專利名稱：一種內(nèi)存條測試裝置及測試方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明提供一種內(nèi)存條測試裝置及測試方法，特別是一種可對內(nèi)存條進(jìn)行全面測試的內(nèi)存條測試裝置及測試方法。
背景技術(shù)：
電腦使用越來越普遍，已經(jīng)滲透到各行各業(yè)中，電腦配件質(zhì)量好壞決定了電腦的品質(zhì)和性能。尤其是內(nèi)存條，它是連接CPU和其他設(shè)備的通道，起到緩沖和數(shù)據(jù)交換作用， 對電腦和電子設(shè)備的穩(wěn)定性和性能的影響至關(guān)重要?，F(xiàn)在電子設(shè)備和電腦用的內(nèi)存條一般滿足統(tǒng)一的國際標(biāo)準(zhǔn)接口，即所謂的DIMM內(nèi)存條(Dual-hline-Memory-Modules，即雙列直插式存儲模塊)，這些DIMM內(nèi)存條根據(jù)尺寸和接口的不同有不同的分類，例如=SO-DIMM 200、DIMM 240 等。有了統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)接口，電腦廠家常常直接購買標(biāo)準(zhǔn)接口的不同廠家的內(nèi)存條。而內(nèi)存條生產(chǎn)廠家良莠不齊，質(zhì)量有時候波動比較大。這主要表現(xiàn)在兩方面，一方面是內(nèi)存條信號質(zhì)量有差異，由于走線和PCB材料，以及內(nèi)存顆粒芯片的不同，內(nèi)存條顆粒芯片上的信號質(zhì)量和時序可能差距很大，內(nèi)存存在訪問出錯的風(fēng)險，可能會導(dǎo)致CPU無法啟動；第二， 主板的電器特性有差異，比如電源特性的差距，由于主板上提供的電源供電特性不完全一樣，而不同型號的存儲器顆粒對不同電源特性的供電適應(yīng)能力不同，可能導(dǎo)致不同品牌的內(nèi)存顆粒由于電源波動不能工作或者工作出錯，影響穩(wěn)定性。這兩方面的原因，導(dǎo)致內(nèi)存訪問可能存在風(fēng)險。現(xiàn)有測試內(nèi)存條的裝置，測試的時候無法調(diào)節(jié)各個關(guān)鍵參數(shù)，導(dǎo)致無法測試內(nèi)存條訪問每種參數(shù)的時序余量大小，不能真實的模擬內(nèi)存條工作環(huán)境，所以致使測試結(jié)果與實際應(yīng)用效果有一些誤差。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明要解決的主要技術(shù)問題是，提供一種內(nèi)存條測試裝置及測試方法，能夠避免因不能真實模擬內(nèi)存條工作環(huán)境導(dǎo)致的測試不全面，測試結(jié)果不夠準(zhǔn)確的問題。為解決上述技術(shù)問題，本發(fā)明采用的技術(shù)方案如下一種內(nèi)存條測試裝置，包括一個用以放置被測內(nèi)存條的內(nèi)存條接口，還包括一個測試控制單元以及一個功能測試單元；所述功能測試單元與所述內(nèi)存條接口相連；所述測試控制單元與所述功能測試單元相連；所述測試控制單元用于進(jìn)行內(nèi)存條測試參數(shù)的配置、構(gòu)建測試模型，以及測試過程控制。進(jìn)一步地，所述功能測試單元包括電源拉偏測試模塊、內(nèi)存壓力測試模塊、信號引出測試模塊之中的至少一種。更進(jìn)一步地，所述電源拉偏測試模塊包括可調(diào)電源、上電時序控制電路和開關(guān)元件，其中，所述可調(diào)電源和所述開關(guān)元件相連接，用于向所述開關(guān)元件提供電源；所述上電時序控制電路用于輸出開關(guān)信號給所述開關(guān)元件，所述開關(guān)信號根據(jù)設(shè)定的上電時序生成，用于控制所述開關(guān)元件的開通；所述可調(diào)電源通過所述開關(guān)元件輸出拉偏電源，所述拉
