專利名稱：光拾取器裝置和光盤裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及光拾取器裝置和光盤裝置，例如適用于支持多層光盤的光拾取器裝置和光盤裝置。
背景技術(shù)：
在對光盤進(jìn)行信息的讀取和寫入時，一般使用搭載了光拾取器裝置的光盤裝置。該光盤裝置，為了將光斑準(zhǔn)確地照射到光盤內(nèi)的規(guī)定軌道上，除了基于由光檢測器的受光部檢測到的聚焦誤差信號，使物鏡在聚焦方向上移位而進(jìn)行聚焦調(diào)整外，還基于跟蹤誤差信號使物鏡在光盤半徑方向(以下稱為徑向方向)上位移而進(jìn)行跟蹤調(diào)整?，F(xiàn)有的光盤裝置中，基于根據(jù)該聚焦誤差信號和跟蹤誤差信號得到的伺服信號，進(jìn)行物鏡的位置控制。 然而，近年來隨著光盤的大容量化的推進(jìn)，開始出現(xiàn)了具有多個信息記錄層的多層光盤。在對這樣的由3層以上的信息記錄層構(gòu)成的多層光盤進(jìn)行信息的讀取和寫入時，現(xiàn)有的光拾取器裝置中，在信息記錄層上反射的信號光和在其他的信息記錄層上反射的雜散光可能會入射到光檢測器的同一個受光部上，這樣的情況下，存在該信號光與該雜散光干涉而導(dǎo)致不能夠檢測出正確的跟蹤誤差信號、不能夠進(jìn)行穩(wěn)定的跟蹤控制的問題。作為用于解決該問題的技術(shù)，例如專利文獻(xiàn)I公開了這樣的方法，即，將跟蹤誤差信號檢測用的受光部配置在遠(yuǎn)離雜散光的位置上，并且在光盤軌道的切線的延長線方向(以下稱為切線方向)上配置一部分受光部，在與軌道切線方向垂直的光盤半徑方向(徑向方向)上配置其余受光部，由此回避在其他信息記錄層上反射的雜散光，檢測穩(wěn)定的跟蹤誤差f目號。專利文獻(xiàn)I :日本特開平2008-135151號公報

發(fā)明內(nèi)容
但是，根據(jù)上述專利文獻(xiàn)I中公開的方法，跟蹤誤差信號檢測用的受光部所需的光檢測器的面積會增大，光檢測器的尺寸會增大，所以存在光檢測器的制造成本升高的問題，以及光拾取器整體的尺寸增大的問題。本發(fā)明考慮以上各點(diǎn)，提出一種在對具有多個信息記錄層的光盤進(jìn)行記錄和再現(xiàn)的情況下，能夠生成穩(wěn)定的伺服信號，并且能夠低成本、小型化的光拾取器裝置和搭載了該光拾取器裝置的光盤裝置。為了解決該問題，本發(fā)明提供光拾取器裝置，包括出射激光的半導(dǎo)體激光器；用于使從上述半導(dǎo)體激光器出射的光束會聚而照射到光盤上的物鏡；將從上述光盤反射的光束分束的衍射元件；和具有接收由上述衍射元件分束后的光束的多個受光部的光檢測器，其中，上述衍射元件具有第一、第二、第三分割區(qū)域，上述第三分割區(qū)域是包含上述衍射元件的中心的區(qū)域，上述第一分割區(qū)域是位于通過上述衍射元件的大致中心且在與上述光盤的軌道大致平行的方向上延伸的直線上的區(qū)域，上述第二分割區(qū)域是位于通過上述衍射元件的大致中心且在與上述光盤的軌道大致垂直的方向上延伸的直線上的區(qū)域，上述第一分割區(qū)域或上述第二分割區(qū)域的衍射光至少被分割為4部分，以入射到至少4個受光部，上述第一分割區(qū)域、上述第二分割區(qū)域和上述第三分割區(qū)域的O級衍射光由被至少分割為4部分的受光部檢測，在與上述光盤的軌道大致垂直的方向上，排列有對在上述第一分割區(qū)域中以I級以上的衍射級數(shù)衍射的光束進(jìn)行檢測的至少2個受光部。此外，本發(fā)明提供另一光拾取器裝置，包括出射激光的半導(dǎo)體激光器；用于使從上述半導(dǎo)體激光器出射的光束會聚而照射到光盤上的物鏡；將從上述光盤反射的光束分束的衍射元件；和具有接收由上述衍射元件分束后的光束的多個受光部的光檢測器，上述衍射元件具有第一、第二、第三分割區(qū)域，上述第三分割區(qū)域是包含上述衍射元件的中心的區(qū)域，上述第一分割區(qū)域是位于通過上述衍射元件的大致中心且在與上述光盤的軌道大致平行的方向上延伸的直線上的區(qū)域，上述第二分割區(qū)域是位于通過上述衍射元件的大致中心且在與上述光盤的軌道大致垂直的方向上延伸的直線上的區(qū)域，上述第一分割區(qū)域或上述第二分割區(qū)域的衍射光至少被分割為4部分，以入射到至少4個受光部，上述第一分割區(qū)域、上述第二分割區(qū)域、上述第三分割區(qū)域的0級衍射光由被至少分割為4部分的受光部檢測，在與上述光盤的軌道大致平行的方向上，排列有對在上述第二分割區(qū)域中以I級以上 的衍射級數(shù)衍射的光束進(jìn)行檢測的至少2個受光部。此外，本發(fā)明提供另一光拾取器裝置，包括出射激光的半導(dǎo)體激光器；用于使從上述半導(dǎo)體激光器出射的光束會聚而照射到光盤上的物鏡；將從上述光盤反射的光束分束的衍射元件；和具有接收由上述衍射元件分束后的光束的多個受光部的光檢測器，上述衍射元件具有第一、第二、第三分割區(qū)域，因上述光盤上的軌道而衍射的光盤衍射光中，光盤0級衍射光入射到上述第一分割區(qū)域，光盤0級、光盤±1級衍射光入射到上述第二分割區(qū)域，上述第一分割區(qū)域或上述第二分割區(qū)域的衍射光至少被分割為4部分，以入射到至少4個受光部，上述第一分割區(qū)域、上述第二分割區(qū)域和上述第三分割區(qū)域的0級衍射光由被至少分割為4部分的受光部檢測，在與上述光盤的軌道大致垂直的方向上，排列有對在上述第一分割區(qū)域中以I級以上的衍射級數(shù)衍射的光束進(jìn)行檢測的至少2個受光部。此外，本發(fā)明提供另一光拾取器裝置，包括出射激光的半導(dǎo)體激光器；用于使從上述半導(dǎo)體激光器出射的光束會聚而照射到光盤上的物鏡；將從上述光盤反射的光束分束的衍射元件；和具有接收由上述衍射元件分束后的光束的多個受光部的光檢測器，上述衍射元件具有第一、第二、第三分割區(qū)域，因上述光盤上的軌道而衍射的光盤衍射光中，光盤0級衍射光入射到上述第一分割區(qū)域，光盤0級、光盤±1級衍射光入射到上述第二分割區(qū)域，上述第一分割區(qū)域或上述第二分割區(qū)域的衍射光至少被分割為4部分，以入射到至少4個受光部，上述第一分割區(qū)域、上述第二分割區(qū)域、上述第三分割區(qū)域的0級衍射光由被至少分割為4部分的受光部檢測，在與上述光盤的軌道大致平行的方向上，排列有對在上述第二分割區(qū)域中以I級以上的衍射級數(shù)衍射的光束進(jìn)行檢測的至少2個受光部。此外，本發(fā)明提供另一光拾取器裝置，包括出射激光的半導(dǎo)體激光器；用于使從上述半導(dǎo)體激光器出射的光束會聚而照射到光盤上的物鏡；將從上述光盤反射的光束分束的衍射元件；和具有接收由上述衍射元件分束后的光束的多個受光部的光檢測器，上述衍射元件具有第一、第二、第三分割區(qū)域，上述第三分割區(qū)域是包含上述衍射元件的中心的區(qū)域，上述第一分割區(qū)域是包含上述衍射元件的四角的規(guī)定區(qū)域，上述第二分割區(qū)域是上述第一分割區(qū)域和上述第三分割區(qū)域以外的區(qū)域，上述第一分割區(qū)域或上述第二分割區(qū)域的衍射光至少被分割為4部分，以入射到至少4個受光部，上述第一分割區(qū)域、上述第二分割區(qū)域和上述第三分割區(qū)域的O級衍射光由被至少分割為4部分的受光部檢測，在與上述光盤的軌道大致垂直的方向上，排列有對在上述第一分割區(qū)域中以I級以上的衍射級數(shù)衍射的光束進(jìn)行檢測的至少2個受光部。此外，本發(fā)明提供另一光拾取器裝置，包括出射激光的半導(dǎo)體激光器；用于使從上述半導(dǎo)體激光器出射的光束會聚而照射到光盤上的物鏡；將從上述光盤反射的光束分束的衍射元件；和具有接收由上述衍射元件分束后的光束的多個受光部的光檢測器，上述衍射元件具有第一、第二、第三分割區(qū)域，上述第三分割區(qū)域是包含上述衍射元件的中心的區(qū)域，上述第一分割區(qū)域是包含上述衍射元件的四角的規(guī)定區(qū)域，上述第二分割區(qū)域是上述第一分割區(qū)域和上述第三分割區(qū)域以外的區(qū)域，上述第一分割區(qū)域或上述第二分割區(qū)域的衍射光至少被分割為4部分，以入射到至少4個受光部，上述第一分割區(qū)域、上述第二分割區(qū)域、上述第三分割區(qū)域的0級衍射光由被至少分割為4部分的受光部檢測，在與上述光盤的軌道大致平行的方向上，排列有對在上述第二分割區(qū)域中以I級以上的衍射級數(shù)衍射的光束進(jìn)行檢測的至少2個受光部。
此外，本發(fā)明提供一種光盤裝置，包括以上述的光拾取器裝置；驅(qū)動上述光拾取器裝置內(nèi)的上述半導(dǎo)體激光器的激光器發(fā)光驅(qū)動電路；使用從上述光拾取器裝置內(nèi)的上述光檢測器檢測到的信號，生成聚焦誤差信號和跟蹤誤差信號的伺服信號生成電路；和對光盤中記錄的信息信號進(jìn)行再現(xiàn)的信息信號再現(xiàn)電路。根據(jù)本發(fā)明，能夠?qū)崿F(xiàn)一種在對具有多個信息記錄層的光盤進(jìn)行記錄和再現(xiàn)的情況下，能夠生成穩(wěn)定的伺服信號，并且能夠低成本、小型化的光拾取器裝置和搭載了該光拾取器裝置的光盤裝置。


圖I是表示第一實(shí)施方式的光盤裝置的結(jié)構(gòu)例的框圖。圖2是表示第一實(shí)施方式的光拾取器裝置的結(jié)構(gòu)例的俯視圖。圖3是表示第一實(shí)施方式中的全息元件的結(jié)構(gòu)例的俯視圖。圖4是表示光檢測器的受光部的配置方式的一例的俯視圖。圖5 (A)是從沿著光軸方向的方向觀看離焦?fàn)顟B(tài)下入射到受光部hi的光束的概要俯視圖，(B)是從沿著光軸方向的方向觀看恰好聚焦(just focus)狀態(tài)下入射到受光部hi的光束的概要俯視圖，(C)是從沿著光軸方向的方向觀看離焦?fàn)顟B(tài)下入射到受光部hi的光束的概要俯視圖。圖6 (A)是從沿著光軸方向的方向觀看離焦?fàn)顟B(tài)下入射到受光部dl的光束的概要俯視圖，(B)是從沿著光軸方向的方向觀看恰好聚焦?fàn)顟B(tài)下入射到受光部dl的光束的概要俯視圖，(C)是從沿著光軸方向的方向觀看離焦?fàn)顟B(tài)下入射到受光部dl的光束的概要俯視圖。圖7是表示入射到光檢測器的光束引起的最大層間雜散光的狀況的概要俯視圖。圖8是從沿著光軸方向的方向觀看入射到受光部al、bl、Cl和dl的光束LI的概要俯視圖。圖9 (A)是表示在切線方向上擴(kuò)大第三區(qū)域的情況下的變形例的圖，(B)是在切線方向上將第三區(qū)域擴(kuò)大為與第二區(qū)域相同的情況下的變形例的圖，(C)是表示使第三區(qū)域成為圓弧形狀的情況下的變形例的圖，(D)是表示使第三區(qū)域成為山谷形狀的情況下的變形例的圖。圖10 (A)是表示第一實(shí)施方式的光檢測器的受光部配置方式的變形例的圖，(B)是表示第一實(shí)施方式的光檢測器的受光部配置方式的變形例的圖。圖11是表示第二實(shí)施方式的光檢測器的受光部的配置方式的一例的俯視圖。圖12是表示入射到光檢測器的光束引起的最大層間雜散光的狀況的概要俯視圖。圖13是從沿著光軸方向的方向觀看入射到受光部el、fl、gl和hi的光束LI的概要俯視圖。圖14是表示第二實(shí)施方式的光檢測器的受光部配置方式的變形例的圖。 圖15是表示第三實(shí)施方式的光檢測器的受光部的配置方式的一例的俯視圖。圖16是表示入射到光檢測器的光束引起的最大層間雜散光的狀況的概要俯視圖。圖17是從沿著光軸方向的方向觀看入射到受光部al、bl、cl和dl的光束LI的概要俯視圖。圖18 (A)是表示第三實(shí)施方式的光檢測器的受光部配置方式的變形例的圖，(B)是表示第三實(shí)施方式的光檢測器的受光部配置方式的變形例的圖，(C)是表示第三實(shí)施方式的光檢測器的受光部配置方式的變形例的圖。圖19是表示第四實(shí)施方式的光檢測器的受光部的配置方式的一例的俯視圖。圖20是表示入射到光檢測器的光束引起的最大層間雜散光的狀況的概要俯視圖。圖21是從沿著光軸方向的方向觀看入射到受光部el、fl、gl和hi的光束LI的概要俯視圖。圖22 (A)是表示第四實(shí)施方式的光檢測器的受光部配置方式的變形例的圖，(B)是表示第四實(shí)施方式的光檢測器的受光部配置方式的變形例的圖。圖23是表示第五實(shí)施方式的光拾取器裝置的結(jié)構(gòu)例的俯視圖。圖24是表示第五實(shí)施方式的光檢測器的受光部的配置方式的一例的俯視圖。圖25是表示入射到光檢測器的光束引起的最大層間雜散光的狀況的概要俯視圖。圖26 (A)是表示在切線方向上擴(kuò)大第三區(qū)域的情況下的變形例的圖，(B)是在切線方向上將第三區(qū)域擴(kuò)大為與第二區(qū)域相同的情況下的變形例的圖，(C)是表示使第三區(qū)域成為圓弧形狀的情況下的變形例的圖，(D)是表示使第三區(qū)域成為山谷形狀的情況下的變形例的圖。圖27是表示第五實(shí)施方式的光檢測器的受光部配置方式的變形例的圖。圖28是表示第六實(shí)施方式的光檢測器的受光部的配置方式的一例的俯視圖。圖29是表示入射到光檢測器的光束引起的最大層間雜散光的狀況的概要俯視圖。圖30 (A)是表示第六實(shí)施方式的光檢測器的受光部配置方式的變形例的圖，(B)是表示第六實(shí)施方式的光檢測器的受光部配置方式的變形例的圖。圖31是表示第七實(shí)施方式的光拾取器裝置的結(jié)構(gòu)例的俯視圖。圖32是表示第七實(shí)施方式的光檢測器的受光部的配置方式的一例的俯視圖。圖33是表示第八實(shí)施方式的光檢測器的受光部的配置方式的一例的俯視圖。圖34是表示第九實(shí)施方式的光檢測器的受光部的配置方式的一例的俯視圖。圖35是表示第十實(shí)施方式的光檢測器的受光部的配置方式的一例的俯視圖。圖36是表示第十一實(shí)施方式的光檢測器的受光部的配置方式的一例的俯視圖。圖37是表示第十二實(shí)施方式的光檢測器的受光部的配置方式的一例的俯視圖。 圖38是表示第十三實(shí)施方式的光盤裝置的結(jié)構(gòu)例的框圖。附圖標(biāo)記說明1,480……光盤裝置；10……物鏡;20、414……半導(dǎo)體激光器;5、130、170、230、
280、350、400、430、440、450、460、470......光拾取器裝置;27、281......全息元件；28......檢測
透鏡;29、131、171、231、282、351、413、441、451、461、471......光檢測器。
