專(zhuān)利名稱(chēng)：光盤(pán)裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明是關(guān)于用于對(duì)光盤(pán)進(jìn)行錄/放數(shù)據(jù)的光盤(pán)裝置，光盤(pán)具有通過(guò)凹抗進(jìn)行記錄的坑型區(qū)和通過(guò)諸如克爾效應(yīng)變化的表面物理變化進(jìn)行記錄的槽型區(qū)。
例如，在美國(guó)專(zhuān)利No.4999825中提出了具有槽的光盤(pán)，表示在圖7(a)中。如圖7(A)所示，所提出的光盤(pán)具有坑型區(qū)101A和槽型區(qū)101B，坑型區(qū)101A中的軌跡由坑P構(gòu)成，而槽型區(qū)101B中的軌跡由槽G構(gòu)成，其中，為記錄用于小型光盤(pán)的8到14調(diào)制編碼(EFM-Coded)的數(shù)據(jù)提出諸如克爾效應(yīng)變化標(biāo)記的表面標(biāo)記。
眾所周知，在光盤(pán)的最內(nèi)周緣設(shè)置控制區(qū)，以便儲(chǔ)存控制數(shù)據(jù)。利用在光盤(pán)的預(yù)定位置(例如，在最內(nèi)周緣)的凸式和凹式坑來(lái)記錄所述控制數(shù)據(jù)。因此，通常在坑型區(qū)101A形成控制區(qū)。除了控制區(qū)以外，設(shè)置使用戶(hù)能記錄數(shù)據(jù)的記錄區(qū)。通常在槽型區(qū)101B形成記錄區(qū)?？刂茀^(qū)內(nèi)的控制數(shù)據(jù)包括指示記錄區(qū)開(kāi)始點(diǎn)的地址；指示記錄UTOC(用戶(hù)內(nèi)容表格)(下文稱(chēng)為UTOC區(qū)域)區(qū)的開(kāi)始點(diǎn)的地址；指示記錄用戶(hù)數(shù)據(jù)區(qū)域的標(biāo)題的地址；記錄時(shí)推薦的光強(qiáng)度等等。
如果坑的寬度窄于軌跡間距的一半，而槽的寬度寬于軌跡間距的一半，那么，跟蹤誤差信號(hào)的極性會(huì)在坑型區(qū)101A和槽型101B之間反轉(zhuǎn)，如圖7(B)中所示。
在坑型區(qū)101A的情況下，如果射束點(diǎn)向光盤(pán)的外側(cè)偏離軌跡，那么，跟蹤誤差信號(hào)TE變成大于0并保持正值，而如果射束點(diǎn)向光盤(pán)的內(nèi)側(cè)偏離軌跡，那么，跟蹤誤差信號(hào)TE變?yōu)樾∮?并且保持負(fù)值。
然而，在槽型區(qū)101B的情況下，如果射束點(diǎn)向光盤(pán)的外側(cè)偏離軌跡，那么，跟蹤誤差信號(hào)TE變成小于0并且保持負(fù)極，而如果射束點(diǎn)向光盤(pán)內(nèi)側(cè)偏離軌跡，那么，跟蹤誤差信號(hào)TE變成大于0并保持正值。
上面的誤差信號(hào)的極性反轉(zhuǎn)會(huì)引起不正確的伺服控制。因?yàn)椋瑸榱私鉀Q這個(gè)問(wèn)題，例如普通光盤(pán)裝置已能夠通過(guò)讀出地址數(shù)據(jù)的方法來(lái)測(cè)定射束點(diǎn)正照射在二個(gè)區(qū)域(坑型區(qū)和槽型區(qū))中的哪一個(gè)區(qū)域，從而確定與該區(qū)域相應(yīng)的跟蹤誤差信號(hào)的極性。然而，光盤(pán)裝置的這種安排有一個(gè)問(wèn)題地址數(shù)據(jù)并不總能快速讀出，因?yàn)?，必須區(qū)分二種不能立即讀出地址的情況。第一種情況是未正確地實(shí)行跟蹤伺服(因此要求反轉(zhuǎn)跟蹤誤差信號(hào)的極性)，第二種情況是光盤(pán)有缺陷或故障或者由外來(lái)物污染(不要求反轉(zhuǎn)跟蹤誤差信號(hào)的極性)。結(jié)果，光盤(pán)裝置不能以高速度進(jìn)行。
當(dāng)記錄整個(gè)光盤(pán)的控制信號(hào)的坑型區(qū)和UTOC區(qū)域分別處于光盤(pán)的最內(nèi)周緣的附近和光盤(pán)的接近所述坑型區(qū)的內(nèi)周緣部分時(shí)，上面討論的問(wèn)題就引起特別的注意。開(kāi)始時(shí)，光盤(pán)裝置讀出整個(gè)光盤(pán)的控制數(shù)據(jù)和UTOC的目錄，以便用戶(hù)進(jìn)行準(zhǔn)備操作。要求該裝置進(jìn)行下面的程序步驟才能在讀出控制數(shù)據(jù)后讀出UTOC1)把光盤(pán)頭移到記錄控制數(shù)據(jù)的光盤(pán)內(nèi)圓周區(qū)；2)讀出控制數(shù)據(jù)；3)根據(jù)控制數(shù)據(jù)中UTOC區(qū)域的標(biāo)題的地址把光盤(pán)頭移到槽型區(qū)；4)反轉(zhuǎn)跟蹤誤差信號(hào)的極性；5)執(zhí)行伺服跟蹤并讀出地址；6)訪(fǎng)問(wèn)UTOC區(qū)域的標(biāo)題。因?yàn)?，除非確實(shí)使光盤(pán)頭位于槽型區(qū)、跟蹤伺服是不能正確地執(zhí)行的，因此，普通光盤(pán)裝置已經(jīng)設(shè)計(jì)成能把光盤(pán)頭移動(dòng)到比由控制數(shù)據(jù)內(nèi)UTOC區(qū)域的標(biāo)題的地址指定的位置更靠外的很小范圍內(nèi)。因此，在普通裝置中不能減小在上面的步驟3)和6)中光盤(pán)頭的移動(dòng)距離，結(jié)果，啟開(kāi)該裝置就要花費(fèi)時(shí)間。
