專利名稱:光盤裝置和在光盤裝置中產(chǎn)生跟蹤誤差信號的方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及光盤記錄及還原裝置，該裝置通過將光束投射到旋轉(zhuǎn)的光盤上以記錄和還原信息，具體地說，涉及可使光束精確跟蹤光盤軌道的跟蹤伺服技術(shù)。
背景技術(shù)：
在光盤記錄及還原裝置中，為使光束能精確跟蹤軌道，跟蹤伺服機構(gòu)是必不可少的，這種跟蹤伺服機構(gòu)能夠產(chǎn)生跟蹤信號，并且根據(jù)跟蹤信號在光盤半徑方向?qū)ψx取頭進行定位控制，其中代表信息的凹坑在軌道上成行排列。
在例如DVD-ROM的只讀光盤上，代表信息的凹坑以模壓形成的孔的形式記錄。在例如DVD-RAM的可記錄光盤上，凹槽是螺旋形的，其中作為凹陷部分的凹槽和作為凸出部分的凸脊(land)形成軌道。將光束投射到軌道上，可使代表信息的凹坑以盤面相變的形式記錄。光傳感器接收光盤的反射光束，這種光傳感器由數(shù)個光傳感單元組成。光傳感單元均產(chǎn)生光傳感信號。利用這些光傳感信號產(chǎn)生跟蹤誤差信號。
跟蹤誤差信號的產(chǎn)生方法包含差分相位檢測(記作DPD)方法和推挽(記作PP)方法。在DPD方法中，根據(jù)光傳感器輸出的光傳感信號之間的相位差產(chǎn)生跟蹤誤差信號。在PP方法中，根據(jù)光傳感器輸出的光傳感信號之間的電平差產(chǎn)生跟蹤誤差信號。
然而，上述傳統(tǒng)技術(shù)具有以下缺陷。
在DPD方法中，跟蹤誤差信號是利用凹坑對光的衍射作用產(chǎn)生的。由于未記錄光盤上尚未形成凹坑，因此不能產(chǎn)生跟蹤誤差信號。如果在盤表面上有劃痕，使用相位差產(chǎn)生的跟蹤誤差信號可能具有嚴重誤差，這種劃痕將導(dǎo)致諸如跳軌的錯誤操作。
在PP方法中，由于已記錄軌道的反射光的光強與未記錄軌道不同，光強的差異會造成跟蹤誤差信號之間的差異，從而導(dǎo)致跟蹤伺服機構(gòu)工作不穩(wěn)定。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的實施例提供可產(chǎn)生穩(wěn)定的跟蹤誤差信號的光盤裝置，即使在光盤混合有已記錄區(qū)和未記錄區(qū)時，或者在光盤的凹坑或劃痕深度不均勻時，該裝置同樣能夠產(chǎn)生穩(wěn)定的跟蹤誤差信號。
本發(fā)明提供一種光盤裝置，通過將光束投射到光盤上，所述光盤裝置被用作還原信息的裝置和記錄及還原信息的裝置之一，所述光盤裝置包括光傳感器，由至少一個光傳感單元組成，用于接收光盤反射的光，并輸出基于所接收的光的光傳感信號；第一跟蹤誤差產(chǎn)生部件，用于檢測所述光傳感器輸出的所述光傳感信號之間的相位差，并根據(jù)所述光傳感信號產(chǎn)生第一跟蹤誤差信號；第二跟蹤誤差產(chǎn)生部件，用于檢測所述光傳感器輸出的所述光傳感信號之間的電平差，并根據(jù)所述光傳感信號產(chǎn)生第二跟蹤誤差信號；混合部件，用于混合所述第一跟蹤誤差產(chǎn)生部件產(chǎn)生的第一跟蹤誤差信號和所述第二跟蹤誤差產(chǎn)生部件產(chǎn)生的第二跟蹤誤差信號，并輸出混合的跟蹤誤差信號；跟蹤控制部件，用于使用從所述混合部件提供的混合跟蹤誤差信號進行跟