專(zhuān)利名稱(chēng)：給記錄載體提供信息模式的方法和設(shè)備的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及給記錄載體提供信息模式的方法，在該方法中對(duì)影響形成的信息模式的質(zhì)量的至少一個(gè)與記錄載體有關(guān)的參量進(jìn)行調(diào)整。
本發(fā)明還涉及信息記錄設(shè)備，該設(shè)備包括給記錄載體提供信息模式的寫(xiě)入裝置和調(diào)整寫(xiě)入裝置的裝置。
這種方法和這種設(shè)備在EP-A-0，288，114已經(jīng)公知了。EP-A-0，288，114中描述的方法和設(shè)備使用在記錄載體的制作期間已經(jīng)提供了調(diào)整數(shù)據(jù)，特別是寫(xiě)入方式和寫(xiě)入強(qiáng)度的數(shù)據(jù)。在記錄載體插入信息記錄設(shè)備以后從記錄載體中讀出調(diào)整數(shù)據(jù)并根據(jù)讀出的調(diào)整數(shù)據(jù)調(diào)整寫(xiě)入裝置。但是，已有技術(shù)的設(shè)備的缺點(diǎn)是寫(xiě)入裝置的調(diào)整并不是總為最佳。這樣一來(lái)，已記錄的信息模式的大小可能產(chǎn)生偏差，就不能總是可靠地讀出已記錄的信息。
本發(fā)明的目的是提供在開(kāi)始段中所述的設(shè)備，該設(shè)備對(duì)寫(xiě)入裝置的調(diào)整進(jìn)行了改進(jìn)。作為方法，通過(guò)從許多預(yù)定的可能允許的校正區(qū)域中選擇一個(gè)校正區(qū)域，為確立不同的參量值在所選的區(qū)域中形成測(cè)試模式，在形成的測(cè)試模式的基礎(chǔ)上根據(jù)預(yù)定的標(biāo)準(zhǔn)確定參量的最佳值以及在形成信息模式區(qū)間將參量調(diào)整為上述最佳值來(lái)實(shí)現(xiàn)上述目的。
作為設(shè)備，通過(guò)提供包括從許多在記錄載體上的預(yù)定校正區(qū)域中選出一個(gè)校正區(qū)域的選擇裝置，對(duì)寫(xiě)入裝置的不同設(shè)置使在選出的校正區(qū)域中形成測(cè)試模式的裝置，在形成的測(cè)試模式的基礎(chǔ)上選出最佳設(shè)置的裝置以及在信息模式形成期間將寫(xiě)入裝置調(diào)整為已選出的最佳裝置的裝置的設(shè)備來(lái)實(shí)現(xiàn)上述目的。
本發(fā)明特別根據(jù)這一認(rèn)識(shí)，即寫(xiě)入裝置的最佳設(shè)置強(qiáng)烈地依賴(lài)于所用的記錄載體以及所用的信息記錄設(shè)備。但是，對(duì)于記錄載體和記錄設(shè)備的特定組合，最佳設(shè)置對(duì)記錄載體的整個(gè)記錄區(qū)域來(lái)說(shuō)基本上是恒定的。
因此，可以認(rèn)為本發(fā)明設(shè)備中調(diào)整數(shù)據(jù)的確定對(duì)記錄載體的整個(gè)記錄區(qū)域來(lái)說(shuō)是最佳的。此外，多個(gè)不同校正區(qū)域的使用使得可多次進(jìn)行最佳設(shè)置的確定。例如，每當(dāng)記錄載體被裝入記錄設(shè)備中時(shí)。這在當(dāng)在多個(gè)不同的信息記錄設(shè)備中使用同一種不能被重寫(xiě)的記錄載體時(shí)尤其有利。多個(gè)校正區(qū)域的使用還使得對(duì)每個(gè)信息記錄設(shè)備可確定最佳的設(shè)置。原理上通過(guò)檢測(cè)已向那個(gè)記錄區(qū)域提供了測(cè)試模式能夠選出待用的校正區(qū)域。這樣做的缺點(diǎn)是測(cè)試模式不在設(shè)置為最佳時(shí)形成，因此不能保證對(duì)測(cè)試模式的存在進(jìn)行可靠的檢測(cè)。此外，由于校正區(qū)域的總長(zhǎng)度，可能需要相當(dāng)長(zhǎng)的時(shí)間對(duì)未使用的校正區(qū)域進(jìn)行搜索。
如果有一個(gè)指明在記錄載體上已記錄了多少信息信號(hào)的內(nèi)容目錄，設(shè)定對(duì)每個(gè)記錄信息信號(hào)僅一次就能確定最佳的設(shè)置，從該目錄就能得到已使用的校正區(qū)域的最大數(shù)目。根據(jù)該數(shù)目總是可能對(duì)校正區(qū)域進(jìn)行明確和選擇的。剛提到的選擇方法的缺點(diǎn)是一旦確定了最佳的設(shè)置就不允許參考已記錄的信息信號(hào)。這意味確定最佳設(shè)置的過(guò)程必須延遲到絕對(duì)肯定信號(hào)將要被記錄時(shí)為止。這可能將導(dǎo)致信息信號(hào)記錄時(shí)附加的延遲。
上述選擇的方法的缺點(diǎn)可用下述方法來(lái)減少，該方法特征在于對(duì)每個(gè)校正區(qū)域指定一個(gè)從屬區(qū)域，形成從屬模式，每當(dāng)確定最佳設(shè)置時(shí)就在為用于確定最佳設(shè)置的校正區(qū)域而指定的從屬區(qū)域中根據(jù)記錄在從屬區(qū)域中的從屬模式選擇校正區(qū)域。
