電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器非易失性存儲器故障檢測方法
【專利摘要】本發(fā)明屬于電機(jī)驅(qū)動控制【技術(shù)領(lǐng)域】，提供了一種電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器非易失性存儲器故障檢測方法及系統(tǒng)。該方法及系統(tǒng)是在不同的PWM信號周期內(nèi)，分別對一非易失性存儲器的不同存儲單元進(jìn)行一位錯誤故障檢測，在一個非易失性存儲器的存儲單元全部檢測完畢后，才開始進(jìn)入下一個非易失性存儲器的檢測，實(shí)現(xiàn)了在一定PWM中斷頻率下、對非易失性存儲器的分周期故障檢測，從而能及時發(fā)現(xiàn)非易失性存儲器的故障情況并對電機(jī)采取保護(hù)，而不影響電機(jī)的正常運(yùn)行，提高了電機(jī)控制系統(tǒng)運(yùn)行的可靠性。
【專利說明】電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器非易失性存儲器故障檢測方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本發(fā)明屬于電機(jī)驅(qū)動控制【技術(shù)領(lǐng)域】，尤其涉及一種電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器非易失性存儲器故障檢測方法及系統(tǒng)。
【背景技術(shù)】
[0002]隨著技術(shù)電子技術(shù)的進(jìn)步，在機(jī)電領(lǐng)域，普遍采用微電子控制技術(shù)實(shí)現(xiàn)對電機(jī)的控制及驅(qū)動。圖1以三相電機(jī)控制系統(tǒng)為例，示出了現(xiàn)有采用磁場導(dǎo)向控制(FieldOriented Control, FOC)技術(shù)的電機(jī)控制系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)原理。
[0003]具體來說，現(xiàn)有的電機(jī)控制系統(tǒng)包括用于將直流輸入轉(zhuǎn)換成三相交流輸出的三相逆變器、以及用于輸出PWM信號以驅(qū)動三相逆變器工作的微處理器。其中，位置和速度估算模塊估算電機(jī)的轉(zhuǎn)速ω ;速度PI調(diào)節(jié)模塊根據(jù)位置和速度估算模塊得到的偏差輸出T軸參考分量IS(Lreq ;ADC采樣模塊從三相逆變器的輸出采樣得到三相定子線圈電流，并經(jīng)A./D轉(zhuǎn)換和坐標(biāo)變換后，得到旋轉(zhuǎn)坐標(biāo)系中的直流分量Isd和Isq ;將T軸參考分量IS(LM1和M軸參考分量Isd—_分別與直流分量Isq和13(1進(jìn)行比較，得到的偏差分別經(jīng)相應(yīng)的轉(zhuǎn)矩電流PI調(diào)節(jié)模塊和勵磁電流PI調(diào)節(jié)模塊的調(diào)節(jié)，得到旋轉(zhuǎn)坐標(biāo)系的相電壓分量Uq和Ud，之后再通過坐標(biāo)變換，得到α-β直角坐標(biāo)系的定子相電壓矢量的分量仏和化；脈寬調(diào)制模塊根據(jù)兩個分量Ua和化計算實(shí)際輸出的PWM信號的占空比，生成并輸出具有相應(yīng)占空比的PWM信號，同時，ADC米樣模塊根據(jù)脈寬調(diào)制模塊的輸出，在PWM信號的下一周期進(jìn)行ADC米樣。
