1.一種方法,其包括:
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中:
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中:
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其進(jìn)一步包括:
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其進(jìn)一步包括:
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中:
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其進(jìn)一步包括:
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中:
9.一種器件,其包括:
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的器件,其中所述比較器級(jí)進(jìn)一步包括:
11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的器件,其中所述接收器進(jìn)一步包括:
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的器件,其中與每個(gè)經(jīng)調(diào)諧比較器耦接的所述參考電壓能夠獨(dú)立于與所述接收器的其它經(jīng)調(diào)諧比較器耦接的其它參考電壓而調(diào)整。
13.根據(jù)權(quán)利要求11所述的器件,其中每個(gè)經(jīng)調(diào)諧鎖存器的采樣時(shí)間能夠獨(dú)立于所述接收器的其它經(jīng)調(diào)諧鎖存器的其它采樣時(shí)間而調(diào)整。
14.一種裝置,其包括:
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的裝置,其中:
16.根據(jù)權(quán)利要求14所述的裝置,其中:
17.根據(jù)權(quán)利要求14所述的裝置,其中所述處理電路系統(tǒng)進(jìn)一步被配置成致使所述裝置以:
18.根據(jù)權(quán)利要求14所述的裝置,其中所述處理電路系統(tǒng)進(jìn)一步被配置成致使所述裝置以:
19.根據(jù)權(quán)利要求14所述的裝置,其中:
20.根據(jù)權(quán)利要求14所述的裝置,其中所述處理電路系統(tǒng)進(jìn)一步被配置成致使所述裝置以: