專利名稱：跟蹤淺/深槽型光盤的方法和采用該方法的裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種用于在具有基面和槽的高密度光盤上記錄數(shù)據(jù)和從該光盤上重現(xiàn)數(shù)據(jù)的跟蹤方法，以及采用該方法的跟蹤裝置，更具體地說，涉及一種對于裝在記錄和/或重現(xiàn)系統(tǒng)中的淺槽型光盤和深槽型光盤兩者都精確跟蹤伺服控制的方法，還涉及采用該方法的裝置。
近來，在光盤技術(shù)領(lǐng)域中的光盤正在由低密度的激光視盤(LD)和激光唱盤(CD)向高密度的數(shù)字多功能盤(DVD)發(fā)展。目前開發(fā)的DVD加大了在光拾取器中的物鏡的數(shù)值孔徑(NA)，并利用短波長的激光，因此，當(dāng)與已有的CD比較時，大大提高了記錄密度。例如利用650nm波長的激光束開發(fā)一種記錄容量達(dá)2.6GB的數(shù)字多功能盤隨機(jī)存取存儲器(DVD-RAM)。最近通過使光盤上的光道間距變窄以及進(jìn)一步縮短用來實際記錄信息的凹坑的長度已經(jīng)開發(fā)了一種4.7GB的DVD-RAM。
通常，具有可記錄和可重現(xiàn)用的基面/凹槽的光盤將各基面和凹槽按照相同的間距周期性地分布。這里，記錄和/或重現(xiàn)系統(tǒng)在裝入的光盤上的每一基面和凹槽上記錄數(shù)據(jù)及從其重現(xiàn)信息。

圖1表示在淺槽型光盤上的基面和凹槽的結(jié)構(gòu)。淺槽型光盤定義為，在基片上形成凹槽深度為λ/8n到λ/4n的光盤，其中λ是光拾取器的激光波長，n是光盤基片的折射率。如圖1所示，光盤的光道間距3為0.74μm，它被定義為從基面1的中心到凹槽2的中心的寬度范圍，凹槽深度4為λ/6.5n，此處該光盤采用650nm波長的激光入射光5。同時，圖2表示在深槽型光盤上的基面和凹槽的結(jié)構(gòu)，該光盤與圖1中所示的光盤相比提高了記錄密度。深槽型光盤定義為，在基片上形成的深度為λ/4n到λ/2n凹槽的光盤，其中λ是光拾取器的激光波長，n是光盤基片的折射率。如圖2所示，光盤具有較短的光道間距3，為0.58μm，和具有比圖1所示更短的凹坑，其中該光盤采用比圖1中所示更短波長的激光入射光5，為630nm。在這種情況下，在重現(xiàn)數(shù)據(jù)的過程中由于受記錄在相鄰光道上的信號的影響使串?dāng)_增加，以及在記錄和擦除數(shù)據(jù)的過程中對于相鄰光道的影響更大。為了解決這些問題，圖2中所示光盤的凹槽深度4為λ/3n比圖1所示的深，以此降低來自相鄰光道的干擾。
同時，應(yīng)當(dāng)從光盤得到跟蹤誤差信號(TES)，以便對光拾取器進(jìn)行伺服控制，使得在記錄和重現(xiàn)數(shù)據(jù)的過程中，來自光拾取器的光束光點執(zhí)行精確跟蹤光盤上的目標(biāo)光道的中心線。在為此目的主要采用的推挽方法中，相對于光道中心線左右對稱分布的二分區(qū)光敏二極管(two-division-photodiodes,2D-PD)或四分區(qū)光敏二極管(4D-PD)，檢測由光盤反射和衍射的光的強(qiáng)度，得到所檢測的相對于光道中心線的左右信號的光強(qiáng)度差作為跟蹤誤差信號。該推挽法中的跟蹤誤差信號被稱為推挽信號(PPS)。通過利用所得到的跟蹤誤差信號跟蹤伺服部分以互補(bǔ)方式(complementarily)驅(qū)動用于驅(qū)動物鏡的驅(qū)動機(jī)構(gòu)或者用于驅(qū)動整個光拾取器部分的粗略移動用驅(qū)動器，以此對光拾取器進(jìn)行伺服控制，使得光拾取器的光束光點對目標(biāo)光道的中心線能進(jìn)行精確的跟蹤。