因此，本發(fā)明的目的是提供在啟動(dòng)跟蹤伺服以前能確切地識(shí)別光盤(pán)的坑型區(qū)和槽型區(qū)的光盤(pán)裝置。
為了達(dá)到上述目的，用于把數(shù)據(jù)記錄到光盤(pán)或從光盤(pán)重現(xiàn)數(shù)據(jù)的光盤(pán)裝置的光盤(pán)具有沿著軌跡通過(guò)坑記錄數(shù)據(jù)的坑型區(qū)和沿著軌跡構(gòu)成槽以便記錄數(shù)據(jù)的槽型區(qū)，所述光盤(pán)裝置包括盤(pán)光頭裝置，它把光束投射到所述光盤(pán)并根據(jù)從光盤(pán)反射的光產(chǎn)生電信號(hào)；第一發(fā)生裝置，用于基于所述電信號(hào)產(chǎn)生視頻(RF)信號(hào)，所述RF信號(hào)表征所述坑；第二發(fā)生裝置，用于產(chǎn)生跟蹤誤差信號(hào)，后者是基于所述電信號(hào)產(chǎn)生的波動(dòng)信號(hào)并且每個(gè)波代表橫過(guò)所述軌跡；時(shí)鐘產(chǎn)生裝置，用于使用所述波動(dòng)信號(hào)產(chǎn)生時(shí)鐘信號(hào)；檢測(cè)裝置用于檢測(cè)所述RF信號(hào)并且產(chǎn)生指示RF信號(hào)存在的RF檢測(cè)信號(hào)；以及區(qū)域檢測(cè)裝置，用于接收所述時(shí)鐘信號(hào)和所述RF信號(hào)，并且當(dāng)所述光盤(pán)頭裝置橫過(guò)預(yù)定數(shù)目的軌跡時(shí)產(chǎn)生坑型區(qū)檢測(cè)信號(hào)。
用上述的本發(fā)明的光盤(pán)裝置，即使當(dāng)光束橫過(guò)各軌跡時(shí)，也能穩(wěn)定地進(jìn)行坑型區(qū)和槽型區(qū)之間的區(qū)分或識(shí)別。當(dāng)具有坑型區(qū)和槽型區(qū)的光盤(pán)在該光盤(pán)裝置上記錄或再現(xiàn)數(shù)據(jù)時(shí)，由于上述的穩(wěn)定的區(qū)別坑型區(qū)和槽型區(qū)的緣故，達(dá)到了按區(qū)域的最佳的跟蹤伺服。而且，能高速穩(wěn)定地訪(fǎng)問(wèn)二種區(qū)域的邊界附近。
從下面結(jié)合最佳實(shí)施例并參考附圖所進(jìn)行的描述，本發(fā)明的上述和其他目的和特征將一清二楚。所有附圖中，相同的部分標(biāo)以相同的標(biāo)號(hào)，并且，其中

圖1是按照本發(fā)明的第一實(shí)施例的光盤(pán)裝置的方塊圖；圖2是圖1中所示的預(yù)放大器和坑型區(qū)檢測(cè)電路的詳細(xì)方塊圖；圖3(A)、3(B)、3(C)、3(D)、3(E)、3(F)和3(G)是在圖1和圖2線(xiàn)路中不同點(diǎn)觀(guān)察的波形圖；圖4是表示由圖1所示的系統(tǒng)控制器執(zhí)行的步驟的流程圖；圖5是按照本發(fā)明的第二實(shí)施例的光盤(pán)裝置的方塊圖；圖6是表示由圖5所示的系統(tǒng)控制器執(zhí)行的步驟的流程圖；圖7(A)、7(B)和7(C)是表示坑型區(qū)和槽型區(qū)的結(jié)構(gòu)的圖。
下面將參考圖1-4描述按照本發(fā)明第一實(shí)施例的光盤(pán)裝置起始時(shí)間的操作。
圖1是按本發(fā)明的第一實(shí)施例的光盤(pán)裝置的方塊圖。如圖7(A)所示，光盤(pán)101具有從其內(nèi)圓周看到的坑型區(qū)101A和槽型區(qū)101B。UTOC區(qū)分配在槽型101B的最內(nèi)圓周的附近。由馬達(dá)驅(qū)動(dòng)電路103驅(qū)動(dòng)并運(yùn)轉(zhuǎn)的主軸馬達(dá)使光盤(pán)101旋轉(zhuǎn)。光盤(pán)頭104具有用于會(huì)聚光束的透鏡108，用于在光盤(pán)頭104內(nèi)徑向移動(dòng)透鏡作為微調(diào)的跟蹤調(diào)節(jié)器117，以及用于把從光盤(pán)反射的光轉(zhuǎn)變成電信號(hào)的光檢測(cè)器陣列119。由橫移驅(qū)動(dòng)電路106驅(qū)動(dòng)的橫移機(jī)構(gòu)105使光盤(pán)頭104徑向移動(dòng)。預(yù)放大器107加或者減去從光盤(pán)頭104內(nèi)的光檢測(cè)器陣列119輸出的信號(hào)，從而產(chǎn)生和輸出跟蹤誤差信號(hào)TE(C)或RF信號(hào)(A)。
