專利名稱：成對的可編程熔斷器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及利用熔斷器的數(shù)據(jù)的永久存儲，并且更具體地涉及這樣的熔斷器的編程和編碼。
背景技術(shù)：
熔斷器(Fuses)可以被布置來例如通過選擇性地?zé)龜嗳蹟嗥饕跃幋a數(shù)據(jù)來提供數(shù)據(jù)的永久存儲。如果熔斷器完整，則熔斷器通常被認為是二進制“0”，如果熔斷器被燒斷，則熔斷器通常被認為是二進制“I”。因此，選擇性地?zé)龜嗳蹟嗥鳟a(chǎn)生二進制數(shù)。 用于數(shù)據(jù)的永久存儲的熔斷器的示例包括電子熔斷器(e-Fuses)和激光熔斷器。 如在所包含的'268'專利中所討論的，通過向熔斷器施加高燒斷電壓來使得電子熔斷器能夠被電子編程或?qū)懭搿Ｍㄟ^將數(shù)據(jù)鎖存到寄存器中來讀取數(shù)據(jù)。通過向熔斷器施加激光將其過熱來燒斷激光熔斷器?？梢允褂萌蹟嗥鱽砭幋a意欲保持不變并且期望無限地被保持而不需要電池備份的數(shù)據(jù)。這樣的數(shù)據(jù)的一個示例包括裝置序列號和關(guān)于裝置的數(shù)據(jù)。一旦已經(jīng)編碼了數(shù)據(jù)， 則通常不能改變數(shù)據(jù)。另一個示例包括永久加密密鑰，諸如可以用于加密和解密諸如裝置元數(shù)據(jù)的、關(guān)于嵌入熔斷器的裝置的數(shù)據(jù)的永久加密密鑰。加密引擎僅具有對用于加密或解密數(shù)據(jù)的加密密鑰的訪問，但是一旦已經(jīng)編碼了密鑰，則沒有替代的訪問。可以通過例如在特定設(shè)施處的裝置制造商來編碼關(guān)于裝置的數(shù)據(jù)。加密密鑰要求充分的安全，并且在充分安全的位置處被編碼，并且一旦被編碼，則可以通過破壞對于編碼設(shè)備的訪問來防止進一步的編碼。在激光熔斷器的情況下，可以通過防止熔斷器的光學(xué)讀取和防止進一步編碼的層來覆蓋編碼的熔斷器。在電子熔斷器的情況下，例如通過燒斷主熔斷器來限制對加密密鑰的外部訪問和防止寫入，或者，如在包含的'268'專利中所述， 電子熔斷器可以隨著時間在一個方向上實現(xiàn)單調(diào)更新，諸如僅可以增大的版本值。一個問題是可能包括向編碼處理引入一個或多個錯誤，因為在編碼處理之前、期間和之后，熔斷器可能意外被燒斷。通常，這樣的錯誤要求必須丟棄包含熔斷器的整個芯片。一旦已經(jīng)燒斷了阻熔斷器，則可能無法確定是否已經(jīng)燒斷了意欲不燒斷的熔斷器。用戶知道的所有情況是，包含該芯片的裝置不再工作，因為它不能正確地讀取其元數(shù)據(jù)。另一個問題是可能包括對不再被需要或折衷的編碼熔斷器的處置。必須保護該處置以防止未經(jīng)授權(quán)的使用。

發(fā)明內(nèi)容
提供了方法、熔斷器編碼系統(tǒng)、熔斷器編程系統(tǒng)和裝置。
在一個實施例中，熔斷器編碼系統(tǒng)包括多個熔斷器，所述多個熔斷器被成對地布置，并且被配置為每對熔斷器當燒斷所述一對的一個熔斷器時表示數(shù)據(jù)比特；當所述一對的熔斷器都未被燒斷時表示未編程的比特；并且，當所述一對的兩個熔斷器都被燒斷時表示零化比特。成對地布置所述熔斷器允許檢測和報告有效比特，而不識別任何比特的值。在另一個實施例中，所述熔斷器編碼系統(tǒng)還包括檢測系統(tǒng)，所述檢測系統(tǒng)被配置為檢測任何對的熔斷器是否被零化，零化例如會使該組熔斷器不可用。在另一個實施例中，熔斷器編程系統(tǒng)包括成對布置的多個熔斷器；以及熔斷器燒斷系統(tǒng)，其被配置為編程所述對的熔斷器，使得每對表示一個比特，包括燒斷一對的第一熔斷器以表示比特I，燒斷一對的第二熔斷器以表示比特0，并且燒斷一對的兩個熔斷器以表示零化對，由此如果一對的熔斷器都未被燒斷，則表示空的未編程的比特。在另一個實施例中，測試系統(tǒng)被配置為在編程一對熔斷器前測試一對熔斷器的兩個比特，以測試是否所述一 對的每個熔斷器被燒斷。而且，在一個實施例中，存儲系統(tǒng)被配置為識別由所述測試系統(tǒng)發(fā)現(xiàn)的使所述對的一個熔斷器燒斷的任何比特對；并且，所述熔斷器燒斷系統(tǒng)被配置為跳過和不燒斷所述找到的熔斷器對的任何熔斷器。