然而，從上述深槽型光盤檢測的跟蹤誤差信號與從淺槽型光盤檢測的跟蹤誤差信號相比相位(極性)相反。因此，當(dāng)用于淺槽型光盤的記錄和/或重現(xiàn)系統(tǒng)對于深槽型光盤進(jìn)行跟蹤伺服控制時，在跟蹤誤差信號中產(chǎn)生一個誤差。因此，不能實現(xiàn)精確跟蹤伺服控制。
為了解決上述問題，本發(fā)明的目的是提供一種用于對淺槽型光盤和深槽型光盤兩者都進(jìn)行精確跟蹤伺服控制的跟蹤方法。
本發(fā)明的另一個目的是提供一種用于體現(xiàn)上述跟蹤方法的跟蹤裝置。
為了實現(xiàn)本發(fā)明的上述目的，根據(jù)本發(fā)明的一個方面，提供一種用于對裝在一種用于淺槽型光盤和深槽型光盤兩者的記錄和/或重現(xiàn)系統(tǒng)中的光盤進(jìn)行跟蹤的跟蹤方法，該跟蹤方法包含的步驟有(a)分析從所裝入的光盤檢測的跟蹤誤差信號，然后鑒別該光盤屬于淺槽型還是屬于深槽型；(b)當(dāng)按照鑒別的結(jié)果確認(rèn)裝入的光盤屬深槽型時，將檢測的跟蹤誤差信號的相位進(jìn)行反相，而當(dāng)光盤屬于淺槽型時，該跟蹤誤差信號的相位不進(jìn)行反相；以及(c)利用在步驟(b)中得到跟蹤誤差信號對光束光點進(jìn)行伺服控制，以實現(xiàn)對目標(biāo)光道的中心線的精確跟蹤。
根據(jù)本發(fā)明的另一個方面，提供一種用于對裝在一種用于淺槽型光盤和深槽型光盤的記錄和/或重現(xiàn)系統(tǒng)中的光盤進(jìn)行跟蹤的跟蹤方法，該跟蹤方法包含的步驟有(a)從裝入的光盤上檢測跟蹤誤差信號和射頻信號；(b)從檢測的射頻信號中抽取先前記錄在光盤的首區(qū)(header region)中的槽型識別信息，然后，根據(jù)抽取的槽型識別信息鑒別該光盤屬于淺槽型光盤還是屬于深槽型光盤；(c)當(dāng)按照鑒別的結(jié)果確認(rèn)裝入的光盤屬于深槽型時，將檢測的跟蹤誤差信號的相位進(jìn)行反相，而當(dāng)該光盤屬于淺槽型時，該跟蹤誤差信號的相位不進(jìn)行反相；以及(d)利用在步驟(c)中得到的跟蹤誤差信號，對光束光點進(jìn)行伺服控制，以便實現(xiàn)對目標(biāo)光道的精確跟蹤。
為了實現(xiàn)本發(fā)明的另一個目的，提供一種用于對裝在一種用于淺槽型光盤和深槽型光盤的記錄和/或重現(xiàn)系統(tǒng)中的光盤進(jìn)行跟蹤的跟蹤裝置，該跟蹤裝置包含一光信號探測器，用于從裝入的光盤檢測跟蹤誤差信號；一槽型鑒別器，用于分析來自光信號探測器檢測的跟蹤誤差信號，鑒別裝入的光盤屬于淺槽型還是屬于深槽型，并響應(yīng)于該鑒別結(jié)果產(chǎn)生一控制信號；一相位校正裝置，用于根據(jù)來自槽型鑒別器的控制信號對由光信號探測器檢測的跟蹤誤差信號的相位進(jìn)行校正；以及一跟蹤伺服部分，用于利用由相位校正裝置得到的跟蹤誤差信號，對光束光點進(jìn)行伺服控制，以便實現(xiàn)對目標(biāo)光道的中心線的精確跟蹤。
