專利名稱:檢測擺動缺陷的設(shè)備和方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及光記錄介質(zhì)，尤其涉及利用從具有擺動(wobble)模式的光記錄介質(zhì)檢測到的擺動信號檢測擺動缺陷的設(shè)備和方法。
背景技術(shù)：
到目前為止，已經(jīng)開發(fā)了幾種類型的光盤，譬如，數(shù)字多用途盤-隨機存取存儲器(DVD-RAM)、可記錄DVD(DVD-R)、可重寫DVD(DVD-RW)和DVD+RW等。擺動模式存在于光記錄介質(zhì)中平臺與凹槽的邊界區(qū)域上。因此，如果在擺動模式中發(fā)生了許多差錯，那么就有很大可能性在平臺和凹槽上的數(shù)據(jù)域中存在差錯。
并且，根據(jù)擺動模式的擺動信號可以用于在光盤上記錄位置信息。此外，擺動信號還可以用作檢測記錄/重放位置的基準時鐘，或生成基準時鐘的基準信號。因此，在使用光記錄介質(zhì)的過程中，根據(jù)存在于光記錄介質(zhì)上的擺動模式的擺動信號是非常重要的。

發(fā)明內(nèi)容
為了解決上面問題，本發(fā)明的目的是提供利用從光記錄介質(zhì)檢測到擺動信號檢測擺動模式中的缺陷的設(shè)備和方法，借此，當(dāng)在光記錄介質(zhì)上記錄數(shù)據(jù)時，如果在擺動模式中存在缺陷，則對相應(yīng)的缺陷區(qū)進行核驗。
因此，為了達到上面的目的，本發(fā)明提供了檢測在光記錄介質(zhì)上的擺動模式中的缺陷的設(shè)備，所述設(shè)備包括鎖相環(huán)(PLL)，當(dāng)施加來自擺動模式的擺動信號時，生成鎖相環(huán)擺動信號和擺動時鐘信號；窗信號發(fā)生器，當(dāng)施加鎖相環(huán)擺動信號和擺動時鐘信號時，根據(jù)預(yù)定窗寬條件生成指示擺動窗時段(period)的信號；擺動鎖定/開鎖檢測器，當(dāng)施加擺動窗信號和擺動信號時，根據(jù)預(yù)定擺動鎖定和開鎖條件輸出檢測鎖定狀態(tài)和開鎖狀態(tài)之一的信號；和擺動缺陷檢測器，當(dāng)施加檢測鎖定狀態(tài)和開鎖狀態(tài)之一的信號、擺動窗信號和擺動信號時，根據(jù)預(yù)定缺陷判定條件檢測在擺動模式中是否存在什么缺陷。
最好，根據(jù)擺動時鐘信號的個數(shù)設(shè)定窗寬條件。根據(jù)在擺動窗時段內(nèi)存在擺動信號的連續(xù)檢測次數(shù)設(shè)定擺動鎖定條件，和根據(jù)在擺動窗時段內(nèi)不存在擺動信號的連續(xù)檢測次數(shù)設(shè)定擺動開鎖條件。根據(jù)在擺動鎖定狀態(tài)下在擺動窗時段內(nèi)連續(xù)沒有檢測到擺動信號的次數(shù)設(shè)定預(yù)定缺陷判定條件。最好，擺動缺陷檢測器檢測每個塊或每個扇區(qū)是否存在缺陷。
本發(fā)明還提供了在光記錄介質(zhì)上檢測擺動模式中缺陷的方法，所述方法包括在鎖相環(huán)(PLL)中鎖相來自擺動模式的擺動信號，和生成鎖相環(huán)擺動信號和擺動時鐘信號；利用鎖相環(huán)擺動信號和擺動時鐘信號生成具有預(yù)定窗寬的擺動窗信號；當(dāng)在通過擺動窗信號設(shè)定擺動窗時段內(nèi)擺動信號的存在滿足預(yù)定擺動鎖定或開鎖條件時，檢測擺動鎖定或開鎖狀態(tài)；和當(dāng)擺動鎖定狀態(tài)下在擺動窗時段內(nèi)擺動信號的存在滿足預(yù)定缺陷判定條件時，生成缺陷檢測信號；其中根據(jù)擺動時鐘信號的個數(shù)設(shè)定所述窗寬條件，根據(jù)在擺動窗時段內(nèi)存在擺動信號的連續(xù)檢測次數(shù)設(shè)定所述擺動鎖定條件，和根據(jù)在擺動窗時段內(nèi)不存在擺動信號的連續(xù)檢測次數(shù)設(shè)定所述擺動開鎖條件，根據(jù)在擺動鎖定狀態(tài)下在擺動窗時段內(nèi)連續(xù)沒有檢測到擺動信號的次數(shù)設(shè)定所述預(yù)定缺陷判定條件。