所述被燒斷的熔斷器正確的機會是50%。在另一個實施例中，試驗測試系統(tǒng)被配置為通過運行試驗來測試所述編程的有效性；并且，如果所述試驗失敗，則表示被識別的比特對包括反相比特。試驗失敗表示被燒斷的熔斷器不正確?？梢愿淖償?shù)據(jù)以適配所述反相比特。在另一個實施例中，檢測系統(tǒng)被配置為在編程所述對的任何一個前，檢測所有對的熔斷器是否包括空的未編程的比特，否則任何對是非空的。在另一個實施例中，測試系統(tǒng)被配置為在編程每對熔斷器之后，測試每對熔斷器的有效性。在一個實施例中，所述測試系統(tǒng)被配置為確定每對熔斷器是否已經(jīng)被編程為比特 I或比特0，否則至少一個比特對是無效的。在另一個實施例中，所述熔斷器燒斷系統(tǒng)還配置為如果至少一個比特對被確定為無效，則燒斷所述各個對的所有未燒斷的熔斷器，由此將所述多個熔斷器零化。在另一個實施例中，檢測系統(tǒng)被配置為在燒斷所述各個對的未燒斷的熔斷器后， 檢測所有對的熔斷器是否被零化，由此保證該組熔斷器不可用。在另一個實施例中，一種裝置包括功能系統(tǒng)；折衷檢測系統(tǒng)，其被配置為檢測所述功能系統(tǒng)是否被折衷；以及編碼熔斷器系統(tǒng)，包括多個熔斷器，所述多個熔斷器被成對地布置，并且被編碼，使得每對熔斷器當所述對的一個熔斷器被燒斷時表示一個數(shù)據(jù)比特。熔斷器燒斷系統(tǒng)，被配置為響應(yīng)于所述折衷檢測系統(tǒng)檢測到所述功能系統(tǒng)被折衷，燒斷所述各個對的所有未燒斷的熔斷器，使得每一對的兩個熔斷器都被燒斷以表示零化對，由此將所述多個熔斷器零化，由此使得所述該組熔斷器不可用。為了更全面地理解本發(fā)明，將參考結(jié)合附圖進行的下面的詳細說明。


圖I是是根據(jù)本發(fā)明的成對熔斷器的示例性布置的框圖；圖2A、2B、2C和2D是由圖I的一對熔斷器進行的表示的示例的框圖3是可以在圖I的熔斷器布置中實現(xiàn)的未燒斷和燒斷的電子熔斷器的圖示；圖4A和4B是由激光系統(tǒng)燒斷和未燒斷的熔斷器和可以在圖I的熔斷器布置中實現(xiàn)的用于覆蓋熔斷器的系統(tǒng)的圖示。圖5是描述用于圖I的熔斷器布置的制造處理的示例的流程圖；圖6是用于測試圖I的熔斷器布置的一種示例性布置的框圖；圖7是用于測試圖I的熔斷器布置的另一種示例性布置的框圖；圖8是用于編程和操作圖I的熔斷器布置的示例性布置的框圖；圖9是圖8的布置的操作的狀態(tài)的示例；
圖10是用于實現(xiàn)圖I的熔斷器布置的裝置的框圖；以及圖11是描述在對裝置的折衷的情況下操作圖10的裝置的示例的流程圖。
具體實施例方式參考附圖在下面的說明中在優(yōu)選實施例中描述本發(fā)明，在附圖中，同樣的標號表示相同或類似的元件。雖然根據(jù)實現(xiàn)本發(fā)明的目的的最佳方式描述了本發(fā)明，但是本領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)人員可以明白，可以在不偏離本發(fā)明的精神和范圍的情況下，基于這些教導(dǎo)來實現(xiàn)改變。參見圖1，以110U1U ->120,121來成對(pair)的布置熔斷器100，每對表示單個比特。每對的熔斷器130如果被燒斷則表示例如“1”，并且，每對的熔斷器131如果被燒斷則表示“O”。圖2A、2B、2C和2D是由圖I的一對熔斷器表示的示例。在圖2A中，一對142 的兩個熔斷器140和熔斷器141是完整的，并且表示例如空或還沒有編程的熔斷器對。在另一個示例中，燒斷一對的一個熔斷器表示一個數(shù)據(jù)比特；比如，燒斷在一對152的一側(cè)的熔斷器150同時熔斷器151保持完整，這表示如圖2B中所示的“1”，其中，“X”表示燒斷的熔斷器。在熔斷器160保持完整的同時燒斷在一對162的另一側(cè)的熔斷器161表示如圖2C 中所示的“O”。在圖2D中所示的另一個示例中，當燒斷一對172的熔斷器170和171兩者時，表示零化(zeroize)的比特。在本領(lǐng)域中已知用于燒斷熔斷器的技術(shù)。例如，通過使熔斷器傳送大于給定閾值的電流來燒斷電子熔斷器。