專利名稱：數(shù)據(jù)存貯和重現(xiàn)系統(tǒng)和方法
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本發(fā)明是申請?zhí)枮?7/934,401，申請日為92年8月24日申請的部分繼續(xù)申請，而該申請又依次是申請?zhí)?7/698,673，申請日為91年5月10日[已放棄]和申請?zhí)?7/758,059，申請日為91年9月12日[已放棄]申請的部分繼續(xù)申請。
本申請還是申請?zhí)?8/238831、申請日1994年5月6日的具有相同名稱的部分繼續(xù)申請，現(xiàn)將該申請作為參考?xì)w入本申請，等效于在本申請中已充分陳述。
本發(fā)明涉及到數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)存儲和重現(xiàn)，更準(zhǔn)確地說，是光數(shù)據(jù)存儲和重現(xiàn)系統(tǒng)和方法。
本發(fā)明涉及在各種磁和/或電介質(zhì)上存貯數(shù)據(jù)的存儲和重現(xiàn)，更準(zhǔn)確地說，涉及用于在磁光盤系統(tǒng)中存貯和重現(xiàn)數(shù)據(jù)的裝置和方法。
各種類型的可記錄的和/或可擦除的介質(zhì)作為數(shù)據(jù)存儲用途已經(jīng)使用許多年了。這種介質(zhì)可包括，例如，在具有各種構(gòu)成的系統(tǒng)中的磁帶或盤。
磁光(“MO”)系統(tǒng)用于在磁盤上記錄數(shù)據(jù)和從磁盤中重放數(shù)據(jù)。在磁光系統(tǒng)中記錄的方法一般包括激光脈沖加熱定位區(qū)域的同時，用磁場定向盤上廣義區(qū)域的極性，由此，固定定位區(qū)域的極性。具有固定極性的定位區(qū)域通常稱為坑。有些編碼系統(tǒng)使用盤上的坑的存在或不存在分別確定記錄數(shù)據(jù)為“1”或“0”。
當(dāng)記錄數(shù)據(jù)時，二進制輸入數(shù)據(jù)序列可由數(shù)字調(diào)制變換為具有更理想特性的不同二進制序列。例如，調(diào)制器可以把m數(shù)據(jù)比特(信息單位)變換為具有n調(diào)制碼比特(bit)(或“binits”)的碼字。在大多數(shù)情況下，數(shù)據(jù)比特比代碼比特多，即m＜n。
大多數(shù)的或全部的盤驅(qū)動系統(tǒng)使用運行長度限制(run-length-limited)(“RLL”)調(diào)制碼，例如RLL 2/7/1/2或RLL 1/7/2/3碼。另一族的調(diào)制碼是群編碼記錄(“GCR”)碼，例如，GCR 0/11/8/9/或GCR 0/3/8/9碼(有時縮寫為GCR 8/9)。加到特定碼名字后的數(shù)字一般表示某種編碼約束，如在比特和磁通反轉(zhuǎn)之間或在沒有磁通轉(zhuǎn)換時鄰接比特(binits)可能的最小數(shù)和最大數(shù)之間的關(guān)系，例如，通常用于坑型的編碼系統(tǒng)是RLL 2/7/1/2碼，該碼約束記錄信息在2個“1”之間具有最少2個“0”最多7個“0”。通常RLL記錄提供相當(dāng)大的數(shù)據(jù)一坑比，可是，因為幅度和定時容限隨著頻率增加而很快變壞，以致在許多情況下不可能允許高數(shù)據(jù)存貯密度。
在另一方面，GCR 0/3/8/9不僅對每8個數(shù)據(jù)比特需要9個磁通反向，而且在它們之間還要求在“1”之間最少可以沒有“0”，最多三個“0”。
給定記錄系統(tǒng)的密度比通常按照公式(m/n)×(d＋1)來表示，式中m和n具有上述提供的定義，d定義為在2個“1”之間的“0”的最少數(shù)目。于是，根據(jù)上述公式，RLL 2/7/1/2碼具有1.5的密度比，而GCR 0/3/8/9碼具有0.89的密度比。
為了讀MO系統(tǒng)中的數(shù)據(jù)，聚焦激光或其它光學(xué)設(shè)備一般對準(zhǔn)旋轉(zhuǎn)光盤的記錄表面，以使激光束能選擇地使用記錄表面上的多個磁跡之一。從記錄表面反射的激光束的旋轉(zhuǎn)可由克爾旋轉(zhuǎn)裝置檢測。例如，在克爾旋轉(zhuǎn)裝置中的第一類型變化，表示第一二進制值；在克爾旋轉(zhuǎn)裝置中的第二類型變化表示第二二進制值。從在特定時鐘間隔上產(chǎn)生的第一和第二二進制值產(chǎn)生輸出信號。
雖然對能存貯越來越高數(shù)據(jù)密度的盤系統(tǒng)的需求連續(xù)不斷，實現(xiàn)高數(shù)據(jù)存儲密度的能力還受到幾種限制。一般來說，合理的數(shù)據(jù)密度上限是由可靠性要求、激光二極管的光波長、光學(xué)組件的質(zhì)量、硬件成本和操作速度確定的。最大數(shù)據(jù)密度也受抑制各種形式的噪聲、干擾和失真的能力影響。例如，數(shù)據(jù)壓縮得越密，符號間干擾就越多，這將會妨礙精確地恢復(fù)數(shù)據(jù)。然而，因為許多中等性能和高性能光盤驅(qū)動技術(shù)已經(jīng)受到對老型號的向下兼容性約束的限制，信號處理技術(shù)的發(fā)展沒有象他們理應(yīng)發(fā)展的那么快。
當(dāng)企圖恢復(fù)存貯數(shù)據(jù)時，由于讀信號中的DC分量非預(yù)期升高，磁光和其它類型盤驅(qū)動器的讀信道通常受到許多問題的損害。直流升高的一個原因起因于在許多字節(jié)或數(shù)據(jù)段上記錄非對稱的數(shù)據(jù)碼型。對稱數(shù)據(jù)碼型可認(rèn)為是在所考慮的區(qū)域上具有的平均直流分量為0。然而，由于記錄比特的序列在許多調(diào)制碼中基本上可以是隨機的，具有1和0特定碼型記錄數(shù)據(jù)的定位區(qū)域?qū)a(chǎn)生具有多余DC分量的非對稱讀信號。因為數(shù)據(jù)碼型隨時間而改變，DC升高的電平也將改變，使DC基線漂移，致使門限檢測容限減小，且對噪聲及其它干擾有較高靈敏度。
由于在寫入激光或存儲介質(zhì)上的熱效應(yīng)導(dǎo)致的坑尺寸的偏差也會產(chǎn)生不希望的DC升高。例如，當(dāng)寫入激光加熱時，光點大小可能增加，導(dǎo)致較寬的坑。當(dāng)記錄的坑被讀出時，坑大小的改變將會產(chǎn)生具有DC分量的非對稱輸入信號?？哟笮〉淖兓粌H會產(chǎn)生不希望的DC升高，而且也會使數(shù)據(jù)的相對位置出現(xiàn)時間偏移，從而減小定時容限，產(chǎn)生可能的讀數(shù)誤差。
為克服所述的問題，已進行了各種嘗試。例如，各種磁帶驅(qū)動系統(tǒng)通常使用無直流碼，諸如0/3/8/10碼，或者稱為8/10碼。因為8/10碼需要10個存貯比特以得出8數(shù)字比特，這樣只有80％的效率，這就是當(dāng)企圖記錄高數(shù)據(jù)密度時存在的缺點。
控制DC升高的另一種方法包括使用二次微分。該方法一般包括，通過檢測輸入信號的第二微分的零交點，檢測輸入信號的第一微分的峰值。于是，DC分量被有效地濾掉。這個方法的一個缺點在于微分或二次微分能產(chǎn)生不希望有的噪聲效應(yīng)。其第二個缺點在于該方法可使定時容限減小到不容許的低電平(例如，多達(dá)50％)。
在編址DC升高的另一種方法中，要存貯的數(shù)據(jù)在記錄之前是不規(guī)則分布的，以致于數(shù)據(jù)碼型之中沒有一個在數(shù)據(jù)區(qū)上重復(fù)。然而，該方法與ISO標(biāo)準(zhǔn)不相容并缺乏對先前盤驅(qū)動系統(tǒng)的向下兼容性。該方法還有一個缺點，其去隨機化數(shù)據(jù)會變得復(fù)雜。
還有，控制DC升高的另一種方法涉及使用在數(shù)據(jù)段之間的所謂再同步字節(jié)。該方法一般包括為了減小在回讀時的直流升高，在記錄之前對數(shù)據(jù)進行檢驗和操作。在記錄之前，二個連續(xù)數(shù)據(jù)段被檢驗以確定“1”和“0”的碼型是否在回讀時產(chǎn)生諸如正DC、負(fù)DC或無DC分量。例如，如果二個連續(xù)數(shù)據(jù)段具有相同的DC極性，則在將其記錄在介質(zhì)上之前，反轉(zhuǎn)數(shù)據(jù)段之一。然而，為了不超出特定編碼系統(tǒng)的約束范圍，必須在段之間寫入再同步字節(jié)，這樣才能使鄰接比特和磁通反轉(zhuǎn)的碼型是正確的。這種方法的缺點在于它將不必要地減小所有DC升高，并且必須確定時間常數(shù)，以便使可預(yù)測的DC升高不影響性能。而且，該方法需要附加的輔助操作，包括對數(shù)據(jù)段的檢驗，以確定其相對極性。
為此，應(yīng)該提出一種用于從介質(zhì)中讀出和存貯數(shù)據(jù)的裝置和方法，該裝置和方法不受DC升高的不希望出現(xiàn)效應(yīng)的影響，不會產(chǎn)生不可接受水平的噪聲，也不會大大減少定時容限，不要求大量輔助操作或去隨機化算法，同時還提供高數(shù)據(jù)存貯效率。
根據(jù)本發(fā)明的特征，提供用于在光盤上存儲和重現(xiàn)數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)的方法。為在盤上寫入，產(chǎn)生在給定的時鐘間隔上具有第一和第二二進制值的二進制信號。在具有二進制值之一的每個時鐘間隔期間，產(chǎn)生具有持續(xù)時間少于該時鐘間隔的激勵脈沖。根據(jù)二進制信號的值激勵脈沖接通和關(guān)斷激光束。激光束聚焦在旋轉(zhuǎn)盤的記錄表面上，這樣使得激光束能在記錄表面上選取多個同心的或螺旋形的軌跡中的一個。
為了在盤上讀出數(shù)據(jù)，聚焦的激光束對準(zhǔn)旋轉(zhuǎn)光盤的記錄表面，這樣使得激光束能在已記錄的表面上選取多個軌跡的一個。記錄表面反射出的激光束的旋轉(zhuǎn)性用克爾(Kerr)旋轉(zhuǎn)裝置來檢測。在克爾旋轉(zhuǎn)裝置中的第一種類型的變化表示第一種二進制值。在克爾旋轉(zhuǎn)裝置中的第二種類型的變化表示第二種二進制值。因此產(chǎn)生了表示出現(xiàn)在二進制值和在時鐘間隔的邊界上產(chǎn)生的旋轉(zhuǎn)變化所界定的時鐘間隔上的二進制值的二進制信號。
提供一種用于在光盤上記錄數(shù)據(jù)的裝置。信號源在給定的時鐘間隔上產(chǎn)生數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)。一電路把數(shù)據(jù)變換成在給定時鐘間隔具有第一和第二二進制值并代表該數(shù)據(jù)的二進制信號。脈沖發(fā)生器產(chǎn)生具有持續(xù)時間少于用于已變換的具有第一二進制值數(shù)據(jù)的時鐘間隔的激勵脈沖。激光控制器把激勵脈沖加到激光器，以響應(yīng)于激勵脈沖來接通和斷開聚焦的激光。電路把激光對準(zhǔn)在旋轉(zhuǎn)光數(shù)據(jù)存儲盤的記錄表面上，這樣使得激光束能在記錄表面上選取多個軌跡中的一個。
提供一種用于在光盤上讀出數(shù)據(jù)的裝置。一個電路旋轉(zhuǎn)具有記錄表面的光數(shù)據(jù)存儲盤。控制器將聚焦的激光束對準(zhǔn)記錄表面，以使激光能夠在記錄表面上選取多個軌跡中的一個。一個電路檢測記錄表面反射出的激光束的旋轉(zhuǎn)。一個解碼器分別將第一和第二類型的旋轉(zhuǎn)變化變換成第一和第二二進制值，一個電路產(chǎn)生表示發(fā)生在由二進制值和在時鐘間隔的邊界上產(chǎn)生的旋轉(zhuǎn)變化所界定的時鐘間隔上的二進制值的二進制信號。