參考圖2，圖中示出光檢測(cè)器陣列119和預(yù)放大器107的細(xì)節(jié)。光測(cè)器陣列119有八個(gè)光檢測(cè)元件P1，P2，P3，P4，P5，P6，P7和P8。在跟蹤方向的前和后位置分別設(shè)置元件P1和P2，在跟蹤方向的兩側(cè)分別設(shè)置元件P3和P4。中心部分設(shè)置其他元件P5，P6，P7和P8。預(yù)放大器107具有加法器107a和減法器107b。三束光從光盤(pán)反射且照射到光檢測(cè)器陣列119上。加法器107a把從P3和P4得到的信號(hào)相加，從而產(chǎn)生與RF信號(hào)(A)相同的和信號(hào)P3+P4。減法器107b從來(lái)自元件P1的信號(hào)中減去來(lái)自元件P2的信號(hào)，從而產(chǎn)生與跟蹤誤差信號(hào)(C)相同的差信號(hào)P1-P2。
參考圖1，跟蹤誤差信號(hào)被TE反向電路108反轉(zhuǎn)，即，乘-1。TE開(kāi)關(guān)電路109在接收反轉(zhuǎn)的跟蹤誤差信號(hào)的實(shí)線(xiàn)位置和接收非返轉(zhuǎn)跟蹤誤差信號(hào)的虛線(xiàn)位置之間轉(zhuǎn)換，并且把信號(hào)輸入到TR環(huán)形濾波器110。輸入到TR環(huán)形濾波器的信號(hào)受到相位補(bǔ)償，解釋如下當(dāng)加到TR環(huán)形濾波器110的信號(hào)為正信號(hào)(+信號(hào))時(shí)，環(huán)形濾波器110產(chǎn)生正驅(qū)動(dòng)信號(hào)給跟蹤調(diào)節(jié)器117，從而使光盤(pán)頭104內(nèi)的透鏡118向光盤(pán)內(nèi)測(cè)漂移。
另一方面，當(dāng)加到環(huán)形濾波器110的信號(hào)為負(fù)信號(hào)(-信號(hào))時(shí)，環(huán)形濾波器110產(chǎn)生負(fù)驅(qū)動(dòng)信號(hào)給跟蹤調(diào)節(jié)器117，從而使光盤(pán)頭104內(nèi)的透鏡118向光盤(pán)外側(cè)漂移。其漂移程度正比于跟蹤驅(qū)動(dòng)信號(hào)的幅值，即，正比于跟蹤誤差信號(hào)的幅值。
當(dāng)光盤(pán)頭104處于坑型101A時(shí)，開(kāi)關(guān)電路109應(yīng)該轉(zhuǎn)到虛線(xiàn)位置，而當(dāng)光盤(pán)頭104處于槽型區(qū)101B時(shí)，開(kāi)關(guān)電路109應(yīng)該轉(zhuǎn)向?qū)嵕€(xiàn)位置。這進(jìn)一步說(shuō)明如下在坑型區(qū)101A的情況下，開(kāi)關(guān)電路109轉(zhuǎn)向虛線(xiàn)位置。如圖7(B)所示，當(dāng)光盤(pán)頭104偏離軌跡向光盤(pán)外側(cè)偏離時(shí)(外偏離軌跡狀態(tài))，跟蹤誤差信號(hào)從零電平變?yōu)檎娖?。因?yàn)殚_(kāi)關(guān)電路109處于虛線(xiàn)位置，TR環(huán)形濾波器101產(chǎn)生正驅(qū)動(dòng)信號(hào)加到跟蹤調(diào)節(jié)器117，從而使光盤(pán)頭104內(nèi)的透鏡118向光盤(pán)的內(nèi)側(cè)漂移。因此，光盤(pán)頭104返回到軌跡的中心(在軌跡狀態(tài))。當(dāng)光盤(pán)頭104出現(xiàn)偏離并落入內(nèi)偏離軌跡的狀態(tài)時(shí)，跟蹤誤差信號(hào)就從零電平變?yōu)樨?fù)電平。因此，TR環(huán)形濾波器110產(chǎn)生負(fù)驅(qū)動(dòng)信號(hào)加到跟蹤調(diào)節(jié)器117，從而使光盤(pán)頭104內(nèi)的透鏡118向光盤(pán)外側(cè)漂移。因此，光盤(pán)頭104就返回到在軌跡狀態(tài)。
另一方面，在槽型區(qū)101B的情況下，開(kāi)關(guān)電路109轉(zhuǎn)到實(shí)線(xiàn)位置。如圖7(B)所示，當(dāng)光盤(pán)頭104出現(xiàn)偏離并落入外偏離軌跡的狀態(tài)時(shí)，跟蹤誤差信號(hào)從零電平變?yōu)樨?fù)電平，但被倒相器108變?yōu)檎娖?。因此，TR環(huán)形濾波器110產(chǎn)生正驅(qū)動(dòng)信號(hào)加到跟蹤調(diào)節(jié)器117，從而使光盤(pán)光104內(nèi)的透鏡118向光盤(pán)的內(nèi)側(cè)漂移。因此，光盤(pán)頭104返回到在軌跡狀態(tài)。當(dāng)光盤(pán)頭104出現(xiàn)偏離并落入內(nèi)偏離軌跡的狀態(tài)時(shí)，跟蹤誤差信號(hào)從零電平變?yōu)檎娖?，但被倒相?08改變?yōu)樨?fù)電平。因此，TR環(huán)形濾波器110產(chǎn)生負(fù)驅(qū)動(dòng)信號(hào)加到跟蹤調(diào)節(jié)器117，從而使光盤(pán)頭104內(nèi)的透鏡118向光盤(pán)的外側(cè)移動(dòng)，因此，光盤(pán)頭104返回在軌跡狀態(tài)。
