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在線存儲(chǔ)器測試系統(tǒng)及方法

文檔序號(hào):6766743閱讀:249來源:國知局
在線存儲(chǔ)器測試系統(tǒng)及方法
【專利摘要】一種用于在電子存儲(chǔ)器在使用中的同時(shí)測試電子存儲(chǔ)器的方法,包括:(a)于測試地址偵測對(duì)于電子存儲(chǔ)器的存取;(b)于對(duì)應(yīng)于測試地址的位置,將寫入至電子存儲(chǔ)器的寫入數(shù)據(jù)儲(chǔ)存在緩存器次系統(tǒng)中;(c)于對(duì)應(yīng)于測試地址的位置,比較寫入數(shù)據(jù)與從電子存儲(chǔ)器讀取的數(shù)據(jù),用于判斷存儲(chǔ)器是否具有故障;以及(d)若存儲(chǔ)器具有故障,則產(chǎn)生錯(cuò)誤信號(hào)。
【專利說明】在線存儲(chǔ)器測試系統(tǒng)及方法

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本發(fā)明是有關(guān)于一種在線存儲(chǔ)器測試系統(tǒng)及方法。

【背景技術(shù)】
[0002] 多數(shù)的電子裝置包括電子存儲(chǔ)器。舉例而言,計(jì)算裝置包括用于儲(chǔ)存數(shù)據(jù)及指令 的電子存儲(chǔ)器。在另一例子中,影像傳感器正常包括電子存儲(chǔ)器以儲(chǔ)存擷取的影像數(shù)據(jù),直 到影像數(shù)據(jù)被傳送至外部電路以供處理為止。
[0003] 電子存儲(chǔ)器一般包括多數(shù)個(gè)排成陣列的存儲(chǔ)器晶胞,每個(gè)晶胞以二進(jìn)制形式儲(chǔ)存 數(shù)據(jù)單元,例如一位的數(shù)據(jù)。每個(gè)存儲(chǔ)器晶胞或存儲(chǔ)器晶胞的群組用于經(jīng)由確認(rèn)晶胞或晶 胞群組的各個(gè)地址來讀取或?qū)懭攵菀状嫒〉?。每個(gè)存儲(chǔ)器晶胞通常包括一個(gè)或多個(gè)晶體 管,或其它電子裝置,用于儲(chǔ)存一數(shù)據(jù)單元,并用于連接存儲(chǔ)器晶胞與外部電路。
[0004] 存儲(chǔ)器晶胞偶而經(jīng)歷故障,以使它們沒有確實(shí)地儲(chǔ)存數(shù)據(jù)單元。因此,已開發(fā)用 于確認(rèn)有缺點(diǎn)的存儲(chǔ)器晶胞的電子存儲(chǔ)器測試機(jī)構(gòu)。這種機(jī)構(gòu)在存儲(chǔ)器是離線時(shí)被執(zhí)行, 例如立即在存儲(chǔ)器啟動(dòng)之后或在存儲(chǔ)器制造期間。舉例而言,典型的計(jì)算裝置于啟動(dòng)時(shí)執(zhí) 行"開機(jī)自我測試(power-on self-test)"程序,用于測試除其它事項(xiàng)外的裝置的電子存 儲(chǔ)器。


【發(fā)明內(nèi)容】

[0005] 在一實(shí)施例中,一種用于在電子存儲(chǔ)器在使用中的同時(shí)測試電子存儲(chǔ)器的方法包 括:(a)于測試地址偵測對(duì)于電子存儲(chǔ)器的存取;(b)于對(duì)應(yīng)于測試地址的位置,將寫入至 電子存儲(chǔ)器的寫入數(shù)據(jù)儲(chǔ)存在緩存器次系統(tǒng)中;(c)于對(duì)應(yīng)于測試地址的位置,比較寫入 數(shù)據(jù)與從電子存儲(chǔ)器讀取的數(shù)據(jù),用于判斷存儲(chǔ)器是否具有故障;以及(d)若存儲(chǔ)器具有 故障,則產(chǎn)生錯(cuò)誤信號(hào)。
[0006] 在一實(shí)施例中,一種影像傳感器包括:像素陣列,用于產(chǎn)生影像數(shù)據(jù);電子存儲(chǔ) 器,用于儲(chǔ)存影像數(shù)據(jù);存儲(chǔ)器控制器,用于控制影像數(shù)據(jù)的寫入至電子存儲(chǔ)器以及影像數(shù) 據(jù)從電子存儲(chǔ)器的讀??;以及在線存儲(chǔ)器測試系統(tǒng),用于在正常操作期間確認(rèn)存儲(chǔ)器中的 故障。在線存儲(chǔ)器測試系統(tǒng)包括:地址偵測模塊,用于在測試地址偵測對(duì)于電子存儲(chǔ)器的 存取;緩存器次系統(tǒng),用于在對(duì)應(yīng)于測試地址的位置儲(chǔ)存寫入至電子存儲(chǔ)器的寫入數(shù)據(jù); 比較器模塊,用于在對(duì)應(yīng)于測試地址的位置比較儲(chǔ)存的寫入數(shù)據(jù)與從電子存儲(chǔ)器讀取的數(shù) 據(jù),用于判斷存儲(chǔ)器是否具有故障;以及錯(cuò)誤產(chǎn)生器模塊,用于若存儲(chǔ)器具有故障,則產(chǎn)生 錯(cuò)誤信號(hào)。
[0007] 在一實(shí)施例中,一種用于在電子存儲(chǔ)器在使用中的同時(shí)測試電子存儲(chǔ)器的方法, 包括:(a)于測試下的地址范圍之內(nèi)的地址,偵測對(duì)于在電子存儲(chǔ)器之內(nèi)的位置的存??; (b)若所述存取為寫入存取且所述位置位于測試下的地址范圍的起始地址,則初始化寫入 錯(cuò)誤偵測碼;(c)若所述存取為讀取存取且所述位置位于起始地址,則初始化讀取錯(cuò)誤偵 測碼;(d)若所述存取為寫入存取,則更新寫入錯(cuò)誤偵測碼;(e)若所述存取為讀取存取,則 更新讀取錯(cuò)誤偵測碼;(f)偵測讀取錯(cuò)誤偵測碼的完成;(g)當(dāng)完成被偵測時(shí),比較寫入錯(cuò) 誤偵測碼與讀取錯(cuò)誤偵測碼,以判斷存儲(chǔ)器是否具有故障;以及(h)若存儲(chǔ)器具有故障,則 產(chǎn)生錯(cuò)誤信號(hào)。
