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產(chǎn)生存儲(chǔ)器晶片的測(cè)試樣式的裝置及其方法

文檔序號(hào):6771078閱讀:196來(lái)源:國(guó)知局
專利名稱:產(chǎn)生存儲(chǔ)器晶片的測(cè)試樣式的裝置及其方法
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明是有關(guān)于一種產(chǎn)生存儲(chǔ)器晶片的測(cè)試樣式的裝置及其方法,尤指一種利用 簡(jiǎn)單邏輯電路簡(jiǎn)化產(chǎn)生存儲(chǔ)器晶片的測(cè)試樣式的裝置及其方法。
背景技術(shù)
在最新的動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器架構(gòu)6F2、8F2開(kāi)放式位元(open-bite line)架構(gòu) 中,因?yàn)?F2、8F2開(kāi)放式位元架構(gòu)的存儲(chǔ)單元(memory cell)更小,所以對(duì)于每一存儲(chǔ)單元 而言,存儲(chǔ)單元的排列方式更緊密且具有更多來(lái)自相鄰存儲(chǔ)單元的噪聲。由于6F2、8F2開(kāi)放式位元架構(gòu)的動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器的單位面積內(nèi)具有更多存儲(chǔ) 單元,所以要對(duì)6F2、8F2開(kāi)放式位元架構(gòu)的動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器寫入正確的測(cè)試樣式(test pattern)將會(huì)變得非常困難。因此降低測(cè)試的位元成本(bit cost)變成是存儲(chǔ)器晶片 設(shè)計(jì)者的一個(gè)重要課題。在先前技術(shù)中,沒(méi)有簡(jiǎn)易的測(cè)試方法可對(duì)動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器寫 入團(tuán)塊樣式(solid pattern)、棋盤式樣式(check board pattern)、列條碼樣式(row bar pattern)及行條碼樣式(column bar pattern) 0因此,利用先前技術(shù)的測(cè)試方法很難降低 位元成本。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的是提供一種存儲(chǔ)器晶片的測(cè)試樣式的裝置及其方法,已解決現(xiàn) 有技術(shù)所存在的問(wèn)題。本發(fā)明的一實(shí)施例提供一種產(chǎn)生存儲(chǔ)器晶片的測(cè)試樣式的裝置。該裝置包含一第 一邏輯電路、一第二邏輯電路、一第一異或(exclusive OR)門及一第三邏輯電路。該第一邏 輯電路具有一第一輸入端,用以接收一第一樣式訊號(hào),一第二輸入端,用以接收一第二樣式 訊號(hào),及一輸出端,用以輸出一樣式致能訊號(hào),其中該第一邏輯電路是用以根據(jù)該第一樣式 訊號(hào)與該第二樣式訊號(hào),產(chǎn)生并輸出該樣式致能訊號(hào);該第二邏輯電路具有一第一輸入端, 用以接收一存儲(chǔ)器區(qū)塊訊號(hào),一第二輸入端,用以接收一分段訊號(hào),一第三輸入端,耦接于 該第一邏輯電路的輸出端,用以接收該樣式致能訊號(hào),一第一輸出端,用以輸出一第一預(yù)輸 入輸出訊號(hào),及一第二輸出端,用以輸出一第二預(yù)輸入輸出訊號(hào),其中該第二邏輯電路是用 以根據(jù)該存儲(chǔ)器區(qū)塊訊號(hào)與該分段訊號(hào),產(chǎn)生該第一預(yù)輸入輸出訊號(hào)與該第二預(yù)輸入輸出 訊號(hào),以及根據(jù)該樣式致能訊號(hào),輸出該第一預(yù)輸入輸出訊號(hào)與該第二預(yù)輸入輸出訊號(hào);該 第一異或(exclusive OR)門具有第一輸入端,用以接收一第三輸入輸出訊號(hào),一第二輸入 端,耦接于該第一邏輯電路的第二輸入端,用以接收該第二樣式訊號(hào),一輸出端,用以輸出 一第一致能訊號(hào),其中該第一異或門是用以對(duì)該第三輸入輸出訊號(hào)及該第二樣式訊號(hào),執(zhí) 行一異或邏輯運(yùn)算,產(chǎn)生并輸出該第一致能訊號(hào);及該第三邏輯電路,具有一第一輸入端, 耦接于該第一異或門的輸出端,用以接收該第一致能訊號(hào),一第二輸入端,耦接于該第二邏 輯電路的第一輸出端,用以接收該第一預(yù)輸入輸出訊號(hào),一第三輸入端,耦接于該第二邏輯 電路的第二輸出端,用以接收該第二預(yù)輸入輸出訊號(hào),一第一輸出端,用以輸出一第一輸入輸出訊號(hào),及一第二輸出端,用以輸出一第二輸入輸出訊號(hào),其中該第三邏輯電路是用以根 據(jù)該第一致能訊號(hào)、該第一預(yù)輸入輸出訊號(hào)及該第二預(yù)輸入輸出訊號(hào),產(chǎn)生并輸出該第一 輸入輸出訊號(hào)與該第二輸入輸出訊號(hào);其中該第一輸入輸出訊號(hào)與該第二輸入輸出訊號(hào)是 用以對(duì)該存儲(chǔ)器晶片內(nèi)的每一存儲(chǔ)單元寫入一特定邏輯電位。本發(fā)明的另一實(shí)施例提供一種產(chǎn)生存儲(chǔ)器晶片的測(cè)試樣式的方法。