從屬區(qū)域的使用使總可能明確地確定哪個(gè)校正區(qū)域已被使用。由于從屬區(qū)域的尺寸可遠(yuǎn)少于校正區(qū)域的尺寸，根據(jù)從屬區(qū)域?qū)ξ词褂玫男Ｕ齾^(qū)域進(jìn)行選擇要遠(yuǎn)遠(yuǎn)比根據(jù)校正區(qū)域本身進(jìn)行選擇快得多。
如果使用為了對(duì)校正區(qū)域進(jìn)行定位而預(yù)先被提供了外加地址信息的記錄載體，直接使用的校正區(qū)域最好在沒(méi)有被提供測(cè)試模式的區(qū)域之后。實(shí)際上，一旦形成測(cè)試模式，地址信息會(huì)被破壞，不再能保證能正確地讀出地址信息，對(duì)位于具有已破壞了的地址信息的區(qū)域后一短距離的區(qū)域進(jìn)行定位將會(huì)引起麻煩。當(dāng)使用其校正區(qū)域?yàn)轭A(yù)制伺服軌跡的一部分的記錄載體時(shí)，形成測(cè)試模式將會(huì)破壞該軌跡，不再保證正確的尋跡。
最好選擇校正區(qū)域的數(shù)目大于或等于能被記錄在記錄載體上的信息信號(hào)的最大數(shù)目。(該數(shù)目對(duì)于記錄CD信號(hào)是一百)這就保證對(duì)每一將被記錄的信息信號(hào)都有一個(gè)用于確定調(diào)整的校正區(qū)域。
現(xiàn)參看

圖1到圖10詳細(xì)描述更多的實(shí)施例以及它們的優(yōu)點(diǎn)，其中圖1和圖4表示本發(fā)明的設(shè)備的實(shí)施例，圖2和圖5表示在記錄載體上記錄校正區(qū)域的合適的位置，圖3和圖6是由設(shè)備的控制單元執(zhí)行的程序的流程圖，圖7，圖8和圖9表示確定最佳調(diào)整的合適的方式，圖10表示在圖4所示的設(shè)備中使用的分析電路的實(shí)施。
圖1例示了本發(fā)明信息記錄設(shè)備的一實(shí)施圖。該實(shí)施例是一記錄設(shè)備，通過(guò)該記錄設(shè)備信息能被記錄在繞著軸2旋轉(zhuǎn)的記錄載體1上(例如光學(xué)記錄載體)。該信息記錄設(shè)備包括一逆對(duì)著旋轉(zhuǎn)記錄載體的通用讀/寫(xiě)頭3。在包括例如微處理器的通用控制單元5的控制下，借助于通用的例如由馬達(dá)4和轉(zhuǎn)軸5a組成的定位系統(tǒng)，讀-寫(xiě)頭3能沿著相對(duì)于記錄載體1的徑向方向運(yùn)動(dòng)。
待記錄的信息信號(hào)Vi通過(guò)輸入端6被輸入到信號(hào)處理電路7，信號(hào)處理電路7為通用型，該電路將被輸入的輸入信號(hào)轉(zhuǎn)換成具有合適的記錄格式(例如CD格式RDAT格式)的記錄信號(hào)Vop，記錄信號(hào)Vop輸入到通用型的驅(qū)動(dòng)電路8，該電路以這樣的方式為讀/寫(xiě)頭3將記錄信號(hào)Vop轉(zhuǎn)換成驅(qū)動(dòng)信號(hào)Vs使相應(yīng)于記錄信號(hào)Vop的信息模式記錄在記錄載體上，為了讀出已記錄的信息模式，讀/寫(xiě)頭3有一用于輸出讀出信號(hào)V1的輸出端，讀出信號(hào)V1代表了被讀出的信息模式，讀出信號(hào)V1輸入到讀出電路9以便恢復(fù)由讀出信號(hào)V1代表的信息。驅(qū)動(dòng)電路8是可調(diào)的以便調(diào)整一個(gè)或多個(gè)能夠影響和調(diào)整已記錄的信息模式的質(zhì)量的參量，當(dāng)使用通過(guò)輻射光來(lái)形成具有可用光檢測(cè)的效應(yīng)的信息模式的光讀/寫(xiě)頭時(shí)，輻射光束的強(qiáng)度就是一影響信息模式的質(zhì)量的重要參量。如果讀/寫(xiě)頭是通過(guò)產(chǎn)生磁場(chǎng)以便以磁化效應(yīng)(磁疇)的形式形成信息模式的磁讀/寫(xiě)頭或磁-光讀寫(xiě)頭，該讀寫(xiě)頭以磁效應(yīng)的形式產(chǎn)生為形成信息模式目的磁場(chǎng)，所產(chǎn)生的磁場(chǎng)的場(chǎng)強(qiáng)就是一重要的調(diào)整參量。如果通過(guò)寫(xiě)脈沖來(lái)形成信息模式，脈沖寬度就是一重要的調(diào)整參量。需要指出的是上述調(diào)整參量?jī)H是大量可能的調(diào)整參量中的幾個(gè)例子，在這方面請(qǐng)專(zhuān)門(mén)參看NL-A-9000150(PHN13.217)，其中調(diào)整參量是產(chǎn)生作用的速度的參考值，在產(chǎn)生作用期間控制寫(xiě)入光束的強(qiáng)度以便保持根據(jù)可調(diào)的參考值產(chǎn)生作用的速度。
為了確定驅(qū)動(dòng)電路8的最佳位置，該設(shè)備包括分析電路10，該分析電路10從讀出信號(hào)中得到表明被讀出的信息模式的質(zhì)量的分析信號(hào)Va。在校正過(guò)程中通過(guò)對(duì)驅(qū)動(dòng)電路的不同設(shè)置在記錄載體1中形成測(cè)試信息模式和通過(guò)根據(jù)分析信號(hào)Va選擇由分析信號(hào)表明了最佳質(zhì)量的那一設(shè)置能在測(cè)試過(guò)程中確定最佳設(shè)置。從原理上來(lái)說(shuō)，信息信號(hào)Vi可用來(lái)寫(xiě)入測(cè)試信息模式。但是，也可以用測(cè)試信號(hào)發(fā)生器11來(lái)達(dá)到這一目的，該測(cè)試信號(hào)發(fā)生器11可被包括在例如信號(hào)處理電路7中。在控制單元5的控制下確定最佳設(shè)置，為達(dá)到這一目的，控制單元5被連接到分析電路10，驅(qū)動(dòng)電路8和測(cè)試信號(hào)發(fā)生器11(如果有的話)，該控制單元裝有合適的程序或包括合適的硬件電路，最好在校正過(guò)程中確定最佳設(shè)置，校正過(guò)程是在記錄載體已經(jīng)被插入信息記錄設(shè)備后才進(jìn)行的。