蹤控制；已記錄/未記錄檢測部件，該部件用于確定所述光束正在掃描所述光盤的已記錄區(qū)還是未記錄區(qū)，靜噪部件，該部件響應(yīng)所述已記錄/未記錄檢測部件的檢測結(jié)果對所述第一或第二跟蹤誤差信號進行靜噪處理，其中所述靜噪部件當所述光束照射的所述光盤上的區(qū)域是記錄有數(shù)據(jù)的已記錄區(qū)時，對所述第二跟蹤誤差信號進行靜噪處理，當所述光束照射的區(qū)域是沒有記錄數(shù)據(jù)的未記錄區(qū)時，對所述第一跟蹤誤差信號進行靜噪處理。
本發(fā)明還提供一在光盤裝置中產(chǎn)生跟蹤誤差信號的方法，其中通過將光束投射到光盤上，光盤裝置被用作還原信息的裝置，和記錄及還原信息的裝置之一，該方法包括使至少一個光傳感單元接收光盤反射的光，并輸出基于光傳感單元接收的光的光傳感信號；檢測光傳感信號之間的相位差，并產(chǎn)生第一跟蹤誤差信號；檢測光傳感信號之間的電平差，并產(chǎn)生第二跟蹤誤差信號；混合第一和第二跟蹤誤差信號并輸出混合的跟蹤誤差信號；及提供在混合步驟產(chǎn)生的混合跟蹤誤差信號以作為最終的跟蹤誤差信號，其中當光束照射的光盤區(qū)域是記錄數(shù)據(jù)的已記錄區(qū)時，對第二跟蹤誤差信號進行靜噪處理，當光束照射的區(qū)域是沒有記錄數(shù)據(jù)的未記錄區(qū)時，對第一跟蹤誤差信號進行靜噪處理。
同時使用DPD跟蹤誤差產(chǎn)生部件和PP跟蹤誤差產(chǎn)生部件，允許在彼此彌補缺陷的同時控制跟蹤。
本發(fā)明的其它目標和優(yōu)點將在下面的說明中進行闡述，其中，通過說明可以理解部分目標和優(yōu)點，也可以通過實踐來領(lǐng)會。借助于本文提出的具體手段和方法，可實現(xiàn)本發(fā)明的目標、獲得本發(fā)明的優(yōu)點。



附圖被合并到說明書中并構(gòu)成說明書的一部分，用來描述本發(fā)明的實施例，并與上文的概括說明和下文的詳細說明一同闡明本發(fā)明的原理。
圖1是示出應(yīng)用本發(fā)明的光盤裝置的結(jié)構(gòu)的模塊圖；
圖2A和2B示出將還原信息的光束投射到光盤上的狀態(tài)；圖3是示出本發(fā)明的跟蹤誤差信號產(chǎn)生電路85a的結(jié)構(gòu)的模塊圖；圖4A到4C示出光束掃描光盤凹坑時加法器96c和96d的輸出信號；圖5示出將光束投射到旋轉(zhuǎn)的可記錄光盤上時圖3中各信號的波形；圖6示出缺陷檢測部件106的操作過程；圖7是應(yīng)用本發(fā)明的光盤裝置的初始化操作的流程圖；圖8是示出根據(jù)第一個實施例的修改的跟蹤誤差信號產(chǎn)生電路85b的結(jié)構(gòu)的模塊圖；圖9是示出根據(jù)第一個實施例的修改的跟蹤誤差信號產(chǎn)生電路85c的結(jié)構(gòu)的模塊圖；圖10是示出根據(jù)第一個實施例的修改的跟蹤誤差信號產(chǎn)生電路85d的結(jié)構(gòu)的模塊圖；圖11A和11B是示出根據(jù)第二個實施例的修改的跟蹤誤差信號產(chǎn)生電路85e的結(jié)構(gòu)的模塊圖。
具體實施方式
下文將參照附圖詳細說明本發(fā)明的實施例。圖1是示出應(yīng)用本發(fā)明的光盤裝置的結(jié)構(gòu)的模塊圖。
