本發(fā)明的實施方式涉及對記錄介質上的缺陷進行管理的缺陷管理方法以及盤裝置。

背景技術：

對于磁記錄裝置等盤裝置，與盤介質上所產生的缺陷相關的缺陷管理信息被寫入在系統(tǒng)區(qū)域中。該缺陷管理信息在盤裝置工作時被參照，展開并保持在RAM上。缺陷包括在盤裝置的制造階段所檢測的初始缺陷(Primary Defect)和在盤裝置工作時所檢測的后發(fā)缺陷(Growth Defect)。該初始缺陷(Primary Defect)和后發(fā)缺陷(Growth Defect)，通過CHS(物理地址)或者LBA(邏輯地址)作為PLIST(Primary Defect List，初始缺陷列表)和GLIST(Growth Defect LIST：后發(fā)缺陷列表)進行管理。

技術實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的實施方式提供一種能夠實現(xiàn)例如制造時的產品合格率的提高以及用戶環(huán)境下的裝置故障頻度的降低的缺陷管理方法以及盤裝置。

實施方式的盤裝置具備：

非易失性的第1記錄部；

非易失性的第2記錄部，其存儲缺陷信息和缺陷管理信息，所述缺陷信息包含與所述第1記錄部的記錄區(qū)域整體的缺陷相關的缺陷地址，所述缺陷管理信息是對將所述第1記錄部的記錄區(qū)域劃分成多個而得到的各區(qū)段關聯(lián)了所述缺陷信息的信息；

易失性半導體的第3記錄部，所述缺陷信息的至少一部分以及所述缺陷管理信息從所述第2記錄部展開于所述第3記錄部；以及

控制部，其根據訪問的請求，基于所述第1記錄部的所述訪問的對象地址和所述第3記錄部的缺陷管理信息，確定包含所述對象地址的對象區(qū)段以及不包含所述對象地址的選擇區(qū)段，將與這些對象區(qū)段以及選擇區(qū)段相關聯(lián)的所述缺陷信息的一部分從所述第2記錄部展開于所述第3記錄部。

附圖說明

圖1是表示概略性表示適用實施方式涉及的對記錄介質上的缺陷進行管理的缺陷管理方法的盤裝置的框圖。

圖2A表示存儲于圖1所示的非易失性存儲器并展開于易失存儲器的管理表，該管理表按各個區(qū)段來管理該盤上的缺陷信息，并用于將被請求的區(qū)段的缺陷信息展開于易失存儲器。

圖2B表示圖2A展開的GLIST。

圖2C表示圖2A展開的PLIST。

圖3表示圖1所示的存儲介質上的連續(xù)的區(qū)段，是示出從某區(qū)段內的扇區(qū)向其他區(qū)段內的扇區(qū)、頭進行尋道所需的時間與向易失性存儲器寫入所需的時間m毫秒的關系的說明圖。

圖4是表示利用圖2所示的管理表進行的缺陷信息的管理的流程圖。

圖5是表示與頭的尋道工作關聯(lián)而從由圖2所示的管理表確定的區(qū)段向圖1所示的易失性存儲器加載缺陷列表的處理的流程圖。

圖6是表示使圖3所示的連續(xù)的多個區(qū)段的缺陷列表展開于圖1所示的易失性存儲器的工作的流程圖。

圖7是說明與圖1所示的頭的尋道工作關聯(lián)的向易失性存儲器加載缺陷信息的加載處理定時的流程圖。

圖8是說明對追加于圖2所示的管理表的優(yōu)先級進行設定的工作的流程圖。

圖9A表示對圖2所示的管理表追加的、表示某優(yōu)先級與用于決定優(yōu)先級的參數的關系的表。

圖9B表示基于圖8所示的處理將圖9A所示的優(yōu)先級更新后的優(yōu)先級與參數的關系的表。

圖9C表示基于圖8所示的處理將圖9B所示的優(yōu)先級更新后的優(yōu)先級與參數的關系的表。

圖10A是表示在圖1所示的易失性存儲器基于優(yōu)先級來更新缺陷列表的區(qū)段的工作的流程圖。

圖10B是表示在圖1所示的易失性存儲器基于優(yōu)先級來更新缺陷列表的區(qū)段的工作的流程圖。

具體實施方式

參照附圖對適用實施方式涉及的對記錄介質上的缺陷進行管理的方法的盤裝置進行說明。

[盤驅動器的構成]