為了確定最佳設(shè)置，已給記錄載體提供了許多位于記錄載體上預(yù)定位置的校正區(qū)域，例如位于打算作記錄信息模式的伺服軌跡的前端。圖2以圖解的形式例示了直線狀的伺服軌跡20。伺服軌跡包括打算作記錄信息信號(hào)的區(qū)域PA。在區(qū)域PA前面的區(qū)域TA為了確定最佳調(diào)整打算用來(lái)輸入測(cè)試模式。區(qū)域TA被分為校正區(qū)域21a，……21d，每個(gè)區(qū)域有一適于執(zhí)行校正過(guò)程的長(zhǎng)度，在每一校正過(guò)程的開(kāi)始，選出使用的校正區(qū)域21，然后測(cè)試橫式記錄在選出的校正區(qū)域以實(shí)現(xiàn)對(duì)調(diào)整參量的不同設(shè)置，讀出這些測(cè)試模式并且根據(jù)產(chǎn)生的分析信號(hào)Va選擇最佳調(diào)整，在校正過(guò)程的開(kāi)始可用多種不同的方法選擇未使用的校正區(qū)域，例如，可以讀出校正區(qū)域并且檢測(cè)在被讀出的校正區(qū)域中是否有信息模式存在，考慮到校正區(qū)域的長(zhǎng)度，這要花費(fèi)相當(dāng)長(zhǎng)的時(shí)間，此外，因?yàn)橥ㄟ^(guò)輸入測(cè)試模式伺服軌跡會(huì)被破壞到使得不再可能進(jìn)行局部的尋跡，所以讀出測(cè)試模式也可能成問(wèn)題，如果假定為了記錄每個(gè)信息信號(hào)僅需要一個(gè)校正區(qū)域來(lái)確定最佳設(shè)置，當(dāng)已被記錄的信息信號(hào)的數(shù)目在伺服軌跡20的一部分中被表示時(shí)，由此就能確定已使用的校正區(qū)域的最大數(shù)目，如果在校正過(guò)程中，校正區(qū)是如此選取使它們的序號(hào)相應(yīng)于已記錄的信息信號(hào)的號(hào)碼加一的校正區(qū)域，將總會(huì)容易地找出未使用的校正區(qū)域，但是，必須注意到信息信號(hào)實(shí)際上每次都是在已確定個(gè)最佳設(shè)置后才被記錄的，這是為了保證相應(yīng)于在目錄中指定的已記錄的信息信號(hào)的號(hào)碼的校正區(qū)域確實(shí)未被使用。
通過(guò)在記錄載體上不相連的區(qū)域中指出哪一個(gè)校正區(qū)域還未被使用能夠減輕上述選擇方法的缺點(diǎn)，這是可能的，例如在每一校正過(guò)程之后記錄下表明有多少個(gè)校正區(qū)域已被使用的信號(hào)，這也是可能的，在校正區(qū)域被使用之后每每一校正區(qū)域指定一從屬區(qū)域并且在相關(guān)的從屬區(qū)域中形成從屬模式，在圖2的區(qū)域CA中，給校正區(qū)域指定的從屬區(qū)域具有標(biāo)號(hào)22a，……22d，在這種情況下，通過(guò)檢測(cè)在從屬區(qū)域中是否存在從屬模式就能夠選擇未使用的校正區(qū)域，可用被記錄在例如伺服軌跡中的地址來(lái)指明在伺服軌跡20中的校正區(qū)域21和從屬區(qū)域22的位置，但是，也可以用另外的方式指明這些區(qū)域的位置，例如，將這些區(qū)域設(shè)置在離圓盤(pán)狀的記錄載體的旋轉(zhuǎn)中心一預(yù)定的距離處。
為了選擇校正區(qū)域，控制單元裝入合適的程序，作為例子圖3給出這種程序的流程圖，在再次確定最佳設(shè)置的時(shí)刻，例如每當(dāng)記錄載體被裝入信息記錄設(shè)備時(shí)取出程序，該程序包括步驟B1。在該步驟中在控制單元5的控制下對(duì)區(qū)域CA的前端區(qū)域進(jìn)行定位，一旦到達(dá)區(qū)域CA就在步驟B2讀出區(qū)域CA并辨別在區(qū)域CA中被讀出的從屬區(qū)域內(nèi)是否存在從屬模式，一旦檢測(cè)到還沒(méi)有記錄從屬模式的從屬區(qū)域就在步驟B3中在被檢測(cè)的從屬區(qū)域的地址的基礎(chǔ)上，例如利用確定校正區(qū)域的起始地址和給校正區(qū)域指定的從屬區(qū)域的地址之間的關(guān)系的目錄來(lái)獲得相關(guān)的校正區(qū)域的前端區(qū)域的地址，然后在步驟B4中在控制單元5的控制下對(duì)具有如此確定地址的校正區(qū)域進(jìn)行定位，在步驟B5中完成校正過(guò)程，步驟B5之后，在步驟B6中在給相關(guān)的校正區(qū)域指定的從屬區(qū)域中形成從屬模式，可用測(cè)試信號(hào)或輸入到記錄設(shè)備的信息信號(hào)Vi來(lái)記錄從屬模式。