具體實(shí)施例方式以下參照附圖詳細(xì)敘述本發(fā)明的實(shí)施方式。(I)第一實(shí)施方式(1-1)本實(shí)施方式的光拾取器裝置的結(jié)構(gòu)圖I中，I表示本實(shí)施方式的光盤裝置的整體。該光盤裝置I，具備主軸電機(jī)2、主軸電機(jī)驅(qū)動電路4、光拾取器5、激光器發(fā)光驅(qū)動電路6、信息信號再現(xiàn)電路7、伺服信號再現(xiàn)電路8、致動器驅(qū)動電路9、物鏡10、球面像差修正元件驅(qū)動電路11、訪問控制電路12、控制電路13和"[目息"[目號記錄電路14。光盤3是圓盤狀的信息記錄體，其中心固定在主軸電機(jī)2的旋轉(zhuǎn)軸上。該主軸電機(jī)2通過由主軸電機(jī)驅(qū)動電路4供給電力而對旋轉(zhuǎn)軸進(jìn)行旋轉(zhuǎn)驅(qū)動。此外，光拾取器5是對光盤3以光學(xué)方式記錄和再現(xiàn)信息的光學(xué)部件。通過從激光器發(fā)光驅(qū)動電路6對組裝入光拾取器5內(nèi)的后述半導(dǎo)體激光器供給激光器驅(qū)動電流，而在進(jìn)行再現(xiàn)時以規(guī)定的光量從該半導(dǎo)體激光器出射激光。其中，激光器發(fā)光驅(qū)動電路6也能夠組裝入光拾取器5內(nèi)。進(jìn)而，來自光拾取器5的輸出信號，被發(fā)送到信息信號再現(xiàn)電路7和伺服信號再現(xiàn)電路8。信息信號再現(xiàn)電路7基于來自光拾取器5的輸出信號，再現(xiàn)光盤3中記錄的信息信號即RF (Radio Frequency,射頻)信號。在伺服信號再現(xiàn)電路8中，基于來自光拾取器5的輸出信號生成聚焦誤差信號和跟蹤誤差信號等伺服信號，根據(jù)這些信號，由致動器驅(qū)動電路9進(jìn)行光拾取器中搭載的物鏡10的位置控制。此外，球面像差修正元件驅(qū)動電路11基于該生成的伺服信號使光拾取器裝置5中搭載的后述準(zhǔn)直透鏡在光軸方向上移動而修正球面像差。另外，對光拾取器裝置5，設(shè)置了用于沿光盤3的徑向方向驅(qū)動光拾取器裝置5的機(jī)構(gòu)，根據(jù)來自訪問控制電路12的訪問信號進(jìn)行位置控制?？刂齐娐?3是具備未圖示的CPU (Central Processing Unit,中央處理單元)和存儲器等的微型計(jì)算機(jī)?？刂齐娐?3與主軸電機(jī)驅(qū)動電路4、激光器發(fā)光驅(qū)動電路6、信息信號再現(xiàn)電路7、伺服信號再現(xiàn)電路8、球面像差修正元件驅(qū)動電路11、訪問控制電路12和信息信號記錄電路14等連接，基于來自主軸電機(jī)驅(qū)動電路4、信息信號再現(xiàn)電路7、伺服信號再現(xiàn)電路8和訪問控制電路12的信號，對主軸電機(jī)驅(qū)動電路4、激光器發(fā)光驅(qū)動電路6、伺服信號再現(xiàn)電路8、球面像差修正元件驅(qū)動電路11和訪問控制電路12分別發(fā)送控制信號，進(jìn)行使光盤3旋轉(zhuǎn)的主軸電機(jī)2的旋轉(zhuǎn)控制、光拾取器裝置5的位置控制、物鏡10的位置控制、球面像差修正和光拾取器裝置5內(nèi)的半導(dǎo)體激光器發(fā)光光量的控制等。另外，在進(jìn)行記錄時，設(shè)置在控制電路13和激光器發(fā)光驅(qū)動電路6之間的信息信號記錄電路14，基于來自控制電路13的記錄控制信號，驅(qū)動激光器發(fā)光驅(qū)動電路6在光盤3中記錄信息。(1-2)本實(shí)施方式的光拾取器裝置的結(jié)構(gòu)。接著說明圖I的光盤裝置I中搭載的光拾取器裝置5的光學(xué)系統(tǒng)。如圖2所示，光拾取器裝置5具備半導(dǎo)體激光器20、分束器21、前端監(jiān)測器22、準(zhǔn)直透鏡23、立起反射鏡 24、1/4波片25、致動器26、物鏡10、全息元件27、檢測透鏡28和光檢測器29。以下說明在本實(shí)施方式的光拾取器裝置5中對BD (Blu-Ray Disc，藍(lán)光光盤)進(jìn)行再現(xiàn)和記錄的情況。但是，不限定于BD，也可以是其他的記錄方式。半導(dǎo)體激光器20由出射與BD規(guī)格對應(yīng)的大致405 [nm]波段的發(fā)散光光束LI的激光二極管構(gòu)成，由上述激光器發(fā)光驅(qū)動電路6 (圖1)，例如在記錄動作時根據(jù)記錄對象的數(shù)據(jù)相應(yīng)地閃爍驅(qū)動，在再現(xiàn)動作時以一定的功率發(fā)光驅(qū)動。此外，分束器21是使光束LI透射或?qū)⑵浞指顬?束以上的光束的光學(xué)部件。驅(qū)動半導(dǎo)體激光器20時從該半導(dǎo)體激光器20出射的光束LI，被分割為透過分束器21而入射到前端監(jiān)測器22的光束LI，和在分束器21上反射而入射到準(zhǔn)直透鏡23的光束LI。前端監(jiān)測器22是用于檢測光束LI的光量的光學(xué)部件，在為了提高光盤3的記錄再現(xiàn)動作的精度而將光束LI的光量控制為所要求的值時使用。具體而言，前端監(jiān)測器22檢測來自半導(dǎo)體激光器20的光束LI的光量變化，將檢測結(jié)果反饋到控制電路13 (圖I)。由此，能夠在控制電路13的控制下，控制對光盤3照射的光束LI的光量。準(zhǔn)直透鏡23這一光學(xué)部件，由在光軸方向上驅(qū)動該準(zhǔn)直透鏡23的機(jī)構(gòu)在光軸方向上對其進(jìn)行驅(qū)動，而改變光束LI的發(fā)散和會聚狀態(tài)，用于對因光盤3的保護(hù)層的厚度誤差引起的球面像差進(jìn)行補(bǔ)償。然后，透過準(zhǔn)直透鏡23的光束LI被立起反射鏡24反射，入射到1/4波片25。1/4波片25是使直線偏振光成為圓偏振光的光學(xué)部件。具體而言,光束LI被1/4波片25變換為圓偏振光，通過搭載在致動器26上的物鏡10聚焦在光盤3上。接著，光束LI被光盤3上的軌道衍射為3束光束(光盤0級衍射光、光盤+1級衍射光和光盤-I級衍射光)。其中，物鏡10是使光束LI的光束聚焦的光學(xué)元件，能夠在驅(qū)動物鏡10的致動器的作用下，在接近或遠(yuǎn)離光盤3的方向上移位，或在光盤3的徑向方向上傾斜。另一方面，在光盤3上反射的光束LI，被物鏡10變換為平行光之后，順序通過1/4波片25、立起反射鏡24、準(zhǔn)直透鏡23和分束器21，入射到全息元件27。全息元件27上，存在用于使入射的光束LI分別向不同的方向衍射的分割區(qū)域。被該全息元件27上的分割區(qū)域衍射的光束LI，入射到檢測透鏡28。另外，全息元件27使入射的光束LI向規(guī)定的方向衍射，并且還對光束LI附加像散。具體而言，對于入射到全息元件27的光盤-I級衍射光，由全息元件27衍射至規(guī)定方向并且附加規(guī)定的像散。對于入射到全息元件27的光盤+1級衍射光，由全息元件27衍射至規(guī)定方向并且附加與對光盤-I級衍射光附加的像散相反的像差。而對于透過全息元件27的光盤O級衍射光，不通過全息元件27附加像散。檢測透鏡28是對由全息元件27衍射的光束LI附加像散的光學(xué)部件。具體而言，透過全息元件27的0級衍射光和-I級衍射光，在被檢測透鏡28附加了規(guī)定的像散的離焦?fàn)顟B(tài)下入射到光檢測器29。而對于全息元件27的+1級衍射光，由檢測透鏡28附加與對0級衍射光附加的像散相反的像差，所以由全息元件27附加的像散被抑制，聚焦在光檢測器29上。此外，光檢測器29是能夠使光束LI聚焦的受光部結(jié)構(gòu)，該光檢測器29對入射到受光部的光束LI進(jìn)行光電變換。光檢測器29將得到的信號發(fā)送到信息信號再現(xiàn)電路7和伺服信號再現(xiàn)電路8，由信息信號再現(xiàn)電路7生成作為再現(xiàn)信號的RF信號，由伺服信號再現(xiàn) 電路8生成作為伺服信號的聚焦誤差信號和跟蹤誤差信號等。圖3是從沿著光軸方向的方向觀看圖2中的全息元件27的概要俯視圖的一例。圖3中的雙點(diǎn)劃線表示物鏡10的焦點(diǎn)落在光盤3的期望的信息記錄層上時全息元件27上的光束LI的光斑的外形。此外，斜線部表示被光盤3上的軌道衍射的光盤±1級衍射光與光盤0級衍射光的干涉區(qū)域(推挽圖案)。另外，實(shí)線表示區(qū)域的邊界線，全息元件27包括在光盤3上的軌道上反射的0級衍射光入射到的區(qū)域De、Df、Dg和Dh (第一分割區(qū)域)，0級衍射光、±1級衍射光入射到的區(qū)域Da、Db、Dc和Dd (第二分割區(qū)域)，以及區(qū)域Di (第三分割區(qū)域)，入射的光束LI按各區(qū)域分別向不同的方向衍射。其中，圖3所示的全息元件27上的區(qū)域Di所處的規(guī)定區(qū)域，包含在切線方向上延伸的第一分割線30和在徑向方向上延伸的第二分割線31所相交的全息元件27的中心部32 ;區(qū)域De、Df、Dg和Dh是包括全息元件27的四角的規(guī)定的區(qū)域，以關(guān)于第一分割線30大致對稱的方式，位于該第一分割線30的直線上；區(qū)域Da、Db、Dc和Dd以關(guān)于第二分割線31大致對稱的方式，位于該第二分割線31的直線上?；蛘邠Q言之，全息元件27特征在于，具有第一、第二、第三分割區(qū)域，第三分割區(qū)域是包含全息元件27的中心的區(qū)域，第一分割區(qū)域是位于通過全息元件27的大致中心且在與光盤3的軌道大致平行的方向上延伸的第一分割線30上的區(qū)域，第二分割區(qū)域是位于通過全息元件的大致中心且在與光盤3的軌道大致垂直的方向上延伸的第二分割線31上的區(qū)域，并且，第二分割區(qū)域包括上述光盤3的軌道的0級衍射光與±1級衍射光相交的推挽區(qū)域，對在第一分割區(qū)域中衍射的光束LI進(jìn)行檢測的至少2個受光部，排列在與光盤3的軌道大致垂直的方向上，對在第二分割區(qū)域中衍射的光束LI進(jìn)行檢測的至少2個受光部，排列在與光盤3的軌道大致平行的方向上。此外，本實(shí)施方式還具有這樣的特征，第一分割區(qū)域或第二分割區(qū)域至少被分割為4部分，通過組合受光部的配置而縮小光檢測器29的尺寸。其中，全息元件27的衍射效率例如是0級衍射光+1級衍射光-1級衍射光=7 3 :0。從而，本實(shí)施方式中的光拾取器裝置5的光檢測器29，接收透過全息元件27的0級衍射光和在全息元件27上衍射的+1級衍射光。圖4表示光檢測器29中的受光部的配置方式(配置布局)的一例。圖中的斜線部和黑點(diǎn)表示信號光。此處，透過全息元件27的區(qū)域Da、Db、Dc、Dd、De、Df、Dg、Dh和Di的O級衍射光，分別入射到受光部a、b、c和d (第一受光部組)。根據(jù)從該光檢測器29上的受光部a、b、c和d (第一受光部組)與光量相應(yīng)地輸出的信號A、B、C和D能夠得到聚焦誤差信號和RF信號。本實(shí)施方式中，聚焦誤差信號的檢測例如使用像散方式。像散方式是利用了入射到光檢測器29上的受光部a、b、c和d (第一受光部組)的光束LI的光斑形狀隨焦點(diǎn)位置而變化這一現(xiàn)象的方式。在光盤3的信息記錄層的位置相對于物鏡10的焦距為近或遠(yuǎn)的狀態(tài)即離焦?fàn)顟B(tài)的情況下，受光部a、b、c和d (第一受光部組)中，入射到受光部a、c或受光部b、d的光量增大。取得由受光部a、c與受光部b、d檢測到的信號的差，在差為0時，表示物鏡10的焦點(diǎn)恰好聚焦在光盤3的信息記錄層上的狀態(tài)。從而，上述致動器驅(qū)動電路9控制物鏡10以使該差為O。不過，由于像散方式是周知的技術(shù)，所以省略詳細(xì)的說明。使用上述像散方式，根據(jù)信號A、B、C和D按照下式生成聚焦誤差信號FES

[式I]FES = (A+C) - (B+D)...... (I)此外，根據(jù)信號A、B、C和D按照下式生成RF信號RF [式2]RF = A+B+C+D...... (2)此外，在全息元件27的區(qū)域Da、Db、Dc、Dd、De、Df、Dg和Dh中衍射的+1級衍射光，分別入射到圖4所示的光檢測器29的受光部al、bl、Cl、dl、el、fl、gl和hi中。根據(jù)從該光檢測器29上的受光部al、bl、Cl、dl、el、f I、gl和hi與光量相應(yīng)地輸出的信號Al、BI、Cl、Dl、El、Fl、Gl和Hl，能夠得到跟蹤誤差信號。另外，在區(qū)域Di中衍射的+1級衍射光(未圖示)視為無用光，在徑向方向上避開光檢測器29的受光部入射。本實(shí)施方式中，跟蹤誤差信號的檢測例如使用單光束差動推挽方式(以下稱為單光束 DPP (Differential Push Pull)方式)。單光束DPP方式，是在透鏡移位(lens shift)時不會產(chǎn)生信號偏移(offset)的、根據(jù)推挽信號生成跟蹤誤差信號的方法。推挽信號例如能夠通過利用全息元件27上的與切線方向大致平行且通過光束中心的分割線將被光盤3的信息記錄層反射的光束分割為2部分，取左右光束的差而生成。但是，若僅使用包含推挽成分的信號，則當(dāng)物鏡在Rad方向上移位、即透鏡移位時，會發(fā)生光量失衡而產(chǎn)生直流成分的偏移，導(dǎo)致跟蹤誤差信號變得不穩(wěn)定。因此，通過使用包含偏移成分的信號，進(jìn)行抵消偏移的運(yùn)算，能夠得到穩(wěn)定的跟蹤誤差信號。采用單光束進(jìn)行DPP法稱為單光束DPP方式。不過，由于單光束DPP方式是公知的技術(shù)，所以省略進(jìn)一步的說明。使用上述單光束DPP方式，根據(jù)信號A1、B1、C1、D1、E1、F1、G1和Hl按照下式生成跟蹤誤差信號TES [式3]TES = {(A1+B1) - (C1+D1)} _kt {(E1+F1) - (G1+H1)}...... (3)
式(3)中的kt，是用于在物鏡10發(fā)生透鏡移位時，修正式(3)中第一項(xiàng)的信號中所含的偏移成分和式(3)中第二項(xiàng)的信號中所含的偏移成分的系數(shù)。通過進(jìn)行這樣的運(yùn)算，能夠生成即使在物鏡10發(fā)生透鏡移位時也不會產(chǎn)生偏移的穩(wěn)定的跟蹤誤差信號。此外，以下使用圖5 8說明對多層光盤3進(jìn)行記錄和再現(xiàn)的情況下在期望的信息記錄層以外的信息記錄層(以下稱其為其他信息記錄層)中產(chǎn)生的雜散光。在對多層光盤3進(jìn)行記錄和再現(xiàn)的情況下，至少需要考慮2種雜散光。光檢測器29的受光部，需要配置成避開光盤3中鄰接的信息記錄層之間的層間隔較小時的雜散光(最小層間雜散光)。此夕卜，光檢測器29的受光部，還需要配置成避開對多層光盤3中距離光束的入射面最近的信息記錄層(以下稱其為最外信息記錄層)進(jìn)行記錄和再現(xiàn)時來自多層光盤3中距離光束的入射面最遠(yuǎn)的信息記錄層(以下稱其為最內(nèi)信息記錄層)的雜散光(最大層間雜散光)，和對最內(nèi)信息記錄層進(jìn)行記錄和再現(xiàn)時來自最外信息記錄層的雜散光(最大層間雜散光)。 具體而言，在多層光盤3的情況下，與雙層光盤3相比鄰接的信息記錄層的間隔更窄，所以光檢測器29上以恰好聚焦的狀態(tài)入射的光束LI與以離焦的狀態(tài)入射的雜散光之間的間隔變窄，當(dāng)為了減小光檢測器29的面積而使與全息元件27上的區(qū)域分別對應(yīng)的光檢測器29的受光部彼此間的間隔變窄時，存在其他區(qū)域中衍射的雜散光進(jìn)入的問題。此夕卜，在3層以上的多層光盤3的情況下，與雙層光盤3相比，層數(shù)越多，最外信息記錄層與最內(nèi)信息記錄層的間隔越寬，所以光檢測器29上以恰好聚焦的狀態(tài)入射的光束LI與雜散光的間隔，與該信息記錄層之間的間隔成比例地變寬，并且雜散光的大小也增大，所以不得不增大與全息元件27上的區(qū)域分別對應(yīng)的光檢測器29的受光部彼此間的間隔，由此存在光檢測器29的面積增大的問題。以下，說明在對多層光盤3進(jìn)行記錄和再現(xiàn)時，鄰接的信息記錄層之間的層間隔較小的情況下產(chǎn)生的雜散光(最小層間雜散光)。圖5是從沿著光軸方向的方向觀看在全息元件27的區(qū)域Dh中衍射而入射到受光部hi的光束LI的概要俯視圖。圖5 (B)所示的黑點(diǎn)，表示接收了物鏡10聚焦在光盤3上期望的信息記錄層上的情況下的恰好聚焦?fàn)顟B(tài)的光束LI的受光部hi上的光斑。圖5 (A)所示的斜線部，表示接收了物鏡10聚焦在信息記錄層的外側(cè)的情況下的離焦?fàn)顟B(tài)的光束LI的受光部hi上的光斑。圖5 (C)所示的斜線部，表示接收了物鏡10聚焦在信息記錄層的內(nèi)側(cè)的情況下的離焦?fàn)顟B(tài)的光束LI的受光部hi上的光斑。其中，圖5 (A)所示的離焦?fàn)顟B(tài)的光束LI，是在光檢測器29的內(nèi)側(cè)(更靠里)聚焦的光束LI，所以受光部hi上的光斑，是與在直接對全息元件27映射(投影)的方向上通過區(qū)域Dh的光束LI的光斑外形相似形狀的光斑。此外，圖5 (C)所示的離焦?fàn)顟B(tài)的光束LI，是在光檢測器29的外側(cè)(更靠前)聚焦的光束LI，所以受光部hi上的光斑表現(xiàn)為對全息元件27點(diǎn)對稱地倒轉(zhuǎn)映射的方向。從而，在光檢測器29上，光束關(guān)于圖5 (B)所示的會聚位置點(diǎn)對稱地散焦(變模糊)，所以如圖5 (A) (C)和箭頭40所示，在區(qū)域Dh中衍射的光束LI因離焦而在切線方向上移動。此處針對離焦進(jìn)行了說明，是因?yàn)閬碜远鄬庸獗P中其他層的雜散光能夠解釋為在并非焦點(diǎn)位置的位置上反射的離焦?fàn)顟B(tài)的光束LI。具體而言，圖5 (A)所示的離焦?fàn)顟B(tài)的光束LI，能夠解釋為聚焦在2個記錄層中的內(nèi)側(cè)的記錄層上的情況下來自外側(cè)的記錄層的雜散光。而圖5 (C)所示的離焦?fàn)顟B(tài)的光束LI，能夠解釋為聚焦在2個記錄層中外側(cè)的記錄層上的情況下來自內(nèi)側(cè)的記錄層的雜散光。圖6是從沿著光軸方向的方向觀看在全息元件27的區(qū)域Dd中衍射而入射到受光部dl的光束LI的概要俯視圖。圖6 (B)所示的黑點(diǎn)，表示接收了物鏡10聚焦在光盤3上期望的信息記錄層上的情況下的恰好聚焦?fàn)顟B(tài)的光束LI的受光部dl上的光斑。圖6 (A)所示的斜線部，表示接收了物鏡10聚焦在信息記錄層的內(nèi)側(cè)的情況下的離焦?fàn)顟B(tài)的光束LI的受光部dl上的光斑。圖6 (C)所示的斜線部，表示接收了物鏡10聚焦在信息記錄層的外側(cè)的情況下的離焦?fàn)顟B(tài)的光束LI的受光部dl上的光斑。