在充當記錄介質(zhì)的光盤61的表面上，螺旋形成軌道。光盤61由主軸電動機63旋轉(zhuǎn)。
光讀取頭(記作PUH)65將信息記錄到光盤61上，或從光盤61上還原信息。PUH 65通過傳動裝置與橇式電動機(sled motor)66連接。橇式電動機66由橇式電動機控制電路68控制。
速度傳感電路69與橇式電動機控制電路68相連。速度傳感電路69檢測的PUH 65的速度信號被送到橇式電動機控制電路68。橇式電動機66的固定部件配有永磁鐵。當驅(qū)動線圈67受橇式電動機控制電路68激勵時，PUH 65沿光盤61作徑向運動。
PUH 65配有物鏡70，該物鏡70由金屬絲或簧片支撐(未在圖中畫出)。物鏡70可在驅(qū)動線圈71的驅(qū)動下，沿聚焦方向(即透鏡的光軸方向)運動。物鏡70也可在驅(qū)動線圈72的驅(qū)動下，沿跟蹤方向(即與透鏡光軸垂直的方向)運動。
激光控制電路73中的激光激勵電路75能使半導(dǎo)體激光二極管79發(fā)射激光。從半導(dǎo)體激光二極管79發(fā)射出的激光穿過平行透鏡80、半透鏡81和物鏡70，投射到光盤61上。光盤61的反射光穿過物鏡70、半透鏡81、聚焦透鏡82和柱面透鏡83，到達光傳感器84。
光傳感器84由例如4個象限光傳感單元組成。來自光傳感單元的傳感信號被輸出到本發(fā)明的RF放大器85。RF放大器85處理光傳感單元輸出的信號，并產(chǎn)生代表聚焦差的聚焦誤差信號FE、代表激光束光點中心和軌道中心之間的差的跟蹤誤差信號TE和光傳感單元信號的RF信號或總相加信號。
聚焦誤差信號FE被提供給聚焦控制電路87。聚焦控制電路87根據(jù)聚焦誤差信號FE產(chǎn)生聚焦驅(qū)動信號。聚焦驅(qū)動信號被提供給聚焦驅(qū)動線圈71。從而實現(xiàn)聚焦伺服機構(gòu)。在聚焦伺服機構(gòu)中，激光總能在光盤61的記錄薄膜上準確聚焦。
跟蹤誤差信號TE被提供給跟蹤控制電路88。跟蹤控制電路88根據(jù)跟蹤誤差信號TE產(chǎn)生跟蹤驅(qū)動信號。跟蹤控制電路88輸出的跟蹤驅(qū)動信號被提供給跟蹤驅(qū)動線圈72。在跟蹤伺服機構(gòu)作用下，激光總能跟蹤光盤61上形成的軌道。
利用聚焦伺服機構(gòu)和跟蹤伺服機構(gòu)，光盤61的軌道中形成的凹坑的反射光隨記錄的信息而變化，這種變化反映在光傳感器84的光傳感單元的輸出信號的總相加信號RF中。將所得的信號提供給數(shù)據(jù)還原電路78。數(shù)據(jù)還原電路78根據(jù)鎖相環(huán)(PLL)電路76的還原時鐘信號將記錄數(shù)據(jù)還原。
當跟蹤控制電路88控制物鏡70時，橇式電動機控制電路68控制橇式電動機66或PUH 65，使物鏡70位于PUH 65中某一特定位置的附近。
電動機控制電路64、橇式電動機控制電路68、激光控制電路73、鎖相環(huán)電路76、數(shù)據(jù)還原電路78、聚焦控制電路87、跟蹤控制電路88和誤差校正電路62都由CPU 90通過總線89來控制。CPU 90根據(jù)主機單元94通過接口電路93提供的操作命令對光盤裝置進行綜合控制。CPU 90將RAM91作為工作區(qū)，并且根據(jù)ROM 92中記錄的包含本發(fā)明的程序來執(zhí)行特定操作。