圖1概略性地示出了本實施方式的盤裝置(盤驅動器)。

盤驅動器具備頭盤組件(head-disk assembly：HDA)5、頭放大器集成電路(以下稱為頭放大器IC)11、和包括一個芯片的集成電路的系統(tǒng)控制器15。系統(tǒng)控制器15具備硬盤控制器(HDC)13、讀/寫(R/W)通道12以及微處理器(MPU)14。

HDA5具有作為存儲介質的盤1、主軸馬達(SPM)2、包括搭載著頭10的臂的臂機構3、以及音圈馬達(VCM)4。臂機構3及VCM4構成用于對頭10進行定位的頭定位機構6。

盤1通過主軸馬達2而旋轉。通過VCM4的驅動，搭載于臂機構3的頭10在盤1上移動。在此，頭10與盤1的盤面相對地配置，進行伺服控制以使得頭10位于目標位置。

另外，頭10包括安裝在滑塊上的寫入頭10W以及讀取頭10R。讀取頭10W讀取記錄在盤1上的數據，寫入頭10R向盤1上寫入數據。

在盤1的盤面，記錄數據的柱面(軌道(track))被設成同心圓狀。在盤1的盤面，沿大致半徑方向記錄有伺服圖案作為伺服區(qū)域。柱面通過該伺服圖案在圓周方向上分離成多個區(qū)域。并且，伺服圖案間的區(qū)域被確定為能夠記錄用戶數據的用戶數據區(qū)域。

在伺服圖案記錄有伺服數據。伺服數據包括突發(fā)圖案(burst pattern)以及包含軌道地址數據和扇區(qū)地址數據的伺服地址信息。

圖1所示的盤驅動器具備非易失性存儲器17。非易失性存儲器17例如是閃速存儲器、NAND閃速存儲器等非易失性半導體存儲部。對于非易失性存儲器17，即使盤驅動器處于斷電狀態(tài)，所存儲的數據也被持續(xù)存儲。另外，盤驅動器例如具備由SDRAM構成的易失性存儲器16作為緩沖存儲器，在盤驅動器處于通電狀態(tài)的期間，暫時存儲從主機19傳送來的寫數據以及向主機19傳送的讀數據。

在非易失性存儲器17或者盤1設有系統(tǒng)區(qū)域。在該系統(tǒng)區(qū)域保存有圖2所示的包含全部缺陷信息的管理表和初始缺陷列表(PLIST：Primary Defect List)及后發(fā)缺陷列表(GLIST：Grown Defect List)。在此，將非易失性存儲器17或者盤1所保存的PLIST及GLIST稱為一次缺陷信息。另外，如圖3所示，缺陷列表被劃分到多個區(qū)段，按該區(qū)段由管理表進行管理。

該一次缺陷信息在盤驅動器工作時被訪問，在易失性存儲器16上存在足夠的空閑區(qū)域并且一次缺陷信息的容量小的情況下，一次缺陷信息全部展開在易失性存儲器16上。在此，將展開在易失性存儲器16上的PLIST以及GLIST稱為二次缺陷信息。即，二次缺陷信息可以不僅包含GLIST還包含PLIST。

在一次缺陷信息的容量大而易失性存儲器16上的空閑容量不夠展開全部一次缺陷信息的情況下，首先，將管理表展開在易失性存儲器16上。然后，從非易失性存儲器17讀出能夠參照管理表所記載的區(qū)段來確定的一次缺陷信息的一部分，作為二次缺陷信息展開在易失性存儲器16上。該二次缺陷信息隨著盤驅動器的工作而被更新，根據需要作為一次缺陷信息寫入到非易失性存儲器17或者盤1而進行更新。即，基于管理表，將非易失性存儲器17所存儲的一次缺陷信息的一部分作為二次缺陷信息展開在易失性存儲器16上。

