本申請(qǐng)涉及故障檢測(cè)，尤其涉及易失性存儲(chǔ)芯片故障檢測(cè)方法、裝置及電子設(shè)備。

背景技術(shù)：

1、對(duì)于服務(wù)器等電子設(shè)備而言，內(nèi)存故障如易失性存儲(chǔ)芯片故障對(duì)設(shè)備造成的影響較為嚴(yán)重，如會(huì)引起設(shè)備宕機(jī)等問(wèn)題，因此，對(duì)易失性存儲(chǔ)芯片的故障檢測(cè)尤為重要。在實(shí)際應(yīng)用中，通常是采用malloc方式從易失性存儲(chǔ)芯片的內(nèi)存空間中申請(qǐng)內(nèi)存以作為故障檢測(cè)的測(cè)試內(nèi)存塊，但是由于這種內(nèi)存申請(qǐng)方式所申請(qǐng)的內(nèi)存是在堆上隨機(jī)分配的，這樣會(huì)導(dǎo)致內(nèi)存的讀寫效率較低，從而降低故障檢測(cè)的效率。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、有鑒于此，本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘资源鎯?chǔ)芯片故障檢測(cè)方法、裝置及電子設(shè)備，以提高故障檢測(cè)的效率。

2、本申請(qǐng)實(shí)施例提供一種易失性存儲(chǔ)芯片故障檢測(cè)方法，該方法應(yīng)用于電子設(shè)備，該方法包括：

3、創(chuàng)建同一進(jìn)程下的n個(gè)線程；n小于或等于電子設(shè)備中中央處理器(centralprocessing?unit，cpu)支持的線程數(shù)量；

4、針對(duì)每一線程，獲得該線程被分配的待執(zhí)行故障測(cè)試的測(cè)試內(nèi)存塊、以及該線程綁定的cpu內(nèi)核的內(nèi)核標(biāo)識(shí)；測(cè)試內(nèi)存塊為線程綁定的其中一個(gè)非一致性內(nèi)存訪問(wèn)(nonuniform?memory?access，numa)節(jié)點(diǎn)的當(dāng)前空閑內(nèi)存空間中的部分空間；numa節(jié)點(diǎn)的當(dāng)前空閑內(nèi)存空間是從電子設(shè)備所配置的至少一個(gè)易失性存儲(chǔ)芯片的內(nèi)存空間中分配給numa節(jié)點(diǎn)的；

5、在同一進(jìn)程下通過(guò)各線程綁定的內(nèi)核標(biāo)識(shí)對(duì)應(yīng)的cpu內(nèi)核運(yùn)行各線程，以使每一線程調(diào)用至少一個(gè)被配置的測(cè)試算法對(duì)該線程對(duì)應(yīng)的測(cè)試內(nèi)存塊進(jìn)行壓力讀寫測(cè)試。

6、本申請(qǐng)實(shí)施例還提供一種易失性存儲(chǔ)芯片故障檢測(cè)裝置，該裝置應(yīng)用于電子設(shè)備，該裝置包括：

7、創(chuàng)建模塊，用于創(chuàng)建同一進(jìn)程下的n個(gè)線程；n小于或等于電子設(shè)備中cpu支持的線程數(shù)量；

8、獲得模塊，用于針對(duì)每一線程，獲得該線程被分配的待執(zhí)行故障測(cè)試的測(cè)試內(nèi)存塊、以及該線程綁定的cpu內(nèi)核的內(nèi)核標(biāo)識(shí)；測(cè)試內(nèi)存塊為線程綁定的其中一個(gè)numa節(jié)點(diǎn)的當(dāng)前空閑內(nèi)存空間中的部分空間；numa節(jié)點(diǎn)的當(dāng)前空閑內(nèi)存空間是從電子設(shè)備所配置的至少一個(gè)易失性存儲(chǔ)芯片的內(nèi)存空間中分配給numa節(jié)點(diǎn)的；

9、測(cè)試模塊，用于在同一進(jìn)程下通過(guò)各線程綁定的內(nèi)核標(biāo)識(shí)對(duì)應(yīng)的cpu內(nèi)核運(yùn)行各線程，以使每一線程調(diào)用至少一個(gè)被配置的測(cè)試算法對(duì)該線程對(duì)應(yīng)的測(cè)試內(nèi)存塊進(jìn)行壓力讀寫測(cè)試。

10、本申請(qǐng)實(shí)施例還提供一種電子設(shè)備，該電子設(shè)備包括：

11、處理器；以及

12、計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，在該計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)中存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序指令，計(jì)算機(jī)程序指令在被處理器運(yùn)行時(shí)使得處理器執(zhí)行如上方法的步驟。