要注意當(dāng)在校正區(qū)域中形成測(cè)試模式時(shí)，伺服軌跡會(huì)被覆蓋到這樣的程度使得不再能夠可靠地讀出在測(cè)試模式后的地址信息。因此，最好這樣選擇校正區(qū)域21，即總是使用在該區(qū)域的前面有一還沒(méi)有給提供測(cè)試模式的區(qū)域的校正區(qū)域，例如通過(guò)使用最后的區(qū)域21d進(jìn)行第一次校正過(guò)程并且以后每次都使用正好在上次已被使用的校正區(qū)域21前面的校正區(qū)域21。
圖4詳細(xì)表示信息記錄設(shè)備的一實(shí)施例，所示實(shí)施例能將標(biāo)準(zhǔn)的CD信號(hào)用光學(xué)方法記錄在光記錄載體116上，光記錄載體116有例如由相應(yīng)材料或染料構(gòu)成的光照敏感層，該敏感層有用作記錄信息模式的伺服軌跡，上述類(lèi)型的記錄載體特別在NL-A-8800151，NL-A-8900766和N2-A-8901145(PHN12.398，PHN12，887，PHN12，925)中有充分的描述，此處作為參考文獻(xiàn)，上述專(zhuān)利申請(qǐng)中描述的記錄載體具有軌跡擺動(dòng)形式的軌跡調(diào)制，頻率被從絕對(duì)時(shí)間碼ATLP的形式表示地址的地址信號(hào)所調(diào)制，通用型光讀/寫(xiě)頭105相對(duì)著旋轉(zhuǎn)的記錄載體116并且借助于通用的例如由馬達(dá)103和轉(zhuǎn)軸104組成的定位系統(tǒng)能夠沿著相對(duì)于記錄載體116的徑向方向運(yùn)動(dòng)，如果需要讀/寫(xiě)頭105可用來(lái)既記錄信息模式又讀出信息模式，為此目的，讀/寫(xiě)頭105包括用來(lái)產(chǎn)生輻射光束107a的半導(dǎo)體激光器，輻射光束的強(qiáng)度通過(guò)驅(qū)動(dòng)電路107來(lái)改變，在NL-A-890159(PHN12.994)中有對(duì)該半導(dǎo)體激光器的詳細(xì)描述，在此作為參考文獻(xiàn)，輻射光束107a以公知的方式瞄準(zhǔn)記錄載體116的伺服軌跡，光束107a部分被記錄載體116反射，反射光束被軌跡擺動(dòng)以及信息模式(如果存在信息模式的話)所調(diào)制，反射光束射向光照敏感檢測(cè)器108a，后者產(chǎn)生相應(yīng)于光束調(diào)制的讀出信號(hào)VI，信號(hào)VI含有由軌跡擺動(dòng)產(chǎn)生的在標(biāo)準(zhǔn)掃描速度時(shí)頻率約為22KHz的分量，通過(guò)馬達(dá)控制電路108控制馬達(dá)100，控制馬達(dá)的轉(zhuǎn)數(shù)以便將讀出信號(hào)VI中由軌跡擺動(dòng)產(chǎn)生的分量的頻率基本保持在22KHz，讀出信號(hào)VI還被輸入到檢測(cè)電路109，后者從讀出信號(hào)VI還被輸入到檢測(cè)電路109，后者從讀出信號(hào)VI中由軌跡擺動(dòng)產(chǎn)生的分量中檢測(cè)出時(shí)間碼ATIP并將這些碼傳送到包括，例如微型計(jì)算機(jī)110的控制單元。此外，讀出信號(hào)VI還被輸入到具有高通特性的放大電路111以便抑制讀出信號(hào)VI中由軌跡擺動(dòng)產(chǎn)生的分量，由此低頻分量已被消除的讀出信號(hào)VI被輸入到分析電路65，后者顯示出被讀出的信息模式的質(zhì)量，以后將詳細(xì)描述分析電路的實(shí)例，分析電路65輸出端的分析信號(hào)也被輸入到微型計(jì)算機(jī)110，記錄設(shè)備還包括通用的CIRC編碼電路112，通過(guò)被微型計(jì)算機(jī)110控制的開(kāi)關(guān)115可將要記錄的信號(hào)Vi輸入到該電路CIRC編碼電路112與常規(guī)EFM調(diào)制器113串接，EFM調(diào)制器的輸出端接至驅(qū)動(dòng)電路107，驅(qū)動(dòng)電路107為通用可控型，通過(guò)能調(diào)整那些能影響記錄信息模式質(zhì)量的方式對(duì)該電路加以控制，例如這種參量可以是在形成信息模式期間輻射光束的強(qiáng)度，如果用等寬度的輻射脈沖來(lái)形成信息模式則該寬度就是影響已記錄的信息模式質(zhì)量的重要參量。在磁-光記錄的情況中，通過(guò)輻射光束掃描在記錄載體區(qū)域中產(chǎn)生的磁場(chǎng)強(qiáng)度是一重要參量，為了產(chǎn)生測(cè)試模式，記錄設(shè)備1包括一測(cè)試信號(hào)發(fā)生器114，后者產(chǎn)生例如-隨機(jī)數(shù)字信號(hào)或產(chǎn)生相應(yīng)于數(shù)字信號(hào)值零(信號(hào)靜寂)的信號(hào)。但是，需要指出的是在原理上也可用信息信號(hào)來(lái)形成測(cè)試模式。信號(hào)發(fā)生器114產(chǎn)生的信號(hào)通過(guò)開(kāi)關(guān)115輸入到CIRC編碼電路112，開(kāi)關(guān)115為通用型，根據(jù)來(lái)自控制單元110的信號(hào)傳送將要被記錄的信號(hào)Vi或傳送信號(hào)發(fā)生器114的輸出信號(hào)。
