專利名稱：光拾取裝置及光盤驅(qū)動裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及對應(yīng)于再生專用的光盤或能夠記錄的相變化光盤以及磁光盤等各種光盤的光拾取裝置及光盤驅(qū)動裝置。
背景技術(shù)：
過去，作為通過激光照射進行信息記錄、再生的光盤，實用化的有磁光盤、各種補寫型光盤、數(shù)字音頻盤即所謂致密盤、光學(xué)視盤等。
這些光盤中，致密盤和光學(xué)視盤是再生專用的光盤，通常構(gòu)成為在凹狀地形成了對應(yīng)于信息信號的數(shù)據(jù)坑的透明基板上形成反射層。
作為上述透明基板，特別是，在大量生產(chǎn)時為了能壓低成本大多使用通過注射模塑成形聚碳酸酯等樹脂而得到的圓盤狀基板。該透明基板上，設(shè)定為同心圓或螺旋狀的軌跡上以凹形的坑排列形成著數(shù)據(jù)坑。另外，反射層一般使用層迭在透明基板的形成了數(shù)據(jù)坑一側(cè)的表面上，因而具有高反射率且熱傳導(dǎo)率良好的鋁反射膜。
在這樣結(jié)構(gòu)的再生專用光盤中，檢出從透明基板一側(cè)照射激光時坑部分和不存在坑的部分即鏡部分的反射光量之差，并根據(jù)其檢出結(jié)果再現(xiàn)軌跡上的坑圖形。
這里，為了以這樣的方法進行無差錯的正確的信號再生，需要在形成了應(yīng)讀出的坑圖形的軌跡上正確地照射激光束的光點。為此，在光盤驅(qū)動裝置中，要進行光拾取裝置的跟蹤伺服。還有，在用激光掃描形成同心圓狀或螺旋狀的軌跡進行各種數(shù)據(jù)記錄/再生的光盤系統(tǒng)中，已知的有以恒定線速度(CLVConstant Linear Velocity)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動光盤進行數(shù)據(jù)記錄/再生的CLV方式和以恒定角速度(CAVConstant Angular Velocity)旋轉(zhuǎn)驅(qū)動光盤進行數(shù)據(jù)記錄/再生的CAV方式。而且，還已知使用沿軌跡連續(xù)設(shè)置的預(yù)置槽進行跟蹤控制等的連續(xù)伺服方式和利用離散地設(shè)置在軌跡上的伺服區(qū)進行跟蹤控制等的取樣伺服方式。
還有，以往磁光盤用的光拾取裝置例如具有

圖1所示的結(jié)構(gòu)，再生時或者記錄時，從激光二極管1射出作為P偏振光分量的出射光的激光束。該出射光由準(zhǔn)直透鏡2形成平行光，再由整形棱鏡3整形后入射到S偏振光的分光鏡4上。
設(shè)在上述S偏振光分光鏡4上的偏振光分光膜4a具有這樣的特性，使具對上述P偏振光分量正交的偏振光方向的S偏振光分量的光100％反射，使P振光分量的光50％反射，余下的50％透射。因此，入射到上述S偏振光分光鏡4上的上述P偏振光分量的出射光成為一半被反射，一半被透射。透過該S偏振光分光鏡4的出射光由45°反射鏡5反射，進而經(jīng)由物鏡6照射到磁光盤7上。
另外，記錄時，經(jīng)由輸入端子8把數(shù)據(jù)供給磁頭9。由此，根據(jù)上述數(shù)據(jù)驅(qū)動上述磁頭9，產(chǎn)生相應(yīng)于該數(shù)據(jù)的磁場。該磁場施加到磁光盤7上激光束照射了的位置上，進行數(shù)據(jù)的記錄。
通過把出射光照射到上述磁光盤7上產(chǎn)生反射光。該反射光經(jīng)上述物鏡6由45°反射鏡5反射，入射到上述S偏振光的分光鏡4上。
上述反射光根據(jù)記錄在上述磁光盤7上的數(shù)據(jù)偏振，作為S偏振光分量被反射，然而，該偏振光比較微妙，其大部分作為P偏振光分量被反射。上述S偏振光分光鏡4如上所述S偏振光分量100％反射，P偏振光分量50％反射，并透射余下的50％。這樣，上述反射光中S偏振光分量的反射光由上述S偏振光分光鏡4全部反射后入射到偏振光分光鏡10，P偏振光分量的反射光由上述S偏振光分光鏡4反射一半、透射一半。
上述偏振光分光鏡10的偏振光分光膜10a具有全部透射P偏振光分量的光及全部反射S偏振光分量的光的特性。于是，入射到上述偏振光分光鏡10上的反射光中，上述P偏振光分量的反射光透過上述偏振光分光膜10a入射到伺服信號檢出系統(tǒng)11上，上述S偏振光分量的光由上述偏振光分光膜10a反射后入射到數(shù)據(jù)檢出系統(tǒng)12上。
入射到上述伺服信號檢出系統(tǒng)11上的P偏光分量的反射光經(jīng)由透鏡13及圓柱形透鏡14被聚焦，照射到伺服信號檢出用的光檢出器15上。上述光檢出器15接受上述P偏振光分量的反射光，把相應(yīng)于該受射光量的檢出信號供給未圖示的伺服信號生成電路。上述伺服信號生成電路根據(jù)來自上述光檢出器15的檢出信號生成聚焦誤差信號及跟蹤誤差信號，把該聚焦誤差信號及跟蹤誤差信號分別供給未圖示的伺服控制電路。上述伺服控制電路根據(jù)上述聚焦誤差信號及跟蹤誤差信號進行跟蹤誤差控制及聚焦誤差控制。由此，始終能夠以最佳跟蹤及最佳聚焦進行數(shù)據(jù)再生等。
這樣，在上述S偏振光分光鏡4上把P偏振光分量的光中的50％反射，其余的50％透射的同時，在上述伺服信號檢出系統(tǒng)11中，根據(jù)由上述S偏振光分光鏡4反射的P偏振光分量的反射光檢出跟蹤誤差信號及聚焦誤差信號，而如上述，由于上述反射光的大部分作為P偏振光分量被反射，故上述S偏振光分光鏡4反射P偏振光分量的光的50％，透射其余的50％，但即使這樣，也能夠以充分的光量檢出該跟蹤誤差信號及聚焦誤差信號。
另一方面，由上述偏振光分光鏡10反射的S偏振光分量的反射光由上述數(shù)據(jù)檢出系統(tǒng)12的λ/2板16變換為P偏振光分量的反射光，經(jīng)由聚光透鏡17入射到偏振光分光鏡18上。上述偏振光分光鏡18的偏振光3分光膜18a具有把P偏振光反射50％透射50％的特性。這樣，入射到上述偏振光分光鏡18上的上述P偏振光分量的反射光由上述偏振光分光膜18a二分割，分別照射到數(shù)據(jù)檢出用的光檢出器19A、19B上。
上述各光檢出器19A、19B分別接收上述2個反射光，把相應(yīng)于該受射光量的信號電平的檢出信號供給示圖示的數(shù)據(jù)檢出電路。上述數(shù)據(jù)檢出電路根據(jù)上述檢出信號檢出數(shù)據(jù)，并把這些數(shù)據(jù)供給數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)。上述數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)對上述數(shù)據(jù)施行預(yù)定的數(shù)據(jù)處理后，把它們供給計算機裝置、揚聲器裝置等外部設(shè)備。