在圖2A所示的管理表中記載有“區(qū)段序號”、“參照次數”、“最后參照時間”、“范圍開始”、“范圍結束”以及“存儲器展開”的項目。在此，通過“區(qū)段序號”，如圖3所示，能夠確定盤1上的劃分開的范圍(區(qū)域)?！皡⒄沾螖怠北硎景殡S著在由區(qū)段序號確定的區(qū)域內存在目標地址而參照了由區(qū)段序號確定的項目的次數。在“最后參照時間”示出了由區(qū)段序號確定的區(qū)域最后被參照的時間。在此，時間的單位可以任意設定?！胺秶_始”示出了由區(qū)段序號確定的區(qū)域的開始地址。另外，“范圍結束”示出了由區(qū)段序號確定的區(qū)域的結束地址。在“存儲器展開”示出了由區(qū)段序號確定的區(qū)域內的缺陷信息是否展開于易失性存儲器16。更具體而言，圖2所示的管理表例如將盤1上的區(qū)域劃分成由區(qū)段序號No1～No8確定的8個區(qū)段。

在區(qū)段No3以及No5的參照次數，記載有表示比其他區(qū)段更多地被參照這一情況的值、例如記載有相同值的65000次，作為最后參照時間分別記載有3000和2000(都是無單位的相對值)。并且，在最新被參照的區(qū)段No4，作為最后參照時間例如記載有5000。區(qū)段No1例如為從開始地址0x0000000000到結束地址0x007FFFFFFF的范圍，在存儲器展開，標記了表示沒有向易失性存儲器16展開缺陷信息之意的“×”。區(qū)段No4由從開始地址0x0180000000到結束地址0x05FFFFFFFF的范圍而確定。在被請求了訪問的目標地址位于相鄰的區(qū)段No3的情況下，在區(qū)段No4的“存儲器展開”的項目，例如標記有表示缺陷信息展開到了易失性存儲器16之意的“○”。并且，在訪問目標地址位于區(qū)段No4內的情況下，不限于區(qū)段No4，至少與區(qū)段No4相鄰的區(qū)段No3以及區(qū)段No5內的缺陷信息也展開于易失性存儲器16，在“存儲器展開”的項目記載有“○”?！按鎯ζ髡归_”成為“○”的區(qū)段的區(qū)域所包含的后發(fā)缺陷扇區(qū)的地址及其替代地址，如圖2B所示作為GLIST的一部分而從系統(tǒng)區(qū)域讀出。同樣，“存儲器展開”成為“○”的區(qū)段的區(qū)域所包含的初始缺陷扇區(qū)的地址及其扇區(qū)數，也如圖2C所示作為PLIST的一部分而從系統(tǒng)區(qū)域讀出。

在此，GLIST的開始地址由指針(pointer)指定，圖2B所示的各項目由從GLIST的開始地址起的偏移(offset)地址指定。同樣，PLIST的開始地址由指針指定，圖2C所示的各項目由從PLIST的開始地址起的偏移地址指定。在被讀出的GLIST的項目中，以LBA記載后發(fā)缺陷扇區(qū)的地址以及替代地址。例如，在被讀出的GLIST的一部分，在由偏移地址0x0000指定的項目中，以LBA記載有區(qū)段1內的后發(fā)缺陷扇區(qū)的地址(a)，在由偏移地址0x0001指定的項目中，以LBA記載有該缺陷扇區(qū)的替代扇區(qū)的地址(a)。另外，在由偏移地址讀出的PLIST的項目中，以CHS記載有初始缺陷扇區(qū)的地址及其扇區(qū)數。在該PLIST的一部分，例如在由偏移地址0x0000指定的項目中，以CHS記載有初始缺陷扇區(qū)的地址(e)，在由偏移地址0x0001指定的項目中，記載有該初始缺陷扇區(qū)的扇區(qū)數(f)。

圖2A所示的區(qū)段被確定成使得：響應于訪問請求，如圖3所示從區(qū)段n的扇區(qū)向區(qū)段(n+2)或者區(qū)段(n-2)內的扇區(qū)的尋道或者從區(qū)段(n+2)或者區(qū)段(n-2)內的扇區(qū)向區(qū)段n的扇區(qū)的尋道所需的時間成為至少m毫秒以上的最小尋道時間(Tmin)。在此，m毫秒相當于針對一個區(qū)段從非易失性存儲器17讀出缺陷信息，并將所讀出的缺陷信息寫入到易失性存儲器16所需的時間。

