專利名稱：參考電流的調整方法、裝置和非易失存儲器芯片的制作方法
技術領域：
本發(fā)明涉及非易失存儲器技術領域，特別是涉及應用于非易失存儲器的一種參考電流的調整方法、裝置和一種非易失存儲器芯片。
背景技術：
為了驗證非易失存儲器產品的正確性，在產品出廠前均會進行一連串的測試流程。這些非易失存儲器產品可以包括快閃存儲器Flash，電可擦可編程只讀存儲器EEPROM(ElectricalIy Erasable Programmable Read-Only Memory)等。實際中，在進行邏輯功能測試、電擦除特性測試和程序碼測試之前，需要首先對待測試非易失存儲器芯片的參考電流進行精確調整。
以SLC (單比特存儲單兀,Single Layer Cell) Flash memory為例，簡單介紹其讀出原理對存儲單元與參考單元施加相同的柵極端、漏極端電壓，比較它們的漏極端電流，如果存儲單元電流比參考單元的電流(以下稱參考電流)大，則定義為存“1”，反之，定義為存“O”。即對存儲單元存“ I ”和存“0”的界定，就是看存儲單元電流比參考電流大還是小。因此，參考電流是存儲數據的判定點，是整個Flash memory讀出系統(tǒng)的基礎，需要在測試之前進行比較精確地調整。參考電流調整指的是對參考單元進行編程(Program),使其參考電流滿足系統(tǒng)性能評估測試的要求?，F(xiàn)有參考電流的調整方法通常針對需要的每一個參考電流進行手動調整。假設非易失存儲器芯片中需要Nct組參考電流，每一組中有Mct個參考電流，每一個參考電流的手動調整時間為Tct，采用現(xiàn)有參考電流的調整方法，則在測試過程中參考電流調整所花費的時間為Tct*Nct*Mct，其中，Tct為正數，Net、Mct為正整數。在非易失存儲器芯片內部參考單元的數目(例如，64，128)比較多時，Nct的數值是非常大的，因此，現(xiàn)有參考電流的調整方法會占用大量的測試時間，造成測試時間大大加長，測試成本激增?？傊?，需要本領域技術人員迫切解決的一個技術問題就是如何能夠降低非易失存儲器芯片的測試時間，尤其是降低參考電流的調整時間。

發(fā)明內容
本發(fā)明所要解決的技術問題是提供一種參考電流的調整方法和裝置，能夠大大縮短調整參考電流的時間，降低測試成本。相應的，本發(fā)明還提供了針對一種非易失存儲器芯片，用以保障上述參考電流的調整方法和裝置在實際中的應用。為了解決上述問題，本發(fā)明公開了一種參考電流的調整裝置，包括手動調整模塊，用于對一參考電流組進行手動調整，得到基準參考電流；及自動調整模塊，用于依據所述基準參考電流，對除這一參考電流組之外的其余參考電流組進行自動調整，得到與所述基準參考電流相同的調整結果。優(yōu)選的，所述自動調整模塊，包括自動編程單元，用于對其余組中的當前組參考單元執(zhí)行自動編程操作，得到當前組參考電流；及比較單元，用于將當前組參考電流與基準參考電流進行比較，若相同，則當前組參考電流調整完畢，否則，通知所述自動編程單元，對當前參考單元繼續(xù)執(zhí)行自動編程操作。優(yōu)選的，所述比較單元為電流比較器，包括第一輸入端，其接收來自所述手動調整模塊的基準參考電流；第二輸入端，其接收來自所述自動編程單元的當前組參考電流； 比較電路，用于將當前組參考電流與基準參考電流進行比較，得到比較結果；及輸出端，其向所述自動編程單元輸出與所述比較結果相應的信號，其中，在比較結果為自動編程單元的當前組參考電流小于手動調整模塊的基準參考電流時，輸出的第一信號表示當前組參考電流調整完畢，反之，輸出的第二信號表示對當前參考單元繼續(xù)執(zhí)行自動編程操作的通知信號。優(yōu)選的，所述參考電流組包括多個參考電流；所述手動調整模塊，具體用于針對第一組中的同一個參考單元，按照從低到高的順序，依次對所述多個參考電流進行手動調整，得到相應的多個基準參考電流。另一方面，本發(fā)明還公開了一種非易失存儲器芯片，包括權利要求1-4任一所述的參考電流的調整裝置。