如上所述，測(cè)試模式最好記錄在記錄載體116上的可尋地址單元中，如果記錄載體116有上述荷蘭專(zhuān)利申請(qǐng)NL-A-890076(PHN12，887)中所述的結(jié)構(gòu)，即在該記錄載體中伺服軌跡按以下次序被分成記錄暫時(shí)目錄(暫時(shí)TOC)的區(qū)域(PMA)，記錄的最后目錄(TOC)的區(qū)域(Lead Tn Area)和程序區(qū)域(PA)，則具有校正區(qū)域的區(qū)域PCA最好是在區(qū)域(PMA)前面以使記錄暫時(shí)目錄，圖5用圖表示伺服軌跡的結(jié)構(gòu)。
此外，圖5表示通過(guò)以分，秒和格表示的絕對(duì)時(shí)間碼表示的各種區(qū)域的地址。例如，程序區(qū)域(PA)的前端的絕對(duì)時(shí)間碼ATIP是0.00.00.Lead Tn Area的前端的絕對(duì)時(shí)間碼ATIP是TSL.區(qū)域PMA前端的絕對(duì)時(shí)間碼等于TLIA減0.13.25而區(qū)域TA前端具有TLIA減0.35.65的絕對(duì)時(shí)間碼。每一個(gè)絕對(duì)時(shí)間碼ATIP區(qū)分具有相應(yīng)于一格的長(zhǎng)度的伺服軌跡部分，每一校正區(qū)域21有15個(gè)格而每一從屬區(qū)域22只有一格。如果記錄載體被用來(lái)記錄標(biāo)準(zhǔn)的CD信號(hào)，可用的長(zhǎng)度足夠?qū)γ總€(gè)要被記錄的信息信號(hào)完成一個(gè)校正操作過(guò)程，這是因?yàn)镃D標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)中不同信息信號(hào)(軌跡)的最大數(shù)是一百。
由于在已記錄有測(cè)試信息模式的區(qū)域中不是總能保證ATLP碼的讀出，所以使用校正區(qū)域21的次序最好是從后到前，就是說(shuō)，要使用的第一個(gè)校正區(qū)域21位于TA區(qū)域的末端(即靠近CA區(qū)域的邊界)，這樣一來(lái)，用來(lái)確定免寫(xiě)入程度的一個(gè)區(qū)域的前面總是有一個(gè)相對(duì)較大的還沒(méi)有記錄制度模式的區(qū)域。這樣做是好的，因?yàn)樵谝延涗浻袦y(cè)試模式的伺服軌跡部分中不總是能夠保證可靠地讀出絕對(duì)時(shí)間碼ATIP，即使可靠地讀出絕對(duì)時(shí)間碼ATIP對(duì)確定要被使用的校正區(qū)域21的開(kāi)始是必要的，確定最佳寫(xiě)入強(qiáng)度的方法如下在新的信息信號(hào)(軌跡)被記錄之前，根據(jù)從屬區(qū)域22來(lái)獲得記錄測(cè)試信息模式的校正區(qū)域的地址，在圖5所示的例子中五個(gè)校正區(qū)域(序號(hào)為1-5)已被使用，它們用陰影線的區(qū)域來(lái)表示，這種情況用在五個(gè)具有序號(hào)1-5的從屬區(qū)域中的從屬模式來(lái)表示，這些從屬區(qū)域也畫(huà)上陰影線，序號(hào)為6的校正區(qū)域就能被用于下一個(gè)校正操作過(guò)程，這用具有從屬模式的五個(gè)從屬區(qū)域1-5表示，選出校正區(qū)域后就用許多不同的寫(xiě)入強(qiáng)度值將測(cè)試模式記錄在選出的校正區(qū)域中，在這之后讀出的所記錄的測(cè)試模式并通過(guò)分析信號(hào)Va確定校正區(qū)域哪一部分中的測(cè)試模式為最佳，然后就用相應(yīng)于記錄最佳測(cè)試模式時(shí)寫(xiě)入強(qiáng)度將信息模式記錄在相關(guān)的從屬區(qū)域(序號(hào)為6)中。
微型計(jì)算機(jī)110被裝入合適的控制程序以便執(zhí)行校正操作過(guò)程，圖6是這種程序?qū)嵗牧鞒虉D，在該程序步驟S1中，在微型計(jì)算機(jī)110的控制下將讀/寫(xiě)頭對(duì)著記錄載體上的CA區(qū)域，尋址是在舊檢測(cè)電路109檢測(cè)的讀出信號(hào)VI中的絕對(duì)時(shí)間碼ATIP來(lái)實(shí)現(xiàn)的，在步驟S2中根據(jù)記錄在從屬區(qū)域22中的從屬模式確定將要作記錄測(cè)試模式的校正區(qū)域21的地址，通過(guò)檢測(cè)在用光束107a掃描從屬區(qū)域期間反射光束107a是否被高頻調(diào)制就可簡(jiǎn)單地達(dá)到該目的，通過(guò)檢測(cè)讀出信號(hào)V1中的高頻信號(hào)分量的存在就能檢測(cè)這種高頻調(diào)制，為此目的，記錄設(shè)備可以包括一位于讀/寫(xiě)頭105和微型計(jì)算機(jī)之間的高頻檢測(cè)器120，當(dāng)使用讀出電路從讀出信號(hào)中恢復(fù)已記錄的信息時(shí)，根據(jù)讀出電路的輸出信號(hào)的存在能夠檢測(cè)測(cè)試模式的存在。
