本申請(qǐng)涉及固態(tài)硬盤生產(chǎn)設(shè)備，更具體地說(shuō)，是涉及一種固態(tài)硬盤的測(cè)試機(jī)。

背景技術(shù)：

1、固態(tài)硬盤(solid?state?drive，ssd)因其強(qiáng)大的隨機(jī)讀寫能力，被廣泛應(yīng)用于各領(lǐng)域。固態(tài)硬盤可以安裝于主機(jī)(host)上以作為主機(jī)的存儲(chǔ)介質(zhì)，主機(jī)向固態(tài)硬盤下發(fā)數(shù)據(jù)，以使得固態(tài)硬盤將下發(fā)的數(shù)據(jù)寫入固態(tài)硬盤中進(jìn)行存儲(chǔ)。固態(tài)硬盤的主要電路部分是硬盤板體以及外面的殼體。硬盤板體采用集成電路板的方式，當(dāng)硬盤板體生產(chǎn)完成后，就需要及時(shí)進(jìn)行功能檢測(cè)，是否可以進(jìn)行正常的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)。

2、現(xiàn)有的測(cè)試工具通常是采用測(cè)試電路板進(jìn)行功能檢測(cè)，測(cè)試電路板上設(shè)置有指示燈，一般一個(gè)測(cè)試電路板上設(shè)置有多個(gè)檢測(cè)位，一次可以對(duì)多個(gè)待檢測(cè)固態(tài)硬盤進(jìn)行檢測(cè)，如果檢測(cè)不合格，則通過(guò)指示燈進(jìn)行指示。但是指示燈的指示信息有限，提示信息顯示不全面。

3、因此，現(xiàn)有技術(shù)還有待于改進(jìn)和發(fā)展。

技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、本申請(qǐng)的目的在于提供一種固態(tài)硬盤的測(cè)試機(jī)，解決了現(xiàn)有技術(shù)中的硬盤檢測(cè)機(jī)通過(guò)指示燈的指示信息有限，提示信息顯示不全面的問(wèn)題。

2、為實(shí)現(xiàn)上述目的，本申請(qǐng)采用的技術(shù)方案是：

3、本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N固態(tài)硬盤的測(cè)試機(jī)，包括：機(jī)箱，機(jī)箱內(nèi)從下至上設(shè)置有安裝腔室以及測(cè)試腔室，測(cè)試腔室內(nèi)固定設(shè)置有多個(gè)測(cè)試主板，測(cè)試主板用于插接待檢測(cè)固態(tài)硬盤；

4、測(cè)試主機(jī)，測(cè)試主機(jī)設(shè)置在安裝腔室中，并與多個(gè)測(cè)試主板電連接；

5、顯示器，顯示器設(shè)置在機(jī)箱頂部，并與測(cè)試主機(jī)電連接，以用于顯示多個(gè)測(cè)試主板所檢測(cè)的結(jié)果。

6、可選地，測(cè)試腔室的一側(cè)具有窗口，測(cè)試腔室內(nèi)設(shè)置有隔板，多個(gè)測(cè)試主板安裝在隔板背離窗口的一側(cè)；

7、測(cè)試主板上具有立式連接座，立式連接座貫穿隔板并朝向窗口設(shè)置。

8、可選地，隔板將測(cè)試腔室分隔成測(cè)試前室和測(cè)試后室，測(cè)試后室的空間大于測(cè)試前室；

9、測(cè)試前室用于容納待檢測(cè)固態(tài)硬盤。

10、可選地，窗口設(shè)置有對(duì)開門，對(duì)開門上設(shè)置透視窗。

11、可選地，顯示器上設(shè)置有角度調(diào)節(jié)結(jié)構(gòu)，顯示器通過(guò)角度調(diào)節(jié)結(jié)構(gòu)連接在機(jī)箱上，并用于調(diào)整傾斜角度。

12、可選地，測(cè)試主板包括：測(cè)試電路板，測(cè)試電路板上設(shè)置有至少一個(gè)臥式連接座；

13、至少一個(gè)輔助電路板，至少一個(gè)輔助電路板上設(shè)置有對(duì)接金手指部，并通過(guò)對(duì)接金手指部可插拔連接在臥式連接座上；

14、立式連接座設(shè)置在輔助電路板背離測(cè)試電路板的表面上；

15、立式連接座用于可插拔連接帶檢測(cè)固態(tài)硬盤，以使待檢測(cè)固態(tài)硬盤立式置于測(cè)試電路板。

16、可選地，立式連接座包括：連接器，連接器設(shè)置在輔助電路板的表面上，且連接器背離輔助電路板的一側(cè)具有插接開口，插接開口用于插接待檢測(cè)固態(tài)硬盤；

17、導(dǎo)向殼，導(dǎo)向殼設(shè)置在插接開口的外側(cè)，并用于引導(dǎo)待檢測(cè)固態(tài)硬盤插接到連接器。

18、可選地，導(dǎo)向殼包括：殼體，殼體環(huán)繞設(shè)置在插接開口的外側(cè)，殼體具有導(dǎo)向口；

19、兩側(cè)的彈性片，彈性片對(duì)稱設(shè)置在殼體的內(nèi)壁上；

20、兩側(cè)的彈性片通過(guò)待檢測(cè)固態(tài)硬盤的擠壓而產(chǎn)生朝向連接器的彈力，通過(guò)兩側(cè)的彈力而將待檢測(cè)固態(tài)硬盤朝向連接器擠壓。

21、可選地，述測(cè)試電路板與輔助電路板之間設(shè)置有絕緣隔熱片。

22、可選地，立式連接座設(shè)置有多個(gè)，多個(gè)立式連接座沿輔助電路板的延伸方向并排間隔設(shè)置，多個(gè)立式連接座均通過(guò)對(duì)接金手指部而與測(cè)試電路板電連接。