如圖3中所示，熔斷器180和181能夠通過電子門(gate) 185、 186，在線182和地183、184之間連接。當操作電子門186并且向線182施加高壓(諸如3. 3 伏特)時，在高壓線182和地184之間通過熔斷器181的電流流動足以燒斷熔斷器181，同時熔斷器180因為電子門185的不工作而被完整留下。熔斷器可以被嵌入在芯片中，使得不能通過觀看而直接地檢測到是完整或是被燒斷的特定熔斷器。在另一個示例中，圖4A的激光器190被以足以燒斷熔斷器192的功率引導(dǎo)到在基板193上的該熔斷器一段時間，而不將激光引導(dǎo)到熔斷器191上。如果期望隱藏熔斷器而不被直接觀看，在圖4B中，施加194 涂層195以覆蓋熔斷器。熔斷器被用于編碼意欲保持不變并且期望無限地保持而不要求電池備份的數(shù)據(jù)的應(yīng)用。這樣的數(shù)據(jù)的一個示例包括裝置序列號和關(guān)于裝置的數(shù)據(jù)。一旦已經(jīng)編碼了數(shù)據(jù)， 則通常不能改變該數(shù)據(jù)。另一個示例包括永久加密密鑰，諸如可以用于加密和解密諸如裝置元數(shù)據(jù)的、關(guān)于其中嵌入了熔斷器的裝置的數(shù)據(jù)的永久加密密鑰。加密引擎將僅訪問用于加密或解密數(shù)據(jù)的加密密鑰。本發(fā)明允許對密鑰的狀態(tài)的持續(xù)可視性，而不允許對編碼值的實際訪問。參考圖5、圖6和圖7，在步驟200中使用已知技術(shù)來制造包含熔斷器對的芯片。在步驟201中，在已經(jīng)制造芯片后，對熔斷器對測試燒斷的熔斷器。在一個實施例中，所應(yīng)用的測試201是確定是否燒斷了任何熔斷器，使得如果熔斷器通過該測試，則所有的熔斷器對包括空的未編程的比特，其中，兩個熔斷器都是完整的，否則如果任何一對不空，則測試失敗。在一個示例中，圖6的“或(0R)”電路205被應(yīng)用到每一個熔斷器，以檢測所有的熔斷器并且確定是否燒斷了任何熔斷器。在另一個實施例中，所應(yīng)用的測試201是檢測是否任何一對熔斷器被零化，這例如可以使得該組熔斷器不可用。零化的一對熔斷器表示兩個熔斷器都被燒斷，并且提供其中僅一個熔斷器被燒斷以形成比特的比特是不可能的。在一個示例中，圖7的與電路207耦合到每對熔斷器的每一個熔斷器，并且“或”電路208組合結(jié)果以指示是否任何一對熔斷器被零化，被零化表示燒斷了該對的兩個熔斷器。在該測試下，可能燒斷一個或多個熔斷器， 但是，未燒斷同一對的兩個熔斷器。在一個實施例中，本發(fā)明允許在至少一個熔斷器被燒斷的情況下也被編程的可能性。無論應(yīng)用哪個測試201，都丟棄故障的芯片。其他的各種事情都是相同的，諸如滿意的產(chǎn)量，圖6的測試是優(yōu)選的，如果燒斷任何熔斷器，則芯片故障并且丟棄芯片。 然后，使通過步驟201的測試的芯片用于對熔斷器對進行編程。如果對于需要安全的情況對熔斷器進行編程，則負責(zé)將未編程的芯片編程的客戶或組織將該芯片置于安全環(huán)境中。在圖8中圖示了電子熔斷器和用于對電子熔斷器進行編程和讀取的電路的布置的示例。以圖I的方式來布置芯片197的熔斷器，其中，以210、…、221來成對地布置熔斷器，每一對表示單個比特。每一對的熔斷器230例如如果被燒斷則表示“1”，并且如果被燒斷，則每一對的熔斷器231表示“O”。在圖8的示例中，存在128對熔斷器，包括總共256個熔斷器。比較器240包括確定每對熔斷器的狀態(tài)的電路。如上所述，參考圖2A，一對142的熔斷器140和熔斷器142是完整的，并且例如表示空或還沒有被編程的熔斷器對。燒斷一對中的一個熔斷器表示一個數(shù)據(jù)比特；例如，在熔斷器151是完整的同時，燒斷在一對152 的一側(cè)的熔斷器150表示“1”，如圖2B中所示，其中“X”指示燒斷的熔斷器。在熔斷器160 保持完整的同時，燒斷在一對162的另一側(cè)的熔斷器161表示“0”，如圖2C中所示。其中一對中的一個熔斷器被燒斷的“I”比特或“O”比特被認為是用于熔斷器對的“有效值”。參考圖2D，零化的比特包括當燒斷一對172中的熔斷器170和171兩者時的狀態(tài)。成對地布置熔斷器允許比較器240檢測和報告有效或無效比特，而不識別任何比特的值。