光數(shù)據(jù)存儲和重現(xiàn)系統(tǒng)具備有利用單元邊界躍變碼的數(shù)據(jù)記錄和讀出、專門信號處理、以及寫入脈沖控制。特別是，數(shù)據(jù)編碼器以僅在單元邊界上發(fā)生躍變的編碼對數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)進行編碼。單元定義為表示一個數(shù)據(jù)比特的編碼比特。例如，在RLL2，7中，比特就可記錄在單元邊界或單元的中心上。檢測窗口是單元的+/-25％。在本發(fā)明中優(yōu)選地使用群碼記錄(GCR)8/9碼的一脈沖編碼。因為8數(shù)據(jù)比特被編碼成9比特，因此，一單元就有效地定義為一個數(shù)據(jù)比特。對本發(fā)明，單元將產(chǎn)生在每個時鐘間隔上。檢測窗口變?yōu)閱卧?/-50％。此外，GCR8/9碼允許有限數(shù)目的“0”連續(xù)，例如，可有3個，甚至可以跨在字邊界上，這種碼也包括自計時。
對于某些數(shù)據(jù)碼型，定時容限能夠增加。其中包括有一個查尋與這些預(yù)定數(shù)據(jù)碼型相匹配的數(shù)據(jù)序列的監(jiān)視器。當(dāng)發(fā)生這些數(shù)據(jù)碼型之一時，激光提前地產(chǎn)生脈沖，優(yōu)選地為4到6毫微秒。在正常的寫入情況下，激光均勻地產(chǎn)生脈沖。對于一些數(shù)據(jù)碼型隨著有效寫入功率的增加產(chǎn)生了較好的定義邊界。第二監(jiān)視器查尋這些數(shù)據(jù)序列，當(dāng)出現(xiàn)某一個時，激光器將不像在其它數(shù)據(jù)碼形下一樣切斷脈沖。因此，增加了有效寫入功率。
為降低單個脈沖上升和下降的不對稱性，信號處理將對讀出數(shù)據(jù)波形進行再整形。例如，脈沖將變窄和放大。優(yōu)選實施例微分放大的讀出波形。放大的信號與其導(dǎo)數(shù)相加使脈沖變窄并對稱。
對較低頻率信號，使脈沖變窄將產(chǎn)生過沖。由于這種過沖是可預(yù)見的，所以讀出電路的門限值短時間地增加以防止讀出虛假數(shù)據(jù)。監(jiān)視器將監(jiān)視重新整形的波形，一旦發(fā)生過沖時，監(jiān)視器將增加讀出波形檢測器的閾值。
根據(jù)本發(fā)明的另一個特征，光數(shù)據(jù)存儲和重現(xiàn)系統(tǒng)具備有從高密度記錄格式到低密度ANST格式的向下兼容性。特別是，第一寫編碼器以第一格式編碼數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)，可優(yōu)選為高密度格式。第二寫編碼器以第二格式(如，ANST)編碼數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)。第一讀出解碼器從第一格式解碼數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)。第二讀出解碼器從第二格式解碼數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)。盤驅(qū)動器可裝入90毫米可更換的光盤。讀/寫頭從驅(qū)動器中的90毫米光盤上讀出已編碼的數(shù)據(jù)并將已編碼的數(shù)據(jù)寫到該光盤中。在第一模式中，第一編碼器連接在數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)的信號源和讀/寫頭之間，第一解碼器連接在讀/寫頭和使用設(shè)備之間。在第二模式中，第二編碼器連接在信號源和讀/寫頭之間，第二解碼器連接在讀/寫頭和使用設(shè)備之間。在第一和第二模式之間的控制電子開關(guān)的操作，取決于盤驅(qū)動器中的盤上記錄數(shù)據(jù)的格式。結(jié)果，本系統(tǒng)在完成向下兼容到低密度ANST格式的同時，又能利用高密度的記錄格式。因此，數(shù)據(jù)就能夠在使用同一讀/寫頭和盤驅(qū)動器的單個系統(tǒng)中，以不同的格式存儲和重現(xiàn)。
根據(jù)本發(fā)明還有的另一個特征，第一和第二格式被組織到具有相同字節(jié)數(shù)的扇形區(qū)中，由于有較高密度，第一格式中的扇形區(qū)多于第二格式中的扇形區(qū)。結(jié)果，相同的電接口設(shè)備能用于存儲和重現(xiàn)兩種格式的數(shù)據(jù)。
本發(fā)明提供一種用于從各種類型的磁介質(zhì)中重現(xiàn)密集存貯數(shù)據(jù)的裝置和方法。本發(fā)明的一個實施例包括微分、均衡、部分積分和數(shù)據(jù)和生成等步驟。微分、均衡和部分積分的步驟一般可提供一個對應(yīng)于重放信號的預(yù)處理信號，并且該信號具有更好分辨率并減小了噪聲。數(shù)據(jù)生成可進一步包括以下二個步驟為解決DC分量問題檢測預(yù)處理信號的正和負(fù)峰值；對應(yīng)于被測的正和負(fù)峰值的中點產(chǎn)生一門限。該方法還包括反饋一個表示在輸出信號的占空因數(shù)中變化的信號的步驟，以便通過正和負(fù)峰值檢波電路能跟蹤DC分量。


圖1是表示光數(shù)據(jù)存儲和重現(xiàn)系統(tǒng)的方框圖；圖2表示在脈沖GCR格式情況下的均勻激光脈沖和在RLL2，7格式下的非均勻激光脈沖的系列波形圖；圖3是表示由寫補償電路調(diào)節(jié)的各種數(shù)據(jù)碼型的激光脈沖系列波形圖；圖4表示寫補償電路的示意圖；圖5表示激光脈沖的幅度不對稱校正系列波形圖；圖6表示幅度不對稱校正電路的示意圖7表示脈沖窄小化(Slimming)裝置單元的基本關(guān)系的方框圖；圖8表示由動態(tài)門限電路調(diào)節(jié)門限的系列波形圖；圖9是用于動態(tài)門限電路的示意圖；圖10是具有向下兼容的光數(shù)據(jù)存儲和重現(xiàn)系統(tǒng)的示意方框圖。
圖11是表示光數(shù)據(jù)存貯和重現(xiàn)系統(tǒng)的方框圖；圖12是與GCR格式有關(guān)的一系列取樣波形；圖13A和13B分別是對稱和非對稱輸入信號的波形圖；圖14是一讀出信道的方框圖；圖15是一讀出信道各級的更詳細(xì)方框圖；圖15B是部分積分級的詳細(xì)電路圖；圖16A-16E是一讀出信道各級的頻響圖；圖16F是在一讀出信道中組合級的群延遲圖；圖16G是表示在該讀出信道中各級的信號波形的波形圖；圖17是峰值檢測和跟蹤電路的方框圖；圖18是圖17的峰值檢測和跟蹤電路的示意圖；圖19是表示由輸入信號的DC分量門限信號跟蹤的波形圖；圖20A-20D是表示在讀出信道中各個點上典型波形的圖。
在圖1中，在寫模式期間，數(shù)據(jù)源10傳送數(shù)據(jù)到編碼器12。編碼器12把二進制數(shù)據(jù)變換成二進制碼比特。然后，該碼比特傳送到激光脈沖發(fā)生器14，以變換成為用于接通或斷開激光器16的激勵脈沖。在優(yōu)選實施例中，碼比特“1”表示在與碼比特型無關(guān)的一固定的持續(xù)時間內(nèi)，激光器將接通。然而，根據(jù)使用的激光和光介質(zhì)，的性能可用調(diào)節(jié)激光脈沖的發(fā)生或延長均勻脈沖持續(xù)時間來提高。激光器16的輸出加熱光介質(zhì)18的定位區(qū)域，該處介質(zhì)受到設(shè)定光介質(zhì)18上磁性材料極性的磁流場的作用。在光介質(zhì)的讀出期間，激光束照射到介質(zhì)的表面。反射的激光束的極性取決于光介質(zhì)磁性表面的極性。
在讀模式期間，反射的激光束將輸入到光讀出器20，讀出碼輸出將送到波形處理器22。處理的讀出碼將送到解碼器24，輸出數(shù)據(jù)將傳送到用于傳送的數(shù)據(jù)輸出端口26。
圖2描述在GCR8/9和RLL2，7碼格式之間激光脈沖差別。在GCR8/9中，單元28被定義為相應(yīng)于一數(shù)據(jù)比特的碼字。對GCR8/9，一個單元等于一數(shù)據(jù)比特。于是，單元30至41的每一個相應(yīng)于時鐘波形45的一個時鐘周期42。對于以2400轉(zhuǎn)/分(RPM)旋轉(zhuǎn)的具有256兆字節(jié)存儲容量的31/2″光盤，時鐘周期42將典型地是63毫微秒或15.879兆赫的時鐘頻率。GCR數(shù)據(jù)波形47是從編碼器12輸出的編碼數(shù)據(jù)。在圖2中描述了有代表性的數(shù)據(jù)序列。在GCR數(shù)據(jù)50至61表示編碼數(shù)據(jù)序列“010001110101”，其中GCR數(shù)據(jù)50是低電位，GCR數(shù)據(jù)51是高電位，GCR數(shù)據(jù)52是高電位，對GCR數(shù)據(jù)53至61也類似。脈沖GCR波形65是輸入到脈沖激光器16的激光脈沖裝置14的輸出。如圖所示的脈沖GCR波形65沒有在時間或持續(xù)時間上進行調(diào)節(jié)，以反映對于特定數(shù)據(jù)碼型性能的加強。脈沖GCR 67至78，當(dāng)相應(yīng)的GCR數(shù)據(jù)47是低電位時就沒有出現(xiàn)脈沖，當(dāng)GCR數(shù)據(jù)47是高電位時就出現(xiàn)脈沖。例如，脈沖GCR67沒有脈沖，因為GCR數(shù)據(jù)50是低電位。相反地，脈沖GCR68、69、70和71表示有激光脈沖，因為GCR數(shù)據(jù)51至54每個分別都是高電位，脈沖GCR72至78也類似。在所描述的均勻的情況下，脈沖GCR脈沖寬度79對脈沖GCR68、69、70、71、73、76和77是一致的。對該優(yōu)選實施例，其脈沖寬度是28毫微秒。相應(yīng)于脈沖GCR波形65的每一個激光脈沖在光介質(zhì)18上產(chǎn)生一個記錄坑。記錄坑82相應(yīng)于脈沖GCR68。記錄坑83相應(yīng)于脈沖GCR69。類似地，記錄坑84至88分別相應(yīng)于脈沖GCR70、71、73、76和77。
由于在光介質(zhì)18上的熱耗散和光點大小，記錄坑80在時間上要比脈沖GCR65寬。連續(xù)的記錄坑80匯合在一起，有效地形成較大的記錄坑。于是拉長的記錄坑具有相應(yīng)于第一記錄坑的前沿，以及相應(yīng)于最后記錄坑的后沿。例如，由記錄坑82至85產(chǎn)生的坑具有由記錄坑82形成的前沿和由坑85形成的后沿。在GCR8/9數(shù)據(jù)格式情況下，前沿相應(yīng)于GCR數(shù)據(jù)47變高，而后沿相應(yīng)于GCR格據(jù)47變低。因此，對于如GCR數(shù)據(jù)51至55表示的數(shù)據(jù)圖形“10001”，對于記錄坑82表示的第一個“1”(GCR數(shù)據(jù)47變高時)產(chǎn)生前沿，在GCR數(shù)據(jù)54的末端，如圖所示出現(xiàn)了由記錄坑85表示的后沿，這是因為GCR數(shù)據(jù)55是低的。
當(dāng)記錄坑80沒有坑時，重放信號90將是低的。在坑的前沿時，重放信號90將上升并一直保持高直到坑的后沿為止，然后該信號將變低并將保持低電位直到下一個坑為止。例如，重放信號91是低的，因為GCR數(shù)據(jù)50是低的，沒有產(chǎn)生坑。在記錄坑82的前沿時，重放信號90具有如在重放信號92中所示的前沿。然后，重放信號90將保持不變，直到記錄坑出現(xiàn)后沿為止。例如，由于記錄坑83和84沒有顯示后沿，所以重放信號93和94保持高電位。因為記錄坑85的原因，在重放信號95期間，信號保持高電位。然而，因為GCR數(shù)據(jù)55是低的，所以記錄坑85產(chǎn)生后沿。于是，重放信號96衰減。信號將衰減到“0”，直到記錄坑出現(xiàn)，產(chǎn)生前沿為止。于是，由于相應(yīng)于GCR數(shù)據(jù)56是高電位的記錄坑86的產(chǎn)生，重放信號97上升。當(dāng)GCR數(shù)據(jù)57是低時，由于記錄坑86后沒有緊跟的后續(xù)坑，重放信號98衰減。當(dāng)GCR數(shù)據(jù)58是低時，由于沒有記錄坑，重放信號99保持低電位。由于GCR數(shù)據(jù)59和60是高的，記錄坑87和88重疊產(chǎn)生一個大的坑。于是，重放信號100上升，重放信號101保持高電位。當(dāng)GCR數(shù)據(jù)61是低時，重放信號102在記錄坑88的后沿處下降。