圖2A示出將還原光束或信息還原光束投射到光盤上所形成的狀態(tài)。當盤是只讀光盤，如DVD-ROM時，光盤的凹陷部分代表凹坑。對于可記錄光盤，如DVD-RAM，光盤的凹陷部分則代表凹槽。圖2A中，對于DVD-RAM，光束照射到相變凹坑上。只讀光盤與可記錄光盤的光反射方式相同。
當還原光束對光盤的凹坑進行掃描時，光束被凹坑衍射。衍射光束包含凹坑上表面反射的反射光La和凹坑處衍射的衍射光Lb。由于凹坑的衍射作用，反射光La和衍射光Lb之間產(chǎn)生相位差，它們相互干涉，并且彼此部分抵消，從而導(dǎo)致如圖2A上部所示的陰影區(qū)。
下面闡述DPD跟蹤誤差信號(第一跟蹤誤差信號)的產(chǎn)生方法。當光束的光點掃描偏離凹坑序列的中心時，出現(xiàn)陰影區(qū)的位置將產(chǎn)生如圖2A箭頭b所示的偏移。在讀取頭上，象限檢測器A、B、C和D接收光盤的反射光，并根據(jù)陰影區(qū)移動所產(chǎn)生的光傳感輸出信號的變化產(chǎn)生跟蹤誤差信號。
接著闡述PP跟蹤誤差信號(第二跟蹤誤差信號)的產(chǎn)生方法。當光束的光點偏離軌道中心時，將軌道夾在其間的左、右光的光強分布產(chǎn)生變化。在讀取頭上，圖2B中的象限檢測器A、B、C和D接收反射光，并檢測出(VA+VD)和(VB+VC)之間的光強差，從而產(chǎn)生跟蹤誤差信號(其中VA到VD分別代表檢測器A到D的檢測輸出)。
圖3是示出圖1的RF放大器85中基于本發(fā)明的跟蹤誤差信號產(chǎn)生電路85a的結(jié)構(gòu)的模塊圖。接收光傳感器84的檢測器A到D的輸出信號的跟蹤誤差信號產(chǎn)生電路85a產(chǎn)生跟蹤誤差信號TE，并將跟蹤誤差信號TE輸出到跟蹤控制電路88。圖3中箭頭a指示與軌道相切的方向。
加法器96a、96b和減法器97構(gòu)成PP跟蹤誤差信號產(chǎn)生電路103。PP跟蹤誤差信號產(chǎn)生電路103檢測在光盤半徑方向上反射光偏離光傳感器84中心的程度。
加法器96a將檢測器D和A的光傳感信號相加。加法器96b將檢測器C和B的光傳感信號相加。減法器97產(chǎn)生加法器96a和96b的求和信號之間的電平差，并將該電平差作為PP跟蹤誤差信號VPP輸出。增益控制部件98調(diào)整PP跟蹤誤差信號VPP的增益，并輸出跟蹤誤差信號TE1。
PP跟蹤誤差信號VPP的振幅隨后面將說明的光學系數(shù)的變化而變化。增益控制部件98用于補償振幅的變化。
加法器96c、96d和相位差檢測部件100構(gòu)成DPD跟蹤誤差信號產(chǎn)生電路104。加法器96c將檢測器A和C的光傳感信號相加。加法器96d將檢測器B和D的光傳感信號相加。
圖4示出光束掃描光盤的凹坑時加法器96c和96d的輸出信號。例如，當光束掃描光盤61并且光束中心偏離凹坑中心(圖4中光束中心向上偏離凹坑中心)時，進入光傳感器84的反射光La的暗區(qū)(圖中的陰影區(qū))發(fā)生如圖4所示的旋轉(zhuǎn)。此時，檢測器A和C的相加輸出或加法器96c的輸出發(fā)生如圖4B所示的變化。檢測器B和D的相加輸出或加法器96d的輸出發(fā)生如圖4C所示的變化。圖4B和4C所示的信號波形是利用特定閾值分別對加法器96c和96d的相加信號進行二進制化處理獲得的。相位差檢測部件100輸出加法器96c和96d的求和信號的振幅變化點之間的時間差Δt，即作為DPD跟蹤誤差信號VDPD的兩信號之間的相位差。