另外，從現(xiàn)有技術(shù)中，已知利用物質(zhì)的非晶狀態(tài)和結(jié)晶狀態(tài)間的構(gòu)造變化進行數(shù)據(jù)記錄的相變化光盤。從該相變化光盤進行數(shù)據(jù)再生等的光拾取裝置具有圖2所示的結(jié)構(gòu)，從組裝進激光組件20的激光二極管25出射例如作為P偏振光分量的出射光的激光束。上述出射光由準(zhǔn)直透鏡21形成平行光，由45°反射鏡反射，入射到綜合衍射膜27。
上述綜合衍射膜27形成為直接透射P偏振光分量的光、改變S偏振光分量的光的光路而出射的起到偏振光分光鏡作用的衍射網(wǎng)格狀的平面綜合衍射膜。這樣，入射到上述綜合衍射膜27的上述P偏振光分量的出射光直接透過該綜合衍射膜27，入射到1/4波長板28。上述1/4波長板28把線性偏振光即上述出射變換為圓偏振光，經(jīng)由物鏡29把它們照射到相變化光盤24上。
而且，形成為上述圓偏振光的出射光照射到上述相變化光盤24上被反射，由此，產(chǎn)生和上述出射光的偏振方向相反的圓偏振的反射光。該S反射光經(jīng)上述物鏡29入射到1/4波長板28上。上述1/4波長板28上若入射了與上述激光束的圓偏振光相反的圓偏振的反射光，則把它變換為S偏振光分量的反射光。而且，該S偏振光分量的反射光入射到上述綜合衍射膜27上。
如上述，上述綜合衍射膜27具有其上若入射了S偏振光分量的光，則把該光路彎曲預(yù)定角度并出射的作為偏振光分光鏡功能的特性。這樣，入射到上述綜合衍射膜27的上述S偏振光分量的反射光由該綜合衍射膜27把光路彎曲預(yù)定角度，經(jīng)由45°反射鏡22及準(zhǔn)直透鏡21分別照射到上述激光組件20的2個光檢出器26a、26b上。
上述各光檢出器26a、26b分別接受上述反射光，輸出相應(yīng)于該受射光量的檢出信號。該檢出信號分別供給未圖示的信號處理系統(tǒng)。上述信號處理系統(tǒng)根據(jù)來自上述各光檢出器26a、26b的各檢出信號，檢出聚焦誤差信號和跟蹤誤差信號以及記錄在上述相變化光盤24中的數(shù)據(jù)等，把它們供給伺服控制系統(tǒng)和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)。由此，能夠在最佳跟蹤、最佳聚焦的狀態(tài)下進行數(shù)據(jù)讀出等。
示于圖2的相變化光盤用的光拾取裝置由于是利用上述綜合衍射膜27的特性把反射光的光路彎曲，故能夠用設(shè)在激光二極管25附近的光檢出器26a、26b接受反射光，能夠把總體的光路長度縮短，在此基礎(chǔ)上，能夠謀求光拾取裝置自身的小型化及設(shè)有該光拾取裝置的設(shè)備的小型化。
然而，在上述以往的磁光盤用的光拾取裝置中，由于用偏振光分光鏡4、10、18分離出射光和反射光，進行數(shù)據(jù)、聚焦誤差信號、跟蹤誤差信號等的檢出，故部件件數(shù)多成本高，再加上由于需要確保由該偏振光分光鏡4、10、18分離了的反射光等的光路，因此存在光拾取裝置自身大型化的問題。
還有，在上述偏振光分光鏡10中，雖然假定P偏振光分量的反射和透鏡各占50％，但該反射率須根據(jù)照射到伺服信號檢出系統(tǒng)11上的光量，伺服信號檢出用的光檢出器15的散粒噪聲和起因于磁光盤7多折射等的噪聲進行設(shè)定。耦合效率和S/N比存在折中關(guān)系，即存在若提高耦合效率則S/N 比下降，反之，若提高S/N比則耦合效率變差的問題。
另一方面，上述相變化光盤用的光拾取裝置雖然如上述那樣在謀求光路縮短而能夠使光拾取裝置自身小型化方向有利，但由于使用上述1/4波長板28，故存在檢出來自磁光盤的微弱再生數(shù)據(jù)比較困難的問題。
于是，本發(fā)明的目的在于提供不需要偏振光分光鏡，通過減少部件件數(shù)能夠謀求裝置的低成本化及裝置自身小型化這樣的光拾取裝置及光盤驅(qū)動裝置。
還有，本發(fā)明的另一個目的在于提供耦合效率及S/N比良好并能夠再生記錄在磁光盤上的數(shù)據(jù)這樣的光拾取裝置及光盤驅(qū)動裝置。發(fā)明的公開與本發(fā)明有關(guān)的光拾取裝置的特征在于，具有出射激光的激光光源；把來自上述激光光源的出射光照射到光盤上的物鏡；配置在上述激光光源和上述物鏡之間、以光軸為中心、由沿上述光盤徑向的分割線2分割了的右旋光板和左旋光板所構(gòu)成的旋先裝置；配置在上述激光光源和上述旋光裝置之間、使來自上述激光光源的出射光不彎曲光路而直接透射，使照射到上述光盤的出射光的反射光根據(jù)偏振光方向彎曲光路而出射的偏振綜合衍射膜；接受經(jīng)上述偏振光綜合衍射膜入射的來自上述光盤的反射光，輸出相應(yīng)于其受射光量的信號電平的檢出信號的受光裝置。
另外，與本發(fā)明有關(guān)的光拾取裝置的特征在于，上述受光裝置至少具備3個光檢出器，分別用于接受通過了上述旋光裝置的來自上述光盤的反射光中由上述偏振綜合衍射膜形成的0次衍射分量、+1次衍射分量和-1次衍射分量。
還有，與本發(fā)明有關(guān)的光拾取裝置的特征在于，上述受光裝置具有接受+1次衍射分量的光檢出器和接受-1次衍射分量的光檢出器，上述各光檢出器分別具有至少由沿上述光盤徑向的分割線2分割了的多個受光區(qū)。
還有，與本發(fā)明有關(guān)的光拾取裝置的特征在于，上述受光裝置把各光檢出器設(shè)置為在上述至少3個光檢出器中接受反射光0次衍射分量的光檢出器為最佳聚焦?fàn)顟B(tài)時，上述至少3個光檢出器中接受+1次衍射分量的光檢出器和上述至少3個光檢出器中接受-1次衍射分量的光檢出器的受射光量為相等的狀態(tài)。
另外，與本發(fā)明有關(guān)的光拾取裝置的特征在于，上述偏振光綜合衍射膜形成為遍及整個區(qū)域的、均勻網(wǎng)格間隔的衍射網(wǎng)格狀的平面綜合衍射膜；進而上述受光裝置對于上述至少3個光檢出器中接受反射光0次衍射分量的光檢出器，在光軸方向的前后錯開預(yù)定間隔，設(shè)置上述至少3個光檢出器中接受+1次衍射分量的光檢出器和接受-1次衍射分量的光檢出器。
還有，與本發(fā)明有關(guān)的光拾取裝置的特征在于，上述偏振綜合衍射膜通過由具有曲率的衍射網(wǎng)格狀的平面綜合衍射膜構(gòu)成使得對于+1次衍射光分量的焦點和對于-1次衍射光分量的焦點不同，進而，把上述受光裝置的上述至少3個光檢出器配設(shè)在大致同一平面上。
還有，與本發(fā)明有關(guān)的光拾取裝置的特征在于，上述偏振光綜合衍射膜由沿上述光盤徑向的分割線分割為形成衍射網(wǎng)格間隔疏的衍射網(wǎng)格狀的偏振光綜合衍射圖形的區(qū)域和形成衍射網(wǎng)格間隔密的衍射網(wǎng)格狀的偏振光綜合衍射圖形的區(qū)域；進而，上述受光裝置具有接受通過上述旋光裝置的上述左旋光板并由形成上述偏振光綜合衍射膜的一方偏振光綜合衍射圖形的區(qū)域彎曲了光路的反射光的+1次衍射光分量和-1次衍射光分量的各光檢出器、接受通過上述旋光裝置的上述右旋光板并由形成上述偏振光綜合衍射膜的另一方偏振光綜合衍射圖形的區(qū)域彎曲了光路的反射光的+1次衍射光分量和-1次衍射光分量的各光檢出器。
