電機(jī)12、和饋送電機(jī)15的驅(qū)動信號。主軸電機(jī)12的轉(zhuǎn)速根據(jù)來自驅(qū)動電路16的驅(qū)動信號而改變。其結(jié)果是，使光盤介質(zhì)M的轉(zhuǎn)速得到控制。此外，通過按照來自驅(qū)動電路16的驅(qū)動信號對三軸致動器14和饋送電機(jī)15的驅(qū)動，使物鏡 36沿著直徑方向相對于光盤介質(zhì)M的轉(zhuǎn)軸的距離和從物鏡36到光盤介質(zhì)M的表面的距離得到控制。RF放大器17、伺服信號處理單元18、記錄信號處理單元19、和控制單元20通過， 例如，將來自光學(xué)拾取器13的輸出信號轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號的A/D轉(zhuǎn)換器、處理通過轉(zhuǎn)換獲得的數(shù)字信號的數(shù)字信號處理器(DSP)、和微型計算機(jī)來實現(xiàn)。
RF放大器17基于從光學(xué)拾取器13輸出、多個光接收元件的各自輸出信號輸出各種信號。具體地說，RF放大器17用給定增益放大來自每個光接收元件的輸出信號，輸出所獲得信號作為數(shù)據(jù)再現(xiàn)的RF信號。RF放大器17還輸出通過相加多個光接收元件的所有放大輸出信號獲得的牽引信號(PI信號)。PI信號的電平代表從光學(xué)拾取器13輸出的輸出信號的總電平。此外，RF放大器17計算和輸出指示物鏡36的聚焦位置關(guān)于光盤介質(zhì)M的信號表面的偏離的焦點(diǎn)誤差信號(FE信號)。舉例來說，通過從沿著預(yù)定對角方向排列的光接收元件的輸出信號的總和減去多個光接收元件中沿著與預(yù)定對角方向交叉的對角方向排列的光接收元件的輸出信號的總和計算FE信號。進(jìn)一步，RF放大器17計算和輸出指示記錄信息的數(shù)據(jù)記錄層中軌道的位置與物鏡36的聚焦位置之間沿著光盤介質(zhì)M的直徑方向的偏離的尋軌誤差信號(TE信號)。伺服信號處理單元18基于從RF放大器17輸出的PI信號、FE信號、和TE信號， 生成用于伺服控制的各種信號，并且將生成的信號輸出到控制單元20。伺服信號處理單元 18按照從控制單元20輸入的指令，將控制信號輸出到驅(qū)動三軸致動器14、準(zhǔn)直透鏡驅(qū)動單元34、饋送電機(jī)15、和主軸電機(jī)12的驅(qū)動電路16。進(jìn)一步，伺服信號處理單元18按照從控制單元20輸入的指令進(jìn)行伺服控制。具體地說，一旦從控制單元20輸入開始伺服控制的指令，伺服信號處理單元18就按照從RF 放大器17輸入的FE信號，輸出控制三軸致動器14的控制信號，以便沿著與光盤介質(zhì)M的表面垂直的方向?qū)鈱W(xué)拾取器13的位置調(diào)整進(jìn)行聚焦伺服控制。其結(jié)果是，使物鏡36的焦點(diǎn)保持在光盤介質(zhì)M的信號表面上。此外，伺服信號處理單元18按照從RF放大器17輸入的TE信號，輸出控制三軸致動器14的控制信號，以便沿著直徑方向進(jìn)行改變光學(xué)拾取器 13的位置的尋軌伺服控制。其結(jié)果是，光學(xué)拾取器13作關(guān)于光盤介質(zhì)M的表面的相對運(yùn)動，使物鏡36的焦點(diǎn)跟隨數(shù)據(jù)記錄層中的軌道。這樣，通過伺服信號處理單元18進(jìn)行的伺服控制來控制光學(xué)拾取器13關(guān)于光盤介質(zhì)M的表面的相應(yīng)位置。其結(jié)果是，可以保持光學(xué)拾取器13可以從光盤介質(zhì)M中讀取信息的狀態(tài)，并且在這樣的狀態(tài)下讀取信息。注意，當(dāng)由于干擾等的影響出現(xiàn)伺服誤差(具體地說，伺服控制不能再繼續(xù)下去)時，伺服信號處理單元18將通知出現(xiàn)伺服誤差的信號輸出到控制單元20。記錄信號處理單元19基于從RF放大器17輸出的RF信號，解調(diào)指示記錄在光盤介質(zhì)M上的信息的數(shù)字信號，并且將解調(diào)數(shù)字信號輸出到控制單元20。記錄信號處理單元 19還對記錄在光盤介質(zhì)M上的信息計算光學(xué)拾取器13的讀取精度的的評估值(諸如RF幅度或抖動值)，并且將計算的評估值輸出到控制單元20。在下文中，作為一個特例，記錄信號處理單元19測量指示RF信號波形的上升定時關(guān)于基準(zhǔn)時鐘的時間偏離的抖動值，并且將測量的抖動值輸出到控制單元20。控制單元20由，例如，微型計算機(jī)構(gòu)成，包括執(zhí)行模塊和存儲元件。在控制單元 20的存儲元件中，存儲著要執(zhí)行的程序和各種參數(shù)。執(zhí)行模塊按照存儲在存儲元件中的程序進(jìn)行處理。具體地說，控制單元20接收從伺服信號處理單元18輸入的信號(諸如與PI 信號的峰檢測的結(jié)果有關(guān)的信號和指示對FE信號進(jìn)行的預(yù)定判斷的結(jié)果的信號)，根據(jù)這些信號進(jìn)行檢測信號表面上物鏡36的焦點(diǎn)被調(diào)整到處在上面的位置的處理(焦點(diǎn)檢測處理)，以及設(shè)置光學(xué)拾取器13與光盤介質(zhì)M之間的距離以便處在所檢測位置上。當(dāng)通過焦點(diǎn)檢測處理進(jìn)行焦點(diǎn)檢測時，控制單元20將開始聚焦伺服控制的命令輸出到伺服信號處理單元18，以便在焦點(diǎn)檢測之后保持狀態(tài)。將控制單元20與用作主機(jī)的個人計算機(jī)、消費(fèi)者游戲機(jī)的主體、視頻解碼器等連接。響應(yīng)來自主機(jī)的請求，控制單元20將驅(qū)動饋送電機(jī)15或三軸致動器14的命令輸出到伺服信號處理單元18，以便將物鏡36的聚焦位置(具體地說，光盤介質(zhì)M上的信息讀取位置)移動到光盤介質(zhì)M上的所希望位置。除了上述的操作之外，控制單元20還將改變主軸電機(jī)12的轉(zhuǎn)速的命令輸出到伺服信號處理單元18，以便調(diào)整光盤介質(zhì)M的轉(zhuǎn)速。然后，在這種情況下，控制單元20將從記錄信號處理單元19輸出的、通過解調(diào)從光盤介質(zhì)M讀取的信號獲得的信號輸出到主機(jī)側(cè)。熱敏電阻21被布置在光學(xué)拾取器13附近，起測量光盤設(shè)備1內(nèi)部的溫度的測量單元的作用。在這個實施例中，光學(xué)拾取器13的物鏡36是塑料透鏡，其透鏡特性隨溫度而變。因此，熱敏電阻21測量光學(xué)拾取器13的環(huán)境溫度，并且將測量的結(jié)果輸出到控制單元 20，以便按照物鏡36的溫度特性進(jìn)行校正。在這個實施例中，當(dāng)進(jìn)行讀取操作從光盤介質(zhì)M中讀取信息時，光盤設(shè)備1進(jìn)行計算定義工作條件的預(yù)定控制參數(shù)的所希望設(shè)置值(調(diào)整值)的初始調(diào)整處理。具體地說， 在初始調(diào)整處理中，光盤設(shè)備1計算認(rèn)為能夠精確讀取記錄在光盤介質(zhì)M上的信息的控制參數(shù)的調(diào)整值。然后，光盤設(shè)備1為控制參數(shù)設(shè)置通過初始調(diào)整處理計算的調(diào)整值，并且在與設(shè)置值對應(yīng)的工作條件下執(zhí)行讀取操作。這樣，光盤設(shè)備1就可以高精度地進(jìn)行從光盤介質(zhì)M中的信息讀取而不會引起讀取誤差?？刂茀?shù)的初始調(diào)整處理在，例如，重新將光盤介質(zhì)M放置在光盤設(shè)備1中或?qū)獗P設(shè)備1供電時進(jìn)行。這是因為控制參數(shù)的最佳設(shè)置值依照光盤介質(zhì)M的類型或獨(dú)特可變性而變。在下文中，作為控制參數(shù)的一個示例，對調(diào)整與用于校正物鏡36的球面像差的準(zhǔn)直透鏡33的位置有關(guān)的參數(shù)(SA參數(shù))的情況給予描述。