本公開實施例涉及計算機，具體涉及數(shù)字眼圖測試方法、裝置、電子設(shè)備和存儲介質(zhì)。

背景技術(shù)：

1、隨著ddr（雙倍速率同步動態(tài)隨機存儲器，double?date?rate）/hbm（高帶寬內(nèi)存，high?bandwidth?memory）的不斷迭代，數(shù)據(jù)讀寫速率、密度越來越高，使得讀寫效率大大提高，對i/o（數(shù)據(jù)總線）的信號質(zhì)量有著更嚴格的要求。在silicon（硅后）系統(tǒng)級memory（內(nèi)存）ip（芯片中具有獨立功能的電路模塊的設(shè)計）參數(shù)調(diào)優(yōu)以及信號完整性驗證中，直觀衡量信號質(zhì)量的方法就是數(shù)字眼圖。

2、當(dāng)前最常用的方法就是通過示波器獲得數(shù)字眼圖，但是設(shè)備成本高，如高帶寬示波器往往需要花費幾百萬；測試受硬件限制，對焊點，探頭的類型要求比較高；嵌入式設(shè)計中不同ddr需要專門的interposer（轉(zhuǎn)接板），對于hbm封裝在芯片內(nèi)的，設(shè)計難度更大；因此，亟需一種能夠不受硬件限制的且成本低的數(shù)字眼圖測試方法。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、有鑒于此，本申請?zhí)峁┮环N數(shù)字眼圖測試方法、裝置、電子設(shè)備和存儲介質(zhì)，能夠在低成本且不受硬件限制的條件下實現(xiàn)數(shù)字眼圖的測試。

2、為解決上述技術(shù)問題，本申請的技術(shù)方案是這樣實現(xiàn)的：

3、在一個實施例中，提供了一種數(shù)字眼圖測試方法，所述方法包括：

4、獲取讀寫時序的最優(yōu)位置的訓(xùn)練值；其中，所述訓(xùn)練值包括相位和電壓；

5、根據(jù)所述訓(xùn)練值確定用于測試的相位和電壓的測試范圍；

6、基于所述測試范圍內(nèi)的每組相位和電壓，使用配置的測試用例分別進行測試；并記錄測試結(jié)果；其中，所述測試結(jié)果為通過和不通過；

7、響應(yīng)于當(dāng)前次測試滿足預(yù)設(shè)結(jié)束條件，結(jié)束數(shù)字眼圖測試，并基于記錄的所有測試結(jié)果輸出數(shù)字眼圖。

8、其中，所述根據(jù)所述訓(xùn)練值確定用于測試的相位和電壓的測試范圍，包括：

9、以所述訓(xùn)練值為中心點，根據(jù)所述訓(xùn)練值，以及預(yù)設(shè)電壓高度和預(yù)設(shè)相位寬度確定用于測試的相位和電壓的測試范圍和測試起始點；

10、所述基于所述測試范圍內(nèi)的每組相位和電壓，使用配置的測試用例分別進行測試，包括：

11、從所述測試起始點開始，按照預(yù)設(shè)的第一相位步長和第一電壓步長確定每次測試使用的一組相位和電壓，并基于確定的所述組相位和電壓使用配置的測試用例進行測試；

12、所述預(yù)設(shè)結(jié)束條件為當(dāng)前次測試是所述測試范圍內(nèi)的最后一組相位和電壓對應(yīng)的測試。

13、其中，所述從所述測試起始點開始，按照預(yù)設(shè)的第一相位步長和第一電壓步長確定每次測試使用的一組相位和電壓時，通過相對值的方式確定每次測試使用的相位和電壓。

14、其中，所述根據(jù)所述訓(xùn)練值確定用于測試的相位和電壓的測試范圍，包括：

15、以所述訓(xùn)練值為中心點向四周掃描所對應(yīng)的范圍作為用于測試的相位和電壓的測試范圍；

16、所述基于所述測試范圍內(nèi)的每組相位和電壓，使用配置的測試用例分別進行測試，包括：

17、以所述訓(xùn)練值為測試起始點，按照預(yù)設(shè)的第二相位步長和第二電壓步長在不同測試方向確定每次測試使用的一組相位和電壓，并基于確定的所述組相位和電壓使用配置的測試用例進行測試；在每個測試方向上進行測試時，測試結(jié)果為不通過時結(jié)束在測試方向上的測試；

18、所述預(yù)設(shè)結(jié)束條件為當(dāng)前次測試為所有測試方向中的最后一個測試方向上的測試，且當(dāng)前次測試的測試結(jié)果為不通過。

19、其中，若測試運行失敗，或，測試運行成功且發(fā)生ecc，則記錄測試結(jié)果為不通過；

20、若測試運行成功，且未發(fā)生ecc，則記錄測試結(jié)果為通過。

21、其中，所述獲取讀寫時序的最優(yōu)位置的訓(xùn)練值之后，所述根據(jù)所述訓(xùn)練值確定用于測試的相位和電壓的測試范圍；所述方法進一步包括：

22、確定是否開啟周期訓(xùn)練，如果是，關(guān)閉所述周期訓(xùn)練，再根據(jù)所述訓(xùn)練值確定用于測試的相位和電壓的測試范圍；否則，直接根據(jù)所述訓(xùn)練值確定用于測試的相位和電壓的測試范圍。