在步驟S3中，在微型計(jì)算機(jī)110的控制下確定具有所述地址的校正區(qū)域21的位置，一旦找出這一區(qū)域就在步驟S4中將寫(xiě)入強(qiáng)度Is設(shè)備定為初始值Io，最好以在上述專(zhuān)利申請(qǐng)NL-A-8901145(PHN12.925)1中描述的方式將有關(guān)記錄載體的Io值預(yù)先記錄在記錄載體上，因此就能在校正操作過(guò)程之前讀出該值，此外，在微型計(jì)算機(jī)110的控制下，信號(hào)發(fā)生器114通過(guò)可控開(kāi)關(guān)115連到CIRC編碼電路112，因此由信號(hào)發(fā)生器的輸出信號(hào)確定的EFM調(diào)制測(cè)試信號(hào)由EFM調(diào)制器113來(lái)產(chǎn)生，最后，在步驟S5中控制信號(hào)S/L用這樣一種方式驅(qū)動(dòng)驅(qū)動(dòng)電路107使得光束107a的強(qiáng)度在寫(xiě)入強(qiáng)度Is的設(shè)定值和取決于在EFM調(diào)制器113的輸出端的EFM調(diào)制信號(hào)Vefm的強(qiáng)度I1之間變換，由此導(dǎo)致相應(yīng)于被記錄的EFM信號(hào)的剩余模式，在步驟S6中通過(guò)計(jì)算機(jī)110讀出被檢測(cè)電路109檢測(cè)的絕對(duì)時(shí)間碼，在步驟ST中查明該絕對(duì)時(shí)間碼相對(duì)以前讀出的絕對(duì)時(shí)間碼是否已有改變，若否，重復(fù)步驟S6，若已改變，就在步驟S8中檢驗(yàn)被讀出的絕對(duì)時(shí)間碼是否表示校正區(qū)域的結(jié)束，若否，則執(zhí)行步驟S9，在該步驟中寫(xiě)入強(qiáng)度Is增加一個(gè)小增量△I，在該步驟之后程序轉(zhuǎn)向步驟S6。如果在步驟S8中發(fā)現(xiàn)已到達(dá)校正區(qū)域21的結(jié)束處，就執(zhí)行步驟S10，在該步驟中控制信號(hào)S/L用這樣一種方式驅(qū)動(dòng)驅(qū)動(dòng)電路107使得光束107a的強(qiáng)度保持恒定在電平I1，在步驟S11中再次確定并讀出所述校正區(qū)域21開(kāi)始的位置，在步驟S12微型計(jì)算機(jī)110讀出分析信號(hào)Va，在步驟S13檢驗(yàn)分析信號(hào)Va的值是否相應(yīng)于測(cè)試模式的最佳質(zhì)量，若否，程序轉(zhuǎn)向步驟S12，在其它情形中，在步驟S14中讀出由檢測(cè)電路109檢測(cè)的絕對(duì)時(shí)間碼，然后在步驟S15中計(jì)算相應(yīng)于在步驟S114中讀出的絕對(duì)時(shí)間碼的最佳寫(xiě)入強(qiáng)度。例如，通過(guò)確定剛讀出的絕對(duì)時(shí)間碼和相應(yīng)于校正區(qū)域的開(kāi)始的時(shí)間碼的偏差就可以達(dá)到上述計(jì)算目的，根據(jù)這一偏差就有可能確定在記錄測(cè)試信息模式期間在到達(dá)剛讀出的絕對(duì)時(shí)間碼之前初始值Io增加了多少個(gè)增量△I。增量的數(shù)目和初始值Io確定最佳寫(xiě)入能量Iopt。然后在步驟S16中將寫(xiě)入強(qiáng)度Is設(shè)定為最佳值Iopt。
在步驟S17中確定與被使用的校正區(qū)域相關(guān)的從屬區(qū)域22的位置，一旦找到上述區(qū)域就在步驟S18中在這一從屬區(qū)域22中形成信息模式。
在上述校正過(guò)程中形成測(cè)試模式期間，開(kāi)始時(shí)用低寫(xiě)入強(qiáng)度來(lái)進(jìn)行，然后寫(xiě)入強(qiáng)度逐步增大，這就意味著有可能保證總能夠讀出校正區(qū)域開(kāi)始處的地址信息，因?yàn)樵摰刂沸畔⒉粫?huì)被低寫(xiě)入強(qiáng)度形成的測(cè)試模式所覆蓋。
下面舉例說(shuō)明確定最佳寫(xiě)入強(qiáng)度的合適方法，通過(guò)用輻射光束掃描記錄載體給該光可讀記錄載體提供包含具有可變反射性能的作用的信息模式，該輻射光束的強(qiáng)度I在低強(qiáng)度I1和高寫(xiě)入強(qiáng)度I5之間變化，對(duì)于低強(qiáng)度I1在反射時(shí)記錄載體的被掃描部分不發(fā)生變化，而高寫(xiě)入強(qiáng)度Is在反射時(shí)記錄載體的被掃描部分發(fā)生變化。強(qiáng)度變化I及其具有可變反射性能的作用58的相應(yīng)的型式以及具有不變的性能的中間區(qū)域59的實(shí)例如圖7所示，通過(guò)用恒定強(qiáng)度的讀出光束掃描信息可讀出作用58的信息型式以及中間區(qū)域59，該讀出光束強(qiáng)度足夠低以便消除光學(xué)性能方面的可檢測(cè)到的變化，在掃描過(guò)程期間，根據(jù)被掃描的信息模式對(duì)從記錄載體反射的讀出光束進(jìn)行調(diào)制，通過(guò)光照敏感檢測(cè)器以通常的方法就能檢測(cè)讀出光束的調(diào)制，該檢測(cè)器產(chǎn)生表示光束調(diào)制的讀出信號(hào)V1，讀出信號(hào)V1也示于圖7，通過(guò)讀出信號(hào)與參考電平Vref的比較將讀出信號(hào)V1再轉(zhuǎn)換成二值信號(hào)，為了可靠轉(zhuǎn)換，需要仔細(xì)地確定讀出信號(hào)V1與參考電平的交叉點(diǎn)，換句話說(shuō)，讀出信號(hào)的起伏應(yīng)該很小，眾所周知，如果信息模式是對(duì)稱(chēng)的，即如果作用58的平均長(zhǎng)度等于中間區(qū)域59的平均長(zhǎng)度，光記錄中的讀出信號(hào)V1的起伏就很小，由此產(chǎn)生的問(wèn)題是作用58的長(zhǎng)度強(qiáng)烈地依賴(lài)于寫(xiě)入強(qiáng)度Is。如果寫(xiě)入強(qiáng)度很大作用于58就會(huì)很長(zhǎng)，如果寫(xiě)入強(qiáng)度很小作用58就會(huì)很短。因此，需要精確地調(diào)整寫(xiě)入強(qiáng)度。