該方法包含一 第一邏輯電路根據(jù)一第一樣式訊號(hào)與一第二樣式訊號(hào),產(chǎn)生并輸出一樣式致能訊號(hào);一第 二邏輯電路根據(jù)一存儲(chǔ)器區(qū)塊訊號(hào)與一分段訊號(hào),產(chǎn)生一第一預(yù)輸入輸出訊號(hào)與一第二預(yù) 輸入輸出訊號(hào),以及根據(jù)該樣式致能訊號(hào),輸出該第一預(yù)輸入輸出訊號(hào)與該第二預(yù)輸入輸 出訊號(hào);一第一異或門對(duì)一第三輸入輸出訊號(hào)及該第二樣式訊號(hào)執(zhí)行一異或邏輯運(yùn)算,產(chǎn) 生并輸出一第一致能訊號(hào);一第三邏輯電路根據(jù)該第一致能訊號(hào)、該第一預(yù)輸入輸出訊號(hào) 及該第二預(yù)輸入輸出訊號(hào),產(chǎn)生并輸出一第一輸入輸出訊號(hào)與一第二輸入輸出訊號(hào);及根 據(jù)該第一輸入輸出訊號(hào)與該第二輸入輸出訊號(hào),對(duì)該存儲(chǔ)器晶片內(nèi)的每一存儲(chǔ)單元寫入一 特定邏輯電位。本發(fā)明提供一種產(chǎn)生存儲(chǔ)器晶片的測(cè)試樣式的裝置及其方法。該裝置與其方法 是對(duì)一第一樣式訊號(hào)、一第二樣式訊號(hào)、一存儲(chǔ)器區(qū)塊訊號(hào)、一第三輸入輸出訊號(hào)及一分段 訊號(hào)執(zhí)行一些簡(jiǎn)單的邏輯運(yùn)算,以產(chǎn)生一第一輸入輸出訊號(hào)與一第二輸入輸出訊號(hào)。而該 裝置即可根據(jù)該第一輸入輸出訊號(hào)與該第二輸入輸出訊號(hào),對(duì)該存儲(chǔ)器晶片寫入一團(tuán)塊樣 式、一棋盤式樣式、一列條碼樣式及一行條碼樣式。所以,本發(fā)明可提供非常簡(jiǎn)便的測(cè)試方 法對(duì)該存儲(chǔ)器晶片寫入正確的該團(tuán)塊樣式、該棋盤式樣式、該列條碼樣式及該行條碼樣式。


圖1為本發(fā)明的一實(shí)施例說(shuō)明產(chǎn)生存儲(chǔ)器晶片的測(cè)試樣式的裝置的示意圖。圖2A為說(shuō)明存儲(chǔ)器晶片內(nèi)的偶數(shù)存儲(chǔ)區(qū)塊的示意圖;圖2B為說(shuō)明裝置對(duì)存儲(chǔ)器晶片的偶數(shù)存儲(chǔ)區(qū)塊寫入團(tuán)塊樣式、棋盤式樣式、列條 碼樣式及行條碼樣式時(shí),每一存儲(chǔ)單元儲(chǔ)存的特定邏輯電位的示意圖;圖3A為說(shuō)明存儲(chǔ)器晶片內(nèi)的奇數(shù)存儲(chǔ)區(qū)塊的示意圖;圖;3B是為說(shuō)明裝置對(duì)存儲(chǔ)器晶片的奇數(shù)存儲(chǔ)區(qū)塊寫入團(tuán)塊樣式、棋盤式樣式、列 條碼樣式及行條碼樣式時(shí),每一存儲(chǔ)單元儲(chǔ)存的特定邏輯電位的示意圖;圖4A為說(shuō)明存儲(chǔ)器區(qū)塊訊號(hào)、分段訊號(hào)、第一預(yù)輸入輸出訊號(hào)及第二預(yù)輸入輸出 訊號(hào)的關(guān)系示意圖;圖4B為說(shuō)明第一樣式訊號(hào)、第二樣式訊號(hào)、第三輸入輸出訊號(hào)、樣式致能訊號(hào)和 對(duì)存儲(chǔ)器晶片寫入特定樣式的關(guān)系示意圖;圖5為本發(fā)明的另一實(shí)施例說(shuō)明產(chǎn)生存儲(chǔ)器晶片的測(cè)試樣式的方法的流程圖。附圖標(biāo)記說(shuō)明100-裝置;102-第一邏輯電路;104-第二邏輯電路;106-第一 異或門;108-第三邏輯電路;110-存儲(chǔ)器晶片;202、204、206、302、304、306_檢測(cè)放大器; 1042-第二異或門;1044-第二異或非門;1046-第一反相器;1048-第二反相器;1050-第一 傳輸門;1052-第二傳輸門;1054-第一開(kāi)關(guān);1056-第二開(kāi)關(guān);1082-第三異或門;1084-H 四異或門;BA-存儲(chǔ)器區(qū)塊訊號(hào);bankO、bank2-偶數(shù)存儲(chǔ)區(qū)塊;bankl、bank3-奇數(shù)存儲(chǔ)區(qū) 塊;BL0-BL7-非反相位元線訊號(hào);萬(wàn)-反相位元線訊號(hào);Emarymp-樣式致能訊號(hào);FE-第一致能訊號(hào);GND-地端;IO-第三輸入輸出訊號(hào);Iemarymp-反相的樣式致能訊號(hào); I0_0123-第一預(yù)輸入輸出訊號(hào);I0_4567-第二預(yù)輸入輸出訊號(hào);10
_第一輸入輸出 訊號(hào);10[4:7]_第二輸入輸出訊號(hào);100-103、104-107-輸出端;S-分段訊號(hào);SCEl-奇數(shù) 分段;SEC2-偶數(shù)分段;TMl-第一樣式訊號(hào);TM2-第二樣式訊號(hào);Wi)-WL3-字元線;500至 512-步驟。
具體實(shí)施例方式請(qǐng)參照?qǐng)D1,圖1為本發(fā)明的一實(shí)施例說(shuō)明產(chǎn)生存儲(chǔ)器晶片的測(cè)試樣式的裝 置100的示意圖。裝置100包含一第一邏輯電路102、一第二邏輯電路104、一第一異或 (exclusive OR)門106及一第三邏輯電路108。第一邏輯電路102具有一第一輸入端,用 以接收一第一樣式訊號(hào)TM1,一第二輸入端,用以接收一第二樣式訊號(hào)TM2,及一輸出端,用 以輸出一樣式致能訊號(hào)emarymp,其中第一邏輯電路102是用以根據(jù)第一樣式訊號(hào)TMl與 第二樣式訊號(hào)TM2,產(chǎn)生并輸出樣式致能訊號(hào)emarymp,其中第一邏輯電路102為一第一異 或非(exclusive NOR)門,用以對(duì)第一樣式訊號(hào)TMl與第二樣式訊號(hào)TM2執(zhí)行一異或非邏 輯運(yùn)算,產(chǎn)生樣式致能訊號(hào)emarymp。