開(kāi)關(guān)電路109由能檢測(cè)出光盤(pán)頭104是處于坑型區(qū)101A或處于槽型區(qū)101B的系統(tǒng)控制器112控制轉(zhuǎn)換。
開(kāi)關(guān)116連接到TR環(huán)形濾波器110的輸出端，當(dāng)開(kāi)關(guān)116轉(zhuǎn)換到實(shí)線(xiàn)位置時(shí)，TR環(huán)形濾波器110的輸出被連接到跟蹤調(diào)節(jié)器117。當(dāng)開(kāi)關(guān)116轉(zhuǎn)換到虛線(xiàn)位置時(shí)，TR環(huán)形濾波器110和跟蹤調(diào)節(jié)器117的連接斷開(kāi)，并且到跟蹤調(diào)節(jié)器117的輸入端被接地。當(dāng)光盤(pán)頭104跟隨軌跡時(shí)，(即，處于播放或記錄方式)開(kāi)關(guān)116轉(zhuǎn)換到實(shí)線(xiàn)，但當(dāng)光盤(pán)頭104橫過(guò)軌道時(shí)(即處于搜索方式)開(kāi)關(guān)116轉(zhuǎn)換到虛線(xiàn)位置。
把跟蹤誤差信號(hào)(C)和RF信號(hào)(A)輸入到坑型區(qū)檢測(cè)線(xiàn)路111，后者產(chǎn)生坑檢測(cè)信號(hào)(F)。系統(tǒng)控制器112接收坑檢測(cè)信號(hào)(F)，并且，控制TE開(kāi)關(guān)電路109，橫移驅(qū)動(dòng)電路106和主軸驅(qū)動(dòng)電路103。
圖2表示坑型區(qū)檢測(cè)電路111的詳圖，該電路包括RF檢測(cè)電路201，比較器202；分頻器203；觸發(fā)器204和205。當(dāng)光盤(pán)頭104不跟隨軌跡，而是在橫移驅(qū)動(dòng)器106或者在后面將聯(lián)系圖5和6說(shuō)明的強(qiáng)制橫移驅(qū)動(dòng)器501的促使下橫過(guò)軌跡時(shí)，坑型區(qū)檢測(cè)電路111工作。
RF檢測(cè)電路201具有高通濾波器201a，包絡(luò)檢測(cè)器201b和比較器201c。高通濾波器201a接收RF信號(hào)(A)(圖3(A))，當(dāng)光盤(pán)頭104在坑型區(qū)101A時(shí)就產(chǎn)生以正弦曲線(xiàn)逐漸變化的RF信號(hào)，而當(dāng)光盤(pán)頭104在槽型區(qū)101B時(shí)則產(chǎn)生低頻正弦曲線(xiàn)。
換句話(huà)說(shuō)，因?yàn)楫?dāng)不實(shí)行跟蹤伺服時(shí)，例如，在訪(fǎng)問(wèn)時(shí)間或類(lèi)似情況，軌跡與光束的相對(duì)位置不固定，因此，RF信號(hào)的幅值變化就如圖3(A)所示。RF信號(hào)包括在坑型區(qū)101A的高頻分量，因?yàn)槟抢锏目釉谲壽E部分呈現(xiàn)大幅值，而在偏離軌跡部分呈現(xiàn)小幅值。同時(shí)，在槽型區(qū)101B不存在凹坑時(shí)RF信號(hào)不包括高頻分量，但相應(yīng)地每次橫過(guò)一條軌道而出現(xiàn)高和低變化。
高通濾波器201a刪除低頻分量，包絡(luò)檢波器201B檢出高頻信號(hào)的包絡(luò)曲線(xiàn)。因此，比較器201c把包絡(luò)曲線(xiàn)與預(yù)定閥值相比較，從而在坑型區(qū)產(chǎn)生脈沖信號(hào)，而在槽型區(qū)沒(méi)有脈沖信號(hào)，正如圖3(B)所示。圖3(B)表示的信號(hào)稱(chēng)為RF檢測(cè)信號(hào)。當(dāng)光盤(pán)頭104在軌跡上橫移時(shí)，在坑型區(qū)101AR RF檢測(cè)信號(hào)表示出“高”電平信號(hào)。比較器202接收如圖3(C)所示的跟蹤誤差信號(hào)。這里，因?yàn)楣獗P(pán)頭104橫過(guò)軌跡的緣故，跟蹤誤差信號(hào)是正弦曲線(xiàn)。比較器202把跟蹤誤差信號(hào)與預(yù)定閥值相比較，產(chǎn)生相應(yīng)于每一軌跡的脈沖(圖3(D))。所述閾值信號(hào)可以備有遲滯性以防抖動(dòng)。圖3(D)所示的信號(hào)稱(chēng)為軌跡交叉信號(hào)。分頻器203把軌跡交叉信號(hào)的頻率分成半頻率。
觸發(fā)器204具有接收RF檢測(cè)信號(hào)的設(shè)定端子。當(dāng)該設(shè)定端子的信號(hào)是“高”電平信號(hào)時(shí)，即使當(dāng)把時(shí)鐘信號(hào)加到時(shí)鐘端子CK上時(shí)，觸發(fā)器204的Q輸出端也總是產(chǎn)生“高”電平信號(hào)。當(dāng)設(shè)定端子的信號(hào)為“低”電平信號(hào)時(shí)，Q輸出端保持已經(jīng)產(chǎn)生的信號(hào)，但響應(yīng)加到時(shí)鐘端子CK的時(shí)鐘信號(hào)的每個(gè)上升邊緣而變化到加到數(shù)據(jù)輸入端D的信號(hào)，在這種情況下該信號(hào)為低電平信號(hào)。時(shí)鐘信號(hào)是分頻器203的輸出信號(hào)。因此，如圖3(F)所示，當(dāng)光盤(pán)頭104處在坑型區(qū)時(shí)，觸發(fā)器204的Q輸出端產(chǎn)生“高”電平信號(hào)，但是響應(yīng)槽型區(qū)的時(shí)鐘信號(hào)(圖3(E))的第一個(gè)上升邊緣而變成“低”電平信號(hào)。
觸發(fā)器205具有接收觸發(fā)器204的Q輸出信號(hào)的數(shù)據(jù)輸入端D和接收來(lái)自分頻器203的輸出信號(hào)的時(shí)鐘輸入端CK。響應(yīng)所述時(shí)鐘信號(hào)的上升邊緣，Q輸出變化到數(shù)據(jù)輸入端的信號(hào)。因此，如圖3(G)所示，當(dāng)觸發(fā)器204的Q輸出端產(chǎn)生“高”電平信號(hào)時(shí)，觸發(fā)器205的Q輸出端也產(chǎn)生高電平信號(hào)，但是響應(yīng)槽型區(qū)時(shí)鐘信號(hào)的第二上升邊緣(圖3(E))而變化到“低”電平信號(hào)。
光盤(pán)頭104通常稱(chēng)為光盤(pán)頭裝置；比較器202和分解器203稱(chēng)為時(shí)鐘發(fā)生裝置，用于產(chǎn)生與橫移過(guò)的軌跡有關(guān)的時(shí)鐘信號(hào)；預(yù)放大器107稱(chēng)為RF信號(hào)發(fā)生裝置；RF檢測(cè)電路201稱(chēng)為RF檢測(cè)裝置；以及包含D觸發(fā)器204和205的電路稱(chēng)為坑型區(qū)檢測(cè)裝置。
圖4表示由第一實(shí)施例的系統(tǒng)控制器112執(zhí)行的步驟的流程圖。
工作時(shí)，首先將開(kāi)關(guān)109轉(zhuǎn)到虛線(xiàn)位置，并且將開(kāi)關(guān)116轉(zhuǎn)到虛線(xiàn)位置(步400)。然后主軸驅(qū)動(dòng)電路103轉(zhuǎn)動(dòng)光盤(pán)101，同時(shí)，橫移驅(qū)動(dòng)電路106使光盤(pán)頭104向光盤(pán)的內(nèi)圓周方向移動(dòng)(步401)，直到檢測(cè)開(kāi)關(guān)115接通為止(步402)。提前調(diào)節(jié)所述檢測(cè)開(kāi)關(guān)，使得當(dāng)使光盤(pán)頭到達(dá)能讀出控制數(shù)據(jù)的位置時(shí)所述開(kāi)關(guān)接通。然后，開(kāi)關(guān)116轉(zhuǎn)到實(shí)線(xiàn)位置(步403a)，為跟蹤控制做準(zhǔn)備。
當(dāng)主軸驅(qū)動(dòng)電路103驅(qū)動(dòng)主軸馬達(dá)105，接著光盤(pán)101以預(yù)定轉(zhuǎn)速旋轉(zhuǎn)時(shí)，系統(tǒng)控制器112開(kāi)始聚焦/跟蹤伺服，以便讀出坑型區(qū)101A記錄的控制數(shù)據(jù)(步403b)。在完成讀控制數(shù)據(jù)以后，由于把開(kāi)關(guān)116轉(zhuǎn)到虛線(xiàn)位置，系統(tǒng)控制器112與跟蹤伺服不相干(步403c)。然后，橫移驅(qū)動(dòng)電路106把光盤(pán)頭104向外邊緣移動(dòng)(步404)，直到坑檢測(cè)信號(hào)圖3(G)變成低電平信號(hào)為止(步405)。
如上所述，在坑型區(qū)101A中坑檢測(cè)信號(hào)為高電平信號(hào)，而當(dāng)光盤(pán)頭104進(jìn)入槽型區(qū)101B變成低電平信號(hào)。因此，如果響應(yīng)坑檢測(cè)信號(hào)從高電平信號(hào)到低電平信號(hào)而使光盤(pán)頭停止下來(lái)，那么，光盤(pán)頭104能定位在坑型區(qū)101A和槽型區(qū)101B之間的邊界近鄰，即，在UTOC區(qū)的近鄰。當(dāng)光盤(pán)頭停止時(shí)，開(kāi)關(guān)109轉(zhuǎn)變以實(shí)線(xiàn)位置(步406)，以便返轉(zhuǎn)跟蹤誤差信號(hào)的極性，并且開(kāi)關(guān)116也轉(zhuǎn)到實(shí)線(xiàn)位置(步406)，以便開(kāi)始跟蹤伺服。最后進(jìn)入U(xiǎn)TOC區(qū)，并讀出UTOC數(shù)據(jù)。
按照本發(fā)明，為了訪(fǎng)問(wèn)UTCO區(qū)，光盤(pán)頭104不必向外圓周移動(dòng)一段長(zhǎng)距離，因此進(jìn)入U(xiǎn)TCO區(qū)就能在很短的時(shí)間的完成。這樣開(kāi)始啟動(dòng)必需的時(shí)間就能縮短，因此在能開(kāi)始使用光盤(pán)以前，用戶(hù)不必等待很長(zhǎng)時(shí)間。
另外，即使跟蹤伺服失效，也能穩(wěn)定地得到坑檢測(cè)信號(hào)，以穩(wěn)定光盤(pán)裝置的工作。而且，如果省略分頻器202，那么，能夠在每條軌跡上得到坑檢測(cè)信號(hào)。在這種情況下，為了訪(fǎng)問(wèn)UTCO區(qū)，不必考慮光盤(pán)頭橫過(guò)二條軌跡的距離。因而，初始建立時(shí)間進(jìn)一步縮短，光盤(pán)裝置能在高速度下工作。
下面考慮光束為檢測(cè)坑型區(qū)橫過(guò)軌跡時(shí)的橫移速度。上述坑型區(qū)檢測(cè)電路111借助于軌跡交叉信號(hào)而得到橫過(guò)的軌跡數(shù)目，以便檢測(cè)坑型區(qū)。軌跡交叉信號(hào)是跟蹤誤差信號(hào)的二元信號(hào)，在零交叉點(diǎn)附近，如果移動(dòng)速度減慢并且如果在比較器中發(fā)生抖動(dòng)，那么，比較器輸出的信號(hào)中常伴有毛刺狀的的噪聲信號(hào)。例如，在通過(guò)橫移機(jī)構(gòu)105而使光盤(pán)頭104徑向移動(dòng)的同時(shí)讀出坑檢測(cè)信號(hào)是沒(méi)有問(wèn)題，如第一實(shí)施例中那樣，但是，當(dāng)光盤(pán)頭停在光盤(pán)的中央位置并且當(dāng)它終于必須辨別坑型區(qū)或槽型區(qū)時(shí)，問(wèn)題就出現(xiàn)了。圖5是計(jì)劃消除這一問(wèn)題的光盤(pán)裝置的方塊圖。
參考圖5和圖6討論第二實(shí)施例。
當(dāng)與圖1的實(shí)施例相比較時(shí)，圖5所示實(shí)施例有如下不同點(diǎn)設(shè)置一個(gè)強(qiáng)制型TR驅(qū)動(dòng)電路501，它由諸如用于產(chǎn)生+Vc和-Vc的固定電源構(gòu)成。提供開(kāi)關(guān)502，用于選擇性地進(jìn)入三種位置中的一種用于連接到TR環(huán)形濾波器110的實(shí)線(xiàn)位置；用于連接到地的虛線(xiàn)位置；以及用于連接到強(qiáng)制型TR驅(qū)動(dòng)電路501的點(diǎn)劃線(xiàn)位置。開(kāi)關(guān)502的輸出連接到跟蹤調(diào)節(jié)器117。
當(dāng)開(kāi)關(guān)502處于點(diǎn)劃線(xiàn)位置時(shí)，固定電壓+Vc加到跟蹤調(diào)節(jié)器117，用于使透鏡118以由電壓+Vc決定的速度向光盤(pán)的內(nèi)側(cè)移動(dòng)。這樣，光束強(qiáng)制橫過(guò)軌跡，以便通過(guò)坑型區(qū)檢測(cè)器111進(jìn)行區(qū)域檢測(cè)。當(dāng)強(qiáng)制型TR驅(qū)動(dòng)電路501保持固定電壓-Vc而不是+Vc時(shí)，跟蹤調(diào)節(jié)器117使透鏡118向光盤(pán)的外側(cè)移動(dòng)，能得到相同的結(jié)果。
系統(tǒng)控制器503控制橫移驅(qū)動(dòng)電路106，TE開(kāi)關(guān)電路109，以及TR驅(qū)動(dòng)信號(hào)開(kāi)關(guān)電路502。
圖6是表示第二實(shí)施例的光盤(pán)裝置的操作的流程圖。
光盤(pán)頭104中的物鏡通常稱(chēng)為聚光裝置；光盤(pán)頭中的跟蹤調(diào)節(jié)器稱(chēng)為跟蹤調(diào)節(jié)裝置；強(qiáng)制型TR驅(qū)動(dòng)電路501稱(chēng)為強(qiáng)制型TR驅(qū)動(dòng)裝置；以及系統(tǒng)控制器503稱(chēng)為控制裝置。
在其讀出坑檢測(cè)信號(hào)以前，系統(tǒng)控制器503使開(kāi)關(guān)電路502轉(zhuǎn)到點(diǎn)劃線(xiàn)位置(步601)，以便把強(qiáng)制型TR驅(qū)動(dòng)電路501與跟蹤調(diào)節(jié)器117連接。從強(qiáng)制型TR驅(qū)動(dòng)電路501輸出的強(qiáng)制驅(qū)動(dòng)信號(hào)，如+Vc，被加到光盤(pán)頭104中的跟蹤調(diào)節(jié)器117，以使物鏡以相當(dāng)高的速度徑向移動(dòng)(例如，5KHz的橫向往返運(yùn)動(dòng)頻率)。當(dāng)物鏡移動(dòng)時(shí)，坑型區(qū)檢測(cè)器111產(chǎn)生坑檢測(cè)信號(hào)(步602)。然后開(kāi)關(guān)502返回到實(shí)線(xiàn)位置，以把TR環(huán)形濾波器110與跟蹤調(diào)節(jié)器117相連接。
在上述方法中，當(dāng)讀出檢測(cè)信號(hào)時(shí)，強(qiáng)迫物鏡徑向移動(dòng)，就能檢測(cè)出坑型區(qū)，去除在軌跡交叉信號(hào)中的零交叉點(diǎn)近鄰噪聲的影響。