利用圖2A所示的管理表進行的二次缺陷信息的管理，如圖4所示來執(zhí)行。首先，當接通盤驅動器的電源時，執(zhí)行系統(tǒng)的初始設定，盤1以預定的轉速進行旋轉。在盤1旋轉后，在能夠進行數據的讀出、寫入的狀態(tài)下，基于二次缺陷信息來開始訪問管理(S10)。MPU14從非易失性存儲器17的系統(tǒng)區(qū)域讀出圖2所示的管理表，并寫入到易失性存儲器16(S12)。另外，確認包含記載有初始缺陷的PLIST以及記載有后發(fā)缺陷的GLIST的缺陷信息的容量是否比易失性存儲器16所準備的預定的存儲容量小(S14)。在缺陷信息的容量比預定的存儲容量小的情況下(S14的“是”)，從非易失性存儲器17的系統(tǒng)區(qū)域讀出包含PLIST以及GLIST的全部缺陷信息，并寫入到易失性存儲器16(S16)。

在向易失性存儲器16寫入缺陷信息之后，對請求了訪問的目標扇區(qū)進行尋道，執(zhí)行用戶數據的寫入或者用戶數據的讀出。若在該寫入或者讀出的過程中檢測到新的后發(fā)缺陷，則MPU14執(zhí)行取代向后發(fā)缺陷扇區(qū)而向替代扇區(qū)改寫用戶數據的替代處理。另外，在GLIST中記載有后發(fā)缺陷扇區(qū)及其替代地址。并且，MPU14對易失性存儲器16的管理表以及GLIST進行更新，并對系統(tǒng)區(qū)域的管理表以及GLIST也進行更新(S18以及S20)。然后，確認是否存在下一個訪問請求(S26)。在存在訪問請求的情況下(S26的“是”)，再次返回到步驟S14來確認包含PLIST以及GLIST的缺陷信息的容量。如果不存在下一個訪問請求(S26的“否”)，則MPU14確認是否為系統(tǒng)結束(S28)。在不是系統(tǒng)結束的情況下(S28的“否”)，返回到步驟S26，MPU14等待下一次訪問。在是系統(tǒng)結束的情況下(S28的“是”)，結束處理(S29)。

另一方面，在步驟S14中缺陷信息比預定的存儲容量大的情況下(S14的“否”)，MPU14根據被請求了訪問的目標地址來確定管理表中的區(qū)段、例如圖2所示的No3，確定與該區(qū)段相鄰的前后的區(qū)段、例如圖2所示的No2以及No4(S22)。然后，MPU14讀出屬于所確定的區(qū)段的GLIST的一部分、例如由偏移地址0x0000指定的項目所記載的后發(fā)缺陷扇區(qū)的地址(a)以及由偏移地址0x0001指定的項目所記載的替代扇區(qū)的地址(a)等，并寫入到易失性存儲器16上。另外，MPU14讀出屬于所確定的區(qū)段的PLIST的一部分、例如由偏移地址0x0000指定的項目所記載的初始缺陷扇區(qū)的地址(a)以及缺陷扇區(qū)的數量(a)等，并寫入到易失性存儲器16上(S24)。然后，MPU14訪問被請求了訪問的目標扇區(qū)，執(zhí)行用戶數據的寫入或者用戶數據的讀出。若在該寫入或者讀出的過程中檢測到新的后發(fā)缺陷，則MPU14執(zhí)行取代向后發(fā)缺陷扇區(qū)而向替代扇區(qū)改寫用戶數據的替代處理，轉移到步驟S18。

[第1實施方式]