另一方面，本發(fā)明還公開了一種參考電流的調整方法，包括對一參考電流組進行手動調整，得到基準參考電流；依據所述基準參考電流，對除這一參考電流組之外的其余參考電流組進行自動調整，得到與所述基準參考電流相同的調整結果。優(yōu)選的，所述對除這一參考電流組之外的其余參考電流組進行自動調整的步驟，包括對其余組中的當前組參考單元執(zhí)行自動編程操作，得到當前組參考電流；將當前組參考電流與基準參考電流進行比較，若相同，則當前組參考電流調整完畢，否則，對當前參考單元繼續(xù)執(zhí)行自動編程操作。優(yōu)選的，采用電流比較器將當前組參考電流與基準參考電流進行比較，所述電路比較器包括第一輸入端、第二輸入端、比較電路和輸出端，所述比較步驟包括所述第一輸入端接收來自所述手動調整模塊的基準參考電流；所述第二輸入端接收來自所述自動編程單元的當前組參考電流；所述比較電路將當前組參考電流與基準參考電流進行比較，得到比較結果；所述輸出端向所述自動編程單元輸出與所述比較結果相應的信號，其中，在比較結果為自動編程單元的當前組參考電流小于手動調整模塊的基準參考電流時，輸出的第一信號表示當前組參考電流調整完畢，反之，輸出的第二信號表示對當前參考單元繼續(xù)執(zhí)行自動編程操作的通知信號。優(yōu)選的，所述參考電流組包括多個參考電流；所述手動調整步驟為，針對第一組中的同一個參考單元，按照從低到高的順序，依次對所述多個參考電流進行手動調整，得到相應的多個基準參考電流。與現(xiàn)有技術相比，本發(fā)明具有以下優(yōu)點本發(fā)明針對一參考電流組進行手動調整，得到基準參考電流，針對其余參考電流組進行自動調整，得到與所述基準參考電流相同的調整結果；由于相對于手動調整所花費時間，自動調整所花費的時間可以忽略不計，故無論參考電流組的數目如何，本發(fā)明都僅花費一參考電流組的手動調整時間，因而相對于現(xiàn)有技術，能夠大大降低參考電流的調整時間，降低測試成本；
再者，本發(fā)明還可以按照從低到高的順序，依次對所述多個參考電流進行手動調整，由于高的參考電流的調整可以復用相鄰低的參考電流的調整，上述手動調整僅需要最高參考電流所花費的調整時間，因此，本發(fā)明能夠進一步降低參考電流的調整所占用的時間成本。


圖I是本發(fā)明一種參考單元VT分布示意圖；圖2是本發(fā)明一種參考電流的調整裝置實施例I的結構圖；圖3是本發(fā)明一種參考電流的調整裝置實施例2的結構圖；圖4是本發(fā)明一種非易失存儲器芯片實施例的結構圖；圖5是本發(fā)明一種參考電流的調整方法實施例的流程圖。
具體實施例方式為使本發(fā)明的上述目的、特征和優(yōu)點能夠更加明顯易懂，下面結合附圖和具體實施方式
對本發(fā)明作進一步詳細的說明。參考電流的一次手動調整往往為,對一個參考單元進行編程,使其產生的參考電流在與閾值電壓(VT，Threshold Voltage)相符的容許范圍內；也即，在非易失存儲器芯片中需要Nct組參考電流，每一組中有Mct個參考電流時，現(xiàn)有參考電流的調整方法需要進行Nct*Mct次調整，且產生的Nct*Mct個參考電流在與VT相符的容許范圍內。在非易失存儲器芯片的測試過程中，每一個參考電流組中的參考電流數目通常是由參考單元閾值電壓(VT，Voltage Threshold)的種類決定的。例如，參照圖I所示的參考單元VT分布示意圖，圖1(a)中的VT具有oev、ev、rd和pv四種,此時,每一組中具有四個與這四種VT相應的參考電流即可；圖1(13)中的VT具有oevl、oev2、ev、rd和pv五種,此時，每一組中則需要有5個參考電流。實際上，對于不同的參考電流組來講，既然它們具有相同數目的參考電流，且每一個參考電流又都是與VT相應的，那么，在它們具有相同的參考電流的情況下，也可意味著產生的Nct*Mct個參考電流在與VT相符的容許范圍內。