還有，與本發(fā)明有關(guān)的光拾取裝置的特征在于，上述偏振光綜合衍射膜被分割為中心角為90度的4個區(qū)域，把通過上述旋光裝置的反射光向4個相互不同方向彎曲出射那樣地形成偏振光綜合衍射圖形；進而，上述受光裝置由接受通過上述旋光裝置的來自上述光盤的反射光中由上述偏振光綜合衍射膜形成的0次衍射分量的光檢出器和接受由上述偏振光綜合衍射膜彎向4個方向的反射光的4個光檢出器構(gòu)成。
還有，與本發(fā)明有關(guān)的光拾取裝置的特征在于，上述偏振光綜合衍射膜、上述旋光裝置及上述物鏡被一體地構(gòu)成為根據(jù)來自上述受光裝置的檢出信號伺服控制的可動部件，上述激光光源及上述受光裝置被一體地構(gòu)成為對應(yīng)于上述可動部件的激光組件。
與本發(fā)明有關(guān)的光盤驅(qū)動裝置的特征在于，具有光拾取裝置，該裝置包括出射激光的激光光源；把來自上述激光光源的出射光照射到光盤上的物鏡；由配置在上述激光光源和上述物鏡之間的以光軸為中心、由沿上述光盤徑向的分割線2分割了的右旋光板和左旋光板構(gòu)成的旋光裝置；配置在上述激光光源和上述旋光裝置之間，使來自上述激光光源的出射光不彎曲光路而直接透射、使照射到上述光盤的出射光的反射光根據(jù)偏振光方向彎曲光路而出射的偏振光綜合衍射膜；接受經(jīng)上述偏振光綜合衍射膜入射的來自上述光盤的反射光，輸出相應(yīng)于其受射光量的信號電平的檢出信號的受光裝置；并且，上述偏振光綜合衍射膜、上述旋光裝置及上述物鏡被一體地構(gòu)成為根據(jù)來自上述受光裝置的檢出信號伺服控制的可動部件，上述激光光源及上述受光裝置被一體地構(gòu)成為對應(yīng)于上述可動部件的激光組件；另外，還具有使上述光盤轉(zhuǎn)動的盤轉(zhuǎn)動驅(qū)動裝置；和根據(jù)來自上述光拾取裝置的上述受光裝置的檢出信號，控制上述可動部件的伺服控制裝置。
附圖的簡單說明圖1示出進行記錄在磁光盤的數(shù)據(jù)的再生的現(xiàn)有光拾取裝置的結(jié)構(gòu)；圖2示出進行記錄在相變化光盤的數(shù)據(jù)的再生的現(xiàn)有光拾取裝置的結(jié)構(gòu)；圖3的框圖示出使用了與本發(fā)明有關(guān)的光拾取裝置的光盤驅(qū)動裝置的結(jié)構(gòu)；圖4示出用于上述光盤驅(qū)動裝置的與本發(fā)明有關(guān)的光拾取裝置的結(jié)構(gòu)例；圖5示出由設(shè)在圖4所示光拾取裝置的可動部件中的偏振光綜合衍射膜形成的反射光的分離狀態(tài)；圖6示出設(shè)在圖4所示光拾取裝置的激光組件中的光檢出器的位置關(guān)系及反射光的照射狀態(tài)；圖7示出通過設(shè)在圖4所示光拾取裝置的可動部件中的2分割旋光板的右旋光板的上述激光組件的出射光的旋光狀態(tài)；圖8示出通過上述2分割旋光板的左旋光板的上述激光組件的出射光的旋光狀態(tài)；圖9示出圖4所示的光拾取裝置中信號檢出電路的具體結(jié)構(gòu)例；圖10示出用于上述光盤驅(qū)動裝置的與本發(fā)明有關(guān)的光拾取裝置的其它結(jié)構(gòu)例；圖11示出由設(shè)在圖10所示光拾取裝置的可動部件中的偏振光綜合衍射膜形成的反射光的分離狀態(tài)；圖12示出設(shè)在圖10所示光拾取裝置的激光組件中的光檢出器的位置關(guān)系及反射光的照射狀態(tài)；圖13示出用于上述光盤驅(qū)動裝置的與本發(fā)明有關(guān)的光拾取裝置又一結(jié)構(gòu)例；圖14示出由設(shè)在圖13所示光拾取裝置的可動部件中的偏振光綜合衍射膜形成的反射光的分離狀態(tài)；圖15示出設(shè)在圖12所示光拾取裝置的激光組件中光檢出器的位置關(guān)系及反射光的照射狀態(tài)；圖16示出用于上述光盤驅(qū)動裝置的與本發(fā)明有關(guān)的光拾取裝置又一結(jié)構(gòu)例；圖17示出設(shè)在圖16所示光拾取裝置的激光組件中的光檢出器的位置關(guān)系及反射光的照射狀態(tài)；圖18示出用于上述光盤驅(qū)動裝置的與本發(fā)明有關(guān)的光拾取裝置又一結(jié)構(gòu)例中可動部件的結(jié)構(gòu)；圖19示出上述圖18所示的可動部件及設(shè)在構(gòu)成與本發(fā)明有關(guān)的光盤驅(qū)動裝置的激光組件中的光檢出器的位置關(guān)系及反射光的照射狀態(tài)。
實施發(fā)明的最佳形態(tài)以下，參照附圖詳細地說明為實施本發(fā)明的最佳形態(tài)。
與本發(fā)明有關(guān)的光拾取裝置例如用作為圖3所示結(jié)構(gòu)的光盤驅(qū)動裝置中的光頭裝置。
在該光盤驅(qū)動裝置中，光頭裝置31通過光學(xué)地掃描由主軸電機32旋轉(zhuǎn)驅(qū)動的光盤33的記錄面進行信號的記錄/再生，由線性電機34驅(qū)動沿盤半徑的方向移動。另外，上述光頭裝置31由激光功率控制電路35控制激光束的出射光量，使得以適于記錄或再生的預(yù)定光量的激光束掃描上述光盤33的記錄面。還有，上述光頭裝置31把通過光學(xué)地掃描光盤33的記錄面所得到的跟蹤誤差信號TE和聚焦誤差信號FE供給伺服控制電路36，由該伺服控制電路36根據(jù)上述跟蹤誤差信號TE和聚焦誤差信號FE進行跟蹤控制和聚焦控制等伺服控制。
而且，該光盤驅(qū)動裝置是對應(yīng)于再生專用光盤或可記錄的相變化光盤和磁光盤等各種光盤的裝置，由系統(tǒng)控制器37設(shè)定對應(yīng)于各種光盤的記錄/再生動作模式。
在對于相變化光盤的記錄模式時，由信號處理電路38對記錄信號施行預(yù)定的編碼處理和添加糾錯碼等的處理，把該信號處理完畢的記錄信號供給激光功率控制電路35。另外，上述激光功率控制電路35通過根據(jù)上述記錄信號控制上述光頭裝置31出射的激光束的光量，用記錄信號光調(diào)制上述激光束。而且，上述光頭裝置31在進行上述伺服控制的狀態(tài)下，通過用以上述記錄信號光調(diào)制了的激光束掃描光盤31的記錄面上所希望的區(qū)域，把信號記錄在相變化光盤的相變化記錄區(qū)域內(nèi)。
另外，在對于磁光盤的記錄模式時，由上述信號處理電路38對記錄信號實施預(yù)定的編碼處理和添加糾錯碼等的處理，把該信號處理完畢的記錄信號供給磁頭驅(qū)動電路39。另外，上述磁頭驅(qū)動電路39根據(jù)上述記錄信號驅(qū)動磁頭40。上述磁頭40在與上述光頭裝置31相對并把上述光盤33夾在中間的狀態(tài)下，和該光頭裝置31一起由線性電機34驅(qū)動沿盤半徑方向移動。而且，在進行上述伺服控制的狀態(tài)下，用來自上述光頭裝置31的激光束掃描上述光盤33的記錄面上所希望的區(qū)域的同時，用相應(yīng)于上述記錄信號的調(diào)制磁場進行掃描，通過在由上述激光束的照射溫升到居里溫度的磁光(MOMagnetoOptical)區(qū)域上施加相應(yīng)于上述記錄信號的調(diào)制磁場，把信號記錄到磁光盤的MO區(qū)域內(nèi)。