通過結(jié)合附圖對本發(fā)明的優(yōu)選實施例作詳細描述，本發(fā)明的上述目的和優(yōu)點將更加清楚，在附圖中圖1是本發(fā)明的擺動缺陷檢測設(shè)備的功能性方塊圖；圖2是圖1所示鎖相環(huán)(PLL)的詳細方塊圖；圖3是圖1所示設(shè)備的操作時序圖；圖4顯示了圖1的擺動鎖定/開鎖檢測器的范例；和圖5顯示了圖1的擺動缺陷檢測器的范例。
具體實施方式
參照圖1，本發(fā)明檢測擺動缺陷的設(shè)備包括鎖相環(huán)(PLL)101、擺動窗信號發(fā)生器103、擺動鎖定/開鎖檢測器105、和擺動缺陷檢測器107。當(dāng)通過射頻放大器(RF-AMP)(未示出)從光記錄介質(zhì)(未示出)施加擺動信號時，PLL 101利用施加的擺動信號輸出與重放時鐘信號或信道時鐘信號相對應(yīng)的擺動時鐘信號Wbclk、和鎖相環(huán)信號PWB。如圖2所示，PLL 101包括相位比較器201、低通濾波器LPF 202、壓控振蕩器(VCO)203、和分頻器204。
也就是說，當(dāng)用圖3(a)所示的時段施加擺動信號時，相位比較器201將施加的擺動信號的相位與將擺動時鐘信號Wbclk的頻率除以186所得的鎖相環(huán)擺動信號PWB的相位相比較，并輸出比較結(jié)果。LPF 202從相位比較器201的輸出中濾波出高頻成分，并將該結(jié)果傳送到VCO 203。VCO 203輸出與LPF 202濾波的電壓相對應(yīng)的頻率。也就是說，VCO 203輸出與擺動信號與鎖相環(huán)擺動信號的相位差相對應(yīng)的頻率。將擺動時鐘信號Wbclk傳送到擺動窗信號發(fā)生器103和分頻器204。分頻器204向相位比較器201和擺動窗信號發(fā)生器103輸出將擺動時鐘信號Wbclk除以186所得的鎖相環(huán)擺動信號PWB。在這種情況中，輸出的鎖相環(huán)擺動信號PWB相對于施加的擺動信號，具有圖3(b)所示的時段。
擺動窗信號發(fā)生器103根據(jù)施加到其中的鎖相環(huán)擺動信號PWB，生成具有窗寬條件的擺動窗信號。也就是說，窗寬條件與擺動時鐘信號Wbclk的個數(shù)有關(guān)。例如，如圖3(c)所示，如果將窗寬條件設(shè)定成10，和根據(jù)鎖相環(huán)擺動信號PWB的上升沿來設(shè)定，從鎖相環(huán)擺動信號PWB的上升沿生成10個擺動時鐘信號Wbclk的時段對應(yīng)于其中擺動窗信號有效的狀態(tài)(圖3(c)中的“高電平”狀態(tài))。該時段是擺動窗信號的寬度。在這種情況中，從系統(tǒng)控制器(未示出)或微型計算機(micom)中提供窗寬條件，并將窗寬條件設(shè)定成使諸如擺動信號顫動之類的噪聲可以得到解決。
當(dāng)施加擺動窗信號和擺動信號時，擺動鎖定/開鎖檢測器105根據(jù)預(yù)置的擺動鎖定和開鎖條件檢測是否對擺動信號設(shè)定了鎖定或開鎖狀態(tài)。也就是說，如果當(dāng)擺動窗信號處于高電平和這個檢測的次數(shù)滿足預(yù)置的擺動鎖定條件時，連續(xù)檢測到存在擺動信號，則生成設(shè)定擺動鎖定狀態(tài)的信號，如圖3(d)所示。另一方面，如果當(dāng)擺動窗信號處于高電平和這個檢測的次數(shù)滿足預(yù)置的擺動開鎖條件時，連續(xù)檢測到不存在擺動信號，則生成設(shè)定擺動開鎖狀態(tài)的信號，如圖3(d)所示。