本專利發(fā)明人注意到了這一點，創(chuàng)造性地提出了本發(fā)明實施例的核心構思之一，即首先針對一參考電流組進行手動調整，得到基準參考電流，對于除這一參考電流組之外的其余參考電流組，則直接復用所述基準參考電流；這樣，只需對其余參考電流組進行自動調整，得到與所述基準參考電流相同的調整結果即可，由于相對于手動調整所花費時間，自動調整所花費的時間可以忽略不計，故無論Nct的數值有多大，本發(fā)明都僅花費一參考電流組的手動調整時間一Tct*Mct ;因而相對于現(xiàn)有技術所花費的Nct組參考電流的手動調整時間，本發(fā)明能夠大大降低參考電流的調整時間。參照圖2，示出了本發(fā)明一種參考電流的調整裝置實施例I的結構圖，具體可以包括手動調整模塊201，用于對一參考電流組進行手動調整，得到基準參考電流；及自動調整模塊202，用于依據所述基準參考電流，對除這一參考電流組之外的其余參考電流組進行自動調整，得到與所述基準參考電流相同的調整結果。本發(fā)明的調整裝置可以應用在各種非易失存儲器芯片的測試過程中，例如，F(xiàn)lash芯片，EEPROM芯片等，下面僅僅以Flash芯片為例進行說明，其它非易失存儲器芯片請參照即可。在Flash芯片的內部，數據通常以位(bit)為單位寫入一張大的矩陣中，每個寫入 單元被稱為存儲單元(memory cell),只要指定一個行(Row),再指定一個列(Column),就可以準確地定位到某個memory cell,這就是Flash芯片尋址的基本原理,而這張大的矩陣被稱為簇(Bank)。通常的Flash芯片為雙簇(Bank)或多簇結構，由于每個Bank的地址線是通用的，所以，在芯片尋址時還需要Bank編號,例如,對于4簇結構的Flash芯片,其Bank編號則為BankO Bank3。Flash芯片往往針對Bank設置參考電流組，這樣，F(xiàn)lash芯片中參考電流組的數目與Bank的數目相同,假設同為Net,且參考電流組的編號為GroupO Group(Nct-I)。手動調整模塊201、在實際中，手動調整模塊201可從所述Nct個參考電流組中選擇任一個(以下主要以GroupO為例進行說明)，進行參考電流的手動調整，本發(fā)明對具體的選擇方式不加以限制。假設Flash芯片的VT具有oev、ev、rd和pv四種(對應圖I (a)),那么，手動調整模塊201可以分別進行與這四種VT相應的參考電流的手動調整。這里的手動調整可以采用已有的方法，例如，可以對GroupO中一參考單元施加手動編程控制信號，直至該參考單元的參考電流在與oev相符的容許范圍內，也即，得到與oev相應的基準參考電流I,自動調整模塊202、在得到基準參考電流Itltl后，可以某種方式觸發(fā)自動調整模塊202工作，使其依據基準參考電流Itltl，對Groupl Group (Nct-I)進行自動調整，得到相應的調整結果Iltl I(Nct-I)O^由于所述自動調整可以直接復用所述基準參考電流，故1(1(1 = IlO = I2O =......=
I (Nct-I) O。在本發(fā)明的一種應用示例中，所述自動調整可以為，分別對Groupl Group (Nct-I)中一參考單元施加自動編程控制信號，直至該參考單元的參考電流Iltl與基準參考電流Ioo相同為止。在具體實現(xiàn)中，可采用一控制狀態(tài)機來控制自動調整模塊202工作，自動完成其余參考電流組的參考電流調整。例如，在接收到來自手動調整模塊201的信號(手動調整模塊201可在手動調整完一個基準參考電流時發(fā)送該信號)時，控制狀態(tài)機可以通過一啟動信號來觸發(fā)自動調整模塊202工作；又如，在檢測到當前參考單元的參考電流Iltl與基準參考電流Im相同時，控制狀態(tài)機可以通過一終止信號來終止自動調整模塊202的工作?？傊?，在協(xié)調控制自動調整模塊202工作的前提下，本發(fā)明對控制狀態(tài)機的具體控制方式不加以限制。由于所述自動調整僅需通過自動編程獲得與基準參考電流Itltl相同的調整結果，因此，相對于手動調整所花費時間，自動調整所花費的時間可以忽略不計。這樣，即使串行進行Groupl Group (Nct-I)的自動調整,其所花費的時間仍然可以忽略不計；當然，本領域技術人員也可以根據實際需求，選擇并行進行Groupl Group (Nct-I)的自動調整，本發(fā)明對此不加以限制。以上通過手動調整模塊201和自動調整模塊202的工作原理，對與oev相應的參考電流的調整進行了說明；對于與ev、rd和pv相應的參考電流的調整過程，由于其與oev相應的參考電流的調整比較類似，也是首先由手動調整模塊201對GroupO中一參考單元進行手動調整，得到與ev、rd和pv相應的基準參考電流I, I02> Itl3，然后，由自動調整模塊202通過自動調整得到I