另外，在對于再生專用光盤或相變化盤的再生模式時，在進行上述伺服控制的狀態(tài)下，通過由上述光頭裝置31光學(xué)地掃描光盤33的記錄面上所希望的區(qū)域，從光盤或相變化光盤得到再生RF信號并供給信號處理電路38。上述信號處理電路38通過對于從上述光頭裝置31供給的再生RF信號實施預(yù)定的解調(diào)處理和糾錯處理等生成再生信號。
另外，在對于磁光盤的再生模式時，在進行上述伺服控制的狀態(tài)下，通過由上述光頭裝置31光學(xué)地掃描光盤33的記錄面上所希望的區(qū)域，從磁光盤得到再生MO信號并供給信號處理電路38。上述信號處理電路38通過對于從上述光頭裝置31供給的再生MO信號實施預(yù)定的解調(diào)處理和糾錯處理生成再生信號。
作為上述光頭裝置31使用的與本發(fā)明有關(guān)的光拾取裝置例如圖4及圖5所示，由激光組件41和可動部件50構(gòu)成。
上述激光組件41采用本專利申請之前已提交了的特開昭7-114746號公報等中所公開的構(gòu)造，由與上述磁光盤33平行方向上出射激光束的激光二極管42、把來自上述激光二極管42的出射光反射到上述磁光盤33一側(cè)的反射鏡43和第1～第5光檢出器44～48構(gòu)成。
上述各光檢出器44～48如圖6所示在上述可動部件50中沿盤的半徑方向并列設(shè)置，使得分別接受由偏振光綜合衍射膜51分離為5部分的反射光。
另外，上述可動部件50具備起到偏振光分光鏡功能的偏振光綜合衍射膜51、由以通過光軸的沿盤徑向的分割線2分割的右旋光板52R和左旋光板52L構(gòu)成的2分割旋光板52、物鏡53。上述偏振光綜合衍射膜51和上述2分割旋光板52分別具有相同直徑的圓板形狀，以相互粘接的狀態(tài)構(gòu)成為一體。另外，上述物鏡53與上述偏振光綜合衍射膜51及2分割旋光板52具有相同直徑，和上述偏振光綜合衍射膜51及2分割旋光板52一起以層疊的狀態(tài)設(shè)在圓筒形保持部件54的內(nèi)部。
上述偏振光綜合衍射膜51起到偏振光分光鏡的作用，使P偏振光分量的入射光直接透射，使對于上述P偏振光分量其偏振方向為正交的S偏振光分量的入射光改變其光路出射，在對應(yīng)于由以通過光軸的沿盤徑向的分割線2分割的、構(gòu)成上述2分割旋光板52的上述右旋光板52R的區(qū)域51A上形成網(wǎng)格間隔疏的衍射網(wǎng)格狀的平面綜合衍射膜，另外，和左旋光板52L對應(yīng)的區(qū)域51B形成網(wǎng)格間隔密的衍射網(wǎng)格狀的平面綜合衍射膜。
這里，上述右旋光板52R從出射一側(cè)看去，把入射光沿右方向旋光預(yù)定角度α(此處為22.5°)出射。另外，上述左旋光板52L從出射一側(cè)看去，把入射光沿左方向旋光預(yù)定角度α(此處為22.5°)出射。
還有，由上述伺服控制電路36根據(jù)跟蹤誤差信號TE及聚焦誤差信號FE等驅(qū)動控制該可動部件50。
上述可動部件50由上述物鏡53把經(jīng)由上述偏振光綜合衍射膜51及2分割旋光板52入射來的上述激光組件41的出射光形成會聚光照射到上述光盤33上。而且，從上述物鏡53經(jīng)由2分割旋光板52及偏振光綜合衍射膜51把由上述光盤33產(chǎn)生的反射光分離為5個光路，入射到上述激光組件41上。
而且，上述激光組件41中的第1光檢出器44如圖6所示設(shè)在上述反射鏡43的背面一側(cè)，在受光區(qū)域SE接受沒有由上述偏振光綜合衍射膜51改變光路而照射的反射光0次光分量的大約一半左右。
另外，第2～第5光檢出器45～48分別成為例如隔開1～2μm的間隔，由沿盤徑向的分割線2分割了的2分割光檢出器。
而且，第2光檢出器45在受光區(qū)SA、SB接受由上述偏振光綜合衍射膜51分離了的來自上述左旋光板52L的反射光的+1次衍射光分量。上述第3光檢出器46在受光區(qū)SC、SD接受由上述偏振光綜合衍射膜51分離了的來自上述左旋光板52R的反射光的+1次衍射光分量。另外，上述第4光檢出器47在受光區(qū)SF、SG接受由上述偏振光綜合衍射膜51分離了的來自上述右旋光板52R的反射光的-1次衍射光分量。進而，上述第5光檢出器48在受光區(qū)SH、SI接受由上述偏振光綜合衍射膜51分離了的來自上述左旋光板52L的反射光的-1次衍射光分量。
在這樣結(jié)構(gòu)的光拾取裝置中，激光組件41把P偏振光分量的激光束作為出射光從激光二極管42沿與光盤33平行的方向出射。該出射光由反射角為45°的反射鏡43反射為相對于上述磁光盤33的垂直方向后入射到可動部件50中。
上述激光組件41的出射光經(jīng)由直接透鏡P偏振光分量的上述偏振光綜合衍射膜51入射到上述2分割旋光板52。而且，上述激光組件41的出射光如圖7所示，通過上述2分割旋光板52的右旋光板52R的分量從上述物鏡53一側(cè)看去向右方向旋光22.5°，另外，如圖8所示，通過左旋光板52L的分量從上述物鏡53一側(cè)看去向左方向旋光22.5°。
由該2分割旋光板52分別旋光了的出射光由上述物鏡53聚焦，照射到磁光盤33上。
而且，經(jīng)過上述物鏡53照射到磁光盤33上的出射光由磁光盤33反射，而上述被右旋光或被左旋光了的出射光根據(jù)記錄在上述磁光盤33上的數(shù)據(jù)，依據(jù)所謂Kerr效應(yīng)，分別向右方向或左方向旋光角度θk而反射。
該反射光經(jīng)由上述物鏡53入射到上述2分割旋光板52。這時，在上述出射光階段通過右旋光板52R的分量在反射光階段入射到左旋光板52L，另外，在上述出射光階段通過左旋光板53L的分量在反射光階段入射到右旋光板52R。
入射到上述左旋光板52L的反射光由該左旋光板52L從上述激光組件41看去進一步向左方向旋光22.5°后出射。另外，入射到上述右旋光板52R的反射光由該右旋光板52R從上述激光組件41看去進一步向左方向旋光22.5°后出射。
從而，從上述左旋光板52L出射的反射光成為從上述激光組件41看去對于入射到上述右旋光板52R的出射光向左方向旋光-45°＋θk(-22.5°－22.5°＋θk)(數(shù)據(jù)部分)＝-45°＋θk)后出射。另外，從上述右旋光板52R出射的反射光成為從上述激光組件41看去對于入射到上述左旋光板52L的激光束向左方向旋光45°＋θk(22.5°＋22.5°＋θk(數(shù)據(jù)部分)＝45°＋θk)后出射。
由該2分割旋光板52分別向各個方向旋光了的反射光入射到偏振光綜合衍射膜51上。