參照圖4，圖4顯示了擺動鎖定/開鎖檢測器105的范例，該擺動鎖定/開鎖檢測器105包括第一計數(shù)器401、第二計數(shù)器402、第一比較器403、第二比較器404、和擺動鎖定/開鎖信號發(fā)生器405。如果當(dāng)擺動窗信號處于高電平時，擺動信號存在，則第一計數(shù)器401向上或向下計數(shù)擺動窗信號的個數(shù)。但是，如果當(dāng)擺動窗信號處于高電平時，擺動信號不存在，則復(fù)位或清除第一計數(shù)器401。將計數(shù)值從第一計數(shù)器401輸出到第一比較器403。第一比較器403將該計數(shù)值與預(yù)置的擺動鎖定條件相比較。擺動鎖定條件與系統(tǒng)控制器提供的、連續(xù)檢測擺動信號的次數(shù)有關(guān)。例如，假定擺動鎖定條件被設(shè)定成‘3’和第一計數(shù)器401是升值計數(shù)器，如果第一計數(shù)器401提供的計數(shù)值是3，則第一比較器403向擺動鎖定/開鎖信號發(fā)生器405輸出請求生成指示擺動鎖定狀態(tài)的信號的信號。
如果當(dāng)擺動窗信號處于高電平時，擺動信號不存在，則第二計數(shù)器402向上或向下計數(shù)擺動窗信號Wbclk的個數(shù)。反之，如果當(dāng)擺動窗信號處于高電平時，擺動信號存在，則復(fù)位或清除第二計數(shù)器402。將計數(shù)值從第二計數(shù)器402輸出到第二比較器404。第二比較器404將第二計數(shù)器402提供的計數(shù)值與預(yù)置的擺動開鎖條件相比較。擺動開鎖條件與系統(tǒng)控制器提供的、在連續(xù)檢測期間沒有檢測到擺動信號的次數(shù)有關(guān)。例如，假定擺動開鎖條件被設(shè)定成‘4’和第二計數(shù)器402是升值計數(shù)器，如果第二計數(shù)器402提供的計數(shù)值是4，則第二比較器404向擺動鎖定/開鎖信號發(fā)生器405輸出請求生成指示擺動開鎖狀態(tài)的信號的信號。擺動鎖定和開鎖條件可以設(shè)定成相同的值。
擺動鎖定/開鎖信號發(fā)生器405根據(jù)第一和第二比較器403和404提供的比較結(jié)果，生成圖3(d)所示的信號。
當(dāng)施加擺動窗信號、窗鎖定/開鎖信號、和擺動信號時，如果在擺動鎖定時段期間，在每個塊或每個扇區(qū)的擺動窗時段內(nèi)沒有檢測到擺動信號的次數(shù)滿足缺陷判定條件，則擺動缺陷檢測器107將其識別為擺動缺陷，輸出擺動缺陷檢測信號，如圖3(e)所示。缺陷判定條件與沒有檢測到擺動信號的次數(shù)有關(guān)。例如，如果缺陷判定條件被設(shè)定成‘5’，如果在每個塊或每個扇區(qū)的擺動窗時段內(nèi)沒有檢測到擺動信號的次數(shù)是5，擺動缺陷檢測器107輸出指示在相應(yīng)塊或扇區(qū)中發(fā)生擺動缺陷的缺陷檢測信號。系統(tǒng)控制器提供缺陷判定條件。塊分割信號和扇區(qū)分割信號通過諸如光記錄介質(zhì)驅(qū)動器(或驅(qū)動器)中解碼器(未示出)或編碼器(未示出)生成的編碼器/解碼器塊或扇區(qū)同步信號之類的控制信號提供。但是，在不能區(qū)分扇區(qū)的光記錄介質(zhì)的情況中，解碼器提供塊分割信號，而扇區(qū)分割信號則通過諸如扇區(qū)同步信號之類的、來自編碼器的控制信號提供。