第二邏輯電路104具有一第一輸入端,用以接收一 存儲(chǔ)器區(qū)塊訊號(hào)BA,一第二輸入端,用以接收一分段訊號(hào)S,一第三輸入端,耦接于第一邏 輯電路102的輸出端,用以接收樣式致能訊號(hào)emarymp,一第一輸出端,用以輸出一第一預(yù) 輸入輸出訊號(hào)10_0123,及一第二輸出端,用以輸出一第二預(yù)輸入輸出訊號(hào)10_4567,其中 第二邏輯電路104是用以根據(jù)存儲(chǔ)器區(qū)塊訊號(hào)BA與分段訊號(hào)S,產(chǎn)生第一預(yù)輸入輸出訊號(hào) 10_0123與第二預(yù)輸入輸出訊號(hào)10_4567,以及根據(jù)樣式致能訊號(hào)emarymp,輸出第一預(yù)輸 入輸出訊號(hào)10_0123與第二預(yù)輸入輸出訊號(hào)10_4567 ;第一異或(exclusive OR)門106,具 有第一輸入端,用以接收一第三輸入輸出訊號(hào)10,一第二輸入端,耦接于第一邏輯電路102 的第二輸入端,用以接收第二樣式訊號(hào)TM2,一輸出端,用以輸出一第一致能訊號(hào)FE,其中 第一異或門106是用以對(duì)第三輸入輸出訊號(hào)IO及第二樣式訊號(hào)TM2,執(zhí)行一異或邏輯運(yùn)算, 以產(chǎn)生并輸出第一致能訊號(hào)FE ;第三邏輯電路108具有一第一輸入端,耦接于第一異或門 106的輸出端,用以接收第一致能訊號(hào)FE,一第二輸入端,耦接于第二邏輯電路104的第一 輸出端,用以接收第一預(yù)輸入輸出訊號(hào)10_0123,一第三輸入端,耦接于第二邏輯電路104 的第二輸出端,用以接收第二預(yù)輸入輸出訊號(hào)10_4567,一第一輸出端,用以輸出一第一輸 入輸出訊號(hào)I0W:3],及一第二輸出端,用以輸出一第二輸入輸出訊號(hào)1(^4:7],其中第三 邏輯電路108是用以根據(jù)第一致能訊號(hào)FE、第一預(yù)輸入輸出訊號(hào)10_0123及第二預(yù)輸入輸 出訊號(hào)10_4567,產(chǎn)生并輸出第一輸入輸出訊號(hào)I0W:3]與第二輸入輸出訊號(hào)1(^4:7];其 中第一輸入輸出訊號(hào)I0W:3]與第二輸入輸出訊號(hào)1(^4:7]是用以對(duì)存儲(chǔ)器晶片110內(nèi)的 每一存儲(chǔ)單元寫入一特定邏輯電位,其中存儲(chǔ)器晶片110可為一動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器。第二邏輯電路104包含一第二異或門1042、一第二異或非門1044、一第一反相器 1046、一第二反相器1048、一第一傳輸門1050、一第二傳輸門1052、一第一開(kāi)關(guān)IOM及一 第二開(kāi)關(guān)1056。第二異或門1042具有第一輸入端,耦接于第二邏輯電路104的第一輸入 端,一第二輸入端,耦接于第二邏輯電路104的第二輸入端,及一輸出端,耦接于第二邏輯 電路104的第一輸出端,其中第二異或門1042是用以對(duì)存儲(chǔ)器區(qū)塊訊號(hào)BA與分段訊號(hào)S 執(zhí)行一異或邏輯運(yùn)算,產(chǎn)生第一預(yù)輸入輸出訊號(hào)10_0123 ;第二異或非門1044具有第一輸入端,耦接于第二邏輯電路104的第一輸入端,一第二輸入端,耦接于第二邏輯電路104的 第二輸入端,及一輸出端,耦接于第二邏輯電路104的第二輸出端,其中第二異或非門1044 是用以對(duì)存儲(chǔ)器區(qū)塊訊號(hào)BA與分段訊號(hào)S執(zhí)行一異或非邏輯運(yùn)算,產(chǎn)生第二預(yù)輸入輸出訊 號(hào)10_0123 ;第一反相器1046具有一第一端,耦接于第一邏輯電路102的輸出端,及一第二 端,用以輸出一反相的樣式致能訊號(hào);第二反相器1048具有一第一端,耦接于第一邏輯電 路102的輸出端,及一第二端,用以輸出反相的樣式致能訊號(hào)Iemarymp ;第一傳輸門1050 具有一第一端,耦接于第一反相器1046的第二端,一第二端,耦接于第二異或門1042的輸 出端,一第三端,耦接于第一邏輯電路102的輸出端,及一第四端,耦接于第二邏輯電路104 的第一輸出端;第二傳輸門1052具有一第一端,耦接于第二反相器1048的第二端,一第二 端,耦接于第二異或非門1044的輸出端,一第三端,耦接于第一邏輯電路102的輸出端,及 一第四端,耦接于第二邏輯電路104的第二輸出端;第一開(kāi)關(guān)IOM具有第一端,耦接于第二 邏輯電路104的第一輸出端,一第二端,耦接于第一反相器1046的第二端,及一第三端,耦 接于一地端GND ;第二開(kāi)關(guān)1056具有第一端,耦接于第二邏輯電路104的第二輸出端,一第 二端,耦接于第二反相器1048的第二端,及一第三端,耦接于地端GND,其中第一開(kāi)關(guān)IOM 與第二開(kāi)關(guān)1056為N型金屬氧化物半導(dǎo)體晶體管。當(dāng)樣式致能訊號(hào)emarymp致能(亦即 樣式致能訊號(hào)emarymp為邏輯高電位)時(shí),反相的樣式致能訊號(hào)Iemarymp為邏輯低電位。 因此,第一傳輸門1050根據(jù)樣式致能訊號(hào)emarymp與反相的樣式致能訊號(hào)Iemarymp,傳輸 第一預(yù)輸入輸出訊號(hào)10_0123至第二邏輯電路104的第一輸出端,以及與第二傳輸門1052 根據(jù)樣式致能訊號(hào)emarymp與反相的樣式致能訊號(hào)Iemarymp,傳輸?shù)诙A(yù)輸入輸出訊號(hào) 10_4567至第二邏輯電路104的第二輸出端。此時(shí),因?yàn)榉聪嗟臉邮街履苡嵦?hào)Iemarymp為 邏輯低電位,所以第一開(kāi)關(guān)IOM與第二開(kāi)關(guān)1056被關(guān)閉,且第二邏輯電路104可輸出第一 預(yù)輸入輸出訊號(hào)10_0123與第二預(yù)輸入輸出訊號(hào)10_4567至第三邏輯電路108。另外,當(dāng)樣 式致能訊號(hào)emarymp去能(亦即樣式致能訊號(hào)emarymp為邏輯低電位)時(shí),反相的樣式致 能訊號(hào)Iemarymp為邏輯高電位。此時(shí),第一傳輸門1050和第二傳輸門1052關(guān)閉,所以第 二邏輯電路104不會(huì)輸出第一預(yù)輸入輸出訊號(hào)10_0123與第二預(yù)輸入輸出訊號(hào)10_4567至 第三邏輯電路108。第三邏輯電路108包含一第三異或門1082及一第四異或門1084。