11 I (Net—1)1、！12 I (Net—1)2 和！13 I (Net—1)3， 其中，I01 = I11 =工21 =...... = I(Nct-I)I^ I〇2 = Il2 = 122 =...... = I (Nct-I) 2 ^ 1〇3 = 了13 = 了23 =......=
I (Net-1)3， 故在此不作贅述，相互參照即可。需要說明的是，在Flash芯片的測試過程中，也可以針對不同的參考電流組進行手動調整，例如，對GroupO中一參考單元進行與oev相應的參考電流的調整,而對Groupl中一參考單元進行與ev相應的參考電流的調整，等等，本發(fā)明對此不加以限制。參照圖3，示出了本發(fā)明一種參考電流的調整裝置實施例2的結構圖，具體可以包括手動調整模塊301，用于對一參考電流組進行手動調整，得到基準參考電流；及自動調整模塊302，用于依據所述基準參考電流，對除這一參考電流組之外的其余參考電流組進行自動調整，得到與所述基準參考電流相同的調整結果，具體可以包括自動編程單元321，用于對其余組中的當前組參考單元執(zhí)行自動編程操作，得到當前組參考電流 '及 比較單元322，用于將當前組參考電流與基準參考電流進行比較，若相同，則當前組參考電流調整完畢，否則，通知所述自動編程單元321，對當前參考單元繼續(xù)執(zhí)行自動編程操作。相對于實施例1，實施例2對自動調整模塊302進行了詳細設計，使其通過比較獲得與基準參考電流相同的調整結果。在本發(fā)明的一種優(yōu)選實施例中，所述比較單元322可以為電流比較器，具體可以包括第一輸入端，其接收來自所述手動調整模塊301的基準參考電流；第二輸入端，其接收來自所述自動編程單元321的當前組參考電流；比較電路，用于將當前組參考電流與基準參考電流進行比較，得到比較結果；及輸出端，其向所述自動編程單元321輸出與所述比較結果相應的信號，其中，在比較結果為自動編程單元的當前組參考電流小于手動調整模塊的基準參考電流時，輸出的第一信號表示當前組參考電流調整完畢，反之，輸出的第二信號表示對當前參考單元繼續(xù)執(zhí)行自動編程操作的通知信號. 在實際中，所述比較電路可以有兩種實現(xiàn)方式，一種是可以首先將當前組參考電流與基準參考電流分別轉換成電壓，然后對二者的電壓進行比較，該方式具有速度快的優(yōu)點，但比較結果的精度偏低；另一種是，直接將當前組參考電流與基準參考電流進行比較，得出二者的差分電流，該方式具有精度高的優(yōu)點，但速度慢一些。本領域技術人員可以根據實際需要，選擇任一種實現(xiàn)方式或者結合使用者兩種實現(xiàn)方式，本發(fā)明對此不加以限制。對于實施例2而言，由于其與實施例I基本相似，所以描述的比較簡單，相關之處參見實施例I的部分說明即可。本發(fā)明還提供了一種參考電流的調整裝置實施例3，具體可以包括手動調整模塊，具體用于針對第一組中的同一個參考單元，按照從低到高的順序，依次對與VT相應的多個參考電流進行手動調整，得到相應的多個基準參考電流；及自動調整模塊，用于依據所述基準參考電流，對除這一參考電流組之外的其余參考電流組進行自動調整，得到與所述基準參考電流相同的調整結果，
在一個參考電流組包括有多個參考電流時，現(xiàn)有的手動調整方法通常針對不同的參考單元編程，以進行不同數值的參考電流的調整。以圖1(a)為例，表I示出了現(xiàn)有的手動調整方法所花費的時間。表I
""VT調整對象調整時間
oevGroupO中參考單兀0 0. Is
evGroupO中參考單兀I 0. 2s
rdGroupO中參考單元2 0 3^