還提供有一種用于對裝在一種用于淺槽型光盤和深槽型光盤的記錄和/或重現(xiàn)系統(tǒng)中的光盤進(jìn)行跟蹤的跟蹤裝置，該跟蹤裝置包含一光信號探測器，用于從裝入的光盤檢測跟蹤誤差信號和射頻信號；一槽型鑒別器，用于從由光信號探測器檢測的射頻信號中抽取先前記錄在光盤的首區(qū)中的槽型識別信息，然后鑒別該光盤屬于淺槽型光盤還是屬于深槽型光盤，并響應(yīng)于鑒別結(jié)果產(chǎn)生一控制信號；相位校正裝置，用于當(dāng)提供深槽型的控制信號時，對由光信號探測器輸出的跟蹤誤差信號的相位反相；而當(dāng)由槽型鑒別器提供淺槽型的控制信號時，對于由光信號探測器輸出的跟蹤誤差信號的相位不進(jìn)行反相；以及一跟蹤伺服部分，用于利用在相位校正裝置中得到的跟蹤誤差信號，對光束光點進(jìn)行伺服控制，以便實現(xiàn)對目標(biāo)光道的中心線的精確跟蹤。
參照附圖對一優(yōu)選實施例進(jìn)行介紹，其中圖1表示用于記錄和重現(xiàn)的具有基面和凹槽的淺槽型光盤的一個實例；圖2表示用于記錄和重現(xiàn)的具有基面和凹槽的深槽型光盤的一個實例；圖3是一方塊圖，表示根據(jù)本發(fā)明的優(yōu)選實施例的用于淺槽型光盤和深槽型光盤的跟蹤裝置的結(jié)構(gòu)；以及圖4是一流程圖，表示根據(jù)本發(fā)明的一優(yōu)選實施例的用于淺槽型光盤和深槽型光盤的跟蹤方法。
下面參照附圖介紹本發(fā)明的優(yōu)選實施例。
參閱圖3，該圖表示根據(jù)本發(fā)明的一優(yōu)選實施例的跟蹤裝置，一光信號探測器30根據(jù)推挽方法從裝在記錄和/或重現(xiàn)系統(tǒng)中的光盤檢測跟蹤誤差信號。一槽型鑒別器32分析由光信號探測器30輸出的跟蹤誤差信號，鑒別當(dāng)時裝入的光盤屬于淺槽型還是屬于深槽型，并響應(yīng)于鑒別結(jié)果產(chǎn)生控制信號C1或C2。一相位校正部分34根據(jù)來自槽型鑒別器32的控制信號對由光信號探測器30輸出的跟蹤誤差信號的相位不進(jìn)行反相或進(jìn)行反相。因此，相位校正部分34校正所檢測的跟蹤誤差信號的相位并輸出校正的結(jié)果到跟蹤伺服部分36。在這一實施例中，相位校正部分36包含反相器34a和開關(guān)轉(zhuǎn)換部分34b。反相器34a將由光信號探測器30輸出的跟蹤誤差信號的相位進(jìn)行反相并輸出經(jīng)反相的結(jié)果到開關(guān)轉(zhuǎn)換部分34b。如果由槽型鑒別器32提供淺槽型光盤的控制信號C1，開關(guān)轉(zhuǎn)換部分34b選擇由光信號探測器30輸出的跟蹤誤差信號；如果由槽型鑒別器32提供深槽型光盤的控制信號C2，開關(guān)轉(zhuǎn)換部分34b選擇已在反相器34a中經(jīng)反相的跟蹤誤差信號，然后將所選擇的信號輸出到跟蹤伺服部分36。跟蹤伺服部分36利用已在相位校正部分34中經(jīng)校正的跟蹤誤差信號，對光束光點進(jìn)行伺服控制，以便實現(xiàn)對目標(biāo)光道中心線的精確跟蹤。
下面參照圖4中所示的流程圖介紹圖3中所示的跟蹤裝置的工作情況。
如果將一光盤裝入包含如圖3中所示的跟蹤裝置的記錄和/或重現(xiàn)系統(tǒng)(未表示出)(步驟410)，在該系統(tǒng)中的光拾取器(示表示)移動到所裝光盤的初始位置，然后進(jìn)行聚焦，以便使光束光點精確地形成在光盤的記錄表面上(步驟420)。如果完成聚焦，系統(tǒng)將光拾取器的光束光點移動到一記錄有同步信號和扇區(qū)地址信息等的首區(qū)。