圖8的控制器250可以包括與熔斷器230、231和比較器240相同的芯片197的一部分，或者可以包括獨立的芯片，并且用于對熔斷器進行編程。熔斷器源252和253提供在控制器250的控制下選通的電流，以當熔斷器被編程時燒斷它們。比較器240向控制器提供關(guān)于線255、256和257的信息，以跟蹤每對熔斷器的狀態(tài)。線255、256和257的每一個例如包括一組128條線，用于指示每對熔斷器的狀態(tài)。一旦被編程，則比較器240經(jīng)由反相器260向使用裝置265提供熔斷器的數(shù)據(jù)內(nèi)容。作為一個示例，向熔斷器內(nèi)編碼的數(shù)據(jù)可以包括安全加密密鑰。如果向熔斷器內(nèi)編碼的數(shù)據(jù)要保密，則不允許對于單獨熔斷器230、 231、比較器240、反相器260或互連這些元件或?qū)⑦@些元件與使用裝置265互連的線的外部訪問。對于單獨熔斷器的直接訪問是不可用的。限制向線255、256和257的輸出信息防止識別任何比特的值。另外，例如，通過對熔斷器的涂層來防止對熔斷器本身的可視、輻射等訪問，以防止從外部確定熔斷器的狀態(tài)。任何這樣的外部訪問都有危及 由熔斷器存儲的保密數(shù)據(jù)的風(fēng)險。圖9表示用于將圖8的熔斷器230、231編程的控制器250的狀態(tài)機的狀態(tài)。如上所述，如果數(shù)據(jù)要是安全的，則其中發(fā)生編程的設(shè)施必須是安全的?？刂破?50可以在安全環(huán)境中具有各種接口，諸如微處理器接口 270、時鐘輸入272、用于在將一組熔斷器編程之前復(fù)位控制器的輸入274、用于指示錯誤的輸出276、和用于提供有益于調(diào)試控制器的信息的端口 278。參考圖8和圖9，在諸如POR (通電復(fù)位)的狀態(tài)300處復(fù)位控制器，并且將要編程的數(shù)據(jù)310供應(yīng)給控制器250。在將熔斷器編程之前，在狀態(tài)320中，控制器根據(jù)如上所述的測試之一來檢查比較器240，以確定在制造后或在編程之前是否已經(jīng)燒斷了熔斷器的任何一個。在一個實施例中，所應(yīng)用的測試320是確定是否燒斷了任何熔斷器，使得如果熔斷器通過該測試，則所有的熔斷器對包括其中兩個熔斷器都完整的空的未編程比特，否則如果任何一對不是空的，則該測試失敗。這包括檢查所有熔斷器對的線255以確定它們是否全部是空的未編程的比特，否則如果任何對不是空的，則這意味著該測試要檢測是否燒斷了任何熔斷器。在另一個實施例中，所應(yīng)用的測試320是檢測是否任何熔斷器對被零化，被零化導(dǎo)致該組熔斷器不可用。被零化的一對熔斷器表示燒斷了兩個熔斷器，并且提供其中僅一個熔斷器被燒斷以形成比特的比特是不可能的。該測試包含檢查線路257以指示是否任何熔斷器對被零化，這意味著該對的兩個熔斷器都被燒斷。在一個實施例中，通過控制器250來檢測熔斷器，該控制器250啟動用于期望的一個或多個熔斷器的功能控制線路340，以使用它的值在每一個熔斷器處設(shè)置鎖存器，并且比較器邏輯在線路255、256和257上提供作為結(jié)果產(chǎn)生的信號。檢測線可以選通流向熔斷器的檢測電流，并且操作鎖存器以將數(shù)據(jù)向比較器240的邏輯轉(zhuǎn)發(fā)。在狀態(tài)320的測試下，如在圖5和圖6或圖7中指出的，如果一個或多個熔斷器可能被燒斷，但是不燒斷同一對的兩個熔斷器，則熔斷器通過測試。無論應(yīng)用哪個測試320，丟棄還沒有在裝置中的故障芯片。其它每件事情都是相同的，因為在一個實施例中，在至少一個熔斷器被燒斷的情況下，本發(fā)明仍然允許編程的可能性，線路257的測試在這個階段是優(yōu)選的，僅僅如果一對的兩個熔斷器都被燒斷，才認為芯片故障并且丟棄芯片。在完成測試320時，控制器進入功能狀態(tài)330。如果熔斷器未能通過測試320，則可以通過在狀態(tài)335中燒斷所有熔斷器以將芯片零化來破壞熔斷器。如果熔斷器通過測試 320，則在狀態(tài)337開始編程熔斷器。