其中，圖6(A)所示的離焦?fàn)顟B(tài)的光束LI，是在光檢測器29的外側(cè)聚焦的光束LI，所以受光部dl上的光斑表現(xiàn)為對全息兀件27點(diǎn)對稱地倒轉(zhuǎn)映射的方向。此外，圖6 (C)所示的離焦?fàn)顟B(tài)的光束LI，是在光檢測器29的內(nèi)側(cè)聚焦 的光束LI，所以受光部dl上的光斑，是與在直接對全息元件27映射(投影)的方向上通過區(qū)域Dd的光束LI的光斑外形相似形狀的光斑。從而，光束關(guān)于圖6 (B)所示的會聚位置點(diǎn)對稱地散焦(變模糊)，所以如圖6(A) (C)和箭頭41所示，在區(qū)域Dd中衍射的光束LI因離焦而在徑向方向上移動。此處，比較圖5和圖6可知，入射到受光部的光束LI因離焦而移動的方向不同。例如，在區(qū)域Dh中衍射的光束LI因離焦而在切線方向上移動，在區(qū)域Dd中衍射的光束LI因離焦而在徑向方向上移動。從而，雜散光的回避方式也要根據(jù)區(qū)域而區(qū)分，這一點(diǎn)是相當(dāng)重要的。例如,全息元件27的區(qū)域中，對于在切線方向上離開中心部32的區(qū)域De、Df、Dg、Dh (第一分割區(qū)域)，優(yōu)選使雜散光在切線方向上回避。通過這樣回避雜散光，能夠形成即使物鏡10為了追蹤光盤3上的軌道而在徑向方向上移位，雜散光也不會入射到光檢測器29的受光部的結(jié)構(gòu)。另一方面，如果對在區(qū)域De、Df、Dg和Dh (第一分割區(qū)域)中衍射的光束LI進(jìn)行檢測的受光部el、H、gl和hi (第二受光部組)在切線方向上排列，對于層間隔較小的光盤3的最小層間雜散光，由于在光檢測器29上以恰好聚焦的狀態(tài)入射的光束LI與以離焦?fàn)顟B(tài)入射的雜散光的間隔較窄，所以會產(chǎn)生在其他區(qū)域中衍射的光束LI的雜散光入射到受光部的問題。因此，通過在徑向方向上排列光檢測器27上的受光部el、fl、gl和hi (第二受光部組)，能夠?qū)⑻幱谧钚娱g隔關(guān)系的信息記錄層之間產(chǎn)生的雜散光的影響抑制在最小限度。此外，全息元件27的區(qū)域中，對于在徑向方向上離開中心部32的區(qū)域Da、Db、Dc和Dd (第二分割區(qū)域)，優(yōu)選使雜散光在徑向方向上回避。通過這樣回避雜散光，能夠形成即使物鏡10為了追蹤光盤3上的軌道而在徑向方向上移位，雜散光也不會入射到光檢測器29的受光部的結(jié)構(gòu)。另一方面，如果對在區(qū)域Da、Db、Dc和Dd (第二分割區(qū)域)中衍射的光束LI進(jìn)行檢測的受光部al、bl、Cl和dl (第三受光部組)在徑向方向上排列，對層間隔較小的光盤3的最小層間雜散光，由于在光檢測器29上以恰好聚焦的狀態(tài)入射的光束LI與以離焦?fàn)顟B(tài)入射的雜散光的間隔較窄，所以會產(chǎn)生在其他區(qū)域中衍射的光束LI的雜散光入射到受光部的問題。因此，通過在切線方向上排列光檢測器27上的受光部al、bl、Cl和dl (第三受光部組)，能夠?qū)⑻幱谧钚娱g隔關(guān)系的信息記錄層之間產(chǎn)生的雜散光的影響抑制在最小限度。接著說明對多層光盤3進(jìn)行記錄和再現(xiàn)時，信息記錄層的層間隔較大的情況下產(chǎn)生的雜散光(最大層間雜散光)。圖7是從沿著光軸方向的方向觀看在全息元件29的各區(qū)域Da Dh中衍射而入射到光檢測器29的受光部al hi的光束LI的概要俯視圖。圖7所示的黑點(diǎn)和斜線部，分別表示接收了物鏡10聚焦在光盤3中期望的信息記錄層上的情況下的光束LI的受光部上的光斑。圖7所不的虛線部表不最大層間雜散光。在說明最大層間雜散光時，必須針對物鏡10聚焦在多層光盤3的最外信息記錄層上的情況下產(chǎn)生的來自最內(nèi)信息記錄層的雜散光(最大層間雜散光)，和物鏡10聚焦在最內(nèi)信息記錄層上的情況下產(chǎn)生的來自最外信息記錄層的雜散光(最大層間雜散光)進(jìn)行說明。但是，為了簡化說明，以下在圖7中表示聚焦在最外側(cè)記錄層上時來自最內(nèi)側(cè)記錄層的雜散光的情況進(jìn)行說明。離焦?fàn)顟B(tài)的光束LI產(chǎn)生的雜散光的光斑,按照層間隔最大的處于最大層間隔關(guān)系的最外信息記錄層與最內(nèi)信息記錄層的距離，在徑向方向和切線方向上擴(kuò)大，并且光斑的大小也增大。具體而言，例如在雙層光盤3的情況下，最外信息記錄層與最內(nèi)信息記錄層的層間隔通常定義為25±5微米，最小為20微米，最大為30微米，所以其他層的信息記錄層上產(chǎn)生的雜散光在光檢測器29上形成的光斑的大小一定程度上被限制。但是，在3層以上的 光盤3的情況下，例如層間隔最大的最外信息記錄層與最內(nèi)信息記錄層的層間隔可能會比雙層的情況下的層間隔更長。當(dāng)層間隔變長時，在物鏡10聚焦在最外信息記錄層上的情況下，來自最內(nèi)信息記錄層的雜散光的焦點(diǎn)與光檢測器29的距離變長，由此在光檢測器29上，相對于以恰好聚焦的狀態(tài)入射的光束LI,雜散光在徑向方向和切線方向上擴(kuò)大,進(jìn)而光斑也增大。從而，光檢測器29的受光部中，為了得到穩(wěn)定的跟蹤誤差信號，且為了回避上述最大層間雜散光，需要將受光部a、b、c和d (第一受光部組)、受光部el、fl、gl和hi (第二受光部組)和受光部al、bl、cl和dl (第三受光部組)配置在各雜散光不會進(jìn)入的充分遠(yuǎn)離的位置上。為了形成在對上述多層光盤3進(jìn)行記錄和再現(xiàn)的情況下，使其他信息記錄層中產(chǎn)生的最小層間雜散光和最大層間雜散光不會入射到光檢測器29的受光部中的結(jié)構(gòu)，專利文獻(xiàn)I所示的現(xiàn)有的光拾取器裝置中的光檢測器，通過在遠(yuǎn)離雜散光的位置上配置受光部，即使在多層光盤中也可以檢測到穩(wěn)定的跟蹤誤差信號。專利文獻(xiàn)I所示的現(xiàn)有的光拾取器裝置的情況下，實(shí)際上光檢測器中用于檢測跟蹤誤差信號的第二和第三受光部組，為了回避因0級衍射光入射到第一受光部組而產(chǎn)生的最大層間雜散光50 (圖7)，配置在充分遠(yuǎn)離0級衍射光的光軸的位置上。并且，由多個受光部構(gòu)成的第二受光部組，相對于光軸在徑向方向上排列配置。此外，第三受光部組在切線方向上排列配置，第二受光部組和第三受光部組在相對于光軸呈約90度的方向上配置，由此第二和第三受光部組能夠回避因0級衍射光引起的最大層間雜散光40，并且第一受光部組和第二受光部組能夠分別回避在徑向方向和切線方向上產(chǎn)生的最小層間雜散光和最大層間雜散光。但是，該現(xiàn)有光檢測器中，第二和第三受光部組與光盤的記錄層的最大層間隔成比例地?cái)U(kuò)大，相應(yīng)地受光部需要的光檢測器29的面積增大，存在光檢測器29的大小增大的問題。于是，本實(shí)施方式的光盤裝置I中，為了防止這樣的問題，如圖8所示，將受光部el、fl、gl和hi (第二受光部組)和al、bl、cl和dl (第三受光部組)配置在不會接收因0級衍射光入射到第一受光部組而產(chǎn)生的O級衍射光的最大層間雜散光50 (圖7)的位置上。此外，使受光部el、H、gl和hi (第二受光部組)和al、bl、cl和dl (第三受光部組)相對于第一受光部組在相同方向即切線方向上集中配置。并且，使受光部el、H、gl和hi (第二受光部組)在徑向方向上排列配置，使al、bl、Cl和dl (第三受光部組)在切線方向上排列。由此，能夠有效回避最小層間雜散光和最大層間雜散光，減小光檢測器29上的受光部的面積。圖8是從沿著光軸方向的方向觀看在全息元件27中衍射而入射到受光部al、bl、Cl和dl的光束LI的概要俯視圖。另外，以下為了簡化說明，僅在圖8中表示在全息元件區(qū)域Da、Db、Dc和Dd中衍射的雜散光進(jìn)行說明。圖8中的黑點(diǎn)表示信號光，虛線表示對最內(nèi)層進(jìn)行記錄和再現(xiàn)時來自最外層的雜散光，點(diǎn)劃線表示對最外層進(jìn)行記錄和再現(xiàn)時來自最內(nèi)層的雜散光。雖然虛線和點(diǎn)劃線不會同時產(chǎn)生，但為了便于說明而將它們在同一圖中表示。
此外，箭頭60表示根據(jù)期望的信息記錄層與其他信息記錄層間的間隔而變化的雜散光的移動方向。在期望的信息記錄層與其他信息記錄層的間隔較小的情況下，最小層間雜散光配置在箭頭60的長度較小的位置上，間隔較大的情況下，最大層間雜散光配置在箭頭60的長度較大的位置上。此處，例如在全息元件區(qū)域Da中衍射的雜散光，在根據(jù)期望的信息記錄層與其他信息記錄層的間隔的不同而在徑向方向上移動的同時，在切線方向上逐漸擴(kuò)大。此時，在切線方向上擴(kuò)大的雜散光，如圖6所不,依賴于全息兀件27的區(qū)域。因此,本實(shí)施方式中將受光部al配置成使得在全息元件27的區(qū)域Da中衍射的最大層間雜散光和最小層間雜散光不會入射到在徑向方向上排列的受光部el、fl、gl和hi (第二受光部組)中。并且，將受光部bl、cl和dl配置成使得在全息元件區(qū)域Db、Dc和Dd中衍射的最大層間雜散光和最小層間雜散光也同樣不會入射到受光部el、fl、gl和hi (第二受光部組)中。由此，在全息元件27的區(qū)域Da、Db、Dc和Dd (第二分割區(qū)域)中衍射的最大層間雜散光和最小層間雜散光不會入射到受光部el、fl、gl和hi (第二受光部組)。此外，在全息元件27的區(qū)域De、Df、Dg和Dh (第一分割區(qū)域)中衍射的最大層間雜散光，根據(jù)期望的信息記錄層與其他信息記錄層的間隔的不同而在切線方向上移動，所以不會入射到受光部al、bl、cl和dl (第三受光部組)中。但是，在全息元件27的區(qū)域De、Df、Dg和Dh (第一分割區(qū)域)中衍射的雜散光，與層間隔相應(yīng)地在光檢測器29上在徑向方向上擴(kuò)大，所以使在徑向方向上排列的受光部el、fl、gl和hi (第二受光部組)與在切線方向上排列的受光部al和bl以及受光部Cl和dl在徑向方向上離開規(guī)定量，配置在避開雜散光的位置上。由此，光檢測器29的各受光部能夠完全回避最大層間雜散光和最小層間雜散光。(1-3)本實(shí)施方式的效果如上所述，根據(jù)本實(shí)施方式，在對具有多個信息記錄層的光盤3進(jìn)行記錄和再現(xiàn)的情況下，通過在考慮到雜散光的前提下組合配置光檢測器29的受光部，即使在較小的區(qū)域中配置受光部也能夠回避最小層間雜散光和最大層間雜散光，相比于現(xiàn)有的根據(jù)與光盤的最大層間隔成比例增大的最大層間雜散光而相應(yīng)地增大光檢測器29的受光部的大小的情況相比，能夠?qū)崿F(xiàn)低成本且小型化的光拾取器裝置5。
( 1-4)第一實(shí)施方式的變形例此外，上述第一實(shí)施方式中，敘述了全息元件27的結(jié)構(gòu)為如圖3所示的結(jié)構(gòu)的情況，但本發(fā)明不限于此，例如也可以如圖9 (A)、圖9 (B)、圖9 (C)和圖9 (D)所示，只要全息元件27中區(qū)域De、Df、Dg和Dh各區(qū)域分別關(guān)于第一分割線30對稱，區(qū)域Da、Db、Dc和Dd各區(qū)域分別關(guān)于第二分割線31對稱即可，該情況下，Di (第三分割區(qū)域)可以是任意的結(jié)構(gòu)。此外，上述第一實(shí)施方式中，敘述了使光檢測器29的受光部的配置方式為如圖4所示的結(jié)構(gòu)的情況，但本發(fā)明不限于此，例如也可以如圖10 (A)和圖10 (B)所示，用于檢測跟蹤誤差信號的受光部的配置方式，只要配置在能夠回避入射到受光部a、b、c和d (第一受光部組)的0級衍射光引起的最大層間雜散光的位置上即可。(2)第二實(shí)施方式
(2-1)本實(shí)施方式的光拾取器裝置的結(jié)構(gòu)圖I中，130表不本實(shí)施方式的光拾取器裝置。該光拾取器裝置130與第一實(shí)施方式的光拾取器裝置5的不同之處僅在于光檢測器131的受光部結(jié)構(gòu)。實(shí)際上,第一實(shí)施方式中，說明了相對于光檢測器29的受光部a、b、c和d(第一受光部組)，在切線方向上配置由受光部el、fl、gl和hi (第二受光部組)與al、bl、Cl和dl(第三受光部組)構(gòu)成的用于檢測跟蹤誤差信號的受光部組的情況，但本實(shí)施方式的光檢測器131中，說明相對于受光部a、b、c和d (第一受光部組),在徑向方向上配置由受光部e2、f2、g2和h2 (第四受光部組)與受光部a2、b2、c2和d2 (第五受光部組)構(gòu)成的用于檢測跟蹤誤差信號的受光部組的情況。由此，與第一實(shí)施方式的光拾取器裝置5同樣地,本實(shí)施方式的光拾取器裝置130中也能夠有效地回避最小層間雜散光和最大層間雜散光，減小光檢測器131上的受光部的面積。圖11表示第二實(shí)施方式的光拾取器裝置130中使用的光檢測器131的受光部結(jié)構(gòu)的一例。本實(shí)施方式的光檢測器131中，透過第一實(shí)施方式的全息元件27 (圖3)的區(qū)域Da、Db、Dc、Dd、De、Df、Dg、Dh和Di的0級衍射光，入射到受光部a、b、c和d (第一受光部組)。根據(jù)從該光檢測器131上的受光部a、b、c和d (第一受光部組)與光量相應(yīng)地輸出的信號A、B、C和D能夠得到聚焦誤差信號和RF信號。本實(shí)施方式中，使用像散方式，根據(jù)信號A、B、C、D按照下式生成聚焦誤差信號FES [式4]FES = (A+C) - (B+D)...... (4)此外，根據(jù)信號A、B、C和D按照下式生成RF信號RF [式5]RF = A+B+C+D...... (5)此外，在全息元件27的區(qū)域Da、Db、Dc、Dd、De、Df、Dg和Dh中衍射的+1級衍射光，分別入射到圖11所示的光檢測器131的受光部&242、02、(12、62^242和112中。根據(jù)從該光檢測器131上的受光部a2、b2、c2、d2、e2、f2、g2和h2與光量相應(yīng)地輸出的信號A2、B2、C2、D2、E2、F2、G2和H2，能夠得到跟蹤誤差信號。另外，在區(qū)域Di中衍射的+1級衍射光(未圖示)視為無用光，在徑向方向上避開光檢測器131的受光部入射。本實(shí)施方式中，使用單光束DPP方式，根據(jù)信號A2、B2、C2、D2、E2、F2、G2和H2按照下式生成跟蹤誤差信號TES [式6]TES = {(A2+B2)-(C2+D2)}-kt{(E2+F2)-(G2+H2)}...... (6)式(6)中的kt，是用于在物鏡10發(fā)生透鏡移位時，修正式(6)中第一項(xiàng)的信號中所含的偏移成分和式(6)中第二項(xiàng)的信號中所含的偏移成分的系數(shù)。通過進(jìn)行這樣的運(yùn)算，能夠生成即使在物鏡10發(fā)生透鏡移位時也不會產(chǎn)生偏移的穩(wěn)定的跟蹤誤差信號。 以下用圖12 13說明本實(shí)施方式中的多層光盤3的雜散光回避方法。首先說明本實(shí)施方式的最小層間雜散光回避方法。本實(shí)施方式中的光檢測器131的受光部中，也會因?yàn)殡x焦入射到受光部的光束LI而產(chǎn)生與圖5和圖6所示的受光部上產(chǎn)生的雜散光同樣的雜散光。從而，光檢測器131中，在徑向方向上排列對在全息元件27的區(qū)域De、Dh、Dg和Df (第一分割區(qū)域)中衍射的光束進(jìn)行檢測的受光部e2和h2以及受光部f2和g2，在切線方向上排列對在區(qū)域Da、Db、Dc和Dd (第二分割區(qū)域)中衍射的光束進(jìn)行檢測的受光部a2、b2、c2和d2 (第五受光部組)，由此將最小層間雜散光的影響抑制在最小限度。這樣，光檢測器131中，對于全息元件27的區(qū)域中在切線方向上離開中心部32的區(qū)域De、Df、Dg和Dh (第一分割區(qū)域)，使雜散光在切線方向上回避，對于全息元件27的區(qū)域中在徑向方向上離開中心部32的區(qū)域Da、Db、Dc和Dd (第二分割區(qū)域)，使雜散光在徑向方向上回避。由此，光檢測器131能夠有效地回避最小層間雜散光。接著說明本實(shí)施方式的最大層間雜散光回避方法。圖12是從沿著光軸方向的方向觀看在全息元件27的各區(qū)域Da Dh中衍射而入射到光檢測器131的受光部a h2的光束LI的概要俯視圖。圖12所示的黑點(diǎn)和斜線部表示接收物鏡10聚焦在光盤3中期望的信息記錄層上的情況下的光束LI的受光部上的光斑。圖12所示的虛線部表示最大層間雜散光。在說明最大層間雜散光時，必須針對物鏡10聚焦在多層光盤3的最外信息記錄層上的情況下產(chǎn)生的來自最內(nèi)信息記錄層的雜散光(最大層間雜散光)，和物鏡10聚焦在最內(nèi)信息記錄層上的情況下產(chǎn)生的來自最外信息記錄層的雜散光(最大層間雜散光)進(jìn)行說明。但是，為了簡化說明，以下在圖12中表示聚焦在最內(nèi)側(cè)記錄層上時來自最外側(cè)記錄層的雜散光的情況進(jìn)行說明。本實(shí)施方式中的光檢測器131中，將由受光部e2、f2、g2和h2 (第四受光部組)與受光部a2、b2、c2和d2 (第五受光部組)構(gòu)成的用于檢測跟蹤誤差信號的受光部組相對于第一受光部組配置在徑向方向的位置上，并回避因0級衍射光入射到受光部a、b、c和d(第一受光部組)而產(chǎn)生的最大層間雜散光140。由此，光檢測器131能夠回避因0級衍射光而產(chǎn)生的最大層間雜散光140。此外，光檢測器131中，對在全息元件27的區(qū)域De、Dh、Dg和Df (第一分割區(qū)域)中衍射的光束LI進(jìn)行檢測的受光部f2和g2以及受光部e2和h2在徑向方向上排列，并使受光部e2和h2以及受光部f2和g2以夾著對在區(qū)域Da、Db、Dc和Dd (第二分割區(qū)域)中衍射的光束LI進(jìn)行檢測的、在切線方向上排列的受光部a2、b2、c2和d2 (第五受光部組)的方式配置。由此，光檢測器131能夠回避最大層間雜散光。圖13是從沿著光軸方向的方向觀看在全息元件27中衍射而入射到受光部e2、f2、g2和h2 (第四受光部組)的光束LI的概要俯視圖。另外，以下為了簡化說明，僅在圖13中表示在全息元件區(qū)域De、Df、Dg和Dh (第一分割區(qū)域)中衍射的雜散光進(jìn)行說明。圖13中的黑點(diǎn)表示信號光，虛線表示對最內(nèi)層進(jìn)行記錄和再現(xiàn)時來自最外層的雜散光，點(diǎn)劃線表示對最外層進(jìn)行記錄和再現(xiàn)時來自最內(nèi)層的雜散光。雖然虛線和點(diǎn)劃線不會同時產(chǎn)生，但為了便于說明而將它們在同一圖中表示。此外，箭頭150表示隨期望的信息記錄層與其他信息記錄層的間隔而變化的雜散光的移動方向。在期望的信息記錄層與其他信息記錄層的間隔較小的情況下，最小層間雜散光配置在箭頭150的長度較小的位置上，間隔較大的情況下，最大層間雜散光配置在箭頭150的長度較大的位置上。 此處，例如在全息元件27的區(qū)域De中衍射的雜散光，在根據(jù)期望的信息記錄層與其他信息記錄層的間隔的不同而在切線方向上移動的同時，在徑向方向上擴(kuò)大。此時，在徑向方向上擴(kuò)大的方向，如圖5所不依賴于全息兀件27的區(qū)域。因此,本實(shí)施方式中將受光部e2配置成使得在全息元件27的區(qū)域De中衍射的最大層間雜散光和最小層間雜散光不會入射到在切線方向上排列的受光部a2、b2、c2和d2 (第五受光部組)中。并且，將受光部f2、g2和h2配置成使得在全息元件27的區(qū)域Df、Dg和Dh中衍射的最大層間雜散光和最小層間雜散光也同樣不會入射到受光部a2、b2、c2和d2 (第五受光部組)中。由此，在全息元件27的區(qū)域De、Df、Dg和Dh (第一分割區(qū)域)中衍射的最大層間雜散光和最小層間雜散光不會入射到受光部a2、b2、c2和d2 (第五受光部組)。此外，在全息元件27的區(qū)域Da、Db、Dc和Dd (第二分割區(qū)域)中衍射的最大層間雜散光，根據(jù)期望的信息記錄層與其他信息記錄層的間隔的不同而在徑向方向上移動，所以不會入射到受光部e2、f2、g2和h2 (第四受光部組)中。但是，在全息元件27的區(qū)域Da、Db.Dc和Dd (第二分割區(qū)域)中衍射的雜散光，與層間隔相應(yīng)地在光檢測器131上在切線方向上擴(kuò)大，所以使在徑向方向上排列的受光部f2和g2以及受光部e2和h2與在切線方向上排列的受光部a2、b2、c2和d2在切線方向上離開規(guī)定量，配置在避開雜散光的位置上。由此，光檢測器131的各受光部能夠完全回避最大層間雜散光和最小層間雜散光。(2-2)本實(shí)施方式的效果如上所述，根據(jù)本實(shí)施方式的光拾取器裝置130，可以得到與第一實(shí)施方式的光拾取器裝置5同樣的效果。(2-3)第二實(shí)施方式的變形例此外，上述第二實(shí)施方式中，敘述了使光檢測器131的受光部的配置方式為如圖11所示的結(jié)構(gòu)的情況，但本發(fā)明不限于此，例如也可以如圖14所示，用于檢測跟蹤誤差信號的受光部的配置方式，只要配置在能夠回避入射到受光部a、b、c和d (第一受光部組)的0級衍射光引起的最大層間雜散光的位置上即可。(3)第三實(shí)施方式(3-1)本實(shí)施方式的光拾取器裝置的結(jié)構(gòu)
圖I中，170表不本實(shí)施方式的光拾取器裝置。該光拾取器裝置170與第一實(shí)施方式的光拾取器裝置5的不同之處僅在于光檢測器171的受光部結(jié)構(gòu)。實(shí)際上,第一實(shí)施方式中，說明了對在全息兀件27上的區(qū)域Da、Db、Dc和Dd(第二分割區(qū)域)中衍射的光束LI進(jìn)行檢測的光檢測器29的受光部al和bl以及受光部Cl和dl分別在切線方向上排列，并使受光部al和bl以及受光部Cl和dl以夾著對在區(qū)域De、Df、Dg和Dh (第一分割區(qū)域)中衍射的光束LI進(jìn)行檢測的、在徑向方向上排列的受光部el、fl、gl和hi (第二受光部組)的方式配置的情況，但本實(shí)施方式的光檢測器171中，說明對在全息元件27上的區(qū)域De、Df、Dg和Dh (第一分割區(qū)域)中衍射的光束LI進(jìn)行檢測的受光部6333、§3和113 (第六受光部組)在徑向方向上排列，并且對在區(qū)域Da、Db、Dc和Dd (第二分割區(qū)域)中衍射的光束LI進(jìn)行檢測的光檢測器171的受光部a3、b3、c3和d3 (第七受光部組)在切線方向上排列于同一延長線上配置的情況。由此，與第一實(shí)施方式的光拾取器裝置5同樣，本實(shí)施方式的光拾取器裝置170中也能夠有效地回避最小層間雜散光和最大層間雜散光，減小光檢測器171上的受光部的面積。
圖15表示第三實(shí)施方式的光拾取器裝置170中使用的光檢測器171的受光部結(jié)構(gòu)的一例。本實(shí)施方式的光檢測器171中，透過第一實(shí)施方式的全息元件27 (圖2)的區(qū)域Da、Db、Dc、Dd、De、Df、Dg、Dh和Di的0級衍射光，入射到受光部a、b、c和d (第一受光部組)。根據(jù)從該光檢測器171上的受光部a、b、c和d (第一受光部組)與光量相應(yīng)地輸出的信號A、B、C和D能夠得到聚焦誤差信號和RF信號。本實(shí)施方式中，使用像散方式，根據(jù)信號A、B、C、D按照下式生成聚焦誤差信號FES [式7]FES = (A+C) - (B+D)...... (7)此外，根據(jù)信號A、B、C和D按照下式生成RF信號RF [式8]RF = A+B+C+D...... (8)此外，在全息元件27的區(qū)域Da、Db、Dc、Dd、De、Df、Dg和Dh中衍射的+1級衍射光，分別入射到圖15所示的光檢測器171的受光部&343、03、(13、63^343和113中。根據(jù)從該光檢測器171上的受光部a3、b3、c3、d3、e3、f3、g3和h3與光量相應(yīng)地輸出的信號A3、B3、C3、D3、E3、F3、G3和H3，能夠得到跟蹤誤差信號。另外，在區(qū)域Di中衍射的+1級衍射光(未圖示)視為無用光，在徑向方向上避開光檢測器171的受光部入射。本實(shí)施方式中，使用單光束DPP方式，根據(jù)信號A3、B3、C3、D3、E3、F3、G3和H3按照下式生成跟蹤誤差信號TES [式9]TES = {(A3+B3) - (C3+D3)} -kt {(E3+F3) - (G3+H3)}...... (9)式(9)中的kt，是用于在物鏡10發(fā)生透鏡移位時，修正式(9)中第一項(xiàng)的信號中所含的偏移成分和式(9)中第二項(xiàng)的信號中所含的偏移成分的系數(shù)。通過進(jìn)行這樣的運(yùn)算，能夠生成即使在物鏡10發(fā)生透鏡移位時也不會產(chǎn)生偏移的穩(wěn)定的跟蹤誤差信號。以下用圖16 17說明本實(shí)施方式中的多層光盤3的雜散光回避方法。首先說明本實(shí)施方式的最小層間雜散光回避方法。本實(shí)施方式中的光檢測器171的受光部中，也會因?yàn)殡x焦入射到受光部的光束LI而產(chǎn)生與圖5和圖6所示的受光部上產(chǎn)生的雜散光同樣的雜散光。從而，光檢測器171中，在徑向方向上排列對在全息元件27的區(qū)域De、Dh、Dg和Df (第一分割區(qū)域)中衍射的光束進(jìn)行檢測的受光部e3、h3、f3和g3 (第六受光部組)，在切線方向上排列對在區(qū)域Da、Db、Dc和Dd (第二分割區(qū)域)中衍射的光束進(jìn)行檢測的受光部a3、b3、c3和d3 (第七受光部組)，由此將最小層間雜散光的影響抑制在最小限度。這樣，光檢測器171中，對于全息元件27的區(qū)域中在切線方向上離開中心部32的區(qū)域De、Df、Dg和Dh (第一分割區(qū)域)，使雜散光在切線方向上回避，對于全息元件27的區(qū) 域中在徑向方向上離開中心部32的區(qū)域Da、Db、Dc和Dd (第二分割區(qū)域)，使雜散光在徑向方向上回避。由此，光檢測器171能夠有效地回避最小層間雜散光。接著說明本實(shí)施方式的最大層間雜散光回避方法。圖16是從沿著光軸方向的方向觀看在全息元件27的各區(qū)域Da Dh中衍射而入射到光檢測器171的受光部a h3的光束LI的概要俯視圖。圖16所示的黑點(diǎn)和斜線部表示接收物鏡10聚焦在光盤3中期望的信息記錄層上的情況下的光束LI的受光部上的光斑。圖16所示的虛線部表示最大層間雜散光。在說明最大層間雜散光時，必須針對物鏡10聚焦在多層光盤3的最外信息記錄層上的情況下產(chǎn)生的來自最內(nèi)信息記錄層的雜散光(最大層間雜散光)，和物鏡10聚焦在最內(nèi)信息記錄層上的情況下產(chǎn)生的來自最外信息記錄層的雜散光(最大層間雜散光)進(jìn)行說明。但是，為了簡化說明，以下在圖16中表示聚焦在最內(nèi)側(cè)記錄層上時來自最外側(cè)記錄層的雜散光的情況進(jìn)行說明。本實(shí)施方式中的光檢測器171中，將由受光部e3、f3、g3和h3 (第六受光部組)和受光部a3、b3、c3和d3 (第七受光部組)構(gòu)成的用于檢測跟蹤誤差信號的受光部組相對于第一受光部組配置在切線方向的位置上，并回避因0級衍射光入射到受光部a、b、c和d(第一受光部組)而產(chǎn)生的最大層間雜散光180。由此，光檢測器171能夠回避因0級衍射光而產(chǎn)生的最大層間雜散光180。此外，光檢測器171中，在徑向方向上排列對在全息元件27的區(qū)域De、Dh、Dg和Df (第一分割區(qū)域)中衍射的光束LI進(jìn)行檢測的受光部e3、f3、g3和h3 (第六受光部組)，在切線方向上排列對在區(qū)域Da、Db、Dc和Dd (第二分割區(qū)域)中衍射的光束LI進(jìn)行檢測的受光部a3、b3、c3和d3 (第七受光部組)地配置。而且，如圖17所示，各受光部配置為使得受光部e3、f3、g3和h3 (第六受光部組)的徑向方向的延長線與受光部a3、b3、c3和d3 (第七受光部組)的切線方向的延長線呈約90度。由此，光檢測器171能夠回避最大層間雜散光。圖17是從沿著光軸方向的方向觀看在全息元件27中衍射而入射到受光部a3、b3、c3和d3 (第七受光部組)的光束LI的概要俯視圖。另外，以下為了簡化說明，僅在圖17中表示在全息元件區(qū)域Da、Db、Dc和Dd (第二分割區(qū)域)中衍射的雜散光進(jìn)行說明。圖17中的黑點(diǎn)表示信號光，虛線表示對最內(nèi)層進(jìn)行記錄和再現(xiàn)時來自最外層的雜散光，點(diǎn)劃線表示對最外層進(jìn)行記錄和再現(xiàn)時來自最內(nèi)層的雜散光。雖然虛線和點(diǎn)劃線不會同時產(chǎn)生，但為了便于說明而將它們在同一圖中表示。此外，箭頭190表示隨期望的信息記錄層與其他信息記錄層的間隔而變化的雜散光的移動方向。在期望的信息記錄層與其他信息記錄層的間隔較小的情況下，最小層間雜散光配置在箭頭190的長度較小的位置上，間隔較大的情況下，最大層間雜散光配置在箭頭190的長度較大的位置上。此處，例如在全息元件區(qū)域Da中衍射的雜散光，在根據(jù)期望的信息記錄層與其他信息記錄層的間隔的不同而在徑向方向上移動的同時，在切線方向上擴(kuò)大。此時，在切線方向上擴(kuò)大的雜散光，如圖6所不依賴于全息兀件27的區(qū)域。因此,本實(shí)施方式中將受光部a3配置成使得在全息元件27的區(qū)域Da中衍射的最大層間雜散光和最小層間雜散光不會入射到在徑向方向上排列的受光部e3、f3、g3和h3 (第六受光部組)中。并且，將受光部b3、c3和d3配置成使得在全息元件區(qū)域Db、Dc和Dd中衍射的最大層間雜散光和最小層間雜散光也同樣不會入射到受光部e3、f3> g3和h3 (第六受光部組)中。由此，在全息兀件27的區(qū)域Da、Db、Dc和Dd (第二分割區(qū)域)中衍射的最大層間雜散光和最小層間雜散光不會入 射到受光部e3、f3、g3和h3 (第六受光部組)。此外，本實(shí)施方式的光檢測器171中，將受光部a3和受光部c3配置成，使得在區(qū)域Da中衍射的雜散光對受光部a3的入射方向，與在關(guān)于中心部32與區(qū)域Da大致點(diǎn)對稱的區(qū)域Dc中衍射的雜散光對受光部c3的入射方向一致。而關(guān)于全息元件27的中心部32成大致點(diǎn)對稱關(guān)系的區(qū)域Db和區(qū)域Dc，與它們對應(yīng)的受光部b3和d3，也同樣配置成使得雜散光的入射方向一致。此外，在全息元件27的區(qū)域De、Df、Dg和Dh (第一分割區(qū)域)中衍射的最大層間雜散光，根據(jù)期望的信息記錄層與其他信息記錄層的間隔的不同而在切線方向上移動，所以不會入射到受光部a3、b3、c3和d3 (第七受光部組)。但是，在全息元件27的區(qū)域De、Df、Dg和Dh (第一分割區(qū)域)中衍射的雜散光，與層間隔相應(yīng)地在光檢測器171上在徑向方向上擴(kuò)大，所以使在徑向方向上排列的受光部e3、f3、g3和h3 (第六受光部組)與在切線方向上排列的受光部a3和c3以及受光部b3和d3在徑向方向上離開規(guī)定量，配置在避開雜散光的位置上。由此，光檢測器171的各受光部能夠完全回避最大層間雜散光和最小層間雜散光。(3-2)本實(shí)施方式的效果如上所述，根據(jù)本實(shí)施方式的光拾取器裝置170，可以得到與第一實(shí)施方式的光拾取器裝置5同樣的效果。(3-3)第三實(shí)施方式的變形例此外，上述第三實(shí)施方式中，敘述了使光檢測器29的受光部的配置方式為如圖15所示的結(jié)構(gòu)的情況，但本發(fā)明不限于此，例如也可以如圖18所示，用于檢測跟蹤誤差信號的受光部的配置方式，只要配置在能夠回避入射到受光部a、b、c和d (第一受光部組)的0級衍射光引起的最大層間雜散光的位置上即可。(4)第四實(shí)施方式(4-1)本實(shí)施方式的光拾取器裝置的結(jié)構(gòu)圖I中，230表不本實(shí)施方式的光拾取器裝置。該光拾取器裝置230與第一實(shí)施方式的光拾取器裝置5的不同之處僅在于光檢測器231的受光部結(jié)構(gòu)。
實(shí)際上，第一實(shí)施方式中，說明了相對于受光部a、b、c和d (第一受光部組)在切線方向上配置由受光部el、H、gl和hi (第二受光部組)與al、bl、cl和dl (第三受光部組)構(gòu)成的檢測跟蹤誤差信號的受光部組，進(jìn)而使受光部al和bl以及受光部Cl和dl分別在切線方向上排列，并且受光部al和bl以及受光部Cl和dl以夾著受光部el、H、gl和hi (第二受光部組)的方式配置的情況，但本實(shí)施方式的光檢測器231中，說明相對于受光部a、b、c和d (第一受光部組)在徑向方向上配置由受光部e4、f4、g4和h4 (第八受光部組)與受光部a4、b4、c4和d4 (第九受光部組)構(gòu)成的檢測跟蹤誤差信號的受光部組，受光部e4、f4、g4和h4 (第八受光部組)在徑向方向上排列，受光部a4、b4、c4和d4 (第九受光部組)在切線方向上排列于同一延長線上配置的情況。由此，與第一實(shí)施方式的光拾取器裝置5同樣，本實(shí)施方式的光拾取器裝置230中也能夠有效地回避最小層間雜散光和最大層間雜散光，減小光檢測器231上的受光部的面積。