[0008] 在一實(shí)施例中,一種影像傳感器包括:像素陣列,用于產(chǎn)生影像數(shù)據(jù);電子存儲(chǔ) 器,用于儲(chǔ)存影像數(shù)據(jù);種存儲(chǔ)器控制器,用于控制影像數(shù)據(jù)的寫入至電子存儲(chǔ)器以及影像 數(shù)據(jù)從電子存儲(chǔ)器的讀取;以及在線存儲(chǔ)器測試系統(tǒng),用于在操作期間測試存儲(chǔ)器。在線存 儲(chǔ)器測試系統(tǒng)包括地址偵測模塊、碼產(chǎn)生器模塊、比較器模塊以及錯(cuò)誤產(chǎn)生器模塊。地址偵 測模塊用于在測試下的地址范圍之內(nèi)的位置偵測對(duì)于電子存儲(chǔ)器的存取。碼產(chǎn)生器模塊用 于:(a)若所述存取為寫入存取且所述位置位于測試下的地址范圍的起始地址,則初始化 寫入錯(cuò)誤偵測碼;(b)若所述存取為讀取存取且所述位置位于起始地址,則初始化讀取錯(cuò) 誤偵測碼;(c)若所述存取為寫入存取,則更新寫入錯(cuò)誤偵測碼;(d)若所述存取為讀取存 取,則更新所述讀取錯(cuò)誤偵測碼;以及(d)偵測讀取錯(cuò)誤偵測碼的完成。比較器模塊用于當(dāng) 偵測到完成時(shí),比較寫入錯(cuò)誤偵測碼與讀取錯(cuò)誤偵測碼,用于判斷存儲(chǔ)器是否具有故障。錯(cuò) 誤產(chǎn)生器模塊用于若存儲(chǔ)器具有故障,則產(chǎn)生錯(cuò)誤信號(hào)。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0009] 圖1顯示依據(jù)一實(shí)施例的在一影像傳感器之內(nèi)被實(shí)施的一個(gè)例示的在線存儲(chǔ)器 測試系統(tǒng)。
[0010] 圖2顯示依據(jù)一實(shí)施例的用于在電子存儲(chǔ)器在使用中的同時(shí)測試電子存儲(chǔ)器的 一個(gè)例不方法。
[0011] 圖3顯示依據(jù)一實(shí)施例的在一影像傳感器之內(nèi)被實(shí)施的一個(gè)例示的在線存儲(chǔ)器 測試系統(tǒng)。
[0012] 圖4依據(jù)一實(shí)施例的用于在電子存儲(chǔ)器在使用中的同時(shí)測試電子存儲(chǔ)器的一個(gè) 例示方法。

【具體實(shí)施方式】
[0013] 如上所述,已發(fā)展電子存儲(chǔ)器測試機(jī)構(gòu)。雖然這種機(jī)構(gòu)在確認(rèn)缺陷的存儲(chǔ)器晶胞 方面可能有用,但它們要求存儲(chǔ)器是離線狀,或換言之,要求存儲(chǔ)器在測試期間并非在使用 中。因此,已知的存儲(chǔ)器測試機(jī)構(gòu)將不會(huì)在存儲(chǔ)器在使用中時(shí)偵測存儲(chǔ)器故障,以使結(jié)合存 儲(chǔ)器的系統(tǒng)可能利用缺陷的記憶體操作持續(xù)一段延伸的時(shí)間。利用缺陷的存儲(chǔ)器的操作 在某些應(yīng)用上可能具有嚴(yán)重的不良后果。舉例而言,考慮到一種使用于自驅(qū)動(dòng)汽車中的影 像傳感器,于此自動(dòng)駕駛系統(tǒng)使用來自影像傳感器的影像數(shù)據(jù)以導(dǎo)航汽車。影像傳感器的 存儲(chǔ)器的一個(gè)或多個(gè)存儲(chǔ)器晶胞的故障,可導(dǎo)致無法被自動(dòng)駕駛系統(tǒng)所認(rèn)定的影像數(shù)據(jù)失 真。因此,自動(dòng)駕駛系統(tǒng)可能基于不正確的影像數(shù)據(jù)導(dǎo)航車輛,藉以潛在地導(dǎo)致車輛碰撞及 相關(guān)的傷害及/或財(cái)產(chǎn)損失的風(fēng)險(xiǎn)。
[0014] 因此, 申請(qǐng)人:已發(fā)展出用于測試電子存儲(chǔ)器同時(shí)讓存儲(chǔ)器是在線(或換言之,在 存儲(chǔ)器在使用中的同時(shí))的系統(tǒng)及方法。這種系統(tǒng)及方法在不改變儲(chǔ)存于其中的數(shù)據(jù)內(nèi)容 的情況下測試存儲(chǔ)器。此外,這些系統(tǒng)及方法的某些實(shí)施例能夠?qū)嵸|(zhì)上實(shí)時(shí)偵測存儲(chǔ)器晶 胞故障,藉以潛在地允許存儲(chǔ)器晶胞故障在故障導(dǎo)致顯著的不良后果之前受到處理。這些 系統(tǒng)及方法的可能的應(yīng)用包括但并未受限于影像傳感器應(yīng)用,以在影像傳感器正在取像的 同時(shí),使影像傳感器的存儲(chǔ)器可受到測試,藉以在不需要影像傳感器閑置時(shí)間的情況下啟 動(dòng)存儲(chǔ)器測試。
[0015] 圖1顯示在影像傳感器102之內(nèi)被實(shí)施的一個(gè)例示的在線存儲(chǔ)器測試系統(tǒng)100, 影像傳感器102包括像素陣列104、電子存儲(chǔ)器106以及存儲(chǔ)器控制器108。像素陣列104 擷取入射光,并將擷取的光轉(zhuǎn)換成影像數(shù)據(jù)110。像素陣列104譬如是互補(bǔ)式金氧半導(dǎo)體 (CMOS)像素陣列或電荷耦合裝置(CCD)像素陣列。電子存儲(chǔ)器106包括數(shù)個(gè)存儲(chǔ)器晶胞 (未顯示),用于儲(chǔ)存由像素陣列104所產(chǎn)生的影像數(shù)據(jù)110,直到數(shù)據(jù)被傳送至通信耦接至 影像傳感器102的外部系統(tǒng)111 (例如自動(dòng)駕駛系統(tǒng))為止。存儲(chǔ)器控制器108通信耦接 至像素陣列104、電子存儲(chǔ)器106以及外部系統(tǒng)111,并控制電子存儲(chǔ)器106的操作。舉例 而言,存儲(chǔ)器控制器108控制影像數(shù)據(jù)110從像素陣列104的寫入至電子存儲(chǔ)器106,以及 從電子存儲(chǔ)器106所讀取的影像數(shù)據(jù)110的傳送至外部系統(tǒng)111。
[0016] 在線存儲(chǔ)器測試系統(tǒng)100通信耦接至存儲(chǔ)器控制器108,并操作以在電子存儲(chǔ)器 106的正常讀取/寫入操作(例如,在影像傳感器102正產(chǎn)生影像數(shù)據(jù)110時(shí))期間測試電 子存儲(chǔ)器106。在線存儲(chǔ)器測試系統(tǒng)100包括地址偵測模塊112、比較器模塊114、錯(cuò)誤產(chǎn) 生器模塊116、地址控制模塊118以及緩存器次系統(tǒng)120。在線存儲(chǔ)器測試系統(tǒng)100適合于 測試在電子存儲(chǔ)器106之內(nèi)對(duì)應(yīng)于儲(chǔ)存在緩存器次系統(tǒng)120之內(nèi)的測試地址122的一個(gè)位 置,如下。