[0004]在微處理器中，非易失性存儲器由于其掉電保持的特性，一般用于存放不會被頻繁修改的可執(zhí)行代碼等。在電機(jī)控制系統(tǒng)的實(shí)際工作過程中，非易失性存儲器會出現(xiàn)數(shù)據(jù)存儲錯誤，造成非易失性存儲器失效。而現(xiàn)有技術(shù)并未提供非易失性存儲器的故障檢測方法，無法及時發(fā)現(xiàn)非易失性存儲器的故障情況并進(jìn)行保護(hù)，使得電機(jī)控制系統(tǒng)的運(yùn)行存在隱患，可靠性差，甚至造成電機(jī)的損毀。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明實(shí)施例的目的在于提供一種電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器非易失性存儲器故障檢測方法，旨在解決現(xiàn)有技術(shù)提供電機(jī)控制系統(tǒng)無法及時發(fā)現(xiàn)非易失性存儲器出現(xiàn)的故障情況，使得電機(jī)控制系統(tǒng)運(yùn)行可靠性差的問題。
[0006]本發(fā)明實(shí)施例是這樣實(shí)現(xiàn)的，一種電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器非易失性存儲器故障檢測方法，所述方法包括以下步驟:
[0007]在當(dāng)前PWM中斷的時間內(nèi)，設(shè)置當(dāng)前待測的非易失性存儲器中待測存儲單元的內(nèi)存地址范圍；
[0008]在所述當(dāng)前PWM中斷的時間內(nèi)，根據(jù)所述內(nèi)存地址范圍，利用數(shù)據(jù)校驗(yàn)法對所述當(dāng)前待測的非易失性存儲器的一位錯誤故障進(jìn)行檢測；
[0009]若所述當(dāng)前待測的非易失性存儲器檢測完畢，則將當(dāng)前檢測完畢的非易失性存儲器的檢測結(jié)束標(biāo)志位置位。[0010]本發(fā)明實(shí)施例的另一目的在于，還提供了一種電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器非易失性存儲器故障檢測系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括:
[0011]設(shè)置模塊，用于在當(dāng)前PWM中斷的時間內(nèi)，設(shè)置當(dāng)前待測的非易失性存儲器中待測存儲單元的內(nèi)存地址范圍；
[0012]檢測模塊，用于在所述當(dāng)前PWM中斷的時間內(nèi)，根據(jù)所述設(shè)置模塊設(shè)置的所述內(nèi)存地址范圍，利用數(shù)據(jù)校驗(yàn)法對所述當(dāng)前待測的非易失性存儲器的一位錯誤故障進(jìn)行檢測；
[0013]執(zhí)行模塊，用于在所述檢測模塊執(zhí)行完畢后，若所述當(dāng)前待測的非易失性存儲器檢測完畢，則將當(dāng)前檢測完畢的非易失性存儲器的檢測結(jié)束標(biāo)志位置位，
[0014]本發(fā)明實(shí)施例的另一目的在于，還提供了一種電機(jī)控制系統(tǒng)的微處理器，包括非易失性存儲器，以及連接非易失性存儲器的故障檢測系統(tǒng)，所述故障檢測系統(tǒng)是如上所述的電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器非易失性存儲器故障檢測系統(tǒng)。
[0015]本發(fā)明實(shí)施例提供的電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器非易失性存儲器故障檢測方法及系統(tǒng)是在不同的PWM信號周期內(nèi)，分別對一非易失性存儲器的不同存儲單元進(jìn)行一位錯誤故障檢測，在一個非易失性存儲器的存儲單元全部檢測完畢后，才開始進(jìn)入下一個非易失性存儲器的檢測，實(shí)現(xiàn)了在一定PWM中斷頻率下、對非易失性存儲器的分周期故障檢測，從而能及時發(fā)現(xiàn)非易失性存儲器的故障情況并對電機(jī)采取保護(hù)，而不影響電機(jī)的正常運(yùn)行，提高了電機(jī)控制系統(tǒng)運(yùn)行的可靠性。
【專利附圖】

【附圖說明】
