本申請涉及但不限定于一種靈敏放大器的測試方法和電子設(shè)備。

背景技術(shù)：

1、伴隨存儲器技術(shù)的發(fā)展，存儲器被廣泛應(yīng)用在多種領(lǐng)域，比如，動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲器(dynamic?random?access?memory，簡稱dram)的使用非常廣泛。

2、靈敏放大器(sense?amplifier簡稱：sa)是半導(dǎo)體存儲器的一個(gè)重要組成部分，主要作用是將位線上的小信號進(jìn)行感測放大，進(jìn)而執(zhí)行讀取或者寫入操作。對于靈敏放大器的改進(jìn)有利于提升數(shù)據(jù)讀寫性能。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本申請一些實(shí)施例提供一種靈敏放大器的測試方法，目標(biāo)存儲區(qū)域包括靈敏放大器和存儲單元，位線與靈敏放大器和存儲單元連接；方法包括：

2、在參考測試模式下獲取第一損耗量與第一錯(cuò)誤率之間第一映射關(guān)系；其中，參考測試模式包括參考因素，第一損耗量為參考因素對位線電壓的損耗量，第一錯(cuò)誤率為在第一損耗量的作用下從目標(biāo)存儲區(qū)域中讀取數(shù)據(jù)的讀出錯(cuò)誤率；

3、在目標(biāo)測試模式下獲取第二損耗量與第二錯(cuò)誤率之間第二映射關(guān)系；其中，在目標(biāo)測試模式包括參考因素和目標(biāo)因素，第二損耗量為參考因素和目標(biāo)因素共同對位線電壓的損耗量，第二錯(cuò)誤率為在第二損耗量的作用下從目標(biāo)存儲區(qū)域中讀取數(shù)據(jù)的讀出錯(cuò)誤率；

4、根據(jù)第一映射關(guān)系和第二映射關(guān)系，計(jì)算獲得目標(biāo)因素對靈敏放大器的感測裕度的影響值。

5、本申請一些實(shí)施例提供一種電子設(shè)備，包括：處理器，以及與處理器通信連接的存儲器；

6、存儲器存儲計(jì)算機(jī)執(zhí)行指令；

7、處理器執(zhí)行存儲器存儲的計(jì)算機(jī)執(zhí)行指令，以實(shí)現(xiàn)上述實(shí)施例所涉及的方法。

8、本申請?zhí)峁┑撵`敏放大器的測試方法和電子設(shè)備，在參考測試模式下獲取第一損耗量與第一錯(cuò)誤率之間第一映射關(guān)系，在目標(biāo)測試模式下獲取第二損耗量與第二錯(cuò)誤率之間第二映射關(guān)系，又目標(biāo)測試模式比參考測試模式多目標(biāo)因素，基于第一映射關(guān)系和第二映射關(guān)系即可獲得引入目標(biāo)因素而引起的位線電壓損耗量，進(jìn)而可以確定目標(biāo)因素對靈敏放大器的感測裕度的影響值。

技術(shù)特征：

1.一種靈敏放大器的測試方法，其特征在于，目標(biāo)存儲區(qū)域包括所述靈敏放大器和存儲單元，位線與所述靈敏放大器和所述存儲單元連接；所述方法包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測試方法，其特征在于，所述第一映射關(guān)系包括多組所述第一損耗量和所述第一錯(cuò)誤率之間映射關(guān)系，在參考測試模式下獲取第一損耗量與第一錯(cuò)誤率之間第一映射關(guān)系，具體包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試方法，其特征在于，基于所述存儲單元的下極板電壓設(shè)置不利于讀出數(shù)據(jù)的測試條件，具體包括：

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的測試方法，其特征在于，其中，所述第一映射關(guān)系包括第一映射關(guān)系集合和第二映射關(guān)系集合；

5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試方法，其特征在于，子區(qū)域?yàn)橥粭l字線上的存儲單元，且所述存儲單元共用一條列選擇線。

6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試方法，其特征在于，所述第二映射關(guān)系包括多組所述第二損耗量和所述第二錯(cuò)誤率之間映射關(guān)系，在所述參考測試模式下獲取第二損耗量與第二錯(cuò)誤率之間第二映射關(guān)系，具體包括：

7.根據(jù)權(quán)利要求1至6中任意一項(xiàng)所述的測試方法，其特征在于，根據(jù)所述第一映射關(guān)系和所述第二映射關(guān)系，計(jì)算獲得所述目標(biāo)因素對所述靈敏放大器的感測裕度的影響值，具體包括：

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測試方法，其特征在于，

9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測試方法，其特征在于，

10.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測試方法，其特征在于，

11.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測試方法，其特征在于，

12.根據(jù)權(quán)利要求6所述的測試方法，其特征在于，

13.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括：處理器，以及與所述處理器通信連接的存儲器；

技術(shù)總結(jié)
本申請?zhí)峁┮环N靈敏放大器的測試方法和電子設(shè)備，包括：在參考測試模式下獲取第一損耗量與第一錯(cuò)誤率之間第一映射關(guān)系。其中，參考測試模式包括參考因素，第一損耗量為參考因素對位線電壓的損耗量，第一錯(cuò)誤率為在第一損耗量的作用下從目標(biāo)存儲區(qū)域中讀取數(shù)據(jù)的讀出錯(cuò)誤率，在目標(biāo)測試模式下獲取第二損耗量與第二錯(cuò)誤率之間第二映射關(guān)系。其中，在目標(biāo)測試模式包括參考因素和目標(biāo)因素，第二損耗量為參考因素和目標(biāo)因素共同對位線電壓的損耗量，第二錯(cuò)誤率為在第二損耗量的作用下從目標(biāo)存儲區(qū)域中讀取數(shù)據(jù)的讀出錯(cuò)誤率。根據(jù)第一映射關(guān)系和第二映射關(guān)系，計(jì)算獲得目標(biāo)因素對靈敏放大器的感測裕度的影響值。

技術(shù)研發(fā)人員：梁翔宇,楊名,李先東,朱陳宇,蘇信政
受保護(hù)的技術(shù)使用者：長鑫存儲技術(shù)有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/12/30