[0017] 地址控制模塊118將測試地址122設(shè)定成在待被測試的電子存儲(chǔ)器106之內(nèi)的地 址。地址偵測模塊112監(jiān)視存儲(chǔ)器控制器108的操作,用于在電子存儲(chǔ)器106之內(nèi)的測試地 址122偵測對(duì)于此位置的存取。當(dāng)?shù)刂穫蓽y模塊112偵測數(shù)據(jù)124的寫入至測試地址122 時(shí),在線存儲(chǔ)器測試系統(tǒng)100將數(shù)據(jù)124儲(chǔ)存在緩存器次系統(tǒng)120之內(nèi)。當(dāng)?shù)刂穫蓽y模塊 112偵測數(shù)據(jù)126從位在電子存儲(chǔ)器106之內(nèi)的測試地址122的位置的讀取時(shí),系統(tǒng)100可 選擇地將數(shù)據(jù)126寫入至緩存器次系統(tǒng)120。
[0018] 比較器模塊114比較讀取數(shù)據(jù)126與寫入數(shù)據(jù)124,用于判斷存儲(chǔ)器位置是否已失 效。若讀取數(shù)據(jù)126匹配寫入數(shù)據(jù)124,則在電子存儲(chǔ)器106之內(nèi)對(duì)應(yīng)于測試地址122的位 置被認(rèn)為是正常工作。另一方面,若讀取數(shù)據(jù)126并不匹配寫入數(shù)據(jù)124,則在電子存儲(chǔ)器 106之內(nèi)對(duì)應(yīng)于測試地址122的位置被認(rèn)為是已失效,且錯(cuò)誤產(chǎn)生器模塊116被調(diào)用以產(chǎn) 生錯(cuò)誤信號(hào)128。影像傳感器102可傳遞錯(cuò)誤信號(hào)128給外部系統(tǒng)111,以表示電子存儲(chǔ)器 106的故障。外部系統(tǒng)111可被設(shè)計(jì)成用于采取預(yù)定動(dòng)作(例如開始關(guān)閉程序),以因應(yīng)錯(cuò) 誤信號(hào)128。舉例而言,當(dāng)外部次系統(tǒng)111作為在自驅(qū)動(dòng)汽車中的自動(dòng)駕駛系統(tǒng)的應(yīng)用時(shí), 自動(dòng)駕駛系統(tǒng)可被設(shè)計(jì)成用于在收到錯(cuò)誤信號(hào)128的時(shí)安全地使汽車停止。
[0019] 于一實(shí)施例中,在線存儲(chǔ)器測試系統(tǒng)100被設(shè)計(jì)成用于藉由在每次成功比較之 后,改變測試地址122來連續(xù)測試在電子存儲(chǔ)器106之內(nèi)的每個(gè)位置。在操作的一個(gè)例子 中,地址控制模塊118首先將測試地址122設(shè)定成電子存儲(chǔ)器106的起始地址,且地址控制 模塊118在測試對(duì)應(yīng)于目前測試地址122的存儲(chǔ)器位置之后增加測試地址122,以使在線存 儲(chǔ)器測試系統(tǒng)100在電子存儲(chǔ)器106的正常操作期間,依序跳到并測試在電子存儲(chǔ)器106 之內(nèi)的所有位置。在測試電子存儲(chǔ)器106之內(nèi)的所有位置之后,地址控制模塊118可重設(shè) 測試地址122,以于起始地址重新開始電子存儲(chǔ)器106的測試。在另一實(shí)施例中,地址控制 模塊118控制測試地址122,以依相反順序測試在電子存儲(chǔ)器106之內(nèi)的位置。在另一實(shí)施 例中,地址控制模塊118依序測試在電子存儲(chǔ)器106之內(nèi)的隨機(jī)選擇的位置,以使多數(shù)存儲(chǔ) 器位置隨著時(shí)間的推移可能會(huì)被測試。
[0020] 在線存儲(chǔ)器測試系統(tǒng)100可被修改,以同時(shí)測試電子存儲(chǔ)器106之內(nèi)的多重位置, 用于改善電子存儲(chǔ)器106之內(nèi)的故障偵測速度。舉例而言,在線存儲(chǔ)器測試系統(tǒng)100的一 個(gè)替代實(shí)施例,能夠同時(shí)測試在電子存儲(chǔ)器106之內(nèi)對(duì)應(yīng)于至少兩個(gè)不同地址的位置。
[0021] 雖然圖1將在線存儲(chǔ)器測試系統(tǒng)100、像素陣列104、電子存儲(chǔ)器106以及存儲(chǔ)器 控制器108顯示成是分離的個(gè)別組件,但在不背離于此的范圍之下可結(jié)合這些組件的一個(gè) 或多個(gè)。舉例而言,于一實(shí)施例中,在線存儲(chǔ)器測試系統(tǒng)100被并在存儲(chǔ)器控制器108之內(nèi)。 在某些實(shí)施例中,在線存儲(chǔ)器測試系統(tǒng)100以離散邏輯(discrete logic)被實(shí)施。
[0022] 圖2顯示用于測試電子存儲(chǔ)器同時(shí)它在使用中的一個(gè)例示方法200。舉例而言,方 法200在圖1的在線存儲(chǔ)器測試系統(tǒng)100之內(nèi)被實(shí)施。雖然方法200相對(duì)于圖1的影像傳 感器102被討論于下,但應(yīng)意識(shí)到方法200可以與其它裝置的存儲(chǔ)器一起被使用。此外,影 像傳感器102的在線存儲(chǔ)器測試系統(tǒng)100可在一種除了圖2的方法以外的方法之下操作。
[0023] 在步驟202中,方法200初始化測試地址,其對(duì)應(yīng)于在待被測試的電子存儲(chǔ)器內(nèi)的 位置。在步驟202的一個(gè)例子中,圖1的地址控制模塊118將測試地址122初始化成電子 存儲(chǔ)器106的起始地址。在步驟204中,方法200偵測對(duì)于測試地址的存取。在步驟204 的一個(gè)例子中,地址偵測模塊112偵測對(duì)于在由測試地址122所識(shí)別的電子存儲(chǔ)器106的 測試地址122之內(nèi)的位置的存取。步驟206是一項(xiàng)判斷。若在步驟206中,方法200判斷 步驟204中所偵測到的存取是寫入存取,則方法200繼續(xù)步驟208 ;否則方法200繼續(xù)步驟 210。于步驟208,方法200儲(chǔ)存復(fù)制的寫入數(shù)據(jù)。在步驟208的一個(gè)例子中,在線存儲(chǔ)器測 試系統(tǒng)100將寫入數(shù)據(jù)124儲(chǔ)存在緩存器次系統(tǒng)120中。方法200接著繼續(xù)步驟204。