圖4所示的讀出PLIST的一部分以及GLIST的一部分即缺陷信息的一部分的處理(S24)，更具體而言，作為圖5所示的向易失性存儲器16上加載缺陷信息的加載處理而通過MPU14來執(zhí)行。在第1實施方式中，所確定的區(qū)段是包含被請求了訪問的目標扇區(qū)的目標區(qū)段(n)以及與該區(qū)段相鄰的相鄰區(qū)段(n+1)、(n-1)。當加載處理開始時(S30)，確認目標區(qū)段(n)的缺陷信息例如屬于區(qū)段No3的GLIST的一部分以及PLIST的一部分是否展開到了易失性存儲器16(S32)。在不存在目標區(qū)段(n)的缺陷信息的情況下(S32的“否”)，訪問非易失性存儲器17的系統(tǒng)區(qū)域，參照圖2所示的管理表，將屬于目標區(qū)段(n)例如區(qū)段No3以及與目標區(qū)段相鄰的區(qū)段(n+1)、(n-1)例如區(qū)段No2和區(qū)段No4的GLIST的一部分和PLIST的一部分的缺陷信息展開于易失性存儲器16(S38)。另一方面，在存在目標區(qū)段(n)的缺陷信息的情況下(S32的“是”)，確認與目標區(qū)段相鄰的區(qū)段(n+1)、區(qū)段(n-1)的缺陷信息例如屬于區(qū)段No2以及區(qū)段No4的GLIST以及PLIST是否展開到了易失性存儲器16(S34)。在不存在這些缺陷信息的情況下(S34的“否”)，參照非易失性存儲器17的系統(tǒng)區(qū)域的圖2所示的管理信息，訪問與目標區(qū)段(n)相鄰的區(qū)段(n+1)、(n-1)的缺陷信息例如屬于與區(qū)段No3相鄰的區(qū)段No2以及區(qū)段No4的GLIST以及PLIST，將該缺陷信息展開于易失性存儲器16(S40)。另一方面，在存在與目標區(qū)段相鄰的區(qū)段(n+1)、(n-1)的缺陷信息的情況下(S34的“是”)、在與目標區(qū)段相鄰的區(qū)段(n+1)、(n-1)的缺陷信息的加載處理完成了的情況下、或者在(S38)的處理之后，結束一系列的處理(步驟S36)。

若存在新的訪問請求，則同樣地執(zhí)行步驟S30～S40的處理，將包含被請求了訪問的目標扇區(qū)的下一目標區(qū)段(n＇)以及與該區(qū)段相鄰的相鄰區(qū)段(n＇+1)、(n＇-1)的缺陷信息加載到易失性存儲器16上。在該加載處理中，在易失性存儲器16上為了保存缺陷信息而準備的區(qū)域有足夠的空閑區(qū)域的情況下，也可以將上個目標區(qū)段(n)以及與該區(qū)段相鄰的相鄰區(qū)段(n+1)、(n-1))的缺陷信息留在易失性存儲器16上。但是，在易失性存儲器16上的區(qū)域沒有用于保存缺陷信息的足夠的空閑區(qū)域的情況下，執(zhí)行圖6所示的空閑區(qū)域創(chuàng)建處理。更詳細而言，在圖4所示的步驟24的處理中，MPU14在讀出PLIST的一部分以及GLIST的一部分時，若判斷為易失性存儲器16上沒有足夠的空閑容量，則如圖6所示來執(zhí)行創(chuàng)建空閑區(qū)域的處理。

當圖6所示的創(chuàng)建空閑容量的處理開始時(S60)，MPU14查詢易失性存儲器16上的存儲器區(qū)域的空閑區(qū)域的大小(S62)。在易失性存儲器16的存儲器區(qū)域有足夠展開缺陷信息的空閑區(qū)域(S62中“是”)的情況下，不進行特別的處理而結束(S69)。在易失性存儲器16上的存儲器區(qū)域沒有足夠的空閑區(qū)域(S62中“否”)的情況下，MPU14根據與新的目標扇區(qū)對應的訪問請求來計算應該展開在易失性存儲器16的存儲器區(qū)域所需要的空閑區(qū)段數(S64)。根據所需要的空閑區(qū)段數，從展開到了易失性存儲器16的存儲器區(qū)域上的區(qū)段中，將最不需要的區(qū)段決定為空閑區(qū)段(S66)。在該空閑區(qū)段的決定時，既可以如后面說明的那樣將管理表所記載的參照次數最低的區(qū)段決定為空閑區(qū)段，或者也可以如后面敘述的那樣基于根據該參照次數而確定的優(yōu)先級來決定空閑區(qū)段。當決定了空閑區(qū)段時，MPU14從易失性存儲器16上的存儲器區(qū)域排除所決定出的空閑區(qū)段(S68)。因此，在易失性存儲器16上的存儲器區(qū)域確保了足夠加載缺陷信息的空閑區(qū)域，處理結束(S69)。