23、本申請(qǐng)?zhí)峁┑囊环N固態(tài)硬盤的測(cè)試機(jī)的有益效果至少在于：通過(guò)設(shè)置機(jī)箱可以將測(cè)試主機(jī)和測(cè)試主板放置在機(jī)箱內(nèi)，并通過(guò)測(cè)試腔室內(nèi)固定設(shè)置有多個(gè)測(cè)試主板，從而可以插接多個(gè)待檢測(cè)固態(tài)硬盤，同時(shí)進(jìn)行固態(tài)硬盤檢測(cè)。通過(guò)在機(jī)箱的頂部設(shè)置顯示器，從而使顯示器可以顯示多個(gè)測(cè)試主板所檢測(cè)的結(jié)果。顯示器位于機(jī)箱頂部，使用戶可以抬頭直觀看到檢測(cè)情況。使用更加方便，而且顯示器的顯示內(nèi)容多，對(duì)各個(gè)待檢測(cè)固態(tài)硬盤的檢測(cè)參數(shù)監(jiān)控更加全面，實(shí)現(xiàn)了對(duì)固態(tài)硬盤檢測(cè)的參數(shù)進(jìn)行全面監(jiān)控，用戶使用更加方便。

技術(shù)特征：

1.一種固態(tài)硬盤的測(cè)試機(jī)，其特征在于，包括：機(jī)箱，所述機(jī)箱內(nèi)從下至上設(shè)置有安裝腔室以及測(cè)試腔室，所述測(cè)試腔室內(nèi)固定設(shè)置有多個(gè)測(cè)試主板，所述測(cè)試主板用于插接待檢測(cè)固態(tài)硬盤；

2.如權(quán)利要求1所述的固態(tài)硬盤的測(cè)試機(jī)，其特征在于，所述測(cè)試腔室的一側(cè)具有窗口，所述測(cè)試腔室內(nèi)設(shè)置有隔板，多個(gè)所述測(cè)試主板安裝在所述隔板背離所述窗口的一側(cè)；

3.如權(quán)利要求2所述的固態(tài)硬盤的測(cè)試機(jī)，其特征在于，所述隔板將所述測(cè)試腔室分隔成測(cè)試前室和測(cè)試后室，所述測(cè)試后室的空間大于所述測(cè)試前室；

4.如權(quán)利要求2所述的固態(tài)硬盤的測(cè)試機(jī)，其特征在于，所述窗口設(shè)置有對(duì)開門，所述對(duì)開門上設(shè)置透視窗。

5.如權(quán)利要求1所述的固態(tài)硬盤的測(cè)試機(jī)，其特征在于，顯示器上設(shè)置有角度調(diào)節(jié)結(jié)構(gòu)，所述顯示器通過(guò)所述角度調(diào)節(jié)結(jié)構(gòu)連接在所述機(jī)箱上，并用于調(diào)整傾斜角度。

6.如權(quán)利要求2所述的固態(tài)硬盤的測(cè)試機(jī)，其特征在于，所述測(cè)試主板包括：測(cè)試電路板，所述測(cè)試電路板上設(shè)置有至少一個(gè)臥式連接座；

7.如權(quán)利要求6所述的固態(tài)硬盤的測(cè)試機(jī)，其特征在于，所述立式連接座包括：連接器，所述連接器設(shè)置在所述輔助電路板的表面上，且所述連接器背離所述輔助電路板的一側(cè)具有插接開口，所述插接開口用于插接所述待檢測(cè)固態(tài)硬盤；

8.如權(quán)利要求7所述的固態(tài)硬盤的測(cè)試機(jī)，其特征在于，所述導(dǎo)向殼包括：殼體，所述殼體環(huán)繞設(shè)置在所述插接開口的外側(cè)，所述殼體具有導(dǎo)向口；

9.如權(quán)利要求8所述的固態(tài)硬盤的測(cè)試機(jī)，其特征在于，所述測(cè)試電路板與所述輔助電路板之間設(shè)置有絕緣隔熱片。

10.如權(quán)利要求6-9任一所述的固態(tài)硬盤的測(cè)試機(jī)，其特征在于，所述立式連接座設(shè)置有多個(gè)，多個(gè)所述立式連接座沿所述輔助電路板的延伸方向并排間隔設(shè)置，多個(gè)所述立式連接座均通過(guò)所述對(duì)接金手指部而與所述測(cè)試電路板電連接。

技術(shù)總結(jié)
本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N固態(tài)硬盤的測(cè)試機(jī)，包括：機(jī)箱，機(jī)箱內(nèi)從下至上設(shè)置有安裝腔室以及測(cè)試腔室，測(cè)試腔內(nèi)固定設(shè)置有多個(gè)測(cè)試主板，測(cè)試主板用于插接待檢測(cè)固態(tài)硬盤；測(cè)試主機(jī)，測(cè)試主機(jī)設(shè)置在安裝腔室中，并與多個(gè)測(cè)試主板電連接；顯示器，顯示器設(shè)置在機(jī)箱頂部，并與測(cè)試主機(jī)電連接，以用于顯示多個(gè)測(cè)試主板所檢測(cè)的結(jié)果。解決了現(xiàn)有技術(shù)中的硬盤檢測(cè)機(jī)通過(guò)指示燈的指示信息有限，提示信息顯示不全面的問(wèn)題。

技術(shù)研發(fā)人員：韓蕊,朱建寶
受保護(hù)的技術(shù)使用者：力瑞信（深圳）科技有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2024/12/26