[0024] 在步驟210中,方法200比較以前儲(chǔ)存的寫入數(shù)據(jù)與于測試地址從電子存儲(chǔ)器讀 取的數(shù)據(jù)。在步驟210的一個(gè)例子中,比較器模塊114比較寫入數(shù)據(jù)124與讀取數(shù)據(jù)126。 步驟212是一項(xiàng)判斷。若在步驟212中,方法200判斷儲(chǔ)存的寫入數(shù)據(jù)與于測試下的地址 從電子存儲(chǔ)器讀取的數(shù)據(jù)相匹配,方法200繼續(xù)步驟214 ;否則,方法200繼續(xù)步驟216。
[0025] 在步驟214中,方法200改變測試地址。在步驟214的一個(gè)例子中,地址控制模 塊118將測試地址122增加至電子存儲(chǔ)器106之內(nèi)的下一個(gè)地址。方法200接著繼續(xù)步驟 204。步驟204至214重復(fù)以測試電子存儲(chǔ)器106之內(nèi)的其它地址。
[0026] 在步驟216中,方法200產(chǎn)生錯(cuò)誤信號(hào)。在步驟216的一個(gè)例子中,錯(cuò)誤產(chǎn)生器模 塊116產(chǎn)生錯(cuò)誤信號(hào)128以表不關(guān)于電子存儲(chǔ)器106的故障。
[0027] 圖3顯示在影像傳感器302中被實(shí)施的一個(gè)例示的在線存儲(chǔ)器測試系統(tǒng)300,影 像傳感器302包括像素陣列304、電子存儲(chǔ)器306以及存儲(chǔ)器控制器308。像素陣列304、 電子存儲(chǔ)器306以及存儲(chǔ)器控制器308,類似于圖1的像素陣列104、電子存儲(chǔ)器106以及 存儲(chǔ)器控制器108。在影像傳感器302的操作期間,影像數(shù)據(jù)310依序地寫入至電子存儲(chǔ) 器306 (例如,從電子存儲(chǔ)器306的第一地址至電子存儲(chǔ)器306的最后地址),且影像傳感器 302依序地讀取來自電子存儲(chǔ)器306的影像數(shù)據(jù)310 (例如,從電子存儲(chǔ)器306的第一地址 至電子存儲(chǔ)器306的最后地址)。
[0028] 在線存儲(chǔ)器測試系統(tǒng)300通信耦接至存儲(chǔ)器控制器308,并操作以在電子存儲(chǔ)器 306的正常讀取/寫入操作(例如,在影像傳感器302正產(chǎn)生影像數(shù)據(jù)310時(shí))期間測試電 子存儲(chǔ)器306。在線存儲(chǔ)器測試系統(tǒng)300包括地址偵測模塊312、比較器模塊314、地址控制 模塊316、錯(cuò)誤產(chǎn)生器模塊318、碼產(chǎn)生器模塊320以及緩存器次系統(tǒng)322。在線存儲(chǔ)器測試 系統(tǒng)300操作以測試在電子存儲(chǔ)器306之內(nèi)對(duì)應(yīng)于測試下的地址范圍的位置,如下。
[0029] 地址控制模塊316設(shè)定電子存儲(chǔ)器306的地址的范圍以供測試。具體言之,地址控 制模塊316將測試下的地址范圍的起始地址324及結(jié)束地址326設(shè)定在緩存器次系統(tǒng)322 中。起始及結(jié)束地址324、326分別落在影像傳感器302的正常操作期間所使用的存儲(chǔ)器位 置之內(nèi)。測試下的地址范圍可包括在電子存儲(chǔ)器306之內(nèi)的某些或所有位置。
[0030] 地址偵測模塊312于在以起始地址324及結(jié)束地址326為界限的地址范圍之內(nèi)的 任何地址,偵測對(duì)于電子存儲(chǔ)器306的存取。當(dāng)?shù)刂穫蓽y模塊312偵測對(duì)于在由起始地址 324所識(shí)別的電子存儲(chǔ)器306內(nèi)的位置的寫入存取時(shí),碼產(chǎn)生器模塊320初始化緩存器次 系統(tǒng)322中的寫入錯(cuò)誤偵測碼328。于一實(shí)施例中,清除寫入錯(cuò)誤偵測碼328,而在另一實(shí) 施例中,寫入錯(cuò)誤偵測碼328被設(shè)定到寫入數(shù)據(jù)332。每次地址偵測模塊312偵測一對(duì)于 在測試下的地址范圍(亦即,以起始地址324及結(jié)束地址326為界限)之內(nèi)的電子存儲(chǔ)器 306的位置的寫入存取,碼產(chǎn)生器模塊320就會(huì)藉由使用寫入數(shù)據(jù)332來更新緩存器次系 統(tǒng)322中的寫入錯(cuò)誤偵測碼328。如上所述,影像數(shù)據(jù)310依序?qū)懭胫岭娮哟鎯?chǔ)器306,且 當(dāng)影像數(shù)據(jù)310于從起始地址324至結(jié)束地址326的位置被寫入至電子存儲(chǔ)器306時(shí),碼 產(chǎn)生器模塊320因此依序更新寫入錯(cuò)誤偵測碼328。
[0031] 當(dāng)?shù)刂穫蓽y模塊312偵測對(duì)于在由起始地址324所識(shí)別的電子存儲(chǔ)器306內(nèi)的位 置的讀取存取時(shí),碼產(chǎn)生器模塊320初始化緩存器次系統(tǒng)322中的讀取錯(cuò)誤偵測碼330。于 一實(shí)施例中,碼產(chǎn)生器模塊320清除讀取錯(cuò)誤偵測碼330,而在另一實(shí)施例中,碼產(chǎn)生器模 塊320將讀取數(shù)據(jù)334寫入至讀取錯(cuò)誤偵測碼330。每次地址偵測模塊312偵測來自在測試 下的地址范圍內(nèi)的電子存儲(chǔ)器306之內(nèi)的位置的讀取存取,碼產(chǎn)生器模塊320就會(huì)基于讀 取數(shù)據(jù)334更新讀取錯(cuò)誤偵測碼330。如上所述,當(dāng)影像數(shù)據(jù)310從于以電子存儲(chǔ)器306內(nèi) 的起始地址324及結(jié)束地址326為界限的地址的位置讀取時(shí),影像數(shù)據(jù)310依序從電子存 儲(chǔ)器306讀取,而碼產(chǎn)生器模塊320因此基于讀取數(shù)據(jù)334依序更新讀取錯(cuò)誤偵測碼330。 在某些實(shí)施例中,碼產(chǎn)生器模塊320判斷藉由使用循環(huán)冗余檢驗(yàn)(CRC)技術(shù)而分別地讀取 并寫入錯(cuò)誤偵測碼328、330,以使每一個(gè)錯(cuò)誤偵測碼328、330分別為于在測試下的地址范 圍之內(nèi)的地址位置寫入至電子存儲(chǔ)器306數(shù)據(jù),并從電子存儲(chǔ)器306讀取的數(shù)據(jù)的CRC值。