圖19表示第四實(shí)施方式的光拾取器裝置230中使用的光檢測器231的受光部結(jié)構(gòu)的一例。本實(shí)施方式的光檢測器231中，透過第一實(shí)施方式的全息元件27 (圖2)的區(qū)域Da、Db、Dc、Dd、De、Df、Dg、Dh和Di的0級衍射光，入射到受光部a、b、c和d (第一受光部組)。根據(jù)從該光檢測器231上的受光部a、b、c和d (第一受光部組)與光量相應(yīng)地輸出的信號A、B、C和D能夠得到聚焦誤差信號和RF信號。本實(shí)施方式中，使用像散方式，根據(jù)信號A、B、C、D按照下式生成聚焦誤差信號FES [式10]FES = (A+C) - (B+D)...... (10)此外，根據(jù)信號A、B、C和D按照下式生成RF信號RF [式11]RF = A+B+C+D...... (11)此外，在全息元件27的區(qū)域Da、Db、Dc、Dd、De、Df、Dg和Dh中衍射的+1級衍射光，分別入射到圖19所示的光檢測器231的受光部&444、(4、(14、64^444和114中。根據(jù)從該光檢測器231上的受光部a4、b4、c4、d4、e4、f4、g4和h4與光量相應(yīng)地輸出的信號A4、B4、C4、D4、E4、F4、G4和H4，能夠得到跟蹤誤差信號。另外，在區(qū)域Di中衍射的+1級衍射光(未圖示)視為無用光，在徑向方向上避開光檢測器231的受光部入射。本實(shí)施方式中，使用單光束DPP方式，根據(jù)信號A4、B4、C4、D4、E4、F4、G4和H4按照下式生成跟蹤誤差信號TES [式12]TES = {(A4+B4) - (C4+D4)} -kt {(E4+F4) - (G4+H4)}...... (12)式(12)中的kt，是用于在物鏡10發(fā)生透鏡移位時，修正式(12)中第一項(xiàng)的信號中所含的偏移成分和式(12)中第二項(xiàng)的信號中所含的偏移成分的系數(shù)。通過進(jìn)行這樣的運(yùn)算，能夠生成即使在物鏡10發(fā)生透鏡移位時也不會產(chǎn)生偏移的穩(wěn)定的跟蹤誤差信號。以下用圖20 21說明本實(shí)施方式中的多層光盤3的雜散光回避方法。
首先說明本實(shí)施方式的最小層間雜散光回避方法。本實(shí)施方式中的光檢測器231的受光部中，也會因?yàn)殡x焦入射到受光部的光束LI而產(chǎn)生與圖5和圖6所示的受光部上產(chǎn)生的雜散光同樣的雜散光。從而，光檢測器231中，在徑向方向上排列對在全息元件27的區(qū)域De、D h、Dg和Df (第一分割區(qū)域)中衍射的光束進(jìn)行檢測的受光部e4、h4、f4和g4 (第八受光部組)，在切線方向上排列對在區(qū)域Da、Db、Dc和Dd (第二分割區(qū)域)中衍射的光束進(jìn)行檢測的受光部a4、b4、c4和d4 (第九受光部組)，由此將最小層間雜散光的影響抑制在最小限度。因此，光檢測器231中，在徑向方向上排列配置對在全息元件27的區(qū)域De、Dh、Dg和Df (第一分割區(qū)域)中衍射的光束LI進(jìn)行檢測的受光部e4、f4、g4和h4 (第八受光部組)，在切線方向上排列配置對在區(qū)域Da、Db、Dc和Dd (第二分割區(qū)域)中衍射的光束LI進(jìn)行檢測的受光部a4、b4、c4和d4 (第九受光部組)。其中，如圖20所示，各受光部中，使受光部e4、f4、g4和h4 (第八受光部組)的徑向方向的延長線與受光部a4、b4、c4和d4 (第九受光部組)的切線方向的延長線成約90度地配置。光檢測器231中，對于全息元件27的區(qū)域中在切線方向上離開中心部32的區(qū)域De、Df、Dg和Dh (第一分割區(qū)域)，使雜散光在切線方向上回避，對于全息元件27的區(qū)域中在徑向方向上離開中心部32的區(qū)域Da、Db、Dc和Dd (第二分割區(qū)域)，使雜散光在徑向方向上回避。由此，光檢測器171能夠有效地回避最小層間雜散光。接著說明本實(shí)施方式的最大層間雜散光回避方法。圖20是從沿著光軸方向的方向觀看在全息元件27的各區(qū)域Da Dh中衍射而入射到光檢測器231的受光部a h4的光束LI的概要俯視圖。圖21所示的黑點(diǎn)和斜線部表示接收物鏡10聚焦在光盤3中期望的信息記錄層上的情況下的光束LI的受光部上的光斑。圖21所示的虛線部表示最大層間雜散光。在說明最大層間雜散光時，必須針對物鏡10聚焦在多層光盤3的最外信息記錄層上的情況下產(chǎn)生的來自最內(nèi)信息記錄層的雜散光(最大層間雜散光)，和物鏡10聚焦在最內(nèi)信息記錄層上的情況下產(chǎn)生的來自最外信息記錄層的雜散光(最大層間雜散光)進(jìn)行說明。但是，為了簡化說明，以下在圖20中表示聚焦在最內(nèi)側(cè)記錄層上時來自最外側(cè)記錄層的雜散光的情況進(jìn)行說明。本實(shí)施方式中的光檢測器231中，將由受光部e4、f4、g4和h4 (第八受光部組)和受光部a4、b4、c4和d4 (第九受光部組)構(gòu)成的檢測跟蹤誤差信號的受光部組相對于第一受光部組配置在徑向方向的位置上，并回避因0級衍射光入射到受光部a、b、c和d (第一受光部組)而產(chǎn)生的最大層間雜散光240。由此，光檢測器231能夠回避因0級衍射光而產(chǎn)生的最大層間雜散光240。圖21是從沿著光軸方向的方向觀看在全息元件27中衍射而入射到受光部e4、f4、g4和h4 (第八受光部組)的光束LI的概要俯視圖。另外，以下為了簡化說明，僅在圖21中表示在全息元件區(qū)域De、Df、Dg和Dh (第一分割區(qū)域)中衍射的雜散光進(jìn)行說明。圖21中的黑點(diǎn)表示信號光，虛線表示對最內(nèi)層進(jìn)行記錄和再現(xiàn)時來自最外層的雜散光，點(diǎn)劃線表示對最外層進(jìn)行記錄和再現(xiàn)時來自最內(nèi)層的雜散光。雖然虛線和點(diǎn)劃線不會同時產(chǎn)生，但為了便于說明而將它們在同一圖中表示。此外，箭頭250表示隨期望的信息記錄層與其他信息記錄層的間隔而變化的雜散光的移動方向。在期望的信息記錄層與其他信息記錄層的間隔較小的情況下，最小層間雜散光配置在箭頭250的長度較小的位置上，間隔較大的情況下，最大層間雜散光配置在箭頭250的長度較大的位置上。此處，例如在全息元件27的區(qū)域De中衍射的雜散光，根據(jù)期望的信息記錄層與其他信息記錄層的間隔的不同而在切線方向上移動的同時，在徑向方向上擴(kuò)大。此時，在徑向方向上擴(kuò)大的方向，如圖5所不依賴于全息兀件27的區(qū)域。因此,本實(shí)施方式中將受光部e4配置為使得在全息元件27的區(qū)域De中衍射的最大層間雜散光和最小層間雜散光不會入射到在切線方向上排列的受光部a4、b4、c4和d4 (第九受光部組)中。并且，將受光部f4、g4和h4配置為使得在全息元件27的區(qū)域Df、Dg和Dh中衍射的最大層間雜散光和最小層間雜散光也同樣不會入射到受光部a4、b4、c4和d4 (第九受光部組)中。由此，在全息元件27的區(qū)域De、Df、Dg和Dh (第一分割區(qū)域)中衍射的最大層間雜散光和最小層間雜散光不會入射到受光部a4、b4、c4和d4(第九受光部組)中。此外，本實(shí)施方式的光檢測器231中，受光部e4和受光部g4配置成，使得在區(qū)域De中衍射的雜散光對受光部e4的入射方向，與在關(guān)于中心部32與區(qū)域De大致點(diǎn)對稱的區(qū)域Dg中衍射的雜散光對受光部g4的入射方向一致。而關(guān)于全息元件27的中心部32成大致點(diǎn)對稱關(guān)系的區(qū)域Df和區(qū)域Dh，與它們對應(yīng) 的受光部h4和f4也同樣配置成使得雜散光的入射方向一致。此外，在全息元件27的區(qū)域Da、Db、Dc和Dd (第二分割區(qū)域)中衍射的最大層間雜散光，根據(jù)期望的信息記錄層與其他信息記錄層的間隔的不同而在徑向方向上移動，所以不會入射到受光部e4、f4、g4和h4 (第八受光部組)。但是，在全息元件27的區(qū)域Da、Db、Dc和Dd (第二分割區(qū)域)中衍射的雜散光，與層間隔相應(yīng)地在光檢測器29上在切線方向上擴(kuò)大，所以使在徑向方向上排列的受光部f4和g4以及受光部e4和h4與在切線方向上排列的受光部a4、b4、c4和d4在切線方向上離開規(guī)定量，配置在避開雜散光的位置上。由此，光檢測器231的各受光部能夠完全回避最大層間雜散光和最小層間雜散光。(4-2)本實(shí)施方式的效果如上所述，根據(jù)本實(shí)施方式的光拾取器裝置230，可以得到與第一實(shí)施方式的光拾取器裝置5同樣的效果。( 4-3 )第四實(shí)施方式的變形例此外，上述第四實(shí)施方式中，敘述了使光檢測器231的受光部的配置方式為如圖19所示的結(jié)構(gòu)的情況，但本發(fā)明不限于此，例如也可以如圖22 (A)和圖22 (B)所示，用于檢測跟蹤誤差信號的受光部的配置方式，只要配置在能夠回避入射到受光部a、b、c和d(第一受光部組)的0級衍射光引起的最大層間雜散光的位置上即可。(5)第五實(shí)施方式(5-1)本實(shí)施方式的光拾取器裝置的結(jié)構(gòu)圖I中，280表不本實(shí)施方式的光拾取器裝置280。該光拾取器裝置280與第一實(shí)施方式的光拾取器裝置5的不同之處僅在于全息元件281和光檢測器282的受光部結(jié)構(gòu)實(shí)際上，第一實(shí)施方式中，說明了全息元件27上的區(qū)域Da、Db、Dc和Dd關(guān)于第二分割線31對稱地位與在徑向方向上延伸的第二分割線31的直線上的情況，但本實(shí)施方式的全息元件281中，說明將區(qū)域Da和Db統(tǒng)一成為一個區(qū)域Dab，將區(qū)域Dc和Dd統(tǒng)一成為一個區(qū)域Dcd，且區(qū)域Dab和區(qū)域Dcd關(guān)于在徑向方向上延伸的第二分割線31對稱的情況。
此外,第一實(shí)施方式中，說明了光檢測器29中，相對于受光部a、b、c和d (第一受光部組)在切線方向上配置由受光部el、fl、gl和hi (第二受光部組)以及al、bl、cl和dl(第三受光部組)構(gòu)成的用于檢測跟蹤誤差信號的受光部組的情況，但本實(shí)施方式的光檢測器282中，說明相對于受光部a、b、c和d (第一受光部組)在徑向方向上配置由受光部e5、f5、g5和h5 (第十受光部組)以及受光部ab5和cd5 (第^ 受光部組)構(gòu)成的用于檢測跟蹤誤差信號的受光部組的情況。由此，與第一實(shí)施方式的光拾取器裝置5同樣,本實(shí)施方式的光拾取器裝置280中也能夠有效地回避最小層間雜散光和最大層間雜散光，減小光檢測器282上的受光部的面積。圖23是從沿著光軸方向的方向觀看第五實(shí)施方式的光拾取器裝置280中使用的全息元件281的概要俯視圖的一例。圖23中的雙點(diǎn)劃線表示物鏡10聚焦在光盤3中期望的信息記錄層上時的全息兀件281上的光束LI的光斑的外形。此外，斜線部表不被光盤3上的軌道衍射的光盤±1級衍射光與光盤0級衍射光的干涉區(qū)域(推挽圖案)。另外，實(shí)線表示區(qū)域的邊界線，全息元件281包括在光盤3上的軌道上反射的0級 衍射光入射到的區(qū)域De、Df、Dg和Dh (第一分割區(qū)域)，光盤0級衍射光、光盤± I級衍射光入射到的區(qū)域Dab和Dcd (第四分割區(qū)域)，和區(qū)域Di (第三分割區(qū)域)，入射的光束LI按各區(qū)域分別向不同的方向衍射。其中，圖23所示的全息元件281上的區(qū)域Di所處的規(guī)定區(qū)域，包含在切線方向上延伸的第一分割線30和在徑向方向上延伸的第二分割線31相交的全息元件281的中心部32 ;區(qū)域De、Df、Dg和Dh是包括全息元件281的四角的規(guī)定的區(qū)域，以關(guān)于第一分割線30大致對稱的方式，位于該第一分割線30的直線上；區(qū)域Dab和Dcd以關(guān)于第二分割線31大致對稱的方式，位于該第二分割線31的直線上?；蛘邠Q言之，全息元件281特征在于，具有第一、第三和第四分割區(qū)域，第三分割區(qū)域是包含全息元件281的中心的區(qū)域，第一分割區(qū)域是位于通過全息元件281的大致中心且在與光盤3的軌道大致平行的方向上延伸的第一分割線30上的區(qū)域，第四分割區(qū)域是位于通過全息元件281的大致中心且在與光盤3的軌道大致垂直的方向上延伸的第二分割線31上的區(qū)域，并且第四分割區(qū)域包括上述光盤3的軌道的0級衍射光與±1級衍射光相交的推挽區(qū)域，對在第一分割區(qū)域中衍射的光束LI進(jìn)行檢測的至少2個受光部，在與光盤3的軌道大致垂直的方向上排列，對在第二分割區(qū)域中衍射的光束LI進(jìn)行檢測的至少2個受光部，在與光盤3的軌道大致平行的方向上排列。其中，全息元件281的衍射效率例如是0級衍射光+1級衍射光-1級衍射光=7 3 :0。從而，本實(shí)施方式中的光拾取器裝置280的光檢測器282，接收透過全息元件281的0級衍射光和在全息元件281中衍射的+1級衍射光。圖24表示第五實(shí)施方式的光拾取器裝置280中使用的光檢測器282的受光部結(jié)構(gòu)的一例。本實(shí)施方式的光檢測器282中，透過全息元件281 (圖23)的區(qū)域Dab、Dcd、De、Df、Dg、Dh和Di的0級衍射光，入射到受光部a、b、c和d (第一受光部組)。根據(jù)從該光檢測器282上的受光部a、b、c和d (第一受光部組)與光量相應(yīng)地輸出的信號A、B、C和D能夠得到聚焦誤差信號和RF信號。本實(shí)施方式中，使用像散方式，根據(jù)信號A、B、C和D按照下式生成聚焦誤差信號FES [式I3]
FES = (A+C) - (B+D)...... (13)此外，根據(jù)信號A、B、C和D按照下式生成RF信號RF [式14]RF = A+B+C+D...... (14)此外，在全息元件281的區(qū)域Dab、Dcd、De、Df、Dg和Dh中衍射的+1級衍射光，分別入射到圖24所示的光檢測器282的受光部ab5、cd5、e5、f5、g5和h5中。根據(jù)從該光檢 測器282上的受光部ab5、cd5、e5、f5、g5和h5與光量相應(yīng)地輸出的信號AB5、CD5、E5、F5、G5和H5，能夠得到跟蹤誤差信號。另外，在區(qū)域Di中衍射的+1級衍射光(未圖示)視為無用光，在切線方向上避開光檢測器282的受光部入射。本實(shí)施方式中，使用單光束DPP方式，根據(jù)信號AB5、CD5、E5、F5、G5和H5按照下式生成跟蹤誤差信號TES [式I5]TES = (AB5-CD5)-kt{(E5+F5)-(G5+H5)}...... (15) 式(15)中的kt，是用于在物鏡10發(fā)生透鏡移位時，修正式(15)中第一項(xiàng)的信號中所含的偏移成分和式(15)中第二項(xiàng)的信號中所含的偏移成分的系數(shù)。通過進(jìn)行這樣的運(yùn)算，能夠生成即使在物鏡10發(fā)生透鏡移位時也不會產(chǎn)生偏移的穩(wěn)定的跟蹤誤差信號。以下說明本實(shí)施方式中的多層光盤3的雜散光回避方法。首先說明本實(shí)施方式的最小層間雜散光回避方法。在本實(shí)施方式中的光檢測器282的受光部的情況下，由于只是使全息元件281的區(qū)域Da和Db成為一個區(qū)域Dab，使區(qū)域Dc和Dd成為一個區(qū)域Dcd，所以第一方式的光檢測器29上因離焦入射到受光部的光束LI產(chǎn)生的圖5和圖6所示的雜散光，與光檢測器282上的雜散光在同樣的方向上產(chǎn)生。從而，光檢測器282中，在徑向方向上排列對在全息兀件281的區(qū)域De、Dh、Dg和Df (第一分割區(qū)域)中衍射的光束進(jìn)行檢測的受光部e5、h5、f5、g5 (第十受光部組)，在切線方向上排列對在區(qū)域Dab和Dcd (第四分割區(qū)域)中衍射的光束進(jìn)行檢測的受光部ab5和cd5 (第十一受光部組)，由此將最小層間雜散光的影響抑制在最小限度。因此，本實(shí)施方式的光檢測器282，如圖24所示，在徑向方向上排列對在全息元件281的區(qū)域De、Dh、Dg和Df (第一分割區(qū)域)中衍射的光束LI進(jìn)行檢測的受光部e5、f5、g5和h5 (第十受光部組)，以夾著對在區(qū)域Dab和Dcd (第四分割區(qū)域)中衍射的光束LI進(jìn)行檢測的在切線方向上排列的受光部ab5和cd5 (第十一受光部組)的方式配置。