對于RLL2，7，一個單元由兩個數(shù)據(jù)比特組成時，它相應(yīng)于2F時鐘波形120的兩個時鐘周期121。對256兆字節(jié)盤，一個RLL 2，7編碼格式將需要35.4毫微秒的2F時鐘脈沖寬度121或28.23兆赫的時鐘頻率。該值的計算是簡單的。為了保持相同盤密度，GCR8/9和RLL2，7編碼格式必須在同一記錄時間中包含相同的信息量。由于在RLL2，7格式中，每個數(shù)據(jù)比特要求兩個碼比特，因此，它需要兩倍于GCR數(shù)據(jù)格式的時鐘頻率。GCR數(shù)據(jù)格式記錄每8個數(shù)據(jù)比特需要9個碼比特。于是，GCR數(shù)據(jù)比特時鐘是時鐘周期42的9/8。于是，對63毫微秒的GCR時鐘周期42，為了保持相同盤密度，RLL2，7脈沖寬度121必須是35.4毫微秒。
RLL2，7數(shù)據(jù)波形122每個單元表示兩個碼比特。例如，RLL2，7數(shù)據(jù)124表示數(shù)據(jù)碼型“00”，而RLL2，7數(shù)據(jù)125表示數(shù)據(jù)碼型“10”。在該數(shù)據(jù)格式中，“1”表示在數(shù)據(jù)中的躍變。于是，當(dāng)在數(shù)據(jù)碼型中產(chǎn)生“1”時，RLL2，7數(shù)據(jù)125變高。類似地，當(dāng)在數(shù)據(jù)碼型中產(chǎn)生“1”時，RLL2，7數(shù)據(jù)126變低。在產(chǎn)生“0”的同時，RLL2，7數(shù)據(jù)122保持相同狀態(tài)。脈沖2，7波形137表示相應(yīng)于RLL 2，7數(shù)據(jù)122的激光器16的脈沖。于是，對RLL2，7數(shù)據(jù)125和126，在信號是高電位周期時，脈沖2，7波形140和141也是高的。因為坑的熱延長，脈沖2，7波形141在時間上先于RLL2，7數(shù)據(jù)126到達(dá)低電位。對“0”組成的較長數(shù)據(jù)碼型，脈沖必須保持。例如，在數(shù)據(jù)碼型“10001”期間，如RLL2，7數(shù)據(jù)128和129所示的，脈沖2，7波形143和144保持高電位時間要比脈沖2，7波形140和141長。對于連續(xù)“0”的數(shù)據(jù)碼型，脈沖2，7波形137能按分離脈沖形式產(chǎn)生。如，對數(shù)據(jù)碼型“1000001”，RLL2，7數(shù)據(jù)132、133和134能以兩個分離脈沖形式產(chǎn)生脈沖，如脈沖2.7中147、148和149所示。
如GCR8/9格式的情況，記錄坑160表示熱延長。例如，記錄坑162在時間上要比脈沖2，7中波形140和141的脈沖寬；類似的結(jié)果參見記錄坑163?，F(xiàn)有的激光器和光盤的實際限制限制了記錄坑163以2F時鐘120頻率的兩個連續(xù)脈沖進行記錄。于是，對于這些中等大小的坑，熱積累失真效果將大于記錄坑162或164和165組合記錄坑中的失真。并且通過重放信號168到174所描述的重放信號167，在記錄坑160的前沿到達(dá)高電位，在記錄坑160的后沿衰減，并在有坑的存在和沒有坑存在期間保持不變。
脈沖GCR碼能夠由校正可預(yù)測的位置移位來改進。圖3表示用于激光脈沖發(fā)生器14的寫補償?shù)臅r序圖。實驗測試表明，當(dāng)激光器16中斷兩比特或更長時，提前記錄提高了性能。時鐘波形176是用于時鐘數(shù)據(jù)177、203和229的碼比特時鐘，這些波型表示對提高數(shù)據(jù)碼型最壞的情況。其它碼型能夠被校正，但是在信號幅度上將受到損害。數(shù)據(jù)180至184對應(yīng)于數(shù)據(jù)序列“10100”。未補償脈沖波形188至192相應(yīng)于沒有寫補償?shù)脑摂?shù)據(jù)碼型。未補償脈沖波形189和191發(fā)生在時鐘周期的后半段。在寫補償之后，激光脈沖發(fā)生器14的輸出相應(yīng)于補償脈沖波形195，在波形195中補償脈沖波形197和198保持不變，并利用縮短補償脈沖波形的“低”電位時間來生成提前補償脈沖波形200。在補償脈沖201期間，激光16保持中斷要比未補償脈沖192持續(xù)的時間長。類似地，對相應(yīng)于數(shù)據(jù)碼型“1100”的數(shù)據(jù)206至209，對于后隨有兩個未補償脈沖波形214和216的未補償脈沖波形213，未補償脈沖波形序列211應(yīng)中斷。而且寫補償電路調(diào)節(jié)補償脈沖波形220，以使得補償脈沖波形225在時間上更造近補償脈沖波形223，從而使補償脈沖波形224要比未補償脈沖波形215短。最后，相應(yīng)于數(shù)據(jù)碼型“00100”的數(shù)據(jù)231至235具有發(fā)生在未補償脈沖波形序列237中的無補償脈沖波形240。寫補償使補償脈沖波形243在時間上向前移動，以補償脈沖波形246。
圖4為表示寫補償電路的示意圖，主要包括數(shù)據(jù)碼型監(jiān)視器248、寫補償碼型檢測器249和延遲電路269。數(shù)據(jù)碼型監(jiān)視器248是對從編碼裝置12輸出的編碼數(shù)據(jù)順序進行時序化的序列移位寄存器。在數(shù)據(jù)比特中最后5個被計時的數(shù)據(jù)被送到寫補償碼檢測器249，對它們進行分析，以確定是否使激光脈沖早于正常的脈沖。
數(shù)據(jù)碼型監(jiān)視器248由數(shù)據(jù)序列D觸發(fā)器250至256組成。編碼數(shù)據(jù)輸入到數(shù)據(jù)序列D觸發(fā)器250的D端，而其Q輸出WD1變?yōu)閿?shù)據(jù)序列D觸發(fā)器251的D端的輸入。該時序化過程繼續(xù)在數(shù)據(jù)序列D觸發(fā)器252至256中進行，而觸發(fā)器256的Q輸出WD7比它剛輸入到數(shù)據(jù)碼型監(jiān)視器248時延遲了7個時鐘周期。數(shù)據(jù)序列D觸發(fā)器250至254的Q輸出WD1、WD2、WD3、WD4和WD5分別表示輸入到數(shù)據(jù)碼型監(jiān)視器248的最后7個數(shù)據(jù)比特的最后5個。這5比特被送到寫補償碼型檢測器249，以與預(yù)定的數(shù)據(jù)碼型比較；如果它們匹配，使可寫入信號送到延遲電路269以指示激光脈沖發(fā)生比正常的早。
第一個數(shù)據(jù)碼型是各自通過數(shù)據(jù)反相器260、261、262和263分別將從數(shù)據(jù)序列D觸發(fā)器250、251、253和254輸出的Q數(shù)據(jù)WD1、WD2、WD4和WD5反相來檢測的。這些反相器的輸出與從數(shù)據(jù)序列D觸發(fā)器252的輸出在檢測與門264中作與運算。于是，當(dāng)發(fā)生序列“00100”時，檢測與門264的輸出變高，表示進行了數(shù)據(jù)碼型的檢測。類似地，第二數(shù)據(jù)碼型是各自通過數(shù)據(jù)反相器282、283和284分別將從數(shù)據(jù)序列D觸發(fā)器250、251和253的Q輸出WD1、WD2和WD4反相來檢測的。這些反相器的輸出與數(shù)據(jù)序列D觸發(fā)器252和254的輸出WD3和WD5在檢測與門286中作與運算。于是，“010100”的數(shù)據(jù)碼型將觸發(fā)檢測與門286為高電位，以表示已檢測。第三數(shù)據(jù)序列是通過數(shù)據(jù)反相器287和288分別將從數(shù)據(jù)序列D觸發(fā)器250和251的Q輸出WD1和WD2反相并將這些反相器的輸出與從數(shù)據(jù)序列D觸發(fā)器252和253的輸出WD3和WD4在數(shù)據(jù)檢測與門289中作與運算，從而實現(xiàn)檢測。于是，“1100”的數(shù)據(jù)碼型將通過檢測與門289觸發(fā)已檢測狀態(tài)，以表示數(shù)據(jù)的存在。檢測與門264、286和289的數(shù)據(jù)碼型檢測輸出在檢測碼型或門266中作或運算，當(dāng)檢測到三個數(shù)據(jù)碼型中的一個時，或門輸出就變高。檢測碼型輸出在可寫入D觸發(fā)器268中時序化，它的Q輸出為可寫信號，此信號被送到延遲電路269。
延遲電路269得到數(shù)據(jù)序列D觸發(fā)器253的時鐘數(shù)據(jù)輸出WD4并同時將它輸入到延遲電路276和非延遲選擇與門274。延遲電路276的延遲輸出輸入到延遲選擇與門272。從寫補償碼型檢測器249來的可寫信號將起動延遲選擇與門272或非延遲選擇與門274。當(dāng)可寫信號是低時，就表示沒有檢測到三個數(shù)據(jù)碼型中的任一個，它被可寫反相器270反相。這就允許從延遲電路276來的延遲數(shù)據(jù)被時序化。另一方面，如果可寫信號是高的，就表示有三個數(shù)據(jù)碼型之一出現(xiàn)，則非延遲選擇與門274允許傳輸未延遲的數(shù)據(jù)序列D觸發(fā)器253的數(shù)據(jù)。延遲選擇與門272和非延遲選擇與門274的輸出在數(shù)據(jù)或門278中作或運算，并將它從延遲電路269輸出。雖然先前關(guān)于寫補償電路或時序的討論表明，對于三個數(shù)據(jù)碼型，寫脈沖提前10毫微秒出現(xiàn)，但在實際上，除三個數(shù)據(jù)碼型以外，所有數(shù)據(jù)被延遲10毫微秒。對優(yōu)選實施例的頻率，延遲電路276的延遲設(shè)定在8～12毫微秒之間。
當(dāng)記錄較低頻率數(shù)據(jù)碼型時，磁光信號上升時間比下降時間短。這樣就導(dǎo)致從波形處理器22的末級輸出信號正向峰值幅度降低。這種情況能夠由在數(shù)據(jù)碼型的前沿具有較大有效功率的記錄來校正。對優(yōu)選實施例，在數(shù)據(jù)碼型的第二個“1”期間，數(shù)據(jù)碼型“000111”將觸發(fā)一個寬寫信號，由此，在正常斷開時間期間，使激光產(chǎn)生脈沖。
在圖5中，時鐘波形301通過激光脈沖發(fā)生器14對數(shù)據(jù)碼型“000111”數(shù)據(jù)波形303時序化。如由數(shù)據(jù)305至310所描述的，當(dāng)數(shù)據(jù)波形303是“1”時，激光脈沖發(fā)生器14產(chǎn)生具有脈沖314、315和316的脈沖波形312。在該數(shù)據(jù)碼型的第二個“1”期間，激光脈沖發(fā)生器14將由于增加功率波形318而接通并產(chǎn)生脈沖320。由脈沖312的或運算產(chǎn)生輸出激光脈沖波形322并對于增加功率波形318接通，因此產(chǎn)生激光脈沖323、324和325。在正常工作情況下，在時鐘周期的第一個半周期間，激光脈沖324會斷開。然而，在該特定數(shù)據(jù)碼型情況下，在該時間內(nèi)，對于激光脈沖323和324保持接通激光器，這樣有效地增加50％的功率。
在圖6中，幅度不對稱校正電路291產(chǎn)生相應(yīng)于圖5中增加功率波形318的寫寬脈沖292，它與從相應(yīng)于圖5中脈沖波形312的延遲電路269中輸出的激光脈沖在激光脈沖或門280(圖4)中作或運算，結(jié)果輸出激光脈沖波形322。在圖4中表示數(shù)據(jù)碼型監(jiān)視器248的工作。數(shù)據(jù)序列D觸發(fā)器251到256的Q輸出WD2、WD3、WD4、WD5、WD6和WD7分別輸入到幅度不對稱校正電路291，其中，數(shù)據(jù)序列D觸發(fā)器254、255和256的輸出WD5、WD6和WD7分別在數(shù)據(jù)反相器293、294和295中反相。數(shù)據(jù)反相器293、294和295和數(shù)據(jù)序列D觸發(fā)器251、252和253的輸出在檢測與門296中作與運算。檢測與門296的輸出表示檢測到“000111”的檢測碼型，將以下一個時鐘301時間在寫寬D觸發(fā)器297計時輸出。
