專利名稱：用于光學(xué)拾取系統(tǒng)的刀口方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種光學(xué)拾取系統(tǒng)，特別是涉及一種用于光學(xué)拾取系統(tǒng)中的改進(jìn)的刀口方法，通過(guò)裝入其中具有一對(duì)反射表面的刀口而減小尺寸。
光學(xué)信息記錄盤例如LD的一個(gè)通常的問(wèn)題是發(fā)生聚焦誤差，已經(jīng)引進(jìn)了刀口方法來(lái)解決該問(wèn)題。
在

圖1中，說(shuō)明了一種利用刀口方法的已有技術(shù)的光學(xué)拾取系統(tǒng)100，如在共有未決的申請(qǐng)中國(guó)專利申請(qǐng)?zhí)?4120131.7題為“用于檢測(cè)光學(xué)拾取系統(tǒng)中的聚焦誤差信號(hào)的刀口方法”中所公布的，在此它作為參考。該光學(xué)拾取系統(tǒng)100包括一光源110、一刀口120、一物鏡130、一光盤140和一光學(xué)檢測(cè)器150。在系統(tǒng)100中，從光源(例如激光二極管)110發(fā)射的光束進(jìn)入刀口120，并被裝入其中的反射表面122部分地反射。由反射表面122反射的光束穿過(guò)物鏡133到達(dá)光盤140作為一聚焦的光束。該聚焦的光束從光盤140反射，然后經(jīng)過(guò)刀口120。刀口120安排得使得反射表面122相對(duì)于光軸傾斜一預(yù)定的角度θ，該光軸由光學(xué)檢測(cè)器150的中點(diǎn)和物鏡130的焦點(diǎn)形成。經(jīng)過(guò)刀口120的聚焦的光束照射到光學(xué)檢測(cè)器150的光電元件152、154上。每個(gè)光電元件能夠產(chǎn)生光束強(qiáng)度測(cè)量值形式的一個(gè)輸出，從第1和第2光電元件152、154來(lái)的輸出被發(fā)送到差分放大器160的兩個(gè)輸入端口162、164上，該放大器通過(guò)比較來(lái)自光學(xué)檢測(cè)器150的第1和第2光電元件152、154的輸出來(lái)產(chǎn)生一個(gè)聚焦誤差信號(hào)。
上述光學(xué)拾取系統(tǒng)100的一主要的缺點(diǎn)是尺寸大，這是由于光學(xué)檢測(cè)器150的位置是在相對(duì)于刀口120的光盤的對(duì)面，由此使整個(gè)光學(xué)拾取系統(tǒng)的尺寸很大。
因此本發(fā)明的主要目的是提供一種減小了尺寸的光學(xué)拾取系統(tǒng)。
根據(jù)本發(fā)明，提供了一種利用刀口方法讀取存儲(chǔ)在光盤上的信息信號(hào)的光學(xué)拾取系統(tǒng)，所述系統(tǒng)包括用于產(chǎn)生光束的光源；用于檢測(cè)該光束的光學(xué)檢測(cè)器；用于將照射到其上的光束的一部分聚焦到光盤上及將光盤反射的光束聚焦到光學(xué)檢測(cè)器的物鏡；和帶有第1、第2表面的刀口，其中第2表面反射光束部分至物鏡，第1表面反射由光盤所反射的光束至光學(xué)檢測(cè)器，由此使得該光學(xué)拾取系統(tǒng)可從光盤上讀取信息信號(hào)。
本發(fā)明及上述和其他的目的與優(yōu)點(diǎn)將從下面的對(duì)優(yōu)選實(shí)施例的說(shuō)明變得顯而易見(jiàn)，結(jié)合以下的附圖，其中圖1表示已有技術(shù)的光學(xué)拾取系統(tǒng)的側(cè)視圖；圖2表示利用根據(jù)本發(fā)明的刀口的光學(xué)拾取系統(tǒng)的側(cè)視圖。
圖2中顯示了根據(jù)本發(fā)明的光學(xué)拾取系統(tǒng)200的側(cè)視圖，它包括光源210，例如半導(dǎo)體激光或激光二極管，用于產(chǎn)生一光束；一物鏡230；一光學(xué)檢測(cè)器250和一帶有一平行六面體底座222的刀口220，平行六面體底座由對(duì)光束透明的玻璃制成，該刀口220還有上、下、第1、第2側(cè)表面223、225、224、226，其中刀口220可以例如通過(guò)分別在第1、第2側(cè)表面224、226上沉淀能夠反射光束的物質(zhì)來(lái)制成，由此利用第1、第2側(cè)表面224、226的每個(gè)部分作為第1、第2反射層227、228，其中第1反射層227從上表面223向下沿伸一第1預(yù)定長(zhǎng)度，第2反射層228從上表面223向下沿伸一第2預(yù)定長(zhǎng)度。