然后，根據(jù)本發(fā)明的如圖3中所示的跟蹤裝置鑒別當(dāng)時裝入該系統(tǒng)中的用于記錄和/或重現(xiàn)的具有基面和凹槽的光盤屬于淺槽型光盤還是屬于深槽型光盤(步驟431)。更詳細(xì)地講，如果由光拾取器的激光發(fā)射形成的光束光點從在光盤上的首區(qū)衍射和反射，圖3中所示的光信號探測器30就會檢測到跟蹤誤差信號。槽型鑒別器32分析由光信號探測器30輸出的跟蹤誤差信號并鑒別裝入的光盤的類型。按照鑒別的結(jié)果，如果裝入的光盤屬于淺槽型，槽型鑒別器32產(chǎn)生第一控制信號C1，以及如果該光盤屬于深槽型則產(chǎn)生第二控制信號C2。這里，根據(jù)從淺槽型光盤檢測的跟蹤誤差信號的相位。如果從當(dāng)時裝入的光盤檢測的跟蹤誤差信號的相位未反相，槽型鑒別器32就確定該光盤屬于淺槽型光盤，如果已反相就確定該光盤屬于深槽型光盤。在這種情況下，最好用于鑒別光盤槽型的跟蹤誤差信號是從光盤的首區(qū)檢測的，然而并不局限于此。
同時，如果由槽型鑒別器32提供第一控制信號C1，圖3中所示的開關(guān)轉(zhuǎn)換部分34b選擇由光信號探測器30輸出的具有未反相信號的跟蹤誤差信號，并將所選擇的結(jié)果輸出到跟蹤伺服部分36；如果由槽型鑒別器32提供第二控制信號C2，則選擇由反相器34a輸出的具有反相信號的跟蹤誤差信號，并將選擇的結(jié)果輸出到跟蹤伺服部分36(步驟432)。跟蹤伺服部分36利用由開關(guān)轉(zhuǎn)換部分34b提供的跟蹤誤差信號，對光束光點進(jìn)行伺服控制，以便實現(xiàn)對目標(biāo)光道中心線的精確跟蹤(步驟433)。上述步驟431到433，對應(yīng)于根據(jù)本發(fā)明的光盤跟蹤方法。
如果由光拾取器產(chǎn)生的光束光點對光道的中心線實現(xiàn)精確跟蹤，記錄和/或重現(xiàn)系統(tǒng)移動光拾取器，以便讀出代表每一扇區(qū)開始的識別數(shù)據(jù)(ID)(步驟440)。然后，上述系統(tǒng)根據(jù)讀出的ID將光拾取器移動到數(shù)據(jù)區(qū)的目標(biāo)扇區(qū)，以便在其上記錄數(shù)據(jù)或從其重現(xiàn)數(shù)據(jù)(步驟450)。
同時有另一種用于鑒別裝入記錄和/或重現(xiàn)系統(tǒng)的光盤槽型的方法，預(yù)先在光盤上的首區(qū)記錄表明淺槽型或是深槽型的槽型識別信息，并根據(jù)讀出的槽型識別信息鑒別裝入的光盤屬于淺槽型光盤還是深槽型光盤。
根據(jù)本發(fā)明的另一種跟蹤裝置(未示出)，利用一種用于實施上述另一種槽型鑒別方法的改進(jìn)的光信號探測器和改進(jìn)的槽型鑒別器替代在圖3中所示的各組成部分中的光信號探測器30和槽型鑒別器32。簡言之，該改進(jìn)的光信號探測器從裝入的光盤檢測跟蹤誤差信號，同時從其再現(xiàn)一射頻(RF)信號。例如，當(dāng)在光信號探測器中采用四分區(qū)光敏二極管時，通過將來自每個分區(qū)光敏二極管的所有檢測信號相加得到RF信號。該RF信號經(jīng)過一預(yù)定的信號處理單元提供到改進(jìn)的槽型鑒別器?？梢圆捎靡晃词境龅南到y(tǒng)控制器或伺服控制器的改進(jìn)槽型控制器鑒別先前加入的從光盤上的首區(qū)讀出的RF回放信號中間的槽型識別信息，以此確定光盤的槽型。