在確保空閑區(qū)域時，作為一例，將管理表所記載的參照次數最低的區(qū)段決定為空閑區(qū)段，將該空閑區(qū)段刪除。在4個區(qū)段例如圖2所示的區(qū)段1～區(qū)段4的缺陷信息展開到了易失性存儲器16的例子中，當產生向區(qū)段5內的扇區(qū)的訪問請求時，將相鄰的區(qū)段4的缺陷信息維持不變而留下，并將區(qū)段1以及區(qū)段2作為空閑區(qū)段而刪除該區(qū)段1以及2的缺陷信息。然后，取代區(qū)段1以及2的缺陷信息而將區(qū)段5以及區(qū)段6的缺陷信息展開于存儲器16。如圖2所示，區(qū)段1記載為在過去被參照了2356次、并且最后參照時間為1000。區(qū)段2記載為在過去被參照了32次、并且最后參照時間為2000，區(qū)段3記載為在過去被參照了65000次、并且最后參照時間為3000。根據它們的比較，可知向區(qū)段3內的扇區(qū)訪問的頻度比向區(qū)段1以及區(qū)段2內的扇區(qū)訪問的頻度多。由此，留下區(qū)段3的缺陷信息，刪除訪問頻度最小、參照時間最早的區(qū)段2的缺陷信息。另外，同樣地刪除比區(qū)段3更遠離區(qū)段5、并且訪問頻度比區(qū)段3少的區(qū)段1。

通過如此留下被訪問的頻度高的區(qū)段，能夠時常準備成為訪問對象的蓋然性高的目標扇區(qū)所屬的區(qū)段的缺陷信息，能夠防止基于寫入時間開銷(overhead)的性能降低。

伴隨在圖4所示的步驟24中執(zhí)行的缺陷信息的加載處理，目標地址的尋道工作如圖7所示來執(zhí)行。當產生目標地址的訪問請求時(S70)，MPU14使頭10開始尋道工作(S72)。另外，MPU14確認易失性存儲器16上的存儲器區(qū)域是否存在空閑區(qū)域，如果空閑區(qū)域不夠，則基于圖6所示的一系列處理，創(chuàng)建空閑區(qū)域(S74)。接著，將包含被請求了訪問的目標地址的區(qū)段以及與該區(qū)段相鄰的區(qū)段的缺陷信息加載到易失性存儲器16上(S76)。MPU14參照缺陷信息來計算從當前扇區(qū)到目標地址為止的地址(S78)，使頭10繼續(xù)尋道而確認尋道的完成(S80)。當尋道完成而使得頭10能夠訪問目標地址時，結束處理(S82)。

如上所述，通過將進行訪問的區(qū)段附近的區(qū)段的缺陷信息展開于易失存儲器16，能夠不產生基于開銷的性能降低而削減長期停留在存儲器16上的缺陷信息的量。因為在存儲器16上展開圖2所示的管理表以及最小限度所需的缺陷信息、至少GLIS的一部分，所以登記于非易失性存儲器17的后發(fā)缺陷的大小(size：體積、空間、規(guī)模)，不會因非易失性存儲器17的大小而受到限制，能夠使由管理表管理的缺陷信息的大小大于易失存儲器16上的保存缺陷信息的區(qū)域的存儲大小。例如，即使100萬扇區(qū)這樣大量的缺陷扇區(qū)，也能夠登記于非易失性存儲器17，能夠將該缺陷信息的一部分展開于易失存儲器16來有效地執(zhí)行目標地址的尋道。

[第2實施方式]

接著，參照圖8～圖11B，對取代留下與某區(qū)段(n)相鄰的區(qū)段(n+1)以及區(qū)段(n-1)而將參照可能性高的缺陷信息的區(qū)段基于優(yōu)先級留在存儲器、或者留下與某區(qū)段(n)相鄰的區(qū)段(n+1)以及區(qū)段(n-1)并且將參照可能性高的缺陷信息的區(qū)段基于優(yōu)先級留在存儲器的實施方式進行說明。在圖6所示的步驟S66中，在決定最不需要的區(qū)段時，也將參照可能性高的區(qū)段的缺陷信息基于優(yōu)先級留在存儲器，將不需要的區(qū)段的缺陷信息從存儲器中刪除。

在第2實施方式中，作為一例，在管理表附加有圖9A～圖9C所示的優(yōu)先級的項目，基于該優(yōu)先級而確定的區(qū)段被展開于易失存儲器16。該優(yōu)先級的項目通過圖8所示的處理而增加或者減少。