通過下述方式來將熔斷器燒斷控制器250單獨地操作線325、326 (線325、326每一個表示連接到每一個熔斷器的一組單獨線路)，以操作相關(guān)聯(lián)的電子門(圖3的185、 186)，以將來自相關(guān)聯(lián)的熔斷器源252、253 (圖3的182)的電流選通通過熔斷器到地，并且燒斷該熔斷器。在一個實施例中，熔斷器源包括適當?shù)碾妷海⑶以谀硞€時間容納用于燒斷一個熔斷器的適當電流。在狀態(tài)335中，例如以燒斷一對210的熔斷器350和351開始，依序燒斷熔斷器， 并且依序進行到一對221的熔斷器360和361。當完成時，例如通過檢測線257以保證每對熔斷器現(xiàn)在被零化，在狀態(tài)380中檢測熔斷器。如果熔斷器通過測試320，則在一個實施例中，在逐對的基礎(chǔ)上，在狀態(tài)337開始將熔斷器編程。例如，操作用于該對的檢測線340，并且檢查用于該對的有效值線256。在一個實施例中，以容錯的方式來進行編程，可以明白，如果在將一對熔斷器編程前已經(jīng)燒斷了該對的一個熔斷器，則比特正確的機會是50%。因此，該對可以免去編程，并且進行后續(xù)的驗證過程以確定是否比特恰好是正確的。如果多于一個對具有燒斷的熔斷器，則熔斷器的正確組合被燒斷的機會因此降低，例如，在兩對中的兩個燒斷的熔斷器表示熔斷器的組合正確的機會是25%。因此，如果例如通過檢查那對的線255，狀態(tài)337指示該對的一個熔斷器被燒斷，則該免去對編程，并且控制器返回狀態(tài)330，以檢查下一個對?？刂破?50提供用于存儲已經(jīng)跳過的比特的標識的存儲。在一個實施例中，依序執(zhí)行狀態(tài)337的實例，在一對210處通過檢查該對210的熔斷器350和351來開始，并依序進行到對221的熔斷器360和361。如果控制器操作期望的一對熔斷器的檢測線340，并在狀態(tài)337中檢查用于該對的線255，并確定該對未被編程，則根據(jù)用于那個比特的程序數(shù)據(jù)，在狀態(tài)370中燒斷熔斷器之一。狀態(tài)372確定是否已經(jīng)編程了所有數(shù)據(jù)，并且如果否定，則控制器250返回狀態(tài) 337 ，以檢查在序列中的下一對熔斷器。如果它也未被編程，則控制器退出，返回到狀態(tài)337 以測試該值，然后在狀態(tài)370中通過燒斷熔斷器之一來編程由該對表示的比特。在一個實施例中，狀態(tài)337也可以包括例如通過下述方式在編程該對后測試每對熔斷器的有效性操作該對的檢測線340，并檢查那對熔斷器的有效值線256。當狀態(tài)372指示例如通過達到比特221并且燒斷熔斷器360或熔斷器361已經(jīng)編程了所有數(shù)據(jù)時，控制器250在狀態(tài)380檢測熔斷器。在一個實施例中，狀態(tài)380操作檢測線，并且狀態(tài)330確定已經(jīng)將每對熔斷器編程為“I”比特或“O”比特，否則，通過檢測線 256，至少一個比特對無效。比較器可以通過下述方式來響應(yīng)檢測線340的操作進行每對熔斷器的兩個比特的“異或(Exclusive-OR)”，以確定是否已經(jīng)有效地將該對熔斷器編程， 并且已經(jīng)燒斷了該對的一個且僅僅一個熔斷器。不以任何方式檢查數(shù)據(jù)內(nèi)容，僅以這種方式來檢查該對的有效性。因此，在下述方面保護了安全性沒有用于在可在控制器250處使用的比較器處檢測數(shù)據(jù)內(nèi)容的手段，也不能經(jīng)由微處理器接口 270或硬件調(diào)試端口 278來讀取數(shù)據(jù)內(nèi)容。在熔斷器之一已經(jīng)在編程之前被燒斷并且已經(jīng)因此在狀態(tài)337跳過比特的情況下，在狀態(tài)380處的另一檢查是通過運行試驗來測試編程的有效性；并且如果該試驗失敗， 則表示被識別的比特對包括反相的比特。測試失敗表示被燒斷的熔斷器不正確。也可以改變數(shù)據(jù)310以適配反相的比特，并且再一次進行試驗，直到已經(jīng)將適當?shù)谋忍胤聪?，并且?shù)據(jù)是正確的。