此外，槽型鑒別器根據(jù)鑒別結(jié)果將控制信號C1或C2提供到圖3所示裝置中的反相器34。由于該反相器34和伺服跟蹤部分36的結(jié)構(gòu)和功能與圖3所示裝置相同，省略對它們的詳細(xì)介紹。此外，由于對本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說很明顯，上述改進(jìn)的結(jié)構(gòu)和功能利用本發(fā)明的技術(shù)構(gòu)思和以上介紹就可由圖3所示裝置得出，故省略它們的附圖。
如上所述，根據(jù)本發(fā)明的光盤的跟蹤方法和裝置，能鑒別裝在記錄和/或重現(xiàn)系統(tǒng)中的光盤的槽型，并且利用根據(jù)鑒別結(jié)果經(jīng)相位校正的跟蹤誤差信號，因此能保證對淺槽型光盤和深槽型光盤的精確跟蹤伺服控制。
雖然這里只是具體地介紹了本發(fā)明的某些實施例，很明顯，在不脫離本發(fā)明的構(gòu)思和范圍的前提下可以進(jìn)行很多改進(jìn)。
權(quán)利要求
1．一種跟蹤方法，用于對裝在一種用于淺槽型光盤和深槽型光盤的記錄和/或重現(xiàn)系統(tǒng)中的光盤進(jìn)行跟蹤，該跟蹤方法包含的步驟有(a)分析從裝入的光盤檢測的跟蹤誤差信號，然后鑒別該光盤屬于淺槽型還是屬于深槽型；(b)當(dāng)按照鑒別的結(jié)果確認(rèn)裝入的光盤屬于深槽型時，將檢測的跟蹤誤差信號的相位進(jìn)行反相，而當(dāng)該光盤屬于淺槽型時，對跟蹤誤差信號不進(jìn)行反相；以及(c)利用在步驟(b)中得到的跟蹤誤差信號，對光束光點進(jìn)行伺服控制，以便實現(xiàn)對目標(biāo)光道的中心線的精確跟蹤。
2．根據(jù)權(quán)利要求1所述的跟蹤方法，其中所述步驟(a)從光盤的首區(qū)檢測跟蹤誤差信號，以鑒別光盤的槽型。
3．根據(jù)權(quán)利要求1所述的跟蹤方法，其中所述步驟(a)根據(jù)從淺槽型光盤檢測的跟蹤誤差信號的相位，如果檢測的跟蹤誤差信號的相位未反相，則鑒別該光盤屬于淺槽型光盤；如果反相，則鑒別該光盤屬于深槽型光盤，其中，淺槽型光盤定義為這樣一種光盤，即在光盤基片上形成深度為λ/8n到λ/4n的槽，深槽型光盤定義為這樣一種光盤，即在光盤基片上形成深度為λ/4n到λ/2n的槽，其中λ是光拾取器的激光波長，n是光盤基片的折射率。
4．一種跟蹤方法，用于對裝在一種用于淺槽型光盤和深槽型光盤的記錄和/或重現(xiàn)系統(tǒng)中的光盤進(jìn)行跟蹤，該跟蹤方法包含的步驟有(a)從裝入的光盤檢測跟蹤誤差信號和射頻信號；(b)從檢測的射頻信號中抽取先前記錄在光盤上的首區(qū)中的槽型識別信息，然后根據(jù)抽取的槽型識別信息鑒別該光盤屬于淺槽型光盤還是屬于深槽型光盤；(c)按照鑒別的結(jié)果，當(dāng)裝入的光盤屬于深槽型時，將檢測的跟蹤誤差信號的相位進(jìn)行反相，當(dāng)光盤屬于淺槽型時，不對跟蹤誤差信號的相位進(jìn)行反相；以及(d)利用在步驟(c)中得到的跟蹤誤差信號對光束光點進(jìn)行伺服控制，以便實現(xiàn)對目標(biāo)光道的中心線的精確跟蹤。