每次訪問目標扇區(qū)時，參照管理表來執(zhí)行優(yōu)先級的更新處理(S80)。在此，管理表設為處于圖9A的狀態(tài)。在訪問目標扇區(qū)時參照管理表的區(qū)段，例如在時間為910時，對包含該目標扇區(qū)的區(qū)段的優(yōu)先級加上級數100。例如，在訪問圖9B所示的區(qū)段5內的扇區(qū)時，如圖9B所示，區(qū)段5的參照次數從“50”增加為“51”，初始優(yōu)先級10000加上100而更新為優(yōu)先級10100(S82)。另外，對于未被參照的區(qū)段的優(yōu)先級，利用參照該區(qū)段的參照時間以及被參照的區(qū)段的參照時間(最新參照區(qū)段的參照時間)的下述式，而被從當前優(yōu)先級進行更新(S84)。

新優(yōu)先級＝當前優(yōu)先級-(最新參照區(qū)段的參照時間-該區(qū)段的參照時間)

例如，未被參照的區(qū)段1的新優(yōu)先級成為，

10000(當前優(yōu)先級)-{910(最新參照區(qū)段的參照時間)-909(該區(qū)段的參照時間)}＝10000-1＝9999(新優(yōu)先級)。

同樣，例如，未被參照的區(qū)段6的新優(yōu)先級成為，

10000(當前優(yōu)先級)-{910(最新參照區(qū)段的參照時間)-904(該區(qū)段的參照時間)}＝10000-6＝9994(新優(yōu)先級)。

在全部未參照區(qū)段的更新完成之前，決定新優(yōu)先級(步驟S86中“否”)。當全部未參照區(qū)段的更新完成時，結束處理(S88)(步驟86中“是”)。

同樣，例如，在向區(qū)段5內的扇區(qū)的訪問結束而管理表的更新完成之后，如圖9C所示，在產生向區(qū)段6的扇區(qū)的訪問的情況下，區(qū)段6的參照次數從“60”更新為“61”，對優(yōu)先級“9994”加上100而更新為優(yōu)先級“10094”(S82)。另外，對于未被參照的區(qū)段的優(yōu)先級，利用參照該區(qū)段的參照時間(該區(qū)段的參照時間)以及被參照的區(qū)段的參照時間(最新參照區(qū)段的參照時間)的下述式，被從當前優(yōu)先級進行更新(S84)。

例如，未被參照的區(qū)段1的新優(yōu)先級成為，

9999(當前優(yōu)先級)-{911(最新參照區(qū)段的參照時間)-909(該區(qū)段的參照時間)}＝9999-2＝9997(新優(yōu)先級)。

另外，同樣，例如，未被參照的區(qū)段5的新優(yōu)先級成為，

10100(當前優(yōu)先級)-{911(最新參照區(qū)段的參照時間)-910(該區(qū)段的參照時間)}＝10100-1＝10099(新優(yōu)先級)。

此外，在參照時間的項目中有n_th的標記，但該標記是記明了第n次訪問的參照時間之意的標記，每次進行訪問時都更新n_th的標記。

參照圖9B以及圖9C對利用如圖8所示對優(yōu)先級進行更新處理的管理表的缺陷信息的管理進行說明。

當處理開始時(步驟101)，確認包含訪問對象的目標地址的區(qū)段的缺陷信息是否位于易失性存儲器16上的緩沖區(qū)域(步驟102)。在缺陷信息位于易失性存儲器16上的緩沖區(qū)域的情況下(步驟102的“是”)，使用參照圖8說明的優(yōu)先級判定算法來更新優(yōu)先級而結束處理(S103以及S104)

在包含訪問對象的目標地址的區(qū)段的缺陷信息不位于易失性存儲器16上的緩沖區(qū)域的情況下(步驟102的“否”)，確認是否存在使易失性存儲器16保存包含訪問對象的目標地址的區(qū)段的缺陷信息的空閑區(qū)域(步驟106)。在不存在空閑區(qū)域的情況下(步驟106的“否”)，參照管理表，將屬于展開到了易失性存儲器16上的缺陷信息的區(qū)段中的優(yōu)先級最低的區(qū)段的缺陷信息廢棄來確?？臻e區(qū)域(步驟108)。在存在空閑區(qū)域的情況下(步驟106的“是”)、或者在步驟S108中確保了空閑區(qū)域的情況下，參照管理表，向空著的區(qū)域保存訪問對象地址所屬的該區(qū)段的缺陷信息(步驟109)。另外，確認與該區(qū)段相鄰的區(qū)段的缺陷信息是否位于易失性存儲器16上(步驟110)。如果存在相鄰的區(qū)段的缺陷信息(步驟110的“是”)，則結束處理(步驟112)。