如果所進行的最后試驗未得到正確數(shù)據(jù)，或如果未改變數(shù)據(jù)310或已經(jīng)達到改變的極限，則控制器可以進入狀態(tài)335以燒斷所有熔斷器并且將芯片零化。一旦已經(jīng)燒斷了所有熔斷器，則不能通過對芯片的分析來檢測數(shù)據(jù)。替代地，在產(chǎn)品環(huán)境中，可以將電路260作為“與”門來操作，并且將所有比特強制為O。如果編程的數(shù)據(jù)是加密密鑰，則該試驗包括使用該密鑰來解密已知的加密數(shù)據(jù)， 并且發(fā)現(xiàn)解密是否是成功的。如果數(shù)據(jù)是保密的，則要在安全環(huán)境中進行該測試。一旦已經(jīng)將芯片有效地編程并且置于裝置中，則該芯片例如在通電復(fù)位(POR)時達到復(fù)位狀態(tài)300。在步驟320啟動檢測線340，并且芯片進入各個值對用戶265可用的功能狀態(tài)330,并且在功能狀態(tài)中保持空閑。芯片保持在功能狀態(tài)中，直到斷電，并且在隨后的通電復(fù)位時被復(fù)位。源自在圖8和圖9中描述的操作的安全性滿足或超過適用的安全性標準的要求。如果當芯片被零化時其正在裝置中，則它不能被丟棄。例如，如果意欲保持加密密鑰，則不能將芯片用于加密，但是該裝置可以仍然用于所有其他的功能。參考圖10和圖11，在裝置400中設(shè)置芯片197。裝置400包括功能系統(tǒng)401 ;折衷檢測系統(tǒng)402，其被配置為檢測是否將功能系統(tǒng)折衷；以及，編碼熔斷器系統(tǒng)197，其包括多個熔斷器，該多個熔斷器被成對地布置，并且被編碼使得每對熔斷器當燒斷該對熔斷器的一個熔斷器時表示數(shù)據(jù)比特。例如芯片197的熔斷器燒斷系統(tǒng)被配置為響應(yīng)折衷檢測系統(tǒng)402檢測到折衷了功能系統(tǒng)，以將各個對的所有未燒斷的熔斷器燒斷，使得每對的兩個熔斷器被燒斷以表示零化對，由此將多個熔斷器“零化”，這例如可以使該組熔斷器不可用， 并且因此使得在被燒斷前的數(shù)據(jù)內(nèi)容不可知。另外參考圖8，如果折衷檢測系統(tǒng)402在狀態(tài)410檢測到裝置折衷，則控制器250 如果是芯片197的一部分則在狀態(tài)415單獨地操作熔斷器線325、326 (線325、326每條表示連接到每一個熔斷器的一組單獨線路)，以操作相關(guān)聯(lián)的電子門(圖3的185、186)，以將來自相關(guān)聯(lián)的熔斷器源252、253 (圖3的182)的電流選通通過熔斷器到地，并且燒斷該熔斷器。在狀態(tài)415，例如通過燒斷一對210的熔斷器350和351開始，依序燒斷熔斷器，并且依序進行到一對221的熔斷器360和361。當完成時，例如通過檢測線257以保證每對熔斷器現(xiàn)在被零化，在狀態(tài)420中檢測熔斷器，如果未完成，則零化繼續(xù)，并且如果完成，則在狀態(tài)425，使該組熔斷器不可用，并且因此在被燒斷前的數(shù)據(jù)內(nèi)容是未知的?？梢允褂每刂破?50、芯片197的替代布置與圖9和圖11的狀態(tài)的替代布置。該實現(xiàn)方式可以包含軟件、固件、微碼、硬件和/或其任何組合。該實現(xiàn)方式可以采取在諸如控制器250的存儲器的介質(zhì)中實現(xiàn)的代碼或邏輯的形式，其中該介質(zhì)可以包括硬件邏輯(例如，集成電路芯片、可編程門陣列[PGA]、專用集成電路[ASIC]或其他電路、邏輯或裝置)或計算機可讀存儲介質(zhì)，諸如磁存儲介質(zhì)(例如，電、磁、光、電磁、紅外線或半導(dǎo)體系統(tǒng)、半導(dǎo)體或固態(tài)存儲器、磁帶、可裝卸計算機盤和隨機存取存儲器[RAM]、只讀存儲器 [ROM]、硬磁盤和光盤、致密盤-只讀存儲器[CD-ROM]、致密盤-讀/寫[CD-R/W]和DVD)。本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以明白，可以相對于如上所述的方法來進行改變，包括對于狀態(tài)機的步驟順序的改變，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以明白，可以使用與在此所述的特定部件布置不同的那些部件布置。 雖然已經(jīng)詳細描述了本發(fā)明的優(yōu)選實施例，但是應(yīng)當清楚，在不偏離在所附的權(quán)利要求中給出的本發(fā)明的范圍的情況下，本領(lǐng)域的技術(shù)人員可以進行對于上述實施例的修改和調(diào)整。
