專利名稱:記錄、讀出和削除信息的光熱方法
本發(fā)明屬于以信息載體與電磁場輻射-光源的相對(duì)移動(dòng)為基礎(chǔ)的信息記錄、讀出和消除領(lǐng)域，更具體說是涉及光熱記錄、讀出和消除信息的方法。
本發(fā)明可用于計(jì)算技術(shù)、電視錄相和錄音設(shè)備、信息的存儲(chǔ)和處理系統(tǒng)。
發(fā)明論述了利用光源存儲(chǔ)裝置消除和復(fù)錄信息的功能以解決光熱記錄和儲(chǔ)存數(shù)字信息中的一個(gè)主要問題。目前，實(shí)現(xiàn)信息反復(fù)記錄的方法是利用以硫族化物玻璃為基的介質(zhì)中的可逆磁光變換和結(jié)構(gòu)變化實(shí)現(xiàn)的。實(shí)施起來很復(fù)雜。
已知的一種光熱記錄、讀出和消除信息的方法是以加熱液體薄膜時(shí)所產(chǎn)生的流體動(dòng)力學(xué)效應(yīng)為基礎(chǔ)的。(А.Л.Картужанскuǔ“無銀照相過程”，1984年，《化學(xué)》.列寧格勒，第231-232頁)，根據(jù)這種流體動(dòng)力學(xué)效應(yīng)的存在，當(dāng)薄膜表面受到輻射時(shí)，就使薄膜表面產(chǎn)生與被記錄信息相對(duì)應(yīng)的凹凸起伏變化。這種變化取決于該薄膜表面能量與溫度的關(guān)系。
該已知的信息光熱記錄、讀出和消除方法的特點(diǎn)是信息的儲(chǔ)存時(shí)間短，靈敏度低、分辨率不高，這是由于液體薄膜的準(zhǔn)熱平衡流體動(dòng)力學(xué)弛張所決定的。
已知的另一種光熱記錄、讀出和消除信息方法(А.Л.Картужанскuǔ“無銀照相過程”，1984年，《化學(xué)》，列寧格勒，46-49頁)是通過電暈放電予先對(duì)記錄介質(zhì)的薄膜表面均勻充電，然后將與薄膜材料的光導(dǎo)率相應(yīng)頻譜的記錄圖象信息投射到薄膜表面，使在該表面上首先形成電位的起伏變化，然后軟化整個(gè)薄膜(例如加熱)將潛象顯影，再定影(例如使薄膜冷卻)。用上述方法記錄的影象，可用重復(fù)軟化記錄介質(zhì)的辦法將其抹去。
上述光熱記錄、讀出和消除信息的方法的特點(diǎn)是信息可以多次重復(fù)記錄、靈敏度高、信息儲(chǔ)存的時(shí)間長。但是，在上述方法中，由光塑性材料自身應(yīng)變?cè)斐傻脑胍羲礁?又因?yàn)槭艿奖∧け砻娉潆姇r(shí)間、光塑性材料電流載體的很小的流動(dòng)性、以及記錄介質(zhì)熱弛張時(shí)間的限制，使記錄-抹去的周期很長;分辨率有限;達(dá)不到記錄和讀出信息時(shí)光學(xué)系統(tǒng)分辨率所提供的信息密度;通帶比較窄。上述方法的這些特點(diǎn)是形成潛象與顯影機(jī)制同時(shí)在整個(gè)薄膜表面上實(shí)現(xiàn)的結(jié)果。為了實(shí)現(xiàn)已知的上述方法，必須形成一個(gè)潛象，這個(gè)潛象實(shí)質(zhì)上就是一種隨著投射在薄膜表面上影象的亮度變化而變化的表面充電電荷密度的分布。這個(gè)過程需要相當(dāng)長的時(shí)間，并且是噪音源之一。潛象顯影是采取使整個(gè)薄膜同時(shí)軟化的方法，這就不僅使?jié)撓箫@影成凹凸的形式，也使噪音顯影成凹凸的形式，并且需要相當(dāng)長的時(shí)間用于加熱和冷卻整個(gè)記錄介質(zhì)。因此，這個(gè)公知的方法，在進(jìn)行光熱記錄和消除信息時(shí)，不能保證最理想的薄膜變形條件，對(duì)光學(xué)系統(tǒng)分辨率的極限所能達(dá)到的信息單位就不能實(shí)行信息的光熱記錄和消除。
有一種與上述最接近的光熱記錄，讀出和消除信息的方法(第二次全蘇科學(xué)技術(shù)代表會(huì)議“無線電技術(shù)的發(fā)展問題”，1985年，A.C.波波夫，無線電技術(shù)，電子和通訊科學(xué)技術(shù)學(xué)會(huì)中央和格魯吉亞共和國理事會(huì)，莫斯科，第62-63頁)，根據(jù)這個(gè)方法，將置于襯底上的記錄介質(zhì)，用已調(diào)制的、定位在與信息單位的尺寸同一數(shù)量級(jí)的電磁射線進(jìn)行輻照的方法記錄信息，記錄介質(zhì)在熔融狀態(tài)能沿襯底擴(kuò)散，射線使記錄介質(zhì)熔融并產(chǎn)生變形。此后，由于記錄介質(zhì)冷卻，所形成的已定位的信息單位，在深度方向上以兩種高度水平成凹凸起伏的畢特形式被固定下來。光熱記錄信息的過程就于此結(jié)束。畢特的讀出用聚焦的電磁射線進(jìn)行。此后可以用同時(shí)加熱記錄介質(zhì)整個(gè)表面的方法抹去所記錄的信息。
在上述公知的方法中，在由電磁脈沖持續(xù)時(shí)間確定的短暫時(shí)間間隔內(nèi)，可以光學(xué)系統(tǒng)的最大密度和高信噪比進(jìn)行不連續(xù)的光熱信息記錄和消除。但是，該公知方法的特點(diǎn)是信號(hào)處理的可靠性不高，重復(fù)記錄的作用次數(shù)少。這是由于記錄和消除過程分別向記錄介質(zhì)提出了一系列互相矛盾的要求的結(jié)果。的確，因?yàn)橛涗浗橘|(zhì)的變形是由于表面張力梯度和流體動(dòng)力學(xué)壓力梯度產(chǎn)生的。因此，必須將它加熱到遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出它融化的溫度，以便改善記錄介質(zhì)的粘彈性和增加出現(xiàn)畢特的機(jī)率。但是，這樣的溫度能使記錄介質(zhì)的材料迅速損壞，其后果是能實(shí)現(xiàn)重復(fù)記錄的循環(huán)使用次數(shù)非常少。為了加熱記錄介質(zhì)，必須在記錄信息的過程中采用連續(xù)輻射的大功率激光器，這就大大增加了用于光熱記錄、讀出和消除信息設(shè)備的重量和體積。為了減少作用于記錄介質(zhì)的輻射能，似乎需采用薄膜表面能量小的記錄介質(zhì)，亦即采用那些在液體狀態(tài)不易將襯底浸濕的材料制成的記錄介質(zhì)。但這與信息消除過程時(shí)記錄介質(zhì)薄膜的要求相矛盾。也與信息儲(chǔ)存條件下對(duì)記錄介質(zhì)抗外來影響的穩(wěn)定性要求相矛盾。在上述的已知方法中，所采用的記錄介質(zhì)在記錄、讀出和消除信息的過程中不能調(diào)整其表面能量值。記錄和消除過程對(duì)記錄介質(zhì)表面能量值的要求是互相矛盾的。為了使記錄、讀出和消除信息的條件變得最佳，必須在記錄過程中減少記錄介質(zhì)薄膜的表面能量，而在消除信息過程中增加其能量。
已知的方法在記錄、讀出和消除信息的過程中不允許改變記錄介質(zhì)薄膜表面能量值，因此不能為實(shí)現(xiàn)這些過程創(chuàng)造最佳條件。
本發(fā)明的任務(wù)是在于創(chuàng)造一種光熱記錄、讀出和消除信息的方法，它能允許改變記錄介質(zhì)的表面能量，以保證有可能改變電磁射線對(duì)記錄介質(zhì)的作用值，防止記錄介質(zhì)損壞，從而保證在光熱記錄、讀出和消除信息的過程中記錄介質(zhì)的最佳應(yīng)變條件，這就能提高光熱記錄、讀出和消除信息時(shí)的可靠性并顯著增加信息重復(fù)記錄的循環(huán)使用次數(shù)，而光熱記錄、讀出和消除信息光學(xué)設(shè)備的重量和體積卻可減小。
本發(fā)明的目的是提高光熱記錄、讀出和消除信息的可靠性。
本發(fā)明的另一個(gè)目的是增加信息重復(fù)記錄的循環(huán)使用次數(shù)。
本發(fā)明的目的之一是減小信息記錄、讀出和消除設(shè)備的體積和重量。
本發(fā)明的實(shí)質(zhì)在于一種光熱記錄、讀出和消除信息的方法是在信息的光熱記錄過程中，在襯底的記錄介質(zhì)的深度方向上，使一系列信息單位中的每一個(gè)信息單位都形成具有兩種高度水平的凹凸起伏。而在讀出和消除信息的過程中，則將調(diào)制的電磁射線以與信息單位畢特的尺寸有同一數(shù)量的尺寸大小定位作用在記錄介質(zhì)上。這種記錄介質(zhì)的材料，在軟化時(shí)可以浸流在襯底上。本發(fā)明的特點(diǎn)是，在光熱記錄信息之前，予先在記錄介質(zhì)的表面充以電荷，當(dāng)將調(diào)制電磁射線以與信息單位畢特的尺寸有同一數(shù)量級(jí)的尺寸大小定位作用在記錄介質(zhì)上時(shí)，用于記錄和消除信息的能量要大于記錄介質(zhì)材料軟化的能量，而小于記錄材料被損壞的能量，在讀出信息的過程中，則所需能量小于記錄介質(zhì)材料軟化的能量，并在消除信息之前將記錄介質(zhì)表面上的電荷泄漏掉。
記錄介質(zhì)材料的軟化能量指的是為了使記錄介質(zhì)的材料軟化所必須賦予它的能量;記錄介質(zhì)材料的損壞能量指的是損壞記錄介質(zhì)材料所必須賦予它的能量。
本發(fā)明允許在光熱記錄、讀出和消除信息的情況下，控制記錄介質(zhì)的參數(shù)，并且允許創(chuàng)造高度可靠的、體積小重量輕的存儲(chǔ)裝置。
下面，用證明實(shí)現(xiàn)本發(fā)明的實(shí)施例和附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步說明，其中圖1 本發(fā)明中記錄介質(zhì)上有不連續(xù)記錄信息的局部視圖，在其深度方向上具有兩種高度水平的凹凸起伏形式;
圖2 本發(fā)明中記錄介質(zhì)上有連續(xù)信息記錄的局部視圖，在其深度方向上具有兩種高度水平的凹凸起伏形式;
圖3 本發(fā)明用于光熱記錄、讀出和消除信息光學(xué)裝置的結(jié)構(gòu)、縱剖面圖、帶有保持電暈放電的絲極;
圖4 是根據(jù)本發(fā)明所示帶有電子發(fā)射極的，用于光熱記錄、讀出和消除信息光學(xué)裝置的結(jié)構(gòu)、縱剖面圖。
根據(jù)所提出的光熱記錄、讀出和消除信息的方法，在光熱記錄信息之前，記錄介質(zhì)的表面充以電荷、記錄介質(zhì)的材料可以是半導(dǎo)體，也可以是絕緣體。記錄介質(zhì)的材料應(yīng)當(dāng)具有在軟化狀態(tài)浸流在襯底上的能力。為了在記錄介質(zhì)的表面充上電荷，可以采用熱電子發(fā)射，電暈放電。記錄介質(zhì)的表面能量取決于該記錄介質(zhì)的材料，取決于襯底的材料和涂復(fù)記錄介質(zhì)的方法。已充電記錄介質(zhì)的表面能量是未充電記錄介質(zhì)表面能量與所充電荷彼此互相作用的能量之和。
由于同各電荷之間互相作用的能量是負(fù)的，因此，已充電記錄介質(zhì)的能量小于未充電記錄介質(zhì)的能量。因此，在形成記錄介質(zhì)的表面電荷時(shí)，由于所充電荷的相互作用使記錄介質(zhì)的表面能量減小，甚至可能成為負(fù)的。但是，記錄介質(zhì)的不穩(wěn)定性，只在它隨后將被(例如，激光輻射)熔化的區(qū)域中才會(huì)發(fā)展成深度方向上有兩種高度水平的凹凸起伏(亦即，或者有畢特，或者沒有畢特，但所有畢特的深度是相同的)。
為了在襯底的記錄介質(zhì)的深度方向上形成有兩種高度水平的凹凸起伏，以代表信息單位序列中的每一個(gè)信息單位，在光熱記錄過程中，用已調(diào)制的電磁射線定位作用到與信息單位一畢特的尺寸同一數(shù)量級(jí)大小尺寸的記錄介質(zhì)上。其能量大于記錄介質(zhì)材料的軟化能量，但小于記錄介質(zhì)材料的損壞能量。在這種情況下，可以有各種光熱信息記錄的實(shí)施方案。在不連續(xù)光熱記錄信息的情況下，激光束可以按強(qiáng)度、斷面面積、光束的運(yùn)動(dòng)軌跡進(jìn)行調(diào)制圖1是具有不連續(xù)記錄的記錄介質(zhì)Ⅰ的局部視圖，上有在深度方向上以兩種高度水平凹凸起伏，兩種高度的凹凸代表畢特2。
在連續(xù)光熱記錄信息時(shí)，激光束可以，例如，按它的寬度進(jìn)行調(diào)制。
圖2是具有連續(xù)記錄的記錄介質(zhì)的局部視圖，上有在深度方向上以兩種高度水平的凹凸起伏，兩種高度的凹凸代表畢特2。
在光熱記錄信息時(shí)，由于減少了記錄介質(zhì)的表面能量，就可以允許用電磁射線對(duì)記錄介質(zhì)加熱到小于記錄介質(zhì)材料損壞的溫度，并因此而排除了記錄介質(zhì)損壞的可能，從而增加反復(fù)記錄的循環(huán)使用次數(shù)。在這種情況下，未充電的記錄介質(zhì)的表面能量可能具有相當(dāng)可觀的數(shù)值，這樣就能夠采用在熔融狀態(tài)下可以很好浸濕襯底，在固態(tài)情況下對(duì)襯底又有高附著力的記錄介質(zhì)。因此，在記錄介質(zhì)被放電后，處在信息存儲(chǔ)狀態(tài)時(shí)，(這種放電可以是由于記錄介質(zhì)中的自身漏電，而對(duì)于用絕緣材料制成的記錄介質(zhì)，可以用極性與充電時(shí)的極性相反的電暈放電的方法來放電)，記錄介質(zhì)上的信息不易被抹去的穩(wěn)定性增大。
在讀出的條件下，用定位作用到與信息單位的尺寸同一數(shù)量級(jí)大小的，其能量遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于記錄介質(zhì)材料軟化能量的電磁射線作用于記錄介質(zhì)上。在這樣情況下，記錄介質(zhì)可以處于充電狀態(tài)，也可以處于放電狀態(tài)。兩這樣的能量去作用，不會(huì)導(dǎo)致記錄介質(zhì)材料性能的改變。
在信息消除條件下，為了保證記錄介質(zhì)襯底有高的浸潤性，予先將記錄介質(zhì)放電，然后采用定位到與信息單位的尺寸同一數(shù)量級(jí)的、已調(diào)制的。例如激光光束以大于記錄介質(zhì)軟化能量但小于記錄介質(zhì)材料損壞的能量作用于記錄介質(zhì)。
于是，對(duì)記錄介質(zhì)表面充以電荷保證了有可能改變記錄介質(zhì)的表面能量，因而能改變電磁射線對(duì)記錄介質(zhì)的作用量，從而防止在信息的光熱記錄，讀出和消除過程中記錄介質(zhì)材料的損壞。這樣就能提高光熱記錄、讀出和消除信息的可靠性并顯著增加重復(fù)記錄信息的循環(huán)作用次數(shù)，減小記錄、讀出和消除信息所用設(shè)備的重量和體積。