3偏電源用于實現(xiàn)對需要拉偏電源的拉偏。更進(jìn)一步地，所述內(nèi)存壓力測試模塊通過可編程地修改讀寫密度、讀寫頻度、讀寫次數(shù)、訪問特定地址和數(shù)據(jù)對內(nèi)存條進(jìn)行性能測試和訪問時序余量測試。更進(jìn)一步地，所述信號引出測試模塊通過利用信號測試點對所需測試參數(shù)進(jìn)行引出，并通過測試儀器對內(nèi)存條接口上關(guān)鍵的信號和所有電源的情況進(jìn)行測試，以及測試內(nèi)存條是否符合接口規(guī)范和檢測故障。一種內(nèi)存條測試方法，其特征在于，包括以下步驟在內(nèi)存條接口上安裝被測內(nèi)存條，并上電；測試控制單元生成測試控制信息并將其傳送到功能測試單元；功能測試單元根據(jù)所述測試控制信息對內(nèi)存條進(jìn)行功能測試；測試控制單元判斷被測內(nèi)存條測試結(jié)果，并輸出測試報告。進(jìn)一步地，測試控制單元設(shè)置測試參數(shù)，并通過編程構(gòu)建測試模型，生成測試控制信息，并將所述測試控制信息傳送到功能測試單元。更進(jìn)一步地，所述測試控制單元生成測試控制信息包括電源拉偏測試信息、內(nèi)存壓力測試信息、信號引出測試信息3種測試信息中的至少一種；所述功能測試單元根據(jù)所述測試控制信息分別調(diào)用測試種類對應(yīng)的電源拉偏測試模塊、內(nèi)存壓力測試模塊或信號引出測試模塊對內(nèi)存條進(jìn)行功能測試。更進(jìn)一步地，所述測試控制單元對電源拉偏測試模塊配置的電源拉偏測試信息包括電壓波動參數(shù)與電壓拉偏參數(shù)，所述電源拉偏測試模塊的功能測試為利用所述電源拉偏測試信息對被測內(nèi)存條進(jìn)行電壓穩(wěn)定性測試。更進(jìn)一步地，所述測試控制單元對內(nèi)存壓力測試模塊配置的內(nèi)存壓力測試信息包括讀寫性能參數(shù)與關(guān)鍵時序參數(shù)，所述內(nèi)存壓力測試模塊的功能測試為利用內(nèi)存壓力測試信息對被測內(nèi)存條進(jìn)行訪問時序余量測試。更進(jìn)一步地，所述測試控制單元對信號引出測試模塊配置的信號引出測試信息包括總線參數(shù)、I2C總線參數(shù)與電源參數(shù)，所述信號引出測試模塊利用接收的信號引出測試信息通過信號引出測試點引出測試參數(shù)，再通過測試儀器對引出的參數(shù)進(jìn)行信號邏輯分析。本發(fā)明的有益效果是通過內(nèi)存條測試裝置以及其測試方法，實現(xiàn)了對內(nèi)存條的全面測試，模擬了各種實際的內(nèi)存條應(yīng)用環(huán)境，測試了內(nèi)存條的穩(wěn)定性和適應(yīng)性，并能測試內(nèi)存條各種參數(shù)的時序余量。提高了測試的效率以及測試的全面性。


圖1是本發(fā)明內(nèi)存條測試裝置結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是本發(fā)明電源拉偏測試模塊工作示意圖；圖3是本發(fā)明內(nèi)存壓力測試模塊工作示意圖；圖4是本發(fā)明信號引出測試模塊工作示意圖；圖5是本發(fā)明內(nèi)存條測試流程圖。
具體實施方式
為使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點更加清楚，下面通過具體實施方式
結(jié)合附圖對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)說明。請參考圖1，本發(fā)明內(nèi)存條測試裝置結(jié)構(gòu)示意圖，該測試裝置，包括一內(nèi)存條接口、 一測試控制單元以及一個功能測試單元。該功能測試單元與內(nèi)存條接口相連；測試控制單元與功能測試單元相連。在本實施方式中，功能測試單元主要包括電源拉偏測試模塊、內(nèi)存壓力測試模塊、信號引出測試模塊。請參考圖2，本發(fā)明電源拉偏測試模塊工作示意圖，在本實施方式中，電源拉偏測試模塊通過測試控制單元預(yù)先配置好的電源拉偏測試信息，調(diào)節(jié)被測內(nèi)存條電源電壓，調(diào)節(jié)的方式可以為調(diào)節(jié)任意電壓的變化和變化速率周期，也可以幾種供電電壓分別或一起調(diào)節(jié)，還可以在電源上增加一定程度的波紋和噪音。請參考圖3，本發(fā)明內(nèi)存壓力測試模塊工作示意圖，在本實施方式中，內(nèi)存壓力測試模塊主要通過測試控制單元預(yù)先配置好的內(nèi)存壓力測試信息實現(xiàn)對內(nèi)存條的功能和時序測試。