[0016]圖1是現(xiàn)有技術(shù)提供的電機(jī)控制系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)原理圖；
[0017]圖2是本發(fā)明實(shí)施例一提供的電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器非易失性存儲器故障檢測方法的流程圖；
[0018]圖3是本發(fā)明實(shí)施例一的對當(dāng)前待測的非易失性存儲器的一位錯誤故障進(jìn)行檢測的詳細(xì)流程圖；
[0019]圖4是本發(fā)明實(shí)施例二提供的電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器非易失性存儲器故障檢測方法的流程圖；
[0020]圖5是本發(fā)明實(shí)施例三提供的電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器非易失性存儲器故障檢測系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)圖；
[0021]圖6是圖5中檢測模塊的結(jié)構(gòu)圖；
[0022]圖7是本發(fā)明實(shí)施例四提供的電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器非易失性存儲器故障檢測系統(tǒng)的結(jié)構(gòu)圖。
【具體實(shí)施方式】
[0023]為了使本發(fā)明的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實(shí)施例，對本發(fā)明進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實(shí)施例僅僅用以解釋本發(fā)明，并不用于限定本發(fā)明。
[0024]針對現(xiàn)有技術(shù)存在的問題，本發(fā)明提出了一種電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器非易失性存儲器故障檢測方法及系統(tǒng)。該方法及系統(tǒng)是在不同的PWM信號周期內(nèi)，分別對一非易失性存儲器的不同存儲單元進(jìn)行一位錯誤故障檢測。以下將結(jié)合實(shí)施例詳細(xì)說明本發(fā)明的實(shí)現(xiàn)方式:
[0025]實(shí)施例一
[0026]本發(fā)明實(shí)施例一提出了一種電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器非易失性存儲器故障檢測方法,如圖2所示,包括:
[0027]步驟S1:在當(dāng)前PWM中斷的時間內(nèi)，設(shè)置當(dāng)前待測的非易失性存儲器中待測存儲單元的內(nèi)存地址范圍。
[0028]本發(fā)明實(shí)施例一中，微處理器中需要進(jìn)行故障檢測的非易失性存儲器至少包括ROM存儲器和FLASH存儲器；R0M存儲器和FLASH存儲器分別包括若干存儲單元。
[0029]本發(fā)明實(shí)施例一中，設(shè)置內(nèi)存地址范圍即設(shè)置當(dāng)前PWM信號的周期內(nèi)，當(dāng)前待測的非易失性存儲器中，需要進(jìn)行故障檢測的存儲單元的范圍。例如，可以通過設(shè)置內(nèi)存地址范圍，設(shè)定當(dāng)前PWM信號的周期內(nèi)，需要檢測FLASH存儲器中的128個存儲單元。
[0030]本發(fā)明實(shí)施例一中，微處理器每產(chǎn)生一個周期的PWM信號波形觸發(fā)一次PWM中斷，PWM中斷的時間是指PWM信號的一個周期時長(即PWM信號的頻率的倒數(shù))。
[0031]步驟S2:在當(dāng)前PWM中斷的時間內(nèi)，根據(jù)內(nèi)存地址范圍，利用數(shù)據(jù)校驗(yàn)法對當(dāng)前待測的非易失性存儲器的一位錯誤故障進(jìn)行檢測。其中，數(shù)據(jù)校驗(yàn)法優(yōu)選為循環(huán)冗余校驗(yàn)(Cyclic Redundancy Check, CRC)。進(jìn)一步地,如圖3所不，步驟S2可包括以下步驟:
[0032]S21:在當(dāng)前PWM中斷的時間內(nèi)，關(guān)閉微處理器的全局中斷，以啟動對當(dāng)前待測的非易失性存儲器的故障檢測。
[0033]本發(fā)明實(shí)施例一中，關(guān)閉全局中斷即是說，在待測存儲單元的故障檢測過程中，不響應(yīng)其它任何中斷，以保證待測存儲單元的故障檢測過程不被可能的中斷打斷。
[0034]本發(fā)明實(shí)施例一中，根據(jù)實(shí)際需要，當(dāng)前待測的非易失性存儲器可以是ROM存儲器或FLASH存儲器。
[0035]S22:根據(jù)設(shè)置的內(nèi)存地址范圍的起始值，跳轉(zhuǎn)到相應(yīng)的非易失性存儲器的待測存儲單元。
[0036]S23:對每一待測存儲單元分別進(jìn)行循環(huán)冗余校驗(yàn)。
[0037]S24:在當(dāng)前PWM中斷的時間內(nèi)，打開微處理器的全局中斷。
[0038]S25:若待測存儲單元的循環(huán)冗余校驗(yàn)通過，則判斷當(dāng)前類型的非易失性存儲器是否檢測完畢；若待測存儲單元的循環(huán)冗余校驗(yàn)沒有通過，則判定非易失性存儲器出現(xiàn)一位錯誤故障。
[0039]步驟S3:若當(dāng)前待測的非易失性存儲器檢測完畢，則將當(dāng)前檢測完畢的非易失性存儲器的檢測結(jié)束標(biāo)志位置位；若當(dāng)前待測的非易失性存儲器沒有檢測完畢，則在進(jìn)入下一 PWM中斷后，在下一 PWM中斷的時間內(nèi)，繼續(xù)對當(dāng)前待測的非易失性存儲器中給定范圍的存儲單元進(jìn)行故障檢測。
[0040]本發(fā)明實(shí)施例一提供的電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器非易失性存儲器故障檢測方法是在不同的PWM信號周期內(nèi)，分別對一非易失性存儲器的不同存儲單元進(jìn)行一位錯誤故障檢測，在一個非易失性存儲器的存儲單元全部檢測完畢后，才開始進(jìn)入下一個非易失性存儲器的檢測，實(shí)現(xiàn)了在一定PWM中斷頻率下、對非易失性存儲器的分周期故障檢測，從而能及時發(fā)現(xiàn)非易失性存儲器的故障情況并對電機(jī)采取保護(hù)，而不影響電機(jī)的正常運(yùn)行，提高了電機(jī)控制系統(tǒng)運(yùn)行的可靠性。
[0041]實(shí)施例二
[0042]本發(fā)明實(shí)施例二提出了一種電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器非易失性存儲器故障檢測方法，如圖4所示。與實(shí)施例一不同，實(shí)施例二中，在步驟SI之前還包括:
[0043]步驟SO:觸發(fā)當(dāng)前P麗中斷，并根據(jù)當(dāng)前PWM中斷，利用ADC采樣模塊在上次PWM中斷的時間內(nèi)采集的電機(jī)定子線圈電流，計算ADC采樣模塊在下次PWM中斷的時間內(nèi)的采樣時刻，即根據(jù)當(dāng)前PWM中斷首先執(zhí)行算法程序，例如執(zhí)行FOC算法。
[0044]同時與實(shí)施例一不同，實(shí)施例二中，在步驟S3之后還包括:
[0045]步驟S4:在當(dāng)前PWM中斷的時間內(nèi)，在上次PWM中斷的時間內(nèi)計算得到的采樣時刻到達(dá)時，觸發(fā)ADC中斷，以使得ADC采樣模塊對電機(jī)定子線圈電流進(jìn)行正常采集和轉(zhuǎn)換。
[0046]本發(fā)明實(shí)施例二中，ADC采樣模塊對電機(jī)定子線圈電流的采樣時刻發(fā)生在當(dāng)前PWM中斷的最后四分之一周期內(nèi)。
