本發(fā)明涉及數(shù)據(jù)存儲，更具體地說是應(yīng)用于可靠性測試的高速信號時序拉偏方法及裝置。

背景技術(shù)：

1、閃存介質(zhì)存儲器(如ssd、emmc、ufs等)常遇到的數(shù)據(jù)類傳輸問題uecc、讀/寫error等，其主要原因是由嵌入式主控器和閃存存儲介質(zhì)之間信息傳輸異常引起的誤碼，這些失效通常由同步時鐘信號傳輸過程的時鐘偏差、抖動、時延、阻抗不匹配等參數(shù)偏離正常值所造成，引起這些參數(shù)偏差的原因來自于器件誤差、pcb材料誤差、環(huán)境影響等。

2、為解決此類問題，硬件開發(fā)常用信號完整性仿真和單體波形測試來判定裕量以保證設(shè)計，但此類傳統(tǒng)手段僅是從理論和單體上考慮，無法保證產(chǎn)品大批量出貨后信號質(zhì)量裕量是否足夠，仍會因信號質(zhì)量波動導致高概率失效。另外，對emmc和usf此類小型package集成成品，無法通過物理手段測試波形，只能依靠si仿真、dq?rx?eye?mask虛擬評估和數(shù)據(jù)校驗方法來驗收信號質(zhì)量，也無法摸出信號質(zhì)量偏差邊界，以及提前做si信號質(zhì)量風險識別和采取措施做預(yù)防。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供應(yīng)用于可靠性測試的高速信號時序拉偏方法及裝置。

2、為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用以下技術(shù)方案：

3、第一方面，本發(fā)明提供了應(yīng)用于可靠性測試的高速信號時序拉偏方法，包括：

4、找出每個位dq信號在讀寫操作時的有效捕獲時間區(qū)間；

5、計算每個位dq信號的中點時間，并與dqs對齊，作為最佳捕獲時間點；

6、從最佳捕獲時間點開始，向左或向右偏移設(shè)定步長，進行不同程度的時間拉偏；

7、在不同溫度條件下進行讀寫左拉偏或右拉偏操作測試，并記錄測試結(jié)果；

8、根據(jù)測試結(jié)果，找出引起測試失效的極限邊界；

9、根據(jù)極限邊界判斷當前設(shè)計裕量是否足夠，若不足夠，則調(diào)整當前設(shè)定的驅(qū)動參數(shù)。

10、進一步地，所述找出每個位dq信號在讀寫操作時的有效捕獲時間區(qū)間，包括：

11、將dqs和dq信號進行初始對齊訓練；

12、在初始對齊訓練中，記錄每個位dq信號高電平或低電平被捕獲的時間點；

13、記錄每個位dq信號高電平或低電平起始被捕獲的延時時間點；

14、記錄每個位dq信號高電平或低電平截止被捕獲的延時時間點；

15、根據(jù)起始被捕獲的延時時間點和截止被捕獲的延時時間點計算有效捕獲時間區(qū)間。

16、進一步地，所述根據(jù)起始被捕獲的延時時間點和截止被捕獲的延時時間點計算有效捕獲時間區(qū)間，計算公式如下：

17、δtx＝tx2-tx1；

18、式中，tx2代表截止被捕獲的延時時間點，tx1代表起始被捕獲的延時時間點。

19、進一步地，所述計算每個位dq信號的中點時間，并與dqs對齊，作為最佳捕獲時間點，計算公式如下：

20、

21、式中，tx1代表起始被捕獲的延時時間點，δtx代表有效捕獲時間區(qū)間。

22、進一步地，所述從最佳捕獲時間點開始，向左或向右偏移設(shè)定步長，進行不同程度的時間拉偏，包括：

23、設(shè)定時間拉偏步長；

24、從最佳捕獲時間點開始，向左和向右分別偏移時間拉偏步長。

25、進一步地，所述在不同溫度條件下進行讀寫左拉偏或右拉偏操作測試，并記錄測試結(jié)果，包括：

26、設(shè)定溫度范圍，所述溫度范圍包括低溫、常溫和高溫；

27、分別在低溫、常溫和高溫環(huán)境中，按照設(shè)定的時間拉偏步長進行向左和向右的讀寫偏移，并記錄結(jié)果。

28、進一步地，所述根據(jù)極限邊界判斷當前設(shè)計裕量是否足夠，若不足夠，則調(diào)整當前設(shè)定的驅(qū)動參數(shù)，包括：

29、將極限邊界與當前設(shè)計裕量進行比較；

30、若極限邊界大于當前設(shè)計裕量，則判定當前設(shè)計裕量不足。

31、第二方面，本發(fā)明還提供了應(yīng)用于可靠性測試的高速信號時序拉偏裝置，包括：

32、查找單元，用于找出每個位dq信號在讀寫操作時的有效捕獲時間區(qū)間；

33、第一計算單元，用于計算每個位dq信號的中點時間，并與dqs對齊，作為最佳捕獲時間點；

34、時間拉偏單元，用于從最佳捕獲時間點開始，向左或向右偏移設(shè)定步長，進行不同程度的時間拉偏；

35、溫度沖擊測試單元，用于在不同溫度條件下進行讀寫左拉偏或右拉偏操作測試，并記錄測試結(jié)果；

36、篩選單元，用于根據(jù)測試結(jié)果，找出引起測試失效的極限邊界；

37、判定單元，用于根據(jù)極限邊界判斷當前設(shè)計裕量是否足夠，若不足夠，則調(diào)整當前設(shè)定的驅(qū)動參數(shù)。

38、第三方面，本發(fā)明還提供了一種計算機設(shè)備，包括存儲器、處理器以及存儲在所述存儲器上并可在所述處理器上運行的計算機程序，所述處理器執(zhí)行所述計算機程序時實現(xiàn)如上述的應(yīng)用于可靠性測試的高速信號時序拉偏方法。