光檢測器282中，對于全息元件281的區(qū)域中在切線方向上離開中心部32的區(qū)域De、Df、Dg和Dh (第一分割區(qū)域)，使雜散光在切線方向上回避，對于全息元件281的區(qū)域中在徑向方向上離開中心部32的區(qū)域Dab和Dcd (第四分割區(qū)域)，使雜散光在徑向方向上回避。由此，光檢測器282能夠有效地回避最小層間雜散光。接著說明本實(shí)施方式的最大層間雜散光回避方法。圖25是從沿著光軸方向的方向觀看在全息元件281的各區(qū)域Dab Dh中衍射而入射到光檢測器282的受光部ab h5的光束LI的概要俯視圖。圖25所示的黑點(diǎn)和斜線部表示接收物鏡10聚焦在光盤3中期望的信息記錄層上的情況下的光束LI的受光部上的光斑。圖25所示的虛線部表示最大層間雜散光。在說明最大層間雜散光時，必須針對物鏡10聚焦在多層光盤3的最外信息記錄層的情況下產(chǎn)生的來自最內(nèi)信息記錄層的雜散光(最大層間雜散光)，和物鏡10聚焦在最內(nèi)信息記錄層的情況下產(chǎn)生的來自最外信息記錄層的雜散光(最大層間雜散光)進(jìn)行說明。但是，為了簡化說明，以下在圖25中表示聚焦在最內(nèi)側(cè)記錄層上時來自最外側(cè)記錄層的雜散光的情況進(jìn)行說明。本實(shí)施方式中的光檢測器282中，將由受光部e5、f5、g5 和h5 (第十受光部組)與受光部ab5和cd5 (第^ 受光部組)構(gòu)成的用于檢測跟蹤誤差信號的受光部組相對于第一受光部組配置在徑向方向的位置上，并回避因0級衍射光入射到受光部a、b、c和d (第一受光部組)而產(chǎn)生的最大層間雜散光290。由此，光檢測器282能夠回避因0級衍射光而產(chǎn)生的最大層間雜散光290。此外，在全息元件281的區(qū)域Dab和Dcd (第四受光部組)中衍射的雜散光，根據(jù)期望的信息記錄層與其他信息記錄層的間隔的不同而在徑向方向上移動，所以不會入射到相對于受光部ab5和cd5配置在大致切線方向上的受光部e5、f5、g5和h5 (第十受光部組)中。但是，在全息元件281的區(qū)域Dab和Dcd (第四受光部組)中衍射的雜散光，與層間隔相應(yīng)地在光檢測器282上在切線方向上擴(kuò)大，所以使在徑向方向上排列的受光部f5和g5以及受光部e5和h5與在切線方向上排列的受光部ab5和cd5配置于在切線方向上離開規(guī)定量的位置上。由此，光檢測器282的各受光部能夠完全回避最大層間雜散光。(5-2)本實(shí)施方式的效果如上所述，根據(jù)本實(shí)施方式的光拾取器裝置280，可以得到與第一實(shí)施方式的光拾取器裝置5同樣的效果。(5-3)第五實(shí)施方式的變形例此外，上述第五實(shí)施方式中，敘述了使全息元件281的結(jié)構(gòu)為如圖23所示的結(jié)構(gòu)的情況，但本發(fā)明不限于此，例如也可以如圖26 (A)、圖26 (B)、圖26 (C)和圖26 (D)所示，只要區(qū)域De、Df、Dg和Dh各區(qū)域分別關(guān)于第一分割線30對稱，區(qū)域Dab和Dcd各區(qū)域分別關(guān)于第二分割線31對稱即可，該情況下，Di (第三分割區(qū)域)可以是任意的結(jié)構(gòu)。此外，上述第五實(shí)施方式中，敘述了使光檢測器281的受光部的配置方式為如圖24所示的結(jié)構(gòu)的情況，但本發(fā)明不限于此，例如也可以如圖27所示，用于檢測跟蹤誤差信號的受光部的配置方式，只要配置在能夠回避入射到受光部a、b、c和d (第一受光部組)的0級衍射光引起的最大層間雜散光的位置上即可。(6)第六實(shí)施方式(6-1)本實(shí)施方式的光拾取器裝置的結(jié)構(gòu)圖I中，350表不本實(shí)施方式的光拾取器裝置。該光拾取器裝置350與第五實(shí)施方式的光拾取器裝置280的不同之處僅在于光檢測器351的受光部結(jié)構(gòu)。實(shí)際上，第五實(shí)施方式中，說明了用于檢測跟蹤誤差信號的受光部組中的受光部al和bl以及受光部cl和dl分別在切線方向上排列，并使受光部al和bl以及受光部cl和dl夾著受光部el、H、gl和hi (第二受光部組)配置的情況，但本實(shí)施方式的光檢測器351中，說明用于檢測跟蹤誤差信號的受光部組中的受光部e6、f6、g6和h6 (第十二受光部組)在徑向方向上排列，進(jìn)而受光部ab6和cd6 (第十三受光部組)在切線方向排列于同一延長線上配置的情況。由此，與第五實(shí)施方式的光拾取器裝置280同樣,本實(shí)施方式的光拾取器裝置350中也能夠有效地回避最小層間雜散光和最大層間雜散光，減小光檢測器351上的受光部的面積。圖28是表示第六實(shí)施方式的光拾取器裝置350中使用的光檢測器351的受光部結(jié)構(gòu)的一例。本實(shí)施方式的光檢測器351中，透過第五實(shí)施方式的全息元件281 (圖23)的區(qū)域Dab、Dcd、De、Df、Dg、Dh和Di的0級衍射光，入射到受光部a、b、c和d (第一受光部組)。根據(jù)從該光檢測器351上的受光部a、b、c和d (第一受光部組)與光量相應(yīng)地輸出的信號A、B、C和D能夠得到聚焦誤差信號和RF信號。本實(shí)施方式中，使用像散方式，根據(jù)信號A、B、C和D按照下式生成聚焦誤差信號FES [式I6]FES = (A+C) - (B+D)...... (16)此外，根據(jù)信號A、B、C和D按照下式生成RF信號RF [式17]RF = A+B+C+D...... (17)此外，在全息元件281的區(qū)域Dab、Dcd、De、Df、Dg和Dh中衍射的+1級衍射光，分別入射到圖28所不的光檢測器351的受光部ab6、cd6、e6、f6、g6和h6中。根據(jù)從該光檢測器351的受光部ab6、cd6、e6、f6、g6和h6與光量相應(yīng)地輸出的信號AB6、CD6、E6、F6、G6和H6，能夠得到跟蹤誤差信號。另外，在區(qū)域Di中衍射的+1級衍射光(未圖示)視為無用光，在切線方向上避開光檢測器351的受光部入射。本實(shí)施方式中，使用單光束DPP方式，根據(jù)信號AB6、CD6、E6、F6、G6和H6按照下式生成跟蹤誤差信號TES [式I8]TES = (AB6-CD6)-kt{(E6+F6)-(G6+H6)}...... (18)式(18)中的kt，是用于在物鏡10發(fā)生透鏡移位時，修正式(18)中第一項(xiàng)的信號中所含的偏移成分和式(18)中第二項(xiàng)的信號中所含的偏移成分的系數(shù)。通過進(jìn)行這樣的運(yùn)算，能夠生成即使在物鏡10發(fā)生透鏡移位時也不會產(chǎn)生偏移的穩(wěn)定的跟蹤誤差信號。以下說明本實(shí)施方式中的多層光盤3的雜散光回避方法。首先說明本實(shí)施方式的最小層間雜散光回避方法。本實(shí)施方式中的光檢測器351的受光部中，也會因?yàn)殡x焦入射到受光部的光束LI而產(chǎn)生與圖5和圖6所示的受光部上產(chǎn)生的雜散光同樣的雜散光。從而，光檢測器351中，在徑向方向上排列對在全息元件281的區(qū)域De、Dh、Dg和Df (第一分割區(qū)域)中衍射的光束進(jìn)行檢測的受光部e6、h6、f6和g6 (第十二受光部組)，在切線方向上排列對在區(qū)域Dab和Dcd (第四分割區(qū)域)中衍射的光束進(jìn)行檢測的受光部ab6和cd6 (第十三受光部組)，由此將最小層間雜散光的影響抑制在最小限度。因此，本實(shí)施方式的光檢測器351，如圖28所示，在徑向方向上排列對在全息元件281的區(qū)域De、Dh、Dg和Df (第一分割區(qū)域)中衍射的光束LI進(jìn)行檢測的受光部e6、f6、g6和h6 (第十二受光部組),并使在徑向方向上排列的受光部f6和g6以及受光部e6和h6與在切線方向上排列的受光部ab6和cd6在切線方向上離開規(guī)定量，配置在避開雜散光的位置上。光檢測器282中，對于全息元件281的區(qū)域中在切線方向上離開中心部32的區(qū)域De、Df、Dg和Dh (第一分割區(qū)域)，使雜散光在切線方向上回避，對于全息元件281的區(qū)域中在徑向方向上離開中心部32的區(qū)域Dab和Dcd (第四分割區(qū)域)，使雜散光在徑向方向上回避。由此，光檢測器282能夠有效地回避最小層間雜散光。接著說明本實(shí)施方式的最大層間雜散光回避方法。圖29是從沿著光軸方向的方向觀看在全息元件281的各區(qū)域Dab Dh中衍射而入射到光檢測器351的受光部ab h6 的光束LI的概要俯視圖。圖29所示的黑點(diǎn)和斜線部表示接收物鏡10聚焦在光盤3中期望的信息記錄層上的情況下的光束LI的受光部上的光斑。圖29所示的虛線部表示最大層間雜散光。在說明最大層間雜散光時，必須針對物鏡10聚焦在多層光盤3的最外信息記錄層的情況下產(chǎn)生的來自最內(nèi)信息記錄層的雜散光(最大層間雜散光)，和物鏡10聚焦在最內(nèi)信息記錄層的情況下產(chǎn)生的來自最外信息記錄層的雜散光(最大層間雜散光)進(jìn)行說明。但是，為了簡化說明，以下在圖29中表示聚焦在最內(nèi)側(cè)記錄層上時來自最外側(cè)記錄層的雜散光的情況進(jìn)行說明。本實(shí)施方式中的光檢測器351中，將由受光部e6、f6、g6和h6 (第十二受光部組)與受光部ab6和cd6 (第十三受光部組)構(gòu)成的用于檢測跟蹤誤差信號的受光部組相對于第一受光部組配置在徑向方向的位置上，并回避因0級衍射光入射到受光部a、b、c和d (第一受光部組)而產(chǎn)生的最大層間雜散光370。由此，光檢測器351能夠回避因0級衍射光而產(chǎn)生的最大層間雜散光370。此外，在全息元件281的區(qū)域Dab和Dcd (第四受光部組)中衍射的雜散光，根據(jù)期望的信息記錄層與其他信息記錄層的間隔的不同而在徑向方向上移動，所以不會入射到相對于受光部ab6和cd6配置在大致切線方向上的受光部e6、f6、g6和h6 (第十二受光部組)中。但是，在全息元件281的區(qū)域Dab和Dcd (第四受光部組)中衍射的雜散光，與層間隔相應(yīng)地在光檢測器282上在切線方向上擴(kuò)大，所以使在徑向方向上排列的受光部f6和g6以及受光部e6和h6與在切線方向上排列的受光部ab6和cd6配置于在切線方向上離開規(guī)定量的位置上。由此，光檢測器282的各受光部能夠完全回避最大層間雜散光。(6-2)本實(shí)施方式的效果如上所述，根據(jù)本實(shí)施方式的光拾取器裝置230，可以得到與第一實(shí)施方式的光拾取器裝置5同樣的效果。(6-3)第六實(shí)施方式的變形例此外，上述第六實(shí)施方式中，敘述了使光檢測器351的受光部的配置方式為如圖28所示的結(jié)構(gòu)的情況，但本發(fā)明不限于此，例如也可以如圖30 (A)和圖30 (B)所示，用于檢測跟蹤誤差信號的受光部的配置方式，只要配置在能夠回避入射到受光部a、b、c和d(第一受光部組)的O級衍射光引起的最大層間雜散光的位置上即可。(7)第七實(shí)施方式(7-1)本實(shí)施方式的光拾取器裝置的結(jié)構(gòu)圖31表示第七實(shí)施方式的光拾取器裝置400，其中，與圖2的對應(yīng)部分標(biāo)注相同符號表示。該光拾取器裝置400，不僅對應(yīng)BD(Blu-ray Disc，藍(lán)光光盤)，也對應(yīng)DVD(DigitalVersatile Disc,數(shù)字多用途光盤)和⑶(Compact Disc光盤),所以與第一實(shí)施方式的光拾取器裝置5的不同之處在于光拾取器裝置400中的光學(xué)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)和光檢測器414的受光部結(jié)構(gòu)。實(shí)際上，第一實(shí)施方式中，說明了光拾取器裝置5對BD進(jìn)行再現(xiàn)和記錄的情況，但本實(shí)施方式中的光拾取器裝置400中，為了除BD外還能對DVD和⑶進(jìn)行再現(xiàn)和記錄，在第一實(shí)施方式中的光拾取器裝置5的光學(xué)系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)上增加用于對DVD和CD以光學(xué)的方式 再現(xiàn)和記錄數(shù)據(jù)的結(jié)構(gòu)，由此，光檢測器414的結(jié)構(gòu)也在第一實(shí)施方式的光檢測器29的結(jié)構(gòu)中增加用于接收DVD和CD上反射的光束LI的結(jié)構(gòu)。圖31表示圖I的光盤裝置I上搭載的光拾取器裝置400的光學(xué)系統(tǒng)。光拾取器裝置400，如圖31所示，在第一實(shí)施方式中的用于對BD以光學(xué)方式讀寫數(shù)據(jù)的光學(xué)系統(tǒng)之夕卜，還具備用于對CD或DVD以光學(xué)方式讀寫數(shù)據(jù)的光學(xué)系統(tǒng)20。其中，用于對BD以光學(xué)方式讀寫數(shù)據(jù)的光學(xué)系統(tǒng)，具備半導(dǎo)體激光器20、分束器410、分束器21、前端監(jiān)測器411、準(zhǔn)直透鏡23、立起反射鏡24、1/4波片25、致動器412、物鏡10、全息元件27、檢測透鏡28和光檢測器413。半導(dǎo)體激光器20由出射與BD規(guī)格對應(yīng)的大致405[nm]波段的發(fā)散光光束LI的激光二極管構(gòu)成，由上述激光器發(fā)光驅(qū)動電路6 (圖1)，例如在記錄動作時根據(jù)記錄對象的數(shù)據(jù)相應(yīng)地閃爍驅(qū)動，在再現(xiàn)動作時以一定的功率發(fā)光驅(qū)動。此外，分束器410和分束器21是使光束LI透射或?qū)⑵浞指顬?束以上的光束的光學(xué)部件。驅(qū)動半導(dǎo)體激光器20時從該半導(dǎo)體激光器20出射的光束LI，透過分束器410入射到分束器21。然后，光束LI被分割為透過分束器21而入射到前端監(jiān)測器411的光束LI，和在分束器21上反射而入射到準(zhǔn)直透鏡23的光束LI。前端監(jiān)測器411是用于檢測光束LI的光量的光學(xué)部件，在為了提高光盤3的記錄再現(xiàn)動作的精度而將光束LI的光量控制為所要求的值時使用。具體而言，前端監(jiān)測器411檢測來自半導(dǎo)體激光器20的光束LI的光量變化，將檢測結(jié)果反饋到控制電路13 (圖I)。由此，能夠在控制電路13的控制下，控制對光盤3照射的光束LI的光量。準(zhǔn)直透鏡23這一光學(xué)部件，由在光軸方向上驅(qū)動該準(zhǔn)直透鏡23的機(jī)構(gòu)在光軸方向上對其進(jìn)行驅(qū)動，而改變光束LI的發(fā)散和會聚狀態(tài)，用于對因光盤3的保護(hù)層的厚度誤差引起的球面像差進(jìn)行補(bǔ)償。然后，透過準(zhǔn)直透鏡23的光束LI被立起反射鏡24反射，入射到1/4波片25。1/4波片25是使直線偏振光成為圓偏振光的光學(xué)部件。具體而言,光束LI被1/4波片25變換為圓偏振光，通過搭載在致動器412上的物鏡10聚焦在光盤3上。接著，光束LI被光盤3上的軌道衍射為3束光束(光盤0級衍射光、光盤+1級衍射光和光盤-I級衍射光)。其中，物鏡10是使光束LI的光束聚焦的光學(xué)元件，能夠在驅(qū)動物鏡10的致動器的作用下，在接近或遠(yuǎn)離光盤3的方向上移位，或在光盤3的徑向方向上傾斜。另一方面，在光盤3上反射的光束LI，被物鏡10變換為平行光之后，順序通過1/4波片25、立起反射鏡24、準(zhǔn)直透鏡23和分束器21，入射到全息元件27。全息元件27上，存在用于使入射的光束LI分別向不同的方向衍射的分割區(qū)域。被該全息元件27衍射的光束LI，在被檢測透鏡28附加像散后入射到光檢測器413。此外，光檢測器413是能夠使光束LI聚焦的受光部結(jié)構(gòu)，該光檢測器413對入射到受光部的光束LI進(jìn)行光電變換。光檢測器413將得到的信號發(fā)送到信息信號再現(xiàn)電路7和伺服信號再現(xiàn)電路8，由信息信號再現(xiàn)電路7生成作為再現(xiàn)信號的RF信號，由伺服信號再現(xiàn)電路8生成作為伺服信號的聚焦誤差信號和跟蹤誤差信號等。此外，用于對CD和DVD以光學(xué)方式讀寫數(shù)據(jù)的光學(xué)系統(tǒng)，具備半導(dǎo)體激光器414、衍射光柵415、分束器410、分束器21、前端監(jiān)測器411、準(zhǔn)直透鏡23、立起反射鏡416、1/4波片417、致動器412、物鏡418、全息元件27、檢測透鏡28和光檢測器413。 