權(quán)利要求
1.一種熔斷器編碼系統(tǒng)，包括 多個熔斷器，所述多個熔斷器被成對地布置，并且被配置為使得每對熔斷器當燒斷所述對的一個熔斷器時表示數(shù)據(jù)比特；當所述對的熔斷器都未被燒斷時表示未編程的比特；并且當所述對的兩個熔斷器都被燒斷時表示零化比特。
2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的熔斷器編碼系統(tǒng)，還包括檢測系統(tǒng)，所述檢測系統(tǒng)被配置為檢測任何對的熔斷器是否被零化。
3.一種熔斷器編程系統(tǒng)，包括 成對布置的多個熔斷器；以及， 熔斷器燒斷系統(tǒng)，被配置為編程所述對的所述熔斷器，使得每一對表示一個比特，包括燒斷一對的第一熔斷器以表示比特1，燒斷一對的第二熔斷器以表示比特O，并且燒斷一對的兩個熔斷器以表示零化對，由此如果一對的熔斷器都未被燒斷，則表示空的未編程的比特。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的熔斷器編程系統(tǒng)，還包括檢測系統(tǒng)，所述檢測系統(tǒng)被配置為在編程所述對的任何一個之前，檢測任何所述對的熔斷器是否被零化。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的熔斷器編程系統(tǒng)，還包括測試系統(tǒng)，所述測試系統(tǒng)被配置為在編程所述對的熔斷器之前，測試一對所述熔斷器的兩個比特，以測試所述對的任何一個所述熔斷器是否被燒斷。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的熔斷器編程系統(tǒng)，還包括存儲器，用于識別由所述測試系統(tǒng)找到的任何比特對，以使所述對的熔斷器被燒斷；并且其中，所述熔斷器燒斷系統(tǒng)被配置為跳過和不燒斷所述找到的對的熔斷器的任何熔斷器。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的熔斷器編程系統(tǒng)，還包括試驗系統(tǒng)，用于通過運行試驗來測試所述編程的有效性；并且如果所述試驗失敗，則表示被識別的比特對包括反相比特。
8.根據(jù)權(quán)利要求3所述的熔斷器編程系統(tǒng)，還包括檢測系統(tǒng)，所述檢測系統(tǒng)被配置為在編程所述對的任何一個前，檢測所有所述對的熔斷器是否包括空的未編程的比特，否則任何所述對是非空的。
9.根據(jù)權(quán)利要求3所述的熔斷器編程系統(tǒng)，還包括測試系統(tǒng)，所述測試系統(tǒng)被配置為在編程所述對后，測試每對熔斷器的有效性。
10.根據(jù)權(quán)利要求3所述的熔斷器編程系統(tǒng)，還包括測試系統(tǒng)，其被配置為測試每對所述熔斷器的兩個比特，并且確定每對所述熔斷器是否已經(jīng)被編程為比特I或比特0，否則至少一個比特對是無效的。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的熔斷器編程系統(tǒng)，其中，所述熔斷器燒斷系統(tǒng)被另外配置為如果至少一個比特對被確定為無效，則燒斷所述對的所有未燒斷的熔斷器，由此將所述多個熔斷器零化。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的熔斷器編程系統(tǒng)，還包括檢測系統(tǒng)，所述檢測系統(tǒng)被配置為在燒斷所述對的所述未燒斷的熔斷器后，檢測所有對的熔斷器是否被零化。
13.一種熔斷器燒斷系統(tǒng)，用于裝置中，所述裝置包括功能系統(tǒng)；折衷檢測系統(tǒng)，其被配置為檢測所述功能系統(tǒng)是否被折衷；以及編碼熔斷器系統(tǒng)，包括多個熔斷器，所述多個熔斷器被成對地布置，并且被編碼，使得當所述對的一個熔斷器被燒斷時，每對熔斷器表示一個數(shù)據(jù)比特，所述熔斷器燒斷系統(tǒng)被配置為響應(yīng)于所述折衷檢測系統(tǒng)檢測到所述功能系統(tǒng)被折衷，燒斷所述對的所有未燒斷的熔斷器，使得每對的兩個熔斷器被燒斷以表示零化對，由此將所述多個熔斷器零化。