PvGroupO中參考單元3 Oi可見，現(xiàn)有的手動調整方法需要0. ls+0. 2s+0. 3s+0. 4s = Is的時間。本專利發(fā)明人在研究中發(fā)現(xiàn)，oev到ev到rd再到pv是一個從低到高的過程,每次進行與ev相應的參考電流的調整，都需要先將閾值電壓調整到oev，然后調整到ev ;每次進行與rd相應的參考電流的調整，都需要先將閾值電壓調整到oev，然后調整到ev，最后調整到rd。也即，與oev相應的參考電流的調整為與ev相應的參考電流的調整的初始階段，與oev和ev相應的參考電流的調整均為與rd相應的參考電流的調整的初始階段,等等。因此，本實施例按照從低到高的順序，依次對所述多個參考電流進行手動調整，由于高的參考電流的調整可以復用相鄰低的參考電流的調整，這樣，本發(fā)明的手動調整僅需要0. ls+0. ls+0. ls+0. Is = 0. 4s的時間，故能夠在實施例I的基礎上，進一步降低參考電流的調整所占用的時間成本。對于實施例3而言，由于其與實施例I基本相似，所以描述的比較簡單，相關之處參見實施例I的部分說明即可。前述參考電流的調整裝置可用于實際的非易失存儲器芯片中，參照圖4，示出了本發(fā)明一種非易失存儲器芯片實施例的結構圖，具體可以包括多個Bank :BankO Bank (Nct-1)；
與Bank相應的參考電流組GroupO Group (Nct-I);及參考電流的調整裝置4A，具體可以包括手動調整模塊401，用于對一參考電流組進行手動調整，得到基準參考電流；及自動調整模塊402，用于依據所述基準參考電流，對除這一參考電流組之外的其余參考電流組進行自動調整，得到與所述基準參考電流相同的調整結果。其中，手動調整模塊401可通過與測試機臺交互來完成自動調整工作，本發(fā)明對具體的交互和自動調整方式不加以限制。與前述參考電流的調整裝置相應，本發(fā)明還公開了一種參考電流的調整方法，參照圖5，具體可以包括
步驟501、對一參考電流組進行手動調整，得到基準參考電流；步驟502、依據所述基準參考電流，對除這一參考電流組之外的其余參考電流組進行自動調整，得到與所述基準參考電流相同的調整結果。在本發(fā)明的一種優(yōu)選實施例中，所述步驟502具體可以包括對其余組中的當前組參考單元執(zhí)行自動編程操作，得到當前組參考電流；將當前組參考電流與基準參考電流進行比較，若相同，則當前組參考電流調整完畢，否則，對當前參考單元繼續(xù)執(zhí)行自動編程操作。在本發(fā)明實施例中，優(yōu)選的是，采用電流比較器將當前組參考電流與基準參考電流進行比較，所述電路比較器具體可以包括第一輸入端、第二輸入端、比較電路和輸出端，所述比較步驟具體可以包括所述第一輸入端接收來自所述手動調整模塊的基準參考電流；所述第二輸入端接收來自所述自動編程單元的當前組參考電流；所述比較電路將當前組參考電流與基準參考電流進行比較，得到比較結果；所述輸出端向所述自動編程單元輸出與所述比較結果相應的信號，其中，在比較結果為自動編程單元的當前組參考電流小于手動調整模塊的基準參考電流時，輸出的第一信號表示當前組參考電流調整完畢，反之，輸出的第二信號表示對當前參考單元繼續(xù)執(zhí)行自動編程操作的通知信號。在本發(fā)明的另一種優(yōu)選實施例中，所述參考電流組可以包括多個參考電流；相應地，所述步驟501可以為，針對第一組中的同一個參考單元，按照從低到高的順序，依次對所述多個參考電流進行手動調整，得到相應的多個基準參考電流。對于方法實施例而言，由于其與裝置實施例基本相似，所以描述的比較簡單，相關之處參見裝置實施例的部分說明即可。本說明書中的各個實施例均采用遞進的方式描述，每個實施例重點說明的都是與其他實施例的不同之處，各個實施例之間相同相似的部分互相參見即可。以上對本發(fā)明所提供的一種參考電流的調整方法、裝置和一種非易失存儲器芯片，進行了詳細介紹，本文中應用了具體個例對本發(fā)明的原理及實施方式進行了闡述，以上實施例的說明只是用于幫助理解本發(fā)明的方法及其核心思想；同時，對于本領域的一般技術人員，依據本發(fā)明的思想，在具體實施方式