這里，上述反射光如上述那樣，從上述激光組件41一側(cè)看去，由于是向右方向或左方向旋光±45°＋θk，故具有P偏振光分量及S偏振光分量的兩種分量。另外，雖然偏振光綜合衍射膜51如上述那樣把S偏振光分量的光的光路彎曲預(yù)定角度后出射，但是，這時，偏振光綜合衍射膜51具有這樣的特性，即使是相同的S偏振光分量，也如上述那樣，從上述激光組件41一側(cè)看去，向右方向旋光了的光的S偏振光分量的光其光路向左方向彎曲后出射，向左方向旋光了的光的S偏振光分量的光其光路向右方向彎曲后出射。
通過了上述左旋光52L的反射光由于具有從上述激光組件41一側(cè)看去向右方向旋光了的S偏振光分量，因此由上述偏振光綜合衍射膜51中形成網(wǎng)格間隔密的衍射網(wǎng)格狀綜合衍射膜的區(qū)域51B把其光路向左方向彎曲預(yù)定角度，其+1次衍射光分量照射到上述激光組件41的第2光檢出器45上，其-1次衍射光分量照射到第5光檢出器48上。另外，通過了上述右旋光板52R的反射光由于具有從上述激光組件41一側(cè)看去向左方向旋光了的S偏振分量，因此由上述偏振光綜合衍射膜51中形成網(wǎng)格間隔的衍射網(wǎng)格狀綜合衍射膜的區(qū)域51A把其光路向右方向彎曲預(yù)定角度，其+1次衍射光分量照射到第3光檢出器46上，其-1次衍射光分量照射到第4光檢出器47上。
還有，通過了上述2分割旋光板52的P偏振光分量的反射光不由偏振光綜合衍射膜20彎曲光路，而以原來的光路照射到上述第1光檢出器44上。
上述各光檢出器44～48在最佳聚焦時，以由衍射界限的光點所形成的點的狀態(tài)接受各反射光，而在物鏡53接近光盤33的遠焦的散焦?fàn)顟B(tài)下，如圖6所示那樣，在第2光檢出器45的受光區(qū)SB、第3光檢出器46的受光區(qū)SC、第4光檢出器47的受光區(qū)SF、第5光檢出器48的受光區(qū)SI，分別接受半圓狀的反射光。另外，在上述物鏡53遠離光盤33的近焦的散焦?fàn)顟B(tài)下，與上面相反，在第2光檢出器45的受光區(qū)SA、第3光檢出器46的受光區(qū)SD、第4光檢出器47的受光區(qū)SG、第5光檢出器48的受光區(qū)SH，分別接受半圓狀的反射光。
上述各光檢出器44～48把信號電平相應(yīng)于上述各受光區(qū)SA～SI上接受的反射光光量的檢出信號A～I，供給圖9所示結(jié)構(gòu)的信號檢出電路。
上述信號檢出電路具有8個加法器60～67和2個減法器68、69。
加法器60把在上述第2及第5光檢出器44、48的各受光區(qū)SA、SH得到的各檢出信號A、H相加。由該加法器60形成的相加信號A+H，供給各加法器64、66。
另外，加法器61把在上述第2及第5光檢出器44、48的各受光區(qū)SB、SI得到的各檢出信號B、I相加。由該加法器61形成的相加信號B＋I，供給上述各加法器64、66。
另外，加法器62把在上述第3及第4光檢出器45、47的各受光區(qū)SC、SF得到的各檢出信號C、F相加。由該加法器62形成的相加信號C＋F，供給各加法器65、67。
還有，加法器63把在上述第3及第4光檢出器45、47的各受光區(qū)SD、SG得到的各檢出信號D、G相加。由該加法器63形成的相加信號D＋G，供給上述加法器65、67。
還有，加法器64把由上述加法器60形成的相加信號A＋H和由上述加法器61形成的相加信號B＋I相加。在該加法器64中的相加信號A＋H＋B＋I，供給減法器68。
還有，加法器65把由上述加法器62形成的相加信號C＋R和由上述加法器63形成的相加信號D＋G相加。由該加法器65形成的相加信號C＋F＋D＋G，供給上述減法器68。
還有，加法器66把由上述加法器60形成的相加信號A＋H和由上述加法器63形成的相加信號D＋G相加。由該加法器66形成的相加信號A＋H＋D＋G，供給減法器69。
還有，加法器67把由上述加法器61形成的相加信號B＋I和由上述加法器62形成的相加信號C＋F相加。由該加法器67形成的相加信號B＋I＋C＋F，供給上述減法器69。
而且，上述減法器68從由上述加法器64形成的相加信號A＋H＋B＋I中減去由上述加法器65形成的相加信號C＋F＋D＋G。作為由該減法器68形成的相減信號(A＋H＋B＋I)－(C＋F＋D＋G)，得到再生MO信號。
還有，上述減法器69從由上述第7加法器形成的相加信號A＋H＋D＋G中減去由上述第8加法器形成的相加信號B＋I＋C＋F。作為由該減法器69形成的相減信號(A＋H＋D＋G)-(C＋F＋C＋F)，得到聚焦誤差信號FE。
進而，在該信號檢出電路中，上述第1光檢出器44的受光區(qū)SE得到的檢出信號E直接作為再生RF信號輸出。
即，上述信號檢出電路，根據(jù)信號電平相應(yīng)于上述各光檢出器44～48的各受光區(qū)SA～SI上接受的反射光光量的檢出信號A～I，生成FE＝(A＋H＋G＋D)－(B＋I＋F＋C )
MO＝(A＋H＋B＋I)－(G＋D＋F＋C)RF＝E而且，在上述記錄/再生裝置的伺服控制電路36中，通過根據(jù)從上述信號檢出電路供給的上述聚焦誤差信號FE，在修正散焦的方向上驅(qū)動控制上述可動部件50，進行聚焦控制。另外，再生MO信號和再生RF信號由上述信號處理電路38對再生MO信號和再生RF信號實現(xiàn)解碼處理等，作為再生信號，供給例如外部連接著的計算機裝置和揚聲器裝置等。
還有，與本發(fā)明有關(guān)的光拾取裝置，例如圖10及圖11所示，由激光組件141和可動部件150構(gòu)成。
該光拾取裝置上述可動部件150中的偏振光綜合衍射膜151和激光組件141中的第1～第3光檢出器144～146與上述圖3及圖4中所示的光拾取裝置不同。其它構(gòu)成要素與上述光拾取裝置相同，故在附圖中標(biāo)附同樣的號碼并省略其詳細說明。
即，在該光拾取裝置中，可動部件150中的偏振光綜合衍射膜151形成為遍及整個區(qū)域的均勻網(wǎng)格間隔的衍射網(wǎng)格狀的平面綜合衍射膜，把通過了2分割旋光板52的反射光分離為0次衍射光分量和±1次衍射光分量的3部分。
而且，通過改變高度設(shè)置上述激光組件141中的第1～第3光檢出器144～146，則當(dāng)?shù)?光檢出器144在最佳聚焦?fàn)顟B(tài)下接受來自上述可動部件150的反射光的0次衍射光分量時，第2光檢出器145成為在近聚焦的狀態(tài)下接受+1次衍射光分量，另外，第3光檢出器146成為在遠聚焦?fàn)顟B(tài)下接受-1次衍射光分量，而且，成為上述第2及第3光檢出器145、156的各受射光量相等的狀態(tài)。
上述激光組件141中的第1光檢出器144如圖12所示，構(gòu)成為由沿著和盤徑向正交的方向的分割線2分割了的2分割光檢出器。而且，該第1光檢出器144形成為在各受光區(qū)SE、SF接受不由上述偏振光綜合衍射膜151改變光路而照射的反射光中0次光分量的大約一半左右。
還有，第2及第3光檢出器145、156分別構(gòu)成為由沿盤徑向的分割線4分割了的4分割光檢出器。
而且，第2光檢出器145在各受光區(qū)SA、SB、SC、SI接受由上述偏振光綜合衍射膜151分離了的上述反射光的+1次衍射光分量。另外，上述第3光檢出器146在各受光區(qū)SG、SH、SI、SJ接受由上述偏振光綜合衍射膜151分離了的上述反射光的-1次衍射光分量。