在一種允許的確定最佳寫(xiě)入強(qiáng)度的方法中可用占空比為50%的脈沖信號(hào)以不同的寫(xiě)入強(qiáng)度記錄測(cè)試模式，然后讀出所記錄的測(cè)試模式，通過(guò)確定取何值時(shí)讀出信號(hào)V1的二次諧波長(zhǎng)為最小就能確定最佳設(shè)置。
參看圖8詳細(xì)描述確定最佳寫(xiě)入強(qiáng)度的另一種方法。圖8a，圖8b和圖8c分別表示在寫(xiě)入強(qiáng)度Is分別為太小，最佳和太大情況下的強(qiáng)度變化I，作用58相應(yīng)的信息型式和中間區(qū)域59。
圖8中讀出信號(hào)V1在最大電平A1和最小電平A2之間變化，電平DC表示讀出信號(hào)V1中的直流電平值，由圖6顯而易見(jiàn)，如果寫(xiě)入強(qiáng)度具有最佳值讀出信號(hào)的直流電平就基本位于電平A1和A2中間。如果寫(xiě)入強(qiáng)度太小直流電平DC將位于電平A1和A2間的中點(diǎn)之上，而當(dāng)寫(xiě)入強(qiáng)度太大時(shí)直流電平DC將位于電平A1和A2間的中點(diǎn)之下。因此，通過(guò)調(diào)整寫(xiě)入強(qiáng)度Is到一個(gè)值，對(duì)于該值直流電平DC基本位于電平A1和A2間的中點(diǎn)，就能夠得到最佳寫(xiě)入強(qiáng)度的設(shè)定值。
參看圖9a描述對(duì)上述確定最佳強(qiáng)度的方法的改進(jìn)。根據(jù)這一方法，為了確定最佳強(qiáng)度，記錄一信息模式，該模式包含多個(gè)子模式70，每個(gè)子模式70以包含由占空比為50%的寫(xiě)入信號(hào)記錄的一短作用58和一短的中間區(qū)域59，該信息模式還包括另一個(gè)子模式71，該子模式又包含也由占空比為50%的寫(xiě)入信號(hào)記錄的較長(zhǎng)的作用58和較長(zhǎng)的中間區(qū)域59，選擇子模式70的數(shù)目遠(yuǎn)大于子模式71的數(shù)目。圖9a還表示進(jìn)行讀出時(shí)由光讀出設(shè)備獲得的讀出信號(hào)V1。
選擇子模式70的大小使得讀出信號(hào)V1中相應(yīng)于這些子模式的信號(hào)分量的幅值遠(yuǎn)小于相應(yīng)于子模式71的信號(hào)分量的幅值。通過(guò)選擇子模式70的大小使得僅有該模式的一次諧波位于光掃描設(shè)備的光截止頻率之下就能達(dá)到上述目的。這樣選擇子模式71的大小使得至少該模式的一次和二次諧波都位于上述光截止頻率之下。讀出信號(hào)V1中的直流電平DC主要由相應(yīng)于子模式70的信號(hào)分量來(lái)決定。讀出信號(hào)V1的最大值A(chǔ)1和最小值A(chǔ)2這間的差值僅由相應(yīng)于子模式71的值來(lái)決定。由于寫(xiě)入功率Is的變化對(duì)子模式70的作用58和中間區(qū)間59的長(zhǎng)度之間的比值的影響遠(yuǎn)大于對(duì)子模式71的相應(yīng)長(zhǎng)度之間的比值的影響，所以在圖9a所示的方法中的直流電平DC對(duì)寫(xiě)入電平的變化更敏感，圖8中的讀出信號(hào)V1的幅值對(duì)信息模式中的所有子模式都是一樣的。所有這一切都表示根據(jù)圖9a所示的方式能夠更精確地確定最佳寫(xiě)入功率。
除了圖9a所示的已被以最佳寫(xiě)入強(qiáng)度記錄的信息模式外，類(lèi)似的已被以太低的和太高的寫(xiě)入電平記錄的信息模式分別表示于圖9b和圖9c，由圖9顯而易見(jiàn)，最佳寫(xiě)入強(qiáng)度情形中的直流電平DC又基本位于信號(hào)V1中的最大信號(hào)值(A1)和最小信號(hào)值(A2)的中間，而在寫(xiě)入電平太低或太高的情況中，直流電平DC分別位于中點(diǎn)之上或之下，圖9所示的信息模式僅是可能的信息模式中的一個(gè)，這種信息模式由相對(duì)較大數(shù)目的包含短的作用和中間區(qū)域的子模式和相對(duì)較小數(shù)目的包含長(zhǎng)的作用和中間區(qū)域的子模式所組成。相應(yīng)于滿(mǎn)足CD標(biāo)準(zhǔn)的EFM信號(hào)的模式也是一種非常合適的子模式，這種模式包含相應(yīng)于至少3比特(I3作用)和至多11比特(I11作用)的長(zhǎng)度的區(qū)域，這種EFM模式中所有作用的三分之一是I3作用，而所有作用的僅4%是I11作用。I3作用的大小使得僅這些作用的基波位于光讀出系統(tǒng)的光截止頻率之下，I11作用的大小使得至少其一次，2次和3次諧波位于光截止頻率之下。