放大器101對DPD跟蹤誤差信號VDPD進行放大，并輸出跟蹤誤差信號TE2。加法器102將放大器101的輸出信號和增益控制部件98的輸出信號相加，從而產(chǎn)生跟蹤誤差信號TE。
圖5示出各信號波形，其中軌道是由可記錄DVD等的凸脊和凹槽構(gòu)成的，而且光束投射到旋轉(zhuǎn)的可記錄光盤上。跟蹤控制是在聚焦控制電路將聚焦伺服機構(gòu)置為ON狀態(tài)(即聚焦狀態(tài))的情況下進行的。由于光束在跟蹤控制的初期穿過各個軌道，PP跟蹤誤差信號VPP呈現(xiàn)如圖5所示的正弦波形。在PP跟蹤誤差信號VPP(TE1)中，未記錄區(qū)的信號振幅比已記錄區(qū)大。這是因為未記錄區(qū)的反射光的光強比已記錄區(qū)高。另一方面，DPD跟蹤誤差信號VDPD(TE2)呈現(xiàn)如圖5所示的三角波形。未記錄區(qū)的信號振幅接近0伏。這是因為未記錄區(qū)無凹坑。
控制信號DFCT輸入到放大器101中。當檢測到光盤表面存在劃痕或進行初始化時，在設(shè)置增益控制部件98的增益系數(shù)的過程中，控制信號DFCT被用于對DPD跟蹤誤差信號VDPD進行靜噪處理。缺陷檢測部件106基于圖6所示的光傳感器84的總相加信號RF檢測出光盤61上存在劃痕等缺陷。當檢測出光盤上存在缺陷時，直接從缺陷檢測部件106(參看圖1)輸出控制信號DFCT。在初始化時，通過缺陷檢測部件106從CPU 90輸出控制信號DFCT。
在PP方法中，由于反射光的光強因光學系數(shù)，如光盤的已記錄區(qū)或未記錄區(qū)、光盤凹坑或凹槽的深度以及光盤的傾斜度等而出現(xiàn)波動，跟蹤誤差信號的振幅亦隨之變化。為解決這個問題，通過使增益控制部件98的輸出具有最優(yōu)增益的方式，利用控制信號控制放大器101對DPD跟蹤信號進行靜噪處理。
圖7是應(yīng)用本發(fā)明的光盤裝置的初始化操作的流程圖。首先，CPU90對DPD跟蹤誤差信號VDPD進行靜噪處理(步驟ST1)。此時，CPU90將控制信號傳送到放大器101中，從而使放大器101的輸出信號變成0伏。
接著，在步驟ST2中，如果已記錄/未記錄檢測部件105(參看圖1)輸出的已記錄/未記錄信號RCD代表已記錄區(qū)，則轉(zhuǎn)到步驟ST3，反之如果信號RCD代表未記錄區(qū)，則轉(zhuǎn)到步驟ST4。根據(jù)光傳感器84輸出的總相加信號RF，已記錄/未記錄檢測部件105確定光束投射到的區(qū)域是否已記錄信息的區(qū)域。例如，當總相加信號RF的最大振幅超過特定閾值時，已記錄/未記錄檢測部件105將已記錄/未記錄信號RCD置為如圖5所示的高電平。
當光束掃描已記錄區(qū)時，CPU 90設(shè)置增益控制部件98的增益，使PP跟蹤誤差信號VPP的最大振幅Va成為特定最大振幅VA(步驟ST3)。當光束掃描未記錄區(qū)時，CPU 90設(shè)置增益控制部件98的增益，使PP跟蹤誤差信號VPP的最大振幅Vb成為特定最大振幅VB(步驟ST4)。