[0032] 因?yàn)橛跋駭?shù)據(jù)310的寫入及讀取是連續(xù)的,所以可在碼產(chǎn)生器模塊320為結(jié)束地 址326更新讀取錯(cuò)誤偵測碼330之后,分別為測試下的地址范圍比較寫入及讀取錯(cuò)誤校正 碼328、330兩者,其中比較器模塊314被調(diào)用,以比較寫入錯(cuò)誤偵測碼328與讀取錯(cuò)誤偵測 碼330。寫入及讀取錯(cuò)誤偵測碼328、330的匹配分別表示在電子存儲(chǔ)器306之內(nèi)對(duì)應(yīng)于測 試下的地址范圍的位置的適當(dāng)操作。然而,寫入及讀取錯(cuò)誤偵測碼328、330的失配,分別表 示在電子存儲(chǔ)器306之內(nèi)在測試下的地址范圍之內(nèi)的一個(gè)或多個(gè)位置的不適當(dāng)操作。因 此,當(dāng)比較器模塊314判斷寫入及讀取偵測碼328、330分別未匹配時(shí),錯(cuò)誤產(chǎn)生器模塊318 被調(diào)用,以產(chǎn)生錯(cuò)誤信號(hào)336,來表示關(guān)于電子存儲(chǔ)器306的錯(cuò)誤。影像傳感器302可傳遞 錯(cuò)誤信號(hào)336給外部系統(tǒng)311以向電子存儲(chǔ)器306發(fā)出錯(cuò)誤信號(hào)。外部系統(tǒng)311可被設(shè)計(jì) 成用于采取預(yù)定動(dòng)作(例如開始關(guān)閉程序),以因應(yīng)錯(cuò)誤信號(hào)336。
[0033] 于一實(shí)施例中,在線存儲(chǔ)器測試系統(tǒng)300被設(shè)計(jì)成用于藉由改變測試下的地址范 圍,來依序測試在電子存儲(chǔ)器306之內(nèi)的每個(gè)位置。在某些實(shí)施例中,地址控制模塊316首 先將測試下的地址范圍設(shè)定成連續(xù)地址的起始區(qū)塊,且在測試目前地址范圍之后增加測試 下的地址范圍,以使在線存儲(chǔ)器測試系統(tǒng)300在電子存儲(chǔ)器306的正常操作期間,依序跳到 并測試在電子存儲(chǔ)器306之內(nèi)的所有位置。在另一實(shí)施例中,地址控制模塊316依序測試 連續(xù)地址的隨機(jī)選擇的區(qū)塊,以使多數(shù)電子存儲(chǔ)器306的位置隨著時(shí)間的推移可能會(huì)被測 試。
[0034] 在某些替代實(shí)施例中,測試下的地址范圍包括預(yù)定數(shù)目的連續(xù)地址,所以只需要 起始地址324及結(jié)束地址326的其中一個(gè)來判斷測試下的地址范圍。舉例而言,在一個(gè)特 定的替代實(shí)施例中,測試下的地址范圍于由起始地址324所識(shí)別的位置開始,并在起始地 址324之后具有一預(yù)定數(shù)目的連續(xù)地址,以使測試下的地址范圍僅由起始地址324所判斷。 因此,某些替代實(shí)施例只儲(chǔ)存緩存器次系統(tǒng)322中的起始地址324及結(jié)束地址326的其中 一個(gè)。
[0035] 在另一實(shí)施例中,起始地址324只儲(chǔ)存存儲(chǔ)器地址的一最顯著的部分,其中測試 下的地址范圍的大小由未儲(chǔ)存在起始地址324之內(nèi)的地址的部分所判斷。
[0036] 雖然圖3將在線存儲(chǔ)器測試系統(tǒng)300、像素陣列304、電子存儲(chǔ)器306以及存儲(chǔ)器 控制器308顯示成是分離的個(gè)別組件,但在不背離于此的范圍之下可結(jié)合這些組件的一個(gè) 或多個(gè)。舉例而言,在一替代實(shí)施例中,系統(tǒng)300與存儲(chǔ)器控制器308結(jié)合。在某些實(shí)施例 中,系統(tǒng)300以離散邏輯被實(shí)施。
[0037] 圖4顯示用于測試電子存儲(chǔ)器同時(shí)它在使用中的一個(gè)例示方法400。方法400在 譬如圖3的系統(tǒng)300之內(nèi)被實(shí)施。雖然方法400相關(guān)于圖3的影像傳感器302被討論如下, 但應(yīng)意識(shí)到方法400可與其它裝置的存儲(chǔ)器一起使用。此外,影像傳感器302的在線存儲(chǔ) 器測試系統(tǒng)300可在一種除了圖4的方法以外的方法之下操作。
[0038] 在步驟402中,方法400初始化一測試下的地址范圍。在步驟402的一個(gè)例子中, 地址控制模塊316設(shè)定起始地址324及/或結(jié)束地址326以定義一測試下的地址范圍(參 見圖3)。在步驟404中,方法400偵測對(duì)于在這個(gè)測試下的地址范圍之內(nèi)的地址的存取。 在步驟404的一個(gè)例子中,地址偵測模塊312偵測對(duì)于一在以起始地址324及結(jié)束地址326 為界限的地址范圍之內(nèi)的地址的存取。
[0039] 步驟406是一項(xiàng)判斷。若在步驟406中,方法400判斷步驟404中所偵測到的存取 為對(duì)于測試下的地址范圍的起始地址的寫入存取,則方法400繼續(xù)步驟408 ;否則方法400 繼續(xù)步驟410。在步驟408中,方法400初始化寫入錯(cuò)誤偵測碼。在步驟408的一個(gè)例子 中,碼產(chǎn)生器模塊320清除寫入錯(cuò)誤偵測碼328。方法400接著繼續(xù)步驟404。