[0047]與實(shí)施例一不同，本發(fā)明實(shí)施例二提供的電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器非易失性存儲器故障檢測方法在一次PWM中斷開始后，首先執(zhí)行算法程序，之后執(zhí)行如上實(shí)施例一所述的非易失性存儲器的故障檢測，之后在打開全局中斷后ADC采樣模塊執(zhí)行對電機(jī)定子線圈電流的采樣和轉(zhuǎn)換，從而不影響電機(jī)的正常運(yùn)行。此時，要保證算法程序的執(zhí)行時間與ADC采樣模塊的正常電流采樣之間的時間間隔大于易失性存儲器故障檢測的時間，例如，當(dāng)PWM中斷的頻率為8KHz時，每一 P麗中斷的時間內(nèi)對FLASH存儲器中的128個待測存儲單元進(jìn)行故障檢測，且故障檢測的時間可為15μ S，之后在下一 PWM中斷的時間內(nèi)，順次對同一FLASH存儲器中的下128個待測存儲單元進(jìn)行故障檢測，以此類推，直到同一 FLASH存儲器中的每一存儲單元均檢測完畢。
[0048]實(shí)施例三
[0049]本發(fā)明實(shí)施例三提出了一種電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器非易失性存儲器故障檢測系統(tǒng)，如圖5所示，為了便于說明，僅示出了與本發(fā)明實(shí)施例三相關(guān)的部分。
[0050]詳細(xì)而言，本發(fā)明實(shí)施例三提出的電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器非易失性存儲器故障檢測系統(tǒng)包括:設(shè)置模塊1，用于在當(dāng)前PWM中斷的時間內(nèi)，設(shè)置當(dāng)前待測的非易失性存儲器中待測存儲單元的內(nèi)存地址范圍；檢測模塊2，用于在當(dāng)前PWM中斷的時間內(nèi)，根據(jù)設(shè)置模塊I設(shè)置的內(nèi)存地址范圍，利用數(shù)據(jù)校驗(yàn)法對當(dāng)前待測的非易失性存儲器的一位錯誤故障進(jìn)行檢測；執(zhí)行模塊3，用于在檢測模塊2執(zhí)行完畢后，若當(dāng)前待測的非易失性存儲器檢測完畢，則將當(dāng)前檢測完畢的非易失性存儲器的檢測結(jié)束標(biāo)志位置位，若當(dāng)前待測的非易失性存儲器沒有檢測完畢，則在進(jìn)入下一 PWM中斷后，在下一 PWM中斷的時間內(nèi)，繼續(xù)對當(dāng)前待測的非易失性存儲器中給定范圍的存儲單元進(jìn)行故障檢測。
[0051 ] 進(jìn)一步地，如圖6所示，檢測模塊2可包括:啟動子模塊21，用于在當(dāng)前PWM中斷的時間內(nèi)，關(guān)閉微處理器的全局中斷，以啟動對當(dāng)前待測的非易失性存儲器的故障檢測；跳轉(zhuǎn)子模塊22，用于在啟動子模塊21執(zhí)行完畢后，根據(jù)設(shè)置的內(nèi)存地址范圍的起始值，跳轉(zhuǎn)到相應(yīng)的非易失性存儲器的待測存儲單元；校驗(yàn)子模塊23，用于在跳轉(zhuǎn)子模塊22執(zhí)行完畢后，對每一待測存儲單元分別進(jìn)行循環(huán)冗余校驗(yàn)；中斷開啟子模塊24，用于在校驗(yàn)子模塊23執(zhí)行完畢后，在當(dāng)前PWM中斷的時間內(nèi)，打開微處理器的全局中斷；判斷子模塊25，用于在中斷開啟子模塊24執(zhí)行完畢后，若每一待測存儲單元的循環(huán)冗余校驗(yàn)全部通過，則判斷當(dāng)前待測的非易失性存儲器是否檢測完畢，若某一待測存儲單元的循環(huán)冗余校驗(yàn)沒有通過，則判定非易失性存儲器出現(xiàn)一位錯誤故障。