半導(dǎo)體激光器414由出射與CD規(guī)格對應(yīng)的大致785 [nm]波段的發(fā)散光光束L2和與DVD規(guī)格對應(yīng)的大致660[nm]波段的發(fā)散光光束L3的激光二極管構(gòu)成。從半導(dǎo)體激光器414出射的激光L2和L3，由上述激光器發(fā)光驅(qū)動電路6 (圖I)，例如在記錄動作時根據(jù)記錄對象的數(shù)據(jù)相應(yīng)地閃爍驅(qū)動，在再現(xiàn)動作時以一定的功率發(fā)光驅(qū)動。此外，衍射光柵415是使光束L2和L3衍射為3束光束L2和L3 (0級衍射光、+1級衍射光和-I級衍射光)的用于與CD和DVD兼容的光學(xué)元件。例如現(xiàn)有的DPP方式，需要在光盤3上使+1級衍射光和-I級衍射光相對于0級衍射光在半徑方向上偏離1/2軌道間距。但是，例如DVD的情況下，存在軌道間距不同的DVD土R/RW (軌道間距0. 74[ y m])、DVD-RAMl (軌道間距L48[iim]^PDVD-RAM2 (軌道間距I. 23 [ y m])，存在用于進(jìn)行與各規(guī)格分別對應(yīng)的光斑的配置難以實(shí)現(xiàn)的問題。但是，通過使用衍射光柵415，使3束光束L2和L3中+1級衍射光和-I級衍射光在衍射光柵的半徑方向具有相位差，由此即使在軌道間距不同的光盤3的同一軌道上DPP方式也成立。例如，采用日本特開2007-317331的衍射光柵。但是并不限定于該衍射光柵。從半導(dǎo)體激光器414出射的激光L2和L3，在被衍射光柵415至少衍射為0級衍射光、+1級衍射光和-I級衍射光這3束光束之后，被分束器410反射而入射到分束器21。然后，光束L2和L3被分割為透過分束器21而入射到前端監(jiān)測器411的光束L2和L3，和在分束器21上反射而入射到準(zhǔn)直透鏡23的光束L2和L3。然后，入射到準(zhǔn)直透鏡23的光束L2，被準(zhǔn)直透鏡23變換為平行光，被立起反射鏡416反射，通過1/4波片417，被致動器412上搭載的物鏡10聚焦在光盤2上。這樣，被衍射光柵415分割而成的0級衍射光、+1級衍射光和-I級衍射光，被物鏡418分別獨(dú)立地聚焦在光盤3的信息記錄面上形成3個會聚光斑。其中，立起反射鏡416和1/4波片417，與用于對BD以光學(xué)方式讀寫數(shù)據(jù)的光學(xué)系統(tǒng)中的立起反射鏡24和1/4波片25為同樣的結(jié)構(gòu)，所以省略詳細(xì)說明。另一方面，在光盤3上反射的光束L2，在被物鏡418變換為平行光之后，順序通過1/4波片417、立起反射鏡416、準(zhǔn)直透鏡23和分束器21，入射到全息元件27。全息元件27上，存在用于使入射的光束L2分別向不同的方向衍射的分割區(qū)域。被該全息元件27衍射的光束L2和L3，在被檢測透鏡28附加像散后入射到光檢測器413。
此外，光檢測器413是能夠使光束L2聚焦的受光部結(jié)構(gòu)，該光檢測器413對入射到受光部的光束L2和L3進(jìn)行光電變換。光檢測器413將得到的信號發(fā)送到信息信號再現(xiàn)電路7和伺服信號再現(xiàn)電路8，由信息信號再現(xiàn)電路7生成作為再現(xiàn)信號的RF信號，由伺服信號再現(xiàn)電路8生成作為伺服信號的聚焦誤差信號和跟蹤誤差信號等。圖32表示圖30中的光檢測器413中的受光部的配置方式的一例。圖中的斜線部和黑點(diǎn)表示信號光。本實(shí)施方式的光檢測器413，如圖32所示，除圖4所示的第一實(shí)施方式的光檢測器29中的用于使來自BD的信息記錄面的光束LI入射而檢測信號的受光部的配置方式的結(jié)構(gòu)外，還具備用于使來自CD或DVD的信息記錄面的光束L2和L3入射而檢測信號的受光部。從而，本實(shí)施方式的光檢測器413中用于回避雜散光、檢測穩(wěn)定的跟蹤誤差信號的受光部，與第一實(shí)施方式的光檢測器29中用于檢測跟蹤誤差信號的受光部的配置方式相同，所以本實(shí)施方式的最大層間雜散光和最小層間雜散光下的雜散光的回避方法，與第一實(shí)施方式相同。因此省略本實(shí)施方式中的最大層間雜散光和最小層間雜散光下的雜散光的回避方法的詳細(xì)說明。 以下先說明BD的信號檢測方法。透過全息元件27的區(qū)域Da、Db、Dc、DcU De、Df、Dg、Dh和Di的光束LI的0級衍射光，分別入射到受光部10a、10b、10c和IOd (第十四受光部組)。根據(jù)從該光檢測器413上的受光部10a、10b、10c和IOd (第十四受光部組)與光量相應(yīng)地輸出的信號10A、10B、10C和IOD能夠得到聚焦誤差信號和RF信號。本實(shí)施方式中，使用像散方式，根據(jù)信號10A、10BU0C和IOD按照下式生成聚焦誤差信號FES [式19]FES= (10A+10C)-(10B+10D)...... (19)此外，根據(jù)信號10A、10BU0C和IOD按照下式生成RF信號RF [式2O]RF = 10A+10B+10C+10D...... (20)此外，在全息元件27的區(qū)域Da、Db、Dc、Dd、De、Df、Dg和Dh中衍射的+1級衍射光，分別入射到圖32所示的光檢測器413的受光部&1、131、(31、(11、61^141和111中。根據(jù)從該光檢測器413上的受光部al、bl、cl、dl、el、f I、gl和hi與光量相應(yīng)地輸出的信號A1、B1、C1、D1、E1、F1、G1和H1，能夠得到跟蹤誤差信號。另外，在區(qū)域Di中衍射的+1級衍射光(未圖示)視為無用光，在徑向方向上避開光檢測器413的受光部入射。本實(shí)施方式中，使用單光束DPP方式，根據(jù)信號Al、BI、Cl、Dl、El、Fl、Gl和Hl按照下式生成跟蹤誤差信號TES [式21]TES = {(A1+B1)-(C1+D1)}-ktb{(E1+F1)-(G1+H1)}...... (21)式(21)中的ktb，是用于在物鏡10發(fā)生透鏡移位時，修正式(21)中第一項(xiàng)的信號中所含的偏移成分和式(21)中第二項(xiàng)的信號中所含的偏移成分的系數(shù)。通過進(jìn)行這樣的運(yùn)算，能夠生成即使在物鏡10發(fā)生透鏡移位時也不會產(chǎn)生偏移的穩(wěn)定的跟蹤誤差信號。接著說明DVD的信號檢測方法。透過全息元件413的區(qū)域Da、Db、Dc、DcU De、Df、Dg、Dh和Di的光束L2，入射到受光部10a、10b、10c和IOd (第十四受光部組)，受光部10e、10f、10g和IOh (第十五受光部組)，以及受光部10i、10j、10k和101 (第十六受光部組)。根據(jù)從該檢測器413上受光部10a、10b、10c和IOd (第十四受光部組)，受光部IOeUOfUOg^P IOh (第十五受光部組)和受光部IOi、10j、10k和101(第十六受光部組)與光量相應(yīng)地輸出的信號10A、10B、10C、10D、10E、10F、10G、10H、101、10J、IOK和IOL能夠得到聚焦誤差信號和RF信號。本實(shí)施方式中，使用像散方式，根據(jù)信號10A、10B、10C、10D、10E、10F、10G、10H、101、10JU0K和IOL按照下式生成聚焦誤差信號FES
[式22]FES= {(10A+10C)-(10B+10D)}-kfd{(10E+10G+10I+10K)-(10F+10H+10J+10L)}...... (22)式(22)的kfd是使聚焦誤差信號中不會產(chǎn)生軌道槽橫穿信號的系數(shù)。此外，根據(jù)信號10A、10BU0C和IOD按照下式生成RF信號RF [式23]RF = 10A+10B+10C+10D...... (23)此外，根據(jù)從該檢測器413上的受光部10a、10b、IOc和IOd (第十四受光部組)，受光部10e、10f、10g和IOh (第十五受光部組)，以及受光部10i、10j、10k和101 (第十六受光部組)與光量相應(yīng)地輸出的信號 10A、10B、10C、10D、10E、10F、10G、10H、101、10JU0K 和 IOL
能夠得到跟蹤誤差信號。本實(shí)施方式中，CD和DVD的跟蹤誤差信號的檢測例如使用3光束差動推挽方式(以下稱其為 3 光束 DPP (Differential Push Pull)方式)。3光束DPP方式，是用3束光束進(jìn)行DPP的方法，由于3光束DPP方式是周知的技術(shù)，故此處省略進(jìn)一步說明。本實(shí)施方式中，使用3光束DPP方式，根據(jù)信號10A、10B、10C、10D、10E、10F、10G、10H、101、10JU0K和IOL按照下式生成跟蹤誤差信號TES [式24]TES= {(10A+10D)-(10B+10C)}-ktd{(10E+10F+10I+10J)- (10G+10H+10K+10L)}...... (24)式(24)中的ktd，是用于在物鏡10發(fā)生透鏡移位時，修正式(24)中第一項(xiàng)的信號中所含的偏移成分和式(24)中第二項(xiàng)的信號中所含的偏移成分的系數(shù)。接著，說明⑶的信號檢測方法。透過全息元件413的區(qū)域Da、Db、Dc、DcU De、Df、Dg、Dh和Di的光束L3，入射到受光部20a、20b、20c和20d (第十四受光部組)，受光部20e、20f、20g和20h (第十七受光部組)，以及受光部20i、20j、20k和201 (第十八受光部組)。根據(jù)從該檢測器413上受光部20a、20b、20c和20d (第十四受光部組)，受光部20e、20f、20g和20h (第十七受光部組)，以及受光部20i、20j、20k和201 (第十八受光部組)與光量相應(yīng)地輸出的信號20A、20B、20C、20D、20E、20F、20G、20H、20I、20J、20K和20L能夠得到聚焦誤差信號和RF信號。本實(shí)施方式中，使用像散方式，根據(jù)信號20A、20B、20C、20D、20E、20F、20G、20H、20I、20J、20K和20L按照下式生成聚焦誤差信號FES [式25]FES= {(20A+20C)-(20B+20D)}...... (25)此外，根據(jù)信號20A、20B、20C、20D按照下式生成RF信號RF
[式26]RF = 20A+20B+20C+20D...... (26)此外，根據(jù)從該光檢測器413上的受光部20a、20b、20c和20d (第十四受光部組)，受光部20e、20f、20g和20h (第十七受光部組)，以及受光部20i、20j、20k和201 (第十八受光部組)與光量相應(yīng)地輸出的信號20A、20B、20C、20D、20E、20F、20G、20H、20I、20J、20K和
20L能夠得到跟蹤誤差信號。本實(shí)施方式中，使用3光束DPP方式，根據(jù)信號20A、20B、20C、20D、20E、20F、20G、20H、20I、20J、20K和20L按照下式生成跟蹤誤差信號TES [式27]TES= {(20A+20D)-(20B+20C)}-ktd{(20E+20F+20I+20J)-(20G+20H+20K+20L)}...... (27)式(27)中的ktd，是用于在物鏡10發(fā)生透鏡移位時，修正式(27)中第一項(xiàng)的信號中所含的偏移成分和式(27)中第二項(xiàng)的信號中所含的偏移成分的系數(shù)。(7-2)本實(shí)施方式的效果如上所述，根據(jù)本實(shí)施方式的光拾取器裝置400，可以得到與第一實(shí)施方式的光拾取器裝置5同樣的效果。(8)第八實(shí)施方式(8-1)本實(shí)施方式的光拾取器裝置的結(jié)構(gòu)圖31中，430表示本實(shí)施方式的光拾取器裝置。該光拾取器裝置430與第七實(shí)施方式的光拾取器裝置400的不同之處僅在于光檢測器431的受光部結(jié)構(gòu)。實(shí)際上，本實(shí)施方式的光檢測器431的受光部的配置方式，如圖33所示，在圖11所示的第二實(shí)施方式的光檢測器131中的用于使來自BD的信息記錄面的光束LI入射而檢測信號的受光部的配置方式的結(jié)構(gòu)外，還具備用于使來自CD或DVD的信息記錄面的光束L2和L3入射而檢測信號的受光部。其中，本實(shí)施方式中的光檢測器431的受光部10a、10b、10c和10d，受光部e2、f2、g2和h2 (第四受光部組)，以及受光部a2、b2、c2和d2 (第五受光部組)，對應(yīng)于第二實(shí)施方式的光檢測器131的受光部a、b、c和d (第一受光部組),受光部e2、f2、g2和h2 (第四受光部組)，以及受光部a2、b2、c2和d2 (第五受光部組)。從而，本實(shí)施方式的光檢測器431中用于回避雜散光、檢測穩(wěn)定的跟蹤誤差信號的受光部，與第二實(shí)施方式的光檢測器131中用于檢測跟蹤誤差信號的受光部配置方式相同，所以本實(shí)施方式的最大層間雜散光和最小層間雜散光下的雜散光的回避方法，與第二實(shí)施方式相同。因此省略本實(shí)施方式中的最大層間雜散光和最小層間雜散光下的雜散光的回避方法的詳細(xì)說明。(8-2)本實(shí)施方式的效果如上所述，根據(jù)本實(shí)施方式的光拾取器裝置430，可以得到與第七實(shí)施方式的光拾取器裝置400同樣的效果。(9)第九實(shí)施方式(9-1)本實(shí)施方式的光拾取器裝置的結(jié)構(gòu)圖31中表不了對于與第七實(shí)施方式的光拾取器裝置400對應(yīng)的部分標(biāo)注相同的符號表不的本實(shí)施方式的光拾取器裝置440。該光拾取器裝置440與第七實(shí)施方式的光拾取器裝置400的不同之處僅在于光檢測器441的受光部結(jié)構(gòu)。實(shí)際上，本實(shí)施方式的光檢測器441的受光部的配置方式，如圖34所示，在圖15所示的第三實(shí)施方式的光檢測器171中的用于使來自BD的信息記錄面的光束L1入射而檢測信號的受光部的配置方式的結(jié)構(gòu)外，還具備用于使來自CD或DVD的信息記錄面的光束L2和L3入射而檢測信號的受光部。其中，本實(shí)施方式中的光檢測器441的受光部10a、10b、IOc和10d，受光部e3、f3、g3和h3 (第六受光部組)，以及受光部a3、b3、c3和d3 (第七受光部組)，對應(yīng)于第三實(shí)施方式的光檢測器171的受光部a、b、c和d (第一受光部組),受光部e3、f3、g3和h3 (第六受光部組)，以及受光部a3、b3、c3和d3 (第七受光部組)。從而，本實(shí)施方式的光檢測器441中用于回避雜散光、檢測穩(wěn)定的跟蹤誤差信號的受光部，與第三實(shí)施方式的光檢測器171中用于檢測跟蹤誤差信號的受光部的配置方式相同，所以本實(shí)施方式的最大層間雜散光和最小層間雜散光下的雜散光的回避方法，與第三實(shí)施方式相同。因此省略本實(shí)施方式中的最大層間雜散光和最小層間雜散光下的雜散光的回避方法的詳細(xì)說明。(9-2)本實(shí)施方式的效果如上所述，根據(jù)本實(shí)施方式的光拾取器裝置440，可以得到與第七實(shí)施方式的光拾取器裝置400同樣的效果。(10)第十實(shí)施方式(10-1)本實(shí)施方式的光拾取器裝置的結(jié)構(gòu)圖31中表示了對于與第七實(shí)施方式的光拾取器裝置400對應(yīng)的部分標(biāo)注相同的符號表不的本實(shí)施方式的光拾取器裝置450。該光拾取器裝置450與第七實(shí)施方式的光拾取器裝置400的不同之處僅在于光檢測器451的受光部結(jié)構(gòu)。實(shí)際上，本實(shí)施方式的光檢測器451的受光部的配置方式，如圖35所示，在圖19所示的第四實(shí)施方式的光檢測器231中的用于使來自BD的信息記錄面的光束L1入射而檢測信號的受光部的配置方式的結(jié)構(gòu)外，還具備用于使來自CD或DVD的信息記錄面的光束L2和L3入射而檢測信號的受光部。