光讀出器20的波形輸出將以頻率和數(shù)據(jù)碼型的函數(shù)降低。通過波形處理器22處理信號能夠改善幅度和定時。單個脈沖的上升和下降時間的不對稱性能夠用將被均衡、差分的信號與其導(dǎo)數(shù)相加來改進。在圖7中，磁光信號327由差分放大器329來差分。差分信號輸入到均衡器331，在優(yōu)選實施例中，它被均衡5dB，并且振幅被作為頻率的函數(shù)來均衡。均衡信號的導(dǎo)數(shù)由導(dǎo)數(shù)處理器333來處理并在加法器335中與均衡信號相加。加法器335的輸出是讀出信號337。
圖8表示圖9中所示的動態(tài)門限電路的定時圖。
讀信號337含有由脈沖細(xì)窄化產(chǎn)生的過沖。由于過沖是可預(yù)見的，所以可以增加在過沖期間的讀電路門限以防止讀信號337在正峰值339、340、341和342以及負(fù)峰值343、344和345期間讀出虛假數(shù)據(jù)。在正峰期間，門限波形348轉(zhuǎn)換為高電位。在正峰值339、340和341期間，門限波形349、350和351分別是高電位。在負(fù)峰值343、344和345期間，門限波形352、353和354分別是低電位。無論是正或負(fù)峰，讀信號337的每個峰都產(chǎn)生峰值波形356，它是一個在讀信號337峰值之后很短時間內(nèi)出現(xiàn)的短計時脈沖。讀信號337峰值339、343、340、344、341、345和342分別產(chǎn)生峰值波形358至364。
如圖9中所示，門限波形348輸入到門限延遲D觸發(fā)器366的D端。峰值波形356對經(jīng)過該觸發(fā)器的門限波形348進行計時。延遲的門限波形368是門限延遲D觸發(fā)器366的Q輸出，它與門限波形348在門限異或門370中作異或運算。異或信號372是門限異或門370的輸出。異或信號372具有兩倍于初始門限波形348的頻率。異或信號372輸入到異或D觸發(fā)器374的D端，以在讀時鐘375下計時。F1波形376是異或D觸發(fā)器374的Q端輸出。除非是當(dāng)異或信號372在一個以上讀時鐘波形375中是低電位時，在異或信號372的高脈沖期間，讀時鐘波形375具有前沿。于是，除了在異或信號372在一個以上讀時鐘波形375中是低的之后的第一讀時鐘375脈沖和下一個異或信號372脈沖之間的時間之外，F(xiàn)1波形376是高電位。
F1波形376與異或信號372在包絡(luò)或門378中作或運算。除了從當(dāng)異或信號372在一個以上時鐘周期中已經(jīng)是低電位的第一讀時鐘375直到信號372再到高電位時為止的時間之外，包絡(luò)或門378的輸出是高位。包絡(luò)或門378的輸出通過包絡(luò)D觸發(fā)器379的D輸入端計時，而D輸入端由讀時鐘375計時。包絡(luò)D觸發(fā)器379的Q輸出是F2波形381。除了從在異或信號372到達(dá)低電位后的第二讀時鐘周期直到下一個讀時鐘375對異或信號372計時一個高電位為止的時間之外，F(xiàn)2波形381是高位。F2波形381經(jīng)過F2反相器383反轉(zhuǎn)并與異或信號372在動態(tài)門限或非門385中作或非運算，以產(chǎn)生動態(tài)門限波形387。除當(dāng)F2波形381是低時，如果異或信號372為低，動態(tài)門限波形387任何時間都是高的。于是，除了當(dāng)異或信號372在下一個讀時鐘375周期時是低位時，動態(tài)門限波形387的接通時間少于讀時鐘375周期的一半。在這種除外情況下，從異或信號372的結(jié)束直到第二讀時鐘375脈沖為止，動態(tài)門限波形387保持高位。
動態(tài)門限波形387用于正向或反向偏置一個偏置二極管389。當(dāng)動態(tài)門限387是高時，偏置二極管389是反向偏置。相反地，當(dāng)動態(tài)門限波形387是低時，偏置二極管389是正向偏置。
當(dāng)動態(tài)門限波形387正向偏置偏置二極管389(即低的)時，濾波偏置信號390的電位高于偏置二極管389的結(jié)電壓。對標(biāo)準(zhǔn)器件該電位是0.6伏。由于充電電容器394兩端的電壓是濾波偏置信號390和地之間的電壓差，在限流電阻器393兩端電源電壓由5伏降到濾波偏置信號390的電位。充電電容394充電到該電位，也就是晶體管395的基極電壓。這時晶體管395導(dǎo)通，使得限流電阻392兩端的電壓降幾乎到5伏。由于晶體管395和396的發(fā)射極連在一起，因此晶體管396的發(fā)射極電壓低于晶體管396的基極2.5V電壓。因此，晶體管396截止。這樣，集電極電阻397兩端的集電極電壓就產(chǎn)生增加門限波形399(它原來是低的)。在過沖期間，增加門限波形399是增加讀信號377檢測器的門限的信號。
當(dāng)動態(tài)門限波形387是高位時，偏置二極管389反向偏置，因此晶體管395的基極不再是地電位。當(dāng)動態(tài)門限波形387到高位時，充電電容394開始充電，在晶體管395的基極上產(chǎn)生電位，并指數(shù)上升到供電的5V電壓。在濾波偏置信號390電壓上升時，晶體管395的發(fā)射極電壓升高，同樣也升高晶體管396的發(fā)射極電壓。當(dāng)該發(fā)射極電壓超過基極電壓的值達(dá)到發(fā)射極—基極的結(jié)電位時，晶體管396導(dǎo)通。晶體管396的導(dǎo)通使增加門限波形399到達(dá)高位。
在正常工作情況下，動態(tài)門限波形387產(chǎn)生如上述的脈沖。在正常讀信號時，動態(tài)門限387接通的周期等于該讀時鐘375的接通周期。充電電容394兩端的電壓超過2.5V的基極電壓的充電時間比該時鐘周期的一半時間長。于是，在正常情況下，增加門限波形399保持低位。然而，在過沖期間時，動態(tài)門限波形399接通校長時間，因此允許充電電容器394充電到超過2.5V的電壓，由此觸發(fā)增加門限波形399到達(dá)高位。
在圖10中，主計算機410作為數(shù)據(jù)源和數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)用戶，通過電接口設(shè)備412耦合到數(shù)據(jù)總線414。在主計算機410處理數(shù)據(jù)時，經(jīng)常地需要存取外存儲器，所以經(jīng)過電接口設(shè)備412建立到數(shù)據(jù)總線414的連接。數(shù)據(jù)總線414耦合到寫編碼器416的輸入和寫編碼器418的輸入端。優(yōu)選地，寫編碼器416編碼從總線414來的低密度(即，ANSI)格式的數(shù)據(jù)；而寫編碼器418編碼從數(shù)據(jù)總線414來的高密度格式的數(shù)據(jù)。對用于信息交換的90mm可再寫光盤盒的初步建議發(fā)布于1991年1月1日，它描述了ANSI格式，現(xiàn)歸入本文以作參考。寫編碼器416和418的輸出經(jīng)過開關(guān)422交替耦合到磁光讀/寫頭420的寫輸入。頭420的讀輸出經(jīng)過開關(guān)424交替耦合到讀解碼器426和讀解碼器428的輸入。讀解碼器426以與寫編碼器416相同的格式，即ANSI解碼數(shù)據(jù)；讀解碼器428以與寫編碼器418相同的格式解解碼數(shù)據(jù)。優(yōu)選地，在上面已披露的編碼和解碼技術(shù)已應(yīng)用來實現(xiàn)寫編碼器418和讀解碼器428。解碼器426和428的輸出連接到數(shù)據(jù)總線414。
響應(yīng)于模式選擇信號，開關(guān)控制電子設(shè)備430將開關(guān)422和424的狀態(tài)設(shè)置成第一模式或第二模式。在第一模式中，寫編碼器418和讀解碼器428連接在數(shù)據(jù)總線414和讀/寫頭420之間。在第二模式中，寫編碼器416和讀解碼器426連接在數(shù)據(jù)總線414和讀/寫頭420之間。讀/寫頭420從裝在可替換光盤驅(qū)動器432中的90mm光盤上讀出編碼的數(shù)據(jù)并將編碼的數(shù)據(jù)寫入該光盤，該光盤驅(qū)動器是由盤驅(qū)動電子設(shè)備434控制。讀/寫頭420在位置控制電子設(shè)備436控制下，在裝在盤驅(qū)動器432中的盤的表面徑向運動。
當(dāng)高密度格式的90mm盤裝在盤驅(qū)動器432中時，模式選擇信號把該系統(tǒng)設(shè)置在第一模式。結(jié)果，由主計算機410輸出的將被存儲在盤上的數(shù)據(jù)由電接口設(shè)備412編制并由寫編碼器418編碼；從盤中讀出的數(shù)據(jù)由讀解碼器428解碼、由電接口412再編制，并傳送到主計算機410作處理。
當(dāng)?shù)兔芏華NSI格式的90mm盤裝在盤驅(qū)動器432中時，模選擇信號把系統(tǒng)設(shè)置在第二模式。結(jié)果，由主計算機410輸出的將被存儲在盤上的數(shù)據(jù)由電接口412編制并由寫編碼器416編碼；從盤中讀出的數(shù)據(jù)由讀解碼器426解碼、由電接口412再編制，并傳送到主計算機410作處理。
優(yōu)選地，與所使用存儲數(shù)據(jù)的格式無關(guān)，模式選擇信號以一種格式，例如低密度ANSI格式存儲在每個盤上，系統(tǒng)默認(rèn)該相應(yīng)的模式，例如第二種模式。模式選擇信號應(yīng)以ANSI格式記錄在控制軌跡區(qū)域中。當(dāng)盤安裝在盤驅(qū)動器432中時，盤驅(qū)動電子設(shè)備434控制位置控制電子設(shè)備436，先讀出盤上模式選擇信號區(qū)域存儲的數(shù)據(jù)。讀解碼器426恢復(fù)加到電開關(guān)控制設(shè)備424的模式選擇信號。如果裝入的盤是低密度ANSI格式，則在讀模式選擇信號時，系統(tǒng)保持在第二模式中。如果裝入的盤為高密度，在讀模式選擇信號時，系統(tǒng)轉(zhuǎn)換到第一模式。
在某些情況下，需要調(diào)整用于第一和第二模式的激光。例如，不同的模式可使用不同的激光頻率或不同的激光聚焦透鏡系統(tǒng)。在這種情況下，模式選擇信號也聯(lián)接到讀/寫頭420，以控制在不同頻率或光透鏡聚焦系統(tǒng)之間的轉(zhuǎn)換，這要看情況而定。
最好是編制存儲在兩種格式中的數(shù)據(jù)，以在每個扇區(qū)有相同的字節(jié)數(shù)，即在ANSI情況中的512字節(jié)。在這種情況下，同一個電接口設(shè)備412就能夠以兩種格式編制存儲在盤上和從盤中重現(xiàn)的數(shù)據(jù)。
根據(jù)本發(fā)明，同樣的讀/寫頭420、位置控制電子設(shè)備436、光盤驅(qū)動器432、盤驅(qū)動電子設(shè)備343、電接口設(shè)備412和數(shù)據(jù)總線414可被應(yīng)用于以不同格式在光盤上存儲和從其中重現(xiàn)數(shù)據(jù)。結(jié)果，從隨著現(xiàn)代技術(shù)的發(fā)展正在出現(xiàn)的高密度格式向下對工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)格式的兼容就能用同一設(shè)備來實現(xiàn)。
同時，本發(fā)明還涉及消除讀出信號中DC分量不良影響的裝置和方法。