如果不存在相鄰的區(qū)段的缺陷信息(步驟110的“否”)，則確認是否存在使易失性存儲器16保存相鄰區(qū)段的缺陷信息的空閑區(qū)域(步驟114)。在不存在空閑區(qū)域的情況下(步驟114的“否”)，參照管理表，將屬于展開到了易失性存儲器16上的缺陷信息的區(qū)段中的優(yōu)先級最低的區(qū)段的缺陷信息廢棄來確?？臻e區(qū)域(步驟116)。在存在空閑區(qū)域的情況下(步驟114的“是”)、或者在步驟S116中確保了空閑區(qū)域的情況下，參照管理表，向空著的區(qū)域保存該相鄰區(qū)段的缺陷信息，結束處理(步驟118以及120)。

此外，圖2所示的管理表所記載的區(qū)段如下所述來決定，可根據需要而增加。

如上所述，在缺陷信息的大小較小而能夠將全部缺陷信息展開于易失存儲器16的狀態(tài)下，設定成k個區(qū)段例如8個區(qū)段，隨著缺陷增加且缺陷信息的大小增大，將各區(qū)段分成兩部分而賦予新的區(qū)段序號，將新的區(qū)段追加到管理表中。

更具體而言，在缺陷信息的總大小小于能夠展開于易失性存儲器的大小的情況下，如圖2所示的管理表的區(qū)段所示，通過扇區(qū)的LBA(logical block address)將盤的整個區(qū)域分成8個部分，確定了區(qū)段1～區(qū)段8。并且，將該管理表以及缺陷信息全部展開在易失性存儲器16上。在各區(qū)段，例如最大能夠登記2000個左右的缺陷，在管理表，從最少8個區(qū)段開始不斷進行分割而能夠登記到最大的區(qū)段數例如1000個區(qū)段左右。

如此向管理表的登記數，從最初的8個區(qū)段依次增加，能夠使向管理表能夠登記的最大區(qū)段數增加到1000個區(qū)段。因此，缺陷信息的登記，最大能夠登記到2000個×1000個區(qū)段＝2，000，000左右。

由于在已有的區(qū)段中的某區(qū)段中缺陷信息的新建追加多，所以在將該區(qū)段分成新的區(qū)段時，對該區(qū)段進行二等分。該二等分后的區(qū)段被重新登記在管理表中，分割前的原來的區(qū)段被刪除。在此，重新二等分后的區(qū)段，以繼承進行二等分之前的參照次數、時間、優(yōu)先級的方式進行登記。另外，接著，在產生缺陷信息的追加并且放不進區(qū)段的情況下，該區(qū)段再次被分成兩部分。將二等分后的區(qū)段被重新登記在展開管理表中，分割前的原來的區(qū)段同樣被刪除。重新二等分后的區(qū)段設為同樣地繼承參照次數、時間、優(yōu)先級。

如上所述，根據實施方式，能夠實現(xiàn)制造時的產品合格率的提高以及用戶環(huán)境下的裝置故障頻度的降低。

在上述的實施方式中，作為在非易失性存儲器17設有系統(tǒng)區(qū)域，并且在該系統(tǒng)區(qū)域存儲有包含全部缺陷信息的管理表的情況進行了說明，但也可以適用于在不具有非易失性存儲器17的盤驅動器的盤1設有系統(tǒng)區(qū)域，并且在該系統(tǒng)區(qū)域存儲有包含全部缺陷信息的管理表的盤驅動器裝置。

說明了本發(fā)明的幾個實施方式，但是這些實施方式是作為例子而舉出的，沒有限定發(fā)明范圍的意圖。這些新的實施方式能夠以其他的各種各樣的方式來實施，在不脫離發(fā)明要旨的范圍內能夠進行各種省略、替換、變更。這些實施方式及其變形包含于發(fā)明的范圍或要旨內，并且包含于權利要求所記載的發(fā)明及其等同的范圍內。

本申請享受以美國臨時專利申請62/215500號(申請日：2015年9月8日)為基礎申請的優(yōu)先權。本申請通過參照該基礎申請而包含基礎申請的全部內容。