本發(fā)明涉及服務器測試技術(shù)領域，具體提供一種實現(xiàn)存儲子系統(tǒng)數(shù)據(jù)完整性測試的方法及系統(tǒng)。

背景技術(shù)：

計算機具有存儲信息量大，使用者獲取信息方便快捷等優(yōu)點，受到廣泛的應用。相較于普通的計算機，服務器具有更加優(yōu)良的穩(wěn)定性、擴展性、性能等，受到各大型企業(yè)的青睞。特別是隨著經(jīng)濟及社會的進一步發(fā)展，各大型企業(yè)對服務器的各項性能要求越來越高。硬盤是服務器中重要的存儲媒介之一，在服務器的存儲系統(tǒng)中起著重要作用。服務器存儲存在多種架構(gòu)，如使用pch直連硬盤；部分cpu支持直連硬盤；使用sas卡或者raid卡直連硬盤，將pcie信號轉(zhuǎn)換為sata或者sas信號；使用sas卡或者raid卡直連expander，將pcie信號轉(zhuǎn)換為sata或者sas信號。一般來講，硬盤廠商和控制器廠商在出廠時進行數(shù)據(jù)校驗檢測，該種檢測一般基于ate測試方法，將存在故障的部件篩選出來，但是仍然有故障芯片或者部件檢測不出來的風險。因此，在服務器生產(chǎn)過程中，需要進行一種功能測試，對硬盤數(shù)據(jù)完整性進行校驗，保證整個系統(tǒng)的數(shù)據(jù)完整性。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的技術(shù)任務是針對上述存在的問題，提供一種可以保證客戶數(shù)據(jù)完整性，降低客戶存儲數(shù)據(jù)出錯的風險，并提高服務器產(chǎn)品的可靠性的實現(xiàn)存儲子系統(tǒng)數(shù)據(jù)完整性測試的方法。

本發(fā)明進一步的技術(shù)任務是提供一種實現(xiàn)存儲子系統(tǒng)數(shù)據(jù)完整性測試的系統(tǒng)。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提供了如下技術(shù)方案：

一種實現(xiàn)存儲子系統(tǒng)數(shù)據(jù)完整性測試的方法，所述數(shù)據(jù)完整性測試的方法基于os下對硬盤數(shù)據(jù)進行讀寫校驗，直接對存儲子系統(tǒng)中的cpu、pch、raid卡、sas卡、expander卡、硬盤進行功能測試，完成對存儲子系統(tǒng)數(shù)據(jù)完整性測試。

所述測試的方法可以在服務器產(chǎn)品產(chǎn)線老化測試過程中導入，在os下使用軟件進行測試。

作為優(yōu)選，所述數(shù)據(jù)完整性測試的方法具體包括以下步驟：

s1：根據(jù)測試要求確認每個硬盤的最大測試地址，設為0-m；

s2：將每個硬盤的0-m范圍內(nèi)使用pattern=0x00000000，進行寫入，將該部分地址全部寫為0；

s3：將每個硬盤的0-m范圍內(nèi)從地址0開始讀出數(shù)據(jù)，如果為0，則寫入pattern=0xffffffff；

s4：將每個硬盤的0-m范圍內(nèi)從地址0開始讀出數(shù)據(jù)，如果為f，則寫入pattern=0x55555555；

s5：將每個硬盤的0-m范圍內(nèi)從地址0開始讀出數(shù)據(jù)，如果為5，則寫入pattern=0xaaaaaaaa；

s6：將每個硬盤的0-m范圍內(nèi)從地址0開始讀出數(shù)據(jù)，如果為a，則測試通過。

作為優(yōu)選，所述數(shù)據(jù)完整性測試的方法中，校驗失敗時，將校驗失敗的步驟和地址寫入log，測試過程中，自動檢查log，從而確認故障位置及原因。

一種實現(xiàn)存儲子系統(tǒng)數(shù)據(jù)完整性測試的系統(tǒng)，所述數(shù)據(jù)完整性測試的系統(tǒng)包括：

寫入模塊：用于寫入根據(jù)測試要求確認的每個硬盤的測試地址范圍；

讀取模塊：用于根據(jù)每個硬盤的測試地址范圍依次讀取地址數(shù)據(jù)；

判定模塊：用于根據(jù)讀取的硬盤的測試地址數(shù)據(jù)判定存儲子系統(tǒng)的數(shù)據(jù)完整性。

本發(fā)明中根據(jù)測試要求確認每個硬盤的最大測試地址設為0-m，寫入模塊將每個硬盤的0-m范圍內(nèi)使用pattern=0x00000000進行寫入，將這部分地址全部寫為0。讀取模塊將每個硬盤的0-m范圍內(nèi)從地址0開始讀出數(shù)據(jù)，如果為0，則寫入pattern=0xffffffff，讀取模塊繼續(xù)將每個硬盤的0-m范圍內(nèi)從地址0開始讀出數(shù)據(jù)，如果為f，則寫入pattern=0x55555555，讀取模塊繼續(xù)將每個硬盤的0-m范圍內(nèi)從地址0開始讀出數(shù)據(jù)，如果為5，則寫入pattern=0xaaaaaaaa，讀取模塊繼續(xù)將每個硬盤的0-m范圍內(nèi)從地址0開始讀出數(shù)據(jù)，如果為a，則測試通過。