當(dāng)改變了 SA參數(shù)的設(shè)置值時， 光盤設(shè)備1控制準(zhǔn)直透鏡驅(qū)動單元34使準(zhǔn)直透鏡33移動到與設(shè)置值對應(yīng)的位置。通過適當(dāng)調(diào)整準(zhǔn)直透鏡33的位置，光學(xué)拾取器13可以校正物鏡36的球面像差，以便高精度地進(jìn)行信息讀取。現(xiàn)在描述初始調(diào)整處理的特例。在控制參數(shù)的設(shè)置值與讀取精度的評估值(在這種情況下，抖動值)之間，建立起可以通過二次曲線近似的關(guān)系。圖3是示出控制參數(shù)的設(shè)置值與抖動值之間的這樣關(guān)系的示例的曲線圖。在這個圖中，水平軸(X軸)表示控制參數(shù)的設(shè)置值，縱軸(Y軸)表示抖動值。在這個示例中，將抖動值用作評估值，因此，由于其值較小，所以讀取精度較高。在圖3中，控制參數(shù)的設(shè)置值與抖動值之間的關(guān)系用開口向上拋物線表示，因此，達(dá)到最高讀取精度的控制參數(shù)的設(shè)置值(下文稱為最佳值So)是X軸上與拋物線頂點(diǎn)對應(yīng)的值。于是，如果將X軸上與拋物線頂點(diǎn)附近的位置相對應(yīng)的值設(shè)置成控制參數(shù)的設(shè)置值，則可以使評估值較小(也就是說，可以提高信息讀取的精度)?？紤]到這一點(diǎn)，光盤設(shè)備1通過為控制參數(shù)分別設(shè)置至少三個或更多個不同設(shè)置值來測量抖動值作為樣本數(shù)據(jù)。這里，三個或更多個樣本數(shù)據(jù)是必不可少的，因為要是在拋物線上未識別如圖3示范的至少三個點(diǎn)，就不能對二次曲線進(jìn)行精確近似表示。那些點(diǎn)是切線斜率為負(fù)的點(diǎn)Pa、切線斜率幾乎為0的點(diǎn)Pb、和切線斜率為正的點(diǎn)Pc。在測量了三個或更多個樣本數(shù)據(jù)之后，光盤設(shè)備1通過像最小二乘法那樣的方法，計算通過近似表示這幾個樣本數(shù)據(jù)獲得的二次曲線，然后計算與曲線頂點(diǎn)的位置相對應(yīng)的預(yù)定控制參數(shù)的值作為調(diào)整值。在以這種方式進(jìn)行初始調(diào)整處理之后，光盤設(shè)備1基于計算的調(diào)整值驅(qū)動準(zhǔn)直透鏡驅(qū)動單元34，從而調(diào)整準(zhǔn)直透鏡33的位置。此外，即使在通過上述初始調(diào)整處理計算出SA參數(shù)的調(diào)整值，并開始關(guān)于光盤介質(zhì)M的讀取操作之后，按照本實施例的光盤設(shè)備1也在預(yù)定定時校正SA參數(shù)的設(shè)置值。如果未對SA參數(shù)進(jìn)行這樣的校正，則如上所述，設(shè)備內(nèi)部的溫度隨時間升高，改變了物鏡36 的透鏡特性。因此，在SA參數(shù)的最佳值So與通過初始調(diào)整處理設(shè)置的調(diào)整值之間出現(xiàn)了間隙，使人擔(dān)心會出現(xiàn)讀取誤差。在下文中，對由按照本實施例的光盤設(shè)備1實現(xiàn)以便進(jìn)行校正SA參數(shù)的處理的功能給予描述。如圖4所示，光盤設(shè)備1在功能上包括第一校正處理部分41、第二校正處理單元42、和校正控制部分43。那些功能通過控制單元20執(zhí)行存儲在內(nèi)置存儲元件中的程序來實現(xiàn)。該程序可以通過存儲在各種計算機(jī)可讀信息存儲介質(zhì)中來提供。如下詳述，第一校正處理部分41和第二校正處理單元42通過使用不同方法進(jìn)行校正SA參數(shù)的處理。校正控制部分43確定哪個校正處理部分在哪個定時進(jìn)行校正處理。對于SA參數(shù)的多個不同設(shè)置值的每一個，第一校正處理部分41評估利用如此設(shè)置的每個設(shè)置值從光盤介質(zhì)M中讀取信息的精度，從而校正SA參數(shù)的值。在下文中，將第一校正處理部分41進(jìn)行的校正處理稱為第一校正處理。具體地說，通過進(jìn)行與上述初始調(diào)整處理類似的處理作為第一校正處理，第一校正處理部分41重新計算SA參數(shù)的最佳值So， 然后基于計算的最佳值So校正SA參數(shù)的設(shè)置值。關(guān)于第一校正處理，與光盤介質(zhì)M的獨(dú)特可變性等無關(guān)，有可能設(shè)置與在設(shè)備環(huán)境下在執(zhí)行校正處理時獲得的最佳值So基本相同的值作為校正值，第二校正處理部分42基于熱敏電阻21測量的溫度和預(yù)定常數(shù)值校正SA參數(shù)的值。在下文中，將第二校正處理部分42進(jìn)行的校正處理稱為第二校正處理。在物鏡36的環(huán)境溫度與SA參數(shù)的最佳值So之間建立起基本線性關(guān)系?？紤]到這一點(diǎn)，第二校正處理部分42通過將已經(jīng)通過首先執(zhí)行的初始調(diào)整處理或通過第一校正處理部分41最近執(zhí)行的校正處理設(shè)置的SA參數(shù)的值(下文稱為基準(zhǔn)設(shè)置值Sr)、和熱敏電阻21在設(shè)置基準(zhǔn)設(shè)置值 Sr時測量的溫度(下文稱為基準(zhǔn)溫度Tr)用作基準(zhǔn)，計算要重新設(shè)置的SA參數(shù)的值(下文稱為校正值S)。具體地說，基于基準(zhǔn)設(shè)置值Sr、基準(zhǔn)溫度Tr、常數(shù)值A(chǔ)、和進(jìn)行校正處理時的當(dāng)前溫度T，第二校正處理部分42通過如下計算公式計算校正值S S = A · (T-Tr)+Sr。注意，第二校正處理部分42讀取和使用事先存儲在設(shè)備中的值作為常數(shù)值A(chǔ)。從上面給出的計算公式中可明顯看出，常數(shù)值A(chǔ)與溫度T和校正值S之間的線性關(guān)系的斜率對應(yīng)。常數(shù)值A(chǔ)通過，例如，如下方法確定。也就是說，關(guān)于各種光盤介質(zhì)M與各種光盤設(shè)備1的組合，測量SA參數(shù)的最佳值So的溫度相關(guān)特性，以便計算最佳值So的變化(斜率)關(guān)于溫度變化的比例。然后，將多個計算斜率的平均值確定為用于第二校正處理的常數(shù)值A(chǔ)，然后存儲在光盤設(shè)備1的存儲元件中。常數(shù)值A(chǔ)在這種情況下代表平均光盤介質(zhì)M與平均光盤設(shè)備1的組合的最佳值So的變化關(guān)于溫度變化的比例。注意，常數(shù)值A(chǔ)對于每種光盤介質(zhì)M可能是不同值。在這種情況下，光盤設(shè)備1首先進(jìn)行判斷放置在設(shè)備中的光盤介質(zhì)M的類型的處理，并且基于判斷結(jié)果，從事先存儲的多個候選值中選擇要用于第二校正處理的常數(shù)值A(chǔ)。進(jìn)一步，在光盤介質(zhì)M包括多個數(shù)據(jù)記錄層的情況下，可以為多個數(shù)據(jù)記錄層的每一個準(zhǔn)備不同常數(shù)值A(chǔ)。校正控制部分43進(jìn)行這樣的控制，即在開始從光盤介質(zhì)M中讀取信息之后的每個預(yù)定定時，有選擇地使第一校正處理部分41和第二校正處理部分42的任意一個進(jìn)行校正預(yù)定控制參數(shù)的值的處理。這里，具體地說，按照熱敏電阻21測量的溫度的變化，校正控制部分43確定執(zhí)行校正處理的定時，以及在那個定時執(zhí)行第一校正處理和第二校正處理的哪一種。為了通過與初始調(diào)整處理類似的處理計算SA參數(shù)的調(diào)整值，如上所述，有必要在改變SA參數(shù)的設(shè)置值的同時測量與各自三個或更多個設(shè)置值相對應(yīng)的抖動值。在這個時候，響應(yīng)SA參數(shù)的設(shè)置值的變化，進(jìn)行多次改變準(zhǔn)直透鏡33的位置的機(jī)械控制。由于這個原因，第一校正處理比第二校正處理相比花費(fèi)較多時間。