參照圖5，圖5顯示了圖1所示的擺動缺陷檢測器107的范例，該擺動缺陷檢測器107包括第三計數(shù)器501和第三比較器502。第三計數(shù)器501通過塊分割信號和扇區(qū)分割信號復(fù)位或清除，實際計數(shù)擺動窗信號的個數(shù)的時段通過擺動鎖定/開鎖信號設(shè)定。如果在擺動鎖定狀態(tài)下，在擺動窗時段期間擺動信號不存在，則第三計數(shù)器501向上或向下計數(shù)擺動窗信號的個數(shù)。將計數(shù)結(jié)果從第三計數(shù)器501輸出到第三比較器502。假定第三計數(shù)器501是升值計數(shù)器和缺陷判定條件被設(shè)定為‘5’，如果第三計數(shù)器501提供的計數(shù)值是‘5’，則第三比較器502輸出缺陷檢測信號。
將缺陷檢測信號提供給系統(tǒng)控制器。當(dāng)施加缺陷檢測信號時，系統(tǒng)控制器將其識別為在相應(yīng)塊或扇區(qū)的擺動模式中存在缺陷，并對記錄在相應(yīng)塊或扇區(qū)上的數(shù)據(jù)進行核驗處理。如果核驗結(jié)果不滿足，則可以將數(shù)據(jù)重寫到相應(yīng)的塊或扇區(qū)中，或可以將相應(yīng)塊或扇區(qū)的數(shù)據(jù)重寫到不同的區(qū)域中。
本發(fā)明中每個信號的邏輯狀態(tài)不受上面具體實施例的限制。也就是說，可以不同地設(shè)定每個信號的邏輯狀態(tài)。例如，盡管在具體實施例中擺動窗信號的有效狀態(tài)被設(shè)定在“高電平”上，但也可以將有效狀態(tài)設(shè)定在“低電平”上。
根據(jù)本發(fā)明，如果在記錄操作期間缺陷存在于具有預(yù)定擺動模式的光記錄介質(zhì)上扇區(qū)或塊內(nèi)的擺動模式中，則對記錄在存在缺陷的扇區(qū)或塊上的數(shù)據(jù)進行差錯核驗，從而使將數(shù)據(jù)記錄在缺陷區(qū)上導(dǎo)致的數(shù)據(jù)損失降到最低程度。
雖然通過參照本發(fā)明的優(yōu)選實施例具體顯示和描述了本發(fā)明，但本領(lǐng)域的普通技術(shù)人員應(yīng)該明白，可以在形式和細節(jié)上對本發(fā)明進行各種各樣的改動，而不偏離所附權(quán)利要求
書限定的本發(fā)明的精神和范圍。
權(quán)利要求
1.一種檢測包含在光記錄介質(zhì)上的擺動模式中的缺陷的設(shè)備，所述設(shè)備包括鎖相環(huán)，當(dāng)施加來自擺動模式的擺動信號時，生成鎖相環(huán)擺動信號和擺動時鐘信號；窗信號發(fā)生器，當(dāng)施加鎖相環(huán)擺動信號和擺動時鐘信號時，根據(jù)預(yù)定窗寬條件生成指示擺動窗時段的信號；擺動鎖定/開鎖檢測器，當(dāng)施加擺動窗信號和擺動信號時，根據(jù)預(yù)定擺動鎖定和開鎖條件輸出檢測擺動鎖定狀態(tài)和開鎖狀態(tài)之一的信號；和擺動缺陷檢測器，當(dāng)施加檢測擺動鎖定狀態(tài)和開鎖狀態(tài)之一的信號、擺動窗信號和擺動信號時，根據(jù)預(yù)定缺陷判定條件檢測在擺動模式中是否存在任何缺陷；其中根據(jù)擺動時鐘信號的個數(shù)設(shè)定所述窗寬條件，根據(jù)在擺動窗時段內(nèi)存在擺動信號的連續(xù)檢測次數(shù)設(shè)定所述擺動鎖定條件，和根據(jù)在擺動窗時段內(nèi)不存在擺動信號的連續(xù)檢測次數(shù)設(shè)定所述擺動開鎖條件，根據(jù)在擺動鎖定狀態(tài)下在擺動窗時段內(nèi)連續(xù)沒有檢測到擺動信號的次數(shù)設(shè)定所述預(yù)定缺陷判定條件。
2.根據(jù)權(quán)利要求
1所述的設(shè)備，其中擺動缺陷檢測器檢測每個塊或每個扇區(qū)是否存在缺陷。
3.根據(jù)權(quán)利要求