接著，CPU 90取消放大器101的靜噪(或?qū)⒖刂菩盘朌FCT置于關(guān)閉狀態(tài))，并設(shè)置放大器101的增益，使得跟蹤誤差信號TE1和TE2可在加法器102以最優(yōu)相加率相加(步驟ST5)。即CPU 90設(shè)置放大器101的增益，使得跟蹤誤差信號TE的最大振幅在已記錄區(qū)和未記錄區(qū)相同，或者使得零交叉點Pa與零交叉點Pb的信號傾斜度相同，其中在零交叉點處信號從負值轉(zhuǎn)為正值)。
在正常的記錄或還原操作中，可以產(chǎn)生在光盤已記錄區(qū)和未記錄區(qū)具有幾乎相同的振幅的跟蹤誤差信號。這樣就能夠?qū)崿F(xiàn)精確的跟蹤伺服機構(gòu)。
根據(jù)本發(fā)明，由于將混合DPD信號和PP信號而得到的信號用作最終的跟蹤誤差信號，盡管存在光學系數(shù)的波動，仍然可以實現(xiàn)穩(wěn)定的跟蹤伺服機構(gòu)。因此，即使在高速搜索記錄介質(zhì)上的已記錄區(qū)和未記錄區(qū)時，也能穩(wěn)定操作記錄介質(zhì)。
當盤面存在劃痕時，利用控制信號DFCT對DPD跟蹤誤差信號進行靜噪處理，從而使跟蹤伺服機構(gòu)不受劃痕干擾。
圖8是示出根據(jù)第一個實施例的修改的跟蹤誤差信號產(chǎn)生電路85b的結(jié)構(gòu)的模塊圖。在跟蹤誤差信號產(chǎn)生電路85b中，與門107對控制信號DFCT和已記錄/未記錄信號RCD進行“與”運算，并將結(jié)果提供給放大器101。亦即，只要信號DFCT和信號RCD之一為低電平，與門107就輸出低電平信號。
圖5中，雖然通過對DPD跟蹤誤差信號VDPD進行振幅調(diào)整而得到的跟蹤誤差信號TE2在未記錄區(qū)為0伏，然而實際上信號TE2仍有可能包含噪聲。當跟蹤誤差信號TE2包含噪聲時，就會呈現(xiàn)不穩(wěn)定狀態(tài)。因此，在未記錄區(qū)將跟蹤誤差信號TE2強置為0伏，從而使跟蹤誤差信號TE處于更穩(wěn)定的狀態(tài)。
圖9是示出根據(jù)第一個實施例的修改的跟蹤誤差信號產(chǎn)生電路85c的結(jié)構(gòu)的模塊圖。在跟蹤誤差信號產(chǎn)生電路85c中，已記錄/未記錄信號RCD輸入到放大器101。倒相電路99將信號RCD的反相信號輸入到增益控制部件98。
當已記錄/未記錄信號RCD代表已記錄區(qū)時(例如，當信號RCD為高電平時)，增益控制部件98對跟蹤誤差信號VPP進行靜噪處理。這樣，在已記錄區(qū)僅通過DPD跟蹤誤差信號VDPD進行跟蹤控制。當已記錄/未記錄信號RCD代表未記錄區(qū)時(例如，當信號RCD為低電平時)，放大器101對跟蹤誤差信號VDPD進行靜噪處理。這樣，在未記錄區(qū)僅通過PP跟蹤誤差信號VPP進行跟蹤控制。
因此，即使在對記錄介質(zhì)的已記錄區(qū)和未記錄區(qū)進行高速搜索時，仍可以穩(wěn)定操作記錄介質(zhì)。
圖10是示出根據(jù)第一個實施例的修改的跟蹤誤差信號產(chǎn)生電路85d的結(jié)構(gòu)的模塊圖。在跟蹤誤差信號產(chǎn)生電路85d中，振蕩器117輸出的具有恒定頻率的相同信號通過加法器108和109與相位差檢測部件100的比較輸入信號相加。
通過相加上述恒定頻率的信號，使得在由盤面劃痕等類似原因?qū)е绿峁┙o相位差檢測部件100的RF信號消失的情況下，DPD信號仍能自動靜噪。由于在掃描到有劃痕的盤面區(qū)域時DPD信號靜噪，則可構(gòu)成一個伺服回路，防止發(fā)生諸如跳軌等錯誤操作。本修改例中，無需缺陷檢測部件106。