反過來，對于第一校正處理，與光盤介質(zhì)M和光盤設(shè)備1的獨(dú)特可變性無關(guān)，有可能在設(shè)備環(huán)境下在進(jìn)行校正處理的時候計算最佳調(diào)整值。另一方面，第二校正處理使校正值S可以不用多次改變準(zhǔn)直透鏡33的位置地通過計算處理確定，并且因此與第一校正處理相比可以在較短時間間隔內(nèi)完成。然而，用于第二校正處理的常數(shù)值A(chǔ)是這樣的值，即基于平均光盤介質(zhì)M和平均光盤設(shè)備1的組合來確定。因此，對于第二校正處理，不是總是為各個光盤介質(zhì)M和光盤設(shè)備1獲得最佳校正值S。為了解決這個問題，將校正控制部分43配置成在自執(zhí)行初始調(diào)整處理以來的溫度變化小的同時，使第二校正處理部分42執(zhí)行校正處理，而當(dāng)溫度變化在某種程度上已經(jīng)變大時，使第一校正處理部分41執(zhí)行校正處理。換句話說，光盤設(shè)備1在溫度變化小的同時，通過簡單的第二校正處理校正SA參數(shù)，并且在這樣的簡單校正處理不能消除校正值S 與最佳值So之間的間隙之前，執(zhí)行更加精確的第一校正處理。對于這種配置，在與頻繁執(zhí)行第一校正處理相比抑制了校正處理所需的時間間隔的同時，光盤設(shè)備1可以在正在繼續(xù)使用的同時，不會出現(xiàn)讀取誤差地繼續(xù)校正SA參數(shù)。舉一個特例來說，校正控制部分43周期性地獲取有關(guān)熱敏電阻21測量的溫度T 的信息，并且進(jìn)行每當(dāng)溫度T從執(zhí)行初始校正處理或先前校正處理時的溫度開始改變了預(yù)定數(shù)量(在這種情況下，5°C)時，使第一校正處理和第二校正處理的任意一種被執(zhí)行的控制。在這個時候，假設(shè)在執(zhí)行了初始校正處理或第一校正處理之后，執(zhí)行三次第二校正處理，第四次執(zhí)行第一校正處理。具體地說，在執(zhí)行了初始校正處理之后，每當(dāng)溫度升高5°C時就執(zhí)行校正處理，并且每四次(當(dāng)溫度升高20°C )執(zhí)行一次第一校正處理。圖5是示出溫度變化與校正控制部分43執(zhí)行這樣的控制時獲得的SA參數(shù)的設(shè)置值之間的關(guān)系的曲線圖。該曲線圖的水平軸表示關(guān)于進(jìn)行初始校正處理時的溫度的溫度變化，“0”與初始調(diào)整處理的執(zhí)行定時對應(yīng)。進(jìn)一步，該曲線圖的縱軸表示SA參數(shù)的設(shè)置值， 該曲線圖中的實線示出了上述控制造成的SA參數(shù)的設(shè)置值的變化的示例。進(jìn)一步，該圖中的虛直線Ll和L2的每一條示出了溫度變化與SA參數(shù)的最佳值So之間的線性關(guān)系，其斜率是事先存儲在光盤設(shè)備1中的常數(shù)值A(chǔ)。直線Ll和L2分別將進(jìn)行了初始校正處理之后獲得的設(shè)置值和第一次進(jìn)行了第一校正處理之后獲得的設(shè)置值用作基準(zhǔn)。另一方面，直線 L3示出了顯示在圖5中的設(shè)備和介質(zhì)的組合的實際溫度變化與SA參數(shù)的最佳值So之間的關(guān)系。如圖所示，每當(dāng)設(shè)備內(nèi)部的溫度升高5°C時，光盤設(shè)備1就通過第一校正處理或第二校正處理校正SA參數(shù)的設(shè)置值。在這種情況下，前三次由第二校正處理部分42執(zhí)行校正處理。其結(jié)果是，校正之后的設(shè)置值與直線Ll上的點(diǎn)一致。從曲線圖中可以看出，每當(dāng)執(zhí)行第二校正處理時，使設(shè)置值與直線L3所指的SA參數(shù)的實際最佳值So更接近，但設(shè)置值與最佳值So之間的間隙隨著溫度升高越來越大。此后，當(dāng)溫度升高了 20°C時，執(zhí)行第一校正處理。借助于第一校正處理，將設(shè)置值校正成與直線L3上的最佳值So—致。此后，每當(dāng)溫度升高5°C時，再次執(zhí)行第二校正處理，從而沿著直線L2校正設(shè)置值。注意，在圖5中，在執(zhí)行了第一校正處理之后，也使用事先存儲在設(shè)備中的常數(shù)值 A執(zhí)行第二校正處理。然而，光盤設(shè)備1可以使用作為最初校正處理和第一校正處理的結(jié)果獲得的SA參數(shù)的調(diào)整值計算實際溫度變化與SA參數(shù)的最佳值So之間的線性關(guān)系的斜率(圖5的直線L3的斜率)，并且可以將計算值用作新常數(shù)值A(chǔ)，從而執(zhí)行隨后第二校正處理。進(jìn)一步，如果以這種方式高精度地重新確定了常數(shù)值A(chǔ)，則可以想像，可以通過隨后第二校正處理高精度地將SA參數(shù)校正成與最佳值So接近的值。因此，此后可以限制第一校正處理的執(zhí)行，并且可以通過第二校正處理校正SA參數(shù)?？商娲氖牵跍p少第一校正處理的執(zhí)行頻率的同時，可以增加第二校正處理的執(zhí)行頻率。進(jìn)一步，可以按照光盤介質(zhì)M的類型改變第一校正處理和第二校正處理的各自執(zhí)行頻率。例如，諸如從低到高(LTH)類型的BD-R的特定類型的光盤介質(zhì)M由于其獨(dú)特可變性呈現(xiàn)寬泛的常數(shù)值A(chǔ)的變化范圍。相應(yīng)地，當(dāng)放置了這樣類型的光盤介質(zhì)M時，第一校正處理的執(zhí)行頻率與其它類型的光盤介質(zhì)M相比可能增大了(例如，每當(dāng)溫度升高15°C時就進(jìn)行第一校正處理)。進(jìn)一步，校正控制部分43可以不僅按照熱敏電阻21測量的溫度的變化而且按照設(shè)備的讀取操作的控制定時確定使第一校正處理部分41或第二校正處理部分42執(zhí)行校正處理的定時。具體地說，例如，如果在正在進(jìn)行從光盤介質(zhì)M中的信息讀取的同時，響應(yīng)來自主機(jī)的命令執(zhí)行校正處理，則使讀取操作中止，導(dǎo)致從主機(jī)的角度來說讀取等待時間比正常情況更長。因此，校正控制部分43可以在預(yù)定溫度變化(在上述示例中，在前一次校正之后溫度升高了 5°C )之后第一次滿足與讀取操作有關(guān)的預(yù)定條件的定時使第一校正處理或第二校正處理被執(zhí)行。具體地說，在預(yù)定溫度變化之后，校正控制部分43可以在第一次執(zhí)行預(yù)定控制操作的定時執(zhí)行校正處理。舉一個示例來說，為了響應(yīng)來自主機(jī)的信息讀取命令從特定位置讀取信息，光盤設(shè)備1驅(qū)動三軸致動器14，從而進(jìn)行沿著光盤介質(zhì)M的直徑方向移動光學(xué)拾取器13的尋找控制。因此，校正控制部分43可以在開始或完成尋找控制的定時使第一校正處理或第二校正處理被執(zhí)行。進(jìn)一步，當(dāng)從主機(jī)接收到信息讀取命令時，存在光盤設(shè)備1預(yù)讀記錄在遵循該命令指定的范圍的范圍中的信息，并且將該信息存儲在高速緩沖存儲器，為下一個信息讀取命令作準(zhǔn)備的情況。在這樣的情況下，校正控制部分43可以在將預(yù)定數(shù)量的數(shù)據(jù)或更多數(shù)據(jù)高速緩存在高速緩沖存儲器中時，開始執(zhí)行第一校正處理或第二校正處理。對于這種配置，當(dāng)從主機(jī)重新接收到信息讀取命令時，能夠不再次進(jìn)行信息讀取操作地提供存儲在高速緩沖存儲器中的信息的可能性提高了。因此，可以防止讀取操作的等待時間因校正處理而延長。但是，取決于來自主機(jī)的命令的內(nèi)容，這樣上面作為示例給出的與讀取操作有關(guān)的預(yù)定條件可能難以滿足。例如，當(dāng)對相繼存儲在光盤介質(zhì)M中的大量數(shù)據(jù)執(zhí)行讀取操作時，在執(zhí)行讀取操作期間滿足不了上述條件。然而，在這種情況下，出現(xiàn)溫度升高使控制參數(shù)的設(shè)置值偏離最佳值So的擔(dān)心。