本發(fā)明涉及半導(dǎo)體器件測試領(lǐng)域，尤其涉及SSD產(chǎn)品的測試系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

目前業(yè)界對于SSD產(chǎn)品的測試大部分都是通過如下方式進(jìn)行的，一般都是通過在高溫高壓條件下，以固定的數(shù)據(jù)類型和數(shù)據(jù)大小對SSD進(jìn)行重復(fù)的讀寫操作，通過檢測每一圈的讀寫測試結(jié)果：記錄每一圈寫入數(shù)據(jù)和讀出數(shù)據(jù)錯(cuò)誤；檢測SSD的讀寫過程中產(chǎn)生壞塊數(shù)，統(tǒng)計(jì)產(chǎn)生壞塊數(shù)超過規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)的數(shù)據(jù)；記錄每一圈的讀寫時(shí)間，統(tǒng)計(jì)超過規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)讀寫時(shí)間值的數(shù)據(jù)。測試完成后擦除產(chǎn)品內(nèi)的數(shù)據(jù)，結(jié)束測試。這種測試方式存在以下問題：測試中未對SSD產(chǎn)品的狀態(tài)進(jìn)行監(jiān)控，不能定位到具體的錯(cuò)誤原因；目前不能對SSD產(chǎn)品出現(xiàn)壞塊的位置進(jìn)行定位；未對SSD產(chǎn)品進(jìn)行上下電測試，以檢驗(yàn)SSD產(chǎn)品正常開關(guān)機(jī)響應(yīng)狀況是否良好。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：

針對以上缺陷，本發(fā)明目的在于如何提升SSD產(chǎn)品的測試的覆蓋面和可靠性。

為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了一種SSD產(chǎn)品的測試系統(tǒng)，其特征在于包括主控服務(wù)器和老化柜，所述老化柜上設(shè)有多個(gè)測試板，所述測試板與主控服務(wù)器直接相連接或通過交換機(jī)相連接，所述測試板設(shè)有安裝待測試SSD產(chǎn)品的卡槽或接口，所述測試板主動(dòng)從主控服務(wù)器中下載或者主控服務(wù)器主動(dòng)下發(fā)給測試板測試所需的測試用例，測試板根據(jù)測試用例要求測試該測試板上的SSD產(chǎn)品，測試過程中讀取SSD產(chǎn)品的SMART信息，并將SMART信息記錄在測試日志中，并生成以產(chǎn)品序列號與測試PASS/FAIL的結(jié)論日志，上傳到主控服務(wù)器，在主控服務(wù)器根據(jù)各個(gè)測試板上傳的測試結(jié)論日志即可獲得各個(gè)SSD產(chǎn)品的測試結(jié)果。

所述的SSD產(chǎn)品的測試系統(tǒng)，其特征在于所述的老化柜還包括溫控系統(tǒng)，主控服務(wù)器還與溫控系統(tǒng)相連接，在進(jìn)行測試用例測試的同時(shí)，控制溫控系統(tǒng)控制老化柜處于不同的溫度環(huán)境和濕度環(huán)境。

所述的SSD產(chǎn)品的測試系統(tǒng)，其特征在于所述主控服務(wù)器上還包括測試用例集，所述測試用例集由多個(gè)由腳本文件構(gòu)成的測試流程程序文件構(gòu)成。

所述的SSD產(chǎn)品的測試系統(tǒng)，其特征在于所述主控服務(wù)器上還包括圖形化測試用例編輯模塊，用戶通過圖形化界面選擇測試項(xiàng)、測試順序、時(shí)間間隔和測試次數(shù)，用戶選擇完成后主控服務(wù)器自動(dòng)根據(jù)用戶的選擇自動(dòng)生成測試腳本文件作為一個(gè)測試用例。

本發(fā)明通過對SSD產(chǎn)品測試系統(tǒng)進(jìn)行優(yōu)化，特別是增加對測試過程中的SMART信息進(jìn)行采集，通過詳細(xì)的分析SMART信息可獲得準(zhǔn)確的測試結(jié)果以及測試發(fā)生問題的具體位置，且系統(tǒng)與老化測試進(jìn)行結(jié)合，集成度高，配置靈活。

附圖說明

圖1是一個(gè)SSD產(chǎn)品測試示例的流程圖。

具體實(shí)施方式

下面將結(jié)合本發(fā)明實(shí)施例中的附圖，對本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本發(fā)明一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例。基于本發(fā)明中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本發(fā)明保護(hù)的范圍。

SSD產(chǎn)品的測試系統(tǒng)，包括主控服務(wù)器和老化柜，老化柜上設(shè)有多個(gè)測試板，測試板與主控服務(wù)器直接相連接或通過交換機(jī)相連接，測試板設(shè)有安裝待測試SSD產(chǎn)品的卡槽或接口，測試板主動(dòng)從主控服務(wù)器中下載或者主控服務(wù)器主動(dòng)下發(fā)給測試板測試所需的測試用例，測試板根據(jù)測試用例要求測試該測試板上的SSD產(chǎn)品，測試過程中讀取SSD產(chǎn)品的SMART信息，SMART是Self－Monitoring Analysis and Reporting Technology自動(dòng)檢測分析及報(bào)告技術(shù)的簡寫，它能對硬盤的磁頭單元、硬盤溫度、盤片表面介質(zhì)材料、馬達(dá)及其驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)、硬盤內(nèi)部電路等進(jìn)行監(jiān)測，通過對其分析可及時(shí)并預(yù)報(bào)硬盤可能發(fā)生的問題。并將SMART信息記錄在測試日志中，并生成以產(chǎn)品序列號SN與測試PASS/FAIL的測試結(jié)論日志，上傳到主控服務(wù)器，在主控服務(wù)器根據(jù)各個(gè)測試板上傳的測試結(jié)論日志即可獲得各個(gè)SSD產(chǎn)品的測試結(jié)果。主控服務(wù)器還與溫控系統(tǒng)相連接，在進(jìn)行測試用例測試的同時(shí)，控制溫控系統(tǒng)控制老化柜處于不同的溫度環(huán)境和濕度環(huán)境?？煽刂葡到y(tǒng)在按照測試測試用例的要求測試硬盤的同時(shí)進(jìn)行高溫老化設(shè)計(jì)。

圖1是一個(gè)SSD產(chǎn)品測試示例的流程圖。將待測試的SSD產(chǎn)品連接到老化柜的測試板上后，關(guān)閉老化柜門，控制測試板上電，測試板通過網(wǎng)絡(luò)連接從主控服務(wù)器中獲取測試用例，根據(jù)測試用例要求控制SSD產(chǎn)品進(jìn)行測試；假設(shè)本測試用例要求進(jìn)行一個(gè)循環(huán)測試，要求SSD產(chǎn)品進(jìn)行大量的讀寫測試：控制擦除所有Block進(jìn)行讀寫操作，每圈SMART信息檢查并保存，記錄每圈測試時(shí)間，在做完要求的讀寫測試次數(shù)后，通過串口控制對測試板整體做上下電的操作，測試完成后對所有Block進(jìn)行安全擦除操作，清除SMART信息，控制SSD產(chǎn)品進(jìn)入立即待機(jī)，結(jié)束本測試用例。

以上所揭露的僅為本發(fā)明一種實(shí)施例而已，當(dāng)然不能以此來限定本之權(quán)利范圍，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實(shí)現(xiàn)上述實(shí)施例的全部或部分流程，并依本發(fā)明權(quán)利要求所作的等同變化，仍屬于本發(fā)明所涵蓋的范圍。