在本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施例中，因?yàn)榈犊?20是平行六面體的，上表面223與下表面225是平行的，上表面和第1側(cè)表面223、224之間的角度等于下表面與第2側(cè)表面225、226之間的角度，并且第2預(yù)定長(zhǎng)度大于第1預(yù)定長(zhǎng)度。另外，如果上表面和第2側(cè)表面223、226之間的角度為45°，那么最好第2預(yù)定長(zhǎng)度等于第1預(yù)定長(zhǎng)度的二倍。
在系統(tǒng)200中，從光源210發(fā)出的光束進(jìn)入刀口220的第2側(cè)表面，其中上表面223和第2側(cè)表面226之間的角度小于90°，并且第2側(cè)表面226和下表面225之間的角度大于90°。第2側(cè)表面226安排得使第1光軸260穿過(guò)第1反射層227的上邊緣線的中心及第2反射層228的下邊緣線的中心，其中該第1光軸260通過(guò)連接物鏡230的中點(diǎn)和物鏡230的焦點(diǎn)244而形成。光源210放置的位置使得第2側(cè)表面相對(duì)于第2光軸262傾斜一預(yù)定的角度θ1，例如45°，第2光軸262是通過(guò)連接光源210的中點(diǎn)和第1光軸與第2反射層228的下邊緣線的交點(diǎn)而形成的。值得注意的是從光源210發(fā)出的光束的中心線是沿著第2光軸262的方向。本例中，第2側(cè)表面226的第2反射層228作為刀口，由此從光源210發(fā)出的光束被分成兩部分，即由第2反射層228通過(guò)平行六面體底座222的上表面223反射到物鏡230的第一部分和穿過(guò)第2側(cè)表面226的其余部分的對(duì)讀取存儲(chǔ)在光盤240上的信息信號(hào)不起任何作用的光束的剩余部分。然后，物鏡230將入射到其上的光束聚焦到光盤240的記錄表面242上。隨后，由光盤240的記錄表面242反射的光束在第1反射層227反射之后，由物鏡230聚焦到光學(xué)檢測(cè)器250上，其中上表面223和第1側(cè)表面224之間的角度大于90°。
圖2中點(diǎn)劃線代表由光盤240反射之后的由刀口220的第1反射層227反射的照射到光學(xué)檢測(cè)器250上的光束的光路。光學(xué)檢測(cè)器250放置在從第1側(cè)表面224反射之后的光束的焦點(diǎn)處。光學(xué)檢測(cè)器250的位置可以通過(guò)改變預(yù)定的角度θ1來(lái)調(diào)節(jié)，由此使得光學(xué)檢測(cè)器250位于物鏡230和光源210之間。
經(jīng)過(guò)刀口220的第1反射層227的光束入射到光學(xué)檢測(cè)器250的光電元件上(未示出)。每個(gè)光電元件能夠產(chǎn)生光束強(qiáng)度測(cè)量值形式的輸出。來(lái)自第1和第2光電元件的輸出被發(fā)送到一個(gè)差分放大器(未示出)，差分放大器通過(guò)比較來(lái)自光學(xué)檢測(cè)器250之第1和第2光電元件的輸出來(lái)生成一個(gè)聚焦誤差信號(hào)，由此使得光學(xué)拾取系統(tǒng)可讀取光盤240的記錄表面242上的信息信號(hào)。
與已有技術(shù)的光學(xué)拾取系統(tǒng)100相比，本發(fā)明的光學(xué)拾取系統(tǒng)200具有更簡(jiǎn)單的結(jié)構(gòu)。這是通過(guò)在其中結(jié)合具有第1、第2反射層227、228的刀口220實(shí)現(xiàn)的，第1、第2反射層227、228用于反射入射到其上的光束，第2反射層228能夠反射由光源210發(fā)出的光束的一部分到物鏡230，且第1反射層227能夠反射由光盤240反射的光束至光學(xué)檢測(cè)器250，由此使得光學(xué)檢測(cè)器250放置在光源210和物鏡230之間，這將減小光學(xué)拾取系統(tǒng)200的長(zhǎng)度。