為了解決這個問題，當(dāng)在預(yù)定溫度變化之后的固定時間間隔內(nèi)未滿足與讀取操作有關(guān)的預(yù)定條件時，校正控制部分43可以強(qiáng)制執(zhí)行第一校正處理或第二校正處理。進(jìn)一步，取決于下一次要執(zhí)行的校正處理是第一校正處理還是第二校正處理，校正控制部分43可以改變確定其執(zhí)行定時的預(yù)定條件。按照上述第一實施例的光盤設(shè)備1，與只重復(fù)執(zhí)行第一校正處理的情況相比，有可能在設(shè)備正在使用的同時在較短時間間隔內(nèi)校正控制參數(shù)。[第二實施例]接著，描述按照本發(fā)明第二實施例的光盤設(shè)備。注意，按照第二實施例的光盤設(shè)備的硬件配置與按照第一實施例的例示在圖1和2中的光盤設(shè)備1的硬件配置相同。因此， 本文省略對它的詳細(xì)描述，并且用相同標(biāo)號表示與第一實施例的那些相同的部件。與按照第一實施例的光盤設(shè)備類似，在開始關(guān)于光盤介質(zhì)M讀取信息之后，按照這個實施例的光盤設(shè)備校正設(shè)置值，以便設(shè)置值跟隨隨設(shè)備環(huán)境變化起伏的控制參數(shù)(在這種情況下，SA參數(shù))的最佳值So。然而，在這個實施例中，校正控制參數(shù)的處理通過與第一實施例不同的方法來執(zhí)行。注意，在下文中，為了方便起見，將在第二實施例中進(jìn)行的校正處理稱為第三校正處理，以區(qū)別于在第一實施例中進(jìn)行的第一校正處理和第二校正處理。具體地說，光盤設(shè)備1進(jìn)行關(guān)于控制參數(shù)的兩個值，獲取指示從光盤介質(zhì)M中讀取信息的精度的評估值(在這種情況下，抖動值)，并且基于兩個所獲取評估值更新預(yù)定控制參數(shù)的設(shè)置值的處理。通過更新處理，將控制參數(shù)的設(shè)置值改變成與最佳值So較接近。通過重復(fù)進(jìn)行這樣的處理，光盤設(shè)備1將控制參數(shù)的設(shè)置值校正成與最佳值So接近的值。校正處理可以在正在進(jìn)行從光盤介質(zhì)M中讀取信息的操作的同時執(zhí)行。注意，校正處理通過控制單元20執(zhí)行存儲在內(nèi)置存儲元件中的程序來實現(xiàn)。該程序可以通過存儲在各種計算機(jī)可讀信息存儲介質(zhì)中來提供。現(xiàn)在描述第三校正處理的基本概念。光盤設(shè)備1將要執(zhí)行更新設(shè)置值的處理時獲得的SA參數(shù)的值(下文稱為中心值Sc)設(shè)置成基準(zhǔn)，然后測量與從作為中心的中心值& 向兩側(cè)移動相同數(shù)量的兩個不同設(shè)置值(下文分別稱為相加值Sp和相減值Sm)相對應(yīng)的抖動值。這里，利用預(yù)定改變量α將相加值Sp和相減值Sm分別表達(dá)如下Sp = Sc+α ；和Sm = Sc- α。倘若設(shè)置值被設(shè)置成S時獲得的抖動值用J6)表達(dá)，則如圖3所示，在SA參數(shù)的設(shè)置值與抖動值J6)之間，建立起可以近似表示成開口向上拋物線的關(guān)系。相應(yīng)地，假設(shè)分別關(guān)于相加值Sp和相減值Sm測量的抖動值與理想拋物線吻合，則有可能通過作出有關(guān)抖動值J(Sp)和J(Sm)哪一個較大的比較，判斷中心值&大于還是小于最佳值So。具體地說，當(dāng)J(Sm) < J(Sp)成立時，估計So。然后，控制單元20判斷需要將中心值&更新成較小值。相反，當(dāng)J(Sm) > J(Sp)成立時，估計So，然后，判斷需要將中心值&更新成較大值。通過重復(fù)進(jìn)行如上所述更新中心值&的處理，使中心值&與最佳值So更接近。即使最佳值So在正在使用設(shè)備的同時由于，例如，溫度升高而發(fā)生變化，也有可能通過以某種頻率重復(fù)更新處理防止中心值&嚴(yán)重偏離最佳值So。注意，當(dāng)按照這個實施例的光盤設(shè)備1執(zhí)行第三校正處理時，需要將改變量α設(shè)置成較小值，以便不會嚴(yán)重影響讀取精度。在上述初始調(diào)整處理中，為了高精度地近似表示成拋物線，需要在某種程度上大范圍地改變設(shè)置值。然而，第三校正處理在正在進(jìn)行從光盤介質(zhì)M中讀取信息的操作的同時執(zhí)行，因此，如果像在初始調(diào)整處理的情況中那樣顯著改變設(shè)置值，則越來越擔(dān)心會出現(xiàn)讀取誤差或伺服控制誤差。因此，通過將改變量α設(shè)置成小于用在初始校正處理中的設(shè)置值的改變量，可以避免這樣的問題。具體地說，改變量α可以是預(yù)定數(shù)量，但也可以基于通過在SA參數(shù)的初始調(diào)整處理中的近似計算確定的、表示設(shè)置值與評估值之間的關(guān)系的系數(shù)來確定。對于這種配置，例如，當(dāng)可以改變SA參數(shù)的設(shè)置值的范圍窄時，通過將改變量α設(shè)置得較小，可以在校正處理期間降低出現(xiàn)讀取誤差的概率。在下文中，參考圖6 10的流程圖描述控制部分20執(zhí)行的第三校正處理的特例。 注意，例如，在響應(yīng)來自主機(jī)的信息讀取命令執(zhí)行尋找控制之后，光盤設(shè)備1在開始信息讀取的定時開始第三校正處理。這樣之后，光盤設(shè)備1與從光盤介質(zhì)M中的信息讀取并行地進(jìn)行第三校正處理。進(jìn)一步，當(dāng)在給予時間間隔或更長時間間隔內(nèi)未接收到這樣的信息讀取命令，以及正在執(zhí)行保持光學(xué)拾取器的當(dāng)前位置的控制(暫?？刂?時，可以進(jìn)行第三校正處理。重復(fù)進(jìn)行第三校正處理，直到在，例如，完成了讀取操作之后從主機(jī)接收到新命令。如圖6所示，控制單元20首先判斷基準(zhǔn)溫度Trl與當(dāng)前溫度T之間的差值Δ Tl 是否大于等于預(yù)定值(在這種情況下，rc) (Si)。這里，在開始第三校正處理的時候，與第一實施例類似，基準(zhǔn)溫度Trl是首先進(jìn)行初始調(diào)整處理時通過熱敏電阻21測量的溫度。進(jìn)一步，當(dāng)前溫度T是進(jìn)行判斷時通過熱敏電阻21測量的溫度。當(dāng)Δ Tl小于預(yù)定值時，不進(jìn)行隨后處理。當(dāng)溫差變成大于等于預(yù)定值時，開始隨后處理。隨后，控制單元20初始化變量(S》。具體地說，控制單元20將指示計時器的開始時間的變量tl和t2的每一個設(shè)置成當(dāng)前時間t的信息。進(jìn)一步，控制單元20將存儲測量抖動值的結(jié)果的陣列變量Jp [y]和Jm[y]的所有值復(fù)位成0。這里，y是取從0到N的整數(shù)的計數(shù)變量，最多存儲(N+1)個值作為陣列變量Jp和Jm的每一個。進(jìn)一步，控制單元20 將0指定給存儲確定SA參數(shù)的更新方向(增大還是減小中心值&)的積分值的變量義！·， 將預(yù)定初始值(在這種情況下，7秒)指定給定義準(zhǔn)直透鏡33的驅(qū)動間隔的時間變量ta， 以及將0指定給指示SA參數(shù)的先前更新方向的變量Dire。隨后，控制單元20將SA參數(shù)的設(shè)置值改變成相減值Sm( = Sc- α )，并且進(jìn)行將準(zhǔn)直透鏡33移動到與相減值Sm對應(yīng)的位置的準(zhǔn)直透鏡移動處理(S； )。具體地說，這個處理如圖7所示。也就是說，控制單元20首先檢驗準(zhǔn)直透鏡33是否因其它控制處理而處在運(yùn)動之中(S21)。執(zhí)行這種處理是為了保證當(dāng)與其它處理并行地執(zhí)行這個實施例的第三校正處理時，準(zhǔn)直透鏡33不受到意外驅(qū)動。當(dāng)準(zhǔn)直透鏡33處在運(yùn)動之中時，控制單元20等待運(yùn)動結(jié)束。