其中，本實(shí)施方式中的光檢測器451的受光部10&、1013、10(3和10(1，受光部64、料、g4和h4 (第八受光部組)，以及受光部a4、b4、c4和d4 (第九受光部組)，對應(yīng)于第四實(shí)施方式的光檢測器231的受光部a、b、c和d (第一受光部組),受光部e4、f4、g4和h4 (第八受光部組)，以及受光部a4、b4、c4和d4 (第九受光部組)。從而，本實(shí)施方式的光檢測器451中用于回避雜散光、檢測穩(wěn)定的跟蹤誤差信號的受光部，與第四實(shí)施方式的光檢測器231中用于檢測跟蹤誤差信號的受光部的配置方式相同，所以本實(shí)施方式的最大層間雜散光和最小層間雜散光下的雜散光的回避方法，與第四實(shí)施方式相同。因此省略本實(shí)施方式中的最大層間雜散光和最小層間雜散光下的雜散光的回避方法的詳細(xì)說明。( 10-2)本實(shí)施方式的效果如上所述，根據(jù)本實(shí)施方式的光拾取器裝置450，可以得到與第七實(shí)施方式的光拾取器裝置400同樣的效果。 (11)第i^一實(shí)施方式(11-1)本實(shí)施方式的光拾取器裝置的結(jié)構(gòu)圖31中,460表不本實(shí)施方式的光拾取器裝置。該光拾取器裝置460與第七實(shí)施方式的光拾取器裝置400的不同之處僅在于光檢測器461的受光部結(jié)構(gòu)。實(shí)際上，本實(shí)施方式的光檢測器461的受光部的配置方式，如圖36所示，在圖24所示的第五實(shí)施方式的光檢測器282中的用于使來自BD的信息記錄面的光束LI入射而檢測信號的受光部的配置方式的結(jié)構(gòu)外，還具備用于使來自CD或DVD的信息記錄面的光束L2和L3入射而檢測信號的受光部。其中，本實(shí)施方式中的光檢測器461的受光部10a、10b、10c和10d，受光部e5、f5、g5和h5 (第十受光部組)，以及受光部a5、b5、c5和d5 (第^ 受光部組)，對應(yīng)于第五實(shí)施方式的光檢測器282的受光部a、b、c和d (第一受光部組),受光部e5、f5、g5和h5 (第十受光部組)，以及受光部a5、b5、c5和d5 (第^ 受光部組)。從而，本實(shí)施方式的光檢測器461中用于回避雜散光、檢測穩(wěn)定的跟蹤誤差信號的受光部，與第五實(shí)施方式的光檢測器282中用于檢測跟蹤誤差信號的受光部的配置方式相同，所以本實(shí)施方式的最大層間雜散光和最小層間雜散光下的雜散光的回避方法，與第五實(shí)施方式相同。因此省略本實(shí)施方式中的最大層間雜散光和最小層間雜散光下的雜散光的回避方法的詳細(xì)說明。(11-2)本實(shí)施方式的效果如上所述，根據(jù)本實(shí)施方式的光拾取器裝置460，可以得到與第七實(shí)施方式的光拾取器裝置400同樣的效果。(12)第十二實(shí)施方式(12-1)本實(shí)施方式的光拾取器裝置的結(jié)構(gòu)圖31中，470表示本實(shí)施方式的光拾取器裝置。該光拾取器裝置470與第七實(shí)施方式的光拾取器裝置400的不同之處僅在于光檢測器471的受光部結(jié)構(gòu)。實(shí)際上，本實(shí)施方式的光檢測器471的受光部的配置方式，如圖37所示，在圖28所示的第六實(shí)施方式的光檢測器351中的用于使來自BD的信息記錄面的光束LI入射而檢測信號的受光部的配置方式的結(jié)構(gòu)外，還具備用于使來自CD或DVD的信息記錄面的光束L2和L3入射而檢測信號的受光部。其中，本實(shí)施方式中的光檢測器471的受光部10a、10b、IOc和10d，受光部e6、f6、g6和h6 (第十二受光部組)，以及受光部a6、b6、c6和d6 (第十三受光部組)，對應(yīng)于第六實(shí)施方式的光檢測器351的受光部a、b、c和d (第一受光部組),受光部e6、f6、g6和h6 (第十二受光部組)，以及受光部a6、b6、c6和d6 (第十三受光部組)。從而，本實(shí)施方式的光檢測器471中用于回避雜散光、檢測穩(wěn)定的跟蹤誤差信號的受光部，與第六實(shí)施方式的光檢測器351中用于檢測跟蹤誤差信號的受光部的配置方式相同，所以本實(shí)施方式的最大層間雜散光和最小層間雜散光下的雜散光的回避方法，與第六實(shí)施方式相同。因此省略本實(shí)施方式中的最大層間雜散光和最小層間雜散光下的雜散光的回避方法的詳細(xì)說明。( 12-2)本實(shí)施方式的效果
如上所述，根據(jù)本實(shí)施方式的光拾取器裝置470，可以得到與第七實(shí)施方式的光拾取器裝置400同樣的效果。(13)第十三實(shí)施方式(13-1)本實(shí)施方式的光拾取器裝置的結(jié)構(gòu)圖38表不第十三實(shí)施方式的光盤裝置480,其中與圖I對應(yīng)的部分標(biāo)注相同的符號表不。該光盤裝置480與第一 第十二實(shí)施方式的光盤裝置I的不同之處在于，第一 第十二實(shí)施方式中的光盤裝置I是具有對光盤3記錄和再現(xiàn)信息的功能的光盤裝置1，而本實(shí)施方式的光盤裝置，僅對光盤3進(jìn)行光學(xué)再現(xiàn)。實(shí)際上，第一 第十二實(shí)施方式中的光盤裝置1，說明了為了對光盤3記錄和再現(xiàn)信息而具有信息信號記錄電路14的情況，但本實(shí)施方式的光盤裝置480，由于是僅對光盤3進(jìn)行光學(xué)再現(xiàn)的結(jié)構(gòu)，所以沒有信息記錄電路14。從而，本實(shí)施方式的光盤裝置480與第一 第十二實(shí)施方式的光盤裝置I的不同之處僅在于沒有信息記錄電路14，所以省略其詳細(xì)說明。( 13-2)本實(shí)施方式的效果如上所述，根據(jù)本實(shí)施方式的光盤裝置480，可以得到與第一 第十二實(shí)施方式的光盤裝置I同樣的效果。(14)其他實(shí)施方式此外，上述第一 第十三實(shí)施方式中，敘述了將全息元件27、281配置成使得在光盤3的信息記錄層上反射的光束LI在透過分束器21后通過全息元件27、281的情況，但本發(fā)明不限于此，也可以使全息元件27、281為偏振全息元件等衍射光柵，配置在透過分束器之前。此外，上述第一 第十三實(shí)施方式中，敘述了光檢測器29、131、171、231、282、351、413、441、451、461、471檢測被全息元件27、281衍射的+1級衍射光的情況，但本發(fā)明不限于此，也可以檢測-I級衍射光，也可以是其他級數(shù)的例如±2級衍射光或±3級衍射光等。進(jìn)而，上述第一 第十三實(shí)施方式中，敘述了將跟蹤誤差信號的受光部配置在透過全息元件27、281的0級衍射光引起的最大層間雜散光之外的情況，但本發(fā)明不限于此，在雜散光的影響較小的情況下，不一定要回避最大層間雜散光。此外，也可以應(yīng)用反射鏡代替分束器21。該情況下，也可以利用全息元件對因反射鏡產(chǎn)生的彗差和像散進(jìn)行修正。
產(chǎn)業(yè)利用性 本發(fā)明能夠廣泛應(yīng)用于支持具有多個信息記錄層的光盤的光拾取器裝置。
權(quán)利要求
1.一種光拾取器裝置，其特征在于，包括 出射激光的半導(dǎo)體激光器； 用于使從所述半導(dǎo)體激光器出射的光束會聚而照射到光盤上的物鏡； 將從所述光盤反射的光束分束的衍射元件；和 具有接收由所述衍射元件分束后的光束的多個受光部的光檢測器，其中， 所述衍射元件具有第一、第二、第三分割區(qū)域， 所述第三分割區(qū)域是包含所述衍射元件的中心的區(qū)域， 所述第一分割區(qū)域是位于通過所述衍射元件的大致中心且在與所述光盤的軌道大致平行的方向上延伸的直線上的區(qū)域， 所述第二分割區(qū)域是位于通過所述衍射元件的大致中心且在與所述光盤的軌道大致垂直的方向上延伸的直線上的區(qū)域， 所述第一分割區(qū)域或所述第二分割區(qū)域的衍射光至少被分割為4部分，以入射到至少4個受光部， 所述第一分割區(qū)域、所述第二分割區(qū)域和所述第三分割區(qū)域的O級衍射光由被至少分割為4部分的受光部檢測， 在與所述光盤的軌道大致垂直的方向上，排列有對在所述第一分割區(qū)域中以I級以上的衍射級數(shù)衍射的光束進(jìn)行檢測的至少2個受光部。
2.一種光拾取器裝置，其特征在于，包括 出射激光的半導(dǎo)體激光器； 用于使從所述半導(dǎo)體激光器出射的光束會聚而照射到光盤上的物鏡； 將從所述光盤反射的光束分束的衍射元件；和 具有接收由所述衍射元件分束后的光束的多個受光部的光檢測器， 所述衍射元件具有第一、第二、第三分割區(qū)域， 所述第三分割區(qū)域是包含所述衍射元件的中心的區(qū)域， 所述第一分割區(qū)域是位于通過所述衍射元件的大致中心且在與所述光盤的軌道大致平行的方向上延伸的直線上的區(qū)域， 所述第二分割區(qū)域是位于通過所述衍射元件的大致中心且在與所述光盤的軌道大致垂直的方向上延伸的直線上的區(qū)域， 所述第一分割區(qū)域或所述第二分割區(qū)域的衍射光至少被分割為4部分，以入射到至少4個受光部， 所述第一分割區(qū)域、所述第二分割區(qū)域、所述第三分割區(qū)域的O級衍射光由被至少分割為4部分的受光部檢測， 在與所述光盤的軌道大致平行的方向上，排列有對在所述第二分割區(qū)域中以I級以上的衍射級數(shù)衍射的光束進(jìn)行檢測的至少2個受光部。
3.一種光拾取器裝置，其特征在于，包括 出射激光的半導(dǎo)體激光器； 用于使從所述半導(dǎo)體激光器出射的光束會聚而照射到光盤上的物鏡； 將從所述光盤反射的光束分束的衍射元件；和 具有接收由所述衍射元件分束后的光束的多個受光部的光檢測器，所述衍射元件具有第一、第二、第三分割區(qū)域， 因所述光盤上的軌道而衍射的光盤衍射光中，光盤O級衍射光入射到所述第一分割區(qū)域，光盤O級、光盤±1級衍射光入射到所述第二分割區(qū)域， 所述第一分割區(qū)域或所述第二分割區(qū)域的衍射光至少被分割為4部分，以入射到至少4個受光部， 所述第一分割區(qū)域、所述第二分割區(qū)域和所述第三分割區(qū)域的O級衍射光由被至少分割為4部分的受光部檢測， 在與所述光盤的軌道大致垂直的方向上，排列有對在所述第一分割區(qū)域中以I級以上的衍射級數(shù)衍射的光束進(jìn)行檢測的至少2個受光部。
4.一種光拾取器裝置，其特征在于，包括 出射激光的半導(dǎo)體激光器； 用于使從所述半導(dǎo)體激光器出射的光束會聚而照射到光盤上的物鏡； 將從所述光盤反射的光束分束的衍射元件；和 具有接收由所述衍射元件分束后的光束的多個受光部的光檢測器， 所述衍射元件具有第一、第二、第三分割區(qū)域， 因所述光盤上的軌道而衍射的光盤衍射光中，光盤O級衍射光入射到所述第一分割區(qū)域，光盤O級、光盤±1級衍射光入射到所述第二分割區(qū)域， 所述第一分割區(qū)域或所述第二分割區(qū)域的衍射光至少被分割為4部分，以入射到至少4個受光部， 所述第一分割區(qū)域、所述第二分割區(qū)域、所述第三分割區(qū)域的O級衍射光由被至少分割為4部分的受光部檢測， 在與所述光盤的軌道大致平行的方向上，排列有對在所述第二分割區(qū)域中以I級以上的衍射級數(shù)衍射的光束進(jìn)行檢測的至少2個受光部。
5.一種光拾取器裝置，其特征在于，包括 出射激光的半導(dǎo)體激光器； 用于使從所述半導(dǎo)體激光器出射的光束會聚而照射到光盤上的物鏡； 將從所述光盤反射的光束分束的衍射元件；和 具有接收由所述衍射元件分束后的光束的多個受光部的光檢測器， 所述衍射元件具有第一、第二、第三分割區(qū)域， 所述第三分割區(qū)域是包含所述衍射元件的中心的區(qū)域， 所述第一分割區(qū)域是包含所述衍射元件的四角的規(guī)定區(qū)域， 所述第二分割區(qū)域是所述第一分割區(qū)域和所述第三分割區(qū)域以外的區(qū)域， 所述第一分割區(qū)域或所述第二分割區(qū)域的衍射光至少被分割為4部分，以入射到至少4個受光部， 所述第一分割區(qū)域、所述第二分割區(qū)域和所述第三分割區(qū)域的O級衍射光由被至少分割為4部分的受光部檢測， 在與所述光盤的軌道大致垂直的方向上，排列有對在所述第一分割區(qū)域中以I級以上的衍射級數(shù)衍射的光束進(jìn)行檢測的至少2個受光部。
6.一種光拾取器裝置，其特征在于，包括出射激光的半導(dǎo)體激光器； 用于使從所述半導(dǎo)體激光器出射的光束會聚而照射到光盤上的物鏡； 將從所述光盤反射的光束分束的衍射元件；和 具有接收由所述衍射元件分束后的光束的多個受光部的光檢測器， 所述衍射元件具有第一、第二、第三分割區(qū)域， 所述第三分割區(qū)域是包含所述衍射元件的中心的區(qū)域， 所述第一分割區(qū)域是包含所述衍射元件的四角的規(guī)定區(qū)域， 所述第二分割區(qū)域是所述第一分割區(qū)域和所述第三分割區(qū)域以外的區(qū)域， 所述第一分割區(qū)域或所述第二分割區(qū)域的衍射光至少被分割為4部分，以入射到至少4個受光部， 所述第一分割區(qū)域、所述第二分割區(qū)域、所述第三分割區(qū)域的O級衍射光由被至少分割為4部分的受光部檢測， 在與所述光盤的軌道大致平行的方向上，排列有對在所述第二分割區(qū)域中以I級以上的衍射級數(shù)衍射的光束進(jìn)行檢測的至少2個受光部。
7.如權(quán)利要求I 6中任一項(xiàng)所述的光拾取器裝置，其特征在于，包括 接收所述第一分割區(qū)域、所述第二分割區(qū)域、所述第三分割區(qū)域的O級衍射光的第一受光部組； 對在所述第一分割區(qū)域中以I級以上的衍射級數(shù)衍射的光束進(jìn)行檢測的第二受光部組；和 對在所述第二分割區(qū)域中以I級以上的衍射級數(shù)衍射的光束進(jìn)行檢測的第三受光部組， 所述第二受光部組和所述第三受光部組，相對于所述第一受光部組，配置在大致同一個方向上。
8.如權(quán)利要求I 7中任一項(xiàng)所述的光拾取器裝置，其特征在于 所述第一分割區(qū)域，被通過所述衍射元件的大致中心且在與所述光盤的軌道大致平行的方向上延伸的直線和所述第二分割區(qū)域、所述第三分割區(qū)域分割為4部分。
9.如權(quán)利要求I 8中任一項(xiàng)所述的光拾取器裝置，其特征在于 所述第二分割區(qū)域，被通過所述衍射元件的大致中心且在與所述光盤的軌道大致垂直的方向上延伸的直線和所述第一分割區(qū)域、所述第三分割區(qū)域分割為4部分。
10.如權(quán)利要求I 9中任一項(xiàng)所述的光拾取器裝置，其特征在于 檢測跟蹤誤差信號的受光部，配置在對多層光盤進(jìn)行記錄/再現(xiàn)時所述衍射元件的O級衍射光的雜散光的外側(cè)。
11.如權(quán)利要求I 10中任一項(xiàng)所述的光拾取器裝置，其特征在于 根據(jù)對所述第一分割區(qū)域、所述第二分割區(qū)域、所述第三分割區(qū)域的O級衍射光進(jìn)行檢測而得的信號，生成像散方式的聚焦誤差信號。
12.如權(quán)利要求I 11中任一項(xiàng)所述的光拾取器裝置，其特征在于 根據(jù)對所述第一分割區(qū)域、所述第二分割區(qū)域、所述第三分割區(qū)域的O級衍射光進(jìn)行檢測而得的信號，生成再現(xiàn)信號。
13.如權(quán)利要求I 12中任一項(xiàng)所述的光拾取器裝置，其特征在于所述衍射元件，是具有對衍射光至少附加像散的功能的全息元件。
14.一種光盤裝置，其特征在于，包括 權(quán)利要求I 13中任一項(xiàng)所述的光拾取器裝置； 驅(qū)動所述光拾取器裝置內(nèi)的所述半導(dǎo)體激光器的激光器發(fā)光驅(qū)動電路； 使用從所述光拾取器裝置內(nèi)的所述光檢測器檢測到的信號，生成聚焦誤差信號和跟蹤誤差信號的伺服信號生成電路；和 對光盤中記錄的信息信號進(jìn)行再現(xiàn)的信息信號再現(xiàn)電路。
全文摘要
本發(fā)明提供一種光拾取器裝置和光盤裝置，在對具有多個信息記錄層的光盤進(jìn)行記錄和再現(xiàn)的情況下，能夠生成穩(wěn)定的伺服信號，并且能夠低成本、小型化。衍射元件具有第一、第二、第三分割區(qū)域，第三分割區(qū)域包含衍射元件的中心，第一分割區(qū)域位于通過衍射元件的大致中心且在與光盤的軌道大致平行的方向上延伸的直線上，第二分割區(qū)域位于通過衍射元件的大致中心且在與光盤的軌道大致垂直的方向上延伸的直線上，且至少被分為4部分，第一分割區(qū)域、第二分割區(qū)域、第三分割區(qū)域的0級衍射光由被至少分割為4部分的受光部檢測，對在第一分割區(qū)域中以1級以上的衍射級數(shù)衍射的光束進(jìn)行檢測的至少2個受光部，在與光盤的軌道大致垂直的方向上排列。
文檔編號G11B7/1353GK102820042SQ20121018510
公開日2012年12月12日 申請日期2012年6月6日 優(yōu)先權(quán)日2011年6月9日
發(fā)明者山崎和良 申請人:日立視聽媒體股份有限公司