[0040] 步驟410是一項(xiàng)判斷。若在步驟410中,方法400判斷偵測到的存取為從測試下 的地址范圍的起始地址的讀取存取,則方法400繼續(xù)步驟412 ;否則方法400繼續(xù)步驟414。 在步驟412中,方法400初始化讀取錯(cuò)誤偵測碼。在步驟412的一個(gè)例子中,碼產(chǎn)生器模塊 320清除讀取錯(cuò)誤偵測碼330。方法400接著繼續(xù)步驟404。
[0041] 步驟414是一項(xiàng)判斷。若在步驟414中,方法400判斷偵測到的存取為對(duì)于在測 試下的地址范圍之內(nèi)的另一個(gè)地址的寫入存取,則方法400繼續(xù)步驟416 ;否則方法400繼 續(xù)步驟418。在步驟416中,方法400基于在步驟404中所偵測到的地址,而寫入至電子存 儲(chǔ)器的數(shù)據(jù)來更新寫入錯(cuò)誤偵測碼。在步驟416的一個(gè)例子中,碼產(chǎn)生器模塊320基于寫 入至電子存儲(chǔ)器306的影像數(shù)據(jù)332來更新寫入錯(cuò)誤偵測碼328。方法400接著繼續(xù)步驟 404。
[0042] 在步驟418中,方法400基于在步驟404中所偵測到的地址,而從電子存儲(chǔ)器讀取 的數(shù)據(jù)來更新讀取錯(cuò)誤偵測碼。在步驟418的一個(gè)例子中,碼產(chǎn)生器模塊320更新基于在 步驟404中所偵測到的地址,而從電子存儲(chǔ)器306讀取的影像數(shù)據(jù)334來讀取錯(cuò)誤偵測碼 330。
[0043] 步驟420是一項(xiàng)判斷。若在步驟420中,方法400判斷完成了讀取錯(cuò)誤偵測碼,則 方法400繼續(xù)步驟422 ;否則方法400繼續(xù)步驟404。在判斷步驟420的一個(gè)例子中,當(dāng)數(shù) 值從對(duì)應(yīng)于電子存儲(chǔ)器306之內(nèi)的結(jié)束地址326的位置讀取時(shí),完成了讀取錯(cuò)誤偵測碼。步 驟404-420重復(fù)以測試在目前測試下的地址范圍之內(nèi)的所有位置。
[0044] 在步驟422中,方法400比較寫入錯(cuò)誤偵測碼與讀取錯(cuò)誤偵測碼。在步驟422的 一個(gè)例子中,比較器模塊314比較寫入錯(cuò)誤偵測碼328與讀取錯(cuò)誤偵測碼330。步驟424是 一項(xiàng)判斷。若在步驟424中,方法400判斷這些碼匹配,則方法400繼續(xù)步驟426 ;否則方 法400繼續(xù)步驟428。在步驟426中,方法400改變測試下的地址范圍。在步驟426的一個(gè) 例子中,地址控制模塊316設(shè)定起始及結(jié)束地址324、326以包括在電子存儲(chǔ)器306之內(nèi)的 連續(xù)地址的下一個(gè)區(qū)塊。方法400接著繼續(xù)步驟404。舉例而言,重復(fù)步驟404至426,以 測試在電子存儲(chǔ)器306之內(nèi)的所有區(qū)塊。
[0045] 在步驟428中,方法400產(chǎn)生錯(cuò)誤信號(hào)。在步驟428的一個(gè)例子中,錯(cuò)誤產(chǎn)生器模 塊318產(chǎn)生一錯(cuò)誤信號(hào)336以表示電子存儲(chǔ)器306中的錯(cuò)誤。
[0046] 特征的組合
[0047] 在不背離于此的范圍之下,上述特征與以下所主張的那些特征可以各種方式作結(jié) 合。以下舉例說明部分可能的組合。
[0048] (A1) -種用于在一電子存儲(chǔ)器在使用中的同時(shí)測試所述電子存儲(chǔ)器的方法,包括 (a)于測試地址偵測對(duì)于所述電子存儲(chǔ)器的存??;(b)于對(duì)應(yīng)于所述測試地址的位置,將寫 入至所述電子存儲(chǔ)器的寫入數(shù)據(jù)儲(chǔ)存在緩存器次系統(tǒng)中;(c)于對(duì)應(yīng)于所述測試地址的所 述位置,比較所述寫入數(shù)據(jù)與從所述電子存儲(chǔ)器讀取的數(shù)據(jù),用于判斷所述存儲(chǔ)器是否具 有故障;以及(d)若所述存儲(chǔ)器具有故障,則產(chǎn)生錯(cuò)誤信號(hào)。
[0049] (A2)如(A1)所述的方法,還包括在所述比較步驟之后,(a)若所述存儲(chǔ)器不具有 故障,則改變所述測試地址以參考所述存儲(chǔ)器的未受測試的位置,并(b)重復(fù)所述偵測、儲(chǔ) 存、比較以及產(chǎn)生步驟。
[0050] (A3)如(A1)或(A2)所述的方法,還包括在偵測對(duì)于所述電子存儲(chǔ)器的所述存取 的步驟之前,初始化所述測試地址。
[0051] (A4)如(A1)至(A3)所述的方法,還包括:在所述比較步驟之前,于對(duì)應(yīng)于所述測 試地址的所述位置,將從所述電子存儲(chǔ)器讀取的所述數(shù)據(jù)儲(chǔ)存在所述緩存器次系統(tǒng)中。
[0052] (B1)影像傳感器,包括:像素陣列,用于產(chǎn)生影像數(shù)據(jù);電子存儲(chǔ)器,用于儲(chǔ)存所 述影像數(shù)據(jù);存儲(chǔ)器控制器,用于控制所述影像數(shù)據(jù)的寫入至所述電子存儲(chǔ)器以及所述影 像數(shù)據(jù)從所述電子存儲(chǔ)器的讀??;及在線存儲(chǔ)器測試系統(tǒng),用于在正常操作期間確認(rèn)所述 存儲(chǔ)器中的數(shù)個(gè)故障。在線存儲(chǔ)器測試系統(tǒng)包括:地址偵測模塊,用于在測試地址偵測對(duì)于 所述電子存儲(chǔ)器的存取;緩存器次系統(tǒng),用于在對(duì)應(yīng)于所述測試地址的位置儲(chǔ)存寫入至所 述電子存儲(chǔ)器的寫入數(shù)據(jù):比較器模塊,用于在對(duì)應(yīng)于所述測試地址的所述位置比較所述 儲(chǔ)存的寫入數(shù)據(jù)與從所述電子存儲(chǔ)器讀取的數(shù)據(jù),用于判斷所述存儲(chǔ)器是否具有故障:以 及錯(cuò)誤產(chǎn)生器模塊,用于若所述存儲(chǔ)器具有故障,則產(chǎn)生錯(cuò)誤信號(hào)。