隨后，控制單元20判斷當(dāng)前時間是否滿足t-tl彡ta(S22)。進(jìn)行這種判斷是為了使時間間隔等于或長于時間變量ta所指的時間間隔地驅(qū)動準(zhǔn)直透鏡33以改變它的位置。 對于這種配置，可以抑制時間間隔較短地移動準(zhǔn)直透鏡33引起的發(fā)熱或機(jī)械負(fù)擔(dān)。當(dāng)未滿足這個判斷條件時，控制單元20返回到S21，并且等待經(jīng)過等于或長于ta的時間間隔。當(dāng)滿足這個S22的判斷條件時，控制單元20將變量tl復(fù)位成當(dāng)前時間t (S23)，并且將SA參數(shù)的設(shè)置值改變成比當(dāng)前時間的中心值&小改變量α的相減值Sm(SM)。響應(yīng)這種改變，準(zhǔn)直透鏡驅(qū)動單元；34驅(qū)動準(zhǔn)直透鏡33。此后，控制單元20等待準(zhǔn)直透鏡33的運(yùn)動結(jié)束(S2Q。當(dāng)準(zhǔn)直透鏡33的運(yùn)動結(jié)束時，控制單元20將兩個計數(shù)變量χ和y復(fù)位成0以用于隨后抖動值測量/比較處理(S26)， 并終止準(zhǔn)直透鏡移動處理?；仡^參照圖6，隨后，控制單元20進(jìn)行在準(zhǔn)直透鏡已經(jīng)移動到與相減值Sm對應(yīng)的位置的狀態(tài)下多次測量抖動值，并且將所得值與在與相加值Sp對應(yīng)的位置上獲得的抖動值相比較的抖動值測量/比較處理(S4)。注意，當(dāng)與信息讀取并行地進(jìn)行第三校正處理時， 在在抖動值測量/比較處理中測量抖動值的時候，無需只為了抖動值的測量而再次進(jìn)行信息讀取。抖動值可以根據(jù)通過并行進(jìn)行的信息讀取操作獲得的再現(xiàn)信號(RF信號)來計算。下面參考圖8和9的流程圖描述抖動值測量/比較處理的特例。首先，控制單元 20檢驗在其它控制處理中是否正在測量抖動值(S31)。當(dāng)正在測量抖動值時，控制單元20 等待測量結(jié)束，然后進(jìn)行隨后處理。隨后，控制單元20指示記錄信號處理單元19開始測量抖動值(S3》，并等待與該指令對應(yīng)的抖動值測量結(jié)束(S33)。當(dāng)抖動值的測量結(jié)束時，控制單元20判斷測量是否成功(S34)。當(dāng)測量未成功時，控制單元20返回到步驟S31并且再次嘗試測量。另一方面， 當(dāng)測量成功時，控制單元20判斷測量的抖動值Jc是否小于已經(jīng)存儲在Jm[y]中的抖動值(S35)。當(dāng)新測量抖動值Jc小于已存儲抖動值時，用新測量抖動值Jc蓋寫Jm[y]的值 (S36)。注意，當(dāng)在S35中Jm[y] = 0時(也就是說，還未將實際測量抖動值指定給Jm[y] 時)，控制單元20將當(dāng)前測量抖動值Jc指定給Jm[y]。進(jìn)一步，控制單元20將1加入計數(shù)變量χ中(S37)，然后判斷是否滿足要求χ大于等于預(yù)定值(在這種情況下，1 的條件(S38)。當(dāng)未滿足這個判斷條件時，控制單元20返回到S31以便重復(fù)新抖動值的測量。另一方面，當(dāng)滿足該判斷條件時，將χ復(fù)位成0(S39)。通過到此為止進(jìn)行的處理，使相減值Sm被設(shè)置地多次(在這種情況下，12次)測量了抖動值，并且將多次所得測量值的最小值存儲在變量Jm[y]中。這里，進(jìn)行了多次測量，并且從中獲取最小值使得，例如，當(dāng)由于光盤介質(zhì)M上的劃痕等測量到過大抖動值時， 基于這樣的異常值防止執(zhí)行隨后處理。此后，控制單元20判斷Jp
是否是0(S40)。當(dāng)Jp
是0時，與相加值Sp (Sp = Sc+a)對應(yīng)的抖動值還未得到測量，這意味著不存在要與通過上述處理獲得的Jm[y]相比的數(shù)據(jù)。在這種情況下，不進(jìn)行Jp[y]與Jm[y]之間的比較，控制單元20轉(zhuǎn)到S45的處理。注意，在第三校正處理開始之后，當(dāng)?shù)谝淮芜M(jìn)行判斷時，假定JpW]總是0。另一方面，當(dāng)Jp
不是0時，則意味著已經(jīng)進(jìn)行了使相加值Sp得到設(shè)置的抖動值測量/比較處理(下述的S7的處理)，并且作為測量結(jié)果，將25個抖動值存儲在陣列變量Jp中。在這種情況下，控制單元20在幅度方面將通過上述處理存儲在Jm[y]中的抖動值與存儲在Jp[y]中的抖動值相比較，從而判斷Jm[y] < Jp[y]是否成立(S41)。當(dāng)這個不等式成立時，控制單元20從存儲在變量kr中的值中減去1 (S4》。另一方面，當(dāng)該不等式不成立時，控制單元20相反地判斷Jm[y] > Jp[y]是否成立(S43)。當(dāng)這個不等式成立時，控制單元20將1加入存儲在變量Ser中的值中(S44)。當(dāng)該不等式不成立時，則意味著 Jm[y]等于Jp [y]，因此，控制單元20在不更新變量kr的值的情況下轉(zhuǎn)到S45的下一步處理。隨后，控制單元20判斷存儲在變量Ser中的值的絕對值| kr |是否小于預(yù)定閾值 th (在這種情況下，15) (S45)。當(dāng)I Ser | < th時，控制單元20將1加入y中(S46)，并且然后判斷y是否大于等于預(yù)定值(在這種情況下，25) (S47)。當(dāng)y大于等于25時，控制單元 20將y復(fù)位成0 (S48)，并且終止抖動值測量處理。另一方面，當(dāng)y小于25時，控制單元20 返回到S31，關(guān)于y的新值重復(fù)上述處理。如上所述，通過在遞增y的同時重復(fù)多次測量抖動值和將其最小值存儲在Jm[y] 中(S31 S39)的處理25次，關(guān)于y從0到M的每個值依次將抖動值存儲在陣列變量Jm[y] 中。然后，當(dāng)在Jp[y]中已經(jīng)存儲了抖動值時，每次當(dāng)關(guān)于y的新值將抖動值存儲在Jm[y] 中，在S41和S43中在Jm[y]與Jp[y]之間在幅度方面作出比較，并且基于比較結(jié)果，在S42 和S44中將比較結(jié)果累積在變量kr中。這里，當(dāng)在與相減值Sm對應(yīng)的抖動值J(Sm)和與相加值Sp對應(yīng)的抖動值J(Sp)之間，J(Sm) < J(Sp)的關(guān)系成立時，可以想像，作為重復(fù)從變量Ser的值中減去1的處理(S42)的結(jié)果，在進(jìn)行25次關(guān)于y的重復(fù)處理之前，| kr | = th是成立的，結(jié)果是，S45的判斷條件無法得到滿足。此外，類似地，當(dāng)J(Sm) > J(Sp)的關(guān)系成立時，可以想像，重復(fù)將1加入變量^^的值中的處理(S44)以便也使ISerI = th 成立，結(jié)果是，S45的判斷條件無法得到滿足。另一方面，使S45的判斷條件繼續(xù)成立地，例如，當(dāng)因為還未將抖動值存儲在Jp[y]中，所以跳過從S41到S44的處理時，或當(dāng)在J(Sm) 與J(Sp)之間幾乎沒有差異時(也就是說，當(dāng)中心值&與最佳值So基本一致時)，將y — 直遞增到25。這里，測量了多個抖動值作為Jm[y]和Jp[y]，然后累積在幅度方面比較它們獲得的結(jié)果作為變量義！·的值。這是為了防止J(Sm)與J(Sp)之間的幅度關(guān)系因異常抖動值而被錯誤判斷。如上所述，第三校正處理也在正在進(jìn)行從光盤介質(zhì)M中的信息讀取的同時進(jìn)行。相應(yīng)地，在一些情況下，即使正在進(jìn)行校正處理，也由于尋找控制而中止校正處理，并且在光盤介質(zhì)M上的不同地點(diǎn)上測量比較目標(biāo)的兩個抖動值。但是，如果測量地點(diǎn)不同，則會出現(xiàn)由于，例如，介質(zhì)表面上的劃痕引起的影響，不能適當(dāng)評估J(Sm)與J(Sp)之間的幅度關(guān)系造成的擔(dān)憂。為了解決這個問題，在這個實施例中，最多分別獲取與J(Sm)對應(yīng)的25 個抖動值和與J(Sp)對應(yīng)的25個抖動值，并且通過統(tǒng)計評估它們的總體趨勢來評估J(Sm) 與J(Sp)之間的幅度關(guān)系。如上所述，當(dāng)統(tǒng)計評估J(Sm)與J(Sp)之間的幅度關(guān)系，并獲得評估結(jié)果時，S45的判斷條件無法得到滿足。在這種情況下，控制單元20執(zhí)行下述的中心值更新處理(S49)，從而將中心值&更新成與最佳值So接近的值。圖10是圖示中心值更新處理的流程的示例的流程圖。如圖所示，控制單元20首先判斷Ser是否大于等于15 (S51)。當(dāng)Ser大于等于15時，可以估計J(Sm) > J(Sp)的關(guān)系成立，因此，控制單元20將中心值&增加預(yù)定單位量u (例如，與準(zhǔn)直透鏡33的移動的最小單位量對應(yīng))(S52)。