[0052]本發(fā)明實(shí)施例三提供的電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器非易失性存儲器故障檢測系統(tǒng)是在不同的PWM信號周期內(nèi)，分別對一非易失性存儲器的不同存儲單元進(jìn)行一位錯誤故障檢測，在一個非易失性存儲器的存儲單元全部檢測完畢后，才開始進(jìn)入下一個非易失性存儲器的檢測，實(shí)現(xiàn)了在一定PWM中斷頻率下、對非易失性存儲器的分周期故障檢測，從而能及時發(fā)現(xiàn)非易失性存儲器的故障情況并對電機(jī)采取保護(hù)，而不影響電機(jī)的正常運(yùn)行，提高了電機(jī)控制系統(tǒng)運(yùn)行的可靠性。
[0053]實(shí)施例四
[0054]本發(fā)明實(shí)施例四提出了一種電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器非易失性存儲器故障檢測系統(tǒng)，如圖7所示，為了便于說明，僅示出了與本發(fā)明實(shí)施例四相關(guān)的部分。
[0055]與實(shí)施例四不同，實(shí)施例四還包括:計算模塊4，用于觸發(fā)當(dāng)前PWM中斷，在設(shè)置模塊I執(zhí)行前，根據(jù)當(dāng)前PWM中斷，利用ADC采樣模塊在上次PWM中斷的時間內(nèi)采集的電機(jī)定子線圈電流，計算ADC采樣模塊在下次PWM中斷的時間內(nèi)的采樣時刻，即根據(jù)當(dāng)前PWM中斷首先執(zhí)行算法程序，例如執(zhí)行FOC算法；采樣觸發(fā)模塊5，用于在當(dāng)前PWM中斷的時間內(nèi)，在執(zhí)行模塊3執(zhí)行完畢后，在上次PWM中斷的時間內(nèi)計算得到的采樣時刻到達(dá)時，觸發(fā)ADC中斷，以使得ADC采樣模塊對電機(jī)定子線圈電流進(jìn)行正常采集和轉(zhuǎn)換。
[0056]與實(shí)施例四不同，本發(fā)明實(shí)施例四提供電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器非易失性存儲器故障檢測系統(tǒng)在一次PWM中斷開始后，首先執(zhí)行算法程序，之后執(zhí)行如上實(shí)施例一所述的非易失性存儲器的故障檢測，之后在打開全局中斷后ADC采樣模塊執(zhí)行對電機(jī)定子線圈電流的采樣和轉(zhuǎn)換，從而不影響電機(jī)的正常運(yùn)行。
[0057]實(shí)施例五
[0058]本發(fā)明實(shí)施例五提出了一種電機(jī)控制系統(tǒng)的微處理器,包括非易失性存儲器，以及連接非易失性存儲器的故障檢測系統(tǒng)。該故障檢測系統(tǒng)是如上實(shí)施例三或?qū)嵤├乃龅碾姍C(jī)控制系統(tǒng)中微處理器非易失性存儲器故障檢測系統(tǒng)，在此不贅述。
[0059]綜上所述，本發(fā)明提供的電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器非易失性存儲器故障檢測方法及系統(tǒng)是在不同的PWM信號周期內(nèi)，分別對一非易失性存儲器的不同存儲單元進(jìn)行一位錯誤故障檢測，在一個非易失性存儲器的存儲單元全部檢測完畢后，才開始進(jìn)入下一個非易失性存儲器的檢測，實(shí)現(xiàn)了在一定PWM中斷頻率下、對非易失性存儲器的分周期故障檢測，從而能及時發(fā)現(xiàn)非易失性存儲器的故障情況并對電機(jī)采取保護(hù)，而不影響電機(jī)的正常運(yùn)行，提高了電機(jī)控制系統(tǒng)運(yùn)行的可靠性。再有，在一次PWM中斷開始后，首先執(zhí)行FOC算法，之后執(zhí)行非易失性存儲器的故障檢測，之后在打開全局中斷后ADC采樣模塊執(zhí)行對電機(jī)定子線圈電流的采樣和轉(zhuǎn)換，從而不影響電機(jī)的正常運(yùn)行。
[0060]本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實(shí)現(xiàn)上述實(shí)施例方法中的全部或部分步驟是可以通過程序來控制相關(guān)的硬件完成，所述的程序可以在存儲于一計算機(jī)可讀取存儲介質(zhì)中，所述的存儲介質(zhì)，如R0M/RAM、磁盤、光盤等。