[0053] (B2)如(B1)所述的影像傳感器,還包括地址控制模塊,用于若所述存儲(chǔ)器并不具 有故障,則改變所述測試地址以參考所述存儲(chǔ)器的未受測試的位置。
[0054] (B3)如(B1)或(B2)所述的影像傳感器,其中所述緩存器次系統(tǒng)還進(jìn)一步適合于 在對(duì)應(yīng)于所述測試地址的所述位置,儲(chǔ)存從所述電子存儲(chǔ)器讀取的所述數(shù)據(jù)。
[0055] (C1) -種用于在電子存儲(chǔ)器在使用中的同時(shí)測試所述電子存儲(chǔ)器的方法,包括: (a)于測試下的地址范圍之內(nèi)的地址,偵測對(duì)于在所述電子存儲(chǔ)器之內(nèi)的位置的存??;(b) 若所述存取為寫入存取且所述位置位于所述測試下的地址范圍的起始地址,則初始化寫入 錯(cuò)誤偵測碼;(c)若所述存取為讀取存取且所述位置位于起始地址,則初始化讀取錯(cuò)誤偵 測碼;(d)若所述存取為寫入存取,則更新所述寫入錯(cuò)誤偵測碼;(e)若所述存取為讀取存 取,則更新所述讀取錯(cuò)誤偵測碼;(f)偵測所述讀取錯(cuò)誤偵測碼的完成;(g)當(dāng)完成被偵測 以判斷所述存儲(chǔ)器是否具有故障時(shí),比較所述寫入錯(cuò)誤偵測碼與所述讀取錯(cuò)誤偵測碼;以 及(h)若所述存儲(chǔ)器具有故障,則產(chǎn)生錯(cuò)誤信號(hào)。
[0056] (C2)如(C1)所述的方法,其中初始化所述寫入錯(cuò)誤偵測碼的步驟及更新所述寫 入錯(cuò)誤偵測碼的步驟每個(gè)包括判斷寫入至所述位置的數(shù)據(jù)的循環(huán)冗余檢驗(yàn)值。
[0057] (C3)如(C1)或(C2)所述的方法,初始化所述讀取錯(cuò)誤偵測碼的步驟及更新所述 讀取錯(cuò)誤偵測碼的步驟每個(gè)包括:判斷從所述位置讀取的數(shù)據(jù)的循環(huán)冗余檢驗(yàn)值。
[0058] (C4)如(C1)至(C3)所述的方法,在于在所述測試下的地址范圍之內(nèi)的所述地址, 偵測對(duì)于所述電子存儲(chǔ)器的所述存取的步驟之前,初始化所述測試下的地址范圍。
[0059] (C5)如(C1)至(C4)所述的方法,還包括所述比較步驟之后,改變所述測試下的地 址范圍,以包括所述存儲(chǔ)器的至少一未受測試的位置。
[0060] (D1) -種影像傳感器,包括:像素陣列,用于產(chǎn)生影像數(shù)據(jù);電子存儲(chǔ)器,用于儲(chǔ) 存所述影像數(shù)據(jù);存儲(chǔ)器控制器,用于控制所述影像數(shù)據(jù)的寫入至所述電子存儲(chǔ)器以及所 述影像數(shù)據(jù)從所述電子存儲(chǔ)器的讀??;及在線存儲(chǔ)器測試系統(tǒng),用于在操作期間測試所述 存儲(chǔ)器,包括:地址偵測模塊,用于在測試下的地址范圍之內(nèi)的位置偵測對(duì)于所述電子存儲(chǔ) 器的存取,碼產(chǎn)生器模塊,用于(a)若所述存取為寫入存取且所述位置位于所述測試下的 地址范圍的起始地址,則初始化寫入錯(cuò)誤偵測碼,(b)若所述存取為一讀取存取且所述位置 位于起始地址,則初始化讀取錯(cuò)誤偵測碼,(c)若所述存取為寫入存取,則更新所述寫入錯(cuò) 誤偵測碼,(d)若所述存取為讀取存取,則更新所述讀取錯(cuò)誤偵測碼,及(e)偵測所述讀取 錯(cuò)誤偵測碼的完成:比較器模塊,用于當(dāng)偵測到完成時(shí),比較所述寫入錯(cuò)誤偵測碼與所述讀 取錯(cuò)誤偵測碼,用于判斷所述存儲(chǔ)器是否具有故障;以及錯(cuò)誤產(chǎn)生器模塊,用于若所述存儲(chǔ) 器具有故障,則產(chǎn)生錯(cuò)誤信號(hào)。
[0061] (D2)如(D1)所述的影像傳感器,其中所述碼產(chǎn)生器模塊適合于在所述位置判斷 一個(gè)寫入至所述電子存儲(chǔ)器的數(shù)據(jù)及從所述電子存儲(chǔ)器讀取的數(shù)據(jù)的循環(huán)冗余檢驗(yàn)值。
[0062] (D3)如(D1)或(D2)所述的影像傳感器,其中所述在線存儲(chǔ)器測試系統(tǒng)還包括地 址控制模塊,用于(a)設(shè)定所述測試下的地址范圍的至少一起始地址,及/或(b)當(dāng)所述比 較器模塊指出所述電子存儲(chǔ)器并不具有故障時(shí),改變所述測試下的地址范圍。
[0063] 在未脫離本發(fā)明的精神與范圍下,可以對(duì)上述方法及系統(tǒng)進(jìn)行修改或變更,需注 意者,在以上說明書及附式中所述僅為舉例性,而非為限制性。權(quán)利要求書可涵蓋所述的一 般及特定特征,而本發(fā)明的方法及系統(tǒng)的范圍中的所有陳述,其僅為語言問題,皆應(yīng)落于權(quán) 利要求書的范圍。
【權(quán)利要求】
1. 一種用于在電子存儲(chǔ)器在使用中的同時(shí)測試所述電子存儲(chǔ)器的方法,包括: 于測試地址偵測對(duì)于所述電子存儲(chǔ)器的存取; 于對(duì)應(yīng)于所述測試地址的位置,將寫入至所述電子存儲(chǔ)器的寫入數(shù)據(jù)儲(chǔ)存在緩存器次 系統(tǒng)中; 于對(duì)應(yīng)于所述測試地址的所述位置,比較所述寫入數(shù)據(jù)與從所述電子存儲(chǔ)器讀取的數(shù) 據(jù),用于判斷所述存儲(chǔ)器是否具有故障;以及 若所述存儲(chǔ)器具有故障,則產(chǎn)生錯(cuò)誤信號(hào)。
2. 如權(quán)利要求1所述的方法,還包括:在所述比較步驟之后,若所述存儲(chǔ)器不具有故 障,則改變所述測試地址以參考所述存儲(chǔ)器的未受測試的位置并重復(fù)所述偵測、儲(chǔ)存、比較 以及產(chǎn)生步驟。
3. 如權(quán)利要求2所述的方法,還包括:在偵測對(duì)于所述電子存儲(chǔ)器的所述存取的步驟 之前,初始化所述測試地址。
4. 如權(quán)利要求3所述的方法,還包括:在所述比較步驟之前,于對(duì)應(yīng)于所述測試地址的 所述位置,將從所述電子存儲(chǔ)器讀取的所述數(shù)據(jù)儲(chǔ)存在所述緩存器次系統(tǒng)中。