第三異或門 1082具有第一輸入端,耦接于第三邏輯電路108的第二輸入端,一第二輸入端,耦接于第三 邏輯電路108的第一輸入端,及一輸出端,耦接于第三邏輯電路108的第一輸出端,其中第 三異或門1082是用以對(duì)第一致能訊號(hào)FE與第一預(yù)輸入輸出訊號(hào)10_0123執(zhí)行一異或邏輯 運(yùn)算,產(chǎn)生第一輸入輸出訊號(hào)I0W:3];第四異或門1084具有第一輸入端,耦接于第三邏輯 電路108的第三輸入端,一第二輸入端,耦接于第三邏輯電路108的第一輸入端,及一輸出 端,耦接于第三邏輯電路108的第二輸出端,其中第四異或門1084是用以對(duì)第一致能訊號(hào) FE與第二預(yù)輸入輸出訊號(hào)10_4567執(zhí)行一異或邏輯運(yùn)算,產(chǎn)生第二輸入輸出訊號(hào)1(^4:7]。請(qǐng)參照?qǐng)D2A和圖2B,圖2A為說(shuō)明存儲(chǔ)器晶片110內(nèi)的偶數(shù)存儲(chǔ)區(qū)塊bankO、 bank2的示意圖,圖2B為說(shuō)明裝置100對(duì)存儲(chǔ)器晶片110的偶數(shù)存儲(chǔ)區(qū)塊寫入團(tuán)塊樣式、 棋盤式樣式、列條碼樣式及行條碼樣式時(shí),每一存儲(chǔ)單元儲(chǔ)存的特定邏輯電位的示意圖。 如圖2A所示,在偶數(shù)存儲(chǔ)區(qū)塊bankO、bank2的奇數(shù)分段SECl中,檢測(cè)放大器(sensing amplifier) 202的輸出端100-103是用以輸出反相位元線訊號(hào)以及檢測(cè)放大器204的輸出端104-107是用以輸出非反相位元線訊號(hào)BL4-BL7。另外,在偶數(shù)存儲(chǔ)區(qū)塊 bankO、bank2的偶數(shù)分段SEC2中,檢測(cè)放大器202的輸出端100-103是用以輸出非反相 位元線(bit line)訊號(hào)BL0-BL3以及檢測(cè)放大器206的輸出端104-107是用以輸出反相 位元線訊號(hào)δΓ 但本發(fā)明并不受限于僅有4條字元線(word line)WL0-WL3o另外, 本發(fā)明亦不受限于二個(gè)偶數(shù)存儲(chǔ)區(qū)塊bankO、bank2, 二個(gè)分段SEC1、SEC2,以及8個(gè)輸出端 100-107。舉例來(lái)說(shuō),在圖2B的棋盤式(check board)樣式的奇數(shù)分段SECl中,因?yàn)闄z測(cè) 放大器202的輸出端100-103是用以輸出反相位元線訊號(hào)以及檢測(cè)放大器204 的輸出端104-107是用以輸出非反相位元線訊號(hào)BL4-BL7,所以檢測(cè)放大器202的輸出端 100-103以及檢測(cè)放大器204的輸出端104-107都輸出同樣位元線訊號(hào)0101,如此奇數(shù)分 段SECl即可顯示出棋盤式樣式。同理,在棋盤式樣式的偶數(shù)分段SEC2中,因?yàn)闄z測(cè)放大器 202的輸出端100-103是用以輸出非反相位元線訊號(hào)BL0-BL3以及檢測(cè)放大器206的輸出 端104-107是用以輸出反相位元線訊號(hào),所以檢測(cè)放大器202的輸出端100-103 以及檢測(cè)放大器204的輸出端104-107亦都輸出同樣位元線訊號(hào)1010,如此偶數(shù)分段SEC2 即可顯示出棋盤式樣式。此外,圖2Α僅為存儲(chǔ)器晶片110的偶數(shù)存儲(chǔ)區(qū)塊bank0、bank2的 一重復(fù)單元,亦即存儲(chǔ)器晶片110的偶數(shù)存儲(chǔ)區(qū)塊bank0、bank2是由多個(gè)重復(fù)單元所組成。 另外,在圖2B中的其余樣式的操作原理皆和棋盤式樣式相同,在此不再贅述。請(qǐng)參照?qǐng)D3A和圖;3B,圖3A為說(shuō)明存儲(chǔ)器晶片110內(nèi)的奇數(shù)存儲(chǔ)區(qū)塊bankl、bank3 的示意圖,圖3B為說(shuō)明裝置100對(duì)存儲(chǔ)器晶片110的奇數(shù)存儲(chǔ)區(qū)塊寫入團(tuán)塊樣式、棋盤式 樣式、列條碼樣式及行條碼樣式時(shí),每一存儲(chǔ)單元儲(chǔ)存的特定邏輯電位的示意圖。如圖3A 所示,在奇數(shù)存儲(chǔ)區(qū)塊bankl、bank3的奇數(shù)分段SECl中,檢測(cè)放大器302的輸出端100-103 是用以輸出非反相位元線訊號(hào)BL0-BL3以及檢測(cè)放大器304的輸出端104-107是用以輸出 反相位元線訊號(hào)陌-舊。另外,在奇數(shù)存儲(chǔ)區(qū)塊bankl、bank3的偶數(shù)分段SEC2中,檢測(cè) 放大器302的輸出端100-103是用以輸出反相位元線訊號(hào)以及檢測(cè)放大器306 的輸出端104-107是用以輸出非反相位元線訊號(hào)BL4-BL7,但本發(fā)明并不受限于僅有4條 字元線Wi)-WL3。另外,本發(fā)明亦不受限于二個(gè)奇數(shù)存儲(chǔ)區(qū)塊bank、bank3,二個(gè)分段SEC1、 SEC2,以及8個(gè)輸出端100-107。舉例來(lái)說(shuō),在圖的棋盤式樣式的奇數(shù)分段SECl中,因 為檢測(cè)放大器302的輸出端100-103是用以輸出非反相位元線訊號(hào)BL0-BL3以及檢測(cè)放大 器304的輸出端104-107是用以輸出反相位元線訊號(hào)iEi-i!^,所以檢測(cè)放大器302的 輸出端100-103以及檢測(cè)放大器304的輸出端104-107都輸出同樣位元線訊號(hào)1010,如此 奇數(shù)分段SECl即可顯示出棋盤式樣式。同理,在棋盤式樣式的偶數(shù)分段SEC2中,因?yàn)闄z測(cè) 放大器302的輸出端100-103是用以輸出反相位元線訊號(hào)以及檢測(cè)放大器306 的輸出端104-107是用以輸出非反相位元線訊號(hào)BL4-BL7,所以檢測(cè)放大器302的輸出端 100-103以及檢測(cè)放大器306的輸出端104-107亦都輸出同樣位元線訊號(hào)0101,如此偶數(shù) 分段SEC2即可顯示出棋盤式樣式。