雖然，本發(fā)明可應(yīng)用于許多數(shù)據(jù)存貯和重現(xiàn)系統(tǒng)，下面優(yōu)選實施例將主要集中在磁光系統(tǒng)。但本發(fā)明并不局限于磁光設(shè)備上。
一種用于從磁光設(shè)備中存貯和重現(xiàn)數(shù)據(jù)的詳細(xì)系統(tǒng)提供在有關(guān)申請?zhí)?7/964518的申請中，申請日為1993年1月25日，現(xiàn)將該申請作為參考?xì)w入本申請，等效于在本申請中已充分陳述。
圖11示出了典型磁光系統(tǒng)的方框圖。該系統(tǒng)可具有讀出模式和寫入模式。在寫入模式下，數(shù)據(jù)源10發(fā)送數(shù)據(jù)到編碼器12。該編碼器12將數(shù)據(jù)變換成二進制碼比特。該二進制碼比特傳送到激光脈沖發(fā)生器14，在該發(fā)生器中編碼比特可變換為激勵脈沖，用于使激光器16接通和關(guān)閉。例如，在一個實施例中，代碼比特的“1”表示在與碼比特碼型無關(guān)的固定脈沖時間中將脈沖接通激光器，而碼比特的“0”表示在該間隔上激光器沒有脈沖。根據(jù)特定激光和正被使用的光介質(zhì)的類型，通過調(diào)節(jié)激光脈沖的相對發(fā)生或延長均勻脈沖寬度可提高性能。在脈沖驅(qū)動下，激光器16加熱光介質(zhì)18的定位區(qū)域，由此光介質(zhì)18的定位區(qū)域受到磁通作用，使在光介質(zhì)18上的磁性材料的極性固定。該定向區(qū)域通常稱為“坑”，它以磁方式存貯編碼數(shù)據(jù)直到抹去為止。
在讀數(shù)模式下，激光束或其它光從光介質(zhì)18的表面被反射。反射的光束具有與光介質(zhì)18磁表面的極性有關(guān)的極化。反射激光束輸入到光讀出器20，光讀出器20將輸入信號或讀出信號送到波形處理器22，用于調(diào)節(jié)輸入信號和恢復(fù)編碼數(shù)據(jù)。波形處理器22的輸出可輸入到解碼器24。解碼器24把編碼數(shù)據(jù)譯回到原始形式，并把譯碼數(shù)據(jù)發(fā)送到數(shù)據(jù)輸出端26，用于傳送或按需要進行其它處理。
圖12更詳細(xì)地描繪使用GCR8/9碼格式存貯和重現(xiàn)數(shù)據(jù)的方法。對于GCR8/9碼，單元28定義為一個信道比特，每個時鐘周期42對應(yīng)于信道比特，于是，單元30到41，每個對應(yīng)于時鐘波形45的一個時鐘周期42。如時鐘速度的一個例子，對于以2400轉(zhuǎn)/分旋轉(zhuǎn)，存貯容量為256MbyteS(兆字節(jié))的31/2″光盤，時鐘周期42一般為63毫微秒或時鐘頻率為15.879MHz(兆赫茲)，GCR輸入波形47是編碼器12(見圖11)的編碼輸出。該GCR輸入波形47對應(yīng)于通道序列“010001110101”。激光脈沖發(fā)生器14使用GCR數(shù)據(jù)波形47得到脈沖GCR波形65(在圖12中為表示對特定的數(shù)據(jù)碼型進行性能增強而沒有在時間或?qū)挾壬霞右哉{(diào)節(jié))。通常，當(dāng)GCR數(shù)據(jù)波形47在高位時，GCR脈沖67到78按時鐘周期產(chǎn)生。脈沖GCR波形65提供到激光器16。光介質(zhì)的磁化在激光脈沖開和關(guān)時反轉(zhuǎn)極性(例如，利用不歸零(“NRZ”)驅(qū)動信號去激勵磁記錄磁頭)。由GCR脈沖68、69、70等產(chǎn)生的激光脈沖在光介質(zhì)18上生成一記錄坑80。于是，記錄坑82到88分別對應(yīng)于68、69、70、71、73、76和77。
連續(xù)記錄坑82到85合在一起可有效地形成一長坑。該長坑具有一前沿和一后沿，前沿對應(yīng)于第一記錄坑82的前邊緣，而后沿對應(yīng)于最后記錄坑85的后邊緣。
用諸如激光器之類的光學(xué)設(shè)備讀出記錄坑導(dǎo)致重放信號90的生成。在沒有任何記錄坑的情況，該重放信號90處于低電位。在坑86的前邊緣，重放信號90將上升并保持高電位，一直到達(dá)坑86的后邊緣，在坑86的后邊緣點處，重放信號90將衰減并保持低電位直到下一坑87。
上述所述的方法，因為重放信號90中的脈沖寬度表示比特值“1”之間的距離，所以該方法被稱為脈沖寬度調(diào)制(“PWM”)。因此，定義在重放信號90中脈沖長度的記錄坑80的邊緣包括相關(guān)數(shù)據(jù)信息。如果重放信號被微分了，第一微分信號110的信號峰值111到116對應(yīng)于記錄坑80的邊緣。(在圖12中示出的第一微分重放信號110的信號峰值稍偏離記錄坑80的邊緣，因為重放信號90被表示成理想的)。為了從第一微分信號110中恢復(fù)坑邊緣信息，必須檢測信號峰值111到116。在本說明書中還將詳細(xì)描述這種方法。
可是，大多數(shù)或全部現(xiàn)有RLL2/7碼系統(tǒng)與脈沖位置調(diào)制(“PPM”)一起使用。在PPM系統(tǒng)中，坑不表示“0”，而表示“1”。坑之間的距離表示在比特值“1”之間的距離。每個坑的中心對應(yīng)于數(shù)據(jù)的位置。為了找出坑的中心，則微分重放信號并檢測第一微分的零交點。這種技術(shù)可與上述的PWM系統(tǒng)相對比，PWM中第一微分的信號峰值包括相關(guān)脈沖寬度信息。
盡管如此，利用PWM代替PPM，與RLL系統(tǒng)，如RLL2/7碼系統(tǒng)一起使用是可能的。每個信道比特可對應(yīng)于時鐘波形的一個時鐘周期。正如早期描述的使用PWM的GCR系統(tǒng)，“1’可由輸入波形的躍變來表示。因此，在“0’出現(xiàn)時，RLL2/7輸入波形可保持在相同狀態(tài)，可是，當(dāng)“1”發(fā)生時，從高到低或低到高改變。
在RLL和GCR碼，或其它碼中，當(dāng)數(shù)據(jù)碼型讀出時，從光讀出器20中產(chǎn)生的輸入信號通常是不對稱的。當(dāng)不對稱信號是在電路之間交流AC耦合時，平均DC值偏離峰-峰中點。非預(yù)期偏離中點可產(chǎn)生數(shù)據(jù)視在位置的偏移，對精確測定數(shù)據(jù)的位置起有害的作用，并且減小定時容限或使記錄數(shù)據(jù)不可恢復(fù)。
參照圖13A和13B可說明這種現(xiàn)象。圖13A表示由對稱數(shù)據(jù)碼型得出的理想輸入信號S1。一般在輸入信號的高和低峰值之間中點檢測到數(shù)據(jù)在1和0之間的躍變。在圖13A中可顯見，輸入信號S1的峰-峰中點連線MP1上面和下面區(qū)域A1和A2是相等的，并且在1和0之間的躍變精確地對應(yīng)于(在理想系統(tǒng)中)輸入信號S1和峰-峰中點MP1連線的交點。
圖13B相反地表示由不對稱數(shù)據(jù)碼型得出的輸入信號S2?？娠@見，峰-峰中點線MP2上面區(qū)域A1′是比曲線圖下面的區(qū)域A2′大。因此，輸入信號S2具有一個直流基線DC基偏在峰-峰中點MP2上方的直流分量。當(dāng)通過確定輸入信號S2的零交點來進行在1和0之間躍變定位時，因DC電平與峰-峰中點MP2不一致而會產(chǎn)生誤差。DC電平不保持常數(shù)，而隨著輸入信號的原始狀態(tài)上升和下降。直流升高越大，檢測的躍變將偏離真躍變點越多。因此，直流升高能使定時容限縮縮小或數(shù)據(jù)不可恢復(fù)。
圖14是根據(jù)本發(fā)明一個實施例的一種用于減輕DC升高效應(yīng)的讀出信道200的方框圖。該讀出信道200大致上與圖1的波形處理器22對應(yīng)。讀出信道200包括前置放大級202、微分級204、均衡級206、部分積分級208和數(shù)據(jù)生成級210。參照更詳細(xì)的圖15方框圖、圖20A-20D所示的波形圖，和在本說明書中作為參考的各種其它圖將對讀出信道200的操作予以說明。
當(dāng)掃描光介質(zhì)以讀出數(shù)據(jù)時，前置放大級202把輸入信號放大到適當(dāng)電平。前置放大級202可包括在本領(lǐng)域中是眾所周知的一種前置放大器203。前置放大器203可設(shè)置在別的地方，例如在光閱讀器20內(nèi)。在圖20A中描繪了一種典型的放大重放信號220。
如圖15所示，前置放大級202的輸出提供到微分級204。微分級204可包括一差分放大器212，例如，以本技術(shù)領(lǐng)域眾所周知的方法構(gòu)成的帶有電容器213的視頻差分放大器。圖16A表示微分級204的典型頻率諧振圖。微分級204有效地增加放大重放信號220高頻分量的相對幅度。在圖20B中表示微分級204的一個典型輸出波形。
如圖15所示，微分級204后隨均衡級206。該均衡級206提供附加濾波，以修改總信道轉(zhuǎn)移函數(shù)，并提供更可靠的數(shù)據(jù)檢測。均衡級206整形微分輸入信號，以便使高頻和低頻分量的幅度變平緩，并且產(chǎn)生用于后面處理的更平滑的信號。均衡濾波器通常修改噪聲頻譜以及信號。因此，微分輸入信號整形的改進(即減小失真)通常伴同信噪比的降低。因此，均衡級206的設(shè)計包括一個在可接受的硬件成本前提下企圖使噪聲最小和提供無失真信號之間的折衷選擇。一般，均衡器設(shè)計與要補償?shù)姆栭g干擾的總數(shù)、調(diào)制碼、使用的數(shù)據(jù)恢復(fù)技術(shù)、信噪比以及噪聲頻譜形狀有關(guān)。
當(dāng)在磁光記錄系統(tǒng)中讀出存貯數(shù)據(jù)時線性符號間干擾的很大部分是由于限制模擬讀出信道的帶寬和用增加存貯密度輸入信號幅度的滾降來產(chǎn)生的。因此，均衡級206可包括一個或多個改進讀出信道轉(zhuǎn)移函數(shù)的線性濾波器，以提供更可靠的數(shù)據(jù)檢測。通常，均衡級被實現(xiàn)為讀出信道的一部分，可是在某種情況下，均衡濾波部分也可成為寫入信道的一部分。
為了進行分析，重放信號可認(rèn)為是一串具有單位幅度和持續(xù)時間T的雙極性矩形脈沖。另外，重放信號可認(rèn)為是一串在每個磁通反轉(zhuǎn)位置上的雙向階躍函數(shù)，其中，階躍幅度與脈沖幅度相適應(yīng)。當(dāng)輸入信號加到均衡級206時，時鐘信息以及每個時鐘單元或比特的脈沖極性可由均衡級206的輸出信號得出。在理論上，時鐘和極性信息可由使用理想的波形恢復(fù)均衡器得出，該均衡器產(chǎn)生一個具有與輸入信號相似的比特中間值和比特邊界值的輸出信號。為了再產(chǎn)生精確的時鐘，輸出信號的零交點產(chǎn)生在比特邊界。如界零交點時間和方向是已知的，時鐘和數(shù)據(jù)都能從信號零交點提取。
在一個實施例中，均衡級206包括從一系列波形恢復(fù)均衡器中選出的均衡器。一般，波形恢復(fù)均衡器產(chǎn)生包括類似輸入或重放波形的二進制序列的信號。因為在信道中衰減信號諧波，所以合成信號的另外矩形脈沖的角就變圓了。該合成信號也可出現(xiàn)一些輸出信號幅度變化。
產(chǎn)生最小帶寬輸出信號的均衡器是一種理想的低通濾波器，對最小截止頻率具有一致的響應(yīng)和在較高頻率上沒有響應(yīng)。雖然，這種理想的低通濾波器在結(jié)構(gòu)上不可能實現(xiàn)，關(guān)于剩余對稱的奈奎斯特定理提出銳截止最小帶寬濾波器能被改進，并且在所有中比特單元時間處仍能保持輸出脈沖零交點。為了實現(xiàn)這種結(jié)果，均衡信道的高頻滾降是優(yōu)選對稱的，并且在最小帶寬濾波器截止頻率上設(shè)置半幅度點。