作為優(yōu)選，所述數(shù)據(jù)完整性測試的系統(tǒng)還包括故障確認模塊，用于在自動化測試過程中確認硬盤故障位置和原因。

在測試過程中，如果出現(xiàn)校驗失敗的情況，則將失敗步驟和地址寫入log，在自動化測試過程中，可以自動檢查log，確認故障位置和原因。

作為優(yōu)選，所述數(shù)據(jù)完整性測試的系統(tǒng)用于對存儲子系統(tǒng)中的cpu、pch、raid卡、sas卡、expander卡、硬盤進行功能測試。

與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的實現(xiàn)存儲子系統(tǒng)數(shù)據(jù)完整性測試的方法具有以下突出的有益效果：本發(fā)明所述的存儲子系統(tǒng)數(shù)據(jù)完整性測試的方法，可以對不同的服務器存儲架構(gòu)進行硬盤數(shù)據(jù)完整性測試，測試后的服務器產(chǎn)品，可以保證客戶的數(shù)據(jù)完整性，降低客戶存儲數(shù)據(jù)出錯的風險，提高服務器產(chǎn)品的可靠性。

具體實施方式

下面將結(jié)合實施例，對本發(fā)明的實現(xiàn)存儲子系統(tǒng)數(shù)據(jù)完整性測試的方法及系統(tǒng)作進一步詳細說明。

實施例1

本發(fā)明的實現(xiàn)存儲子系統(tǒng)數(shù)據(jù)完整性測試的方法，基于os下對硬盤數(shù)據(jù)進行讀寫校驗，直接對存儲子系統(tǒng)中的cpu、pch、raid卡、sas卡、expander卡、硬盤進行功能測試，完成對存儲子系統(tǒng)數(shù)據(jù)完整性測試。

該實現(xiàn)存儲子系統(tǒng)數(shù)據(jù)完整性測試的方法具體包括以下步驟：

s1：根據(jù)測試要求確認每個硬盤的最大測試地址，設為0-m；

s2：將每個硬盤的0-m范圍內(nèi)使用pattern=0x00000000，進行寫入，將該部分地址全部寫為0；

s3：將每個硬盤的0-m范圍內(nèi)從地址0開始讀出數(shù)據(jù)，如果為0，則寫入pattern=0xffffffff；

s4：將每個硬盤的0-m范圍內(nèi)從地址0開始讀出數(shù)據(jù)，如果為f，則寫入pattern=0x55555555；

s5：將每個硬盤的0-m范圍內(nèi)從地址0開始讀出數(shù)據(jù)，如果為5，則寫入pattern=0xaaaaaaaa；

s6：將每個硬盤的0-m范圍內(nèi)從地址0開始讀出數(shù)據(jù)，如果為a，則測試通過，若測試不通過，即校驗失敗時，將校驗失敗的步驟和地址寫入log，測試過程中，自動檢查log，從而確認故障位置及原因。

實施例2

一種實現(xiàn)存儲子系統(tǒng)數(shù)據(jù)完整性測試的系統(tǒng)，包括寫入模塊、讀取模塊、判定模塊和故障確認模塊。

寫入模塊用于寫入根據(jù)測試要求確認的每個硬盤的測試地址范圍，確認每個硬盤的最大測試地址設為0-m，寫入模塊將每個硬盤的0-m范圍內(nèi)使用pattern=0x00000000進行寫入，將這部分地址全部寫為0。

讀取模塊將每個硬盤的0-m范圍內(nèi)從地址0開始讀出數(shù)據(jù)，如果為0，則寫入pattern=0xffffffff，讀取模塊繼續(xù)將每個硬盤的0-m范圍內(nèi)從地址0開始讀出數(shù)據(jù)，如果為f，則寫入pattern=0x55555555，讀取模塊繼續(xù)將每個硬盤的0-m范圍內(nèi)從地址0開始讀出數(shù)據(jù)，如果為5，則寫入pattern=0xaaaaaaaa，讀取模塊繼續(xù)將每個硬盤的0-m范圍內(nèi)從地址0開始讀出數(shù)據(jù)，如果為a，則判定模塊判定測試通過。

在測試過程中，如果出現(xiàn)校驗失敗的情況，則故障確認模塊將失敗步驟和地址寫入log，在自動化測試過程中，自動檢查log，確認故障位置和原因。

以上所述的實施例，只是本發(fā)明較優(yōu)選的具體實施方式，本領域的技術(shù)人員在本發(fā)明技術(shù)方案范圍內(nèi)進行的通常變化和替換都應包含在本發(fā)明的保護范圍內(nèi)。