隨后，控制單元20判斷變量Dirc是否是-1(S53)。當(dāng)Dirc的當(dāng)前值是_1時，則意味著因為在先前中心值更新處理中進(jìn)行了減小中心值Sc的更新，所以在這次的中心值更新處理中，沿著與前處理相反的方向改變中心值&。在這種情況下，假設(shè)已經(jīng)使中心值 Sc基本上變成與拋物線的頂點(diǎn)相對應(yīng)的最佳值So,并且因此，降低此后對SA參數(shù)的更新頻率。具體地說，控制單元20將時間變量ta的值改變成大于初始值(在這種情況下，14秒) 的值(S54)。對于這種配置，上述準(zhǔn)直透鏡移動處理在S22中造成的等待時間變得比初始值更長，并且移動準(zhǔn)直透鏡33的頻率變得較低。也就是說，SA參數(shù)的更新周期變得更長了。 進(jìn)一步，控制單元20將基準(zhǔn)溫度Trl復(fù)位成熱敏電阻21測量的當(dāng)前時間的溫度T(S55)。 這是為了將更新中心值的時間作為基準(zhǔn)地判斷下述的處理終止條件是否得到滿足。另一方面，當(dāng)在S53中判斷Dirc不是_1時，不改變中心值Sc的更新方向，并且因此SA參數(shù)的更新頻率返回到初始設(shè)置狀態(tài)。具體地說，控制單元20將時間變量ta的值改變成初始值(7秒)(S56)。進(jìn)一步，在這種情況下，可以想像，中心值&處在接近最佳值So 的過程中，并且因此還不能復(fù)位基準(zhǔn)溫度Trl。然而，響應(yīng)在S52中通過單位量u已經(jīng)使其更接近最佳值So的中心值&，將基準(zhǔn)溫度Trl改變與單位量u相對應(yīng)的數(shù)量。具體地說， 通過使用在第一實施例的示例中描述的常數(shù)值A(chǔ)，用u/A表達(dá)與單位量u對應(yīng)的溫度變化。 控制單元20將這個值加入基準(zhǔn)溫度Trl中。在進(jìn)行了 S55和S57的任意一個的處理之后， 控制單元20按照這時已經(jīng)校正了中心值Sc的方向進(jìn)一步將變量Dirc的值更新成1。進(jìn)一步，當(dāng)S51的上述判斷條件未得到滿足時(也就是說，當(dāng)Ser不是正值時)，則意味著Ser是負(fù)值(小于等于-15)，并且因此，可以相反地估計J(Sm) < J(Sp)的關(guān)系成立。在這種情況下，控制單元20將中心值&減小預(yù)定單位量u (S59)。隨后，如圖10中的S60到S65所示，控制單元20進(jìn)行與kr彡15時進(jìn)行的S53 到S58的處理相似的處理。然而，考慮到在S59中改變中心值&的方向與S52中相反，該處理與S53，S57，和S58的處理分別不同之處在于在S60中判斷Dirc是否是1 ；在64中從基準(zhǔn)溫度Trl中減去u/A，而不是將u/A加入基準(zhǔn)溫度Trl中；以及在S65中將Dirc更新成-1。最后，響應(yīng)中心值&的更新，控制單元20復(fù)位用于在抖動值測量/比較處理中存儲和比較抖動值的每個變量。具體地說，控制單元20將陣列變量Jm[y]和Jp[y]的所有值初始化成0，并且還將0指定給變量y和Ser的每一個(S66)，從而終止中心值更新處理。這樣之后，也終止抖動值測量/比較處理?；仡^參照圖6，在終止抖動值測量/比較處理之后，控制單元20隨后判斷處理終止條件是否得到滿足(SO。這里，當(dāng)交替地沿著不同方向進(jìn)行中心值Sc的更新，而不是如上所述在中心值更新處理中沿著相同方向重復(fù)中心值&的更新時，假設(shè)中心值&基本上與最佳值So—致。當(dāng)這樣的狀態(tài)持續(xù)了某個時間間隔時，可以想像，可以暫時終止第三校正處理。因此，控制單元20判斷這樣的條件是否得到滿足。具體地說，作為第一終止判斷條件，控制單元20首先判斷變量ta的值是否通過 S54或S61的處理被設(shè)置成大于初始值的值(14秒)，以及ΔΤ1 (=(當(dāng)前溫度T)-(基準(zhǔn)溫度Trl))是否小于預(yù)定值(在這種情況下，1°C)。這里，提供ΔΤ1 < 1°C的條件是因為， 當(dāng)最后更新了中心值&之后在某種程度上發(fā)生了溫度變化，以及在S55或S62的處理中復(fù)位了基準(zhǔn)溫度Trl時，也需要校正控制參數(shù)的處理。這個與溫度有關(guān)的條件未得到滿足的情況的示例包括溫度發(fā)生突然變化的情況、以及由于來自其它控制處理等的干擾暫時中止了第三校正處理，從中途開始重新進(jìn)行處理的情況。當(dāng)?shù)谝唤K止判斷條件未得到滿足時，控制單元20將基準(zhǔn)時間t2復(fù)位成當(dāng)前時間t，然后轉(zhuǎn)到S6的隨后處理。另一方面，當(dāng)?shù)谝唤K止判斷條件得到滿足時，作為第二終止判斷條件，控制單元20 進(jìn)一步判斷(當(dāng)前時間t)_(基準(zhǔn)時間t2)的時間段是否大于等于預(yù)定時間段(在這種情況下，1分鐘)。當(dāng)滿足t-t2> 1(分鐘)的條件時，則意味著交替地沿著不同方向進(jìn)行中心值&的更新的狀態(tài)在沒有溫度變化的情況下持續(xù)了 1分鐘或更長。在這種情況下，控制單元20判斷要暫時終止第三校正處理，然后轉(zhuǎn)到下述的S9的處理。相反，當(dāng)?shù)诙K止判斷條件未得到滿足時，控制單元20轉(zhuǎn)到S6的處理。隨后，控制單元20將SA參數(shù)的設(shè)置值改變成相加值Sp ( = α )，然后進(jìn)行將準(zhǔn)直透鏡33移動到與相加值Sp對應(yīng)的位置的準(zhǔn)直透鏡移動處理(S6)。這個處理與例示在圖 7中的S3的準(zhǔn)直透鏡移動處理類似，除了在SM中將SA參數(shù)的設(shè)置值改變成相加值Sp,而不是改變成相減值Sp之外。在準(zhǔn)直透鏡33被移動到與相加值Sp相對應(yīng)的位置之后，控制單元20隨后進(jìn)行抖動值測量/比較處理(S7)。這個處理與例示在圖8 10中的S4的抖動值測量/比較處理類似，除了如下之外在S35和S36中，存儲測量抖動值的結(jié)果的陣列變量是Jp[y]，而不是 Jm [y]；以及在S40中，判斷目標(biāo)是Jm