14.一種用于配置多個熔斷器以編碼的方法，包括 成對地布置多個熔斷器；并且 配置所述對的熔斷器，使得每對熔斷器當燒斷所述對的ー個熔斷器時表示數(shù)據(jù)比持；當所述對的熔斷器都未被燒斷時表示未編程的比持；并且當所述對的兩個熔斷器都被燒斷時表示零化比持。
15.ー種用于編碼成對布置的多個熔斷器的方法，包括 編程所述對的熔斷器 燒斷ー對的第一熔斷器以表示比特I ; 燒斷ー對的第二熔斷器以表示比特O ;并且 燒斷ー對的兩個熔斷器以表示零化對，由此如果一對的熔斷器都未被燒斷，則表示空的未編程的比持。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法，還包括在編程所述對的任何ー個之前，檢測任何所述對的熔斷器是否被零化。
17.根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法，還包括在編程所述對的熔斷器之前，測試ー對所述熔斷器的兩個比持，以測試所述對的任何ー個所述熔斷器是否被燒斷。
18.根據(jù)權(quán)利要求17所述的方法，還包括存儲由所述測試找到的任何比特對的標識，以使所述對的熔斷器被燒斷；并且其中，所述熔斷器燒斷編程步驟還包括跳過和不燒斷所述找到的對的熔斷器的任何熔斷器。
19.根據(jù)權(quán)利要求18所述的方法，還包括通過運行試驗來試驗測試所述編程的有效性；并且如果所述試驗失敗，則表示被識別的比特對包括反相比持。
20.根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法，還包括在編程所述對的任何一個前的空檢測，檢測所有所述對的熔斷器是否包括空的未編程的比特，否則任何所述對是非空的。
21.根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法，還包括在編程所述對后，對測試每對熔斷器的有效性。
22.根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法，還包括通過測試每對所述熔斷器的兩個比特來測試所有所述對；并且確定每對所述熔斷器是否已經(jīng)被編程為比特I或比特O，否則至少ー個比特對是無效的。
23.根據(jù)權(quán)利要求22所述方法，還包括如果所述確定步驟確定至少ー個比特對無效，則燒斷所述對的所有未燒斷的熔斷器，由此將所述多個熔斷器零化。
24.根據(jù)權(quán)利要求23所述的方法，還包括在燒斷所述對的所述未燒斷的熔斷器后，檢測所有對的熔斷器是否被零化。
25.ー種方法，用于裝置中，所述裝置包括功能系統(tǒng)；折衷檢測系統(tǒng)，其被配置為檢測所述功能系統(tǒng)是否被折衷；以及，編碼熔斷器系統(tǒng)，包括多個熔斷器，所述多個熔斷器被成對地布置，并且被編碼，使得每對熔斷器當所述對的一個熔斷器被燒斷時表示一個數(shù)據(jù)比特，所述方法包括 響應(yīng)于所述折衷檢測系統(tǒng)檢測到所述功能系統(tǒng)被折衷，燒斷所述對的所有未燒斷的熔斷器，使得每對的兩個熔斷器被燒斷以表示零化對，由此將所述多個熔斷器零化。
全文摘要
多個熔斷器(142，152，162，172)被成對布置，并且被配置為每對熔斷器當燒斷所述對的一個熔斷器(152，162)時表示一個數(shù)據(jù)比特；當未燒斷所述對的熔斷器(142)時表示未編程的比特；當所述對的兩個熔斷器都被燒斷(172)時表示零化比特。熔斷器編程系統(tǒng)編程所述各個對的熔斷器，使得每對表示一個比特，包括燒斷一對的第一熔斷器以表示比特1(152)，燒斷一對的第二熔斷器以表示比特0(162)，并且燒斷一對的兩個熔斷器以表示零化對(172)，由此如果一對的熔斷器都未被燒斷，則表示空的未編程的比特(142)。
文檔編號G11C17/16GK102714060SQ201080061844
公開日2012年10月3日 申請日期2010年12月17日 優(yōu)先權(quán)日2010年1月21日
發(fā)明者P.M.格雷科, S.R.本特利 申請人:國際商業(yè)機器公司