圖11是示出根據(jù)第二個實施例的修改的跟蹤誤差信號產(chǎn)生電路85e的結(jié)構(gòu)的模塊圖。在PP方法中，當物鏡的位置因讀取頭制造誤差或傳動機構(gòu)的微小移動而偏離預(yù)定位置時，光軸也會相應(yīng)地偏移，從而導(dǎo)致光傳感器84上的光束光點偏移，結(jié)果將使各檢測器接收到的光強改變。這將使跟蹤誤差信號產(chǎn)生偏差。
跟蹤誤差信號產(chǎn)生電路85e采用DPP(差分推挽)方法。如圖11B所示，在激光二極管79產(chǎn)生的主光束M兩側(cè)，是激光二極管118a和118b產(chǎn)生的子光束S。子光束S的光點投射到主光束M所掃描的軌道兩側(cè)的相鄰軌道上。檢測器F1、F2、E1和E2接收子光束S，根據(jù)子光束S產(chǎn)生PP信號，并利用子光束S所產(chǎn)生的PP信號消除主光束M所產(chǎn)生的PP信號的偏移。
檢測器F1和E1的傳感輸出信號由加法器114a相加，檢測器F2和E2的傳感輸出信號由加法器114b相加。加法器114a和114b的相加輸出在減法器115中相減。在結(jié)果被放大器116放大到適當振幅之后，放大結(jié)果輸入到減法器117。圖3中第一個實施例所示的光傳感器84所獲得的PP跟蹤誤差信號VPP也輸入到減法器117。減法器117向增益控制部件98提供通過消除PP跟蹤誤差信號VPP，即DPP跟蹤誤差信號VDPP的偏移而獲得的信號。其余電路部件的操作與圖3相同。
應(yīng)該注意到，本發(fā)明適用于還原信息的光盤裝置和記錄及還原信息的光盤裝置，所述記錄及還原操作通過將光束投射到光盤上來完成。
本領(lǐng)域技術(shù)人員可發(fā)現(xiàn)本發(fā)明的其它優(yōu)點，可對本發(fā)明作出其它修改。因此，本發(fā)明的范圍不受在本文所示出和說明的具體細節(jié)以及典型實施例的限定。相應(yīng)地，在不違反所附權(quán)利要求
及其等同內(nèi)容所闡明的本發(fā)明的總體構(gòu)思的實質(zhì)或范圍的條件下，可對本發(fā)明作多種修改。
權(quán)利要求
1.一種光盤裝置，通過將光束投射到光盤上，所述光盤裝置被用作還原信息的裝置和記錄及還原信息的裝置之一，所述光盤裝置包括光傳感器(84)，由至少一個光傳感單元組成，用于接收光盤反射的光，并輸出基于所接收的光的光傳感信號；第一跟蹤誤差產(chǎn)生部件(104)，用于檢測所述光傳感器輸出的所述光傳感信號之間的相位差，并根據(jù)所述光傳感信號產(chǎn)生第一跟蹤誤差信號；第二跟蹤誤差產(chǎn)生部件(103)，用于檢測所述光傳感器輸出的所述光傳感信號之間的電平差，并根據(jù)所述光傳感信號產(chǎn)生第二跟蹤誤差信號；混合部件，用于混合所述第一跟蹤誤差產(chǎn)生部件(104)產(chǎn)生的第一跟蹤誤差信號和所述第二跟蹤誤差產(chǎn)生部件(103)產(chǎn)生的第二跟蹤誤差信號，并輸出混合的跟蹤誤差信號；跟蹤控制部件(88)，用于使用從所述混合部件提供的混合跟蹤誤差信號進行跟蹤控制；已記錄/未記錄檢測部件(105)，該部