可通過在均衡級206中一濾波器呈現(xiàn)的一種類型的滾降特性是一個升余弦滾降，導(dǎo)致稱為升余弦均衡器的裝置。升余弦滾降轉(zhuǎn)移函數(shù)大概可以實現(xiàn)，并且在最小帶寬濾波器基礎(chǔ)上具有一個改進的響應(yīng)。在時間nT，輸出脈沖具有零值，可是旁瓣阻尼振蕩幅度被減小了。升余弦濾波器的輸出零交點比最小帶寬濾波器的更一致，并且線性相位特性用漸變滾降，例如用升余弦濾波器的相對漸變滾降更容易實現(xiàn)。然而，這些優(yōu)點一般是以增加帶寬為代價來得到的。帶寬擴展對最小帶寬的比fm有時稱作為升余弦信道的“α”。于是，在具有d＝0的調(diào)制碼時，α＝0是最小帶寬，但表示不可實現(xiàn)的矩形轉(zhuǎn)移函數(shù)，而α＝1表示使用兩倍最小帶寬的濾波器。
升余弦均衡信道(包括模擬信道脈沖均衡器，但除去輸入濾波器)的脈沖轉(zhuǎn)移函數(shù)可給出如下H(f)＝1， 當(dāng)0＜f＜(1－α)*fmH(f)＝1/2{1＋COS[(f－(1－α)*fm)/(2*α*fm)]}當(dāng)(1－α)*m＜f＜(1＋α)*fmH(f)＝0， 當(dāng)f＞(1＋α)*fm這里φ(f)＝K*f是相位，K為常數(shù)。上面系列可稱為α波形恢復(fù)均衡器，α＝1信道具有以半比特間隔和全比特間隔的零位特性。這種信道在中比特或比特邊界時無符號間干擾，這時為信號零交點和取樣時間，因此，允許精確時鐘和數(shù)據(jù)恢復(fù)。對這種全帶寬均衡器，滾降在零頻率開始，并擴展到截止頻率fc。
升余弦均衡器能校正大量具有足夠大信噪比的線性符號間干擾。大量的高頻提升通常需要用于補償MO介質(zhì)損耗和光短波長低分辨率。假設(shè)結(jié)構(gòu)上可實現(xiàn)的信道以d＝0的調(diào)制碼操作，為了清除線性符號間干擾，均衡器帶寬優(yōu)選等于至少兩倍最小帶寬。這種寬度的帶寬一般導(dǎo)致信噪比的減小。該均衡器帶寬被選擇以使在干擾失真和噪聲之間實現(xiàn)最佳的折衷。在一些實例中，有希望通過使用α＜1轉(zhuǎn)移函數(shù)使帶寬變窄，從而以增加時鐘抖動形式的失真為代價來改進噪聲。
另一種波形恢復(fù)均衡器稱為余弦β響應(yīng)均衡器。全帶寬β信道的脈沖轉(zhuǎn)移函數(shù)如下H(f)－COSβ(π*f/(2*fc))當(dāng)0＜f＜fcH(f)＝0 當(dāng)f＞fc象α均衡器系列一樣，有多種β均衡器。全頻帶β均衡器具有截止頻率fc，由于在比特邊界干擾量相當(dāng)小，因此減小了時鐘抖動。在本專業(yè)中使這些類型的均衡濾波器最佳，以在各種類型噪聲條件中實現(xiàn)使誤差減小到最小可能的技術(shù)是已知的。
利用α均衡器一般導(dǎo)致一較窄頻帶，由此，以時鐘抖動或水平眼張開度為代價來減少噪聲。利用β均衡器一般通過減小高頻提升而沒有減小帶寬來實現(xiàn)信噪比改進。選擇β均衡器可減小垂直眼張開度或有效的幅度壓縮。α＝1和β＝2均衡器信道，從眼的觀點來看是相同的，兩種類型的信道都具有相當(dāng)寬的眼張開度。
對于d＞0的碼的優(yōu)選均衡器信道帶寬不必需依賴于最小記錄脈沖寬度Tr，如可預(yù)期的，而是依賴于比特寬度Tm。這是因為數(shù)據(jù)恢復(fù)電路一般需要區(qū)別兩個脈沖，其差別僅僅為一比特寬度，且時間分辨率是信號帶寬的函數(shù)。例如在比特邊界沒有符號間干擾，該(O、K)碼(這里K表示沒有磁通反轉(zhuǎn)的最大連續(xù)比特數(shù))需要標(biāo)稱帶寬BWNOM＝1/Tm＝fc，以便消除在每個比特的中心和邊界上的干擾，除非這些符號間干擾不在比特邊界上。
對于d＞0的碼，用縮小帶寬BW＝1/(2*Tm)＝fc/2基本上能消除在比特邊緣的干擾。在這種情況下，所有比特讀數(shù)脈沖在磁通反轉(zhuǎn)處具有單位幅度，且在磁通躍變處讀數(shù)脈經(jīng)過交叉零。較窄帶寬BW在無干擾點處產(chǎn)生輸出信號零交叉，而不考慮比特的中心，可是，在有信道損傷的情況下，一般在獲得的帶寬減小的同時檢測的不確定性增加。較窄帶寬BW也產(chǎn)生在信號零交叉鈄率的減小，導(dǎo)致對于噪聲、盤速變化、模擬信道差值、或不適當(dāng)均衡的檢測靈敏度的可能增加。例如，具有(1，K)2/3比率調(diào)制碼的半帶寬β＝2均衡信道可產(chǎn)生一個具有在信號零交叉處沒有符號間干擾而在零交叉之間有一些幅度變化的信號。即使記錄信息比NRZ1調(diào)制(例如，帶寬＝O.75且相對于NRZ1比特率＝1.33)多，其帶寬也比不歸零(“NRZ1”)調(diào)制的帶寬小。該減小帶寬構(gòu)成了調(diào)制碼率損耗。
α＝1和β波形恢復(fù)均衡器可使輸出零交叉出現(xiàn)在等效的輸入脈沖邊緣。數(shù)據(jù)檢測可通過硬限幅均衡信號獲得，結(jié)果均衡信號一般產(chǎn)生類似原始重放信號的輸出信號。然而，這種結(jié)果只有在均衡器響應(yīng)擴展到直流的時候產(chǎn)生，一般對于磁光信道的情況不是這樣。在MO信道中低頻損耗使DC基線上下偏移，導(dǎo)致輸出比特按照在零交叉檢測器的幅度補償程度伸長或縮短。這個問題可通過無直流調(diào)制碼或如本說明書中所述優(yōu)選的DC恢復(fù)來解放。為了實現(xiàn)波形恢復(fù)均衡器的理想的低頻響應(yīng)。該低頻信號必須大大地放大，在某些條件下會嚴(yán)重地降低信噪比。如果低頻噪聲大量出現(xiàn)，除了使用具有無DC和少量低頻含量或DC恢復(fù)電路的調(diào)制碼外，波形恢復(fù)均衡技術(shù)不可能是十分滿意的。
在優(yōu)選實施例中，均衡級206可包括設(shè)置在集成芯片上的可編程濾波器和均衡器207。這種集成芯片目前可從各家制造廠買到。該濾波器和均衡器207可以是等波紋型的且具有頻率可達(dá)大約等于兩倍截止頻率的相對群延遲常數(shù)，圖16B中示出均衡級204的一個典型頻響圖，在圖20C中示出一個典型的輸出波形。
在信號已被均衡級206處理以后，在圖10C中信號波形的峰值包括關(guān)于讀出數(shù)據(jù)位置的精確信息。該信號峰值可通過取另一個微分來檢測，但是這樣做對系統(tǒng)的信噪比有害，并且很可能產(chǎn)生不希望的抖動。在這里所述的本發(fā)明優(yōu)選實施例通過使用部分積分和新型的數(shù)據(jù)生成電路提供一個檢測信號峰值而不取第二微分的精確裝置。
在信號已被均衡級206處理以后，提供到部分積分級208，用于進一步修整波形。如圖15所示，部分積分級208可包括放大級229，帶通濾波級230、積分器和低通濾波器級232、以及減法器和低通濾波器級234。放大級209接收均衡級206的輸出，并將信號提供給低通濾波級230和積分器和低通濾波器級232。積分器和低通濾波器級232優(yōu)選地衰減選擇范圍的高頻分量。積分器和低通濾波器級232的典型頻響260和帶通濾波級230的典型頻響261顯示在圖16C中。
帶通濾波級230的輸出從積分器和低通濾波器級232的輸出中減去，并經(jīng)低通濾波級234濾波。部分積分級208包括一低通濾波器234的總頻響曲線圖表示在圖16D中，圖20D中表示了部分積分級208的典型輸出波形。
在圖15B中表示特定實施例的部分積分級的詳細(xì)電路圖。在圖15B中，差動輸入238、239從均衡級206接收。該差動輸入238、239提供給差分放大器240，其結(jié)構(gòu)如圖，差分放大器240對其輸入作差分和。差分放大器240基本上對應(yīng)于圖15中所示的放大級229。
差分放大器240的輸出249送到一對電流發(fā)生器241和242。如圖15B所示的結(jié)構(gòu)，第一電流發(fā)生器241包括電阻R77和PNP晶體管Q61，第二電流發(fā)生器242也包括電阻R78和PNP晶體管Q11。
電流發(fā)生器241的輸出送到帶通濾波器243。如圖15B中所示的并聯(lián)構(gòu)形，帶通濾波器243包括電感L3、電容C72和電阻R10。該帶通濾波器243基本上對應(yīng)于圖15的帶通濾波級230。另一電流發(fā)生器242的輸出送到積分器244。如圖15B中所示的并聯(lián)構(gòu)形，積分器244包括電容C81和電阻R66。
積分器244的輸出通過電阻R55送到NPN晶體管Q31、晶體管Q31構(gòu)成發(fā)射極跟隨器，對于積分器244的輸出提供隔離，并起電壓源的作用。晶體管Q31的發(fā)射極接到低通濾波器245。如圖15B所示的構(gòu)形，低通濾波器245包括電感L6，電容C66和電阻R49。積分器244，包括晶體管Q31和低通濾波器245。如圖15B所示的構(gòu)形，低通濾波器245包括電感L6、電容C66和電阻R49。積分器244，包括晶體管Q31的發(fā)射級跟隨器，以及低通濾波器245基本上對應(yīng)于圖15中所示的積分器和低通濾波器級232。積分器244的頻響基本上對應(yīng)于圖16C所示的頻響260，而低通濾波器245的頻響基本上對應(yīng)于圖16C中所示的頻響261。
從低通濾波器245的輸出和從帶通濾波器243的輸出接到差動放大器246，其構(gòu)形如圖15B所示。差動放大器246差分總和其輸入，并且把差動輸出提供到另一低通濾波器247。差動放大器246和低通濾波器247基本上對應(yīng)于圖15所示的減法器和低通濾波器級234。
圖16G表示圖15B電路的典型波形，圖16G先表示可能從均衡器260提供到差動放大器240的典型輸入波形256，圖16G的下一個波形257對應(yīng)于響應(yīng)于接收輸入波形256的圖15B電路的帶通濾波器243的輸出。圖16G的再下一個波形258對應(yīng)于響應(yīng)于接收輸入波形256的圖15B電路的低通濾波器245的輸出。波形258表示積分器244的操作效果，低通濾波器245的功能基本上是提供一延遲，以便在差動放大器246的輸入下及時調(diào)節(jié)帶通濾波器243和積分器244的輸出。由此，低通濾波器245在差分總和之前與差動放大器246的每個輸入線上的延遲相匹配。
圖16G的最后波形259對應(yīng)于從帶通濾波器243和低通器245輸出的信號已經(jīng)被組合和濾波之后從第二低通濾波器247的輸出。波形259典型地顯示出與從磁介質(zhì)讀出的原始重放信號相比，其分辨率大大地改進了。
應(yīng)該注意，根據(jù)圖15和圖15B所述的部分積分功能是使用差動放大器(例如差動放大器240和246)來完成的，由此，提供共模抑制或輸入信號238、239的DC分量的等效抑制。圖15和15B所示的實施例的另一個特征是由部分積分級呈現(xiàn)的相當(dāng)有利的頻響特性。實際上，通過積分信號與高通濾波信號的組合(例如，在減法器和低通濾波器塊214中或在差動放大器246中)，噪聲被從微分和均衡重放信號中去除，然而，部分由于帶通濾波器提供的高通頻率提升而保持極快的時間響應(yīng)。
微分級204，均衡級206和部分積分級208組合的主要作用是以適當(dāng)?shù)姆椒ㄕ沃胤判盘?20，以利于數(shù)據(jù)恢復(fù)。如由圖20A和20D的比較可見，在圖20D中所示的合成信號類似于圖20A的重放信號220(是由此得出的)，其差別在于它的高和低頻分量的幅度已經(jīng)被均衡，并且去除了銳噪聲類的特性。在圖16E中示出了微分級204、均衡級206和部分積分級208組合的總頻響曲線圖。圖16F中示出了相同單元鏈的總?cè)貉舆t曲線圖。
值得注意，為了便于數(shù)據(jù)恢復(fù)，現(xiàn)有磁帶驅(qū)動系統(tǒng)利用重放信號的均衡和積分，然而，因為它們一般使用無DC(DC-free)碼，這種系統(tǒng)很大程度上沒有DC升高的問題。如前所述，無DC碼的缺點是密度比較低，并且效率差。本發(fā)明的各種實施例中，由于提供消除DC升高效果的裝置，所以允許使用更有效的編碼系統(tǒng)，不必使用無DC碼。