此外,圖3A僅為存儲(chǔ)器晶片110的奇數(shù)存儲(chǔ)區(qū)塊bankl、 bank3的一重復(fù)單元,亦即存儲(chǔ)器晶片110的奇數(shù)存儲(chǔ)區(qū)塊bankl、bank3是由多個(gè)重復(fù)單 元所組成。另外,在圖3B中的其余樣式的操作原理皆和棋盤式樣式相同,在此不再贅述。請(qǐng)參照?qǐng)D4A和圖4B,圖4A為說(shuō)明存儲(chǔ)器區(qū)塊訊號(hào)BA、分段訊號(hào)S、第一預(yù)輸入輸 出訊號(hào)10_0123及第二預(yù)輸入輸出訊號(hào)10_4567的關(guān)系示意圖,圖4B為說(shuō)明第一樣式訊 號(hào)TM1、第二樣式訊號(hào)TM2、第三輸入輸出訊號(hào)10、樣式致能訊號(hào)emarymp和對(duì)存儲(chǔ)器晶片110寫入特定樣式的關(guān)系示意圖。如圖4A所示,存儲(chǔ)器區(qū)塊訊號(hào)BA為0是代表偶數(shù)存儲(chǔ) 區(qū)塊bank0、bank2及存儲(chǔ)器區(qū)塊訊號(hào)BA為1是代表奇數(shù)存儲(chǔ)區(qū)塊bankl、bank3,而分段訊 號(hào)S為0代表偶數(shù)分段SEC2及分段訊號(hào)S為1代表奇數(shù)分段SECl。舉例來(lái)說(shuō),如果存儲(chǔ) 器區(qū)塊訊號(hào)BA為1以及分段訊號(hào)S為0,則表示對(duì)應(yīng)的是存儲(chǔ)器晶片110中的奇數(shù)存儲(chǔ)區(qū) 塊bankl、bank3以及偶數(shù)分段SEC2。如圖4B所示,第一樣式訊號(hào)TMl為0、第二樣式訊號(hào) TM2為0及第三輸入輸出訊號(hào)IO為0000是對(duì)應(yīng)于團(tuán)塊樣式(全0);第一樣式訊號(hào)TMl為 0、第二樣式訊號(hào)TM2為0及第三輸入輸出訊號(hào)IO為1111是對(duì)應(yīng)于團(tuán)塊樣式(全1);第一 樣式訊號(hào)TMl為0、第二樣式訊號(hào)TM2為1及第三輸入輸出訊號(hào)IO為0101 (WL0-WL3)是對(duì) 應(yīng)于棋盤式樣式;第一樣式訊號(hào)TMl為1、第二樣式訊號(hào)TM2為0及第三輸入輸出訊號(hào)IO為 0000是對(duì)應(yīng)于行條碼樣式;第一樣式訊號(hào)TMl為1、第二樣式訊號(hào)TM2為1及第三輸入輸出 訊號(hào)IO為0101是對(duì)應(yīng)于列條碼樣式。因此,只要根據(jù)圖4A和圖4B,將對(duì)應(yīng)的第一樣式訊 號(hào)TM1、第二樣式訊號(hào)TM2、存儲(chǔ)器區(qū)塊訊號(hào)BA、第三輸入輸出訊號(hào)IO及分段訊號(hào)S輸入至 裝置100。然后裝置100將產(chǎn)生第一輸入輸出訊號(hào)I0W:3]與第二輸入輸出訊號(hào)1(^4:7], 且第一輸入輸出訊號(hào)I0W:3]與第二輸入輸出訊號(hào)1(^4:7]會(huì)分別通過(guò)檢測(cè)放大器的輸出 端100-103和104-107對(duì)存儲(chǔ)器晶片110內(nèi)的每一存儲(chǔ)單元寫入一特定邏輯電位。舉例來(lái)說(shuō),使用者想對(duì)存儲(chǔ)器晶片110內(nèi)的奇數(shù)存儲(chǔ)區(qū)塊bankl、bank3的奇數(shù)分 段SECl寫入行條碼樣式。因此,根據(jù)圖4A和圖4B,對(duì)裝置100輸入的第一樣式訊號(hào)TMl是 為1、第二樣式訊號(hào)TM2是為0、存儲(chǔ)器區(qū)塊訊號(hào)BA是為1、第三輸入輸出訊號(hào)IO為0000及 分段訊號(hào)S為1。請(qǐng)參照?qǐng)D1,因?yàn)榈谝粯邮接嵦?hào)TMl為1、第二樣式訊號(hào)TM2為0,所以第一 邏輯電路102產(chǎn)生的樣式致能訊號(hào)emarymp為0,導(dǎo)致第一傳輸門1050和第二傳輸門1052 被關(guān)閉及第一開(kāi)關(guān)IOM和第二開(kāi)關(guān)1056被開(kāi)啟。因?yàn)榈谝婚_(kāi)關(guān)IOM和第二開(kāi)關(guān)1056被 開(kāi)啟,所以第一預(yù)輸入輸出訊號(hào)10_012和第二預(yù)輸入輸出訊號(hào)10_4567被下拉至地端GND 的電位(0)。另外,因?yàn)榈谌斎胼敵鲇嵦?hào)IO是為0000和第二樣式訊號(hào)TM2為0,所以第 一異或門106輸出的第一致能訊號(hào)FE為0000。因此,第三邏輯電路108輸出的第一輸入 輸出訊號(hào)I0W:3]和第二輸入輸出訊號(hào)1(^4:7]亦為0000。請(qǐng)參照?qǐng)D3A和圖3B,檢測(cè)放 大器302的輸出端100-103根據(jù)第一輸入輸出訊號(hào)IO W:3]對(duì)字元線Wi)-WL3輸入位元線 訊號(hào)0000,而檢測(cè)放大器304的輸出端104-107根據(jù)第二輸入輸出訊號(hào)1(^4:7]對(duì)字元線 WL0-WL3輸入位元線訊號(hào)0000的反相位元線訊號(hào)1111。因此,通過(guò)上述過(guò)程存儲(chǔ)器晶片 110內(nèi)的奇數(shù)存儲(chǔ)區(qū)塊bankl、bank3的奇數(shù)分段SECl即可顯示出行條碼樣式。另外,其余 樣式的操作原理皆和行條碼樣式相同,在此不再贅述。請(qǐng)參照?qǐng)D5,圖5為本發(fā)明的另一實(shí)施例說(shuō)明產(chǎn)生存儲(chǔ)器晶片的測(cè)試樣式的方法 的流程圖。