1所述的設(shè)備，其中擺動鎖定/開鎖檢測器包括第一計數(shù)器，如果在擺動窗時段期間，擺動信號存在，則計數(shù)擺動窗信號的個數(shù)，和如果在擺動窗時段期間，擺動信號不存在，則被復(fù)位或清除；第一比較器，將來自第一計數(shù)器的計數(shù)結(jié)果與所述擺動鎖定條件相比較，并且如果計數(shù)結(jié)果滿足所述擺動鎖定條件，則請求擺動鎖定狀態(tài)；第二計數(shù)器，如果在擺動窗時段期間，擺動信號不存在，則計數(shù)擺動窗信號的個數(shù)，和如果在擺動窗時段期間，擺動信號存在，則被復(fù)位或清除；和第二比較器，將來自第二計數(shù)器的計數(shù)結(jié)果與擺動開鎖條件相比較，并且如果計數(shù)結(jié)果滿足擺動開鎖條件，則請求擺動開鎖狀態(tài)；和擺動鎖定/開鎖信號發(fā)生器，根據(jù)來自第一和第二比較器的輸出，輸出指示擺動鎖定/開鎖狀態(tài)的信號。
4.根據(jù)權(quán)利要求
1所述的設(shè)備，其中擺動缺陷檢測器包括第三計數(shù)器，如果在擺動鎖定狀態(tài)下，在擺動窗時段期間擺動信號不存在，則計數(shù)擺動窗信號的個數(shù)；第三比較器，將從第三計數(shù)器輸出的計數(shù)值與預(yù)定檢測判定條件相比較，并且如果計數(shù)值滿足缺陷判定條件，則輸出指示缺陷檢測的信號。
5.一種檢測包含在光記錄介質(zhì)上的擺動模式中的缺陷的方法，所述方法包括在鎖相環(huán)中鎖相來自擺動模式的擺動信號，和生成鎖相環(huán)擺動信號和擺動時鐘信號；利用鎖相環(huán)擺動信號和擺動時鐘信號生成具有預(yù)定窗寬的擺動窗信號；當(dāng)在通過擺動窗信號設(shè)定的擺動窗時段內(nèi)擺動信號的存在滿足預(yù)定擺動鎖定或開鎖條件時，檢測擺動鎖定或開鎖狀態(tài)；和當(dāng)擺動鎖定狀態(tài)下在擺動窗時段內(nèi)擺動信號的存在滿足預(yù)定缺陷判定條件時，生成缺陷檢測信號；其中根據(jù)擺動時鐘信號的個數(shù)設(shè)定所述窗寬條件，根據(jù)在擺動窗時段內(nèi)存在擺動信號的連續(xù)檢測次數(shù)設(shè)定所述擺動鎖定條件，和根據(jù)在擺動窗時段內(nèi)不存在擺動信號的連續(xù)檢測次數(shù)設(shè)定所述擺動開鎖條件，根據(jù)在擺動鎖定狀態(tài)下在擺動窗時段內(nèi)連續(xù)沒有檢測到擺動信號的次數(shù)設(shè)定所述預(yù)定缺陷判定條件。
專利摘要
一種利用從光記錄介質(zhì)檢測的擺動信號檢測擺動模式中的缺陷的設(shè)備和方法，當(dāng)在光記錄介質(zhì)上記錄數(shù)據(jù)時，如果擺動模式中存在缺陷，則對相應(yīng)缺陷區(qū)進行核驗。該設(shè)備包括鎖相環(huán)(PLL)，當(dāng)施加來自擺動模式的擺動信號時，生成鎖相環(huán)擺動信號和擺動時鐘信號；窗信號發(fā)生器，當(dāng)施加鎖相環(huán)擺動信號和擺動時鐘信號時，根據(jù)預(yù)定窗寬條件生成指示擺動窗時段的信號；擺動鎖定/開鎖檢測器，當(dāng)施加擺動窗信號和擺動信號時，根據(jù)預(yù)定擺動鎖定和開鎖條件輸出檢測擺動鎖定狀態(tài)和開鎖狀態(tài)之一的信號；和擺動缺陷檢測器，當(dāng)施加檢測鎖定狀態(tài)和開鎖狀態(tài)之一的信號、擺動窗信號和擺動信號時，根據(jù)預(yù)定缺陷判定條件檢測在擺動模式中是否存在缺陷。因此，使將數(shù)據(jù)記錄在缺陷區(qū)上導(dǎo)致的損失降到最低程度。
文檔編號G11B27/36GKCN1178210SQ01124488
公開日2004年12月1日 申請日期2001年7月31日
發(fā)明者嚴佑植 申請人:三星電子株式會社導(dǎo)出引文BiBTeX, EndNote, RefMan