[0061]以上所述僅為本發(fā)明的較佳實(shí)施例而已，并不用以限制本發(fā)明，凡在本發(fā)明的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本發(fā)明的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器非易失性存儲器故障檢測方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟: 在當(dāng)前PWM中斷的時間內(nèi)，設(shè)置當(dāng)前待測的非易失性存儲器中待測存儲單元的內(nèi)存地址范圍； 在所述當(dāng)前PWM中斷的時間內(nèi)，根據(jù)所述內(nèi)存地址范圍，利用數(shù)據(jù)校驗(yàn)法對所述當(dāng)前待測的非易失性存儲器的一位錯誤故障進(jìn)行檢測； 若所述當(dāng)前待測的非易失性存儲器檢測完畢，則將當(dāng)前檢測完畢的非易失性存儲器的檢測結(jié)束標(biāo)志位置位。
2.如權(quán)利要求1所述的電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器非易失性存儲器故障檢測方法，其特征在于，所述在所述當(dāng)前PWM中斷的時間內(nèi)，根據(jù)所述內(nèi)存地址范圍，利用數(shù)據(jù)校驗(yàn)法對當(dāng)前的所述待測的非易失性存儲器的一位錯誤故障進(jìn)行檢測的步驟包括以下步驟: 在當(dāng)前PWM中斷的時間內(nèi)，關(guān)閉微處理器的全局中斷，以啟動對當(dāng)前待測的非易失性存儲器的故障檢測； 根據(jù)所述內(nèi)存地址范圍的起始值，跳轉(zhuǎn)到相應(yīng)的非易失性存儲器的待測存儲單元； 對每一所述待測存儲單元分別進(jìn)行循環(huán)冗余校驗(yàn)； 在所述當(dāng)前PWM中斷的時間內(nèi)，打開所述微處理器的全局中斷； 若所述待測存儲單元的循環(huán)冗余校驗(yàn)通過，則判斷所述當(dāng)前類型的非易失性存儲器是否檢測完畢，若所述待測存儲單元的循環(huán)冗余校驗(yàn)沒有通過，則判定所述非易失性存儲器出現(xiàn)一位錯誤故障。
3.如權(quán)利要求1所述的電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器非易失性存儲器故障檢測方法，其特征在于，在所述在當(dāng)前PWM中斷的時間內(nèi)，設(shè)置當(dāng)前待測的非易失性存儲器中待測存儲單元的內(nèi)存地址范圍的步驟之前，所述方法還包括以下步驟:觸發(fā)當(dāng)前PWM中斷，執(zhí)行算法程序，根據(jù)所述當(dāng)前PWM中斷，利用ADC采樣模塊在上次PWM中斷的時間內(nèi)采集的電機(jī)定子線圈電流，計算所述ADC采樣模塊在所述下次PWM中斷的時間內(nèi)的采樣時刻； 在所述若所述當(dāng)前待測的非易失性存儲器檢測完畢，則將當(dāng)前檢測完畢的非易失性存儲器的檢測結(jié)束標(biāo)志位置位的步驟之后，所述方法還包括以下步驟:在所述當(dāng)前PWM中斷的時間內(nèi)，在所述上次PWM中斷的時間內(nèi)計算得到的采樣時刻到達(dá)時，觸發(fā)ADC中斷，以使得所述ADC采樣模塊對所述電機(jī)定子線圈電流進(jìn)行正常采集和轉(zhuǎn)換。
4.如權(quán)利要求1至3任一項所述的電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器非易失性存儲器故障檢測方法，其特征在于，所述當(dāng)前待測的非易失性存儲器是ROM存儲器或FLASH存儲器。