而不是JpW]。對于這種配置，針對設(shè)置了相加值 Sp的情況測量抖動值，并且當(dāng)在Jm[y]中已經(jīng)存儲了抖動值時，在基于相加值Sp測量的抖動值Jp[y]與基于相減值Sm測量的抖動值Jm[y]之間進(jìn)一步作出比較。在完成了抖動值測量/比較處理(S7)之后，控制單元20隨后像在S5中那樣判斷處理終止條件是否得到滿足(S8)。與S5類似，這個判斷處理也通過使用第一終止判斷條件和第二終止判斷條件來進(jìn)行。作為判斷結(jié)果，當(dāng)判斷處理終止條件未得到滿足時，控制單元 20返回到S3以便繼續(xù)重復(fù)第三校正處理。另一方面，當(dāng)判斷處理終止條件得到滿足時，控制單元20判斷要暫時終止第三校正處理，然后轉(zhuǎn)到S9的處理。當(dāng)在S5或S8中判斷處理終止條件得到滿足時，估計中心值&基本上與最佳值So 一致，但是，那時，應(yīng)該將SA參數(shù)的設(shè)置值設(shè)置成相減值Sm和相加值Sp的任意一個。相應(yīng)地，控制單元20進(jìn)行準(zhǔn)直透鏡移動處理，從而進(jìn)行使SA參數(shù)的設(shè)置值返回到中心值Sc的控制(S9)。這個處理可以與在S3或S6中進(jìn)行的準(zhǔn)直透鏡移動處理類似，除了在S24中， 將SA參數(shù)的設(shè)置值改變成那時獲得的中心值Sc之外。在該控制之后，控制單元20返回到 Si,并且等待由于當(dāng)前溫度T相對于基準(zhǔn)溫度Trl的變化，再次有必要進(jìn)行第三校正處理的狀態(tài)。注意，在上述中，第三校正處理是相繼執(zhí)行的一系列處理，但是，如上所述，因為在正在使用設(shè)備的同時進(jìn)行第三校正處理，所以存在由于除了讀取操作或暫停操作之外的控制操作(例如，尋找操作)而中止第三校正處理的情況?？紤]到上述情況，為了即使當(dāng)出現(xiàn)這樣的中止時也可以從中途開始重新進(jìn)行校正處理，可以準(zhǔn)備指示處理前進(jìn)狀態(tài)的計數(shù)變量，并且隨著處理步驟的每一次前進(jìn)遞增計數(shù)變量。對于這種配置，即使中止了處理，也有可能通過引用計數(shù)變量在重新進(jìn)行定時重新進(jìn)行以后的處理。進(jìn)一步，在光盤介質(zhì)M包括多個數(shù)據(jù)記錄層的情況下，存在由主機(jī)發(fā)出指令從與到此為止已經(jīng)進(jìn)行了讀取的數(shù)據(jù)記錄層不同的數(shù)據(jù)記錄層讀取信息的情況。在這樣的情況下，因為每個數(shù)據(jù)記錄層具有SA參數(shù)的不同最佳值So，所以需要通過關(guān)于多個數(shù)據(jù)記錄層的每一個使用分離的變量，獨(dú)立地進(jìn)行第三校正處理。因此，當(dāng)給出進(jìn)行從到此為止已經(jīng)讀取了信息的數(shù)據(jù)記錄層(先前數(shù)據(jù)記錄層)到另一個數(shù)據(jù)記錄層(新數(shù)據(jù)記錄層)的層間跳轉(zhuǎn)的指令時，中止關(guān)于先前數(shù)據(jù)記錄層的第三校正處理，而進(jìn)行關(guān)于新數(shù)據(jù)記錄層的第三校正處理。在這種情況下，可以從圖6的Sl開始再次進(jìn)行校正處理，而不是從以前中止的點(diǎn)開始重新進(jìn)行處理。按照上述第二實施例的光盤設(shè)備1，即使當(dāng)正在進(jìn)行從光盤介質(zhì)M的信息讀取時， 也可以進(jìn)行校正處理，使得控制參數(shù)的設(shè)置值跟隨最佳值So。注意，這些處理流程和用在上述中的控制的各種常數(shù)都是示例。進(jìn)一步，可以按照，例如，光盤設(shè)備1的工作狀態(tài)改變在上述中定義成預(yù)定常數(shù)的值。例如，當(dāng)設(shè)備內(nèi)單位時間的溫度變化量大時，有必要進(jìn)行校正，使得設(shè)置值更迅速地收斂到最佳值So。相反，當(dāng)溫度變化量小時，在一些情況下，最好是不頻繁移動準(zhǔn)直透鏡33。相應(yīng)地，可以按照溫度變化率或自開始使用設(shè)備以來的流逝時間改變?nèi)缦轮?。那些值是，例如，定義測量抖動值的次數(shù)和要比較的抖動值的個數(shù)的計數(shù)變量χ和y的上限值、代表進(jìn)行更新處理一次時中心值 Sc的改變量的單位量u、和確定要進(jìn)行更新處理的閾值th。進(jìn)一步，按照單位時間讀取誤差的出現(xiàn)概率，可以改變測量抖動值的次數(shù)、閾值th等。[組合示例]上面已經(jīng)描述過的按照第一實施例的光盤設(shè)備的校正處理和按照第二實施例的光盤設(shè)備的校正處理可以組合在一起執(zhí)行。如果由于其它控制處理等使上述第三校正處理長時間中止，則即使以后重新進(jìn)行第三校正處理，也可能不能高效地校正控制參數(shù)。例如， 在不存在在給定時間段內(nèi)從主機(jī)接收到的命令，并且光盤設(shè)備1已經(jīng)進(jìn)入等待狀態(tài)(主軸電機(jī)12和光學(xué)拾取器13的操作停止的狀態(tài))的情況下，當(dāng)光盤設(shè)備1以后從等待狀態(tài)恢復(fù)過來時，溫度相對于進(jìn)入等待狀態(tài)時的溫度可能發(fā)生了顯著變化。在這樣的情況下，即使當(dāng)進(jìn)行第三校正處理以便逐漸校正中心值&時，也擔(dān)心由于在進(jìn)行這樣的校正之前中心值Sc與最佳值So之間的間隙而出現(xiàn)讀取誤差等。為了解決這個問題，在開始讀取操作之前，光盤設(shè)備1可以按照當(dāng)前溫度T進(jìn)行描述在第一實施例中的第一校正處理或第二校正處理。圖11是圖示如上所述組合第一校正處理、第二校正處理、和第三校正處理時進(jìn)行的控制的示例的流程圖。在該圖的示例中，當(dāng)從主機(jī)接收到信息讀取命令時，控制單元20 首先判斷當(dāng)前溫度T與第一基準(zhǔn)溫度Trl之間的差值ΔΤ1是否大于等于預(yù)定值(在這種情況下，10°C) (S71)。然后，當(dāng)判斷條件得到滿足時，確定因為發(fā)生了大的溫度變化，所以有必要進(jìn)行高精度校正，因此執(zhí)行第一校正處理(S72)。此后，將第一基準(zhǔn)溫度Trl和第二基準(zhǔn)溫度Tr2復(fù)位成當(dāng)前溫度T (S73)。注意，在本例中，第一基準(zhǔn)溫度Trl與執(zhí)行初始校正處理或先前第一校正處理時獲得的溫度對應(yīng)，而第二基準(zhǔn)溫度Tr2與最后一次執(zhí)行初始校正處理、第一校正處理和第二校正處理的任意一種時獲得的溫度對應(yīng)。另一方面，當(dāng)S71的判斷條件未得到滿足時，控制單元20判斷當(dāng)前溫度T與第二基準(zhǔn)溫度Tr2之間的差值ΔΤ2是否大于等于預(yù)定值(在這種情況下，5°C) (S74)。然后，當(dāng)這個判斷條件得到滿足時，執(zhí)行第二校正處理(S75)，并且只將第二基準(zhǔn)溫度Tr2復(fù)位成當(dāng)前溫度T(S76)。另一方面，當(dāng)判斷條件未得到滿足時，控制單元20確定沒有必要進(jìn)行校正處理，然后轉(zhuǎn)到S77。此后，控制單元20執(zhí)行將光學(xué)拾取器13移動到來自主機(jī)的信息讀取命令指定的信息的讀取位置的尋找控制(S77)。在完成了尋找控制之后，控制單元20開始從光盤介質(zhì) M中讀取信息，并且還開始進(jìn)行第三校正處理(S78)。如上所述，第三校正處理一直進(jìn)行到第三校正處理因新控制命令等而中止，并且當(dāng)中止之后再次從主機(jī)發(fā)出信息讀取命令時， 再次從S71開始執(zhí)行處理。由于這個原因，當(dāng)中止的時間段長時，以及當(dāng)在那個時段期間出現(xiàn)了溫度變化時，按照溫度變化的程度有選擇地進(jìn)行第一校正處理或第二校正處理。注意， 在這里有選擇地執(zhí)行第一校正處理和第二校正處理，但可能按照溫度變化只進(jìn)行第一校正處理和第二校正處理之一。進(jìn)一步，即使在執(zhí)行第三校正處理期間，當(dāng)發(fā)出了溫度變化等時，如有必要，控制單元20也可以進(jìn)行第一校正處理和第二校正處理。例如，每當(dāng)執(zhí)行第三校正處理的每個步驟的處理時，控制單元20就可以判斷當(dāng)前溫度T相對于第二基準(zhǔn)溫度Tr2是否改變了預(yù)定值或更大，并且當(dāng)當(dāng)前溫度T改變了預(yù)定值或更大時，可以執(zhí)行第二校正處理。對于這種配置，例如，當(dāng)流逝了很長時間段在圖8的S34中都未作出測量成功的判斷時，由于測量抖動值的重復(fù)失敗，可以通過與第三校正處理不同的方法校正控制參數(shù)來避免讀取誤差等的出現(xiàn)。