5．一種跟蹤裝置，用于對裝在一種用于淺槽型光盤和深槽型光盤的記錄和/或重現(xiàn)系統(tǒng)中的光盤進(jìn)行跟蹤，該跟蹤裝置包含光信號探測器，用于從裝入的光盤檢測跟蹤誤差信號；槽型鑒別器，用于分析由光信號探測器檢測的跟蹤誤差信號，鑒別裝入的光盤屬于淺槽型還是屬于深槽型，并根據(jù)鑒別結(jié)果產(chǎn)生一控制信號；相位校正裝置，用于根據(jù)來自槽型鑒別器的控制信號對由光信號探測器檢測的跟蹤誤差信號的相位進(jìn)行校正；以及跟蹤伺服部分，用于利用由相位校正裝置得到的跟蹤誤差信號對光束光點進(jìn)行伺服控制，以便實現(xiàn)對目標(biāo)光道的中心線的精確跟蹤。
6．根據(jù)權(quán)利要求5所述的跟蹤裝置，其中所述的槽型鑒別器分析從光盤上的首區(qū)檢測的跟蹤誤差信號，以便確認(rèn)光盤的槽型。
7．根據(jù)權(quán)利要求5所述的跟蹤裝置，其中所述的槽型鑒別器根據(jù)從淺槽型光盤檢測的跟蹤誤差信號的相位，如果檢測的跟蹤誤差信號的相位未反相則鑒別該光盤屬于淺槽型光盤；如果反相，則鑒別該光盤屬于深槽型光盤，其中淺槽型光盤被定義為這樣一種光盤，即在光盤基片上形成深度為λ/8n到λ/4n的槽，深槽型光盤被定義為這樣一種光盤，即在光盤基片上形成深度為λ/4n到λ/2n的槽，其中λ為光拾取器的激光波長，n是光盤基片的折射率。
8．根據(jù)權(quán)利要求5所述的跟蹤裝置，其中所述的相位校正裝置包含反相器，用于對來自光信號探測器的跟蹤誤差信號的相位進(jìn)行反相；以及開關(guān)轉(zhuǎn)換裝置，用于如果由槽型鑒別器提供淺槽型的控制信號，選擇來自光信號探測器的跟蹤誤差信號，及如果由槽型鑒別器提供深槽型的控制信號，則選擇來自反相器的已反相的跟蹤誤差信號，并將所選擇的信號輸出到跟蹤伺服部分。
9．一種跟蹤裝置，用于對裝在一種用于淺槽型光盤和深槽型光盤的記錄和/或重現(xiàn)系統(tǒng)中的光盤進(jìn)行跟蹤，該跟蹤裝置包含光信號探測器，用于從裝入的光盤檢測跟蹤誤差信號和射頻信號；槽型鑒別器，用于從由光信號探測器檢測的射頻信號中抽取先前記錄在光標(biāo)的首區(qū)中的槽型識別信息，然后鑒別該光盤屬于淺槽型光盤還是屬于深槽型光盤，并且根據(jù)鑒別結(jié)果產(chǎn)生一控制信號；相位校正裝置，用于當(dāng)由槽型鑒別器提供深槽型的控制信號時，對由光信號探測器輸出的跟蹤誤差信號的相位進(jìn)行反相，而當(dāng)由槽型鑒別器提供淺槽型的控制信號時，不對由光信號探測器輸出的跟蹤誤差信號的相位進(jìn)行反相；以及跟蹤伺服部分，用于利用在相位校正裝置中得到的跟蹤誤差信號對光束光點進(jìn)行伺服控制，以便對目標(biāo)光道的中心線精確跟蹤。
全文摘要
一種跟蹤光盤的方法,鑒別裝在記錄和/或重現(xiàn)系統(tǒng)中的光盤是淺槽型還是深槽型,根據(jù)鑒別結(jié)果校正從光盤檢測的跟蹤誤差信號的相位,利用校正結(jié)果進(jìn)行跟蹤伺服控制。一種跟蹤裝置,包含:光信號探測器,從光盤上檢測跟蹤誤差信號;槽型鑒別器,鑒別裝入的光盤的槽型并產(chǎn)生響應(yīng)控制信號;相位校正器,根據(jù)該控制信號校正跟蹤誤差信號的相位;跟蹤伺服部分,對光束光點進(jìn)行伺服控制以精確跟蹤目標(biāo)光道的中心線。
文檔編號G11B7/09GK1215882SQ9812344
公開日1999年5月5日 申請日期1998年10月23日 優(yōu)先權(quán)日1997年10月24日
發(fā)明者尹斗燮, 金明準(zhǔn), 鄭承臺, 吉炳龍 申請人:三星電子株式會社