功能方面，在測試控制單元的控制下，測試方法可以任意編程，測試周期和時間可以隨意控制，即可編程地修改讀寫密度、讀寫頻度、讀寫次數(shù)、訪問特定地址和數(shù)據(jù)等操作， 可以模擬各種極端應(yīng)用情況，內(nèi)存條的工作模式也可以調(diào)節(jié)；時序測試方面，根據(jù)內(nèi)存標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的關(guān)鍵參數(shù)，測試裝置改變總線上的一些時序，測試被測內(nèi)存條的訪問時序余量，以驗證內(nèi)存的可靠性和適應(yīng)性。請參考圖4，本發(fā)明信號引出測試模塊工作示意圖，在本實施方式中，信號引出測試模塊可以通過測試控制單元預(yù)先配置好的信號引出測試信息，通過信號引出測試點對需要測試的關(guān)鍵參數(shù)進(jìn)行引出，再用測試儀器(如示波器、萬用表等)測試內(nèi)存條接口上關(guān)鍵的信號和所有電源的情況，用于測試內(nèi)存條是否符合接口規(guī)范，測試故障等。引出的信號包括DDfoi總線、1 總線和電源參數(shù)，信號引出測試點最好放在內(nèi)存條接口和功能測試單元的路徑上，避免產(chǎn)生無謂的分叉，做到最小程度的影響信號的信號完整性。本發(fā)明還提供一種內(nèi)存條測試方法，其通過上述內(nèi)存條測試裝置對內(nèi)存條進(jìn)行全面的測試，請參考圖5，本發(fā)明內(nèi)存條測試流程圖，該測試方法包括以下步驟在內(nèi)存條接口上安裝被測內(nèi)存條，并上電；測試控制單元設(shè)置測試參數(shù)，并通過編程構(gòu)建測試模型，生成測試控制信息，并將測試控制信息傳送到功能測試單元；功能測試單元根據(jù)所述測試控制信息對內(nèi)存條進(jìn)行功能測試；其中測試控制信息包括電源拉偏測試信息、內(nèi)存壓力測試信息、信號引出測試信息；而電源拉偏測試信息主要包括電壓波動參數(shù)與電壓拉偏參數(shù)，電源拉偏測試模塊利用接收的電源拉偏測試信息對被測內(nèi)存條進(jìn)行電壓穩(wěn)定性測試；內(nèi)存壓力測試信息主要包括讀寫性能參數(shù)與關(guān)鍵時序參數(shù)，內(nèi)存壓力測試模塊利用接收的內(nèi)存壓力測試信息對被測內(nèi)存條進(jìn)行性能和訪問時序余量測試；信號引出測試信息主要包括DDfoi總線參數(shù)與1 總線參數(shù)，信號引出測試模塊利用接收的信號測試信息通過信號引出測試點引出測試參數(shù)；再通過示波器或者萬用表等測試儀器對被測內(nèi)存條進(jìn)行信號邏輯分析；測試控制單元判斷被測內(nèi)存條測試結(jié)果，并輸出測試報告。在本實施方式中，功能測試單元的三種測試模塊組合為最優(yōu)測試方式，除了可以用以上的三種測試模塊的組合外，還可以用三種測試模塊中的任意一種或任意兩種模塊進(jìn)
5行組合，相應(yīng)的，測試控制單元生成測試控制信息應(yīng)與使用的測試模塊組合相對應(yīng)。在本實施方式中，功能測試單元所包含的三種測試模塊為較常用測試模塊，還可以增加其他檢測模塊用于對內(nèi)存條進(jìn)行其他功能性檢測。以上內(nèi)容是結(jié)合具體的實施方式對本發(fā)明所作的進(jìn)一步詳細(xì)說明，不能認(rèn)定本發(fā)明的具體實施只局限于這些說明。對于本發(fā)明所屬技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本發(fā)明構(gòu)思的前提下，還可以做出若干簡單推演或替換，都應(yīng)當(dāng)視為屬于本發(fā)明的保護范圍。
權(quán)利要求
1.一種內(nèi)存條測試裝置，包括一個用以放置被測內(nèi)存條的內(nèi)存條接口，其特征在于，還包括一個測試控制單元以及一個功能測試單元；所述功能測試單元與所述內(nèi)存條接口相連；所述測試控制單元與所述功能測試單元相連；所述測試控制單元用于進(jìn)行內(nèi)存條測試參數(shù)的配置、構(gòu)建測試模型，以及測試過程控制。
2.如權(quán)利要求1所述的內(nèi)存條測試裝置，其特征在于，所述功能測試單元包括電源拉偏測試模塊、內(nèi)存壓力測試模塊、信號引出測試模塊之中的至少一種。