13、本申請(qǐng)實(shí)施例還提供一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，該計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序指令，該計(jì)算機(jī)程序指令在被處理器運(yùn)行時(shí)使得處理器執(zhí)行如上方法中的步驟。

14、由以上技術(shù)方案可以看出，本申請(qǐng)實(shí)施例中，針對(duì)所創(chuàng)建的每一線程，將該線程綁定的numa節(jié)點(diǎn)的當(dāng)前空閑內(nèi)存空間中的部分空間作為該線程被分配的測(cè)試內(nèi)存塊，這樣在對(duì)測(cè)試內(nèi)存塊進(jìn)行壓力讀寫測(cè)試的過(guò)程中無(wú)需跨numa節(jié)點(diǎn)讀寫數(shù)據(jù)，能夠避免由于在堆上隨機(jī)分配內(nèi)存作為測(cè)試內(nèi)存塊而導(dǎo)致讀寫效率降低的問(wèn)題，從而提高故障檢測(cè)效率。并且本實(shí)施例中通過(guò)所創(chuàng)建的在同一進(jìn)程下的n個(gè)線程并行對(duì)電子設(shè)備所配置的各易失性存儲(chǔ)芯片進(jìn)行壓力讀寫測(cè)試以實(shí)現(xiàn)易失性存儲(chǔ)芯片的故障檢測(cè)，這種單進(jìn)程下的多線程并發(fā)測(cè)試方式能夠進(jìn)一步提高故障檢測(cè)效率。

技術(shù)特征：

1.一種易失性存儲(chǔ)芯片故障檢測(cè)方法，其特征在于，該方法應(yīng)用于電子設(shè)備，該方法包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，若同一numa節(jié)點(diǎn)綁定m個(gè)線程，m大于1，則各線程按照以下步驟被分配測(cè)試內(nèi)存塊：

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，同一numa節(jié)點(diǎn)綁定的各線程被分配的測(cè)試內(nèi)存塊的大小相同；

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，每一線程調(diào)用至少一個(gè)被配置的測(cè)試算法對(duì)該線程對(duì)應(yīng)的測(cè)試內(nèi)存塊進(jìn)行壓力讀寫測(cè)試包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，所述配置文件還包括相鄰執(zhí)行的兩測(cè)試算法的執(zhí)行時(shí)間間隔；所述執(zhí)行時(shí)間間隔內(nèi)的測(cè)試結(jié)果被用于檢查易失性存儲(chǔ)芯片的動(dòng)態(tài)響應(yīng)能力；

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，

7.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，在完成各線程對(duì)應(yīng)的測(cè)試內(nèi)存塊的壓力讀寫測(cè)試之后，該方法進(jìn)一步包括：

8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，在完成各線程對(duì)應(yīng)的測(cè)試內(nèi)存塊的壓力讀寫測(cè)試之后，該方法進(jìn)一步包括：

9.一種易失性存儲(chǔ)芯片故障檢測(cè)裝置，其特征在于，該裝置應(yīng)用于電子設(shè)備，該裝置包括：

10.一種電子設(shè)備，其特征在于，該電子設(shè)備包括：

技術(shù)總結(jié)
本申請(qǐng)實(shí)施例提供易失性存儲(chǔ)芯片故障檢測(cè)方法、裝置及電子設(shè)備。本申請(qǐng)實(shí)施例中，針對(duì)所創(chuàng)建的每一線程，將該線程綁定的NUMA節(jié)點(diǎn)的當(dāng)前空閑內(nèi)存空間中的部分空間作為該線程被分配的測(cè)試內(nèi)存塊，這樣在對(duì)測(cè)試內(nèi)存塊進(jìn)行壓力讀寫測(cè)試的過(guò)程中無(wú)需跨NUMA節(jié)點(diǎn)讀寫數(shù)據(jù)，能夠避免由于在堆上隨機(jī)分配內(nèi)存作為測(cè)試內(nèi)存塊而導(dǎo)致讀寫效率降低的問(wèn)題，從而提高故障檢測(cè)效率；并且本實(shí)施例通過(guò)所創(chuàng)建的在同一進(jìn)程下的N個(gè)線程并行對(duì)電子設(shè)備所配置的各易失性存儲(chǔ)芯片進(jìn)行壓力讀寫測(cè)試以實(shí)現(xiàn)易失性存儲(chǔ)芯片的故障檢測(cè)，這種單進(jìn)程下的多線程并發(fā)測(cè)試方式能夠進(jìn)一步提高故障檢測(cè)效率。

技術(shù)研發(fā)人員：盧雙堂,於建軍,魏順風(fēng)
受保護(hù)的技術(shù)使用者：新華三技術(shù)有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/1/2