23、在另一個實施例中，提供了一種數(shù)字眼圖測試裝置，所述裝置包括：

24、獲取單元，用于獲取讀寫時序的最優(yōu)位置的訓(xùn)練值；其中，所述訓(xùn)練值包括相位和電壓；

25、確定單元，用于根據(jù)所述訓(xùn)練值確定用于測試的相位和電壓的測試范圍；

26、測試單元，用于基于所述測試范圍內(nèi)的每組相位和電壓，使用配置的測試用例分別進行測試；

27、記錄單元，用于記錄測試結(jié)果；其中，所述測試結(jié)果為通過和不通過；

28、輸出單元，用于響應(yīng)于當(dāng)前次測試滿足預(yù)設(shè)結(jié)束條件，結(jié)束數(shù)字眼圖測試，并基于記錄的所有測試結(jié)果輸出數(shù)字眼圖。

29、其中，所述裝置進一步包括：

30、處理單元，用于所述獲取單元獲取讀寫時序的最優(yōu)位置的訓(xùn)練值之后，確定是否開啟周期訓(xùn)練，如果是，關(guān)閉所述周期訓(xùn)練，再觸發(fā)所述確定單元根據(jù)所述訓(xùn)練值確定用于測試的相位和電壓的測試范圍；否則，直接觸發(fā)所述確定單元根據(jù)所述訓(xùn)練值確定用于測試的相位和電壓的測試范圍。

31、在另一個實施例中，提供了一種電子設(shè)備，包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的計算機程序，所述處理器執(zhí)行所述程序時實現(xiàn)數(shù)字眼圖測試方法。

32、在另一個實施例中，提供了一種計算機可讀存儲介質(zhì)，其上存儲有計算機程序，該程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)數(shù)字眼圖測試方法。

33、由上面的技術(shù)方案可見，上述實施例中通過讀寫時序的最優(yōu)位置的訓(xùn)練值確定用于測試的相位和電壓的測試范圍；基于該測試范圍內(nèi)的每組相位和電壓，使用配置的測試用例進行測試；并記錄測試結(jié)果；其中，測試結(jié)果為通過和不通過；響應(yīng)于當(dāng)前次測試滿足預(yù)設(shè)結(jié)束條件，結(jié)束數(shù)字眼圖測試，并基于記錄的所有測試結(jié)果輸出數(shù)字眼圖。該方法能夠大大提高測試效率。因此，該方法能夠在低成本且不受硬件限制的條件下實現(xiàn)數(shù)字眼圖的測試。

技術(shù)特征：

1.一種數(shù)字眼圖測試方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，當(dāng)以所述訓(xùn)練值為中心點，根據(jù)所述訓(xùn)練值，以及預(yù)設(shè)電壓高度和預(yù)設(shè)相位寬度確定用于測試的相位和電壓的測試范圍時，所述方法進一步包括：確定測試起始點；

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，所述從所述測試起始點開始，按照預(yù)設(shè)的第一相位步長和第一電壓步長確定每次測試使用的一組相位和電壓時，通過相對值的方式確定每次測試使用的相位和電壓。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，當(dāng)以所述訓(xùn)練值為中心點向四周掃描所對應(yīng)的范圍作為用于測試的相位和電壓的測試范圍時，所述基于所述測試范圍內(nèi)的每組相位和電壓，使用配置的測試用例分別進行測試，包括：

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述獲取讀寫時序的最優(yōu)位置的訓(xùn)練值之后，所述根據(jù)所述訓(xùn)練值確定用于測試的相位和電壓的測試范圍；所述方法進一步包括：

7.一種數(shù)字眼圖測試裝置，其特征在于，所述裝置包括：

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的裝置，其特征在于，所述裝置進一步包括：

9.一種電子設(shè)備，包括存儲器、處理器及存儲在存儲器上并可在處理器上運行的計算機程序，其特征在于，所述處理器執(zhí)行所述程序時實現(xiàn)如權(quán)利要求1-6任一項所述的方法。

10.一種計算機可讀存儲介質(zhì)，其上存儲有計算機程序，其特征在于，該程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)權(quán)利要求1-6任一項所述的方法。

技術(shù)總結(jié)
本申請?zhí)峁┝艘环N數(shù)字眼圖測試方法、裝置、電子設(shè)備和存儲介質(zhì)。該方法包括：獲取讀寫時序的最優(yōu)位置的訓(xùn)練值；其中，訓(xùn)練值包括相位和電壓；根據(jù)訓(xùn)練值確定用于測試的相位和電壓的測試范圍；基于測試范圍內(nèi)的每組相位和電壓，使用配置的測試用例分別進行測試；并記錄測試結(jié)果；其中，測試結(jié)果為通過和不通過；響應(yīng)于當(dāng)前次測試滿足預(yù)設(shè)結(jié)束條件，結(jié)束數(shù)字眼圖測試，并基于記錄的所有測試結(jié)果輸出數(shù)字眼圖。該方法能夠在低成本且不受硬件限制的條件下實現(xiàn)數(shù)字眼圖的測試。

技術(shù)研發(fā)人員：請求不公布姓名
受保護的技術(shù)使用者：上海壁仞科技股份有限公司
技術(shù)研發(fā)日：
技術(shù)公布日：2025/1/9