件用于確定所述光束正在掃描所述光盤的已記錄區(qū)還是未記錄區(qū)，靜噪部件，該部件響應(yīng)所述已記錄/未記錄檢測部件(105)的檢測結(jié)果對所述第一或第二跟蹤誤差信號進行靜噪處理，其中所述靜噪部件當所述光束照射的所述光盤上的區(qū)域是記錄有數(shù)據(jù)的已記錄區(qū)時，對所述第二跟蹤誤差信號進行靜噪處理，當所述光束照射的區(qū)域是沒有記錄數(shù)據(jù)的未記錄區(qū)時，對所述第一跟蹤誤差信號進行靜噪處理。
2.根據(jù)權(quán)利要求
1的光盤裝置，其特征在于，所述靜噪部件包括一個用于放大第一跟蹤誤差信號并通過使用其靜噪功能對第一跟蹤誤差信號進行靜噪處理的放大器(101)，以及一個用于放大第二跟蹤誤差信號并通過使用其靜噪功能對第二跟蹤誤差信號進行靜噪處理的增益控制部件(98)。
3.根據(jù)權(quán)利要求
2的光盤裝置，其特征在于進一步包括缺陷檢測部件(106)，該部件根據(jù)所述光傳感器(84)的總相加信號(RF)檢測所述光盤的缺陷部分，并向所述放大器(101)輸出缺陷檢測信號(DFCT)，其中所述放大器(101)響應(yīng)缺陷檢測信號(DFCT)對所述第一跟蹤誤差信號進行靜噪處理。
4.根據(jù)權(quán)利要求
2的光盤裝置，其特征在于進一步包括加法部件(108，109)，該加法部件將具有恒定頻率的同一信號與輸入到所述第一跟蹤誤差產(chǎn)生部件(104)的各光傳感信號相加。
5.一種在光盤裝置中產(chǎn)生跟蹤誤差信號的方法，其中通過將光束投射到光盤上，所述光盤裝置被用作還原信息的裝置，和記錄及還原信息的裝置之一，所述方法包括使至少一個光傳感單元接收光盤反射的光，并輸出基于所述光傳感單元接收的光的光傳感信號；檢測所述光傳感信號之間的相位差，并產(chǎn)生第一跟蹤誤差信號；檢測所述光傳感信號之間的電平差，并產(chǎn)生第二跟蹤誤差信號；混合所述第一跟蹤誤差信號和所述第二跟蹤誤差信號，并輸出混合的跟蹤誤差信號；提供在混合步驟產(chǎn)生的混合跟蹤誤差信號以作為最終的跟蹤誤差信號，其中當所述光束照射的所述光盤上的區(qū)域是記錄有數(shù)據(jù)的已記錄區(qū)時，對所述第二跟蹤誤差信號進行靜噪處理，當所述光束照射的區(qū)域是沒有記錄數(shù)據(jù)的未記錄區(qū)時，對所述第一跟蹤誤差信號進行靜噪處理。
專利摘要
通過將光束投射到光盤上而用作還原信息的裝置和記錄及還原信息的裝置之一的光盤裝置包括光傳感器，由至少一個光傳感單元組成，其接收光盤反射光并輸出基于所接收光的光傳感信號；第一和第一跟蹤誤差產(chǎn)生部件，分別檢測光傳感器輸出的光傳感信號之間的相位差和電平差，并分別根據(jù)光傳感信號產(chǎn)生第一和第二跟蹤誤差信號；混合部件，混合第一和第二跟蹤誤差信號并輸出混合跟蹤誤差信號；跟蹤控制部件，使用混合跟蹤誤差信號進行跟蹤控制；及靜噪部件，分別當光束照射已記錄區(qū)和未記錄區(qū)時，分別對第二和第一跟蹤誤差信號進行靜噪處理。
文檔編號G11B7/09GKCN1251200SQ03102316
公開日2006年4月12日 申請日期2003年1月30日
發(fā)明者中根博, 中野健 申請人:株式會社東芝導(dǎo)出引文BiBTeX, EndNote, RefMan