從強(qiáng)制型TR驅(qū)動(dòng)電路501產(chǎn)生的強(qiáng)制驅(qū)動(dòng)信號(hào)最好為所述跟蹤調(diào)節(jié)器的一次諧波頻率或較低頻率的正弦信號(hào)，代替±Vc。如果應(yīng)用上述頻率的信號(hào)，就能消除由強(qiáng)制驅(qū)動(dòng)信號(hào)的影響引起的透鏡的振動(dòng)。后來(lái)的工作快速和穩(wěn)定地進(jìn)行。不用說(shuō)，另一種方法是加脈沖形狀的電壓。
當(dāng)在第一實(shí)施例中每隔一條橫過(guò)的軌跡檢測(cè)坑型區(qū)時(shí)，希望按照偏心率的估算來(lái)設(shè)定分頻器203的分割率。例如在具有軌跡間距為1.6微米，偏心量為100微米的情況下，分割率設(shè)定在不小于63(100/1.6＝62.5)。因此，在跟蹤伺服完善之前，在讀出坑檢測(cè)信號(hào)從后，由于所述偏心目率的緣故，避免了光束從槽型區(qū)101B移動(dòng)到坑型區(qū)101A。
雖然在第一和第二實(shí)施例中軌跡交叉信號(hào)用于檢測(cè)橫過(guò)的軌跡數(shù)目，但是，可以使用由高頻信號(hào)的二元包絡(luò)信號(hào)得到的信號(hào)等，即可以使用指示光束橫過(guò)的軌跡數(shù)目的任何信號(hào)。
此外，雖然在第一和第二實(shí)施例中每隔一條橫過(guò)的軌跡檢測(cè)坑型區(qū)101A，但是，每隔任意橫過(guò)的軌跡數(shù)目來(lái)檢坑型區(qū)也是可以的。另外，橫過(guò)的軌跡數(shù)目可以不是固定值，而可以按照RF檢測(cè)信號(hào)或軌跡交叉信號(hào)的參量變化。例如，當(dāng)光盤(pán)頭104在坑型區(qū)101A徑向移動(dòng)時(shí)，監(jiān)測(cè)RF檢測(cè)信號(hào)和軌道交叉信號(hào)，以檢測(cè)當(dāng)橫過(guò)軌跡時(shí)RF檢測(cè)信號(hào)變化的次數(shù)。然后，根據(jù)檢測(cè)到的次數(shù)確定區(qū)域檢測(cè)時(shí)橫過(guò)的軌跡數(shù)目。如果橫過(guò)的速度很高，那么就可以減少用于區(qū)域檢測(cè)的橫過(guò)的軌跡數(shù)目；如果RF信號(hào)的幅值低，則增加用于區(qū)域檢測(cè)的橫過(guò)的軌跡數(shù)目。
按照第一和第二實(shí)施例，可以省去包絡(luò)電路201b，而根據(jù)從RF信號(hào)中提取的高頻分量來(lái)檢測(cè)RF檢測(cè)信號(hào)，或者，可以采用其他方法。
在上述第一和第二實(shí)施例是這樣安排的，使得在檢測(cè)坑型區(qū)時(shí)，產(chǎn)生高電平信號(hào)。而這樣安排也是可以的，即，使得當(dāng)檢測(cè)坑型區(qū)時(shí)產(chǎn)生低電平信號(hào)。
在第一和第二實(shí)施例中涉及的光盤(pán)分別在其內(nèi)圓周部分和外圓周部分有坑型區(qū)和槽型區(qū)。即使使用分別在其外圓周部分和內(nèi)圓周部分具有坑型區(qū)和槽型區(qū)的光盤(pán)，或者使用具有多個(gè)坑型區(qū)和多個(gè)槽型區(qū)的光盤(pán)也能得到相同的效果。
第一實(shí)施例描述了坑型區(qū)檢測(cè)電路的例子。所述電路是可以改變的，只要該電電適合于根據(jù)光束橫過(guò)的軌跡數(shù)目來(lái)判斷RT信號(hào)中存在/不存在高頻分量。例如，RF信號(hào)能鎖定在軌跡交叉信號(hào)的上升邊緣，如果鎖定的結(jié)果在高電平，那么，坑型檢測(cè)信號(hào)就轉(zhuǎn)變到高電平。或者，RF信號(hào)由軌跡交叉信號(hào)鎖定預(yù)定的次數(shù)，而根據(jù)鎖定結(jié)果為高電平時(shí)的所述預(yù)定的次數(shù)來(lái)檢測(cè)坑型區(qū)。能夠得到和第一實(shí)施例中相同的效果。
在第二實(shí)施例中，在讀出坑檢測(cè)信號(hào)后，開(kāi)關(guān)502被轉(zhuǎn)換到TR環(huán)形濾波器101。甚至當(dāng)使開(kāi)關(guān)502選擇其他狀態(tài)，例如，沒(méi)有驅(qū)動(dòng)信號(hào)的狀態(tài)或者類(lèi)似的狀態(tài)，以及在讀出坑檢測(cè)信號(hào)之后使開(kāi)關(guān)502進(jìn)入其他狀態(tài)，也能達(dá)到本發(fā)明的像上面一樣的效果。
如上所述，當(dāng)光盤(pán)具有坑型區(qū)和槽型區(qū)二種區(qū)域時(shí)，按照本發(fā)明能檢測(cè)出坑型區(qū)和槽型區(qū)，所以保證了穩(wěn)定的跟蹤伺服。而且，按照本發(fā)明的光盤(pán)裝置，能高速地進(jìn)行對(duì)UTCO區(qū)的訪(fǎng)問(wèn)。