圖10表示分析電路65的實(shí)例，通過(guò)該電路可以讀出信號(hào)V1中獲得分析信號(hào)Va以便表明直流電平DC偏離相應(yīng)于最佳寫(xiě)入強(qiáng)度的電平的程度。圖8的分析電路包括一用于確定讀出信號(hào)V1中的直流電平D牟低通濾波器80，該分析電路10還包括一用于確定讀出信號(hào)V1中的最大值A(chǔ)1的正峰值檢測(cè)器81和一用于確定讀出信號(hào)V1中的最小值A(chǔ)2的負(fù)峰值檢測(cè)器82。峰值檢測(cè)器81和82的輸出信號(hào)被輸入到加法器電路83的非反相輸入端，而經(jīng)兩倍放大后的低通濾波器80的輸出信號(hào)被輸入到加法器電路83的反相輸入端，因此，加法器電路的構(gòu)成分析信號(hào)Va的輸出信號(hào)就等于Va＝A1+A2-2DC，由此表示了信號(hào)值DC偏離最大信號(hào)值A(chǔ)1和最小信號(hào)值A(chǔ)2的平均值的程度。
關(guān)于其它合適的分析電路的實(shí)例請(qǐng)參看LN-A-8901591(PHN12.994)。如果用讀出信號(hào)中的二次諧波失真作為所使用的模式的質(zhì)量的量度，分析電路可包括一通用的2次諧波檢測(cè)器。
需要指出本發(fā)明不限于光記錄設(shè)備而是也可應(yīng)用于其它記錄設(shè)備，例如磁記錄設(shè)備或利用于可重寫(xiě)類(lèi)型的記錄載體，但本發(fā)明特別適用于一次寫(xiě)類(lèi)型的記錄載體。
權(quán)利要求
1.給記錄載體提供信息模式的方法，在該方法中對(duì)影響形成的信息模式的質(zhì)量的至少一個(gè)與記錄載體有關(guān)的參量進(jìn)行調(diào)整，其特征在于從許多預(yù)定的可允許的校正區(qū)域中選擇一個(gè)校正區(qū)域，對(duì)不同的參量設(shè)置在所選擇的校正區(qū)域中形成測(cè)試模式，在形成的測(cè)試模式的基礎(chǔ)上根據(jù)預(yù)定的標(biāo)準(zhǔn)確定參量的最佳設(shè)置，在信息模式形成期間將參量調(diào)整為上述最佳設(shè)置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1的方法，其特征在于對(duì)每個(gè)校正區(qū)域指定一個(gè)從屬區(qū)域，形成從屬模式，每當(dāng)確定最佳設(shè)置時(shí)就在為用于確定最佳設(shè)置的校正區(qū)域而指定的從屬區(qū)域中根據(jù)記錄在從屬區(qū)域中的從屬模式選擇校正區(qū)域。
3.根據(jù)權(quán)利要求2的方法，其特征在于從屬區(qū)域的尺寸小于校正區(qū)域的尺寸。
4.根據(jù)權(quán)利要求1、2或3的方法，其特征在于已給所用的記錄載體提供了地址，通過(guò)預(yù)定的地址確定測(cè)試區(qū)域和從屬區(qū)域。
5.根據(jù)權(quán)利要求1、2、3或4的方法，其特征在于選擇校正區(qū)域時(shí)總是選擇立即跟隨一個(gè)還沒(méi)有被提供測(cè)試模式的區(qū)域的校正區(qū)域。
6.根據(jù)權(quán)利要求1、2、3、4或5的方法，其特征在于所用的記錄載體能夠利用信息模式記錄有限數(shù)目的信息信號(hào)，校正區(qū)域的數(shù)目至少等于信息信號(hào)的上述數(shù)目。
7.包括用于給記錄載體提供信息模式的寫(xiě)入裝置和用于調(diào)整該寫(xiě)入裝置的裝置的信息記錄設(shè)備，其特征在于該設(shè)備包括從在記錄載體上的許多預(yù)定的校正區(qū)域中選擇一個(gè)校正區(qū)域的選擇裝置，對(duì)寫(xiě)入裝置的不同設(shè)置使在所選擇的校正區(qū)域中形成測(cè)試模式的裝置，根據(jù)所形成的測(cè)試模式選擇最佳設(shè)置的裝置，以及在形成的測(cè)試模式選擇最佳設(shè)置的裝置，以及在形成信息模式期間將寫(xiě)入裝置調(diào)整為所選擇的最佳設(shè)置的裝置。
8.根據(jù)權(quán)利要求7的信息記錄設(shè)備，其特征在于使在為所選擇的校正區(qū)域而指定的從屬區(qū)域中記錄從屬模式的裝置，上述選擇裝置根據(jù)在從屬區(qū)域中形成的從屬模式選擇上述校正區(qū)域。
9.根據(jù)權(quán)利要求7或8的信息記錄設(shè)備，其特征在于選擇校正區(qū)域的裝置選擇在還沒(méi)有被提供測(cè)試模式的區(qū)域之前的校正區(qū)域。
全文摘要
在此處披露的方法和設(shè)備中對(duì)影響被記錄的信息模式(58，59)的質(zhì)量的至少一個(gè)與記錄載體有關(guān)的參量(Is)進(jìn)行調(diào)整，在確定參量(Is)的最佳設(shè)置時(shí)從多個(gè)預(yù)定的校正區(qū)域(21a，……，21d)中選擇一個(gè)校正區(qū)域(21)。對(duì)參量的不同設(shè)置給所選擇的校正區(qū)域(21)提供測(cè)試模式，在如此形成的測(cè)試模式的基礎(chǔ)上根據(jù)預(yù)定的標(biāo)準(zhǔn)確定參量的最佳設(shè)置，在記錄信息模式(58，59)期間將參量調(diào)整為上述最佳值。
文檔編號(hào)G11B7/00GK1048945SQ9010653
公開(kāi)日1991年1月30日 申請(qǐng)日期1990年6月20日 優(yōu)先權(quán)日1989年6月23日
發(fā)明者約翰內(nèi)斯·利奧波達(dá)斯·巴克斯 申請(qǐng)人:菲利浦光燈制造公司