在這樣構(gòu)成的光拾取裝置中，根據(jù)信號電平相應(yīng)于上述各光檢出器144～146的各受光區(qū)SA、SJ上接受的反射光光量的檢出信號A～J，通過在由加法順和減法器構(gòu)成的信號檢出電路中進行以下的運算，能夠得到再生MO信號、聚焦誤差信號FE、再生RF信號及推挽信號PP。
即，從由接受上述反射光的+1次衍射光分量及-1次衍射光分量的第2及第3光檢出器145、146的各受光區(qū)SA～SD、SG～SJ生成的各檢出信號A～D、G～J，依據(jù)運算。
MO＝(A＋B＋I＋J)－(C＋D＋G＋H)能夠得到了再生MO信號，還有，依據(jù)運算FE＝(A＋D＋H＋I)－(B＋C＋G＋J)能夠得到聚焦誤差信號FE。
還有，從接受上述反射光的0次衍射光分量的第1光檢出器144的各受光區(qū)SE～SF的各檢出信號E、F，依據(jù)運算RF＝E＋F能夠得到再生RF信號，還有，依據(jù)運算TE＝E－F能夠得到跟蹤誤差信號TE。
另外，從由上述各光檢出器144～146的各受光區(qū)SA～SJ生成的各檢出信號A～J，依據(jù)運算RF＝A＋B＋C＋D＋E＋F＋G＋H＋I＋J也可以得到再生RF信號。
還有，與本發(fā)明有關(guān)的光拾取裝置，例如圖13及圖14所示，由激光組件241和可動部件250構(gòu)成。
該光拾取裝置可動部件250中的偏振光綜合衍射膜251和激光組件241中的第1～第3光檢出器244～246與上述圖11及圖12所示的光拾取裝置不同。其它構(gòu)成要素與上述光拾取裝置相同，故在附圖中標(biāo)附相同的號碼并省略其詳細說明。
即，在該光拾取裝置中，可動部件250中的偏振光綜合衍射膜251雖然把通過了2分割旋光板52的反射光分離為0次衍射光分量和±1次衍射光分量的3個部分，但使對于+1次衍射光分量的焦點和對于-1次衍射光分量的焦點不同。而且，上述激光組件241中的第1～第3光檢出器244～246雖然配設(shè)在同一平面上，但當(dāng)?shù)?光檢出器244在最佳聚焦?fàn)顟B(tài)下接受來自上述可動部件250的反射光的0次衍射光分量時，第2光檢出器245成為在近聚焦?fàn)顟B(tài)下接受+1次衍射光分量，另外，第3光檢出器246成為在遠聚焦?fàn)顟B(tài)下接受-1次衍射光分量，而且，成為上述第2及第3光檢出器245、246的各受射光量相等的狀態(tài)。
這里，上述偏振綜合衍射膜251如圖15中模式示出的那樣，通過形成具有曲率的衍射網(wǎng)格狀的平面綜合衍射膜，能夠使對于+1次衍射光分量的焦點和對于-1次衍射光分量的焦點不同。
上述激光組件241中的第1光檢出器144構(gòu)成為由沿著和盤徑向正交的方向的分割線2分割了的2分割光檢出器。而且，該第1光檢出器244形成為在各受光區(qū)接受不由上述偏振光綜合衍射膜251改變光路而照射的反射光中0次光分量的大致一半左右。
還有，第2及第3光檢出器245、256分別構(gòu)成為由沿盤徑向的分割線4分割了的4分割光檢出器。
而且，第2光檢出器245在各受光區(qū)接受由上述偏振光綜合衍射膜251分離了的上述反射光的+1次衍射光分量。另外，上述第3光檢出器246在各受光區(qū)接受由上述偏振光綜合衍射膜251分離了的上述反射光的-1次衍射光分量。
在這樣結(jié)構(gòu)的光拾取裝置中，根據(jù)信號電平相應(yīng)于上述各光檢出器244～246的各受光區(qū)上接受的反射光光量的檢出信號A～J，通過在信號檢出電路中進行和上述圖11及圖12所示的光拾取裝置同樣的運算，能夠得到再生MO信號、聚焦誤差信號FE、再生RF信號及跟蹤誤差信號TE。
即，從由接受上述反射光的+1次衍射分量及～1次衍射光分量的第2及第3光檢出器245、246的各受光部分生成的各檢出信號A～D、G～J，依據(jù)運算MO＝(A＋B＋I＋J)－(C＋D＋G＋H)能夠得到再生MO信號，還有，依據(jù)運算FE＝(A＋D＋H＋I)－(B＋C＋G＋J)能夠得到聚焦誤差信號FE。
還有，從接受上述反射光的0次衍射光分量的第1光檢出器244的各受光部分的各檢出信號E、F，依據(jù)運算RF＝E＋F能夠得到再生RF信號，還有，依據(jù)運算TE＝E－F能夠得到跟蹤誤差信號TE。
還有，與本發(fā)明有關(guān)的光拾取裝置例如圖16及圖17所示，由激光組件341和可動部件350構(gòu)成。
該光拾取裝置可動部件350中的偏振光綜合衍射膜351和激光組件341中的第1～第3光檢出器344～346與上述圖14及圖15所示的光拾取裝置不同。其它構(gòu)成要素與上述光拾取裝置相同，故在附圖中標(biāo)附相同的號碼并省略其詳細說明。
即，在該光拾取裝置中，可動部件350中的偏振光綜合衍射膜351沿著和盤徑向正交的方向把通過了2分割旋光板52的反射光分離為0次衍射光分量和±1次衍射光分量的3種成分，而且，使對于+1次衍射光分量的焦點和對于-1次衍射光分量的焦點不同。而且，上述激光組件341中的第1～第3光檢出器344～346雖然配設(shè)在同一平面上，但當(dāng)?shù)?光檢出器344在最佳聚焦?fàn)顟B(tài)下接受來自上述可動部件150的反射光的0次衍射光分量時，第2光檢出器345成為在近聚焦?fàn)顟B(tài)下接受-1次衍射光分量，另外，第3光檢出器346成為在遠聚焦?fàn)顟B(tài)下接受+1次衍射光分量，而且，成為上述第2及第3光檢出器345、356的各受射光量相等的狀態(tài)。
上述第1光檢出器僅有受光區(qū)SI，構(gòu)成為接受上述P偏振光分量的反射光。另外，上述第2光檢出器345其受光區(qū)被沿著盤徑向4分割為受光區(qū)SA～受光區(qū)SD，接受通過上述左旋光板52L并由偏振光綜合衍射膜351彎曲了光路的S偏振光分量的反射光的-1次衍射光分量。進而，上述第3光檢出器346其受光區(qū)被沿著盤徑向4分割為受光區(qū)E～受光區(qū)H，接受通過上述右旋光板52R并由偏振光綜合衍射膜351彎曲了光路的S偏振光分量的反射光的+1次衍射光分量。
在具備這樣結(jié)構(gòu)的激光組件341的光拾取裝置中，根據(jù)信號電平相應(yīng)于上述激光組件341的各光檢出器344～346的各受光區(qū)SA～SI上接受的反射光光量的檢出信號A～I，通過在由加法器和減法器構(gòu)成的信號檢出電路中進行如下的運算FE＝(A＋D＋F＋G)－(B＋C＋E＋H)MO＝(A＋B＋C＋D)－(E＋F＋G＋H)TE＝(A＋B＋G＋H)－(C＋D＋E＋F)RF＝I能夠得到聚焦誤差信號FE、再生MO信號、跟蹤誤差信號TE及再生RF信號。
另外，與本發(fā)明有關(guān)的光拾取裝置例如具有圖18所示那樣結(jié)構(gòu)的可動部件450和圖19所示那樣結(jié)構(gòu)的激光組件441。