5.一種電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器非易失性存儲器故障檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)包括: 設(shè)置模塊，用于在當(dāng)前PWM中斷的時間內(nèi)，設(shè)置當(dāng)前待測的非易失性存儲器中待測存儲單元的內(nèi)存地址范圍； 檢測模塊，用于在所述當(dāng)前PWM中斷的時間內(nèi)，根據(jù)所述設(shè)置模塊設(shè)置的所述內(nèi)存地址范圍，利用數(shù)據(jù)校驗(yàn)法對所述當(dāng)前待測的非易失性存儲器的一位錯誤故障進(jìn)行檢測； 執(zhí)行模塊，用于在所述檢測模塊執(zhí)行完畢后，若所述當(dāng)前待測的非易失性存儲器檢測完畢，則將當(dāng)前檢測完畢的非易失性存儲器的檢測結(jié)束標(biāo)志位置位，
6.如權(quán)利要求5所述的電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器非易失性存儲器故障檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述檢測模塊包括: 啟動子模塊，用于在當(dāng)前PWM中斷的時間內(nèi)，關(guān)閉微處理器的全局中斷，以啟動對當(dāng)前待測的非易失性存儲器的故障檢測； 跳轉(zhuǎn)子模塊，用于在所述啟動子模塊執(zhí)行完畢后，根據(jù)所述設(shè)置模塊設(shè)置的所述內(nèi)存地址范圍的起始值，跳轉(zhuǎn)到相應(yīng)的非易失性存儲器的待測存儲單元； 校驗(yàn)子模塊，用于在所述跳轉(zhuǎn)子模塊執(zhí)行完畢后，對每一待測存儲單元分別進(jìn)行循環(huán)冗余校驗(yàn)； 中斷開啟子模塊，用于在所述校驗(yàn)子模塊執(zhí)行完畢后，在所述當(dāng)前PWM中斷的時間內(nèi)，打開微處理器的全局中斷； 判斷子模塊，用于在所述中斷開啟子模塊執(zhí)行完畢后，若所述待測存儲單元的循環(huán)冗余校驗(yàn)通過，則判斷所述當(dāng)前類型的非易失性存儲器是否檢測完畢，若所述待測存儲單元的循環(huán)冗余校驗(yàn)沒有通過，則判定所述非易失性存儲器出現(xiàn)一位錯誤故障。
7.如權(quán)利要求5所述的電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器非易失性存儲器故障檢測系統(tǒng)，其特征在于，所述系統(tǒng)還包括: 計算模塊，用于觸發(fā)當(dāng)前PWM中斷，在所述設(shè)置模塊執(zhí)行前，執(zhí)行算法程序，根據(jù)當(dāng)前PWM中斷，利用ADC采樣模塊在上次PWM中斷的時間內(nèi)采集的電機(jī)定子線圈電流，計算所述ADC采樣模塊在下次PWM中斷的時間內(nèi)的采樣時刻； 采樣觸發(fā)模塊，用于在所述當(dāng)前PWM中斷的時間內(nèi)，在所述執(zhí)行模塊執(zhí)行完畢后，在所述上次PWM中斷的時間內(nèi)計算得到的采樣時刻到達(dá)時，觸發(fā)ADC中斷，以使得所述ADC采樣模塊對電機(jī)定子線圈電流進(jìn)行正常采集和轉(zhuǎn)換。
8.一種電機(jī)控制 系統(tǒng)的微處理器，包括非易失性存儲器，其特征在于，所述微處理器還包括連接所述非易失性存儲器的故障檢測系統(tǒng)，所述故障檢測系統(tǒng)是如權(quán)利要求5至7任一項所述的電機(jī)控制系統(tǒng)中微處理器非易失性存儲器故障檢測系統(tǒng)。
【文檔編號】G11C29/56GK103745754SQ201310586812
【公開日】2014年4月23日 申請日期:2013年11月19日 優(yōu)先權(quán)日:2013年11月19日
【發(fā)明者】張倩, 金萬兵, 柯文靜 申請人:廣東威靈電機(jī)制造有限公司