注意，在本例中，在通過第三校正處理正常更新控制參數(shù)的同時，無需進(jìn)行第二校正處理，因此，每當(dāng)更新中心值Sc時，需要復(fù)位第二基準(zhǔn)溫度Tr2。具體地說，例如，控制單元20 加入第二基準(zhǔn)溫度Tr2作為要在圖6的S2中初始化的變量，并且此外，除了在圖10的S55， S57，S62，和S64的每個處理中更新第一基準(zhǔn)溫度Trl之外，還在對應(yīng)的處理時將第二基準(zhǔn)溫度Tr2復(fù)位成當(dāng)前溫度Τ。注意，在按照上面給出的每個實施例的光盤設(shè)備的描述中，假設(shè)控制參數(shù)是與球面像差校正有關(guān)的SA參數(shù)，但是，也可以通過按照本發(fā)明實施例的光盤設(shè)備校正除了 SA參數(shù)之外的其它控制參數(shù)。例如，光盤設(shè)備在通過包括SA參數(shù)的各種伺服控制參數(shù)定義的工作條件下，執(zhí)行諸如聚焦伺服或?qū)ぼ壦欧乃欧刂?，使得保持在讀取信息時使來自物鏡 36的光線的焦點(diǎn)與讀取位置吻合的狀態(tài)。因此，可以將那些伺服控制參數(shù)的設(shè)置值設(shè)置成校正處理的目標(biāo)。進(jìn)一步，用于評估讀取精度的評估值不局限于抖動值，也可以使用像RF 幅度那樣的另一個指示符。
權(quán)利要求
1.一種在與關(guān)于預(yù)定控制參數(shù)設(shè)置的值對應(yīng)的工作條件下，讀取記錄在光盤介質(zhì)上的信息的光盤設(shè)備，所述光盤設(shè)備包括校正部分，用于通過在正在進(jìn)行從光盤介質(zhì)中讀取信息的操作的同時重復(fù)執(zhí)行如下處理，校正預(yù)定控制參數(shù)的值關(guān)于預(yù)定控制參數(shù)的兩個值，分別獲取指示從光盤介質(zhì)中讀取信息的精度的評估值; 以及基于兩個所獲取評估值更新預(yù)定控制參數(shù)的值。
2.如權(quán)利要求1所述的光盤設(shè)備，其中，所述校正部分基于分別關(guān)于預(yù)定控制參數(shù)的兩個值獲取的兩個評估值之間的幅度關(guān)系，確定增大還是減小預(yù)定控制參數(shù)的值。
3 如權(quán)利要求1所述的光盤設(shè)備，其中，所述校正部分關(guān)于控制參數(shù)的兩個值的每一個獲取多個評估值，并且基于比較為兩個值的每一個獲取的多個評估值的結(jié)果，更新預(yù)定控制參數(shù)的值。
4.如權(quán)利要求1所述的光盤設(shè)備，其中，所述校正部分獲取基于通過從光盤介質(zhì)中讀取信息的操作獲得的再現(xiàn)信號計算的值，作為評估值之一。
5.一種控制在與關(guān)于預(yù)定控制參數(shù)設(shè)置的值對應(yīng)的工作條件下，讀取記錄在光盤介質(zhì)上的信息的光盤設(shè)備的方法，所述方法包括通過在正在進(jìn)行從光盤介質(zhì)中讀取信息的操作的同時重復(fù)執(zhí)行如下處理，校正預(yù)定控制參數(shù)的值關(guān)于預(yù)定控制參數(shù)的兩個值，分別獲取指示從光盤介質(zhì)中讀取信息的精度的評估值；以及基于兩個所獲取評估值更新預(yù)定控制參數(shù)的值。
6.一種其中存儲控制在與關(guān)于預(yù)定控制參數(shù)設(shè)置的值對應(yīng)的工作條件下，讀取記錄在光盤介質(zhì)上的信息的光盤設(shè)備的程序的計算機(jī)可讀信息介質(zhì)存儲介質(zhì)，所述程序使得計算機(jī)起校正部分的作用，所述校正部分用于通過在正在進(jìn)行從光盤介質(zhì)中讀取信息的操作的同時重復(fù)執(zhí)行如下處理，校正預(yù)定控制參數(shù)的值關(guān)于預(yù)定控制參數(shù)的兩個值，分別獲取指示從光盤介質(zhì)中讀取信息的精度的評估值；以及基于兩個所獲取評估值更新預(yù)定控制參數(shù)的值。
7.—種在與關(guān)于預(yù)定控制參數(shù)設(shè)置的值對應(yīng)的工作條件下，讀取記錄在光盤介質(zhì)上的信息的光盤設(shè)備，所述光盤設(shè)備包括測量單元，用于測量所述光盤設(shè)備內(nèi)部的溫度；第一校正部分，用于通過評估從光盤介質(zhì)中讀取信息的精度，校正預(yù)定控制參數(shù)的值；第二校正部分，用于基于所述測量單元測量的溫度和預(yù)定常數(shù)值校正預(yù)定控制參數(shù)的值；以及校正控制部分，用于在開始從光盤介質(zhì)中讀取信息之后的每個預(yù)定定時有選擇地使所述第一校正部分和所述第二校正部分的任意一個執(zhí)行預(yù)定控制參數(shù)的值的校正。
8.如權(quán)利要求7所述的光盤設(shè)備，其中，所述校正控制部分在與所述測量單元測量的溫度的變化對應(yīng)的每個定時使預(yù)定控制參數(shù)的值的校正被執(zhí)行。
9.如權(quán)利要求8所述的光盤設(shè)備，其中，所述校正控制部分在所述測量單元測量到預(yù)定溫度變化之后第一次滿足與讀取操作有關(guān)的預(yù)定條件的每個定時使預(yù)定控制參數(shù)的值的校正被執(zhí)行。
10.如權(quán)利要求7所述的光盤設(shè)備，其中，所述校正控制部分在使得所述第二校正部分執(zhí)行預(yù)定次數(shù)校正之后使得所述第一校正部分執(zhí)行校正。
11.一種控制在與關(guān)于預(yù)定控制參數(shù)設(shè)置的值對應(yīng)的工作條件下，讀取記錄在光盤介質(zhì)上的信息的光盤設(shè)備的方法，所述光盤設(shè)備包括測量所述光盤設(shè)備內(nèi)部的溫度的測量單元，所述方法包括在開始從光盤介質(zhì)中讀取信息之后的每個預(yù)定定時通過第一校正處理和第二校正處理的任意一個有選擇地校正預(yù)定控制參數(shù)的值，所述第一校正處理包括通過評估從光盤介質(zhì)中讀取信息的精度，校正預(yù)定控制參數(shù)的值，所述第二校正處理包括基于所述測量單元測量的溫度和預(yù)定常數(shù)值校正預(yù)定控制參數(shù)的值。
12.—種其中存儲控制在與關(guān)于預(yù)定控制參數(shù)設(shè)置的值對應(yīng)的工作條件下，讀取記錄在光盤介質(zhì)上的信息的光盤設(shè)備的程序的計算機(jī)可讀信息存儲介質(zhì)，所述光盤設(shè)備包括測量所述光盤設(shè)備內(nèi)部的溫度的測量單元，所述程序使計算機(jī)起如下作用第一校正部分，用于通過評估從光盤介質(zhì)中讀取信息的精度，校正預(yù)定控制參數(shù)的值；第二校正部分，用于基于所述測量單元測量的溫度和預(yù)定常數(shù)值校正預(yù)定控制參數(shù)的值；以及校正控制部分，用于在開始從光盤介質(zhì)中讀取信息之后的每個預(yù)定定時有選擇地使所述第一校正部分和所述第二校正部分的任意一個執(zhí)行預(yù)定控制參數(shù)的值的校正。
全文摘要
本發(fā)明提供了能夠在從光盤介質(zhì)中讀取信息的操作期間校正控制參數(shù)的值的光盤設(shè)備。在與關(guān)于預(yù)定控制參數(shù)設(shè)置的值相對應(yīng)的工作條件下讀取記錄在光盤介質(zhì)上的信息的光盤設(shè)備，其中，裝置通過在正在進(jìn)行從光盤介質(zhì)中讀取信息的操作期間重復(fù)執(zhí)行如下處理關(guān)于預(yù)定控制參數(shù)的兩個值，分別獲取指示從光盤介質(zhì)中讀取信息的精度的評估值，以及根據(jù)兩個所獲取評估值更新預(yù)定控制參數(shù)的值，以便校正控制參數(shù)的值。
文檔編號G11B7/135GK102341856SQ201080010160
公開日2012年2月1日 申請日期2010年2月8日 優(yōu)先權(quán)日2009年3月2日
發(fā)明者保坂康夫, 西形尚之 申請人:索尼計算機(jī)娛樂公司