該光拾取裝置上述可動部件450中的偏振光綜合衍射膜451和激光組件441中的第1～第5光檢出器444～148與上述圖3及圖4所示的光拾取裝置不同。其它構(gòu)成要素與上述光拾取裝置相同，故在附圖中標(biāo)附相同的號碼并省略其詳細說明。
即，在該光拾取裝置中，可動部件450中的偏振光綜合衍射膜451如圖18(A)所示，在中心角為90°的4分割了的4個區(qū)域中形成第1偏振光綜合衍射圖形451a～第4偏振光綜合衍射圖形451d。
這里，在上述偏振光綜合衍射膜451中，分別相鄰地形成把入射來的反射光的光路彎曲不同方向的偏振光綜合衍射圖形。具體地講，上述第1偏振光綜合衍射圖形451a具有把來自上述2分割旋光板452的右旋光板52R的S偏振光分量的反射光的光路從上述激光組件441看去向左方向彎曲的特性。另外，上述第2偏振光綜合衍射圖形451b具有把來自上述2分割旋光板52的右旋光板52R的S偏振光分量的反射光的光路從上述激光組件441看去向右方向彎曲的特性。還有，上述第3偏振光綜合衍射圖形451c具有把來自上述2分割旋光板52的左旋光板52L的S偏振光分量的反射光的光路從激光組件441看去向左方向彎曲的特性。進而，上述第4偏振光綜合衍射圖形451d具有把來自上述2分割旋光板52的左旋光板52L的S偏振光分量的反射光的光路從激光組件441看去向右方向彎曲的特性。
與此相反，在上述激光組件441上如圖19(a)所示，以接受不由上述偏振光綜合衍射膜451彎曲光路而出射的P偏振光分量的反射光的第1光檢出器444為中心，放射狀地設(shè)有第2～第5光檢出器445～448。
上述第2～第5光檢出器445～448其受光區(qū)由沿盤徑向的分割線分別2分割為受光區(qū)SA、SB，受光區(qū)SE、SF，受光區(qū)SC、SD，受光區(qū)SG、SR。另外，上述第1光檢出器444具有上述各光檢出器445～448大致一半左右的受光區(qū)SI。
在位置上，上述第2光檢出器445設(shè)在接受由上述偏振光綜合衍射膜451的第4偏振光綜合衍射圖形451d彎曲了光路的反射光的位置。另外，上述第2光檢出446設(shè)在接受由上述第2偏振光綜合衍射圖形451b彎曲了光路的反射光的位置。還有，上述第3光檢出器447設(shè)在接受由上述第3偏振光綜合衍射圖形451c彎曲了光路的反射光的位置。進而，上述第4光檢出器448設(shè)在接受由上述第3偏振先綜合衍射圖形451a彎曲了光路的反射光的位置。
在這樣結(jié)構(gòu)的光拾取裝置中，如上述那樣，由上述2分割旋光板52的左旋光板52L向左方向旋光了的反射光的S偏振光分量入射到偏振光綜合衍射膜451的第3、第4偏振光綜合衍射圖形451c、451d，由上述2分割旋光板52的右旋光板52R向右方向旋光了的反射光S偏振光分量入射到偏振光綜合衍射膜451的第1、第2偏振光綜合衍射圖形451a、451b。
上述第3偏振光綜合衍射圖形451c把上述反射光的光路從上述激光組件441看去向左方向彎曲，并照射到第4光檢出器447。另外，上述第4偏振光綜合衍射圖形451d把上述反射光的光路向右方向彎曲，并照射到第2光檢出器445。還有，上述第1偏振光綜合衍射圖形451a把上述反射光的光路向左方向彎曲，并照射到第5光檢出器448。進而，上述第2偏振光綜合衍射圖形451b把上述反射光的光路向右方向彎曲，并照射到第3光檢出器446。
另外，通過了上述2分割旋光板52的P偏振光分量的反射光不由偏振光綜合衍射膜451彎曲光路而照射到第1光檢出器444。
具體地講，在最佳聚焦時，如圖19(a)所示照射到上述第2～第5光檢出器445～448的反射光為點狀，而在物鏡53離開光盤33的近聚焦的散焦?fàn)顟B(tài)下，如圖19(b)所示，在上述第2光檢出器445的受光區(qū)SA、第3光檢出器446的受光區(qū)SF、第4光檢出器447的受光區(qū)SC及第5光檢出器448的受光區(qū)SH上，分別照射扇形的反射光。還有，在上述物鏡53接近光盤33的遠聚焦的散焦?fàn)顟B(tài)下，如圖19(c)所示，在上述第2光檢出器445的受光區(qū)SB、第3光檢出器446的受光區(qū)SE、第4光檢出器447的受光區(qū)SD及第5光檢出器448的受光區(qū)SG上分別照射扇形的反射光。
另外，在上述第1光檢出器444上，在近聚焦及遠聚焦的任一種散焦?fàn)顟B(tài)下，都在比最佳聚焦時要大的范圍內(nèi)照射P偏振光分量的反射光。
在具備這樣結(jié)構(gòu)的激光組件441的光拾取裝置中，根據(jù)信號電平相應(yīng)于上述各光檢出器444～448各受光區(qū)AS～SI上接受的反射光光量的檢出信號A～I，通過在由加法器和減法器構(gòu)成的信號檢出電路中進行如下的運算FE＝(B＋D＋E＋G)－(A＋C＋F＋H)MO＝(A＋B＋C＋D)－(E＋F＋G＋H)TE＝(A＋B＋E＋F)－(C＋D＋G＋H)RF＝I能夠得到聚焦誤差信號FE、再生的MO信號、跟蹤誤差信號TE及再生RF信號。
還有，在上述各實施例的說明中，使用2分割旋光板52的右旋光板52R及左旋光板52L分別把出射光及反射光旋光22.5°這樣的具體數(shù)值進行了說明，然而，這不過是一例，如果不脫離與本發(fā)明有關(guān)的技術(shù)思想的范圍，當(dāng)然可以有其它種種變化。
這樣，在與本發(fā)明有關(guān)的光拾取裝置中，沒有必要設(shè)置用于在光路中抽出反射光的偏振光分光鏡和分光鏡等，能夠謀求削減部件件數(shù)。由此，在能夠縮短總體光路的基礎(chǔ)上，通過結(jié)構(gòu)的簡單化能夠謀求該拾取裝置自身的低成本化。從而，能夠使設(shè)置了該光拾取裝置的磁光盤再生裝置等光盤驅(qū)動裝置低成本化。
另外，雖然耦合效率和S/N比存在著折中關(guān)系，即，若要提高耦合效率則S/N比降低，反之，若要提高S/N比則耦合效率降低，然而，上述偏振光綜合衍射膜由于構(gòu)成為對出射光不起作用，僅在反射光的階段發(fā)生作用，故在能夠?qū)崿F(xiàn)高耦合效率的基礎(chǔ)上，能夠分別由上述各光檢出器直接接受來自上述偏振光綜合衍射膜的3個反射光的幾乎全部光量，能夠?qū)崿F(xiàn)高S/N比。
還有，由于如果對激光組件進行位置控制使得以各光檢出器適宜地接受來自上述可動部件的反射光就好了，故經(jīng)過簡單地組裝，能夠進行位置調(diào)整等。
還有，由于按照上述聚焦誤差信號和跟蹤誤差信號驅(qū)動控制上述可動部件總體，故能夠在維持該可動部件的初始設(shè)定位置不動的情況下修正聚焦誤差、跟蹤誤差。
還有，在進行磁光信號MO的檢出中，由于使用大致100％的根據(jù)記錄在磁光盤上的數(shù)據(jù)向右方向或左方向旋光了反射光(上述S偏振光分量的反射光)進行檢出，故在能夠?qū)?yīng)波長變動的基礎(chǔ)上，能夠謀求S/N比的提高。