圖5的方法是利用第1圖的裝置100說(shuō)明,詳細(xì)步驟如下步驟500:開(kāi)始;步驟502 第一邏輯電路102根據(jù)第一樣式訊號(hào)TMl與第二樣式訊號(hào)TM2,產(chǎn)生并 輸出樣式致能訊號(hào)emarymp ;步驟504 第二邏輯電路104根據(jù)存儲(chǔ)器區(qū)塊訊號(hào)BA與分段訊號(hào)S,產(chǎn)生第一預(yù)輸 入輸出訊號(hào)10_0123與第二預(yù)輸入輸出訊號(hào)10_4567,以及根據(jù)樣式致能訊號(hào)emarymp,輸 出第一預(yù)輸入輸出訊號(hào)10_0123與第二預(yù)輸入輸出訊號(hào)10_4567 ;步驟506 第一異或門106對(duì)第三輸入輸出訊號(hào)IO及第二樣式訊號(hào)TM2執(zhí)行一異或邏輯運(yùn)算,產(chǎn)生并輸出第一致能訊號(hào)FE ;步驟508 第三邏輯電路108根據(jù)第一致能訊號(hào)FE、第一預(yù)輸入輸出訊號(hào)10_0123 與第二預(yù)輸入輸出訊號(hào)10_4567,產(chǎn)生并輸出第一輸入輸出訊號(hào)I0W:3]與第二輸入輸出 訊號(hào) 10[4:7];步驟510 根據(jù)第一輸入輸出訊號(hào)I0W:3]與第二輸入輸出訊號(hào)1(^4:7],對(duì)存儲(chǔ) 器晶片110內(nèi)的每一存儲(chǔ)單元寫入一特定邏輯電位;步驟512:結(jié)束。在步驟502中,第一邏輯電路102利用第一異或非門對(duì)第一樣式訊號(hào)TMl與第二 樣式訊號(hào)TM2執(zhí)行異或非邏輯運(yùn)算,產(chǎn)生并輸出樣式致能訊號(hào)emarymp。在步驟504中,第 二邏輯電路104利用第二異或門1042對(duì)存儲(chǔ)器區(qū)塊訊號(hào)BA與分段訊號(hào)S執(zhí)行異或邏輯運(yùn) 算,產(chǎn)生第一預(yù)輸入輸出訊號(hào)10_0123,及利用第二異或非門1044對(duì)存儲(chǔ)器區(qū)塊訊號(hào)BA與 分段訊號(hào)S執(zhí)行異或非邏輯運(yùn)算,產(chǎn)生第二預(yù)輸入輸出訊號(hào)10_4567。另外,第二邏輯電路 104利用第一反相器1046、第二反相器1048、第一傳輸門1050、第二傳輸門1052、第一開(kāi)關(guān) IOM及第二開(kāi)關(guān)1056根據(jù)樣式致能訊號(hào)emarymp,輸出第一預(yù)輸入輸出訊號(hào)10_0123與第 二預(yù)輸入輸出訊號(hào)10_4567。在步驟508中,第三邏輯電路108利用第三異或門1082對(duì)第 一致能訊號(hào)FE與第一預(yù)輸入輸出訊號(hào)10_0123執(zhí)行異或邏輯運(yùn)算,產(chǎn)生第一輸入輸出訊號(hào) IO W:3],以及利用第四異或門1084對(duì)第一致能訊號(hào)FE與第二預(yù)輸入輸出訊號(hào)10_4567執(zhí) 行異或邏輯運(yùn)算,產(chǎn)生第二輸入輸出訊號(hào)IO [4:7]0在步驟510中,裝置100根據(jù)第一輸入輸 出訊號(hào)IO W 3]與第二輸入輸出訊號(hào)IO W 7],對(duì)存儲(chǔ)器晶片110內(nèi)的每一存儲(chǔ)單元寫入特 定邏輯電位,亦即裝置100根據(jù)第一輸入輸出訊號(hào)I0W:3]與第二輸入輸出訊號(hào)1(^4:7], 對(duì)存儲(chǔ)器晶片110寫入團(tuán)塊樣式、棋盤式樣式、列條碼樣式及行條碼樣式。綜上所述,本發(fā)明所提供的產(chǎn)生存儲(chǔ)器晶片的測(cè)試樣式的裝置及其方法,是利用 產(chǎn)生存儲(chǔ)器晶片的測(cè)試樣式的裝置對(duì)第一樣式訊號(hào)、第二樣式訊號(hào)、存儲(chǔ)器區(qū)塊訊號(hào)、第三 輸入輸出訊號(hào)及分段訊號(hào)執(zhí)行一些簡(jiǎn)單的邏輯運(yùn)算,以產(chǎn)生第一輸入輸出訊號(hào)與第二輸入 輸出訊號(hào)。而產(chǎn)生存儲(chǔ)器晶片的測(cè)試樣式的裝置即可根據(jù)第一輸入輸出訊號(hào)與第二輸入輸 出訊號(hào),對(duì)存儲(chǔ)器晶片寫入團(tuán)塊樣式、棋盤式樣式、列條碼樣式及行條碼樣式。所以,本發(fā)明 可提供非常簡(jiǎn)便的測(cè)試方法可對(duì)存儲(chǔ)器晶片寫入團(tuán)塊樣式、棋盤式樣式、列條碼樣式及行 條碼樣式。以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例,凡依本發(fā)明申請(qǐng)專利范圍所做的均等變化與 修飾,皆應(yīng)屬本發(fā)明的涵蓋范圍。
權(quán)利要求
1.一種產(chǎn)生存儲(chǔ)器晶片的測(cè)試樣式的裝置,其特征在于,包含一第一邏輯電路,具有一第一輸入端,用以接收一第一樣式訊號(hào),一第二輸入端,用以 接收一第二樣式訊號(hào),及一輸出端,用以輸出一樣式致能訊號(hào),其中該第一邏輯電路是用以 根據(jù)該第一樣式訊號(hào)與該第二樣式訊號(hào),產(chǎn)生并輸出該樣式致能訊號(hào);一第二邏輯電路,具有一第一輸入端,用以接收一存儲(chǔ)器區(qū)塊訊號(hào),一第二輸入端,用 以接收一分段訊號(hào),一第三輸入端,耦接于該第一邏輯電路的輸出端,用以接收該樣式致能 訊號(hào),一第一輸出端,用以輸出一第一預(yù)輸入輸出訊號(hào),及一第二輸出端,用以輸出一第二 預(yù)輸入輸出訊號(hào),其中該第二邏輯電路是用以根據(jù)該存儲(chǔ)器區(qū)塊訊號(hào)與該分段訊號(hào),產(chǎn)生 該第一預(yù)輸入輸出訊號(hào)與該第二預(yù)輸入輸出訊號(hào),以及根據(jù)該樣式致能訊號(hào),輸出該第一 預(yù)輸入輸出訊號(hào)與該第二預(yù)輸入輸出訊號(hào);一第一異或門,具有第一輸入端,用以接收一第三輸入輸出訊號(hào),一第二輸入端,耦接 