部分積分級208的輸出(例如圖20D中的波形)提供到數(shù)據(jù)生成級210。圖17中示出了數(shù)據(jù)生成級210的方框圖。數(shù)據(jù)生成級210包括正峰值檢波器300、負(fù)峰值檢波器302、分壓器304、比較器306、以及雙沿電路308。圖17所示的電路操作可參照圖19進行說明。在圖19中，假設(shè)以如前述的方法，記錄比特序列320已經(jīng)讀出，并最終導(dǎo)致在部分積分級208產(chǎn)生預(yù)處理信號322。值得注意這里所述的預(yù)處理信號322和各種其它的波形已在某種程度上理想化，以便于說明，并且對于本專業(yè)的普通技術(shù)人員易于理介在圖19和別處所描述的波形與實際波形相比可以在形狀和大小上有所變化。
預(yù)處理信號322送到正峰值檢波器300和負(fù)峰值檢波器302，分別測量和跟蹤預(yù)處理信號322的正和負(fù)峰值。圖19描繪了正峰值檢波器300的正峰值輸出信號330和負(fù)峰值檢波器302的負(fù)峰值輸出信號332。正峰值輸出信號330和負(fù)峰值輸出信號332都由分壓器304平均，分壓器304由一對電阻340和341組成。分壓器304的輸出用作門限信號334，并且表示預(yù)處理信號332的近似峰-峰中點。分壓器304的輸出提供到比較器306，比較器306將分壓與預(yù)處理信號332相比較。在預(yù)處理信號332相交于門限信號334時，比較器306改變狀態(tài)，表示讀出數(shù)據(jù)從1到0或0到1的躍變。比較器306的輸出如在圖19中輸出數(shù)據(jù)波形362所示。如下更詳細(xì)地進行解釋，輸出數(shù)據(jù)波形362反饋到正峰值檢波器300和負(fù)峰值檢波器302，以允許跟蹤DC包絡(luò)。比較器306的輸出也送到雙沿電路350，每當(dāng)比較器306改變狀態(tài)時，雙沿電路350產(chǎn)生一個固定持續(xù)時間的單極性脈沖。
雙沿電路350輸出可以用直接方法從中恢復(fù)記錄數(shù)據(jù)的時鐘和數(shù)據(jù)信息，例如，在脈寬調(diào)制(“PWM”)技術(shù)中，諸如前述的GCR8/9調(diào)制碼，由雙沿電路350輸出的每個數(shù)據(jù)脈沖表示磁通的躍變(即記錄“1”比特)，而在時鐘間隔中沒有數(shù)據(jù)脈沖則表示沒有磁通躍變(即記錄“0”比特)。由此，記錄比特的序列可通過本專業(yè)所熟知的方法由解碼器24(圖11所示)譯出，以確定原始數(shù)據(jù)。
為了正確地跟蹤由預(yù)處理信號322的DC部分產(chǎn)生的包絡(luò)，優(yōu)選實施例把占空因數(shù)信息從輸出信號362反饋到峰值檢波器。于是，比較器306的輸出反饋到正峰值檢波器300和負(fù)峰值檢波器302。該方法可參照更詳細(xì)描述數(shù)字生成級210電路圖的圖18進一步予以說明。如圖18所示，預(yù)處理信號322提供到晶體管Q2和Q5的基極。晶體管Q2與正峰值檢波器300相聯(lián)，而晶體管Q5和負(fù)峰值檢波器302相聯(lián)。因為正峰值檢波器300和負(fù)峰值檢波器302以模擬形式操作，僅參照正峰值檢波器300將可說明占空因數(shù)反饋操作，而本專業(yè)的普通技術(shù)人員通過參照圖18和下面的描述，可以理解負(fù)峰值檢波器302的模擬操作。
當(dāng)預(yù)處理信號322的幅度超過電容器C1的存貯電壓(加上晶體管Q2的正向偏壓)時，晶體管Q2給電容器C1充電。在圖19中，可見正向峰值輸出信號330很快充到信號332的峰值。當(dāng)輸出信號362處在高電平時，輸出信號362通過反饋在電容器C1上保持正向充電。當(dāng)輸出信號362處于低電平時，允許電容器C1放電。于是，如果輸出信號362是高電平，在電容器C1上由晶體管Q1通過電阻器R2保持正向充電。優(yōu)選地，電阻R1和R2選為相同阻值，以使通過電阻R2充電的速度，與通過電阻R1放電的速度相同，于是保持電容器C1上凈電荷不變。另一方面，如果輸出信號362處于低電產(chǎn)，則晶體管Q1截止，電容器C1通過電阻R1放電。電容器C1和電阻R1的值優(yōu)選選擇，以使時間常數(shù)比期望的DC升高速度稍快，因此，電容器C1能按產(chǎn)生的直流電平跟蹤變化。
電容器C1的輸出提供到晶體管Q3的基極。Q3的發(fā)射級電壓就是在電容器C1的輸出之上的偏壓。電流流過電阻R3使晶體管Q3的發(fā)射極跟隨電容器C1的電壓(通過射一基偏壓補償)。于是，晶體管Q3的發(fā)射極產(chǎn)生正峰值輸出信號330。應(yīng)該注意Q3是PNP型晶體管，晶體管Q1和Q2是NPN型晶體管。因此，NPN-PNP構(gòu)形大大抵消了晶體管Q1、Q2和Q3可能出現(xiàn)的有害熱效應(yīng)，并且也抵消了伴隨其操作的偏壓。
負(fù)峰值檢波器302以正峰值檢波器300的模擬方式進行操作，因此不再給予更詳細(xì)地說明。晶體管Q6的發(fā)射極得出負(fù)峰值輸出信號332。
如前面所述，正峰值輸出信號330和負(fù)峰值輸出信號332通過由圖18所示的一對電阻R4構(gòu)成的分壓器304平均，以形成門限信號334。因此，門限信號334設(shè)立在預(yù)處理信號332的峰-峰值的近似中點，通過占空因數(shù)反饋補償跟蹤預(yù)處理信號322的DC包絡(luò)。
雖然占空因數(shù)反饋在優(yōu)選實施例中表示為從比較器306的輸出開始，顯而易見，也可使用其它反饋通路。例如，如果觸發(fā)器或者其它存儲單元設(shè)置在雙沿電路308的輸出，類似的反饋通路可從雙沿電路308的輸出取得。同時，也可使用測量占空因數(shù)和調(diào)節(jié)門限信號以跟蹤DC包絡(luò)的其它裝置。
根據(jù)在圖14和15中所一般性描述的優(yōu)選技術(shù)包括在部分積分之前重放信號的微分步驟，以及隨后的DC的跟蹤步驟。該優(yōu)選的方法特別適合于具有相當(dāng)差分辨率的重放信號的系統(tǒng)，并且可有利地應(yīng)用到諸如以GCR格式存貯的信號的讀出。在優(yōu)選實施例的一個方面中，微分起始步驟減小來自輸入重放信號的低頻分量。優(yōu)選實施例的另一個方面中，在由于高通提升(例如，從帶通濾波級)而提供快速響應(yīng)的同時，部分積分級產(chǎn)生重放信號的恢復(fù)或部分恢復(fù)。該優(yōu)選方法可與一方法相比較，在該方法中，重放信號的積分一開始就執(zhí)行(即在微分之前)，它可導(dǎo)致DC分量的幅度增加，并對應(yīng)地更難于跟蹤DC分量。
可以理解，在本說明書中所述的各種電路和方法并不受磁光系統(tǒng)所限制，也可用于在存儲磁帶上讀出數(shù)據(jù)的系統(tǒng)和其它盤類系統(tǒng)，從更廣泛的意義來說，可用于處理電信號的任一系統(tǒng)中(無論是否數(shù)據(jù)存貯系統(tǒng))，其中希望減輕DC升高的效應(yīng)。
盡管本發(fā)明參照某些實施例已進行具體展示和描述，本專業(yè)普通技術(shù)人員易于理解，在不背離本發(fā)明精神范圍的情況下，可有各種改進形式。
權(quán)利要求
1.一種用于在光盤上存儲數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)的方法，包括步驟產(chǎn)生在給定時鐘間隔上具有第一和第二二進制值的表示所述數(shù)據(jù)的二進制信號；在具有二進制值之一的每個時鐘間隔期間，產(chǎn)生具有持續(xù)時間小于時鐘間隔的激勵脈沖；把聚焦的激光對準(zhǔn)在旋轉(zhuǎn)光盤的記錄表面，使激光束就能夠從記錄表面上選擇存取多個同心軌跡中的一個；把激勵脈沖加到激光器，根據(jù)二進制信號的值接通和關(guān)斷激光束。
2.一種用于在光盤上記錄數(shù)據(jù)的裝置，包括在給定時鐘間隔上產(chǎn)生數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)的源；用于把所述數(shù)據(jù)變換為在給定時鐘間隔上具有第一和第二二進制值的表示該數(shù)據(jù)的二進制信號的裝置；具有記錄表面的光數(shù)據(jù)存儲盤；用于旋轉(zhuǎn)驅(qū)動盤的裝置；具有聚焦束的激光；用于把激光對準(zhǔn)在記錄表面以使激光束就能夠從記錄表面多個同心軌跡中的一個上存取的裝置；用于產(chǎn)生具有持續(xù)時間小于具有第一二進制值的變換數(shù)據(jù)的時鐘間隔的激勵脈沖的裝置；用于把激勵脈沖加到激光器，以相應(yīng)于激勵脈沖接通和關(guān)斷激光束的裝置。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置，其特征在于，所述變換裝置形成一個在預(yù)定的多個時鐘間隔中總是變化值的二進制信號。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的裝置，其特征在于，所述多個時鐘間隔是3個。
5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置，其特征在于，所述變換裝置按群編碼記錄GCR 8/9格式形成二進制信號。
6.根據(jù)權(quán)利要求2所述的裝置，其特征在于，所述將激勵脈沖加到激光器上的裝置還包括用于檢測變換數(shù)據(jù)的預(yù)定序列的裝置；用于調(diào)節(jié)把激勵脈沖加到預(yù)定數(shù)據(jù)序列發(fā)生上的時間的裝置。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的裝置，其特征在于，所述預(yù)定數(shù)據(jù)碼型包括數(shù)據(jù)序列1100、10100、00100和000111。
8.一種重現(xiàn)光盤數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)的方法包括步驟把聚焦的激光對準(zhǔn)在旋轉(zhuǎn)光盤的記錄表面，以使激光束能從記錄表面上選擇存取多個同心軌跡中的一個；檢測從記錄表面反射出的激光束的旋轉(zhuǎn)，第一類型旋轉(zhuǎn)的變化表示第一二進制值，第二類型旋轉(zhuǎn)的變化表示第二二進制值；和產(chǎn)生表示發(fā)生在時鐘間隔邊界上在由二進制值和發(fā)生反射的變化所界定的時鐘間隔上二進制值的二進制信號。
9.一種用于在光盤上讀取數(shù)據(jù)的裝置，包括具有記錄表面的光數(shù)據(jù)存儲盤；用于旋轉(zhuǎn)驅(qū)動所述盤的裝置；具有聚焦光束的激光；用于把激光對準(zhǔn)在記錄表面以使激光束能夠從記錄表面選擇存取多個同心軌跡中的一個的裝置；用于檢測記錄表面反射出的激光束的旋轉(zhuǎn)的裝置；用于將第一類型的旋轉(zhuǎn)變化變換成第一二進制值和將第二類型的旋轉(zhuǎn)變化變換成第二二進制值的裝置；用于產(chǎn)生表示發(fā)生在時鐘間隔邊界上在由二制值和發(fā)生反射的變化所界定的時鐘間隔上的二進制值的二進制信號的裝置。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置，其特征在于，所述變換裝置根據(jù)群編碼記錄GCR8/9解碼生成二進制信號。
11.根據(jù)權(quán)利要求9所述的裝置，其特征在于，所述檢測裝置還包括用于改變檢測到的信號形狀的裝置。
12.根據(jù)權(quán)利要求11所述的裝置，其特征在于，所述改變裝置還包括用于使檢測信號的脈沖寬度變窄且幅度增加的裝置。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的裝置，其特征在于，所述檢測裝置還包括用于調(diào)整檢測裝置對所檢測旋轉(zhuǎn)的過沖靈敏度的門限的裝置。