雖然已結(jié)合最佳實(shí)施例并參考附圖對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了充分的描述，也應(yīng)注意到，對(duì)本專(zhuān)業(yè)的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，不同的變化和修改是很明顯的。這種變化和修改應(yīng)理解為包含在如權(quán)利要求書(shū)中所限定的本發(fā)明的范圍內(nèi)，除非它們?cè)匠鲈摲秶?br> 權(quán)利要求
1.一種用于把數(shù)據(jù)記錄到光盤(pán)或從光盤(pán)重現(xiàn)數(shù)據(jù)的光盤(pán)裝置，所述光盤(pán)含有由凹坑沿軌跡記錄數(shù)據(jù)的坑型區(qū)和沿軌跡形成用于記錄數(shù)據(jù)的槽的槽型區(qū)，其特征在于所述光盤(pán)裝置包括光盤(pán)頭裝置(104)，用于投射光束到所述光盤(pán)并根據(jù)從光盤(pán)反射的光產(chǎn)生電信號(hào)，第一發(fā)生裝置(107a)，用于基于所述電信號(hào)產(chǎn)生RF信號(hào)，所述RF信號(hào)表征所述凹坑，第二發(fā)生裝置(107b)，用于基于所述電信號(hào)而產(chǎn)生波動(dòng)信號(hào)并且每一個(gè)波代表橫過(guò)所述軌跡，時(shí)鐘產(chǎn)生裝置(202，203)，用于使用所述波動(dòng)信號(hào)產(chǎn)生時(shí)鐘信號(hào)，檢測(cè)裝置(201)，用于檢測(cè)所述RF信號(hào)并且產(chǎn)生指示所述RF信號(hào)存在的高頻檢測(cè)信號(hào)，以及區(qū)域檢測(cè)裝置(204，205)，用于接收所述時(shí)鐘信號(hào)和所述RF信號(hào)，并且當(dāng)所述光盤(pán)頭裝置(104)橫過(guò)預(yù)定數(shù)目的軌跡時(shí)產(chǎn)生坑型區(qū)檢測(cè)信號(hào)。
2.按照權(quán)利要求1的光盤(pán)裝置，其特征在于所述光盤(pán)頭包括徑向移動(dòng)光束源的跟蹤調(diào)節(jié)裝置(117)。
3.按照權(quán)利要求2的光盤(pán)裝置，其特征在于進(jìn)一步包含環(huán)形濾波裝置(110)，用于接收所述波動(dòng)信號(hào)作為跟蹤誤差信號(hào)和用于產(chǎn)生驅(qū)動(dòng)信號(hào)，以便驅(qū)動(dòng)所述調(diào)節(jié)器，從而把所述光束保持在所述軌跡上。
4.按照權(quán)利要求3的光盤(pán)裝置，其特征在于所述坑型區(qū)檢測(cè)信號(hào)用于在所述坑型區(qū)內(nèi)的跟蹤誤差信號(hào)與所述槽型區(qū)的跟蹤誤差信號(hào)之間改變所述跟蹤誤差信號(hào)的極性。
5.按照如權(quán)利要求2的光盤(pán)裝置，其特征在于進(jìn)一步包括斷路裝置(116)，用于當(dāng)所述光束橫過(guò)軌跡時(shí)把所述跟蹤調(diào)節(jié)裝置(117)，與所述環(huán)形濾波裝置(110)斷開(kāi)。
6.按照權(quán)利要求2的光盤(pán)裝置，其特征在于進(jìn)一步包括強(qiáng)制型跟蹤裝置驅(qū)動(dòng)(501)，用于產(chǎn)生加到所述跟蹤調(diào)節(jié)裝置(117)的強(qiáng)制信號(hào)，以便強(qiáng)迫光束橫過(guò)軌跡。
7.按照權(quán)利要求1的光盤(pán)裝置，其特征在于所述軌跡預(yù)定數(shù)目大于光盤(pán)的偏心量復(fù)蓋的軌跡數(shù)目。
全文摘要
一種把數(shù)據(jù)記錄到光盤(pán)或從光盤(pán)重現(xiàn)數(shù)據(jù)的光盤(pán)裝置，該光盤(pán)含有由凹坑沿軌跡記錄數(shù)據(jù)的坑型區(qū)和沿軌跡形成記錄數(shù)據(jù)的槽的槽型區(qū)。光盤(pán)裝置包括光盤(pán)頭(104)，用于投射光束到光盤(pán)上；和光檢測(cè)器陣列(119)，用于接收反射光。預(yù)放大器(107)被連接到光檢測(cè)器陣列，用于產(chǎn)生跟蹤誤差信號(hào)和表征凹坑的RF信號(hào)。跟蹤誤差信號(hào)在觸發(fā)器(204，205)中用作時(shí)鐘信號(hào)而RF信號(hào)用作起始設(shè)定信號(hào)，以便觸發(fā)器(205)產(chǎn)生指示光盤(pán)頭處在坑型區(qū)的信號(hào)。
文檔編號(hào)G11B7/09GK1147126SQ9611053
公開(kāi)日1997年4月9日 申請(qǐng)日期1996年7月8日 優(yōu)先權(quán)日1995年7月7日
發(fā)明者相馬康人, 芝野正行 申請(qǐng)人:松下電器產(chǎn)業(yè)株式會(huì)社