于該第一邏輯電路的第二輸入端,用以接收該第二樣式訊號(hào),一輸出端,用以輸出一第一致 能訊號(hào),其中該第一異或門是用以對(duì)該第三輸入輸出訊號(hào)及該第二樣式訊號(hào),執(zhí)行一異或 邏輯運(yùn)算,產(chǎn)生并輸出該第一致能訊號(hào);及一第三邏輯電路,具有一第一輸入端,耦接于該第一異或門的輸出端,用以接收該第一 致能訊號(hào),一第二輸入端,耦接于該第二邏輯電路的第一輸出端,用以接收該第一預(yù)輸入輸 出訊號(hào),一第三輸入端,耦接于該第二邏輯電路的第二輸出端,用以接收該第二預(yù)輸入輸出 訊號(hào),一第一輸出端,用以輸出一第一輸入輸出訊號(hào),及一第二輸出端,用以輸出一第二輸 入輸出訊號(hào),其中該第三邏輯電路是用以根據(jù)該第一致能訊號(hào)、該第一預(yù)輸入輸出訊號(hào)及 該第二預(yù)輸入輸出訊號(hào),產(chǎn)生并輸出該第一輸入輸出訊號(hào)與該第二輸入輸出訊號(hào);其中該第一輸入輸出訊號(hào)與該第二輸入輸出訊號(hào)是用以對(duì)該存儲(chǔ)器晶片內(nèi)的每一存 儲(chǔ)單元寫入一特定邏輯電位。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,該第一邏輯電路為一第一異或非門,且用 以對(duì)該第一樣式訊號(hào)與該第二樣式訊號(hào)執(zhí)行一異或非邏輯運(yùn)算,產(chǎn)生該樣式致能訊號(hào)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,該第二邏輯電路包含一第二異或門,具有第一輸入端,耦接于該第二邏輯電路的第一輸入端,一第二輸入 端,耦接于該第二邏輯電路的第二輸入端,及一輸出端,耦接于該第二邏輯電路的第一輸出 端,其中該第二異或門是用以對(duì)該存儲(chǔ)器區(qū)塊訊號(hào)與該分段訊號(hào)執(zhí)行一異或邏輯運(yùn)算,產(chǎn) 生該第一預(yù)輸入輸出訊號(hào);一第二異或非門,具有第一輸入端,耦接于該第二邏輯電路的第一輸入端,一第二輸 入端,耦接于該第二邏輯電路的第二輸入端,及一輸出端,耦接于該第二邏輯電路的第二輸 出端,其中該第二異或非門是用以對(duì)該存儲(chǔ)器區(qū)塊訊號(hào)與該分段訊號(hào)執(zhí)行一異或非邏輯運(yùn) 算,產(chǎn)生該第二預(yù)輸入輸出訊號(hào);一第一反相器,具有一第一端,耦接于該第一邏輯電路的輸出端,及一第二端,用以輸 出一反相的樣式致能訊號(hào);一第二反相器,具有一第一端,耦接于該第一邏輯電路的輸出端,及一第二端,用以輸 出該反相的樣式致能訊號(hào);一第一傳輸門,具有一第一端,耦接于該第一反相器的第二端,一第二端,耦接于該第 二異或門的輸出端,一第三端,耦接于該第一邏輯電路的輸出端,及一第四端,耦接于該第二邏輯電路的第一輸出端,其中該第一傳輸門是用以根據(jù)該樣式致能訊號(hào)與該反相的樣式 致能訊號(hào),傳輸該第一預(yù)輸入輸出訊號(hào);一第二傳輸門,具有一第一端,耦接于該第二反相器的第二端,一第二端,耦接于該第 二異或非門的輸出端,一第三端,耦接于該第一邏輯電路的輸出端,及一第四端,耦接于該 第二邏輯電路的第二輸出端,其中該第二傳輸門是用以根據(jù)該樣式致能訊號(hào)與該反相的樣 式致能訊號(hào),傳輸該第二預(yù)輸入輸出訊號(hào);一第一開(kāi)關(guān),具有第一端,耦接于該第二邏輯電路的第一輸出端,一第二端,耦接于該 第一反相器的第二端,及一第三端,耦接于一地端;及一第二開(kāi)關(guān),具有第一端,耦接于該第二邏輯電路的第二輸出端,一第二端,耦接于該 第二反相器的第二端,及一第三端,耦接于該地端。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的裝置,其特征在于,該第一開(kāi)關(guān)和該第二開(kāi)關(guān)為N型金屬氧化 物半導(dǎo)體晶體管。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,該第三邏輯電路包含一第三異或門,具有第一輸入端,耦接于該第三邏輯電路的第二輸入端,一第二輸入 端,耦接于該第三邏輯電路的第一輸入端,及一輸出端,耦接于該第三邏輯電路的第一輸出 端,其中該第三異或門是用以對(duì)該第一致能訊號(hào)與該第一預(yù)輸入輸出訊號(hào)執(zhí)行一異或邏輯 運(yùn)算,產(chǎn)生該第一輸入輸出訊號(hào);及一第四異或門,具有第一輸入端,耦接于該第三邏輯電路的第三輸入端,一第二輸入 端,耦接于該第三邏輯電路的第一輸入端,及一輸出端,耦接于該第三邏輯電路的第二輸出 端,其中該第四異或門是用以對(duì)該第一致能訊號(hào)與該第二預(yù)輸入輸出訊號(hào)執(zhí)行一異或邏輯 運(yùn)算,產(chǎn)生該第二輸入輸出訊號(hào)。
6.一種產(chǎn)生存儲(chǔ)器晶片的測(cè)試樣式的方法,其特征在于,包含一第一邏輯電路根據(jù)一第一樣式訊號(hào)與一第二樣式訊號(hào),產(chǎn)生并輸出一樣式致能訊號(hào);一第二邏輯電路根據(jù)一存儲(chǔ)器區(qū)塊訊號(hào)與一分段訊號(hào),產(chǎn)生一第一預(yù)輸入輸出訊號(hào)與 一第二預(yù)輸入輸出訊號(hào),以及根據(jù)該樣式致能訊號(hào),輸出該第一預(yù)輸入輸出訊號(hào)與該第二 預(yù)輸入輸出訊號(hào);一第一異或門對(duì)一第三輸入輸出訊號(hào)及該第二樣式訊號(hào)執(zhí)行一異或邏輯運(yùn)算,產(chǎn)生并 輸出一第一致能訊號(hào);一第三邏輯電路根據(jù)該第一致能訊號(hào)、該第一預(yù)輸入輸出訊號(hào)及該第二預(yù)輸入輸出訊 號(hào),產(chǎn)生并輸出一第一輸入輸出訊號(hào)與一第二輸入輸出訊號(hào);及根據(jù)該第一輸入輸出訊號(hào)與該第二輸入輸出訊號(hào),對(duì)該存儲(chǔ)器晶片內(nèi)的每一存儲(chǔ)單元 寫入一特定邏輯電位。