39、第四方面，本發(fā)明還提供了一種計算機可讀存儲介質(zhì)，所述存儲介質(zhì)存儲有計算機程序，所述計算機程序包括程序指令，所述程序指令被處理器執(zhí)行時，使得所述處理器執(zhí)行如上述的應(yīng)用于可靠性測試的高速信號時序拉偏方法。本發(fā)明與現(xiàn)有技術(shù)相比的有益效果是：應(yīng)用于可靠性測試的高速信號時序拉偏方法，包括：找出每個位dq信號在讀寫操作時的有效捕獲時間區(qū)間；計算每個位dq信號的中點時間，并與dqs對齊，作為最佳捕獲時間點；從最佳捕獲時間點開始，向左或向右偏移設(shè)定步長，進行不同程度的時間拉偏；在不同溫度條件下進行讀寫左拉偏或右拉偏操作測試，并記錄測試結(jié)果；根據(jù)測試結(jié)果，找出引起測試失效的極限邊界；根據(jù)極限邊界判斷當前設(shè)計裕量是否足夠，若不足夠，則調(diào)整當前設(shè)定的驅(qū)動參數(shù)。本發(fā)明通過基于dqs和dq的時序做拉偏，通過批量樣品數(shù)據(jù)摸出產(chǎn)品極限邊界，評估裕量是否足夠能覆蓋設(shè)計參數(shù)偏差，即使在極端場景下，也能保證存儲器讀寫業(yè)務(wù)正常，不會出現(xiàn)誤碼類失效，提升了產(chǎn)品的魯棒性。

40、上述說明僅是本發(fā)明技術(shù)方案的概述，為了能夠更清楚了解本發(fā)明技術(shù)手段，可依照說明書的內(nèi)容予以實施，并且為了讓本發(fā)明的上述和其它目的特征及優(yōu)點能夠更明顯易懂，以下特舉較佳實施例，詳細說明如下。

技術(shù)特征：

1.應(yīng)用于可靠性測試的高速信號時序拉偏方法，其特征在于，包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的應(yīng)用于可靠性測試的高速信號時序拉偏方法，其特征在于，所述找出每個位dq信號在讀寫操作時的有效捕獲時間區(qū)間，包括：

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的應(yīng)用于可靠性測試的高速信號時序拉偏方法，其特征在于，所述根據(jù)起始被捕獲的延時時間點和截止被捕獲的延時時間點計算有效捕獲時間區(qū)間，計算公式如下：

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的應(yīng)用于可靠性測試的高速信號時序拉偏方法，其特征在于，所述計算每個位dq信號的中點時間，并與dqs對齊，作為最佳捕獲時間點，計算公式如下：

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的應(yīng)用于可靠性測試的高速信號時序拉偏方法，其特征在于，所述從最佳捕獲時間點開始，向左或向右偏移設(shè)定步長，進行不同程度的時間拉偏，包括：

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的應(yīng)用于可靠性測試的高速信號時序拉偏方法，其特征在于，所述在不同溫度條件下進行讀寫左拉偏或右拉偏操作測試，并記錄測試結(jié)果，包括：

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的應(yīng)用于可靠性測試的高速信號時序拉偏方法，其特征在于，所述根據(jù)極限邊界判斷當前設(shè)計裕量是否足夠，若不足夠，則調(diào)整當前設(shè)定的驅(qū)動參數(shù)，包括：

8.應(yīng)用于可靠性測試的高速信號時序拉偏裝置，其特征在于，包括：

9.一種計算機設(shè)備，其特征在于，包括存儲器、處理器以及存儲在所述存儲器上并可在所述處理器上運行的計算機程序，所述處理器執(zhí)行所述計算機程序時實現(xiàn)如權(quán)利要求1～7中任意一項所述的應(yīng)用于可靠性測試的高速信號時序拉偏方法。

10.一種計算機可讀存儲介質(zhì)，其特征在于，所述存儲介質(zhì)存儲有計算機程序，所述計算機程序包括程序指令，所述程序指令被處理器執(zhí)行時，使得所述處理器執(zhí)行如權(quán)利要求1～7任意一項所述的應(yīng)用于可靠性測試的高速信號時序拉偏方法。

技術(shù)總結(jié)
本發(fā)明公開了應(yīng)用于可靠性測試的高速信號時序拉偏方法及裝置，方法包括：找出每個位DQ信號在讀寫操作時的有效捕獲時間區(qū)間；計算每個位DQ信號的中點時間，并與DQS對齊，作為最佳捕獲時間點；從最佳捕獲時間點開始，向左或向右偏移設(shè)定步長，進行不同程度的時間拉偏；在不同溫度條件下進行讀寫左拉偏或右拉偏操作測試，并記錄測試結(jié)果；根據(jù)測試結(jié)果，找出引起測試失效的極限邊界；根據(jù)極限邊界判斷當前設(shè)計裕量是否足夠，若不足夠，則調(diào)整當前設(shè)定的驅(qū)動參數(shù)。本發(fā)明通過批量樣品數(shù)據(jù)摸出產(chǎn)品極限邊界，評估裕量是否足夠能覆蓋設(shè)計參數(shù)偏差，即使在極端場景下，也能保證存儲器讀寫業(yè)務(wù)正常，不會出現(xiàn)誤碼類失效，提升了產(chǎn)品的魯棒性。

技術(shù)研發(fā)人員：楊建良,田運風
受保護的技術(shù)使用者：東莞憶云信息系統(tǒng)有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/1/2