5. -種影像傳感器,包括: 像素陣列,用于產(chǎn)生影像數(shù)據(jù); 電子存儲(chǔ)器,用于儲(chǔ)存所述影像數(shù)據(jù); 存儲(chǔ)器控制器,用于控制所述影像數(shù)據(jù)的寫入至所述電子存儲(chǔ)器以及所述影像數(shù)據(jù)從 所述電子存儲(chǔ)器的讀??;及 在線存儲(chǔ)器測試系統(tǒng),用于在正常操作期間確認(rèn)所述存儲(chǔ)器中的數(shù)個(gè)故障,包括: 地址偵測模塊,用于在測試地址偵測對(duì)于所述電子存儲(chǔ)器的存取, 緩存器次系統(tǒng),用于在對(duì)應(yīng)于所述測試地址的位置儲(chǔ)存寫入至所述電子存儲(chǔ)器的寫入 數(shù)據(jù), 比較器模塊,用于在對(duì)應(yīng)于所述測試地址的所述位置比較所述儲(chǔ)存的寫入數(shù)據(jù)與從所 述電子存儲(chǔ)器讀取的數(shù)據(jù),用于判斷所述存儲(chǔ)器是否具有故障,以及 錯(cuò)誤產(chǎn)生器模塊,用于若所述存儲(chǔ)器具有故障,則產(chǎn)生錯(cuò)誤信號(hào)。
6. 如權(quán)利要求5所述的影像傳感器,還包括地址控制模塊,用于若所述存儲(chǔ)器不具有 故障,則改變所述測試地址以參考所述存儲(chǔ)器的一未受測試的位置。
7. 如權(quán)利要求6所述的影像傳感器,其中所述緩存器次系統(tǒng)還進(jìn)一步適合于在對(duì)應(yīng)于 所述測試地址的所述位置,儲(chǔ)存從所述電子存儲(chǔ)器讀取的所述數(shù)據(jù)。
8. -種用于在電子存儲(chǔ)器在使用中的同時(shí)測試所述電子存儲(chǔ)器的方法,包括: 于測試下的地址范圍之內(nèi)的地址,偵測對(duì)于在所述電子存儲(chǔ)器之內(nèi)的位置的存取; 若所述存取為寫入存取且所述位置位于所述測試下的地址范圍的起始地址,則初始化 寫入錯(cuò)誤偵測碼; 若所述存取為讀取存取且所述位置位于起始地址,則初始化讀取錯(cuò)誤偵測碼; 若所述存取為寫入存取,則更新所述寫入錯(cuò)誤偵測碼; 若所述存取為讀取存取,則更新所述讀取錯(cuò)誤偵測碼; 偵測所述讀取錯(cuò)誤偵測碼的完成; 當(dāng)完成被偵測以判斷所述存儲(chǔ)器是否具有故障時(shí),比較所述寫入錯(cuò)誤偵測碼與所述讀 取錯(cuò)誤偵測碼;以及 若所述存儲(chǔ)器具有故障,則產(chǎn)生錯(cuò)誤信號(hào)。
9. 如權(quán)利要求8所述的方法,其中: 初始化所述寫入錯(cuò)誤偵測碼的步驟及更新所述寫入錯(cuò)誤偵測碼的步驟每個(gè)包括:判斷 寫入至所述位置的數(shù)據(jù)的循環(huán)冗余檢驗(yàn)值;以及 初始化所述讀取錯(cuò)誤偵測碼的步驟及更新所述讀取錯(cuò)誤偵測碼的步驟每個(gè)包括:判斷 從所述位置讀取的數(shù)據(jù)的循環(huán)冗余檢驗(yàn)值。
10. 如權(quán)利要求9所述的方法,還包括:在于在所述測試下的地址范圍之內(nèi)的所述地 址,偵測對(duì)于所述電子存儲(chǔ)器的所述存取的步驟之前,初始化所述測試下的地址范圍。
11. 如權(quán)利要求10所述的方法,還包括:在所述比較步驟之后,改變所述測試下的地址 范圍,以包括所述存儲(chǔ)器的至少一個(gè)未受測試的位置。
12. -種影像傳感器,包括: 素陣列,用于產(chǎn)生影像數(shù)據(jù); 電子存儲(chǔ)器,用于儲(chǔ)存所述影像數(shù)據(jù); 存儲(chǔ)器控制器,用于控制所述影像數(shù)據(jù)的寫入至所述電子存儲(chǔ)器以及所述影像數(shù)據(jù)從 所述電子存儲(chǔ)器的讀?。患? 在線存儲(chǔ)器測試系統(tǒng),用于在操作期間測試所述存儲(chǔ)器,包括: 地址偵測模塊,用于在一測試下的地址范圍之內(nèi)的位置偵測對(duì)于所述電子存儲(chǔ)器的存 取, 碼產(chǎn)生器模塊,用于: 若所述存取為寫入存取且所述位置位于所述測試下的地址范圍的起始地址,則初始化 寫入錯(cuò)誤偵測碼, 若所述存取為讀取存取且所述位置位于起始地址,則初始化讀取錯(cuò)誤偵測碼, 若所述存取為寫入存取,則更新所述寫入錯(cuò)誤偵測碼, 若所述存取為讀取存取,則更新所述讀取錯(cuò)誤偵測碼,及 偵測所述讀取錯(cuò)誤偵測碼的完成, 比較器模塊,用于當(dāng)偵測到完成時(shí),比較所述寫入錯(cuò)誤偵測碼與所述讀取錯(cuò)誤偵測碼, 用于判斷所述存儲(chǔ)器是否具有故障,以及 錯(cuò)誤產(chǎn)生器模塊,用于若所述存儲(chǔ)器具有故障,則產(chǎn)生錯(cuò)誤信號(hào)。
13. 如權(quán)利要求12所述的影像傳感器,其中所述在線存儲(chǔ)器測試系統(tǒng)還包括地址控制 模塊,適合于設(shè)定所述測試下的地址范圍的至少一起始地址。
14. 如權(quán)利要求13所述的影像傳感器,其中所述碼產(chǎn)生器模塊適合于在所述位置判斷 一個(gè)寫入至所述電子存儲(chǔ)器的數(shù)據(jù)及從所述電子存儲(chǔ)器讀取的數(shù)據(jù)的循環(huán)冗余檢驗(yàn)值。
15. 如權(quán)利要求12所述的影像傳感器,其中所述在線存儲(chǔ)器測試系統(tǒng)還包括地址控制 器,用于當(dāng)所述比較器模塊指出所述電子存儲(chǔ)器并不具有故障時(shí),改變所述測試下的地址 范圍。
【文檔編號(hào)】G11C29/04GK104143359SQ201410190897
【公開日】2014年11月12日 申請(qǐng)日期:2014年5月7日 優(yōu)先權(quán)日:2013年5月10日
【發(fā)明者】約翰內(nèi)斯·索夫斯維科, 克里斯托夫·科赫, 蘇赫拉布·雅格麥, 詹妮·皮卡洛薩 申請(qǐng)人:全視技術(shù)有限公司
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