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,該第一邏輯電路根據(jù)該第一樣式訊號(hào)與 該第二樣式訊號(hào),產(chǎn)生并輸出該樣式致能訊號(hào)包含利用一第一異或非門對(duì)該第一樣式訊號(hào)與該第二樣式訊號(hào)執(zhí)行一異或非邏輯運(yùn)算,產(chǎn) 生并輸出該樣式致能訊號(hào)。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,該第二邏輯電路根據(jù)該存儲(chǔ)器區(qū)塊訊號(hào) 與該分段訊號(hào),產(chǎn)生該第一預(yù)輸入輸出訊號(hào)與該第二預(yù)輸入輸出訊號(hào)包含利用一第二異或門對(duì)該存儲(chǔ)器區(qū)塊訊號(hào)與該分段訊號(hào)執(zhí)行一異或邏輯運(yùn)算,產(chǎn)生該第 一預(yù)輸入輸出訊號(hào);及利用一第二異或非門對(duì)該存儲(chǔ)器區(qū)塊訊號(hào)與該分段訊號(hào)執(zhí)行一異或非邏輯運(yùn)算,產(chǎn)生 該第二預(yù)輸入輸出訊號(hào)。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,該第二邏輯電路根據(jù)該樣式致能訊號(hào),輸 出該第一預(yù)輸入輸出訊號(hào)與該第二預(yù)輸入輸出訊號(hào)包含利用一第一反相器、一第二反相器、一第一傳輸門、一第二傳輸門、一第一開(kāi)關(guān)及一第 二開(kāi)關(guān)根據(jù)該樣式致能訊號(hào),輸出該第一預(yù)輸入輸出訊號(hào)與該第二預(yù)輸入輸出訊號(hào)。
10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,該第三邏輯電路根據(jù)該第一致能訊號(hào)、 該第一預(yù)輸入輸出訊號(hào)及該第二預(yù)輸入輸出訊號(hào),產(chǎn)生并輸出該第一輸入輸出訊號(hào)與該第 二輸入輸出訊號(hào)包含利用一第三異或門對(duì)該第一致能訊號(hào)與該第一預(yù)輸入輸出訊號(hào)執(zhí)行一異或邏輯運(yùn)算, 產(chǎn)生該第一輸入輸出訊號(hào);及利用一第四異或門對(duì)該第一致能訊號(hào)與該第二預(yù)輸入輸出訊號(hào)執(zhí)行一異或邏輯運(yùn)算, 產(chǎn)生該第二輸入輸出訊號(hào)。
11.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,根據(jù)該第一輸入輸出訊號(hào)與該第二輸入 輸出訊號(hào),對(duì)該存儲(chǔ)器晶片內(nèi)的每一存儲(chǔ)單元寫入該特定邏輯電位是利用一團(tuán)塊樣式對(duì)該 存儲(chǔ)器晶片內(nèi)的每一存儲(chǔ)單元寫入該特定邏輯電位。
12.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,根據(jù)該第一輸入輸出訊號(hào)與該第二輸入 輸出訊號(hào),對(duì)該存儲(chǔ)器晶片內(nèi)的每一存儲(chǔ)單元寫入該特定邏輯電位是利用一棋盤式樣式對(duì) 該存儲(chǔ)器晶片內(nèi)的每一存儲(chǔ)單元寫入該特定邏輯電位。
13.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,根據(jù)該第一輸入輸出訊號(hào)與該第二輸入 輸出訊號(hào),對(duì)該存儲(chǔ)器晶片內(nèi)的每一存儲(chǔ)單元寫入該特定邏輯電位是利用一列條碼樣式對(duì) 該存儲(chǔ)器晶片內(nèi)的每一存儲(chǔ)單元寫入該特定邏輯電位。
14.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,其特征在于,根據(jù)該第一輸入輸出訊號(hào)與該第二輸入 輸出訊號(hào),對(duì)該存儲(chǔ)器晶片內(nèi)的每一存儲(chǔ)單元寫入該特定邏輯電位是利用一行條碼樣式對(duì) 該存儲(chǔ)器晶片內(nèi)的每一存儲(chǔ)單元寫入該特定邏輯電位。
全文摘要
本發(fā)明公開(kāi)一種產(chǎn)生存儲(chǔ)器晶片的測(cè)試樣式的裝置及其方法,產(chǎn)生存儲(chǔ)器晶片的測(cè)試樣式的方法包含根據(jù)一第一樣式訊號(hào)與一第二樣式訊號(hào),產(chǎn)生并輸出一樣式致能訊號(hào);根據(jù)一存儲(chǔ)器區(qū)塊訊號(hào)、一分段訊號(hào)和該樣式致能訊號(hào),產(chǎn)生并輸出一第一預(yù)輸入輸出訊號(hào)與一第二預(yù)輸入輸出訊號(hào);對(duì)一第三輸入輸出訊號(hào)及該第二樣式訊號(hào)執(zhí)行一異或邏輯運(yùn)算,產(chǎn)生并輸出一第一致能訊號(hào);根據(jù)該第一致能訊號(hào)、該第一預(yù)輸入輸出訊號(hào)及該第二預(yù)輸入輸出訊號(hào),產(chǎn)生并輸出一第一輸入輸出訊號(hào)與一第二輸入輸出訊號(hào);及根據(jù)該第一輸入輸出訊號(hào)與該第二輸入輸出訊號(hào),對(duì)該存儲(chǔ)器晶片內(nèi)的每一存儲(chǔ)單元寫入一特定邏輯電位。
文檔編號(hào)G11C29/48GK102103893SQ201110047780
公開(kāi)日2011年6月22日 申請(qǐng)日期2011年2月25日 優(yōu)先權(quán)日2011年1月3日
發(fā)明者夏浚清, 歐陽(yáng)策群, 王釋興 申請(qǐng)人:鈺創(chuàng)科技股份有限公司
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