還有，通過從經(jīng)上述2分割旋光板的左旋光板照射到第1光檢出器上的旋光方向為右方向的S偏振光分量的受射光量減去經(jīng)上述右旋光板照射到第二光檢出器的旋光方向為左方向的S偏振光分量的受射光量，檢出磁光信號MO，能夠除去同相噪聲分量、僅放大和檢出信號分量，能夠可靠地進行磁光信號MO的檢出。
再有，由于再生RF信號能夠直接接受來自磁光盤的反射光而形成，故具有從低頻到高頻的全部信號分量。由此，能夠形成S/N比良好的再生RF信號，即使在采用了取樣伺服格式的光盤中，也能夠正確地形成信道時鐘。
權(quán)利要求
1.一種光拾取裝置，其特征在于，具有出射激光的激光光源；把來自所述激光光源的出射光照射到光盤上的物鏡；配置在所述激光光源和所述物鏡之間、以光軸為中心、由沿所述光盤徑向的分割線2分割了的右旋光板和左旋光板所構(gòu)成的旋光裝置；配置在所述激光光源和所述旋光裝置之間、使來自所述激光光源的出射光不彎曲光路而直接透射，使照射到所述光盤的出射光的反射光根據(jù)偏振光方向彎曲光路而出射的偏振光綜合衍射膜；接受經(jīng)所述偏振光綜合衍射膜入射的來自所述光盤的反射光，輸出相應(yīng)于其受射光量的信號電平的檢出信號的受光裝置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1中所述的光拾取裝置，其特征在于，所述受光裝置至少具備3個光檢出器，分別用于接受通過了所述旋光裝置的來自所述光盤的反射光中由所述偏振光綜合衍射膜形成的0次衍射分量、+1次衍射分量和-1次衍射分量。
3.根據(jù)權(quán)利要求1中所述的光拾取裝置，其特征在于，所述受光裝置具有接受+1次衍射分量的光檢出器和接受-1次衍射分量的光檢出器，所述各光檢出器分別具有至少由沿所述光盤徑向的分割線2分割了的多個受光區(qū)。
4.根據(jù)權(quán)利要求2中所述的光拾取裝置，其特征在于，所述受光裝置把各光檢出器設(shè)置為所述至少3個光檢出器中接受反射光0次衍射分量的光檢出器為最佳聚焦?fàn)顟B(tài)時，所述至少3個光檢出器中接受+1次衍射分量的光檢出器和所述至少3個光檢出器中接受-1次衍射分量的光檢出器的受射光量為相等的狀態(tài)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4中所述的光拾取裝置，其特征在于，所述偏振光綜合衍射膜形成為遍及整個區(qū)域的、均勻網(wǎng)格間隔的衍射網(wǎng)格狀的平面綜合衍射膜；所述受光裝置對于所述至少3個光檢出器中接受反射光0次衍射分量的光檢出器，在先軸方向的前后錯開預(yù)定間隔，設(shè)置所述至少3個光檢出器中接受+1次衍射分量的光檢出器和接受-1次衍射分量的光檢出器。
6.根據(jù)權(quán)利要求4中所述的光拾取裝置，其特征在于，所述偏振光綜合衍射膜通過由具有曲率的衍射網(wǎng)格狀平面綜合衍射膜構(gòu)成，使得對于+1次衍射光分量的焦點和對于-1次衍射光分量的焦點不同，把所述受光裝置的所述至少3個光檢出器配設(shè)在大致同一平面上。
7.根據(jù)權(quán)利要求1中所述的光拾取裝置，其特征在于，所述偏振光綜合衍射膜由沿所述光盤徑向的分割線分割為形成衍射網(wǎng)格間隔疏的衍射網(wǎng)格狀的偏振光綜合衍射圖形的區(qū)域和形成衍射網(wǎng)格間隔密的衍射網(wǎng)格狀的偏振光綜合衍射圖形的區(qū)域；所述受光裝置具有接受通過所述旋光裝置的所述左旋光板并由形成所述偏振光綜合衍射膜的一方偏振光綜合衍射圖形的區(qū)域彎曲了光路的反射光的+1次衍射光分量和-1次衍射光分量的各光檢出器、接受通過所述旋光裝置的所述右旋光板并由形成所述偏振光綜合衍射膜的另一方偏振光綜合衍射圖形的區(qū)域彎曲了光路的反射光的+1次衍射光分量和-1次衍射光分量的各光檢出器。
8.根據(jù)權(quán)利要求1中所述的光拾取裝置，其特征在于，所述偏振光綜合衍射膜被分割為中心角為90°的4個區(qū)域，把通過所述旋光裝置的反射光向4個相互不同方向彎曲出射那樣地形成偏振光綜合衍射圖形；所述受光裝置由接受通過所述旋光裝置的來自所述光盤的反射光中由所述偏振光綜合衍射膜形成的0次衍射分量的光檢出器和接受由所述偏振光綜合衍射膜彎向4個方向的反射光的4個光檢出器構(gòu)成。
9.根據(jù)權(quán)利要求1中所述的光拾取裝置，其特征在于，所述偏振光綜合衍射膜、所述旋光裝置及所述物鏡被一體地構(gòu)成為根據(jù)來自所述受光裝置的檢出信號伺服控制的可動部件；所述激光光源及所述受光裝置被一體地構(gòu)成為對應(yīng)于所述可動部件的激光組件。
10.一種光盤驅(qū)動裝置，其特征在于，具備光拾取裝置，該裝置包括出射激光的激光光源；把來自所述激光光源的出射光照射到光盤上的物鏡；由配置在所述激光光光源和所述物鏡之間，以光軸為中心、由沿所述光盤徑向的分割線2分割了的右旋光板和左旋光板構(gòu)成的旋光裝置；配置在所述激光光源和所述旋光裝置之間，使來自所述激光光源的出射光不彎曲光路而直接透射，使照射到所述光盤的出射光的反射光根據(jù)偏振方向彎曲光路而出射的偏振光綜合衍射膜；接受經(jīng)所述偏振光綜合衍射膜入射的來自所述光盤的反射光，輸出相應(yīng)于其受射光量的信號電平的檢出信號的受光裝置；并且，所述偏振光綜合衍射膜、所述旋光裝置及所述物鏡被一體地構(gòu)成為根據(jù)來自所述受光裝置的檢出信號伺服控制的可動部件，所述激光光源及所述受光裝置被一體地構(gòu)成為對應(yīng)于所述可動部件的激光組件；使所述光盤轉(zhuǎn)動的盤轉(zhuǎn)動驅(qū)動裝置；和根據(jù)來自所述光拾取裝置的所述受光裝置的檢出信號，控制所述可動部件的伺服控制裝置。
全文摘要
經(jīng)由偏振光綜合衍射膜51把來自激光組件41中激光光源42的出射光照射到可動部件的2分割旋光板52。上述2分割旋光板52由以光軸為中心、由沿光盤33徑向的分割線2分割了的右旋光板52R和左旋光板52L構(gòu)成，使來自上述激光光源42的出射光用右旋光板52R和左旋光板52L旋光預(yù)定角度。上述2分割旋光板52配置在上述偏振光綜合衍射膜51和物鏡53之間，由上述2分割旋光板52旋光了的出射光經(jīng)上述物鏡53照射到光盤33。而且，來自上述光盤33的反射光經(jīng)上述物鏡53被導(dǎo)向上述2分割旋光板52，被上述右旋光板52R和左旋光板52L進一步旋光預(yù)定角度。上述偏振光綜合衍射膜51把由上述2分割旋光板52旋光了的來自上述光盤33的出射光根據(jù)其偏振光方向，彎曲光路后出射。根據(jù)由接受經(jīng)上述偏振光綜合衍射膜51入射的來自上述光盤33的反射光的各光檢出器44～48產(chǎn)生的檢出信號，得到聚焦誤差信號FE和磁光信號MO等。
文檔編號G11B7/135GK1142277SQ95191894
公開日1997年2月5日 申請日期1995年11月10日 優(yōu)先權(quán)日1994年11月10日
發(fā)明者堀米秀嘉 申請人:索尼公司