14.一種光數(shù)據(jù)存儲和重現(xiàn)系統(tǒng)包括數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)源；用于以密度高于ANSI的第一格式編碼數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)的第一裝置；用于以第二ANSI格式編碼數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)的第二裝置；用于使用數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)的裝置；用于從第一格式解碼數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)的第一裝置；用于從第二格式解碼數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)的第二裝置；用于裝入可替換的90mm光盤的盤驅(qū)動器；用于在裝在所述驅(qū)動器中的90mm光盤上讀出編碼數(shù)據(jù)和寫入編碼數(shù)據(jù)的裝置；用于在第一模式中，將第一編碼裝置連接在源和讀與寫裝置之間，并將第一解碼裝置連接在讀與寫裝置和使用的裝置之間的裝置；用于在第二模式中，將第二編碼裝置連接在源和讀與寫裝置之間，并將第二解碼裝置連接在讀與寫裝置和使用的裝置之間的裝置；用于在所述第一和第二模式之間轉(zhuǎn)換的裝置。
15.一種用于檢測在具有DC分量的輸入信號中的躍變的方法，包括步驟從所述的輸入信號產(chǎn)生門限信號，將所述輸入信號與所述門限進行比較，并由此產(chǎn)生輸出信號，響應(yīng)于所述的輸出信號，產(chǎn)生所述門限信號。
16.根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法，其特征在于，所述響應(yīng)于所述輸出信號以產(chǎn)生所述門限信號的步驟使所述門限信號跟蹤所述輸入信號的DC分量。
17.根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法，其特征在于，所述的輸入信號包括對應(yīng)于存貯在介質(zhì)上的數(shù)據(jù)位置的峰值。
18.根據(jù)權(quán)利要求17所述的方法，其特征在于，所述的產(chǎn)生門限的步驟包括檢測所述峰值的電壓電平。
19.根據(jù)權(quán)利要求15所述的方法，其特征在于，響應(yīng)于所述輸出信號對所述門限信號的調(diào)節(jié)量正比于所述輸出信號的占空因數(shù)。
20.一種用于重現(xiàn)存貯在介質(zhì)上數(shù)據(jù)的方法，包括步驟讀出所述存貯數(shù)據(jù)并由此產(chǎn)生重放信號，部分積分所述的重放信號，產(chǎn)生隨著所述部分積分信號的DC分量而變化的門限信號，通過將所述部分積分信號與所述門限信號相比較，產(chǎn)生表示所述存貯數(shù)據(jù)的輸出信號。
21.根據(jù)權(quán)利要求20所述的方法，其特征在于，所述的介質(zhì)包括磁光盤。
22.根據(jù)權(quán)利要求20所述的方法，其特征在于，還包括在部分積分的步驟之前微分所述重放信號的步驟。
23.根據(jù)權(quán)利要求20所述的方法，其特征在于，所述部分積分步驟包括積分所述的重放信號，與所述的積分同時但是分別進行，帶通濾波所述重放信號，取出在所述積分信號和所述帶通濾波信號之間的差值。
24.根據(jù)權(quán)利要求23所述的方法，其特征在于，還包括低通濾波所述差值信號的步驟。
25.根據(jù)權(quán)利要求20所述的方法，其特征在于，所述產(chǎn)生門限信號的步驟包括檢測所述的部分積分信號的正峰值電壓，檢測所述的部分積分信號的負(fù)峰值電壓，平均所述的正峰值電壓和所述的負(fù)峰值電壓。
26.根據(jù)權(quán)利要求25所述的方法，其特征在于，還包括響應(yīng)于所述輸入信號狀態(tài)調(diào)節(jié)所述門限信號的步驟。
27.根據(jù)權(quán)利要求26所述的方法，其特征在于，當(dāng)所述的輸出信號處于低狀態(tài)或高狀態(tài)的任一狀態(tài)時，所述門限信號通過減小正峰值電壓來調(diào)節(jié)；當(dāng)所述的輸出信號處于所述的低狀態(tài)或高狀態(tài)的另一狀態(tài)時，所述門限信號通過減小負(fù)峰值電壓來調(diào)節(jié)。
28.根據(jù)權(quán)利要求20所述的方法，其特征在于，所述的門限信號對應(yīng)于所述部分積分信號的近似中點。
29.一種用于重視存貯在介質(zhì)上數(shù)據(jù)的方法包括步驟讀出所述存貯數(shù)據(jù)并由此產(chǎn)生信號，部分積分所述信號，產(chǎn)生對應(yīng)于所述部分積分信號近似中點的門限信號，通過所述部分積分信號與所述門限信號相比較，產(chǎn)生表示所述存貯數(shù)據(jù)的輸出信號。
30.根據(jù)權(quán)利要求29所述的方法，其特征在于，所述的介質(zhì)包括磁光盤。
31.根據(jù)權(quán)利要求29所述的方法，其特征在于，所述讀出所述存貯數(shù)據(jù)并由此產(chǎn)生信號的步驟，包括產(chǎn)生輸入信號和微分所述輸入信號的步驟。
32.根據(jù)權(quán)利要求29所述的方法，其特征在于，部分積分所述信號的所述步驟包括積分所述重放信號，與所述的積分同時但是分別進行，帶通濾波所述重放信號，取出在所述積分信號和所述帶通濾波信號之間的差值。
33.根據(jù)權(quán)利要求29所述的方法，其特征在于，產(chǎn)生門限信號的所述步驟包括響應(yīng)于所述輸出信號調(diào)節(jié)所述門限信號。
34.根據(jù)權(quán)利要求33所述的方法，其特征在于，對所述門限信號的所述調(diào)節(jié)正比于所述輸出信號的占空因數(shù)。
35.一種用于重現(xiàn)存貯介質(zhì)上數(shù)據(jù)的裝置，包括用于讀出所述存貯數(shù)據(jù)并由此產(chǎn)生信號的裝置，一個接到所述信號的部分積分器，一個接到所述部分積分器的門限發(fā)生器，一個接到所述部分積分器和所述門限發(fā)生器的數(shù)據(jù)發(fā)生器，所述的數(shù)據(jù)發(fā)生器包括一個比較器，一個從所述的比較器到所述門限發(fā)生器的反饋通路。
36.根據(jù)權(quán)利要求35所述的裝置，其特征在于，用于讀出所述存貯數(shù)據(jù)并產(chǎn)生輸入信號的所述裝置包括一個微分器。
37.根據(jù)權(quán)利要求35所述的裝置，其特征在于，所述的介質(zhì)包括磁光盤。
38.根據(jù)權(quán)利要求35所述的裝置，其特征在于，所述的門限發(fā)生器產(chǎn)生隨所述信號的直流分量而變化的門限信號。
39.根據(jù)權(quán)利要求38所述的裝置，其特征在于，所述的門限信號對應(yīng)于所述信號的近似中點。
40.根據(jù)權(quán)利要求35所述的裝置，其特征在于，所述的比較器接到所述門限發(fā)生器的輸出和所述部分積分器的輸出。
41.根據(jù)權(quán)利要求35所述的裝置，其特征在于，所述部分積分器包括一個接到所述信號的積分器，一個接到所述信號的帶通濾波器，一個接到所述積分器的輸出和所述帶通濾波器的輸出的減法器。
42.根據(jù)權(quán)利要求41所述的裝置，其特征在于，還包括接到所述減法器輸出的低通濾波器。
43.根據(jù)權(quán)利要求35所述的裝置，其特征在于，所述門限發(fā)生器包括一個接到所述部分積分器的正峰值電壓檢測器，一個接到所述部分積分器的負(fù)峰值電壓檢測器，一個接到所述正峰值電壓檢測器的輸出和所述負(fù)峰值電壓檢測器的輸出的分壓器。
44.根據(jù)權(quán)利要求43所述的裝置，其特征在于，所述反饋通路接到所述正峰值檢測器和所述負(fù)峰值檢測器，并且根據(jù)所述反饋通路的狀態(tài)產(chǎn)生對檢測正峰值電壓或檢測負(fù)峰值電壓的調(diào)節(jié)。
45.根據(jù)權(quán)利要求44所述的裝置，其特征在于，當(dāng)所述反饋通路處在兩種狀態(tài)之一時，所述檢測正峰值電壓用減小其幅度來調(diào)節(jié)；當(dāng)所述反饋通道處于所述兩種狀態(tài)的另一個時，所述的檢測負(fù)峰值電壓用減小其幅度來調(diào)節(jié)。
46.一種用于在具有DC分量的信號中對躍變進行定位的裝置，包括用于讀出存貯在介質(zhì)上的數(shù)據(jù)并由此產(chǎn)生一信號的裝置，用于接到所述信號的波形恢復(fù)裝置，一個接到所述波形恢復(fù)裝置的門限發(fā)生器，一個接到所述信號和所述門限發(fā)生器的數(shù)據(jù)發(fā)生器，所述數(shù)據(jù)發(fā)生器包括一個比較器，一個從所述的比較器到所述門限發(fā)生器的反饋通路。
47.根據(jù)權(quán)利要求46所述的裝置，其特征在于，所述的介質(zhì)包括磁光盤。
48.根據(jù)權(quán)利要求46所述的裝置，其特征在于，所述讀出存貯在介質(zhì)上的數(shù)據(jù)和產(chǎn)生信號的裝置包括一個微分器。
49.根據(jù)權(quán)利要求46所述的裝置，其特征在于，所述波形恢復(fù)裝置包括一個接到部分積分器的均衡器。
50.根據(jù)權(quán)利要求49所述的裝置，其特征在于，所述部分積分器包括一個接到所述信號的積分器，一個接到所述信號的帶通濾波器，一個接到所述積分器的輸出和所述帶通濾波器的輸出的減法器。
51.根據(jù)權(quán)利要求50所述的裝置，其特征在于，還包括一個接到所述減法器輸出的低通濾波器。
52.根據(jù)權(quán)利要求46所述的裝置，其特征在于，所述門限發(fā)生器包括一個接到所述波形恢復(fù)裝置的正峰值電壓檢測器，一個接到所述波形恢復(fù)裝置的負(fù)峰值電壓檢測器，一個接到所述正峰值電壓檢測器的輸出和所述負(fù)峰值電壓檢測器的輸出的分壓器。
53.根據(jù)權(quán)利要求52所述的裝置，其特征在于，所述的反饋通路接到所述正峰值電壓檢測器和所述負(fù)峰值電壓檢測器，并且響應(yīng)于所述的反饋通路的狀態(tài)產(chǎn)生對檢測正峰值電壓或檢測負(fù)峰值電壓的調(diào)節(jié)。
54.根據(jù)權(quán)利要求44所述的裝置，其特征在于，當(dāng)所述的反饋通路是兩種狀態(tài)之一時，所述的檢測正峰值電壓用減小其幅度來調(diào)節(jié)；而當(dāng)所述的反饋通路處于所述兩狀態(tài)的另一個時，所述的檢測負(fù)峰值電壓用減小其幅度來調(diào)節(jié)。
55.一種用于從重放信號中重現(xiàn)數(shù)據(jù)信息的方法包括步驟微分所述的重放信號，均衡所述的微分信號，部分積分所述的均衡信號，產(chǎn)生一個跟蹤所述部分積分信號的DC分量的門限信號，通過所述部分積分信號與所述門限信號相比較，產(chǎn)生一個輸出信號，響應(yīng)于所述輸出信號以調(diào)節(jié)所述門限信號。
全文摘要
一種可以高密度格式和低密度(ANSI)格式在光盤上讀出和寫入數(shù)據(jù)的系統(tǒng)和方法，根據(jù)盤上數(shù)據(jù)的格式控制選擇讀和寫的不同模式，并由寫補償和信號均衡來達(dá)到時間上的改進。一種用于從各類磁介質(zhì)中重現(xiàn)密集存貯數(shù)據(jù)的裝置和方法，從輸入信號產(chǎn)生對應(yīng)于信號峰值近擬中點的門限信號，并通過輸出信號進行調(diào)節(jié)，以跟蹤輸入信號的DC分量，從而消除DC分量的不良影響。
文檔編號G11B20/10GK1120214SQ95106528
公開日1996年4月10日 申請日期1995年5月6日 優(yōu)先權(quán)日1994年5月6日
發(fā)明者木村升, 葉文勇 申請人:Dva公司