3.如權(quán)利要求2所述的內(nèi)存條測試裝置，其特征在于，所述電源拉偏測試模塊包括可調(diào)電源、上電時序控制電路和開關(guān)元件，其中，所述可調(diào)電源和所述開關(guān)元件相連接，用于向所述開關(guān)元件提供電源；所述上電時序控制電路用于輸出開關(guān)信號給所述開關(guān)元件，所述開關(guān)信號根據(jù)設(shè)定的上電時序生成，用于控制所述開關(guān)元件的開通；所述可調(diào)電源通過所述開關(guān)元件輸出拉偏電源，所述拉偏電源用于實現(xiàn)對需要拉偏電源的拉偏。
4.如權(quán)利要求2所述的內(nèi)存條測試裝置，其特征在于，所述內(nèi)存壓力測試模塊通過讀寫性能參數(shù)與關(guān)鍵時序參數(shù)對內(nèi)存條進(jìn)行性能測試和訪問時序余量測試。
5.如權(quán)利要求2所述的內(nèi)存條測試裝置，其特征在于，所述信號引出測試模塊通過利用信號測試點對所需測試參數(shù)進(jìn)行引出，并通過測試儀器對內(nèi)存條接口上關(guān)鍵的信號和所有電源的情況進(jìn)行測試，以及測試內(nèi)存條是否符合接口規(guī)范和檢測故障。
6.一種內(nèi)存條測試方法，其特征在于，包括以下步驟在內(nèi)存條接口上安裝被測內(nèi)存條，并上電；測試控制單元生成測試控制信息并將其傳送到功能測試單元；功能測試單元根據(jù)所述測試控制信息對內(nèi)存條進(jìn)行功能測試；測試控制單元判斷被測內(nèi)存條測試結(jié)果，并輸出測試報告。
7.如權(quán)利要求6所述的內(nèi)存條測試方法，其特征在于，測試控制單元設(shè)置測試參數(shù)，并通過編程構(gòu)建測試模型，生成測試控制信息，并將所述測試控制信息傳送到功能測試單元。
8.如權(quán)利要求6或7所述的內(nèi)存條測試方法，其特征在于，所述測試控制單元生成測試控制信息包括電源拉偏測試信息、內(nèi)存壓力測試信息、信號引出測試信息3種測試信息中的至少一種；所述功能測試單元根據(jù)所述測試控制信息分別調(diào)用測試種類對應(yīng)的電源拉偏測試模塊、內(nèi)存壓力測試模塊或信號引出測試模塊對內(nèi)存條進(jìn)行功能測試。
9.如權(quán)利要求8所述的內(nèi)存條測試方法，其特征在于，所述測試控制單元對電源拉偏測試模塊配置的電源拉偏測試信息包括電壓波動參數(shù)與電壓拉偏參數(shù)，所述電源拉偏測試模塊的功能測試為利用所述電源拉偏測試信息對被測內(nèi)存條進(jìn)行電壓穩(wěn)定性測試。
10.如權(quán)利要求8所述的內(nèi)存條測試方法，其特征在于，所述測試控制單元對內(nèi)存壓力測試模塊配置的內(nèi)存壓力測試信息包括讀寫性能參數(shù)與關(guān)鍵時序參數(shù)，所述內(nèi)存壓力測試模塊的功能測試為利用內(nèi)存壓力測試信息對被測內(nèi)存條進(jìn)行性能測試和訪問時序余量測試。
11.如權(quán)利要求8所述的內(nèi)存條測試方法，其特征在于，所述測試控制單元對信號引出測試模塊配置的信號引出測試信息包括總線參數(shù)、I2C總線參數(shù)與電源參數(shù)，所述信號引出測試模塊利用接收的信號引出測試信息通過信號引出測試點引出測試參數(shù)，再通過測試儀器對弓I出的參數(shù)進(jìn)行信號邏輯分析。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種內(nèi)存條測試裝置及測試方法。本發(fā)明的內(nèi)存條測試裝置包括一內(nèi)存條接口、一測試控制單元以及一個功能測試單元，該功能測試單元與內(nèi)存條接口相連，測試控制單元與功能測試單元相連。其中功能測試單元包括電源拉偏測試模塊、內(nèi)存壓力測試模塊、信號引出測試模塊之中的至少一種模塊。本發(fā)明的內(nèi)存條測試裝置及測試方法，能夠避免因不能真實模擬內(nèi)存條工作環(huán)境導(dǎo)致的測試不全面，測試結(jié)果不夠準(zhǔn)確的問題，提高了測試的效率以及測試的全面性。
文檔編號G11C29/56GK102339650SQ201110320418
公開日2012年2月1日 申請日期2011年10月20日 優(yōu)先權(quán)日2011年10月20日
發(fā)明者時洵, 瞿世尊 申請人:中興通訊股份有限公司