及應用范圍上均會有改變之處，綜上所述，本說明書內容不應理解為對本發(fā)明的限制。
權利要求
1.一種參考電流的調整裝置，其特征在于，包括 手動調整模塊，用于對一參考電流組進行手動調整，得到基準參考電流；及自動調整模塊，用于依據所述基準參考電流，對除這一參考電流組之外的其余參考電流組進行自動調整，得到與所述基準參考電流相同的調整結果。
2.如權利要求I所述的裝置，其特征在于，所述自動調整模塊，包括 自動編程單元，用于對其余組中的當前組參考單元執(zhí)行自動編程操作，得到當前組參考電流；及 比較單元，用于將當前組參考電流與基準參考電流進行比較，若相同，則當前組參考電流調整完畢，否則，通知所述自動編程單元，對當前參考單元繼續(xù)執(zhí)行自動編程操作。
3.如權利要求2所述的裝置，其特征在于，所述比較單元為電流比較器，包括 第一輸入端，其接收來自所述手動調整模塊的基準參考電流； 第二輸入端，其接收來自所述自動編程單元的當前組參考電流； 比較電路，用于將當前組參考電流與基準參考電流進行比較，得到比較結果；及輸出端，其向所述自動編程單元輸出與所述比較結果相應的信號，其中，在比較結果為自動編程單元的當前組參考電流小于手動調整模塊的基準參考電流時，輸出的第一信號表示當前組參考電流調整完畢，反之，輸出的第二信號表示對當前參考單元繼續(xù)執(zhí)行自動編程操作的通知信號。
4.如權利要求I所述的裝置，其特征在于，所述參考電流組包括多個參考電流； 所述手動調整模塊，具體用于針對第一組中的同一個參考單元，按照從低到高的順序，依次對所述多個參考電流進行手動調整，得到相應的多個基準參考電流。
5.一種非易失存儲器芯片，包括權利要求1-4任一所述的參考電流的調整裝置。
6.一種參考電流的調整方法，其特征在于，包括 對一參考電流組進行手動調整，得到基準參考電流； 依據所述基準參考電流，對除這一參考電流組之外的其余參考電流組進行自動調整，得到與所述基準參考電流相同的調整結果。
7.如權利要求6所述的方法，其特征在于，所述對除這一參考電流組之外的其余參考電流組進行自動調整的步驟，包括 對其余組中的當前組參考單元執(zhí)行自動編程操作，得到當前組參考電流； 將當前組參考電流與基準參考電流進行比較，若相同，則當前組參考電流調整完畢，否貝U，對當前參考單元繼續(xù)執(zhí)行自動編程操作。
8.如權利要求7所述的方法，其特征在于，采用電流比較器將當前組參考電流與基準參考電流進行比較，所述電路比較器包括第一輸入端、第二輸入端、比較電路和輸出端，所述比較步驟包括 所述第一輸入端接收來自所述手動調整模塊的基準參考電流； 所述第二輸入端接收來自所述自動編程單元的當前組參考電流； 所述比較電路將當前組參考電流與基準參考電流進行比較，得到比較結果； 所述輸出端向所述自動編程單元輸出與所述比較結果相應的信號，其中，在比較結果為自動編程單元的當前組參考電流小于手動調整模塊的基準參考電流時，輸出的第一信號表示當前組參考電流調整完畢，反之，輸出的第二信號表示對當前參考單元繼續(xù)執(zhí)行自動編程操作的通知信號。
9.如權利要求6所述的方法，其特征在于，所述參考電流組包括多個參考電流； 所述手動調整步驟為，針對第一組中的同一個參考單元，按照從低到高的順序，依次對所述多個參考電流進行手動調整，得到相應的多個基準參考電流。
全文摘要
本發(fā)明提供了一種參考電流的調整方法、裝置和一種非易失存儲器芯片，其中的參考電流的調整裝置具體包括手動調整模塊，用于對一參考電流組進行手動調整，得到基準參考電流；及自動調整模塊，用于依據所述基準參考電流，對除這一參考電流組之外的其余參考電流組進行自動調整，得到與所述基準參考電流相同的調整結果。本發(fā)明能夠大大縮短調整參考電流的時間，降低測試成本。
文檔編號G11C16/06GK102708922SQ20111007488
公開日2012年10月3日 申請日期2011年3月28日 優(yōu)先權日2011年3月28日
發(fā)明者張賽, 蘇志強 申請人:北京兆易創(chuàng)新科技有限公司