盡管已結(jié)合優(yōu)選實(shí)施例對(duì)本發(fā)明進(jìn)行了描述，在不脫離后敘權(quán)利要求中所規(guī)定的本發(fā)明的精神和范圍的情況下可以作出其他的修改和變化。
權(quán)利要求
1.一種光學(xué)拾取系統(tǒng)，用于利用刀口法讀取存儲(chǔ)于光盤上的信息信號(hào)，所述系統(tǒng)包括用于產(chǎn)生一光束的裝置；用于檢測(cè)該光束的裝置；及具有第一和第二表面的光學(xué)裝置，其中第二表面反射從該生成裝置發(fā)出的光束的一部分至光盤，第一表面反射由該光盤反射的光束至該檢測(cè)裝置以由此使該光盤拾取系統(tǒng)可從該光盤上讀取信息信號(hào)。
2.如權(quán)利要求1的光學(xué)拾取系統(tǒng)，還包括一物鏡，用于將第二表面所反射的光束的一部分聚焦到該光盤上，及在該光學(xué)裝置的第一表面反射之后將該光盤反射的光束聚焦到該檢測(cè)裝置上。
3.如權(quán)利要求2的光學(xué)拾取系統(tǒng)，其中該光學(xué)裝置包括具有第一和第二表面并由對(duì)光束透明的玻璃制成的平行六面體底座，其中第二表面的一部分包覆一層可反射入射其上的光束的一部分的材料，第二表面的其余部分傳送光束的其余部分，且第一表面的一部分包覆同樣的材料，該材料反射從該光盤反射的光束至該檢測(cè)裝置。
4.如權(quán)利要求3的光學(xué)撿取系統(tǒng)，其中該第二表面安排得使得第一光軸穿過(guò)第一表面包覆部分的上邊緣線的中心及第二表面的包覆部分的下邊緣線的中心，其中第一光軸是由連接物鏡的中點(diǎn)至物鏡的焦點(diǎn)形成的。
5.如權(quán)利要求4的光學(xué)拾取系統(tǒng)，其中該生成裝置所處的位置使得第二表面部分相對(duì)于第二光軸傾斜一預(yù)定的角度θ1，第二光軸是由連接生成裝置的中點(diǎn)至第一光軸與第二表面的交點(diǎn)形成的。
6.如權(quán)利要求5的光學(xué)拾取系統(tǒng)，其中該預(yù)定的角度θ1為45度。
7.如權(quán)利要求6的光學(xué)拾取系統(tǒng)，其中該檢測(cè)裝置放置于被從第一表面的包覆部分反射之后的光束的焦點(diǎn)。
8.如權(quán)利要求7的光學(xué)拾取系統(tǒng)，其中從生成裝置發(fā)出的光束的中心線沿著第二光軸方向。
9.如權(quán)利要求8的光學(xué)拾取系統(tǒng)，其中第二表面部分用作刀口。
10.一種用于光學(xué)拾取系統(tǒng)的光學(xué)設(shè)備，所述設(shè)備包括一平行六面體底座，由對(duì)光學(xué)拾取系統(tǒng)中所使用的光束透明的材料制成，具有第一、第二、上、下表面，其中第一、下表面之間的角度大于90度；第一反射層，由能夠反射光束的材料制成，形成在第一表面的一部分之上，其中該部分從平行六面體底座的上表面向下延伸一第一預(yù)定長(zhǎng)度；及第二反射層，由相同材料制成，形成在第二表面的一部分上，其中該部分從平行六面體底座的上表面向下延伸一第二預(yù)定長(zhǎng)度。
11.如權(quán)利要求10的光學(xué)設(shè)備，其中該第二預(yù)定長(zhǎng)度大于該第一預(yù)定長(zhǎng)度。
12.如權(quán)利要求11的光學(xué)設(shè)備，其中若上表面與第二表面之間的角度為45°，由此使該第二預(yù)定長(zhǎng)度等于第一預(yù)定長(zhǎng)度的兩倍。
全文摘要
一種光學(xué)拾取系統(tǒng),讀取光盤記錄表面上的信息信號(hào),包括生成光束的光源、檢測(cè)光盤上的信息信號(hào)的光學(xué)檢測(cè)器、將入射至其上的光束的一部分聚焦到光盤及將光盤反射的光束聚焦到檢測(cè)器上的物鏡及一刀口,該刀口有一平行六面體底座。它由對(duì)光束透明的材料制成,第一、第二反射層形成在該平行六面體底座上,其中第二反射層反射光束部分至物鏡,第一反射層反射由光盤反射的光束至光束檢測(cè)器以使該光學(xué)拾取系統(tǒng)從光盤上讀取信息信號(hào)。
文檔編號(hào)G11B7/125GK1181582SQ9711994
公開(kāi)日1998年5月13日 申請(qǐng)日期1997年10月28日 優(yōu)先權(quán)日1996年10月28日
發(fā)明者崔良吾 申請(qǐng)人:大宇電子株式會(huì)社