用于光熱記錄、讀出和消除信息的光學(xué)裝置包括由透明材料制成的園筒3(圖3)，在園筒3的內(nèi)表面復(fù)上薄膜記錄介質(zhì)Ⅰ。在園筒3的外表面復(fù)有透明的導(dǎo)電薄膜4。沿著園筒的軸心，在兩個(gè)絕緣材料做成的端蓋5上固定一個(gè)中心電極6。如圖3，中心電極6產(chǎn)生畢特。在端蓋5上為中心電極6固定1個(gè)或2個(gè)電流輸入端7。園筒3是密封的，當(dāng)采用電暈放電對(duì)記錄介質(zhì)1充電時(shí)，可將它充滿惰性氣體。為了進(jìn)行信息的光熱記錄，采用定位作用到與信息單位的尺寸同一數(shù)量級(jí)大小的已調(diào)制電磁射線8，例如被鏡頭9定位在記錄介質(zhì)1上的激光束。為了從一個(gè)記錄畢特移向另一個(gè)記錄畢特而進(jìn)行的鏡頭9與園筒3的相對(duì)位移。電定位系統(tǒng)(圖中未示出)實(shí)現(xiàn)。電暈放電所必需的，固定極性的電位差輸入到接線端子10和11，繼之從接線端子10和11經(jīng)過彈性接點(diǎn)12輸入到導(dǎo)電的透明薄膜4，而經(jīng)過接點(diǎn)13和電流輸入端7輸入到起暈的中心電極6。
根據(jù)所提出的方法，圖4所示光熱記錄、讀出和消除信息裝置的結(jié)構(gòu)與前述結(jié)構(gòu)的差別在用于電子發(fā)射極代替中心電極6。在本實(shí)施例中，為使記錄介質(zhì)1充電可以采用熱電子發(fā)射。在這種情況下，在接線端子10和11之間加上相應(yīng)的電位差，而園筒3的內(nèi)腔14被抽成真空。當(dāng)向接線端子15輸入高的負(fù)電壓(相對(duì)于接線端子10)時(shí)，被發(fā)射的電子落到記錄介質(zhì)1的表面，于是使記錄介質(zhì)1充電。當(dāng)電位差從接線端子10，11和15除去以后，為了保證使記錄介質(zhì)1上的電荷得以泄漏，記錄介質(zhì)1應(yīng)當(dāng)采用半導(dǎo)體材料。
光熱記錄、讀出和消除信息的光學(xué)裝置以下述方式工作。
用電動(dòng)機(jī)(圖中未示出)使園筒3(圖3)繞自己的軸線旋轉(zhuǎn)，借助定位系統(tǒng)使園筒3相對(duì)于鏡頭9移動(dòng)。
在接線端子10，11之間施以固定極性的電位差，并在產(chǎn)生的電暈放電中向記錄介質(zhì)1的表面充以電荷。
為了用光熱方法記錄信息，定位系統(tǒng)按所需的地址移動(dòng)園筒3。與信息單位的尺寸有同一數(shù)量大小的激光束8定位作用在記錄介質(zhì)上，以形成畢特。然后，定位系統(tǒng)按新的地址移動(dòng)園筒3，與信息單位尺寸具有同一數(shù)量級(jí)大小的已調(diào)制的激光束8定位作用在記錄介質(zhì)1上以后，畢特可以又一次重新被記錄下來。
這樣，在記錄介質(zhì)1的許多相鄰區(qū)域可能記錄幾個(gè)信息單位-畢特。這這種條件下，這種激光束8的能量應(yīng)當(dāng)大于記錄介質(zhì)1的材料軟化能量，但小于記錄介質(zhì)1材料的損壞能量。為了讀出信息，以與信息單位的尺寸同一數(shù)量級(jí)的已調(diào)制激光束8以遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于記錄畢特時(shí)所須的能量投射到記錄介質(zhì)1上。這種激光束8的能量小于記錄介質(zhì)1的材料軟化能量。從記錄介質(zhì)1上反射出來的射線被記錄下來。反射射線的強(qiáng)度按照記錄介質(zhì)上在深度方向上所具有的兩種高度水平的凹凸起伏進(jìn)行調(diào)制，亦即按照被記錄的信息-畢特進(jìn)行調(diào)制。被讀出信息單位的地址取決于定位系統(tǒng)。
在消除信息畢特之前，將記錄介質(zhì)1的表面上的電荷泄放掉。為此在接線端子10，11之間加上一個(gè)與充電電荷符號(hào)相反，極性不變的電位差。
為了抹去信息定位系統(tǒng)按所需的地址移動(dòng)園筒3，并以信息單位的尺寸同一數(shù)量級(jí)大小的，已調(diào)制激光束8作用于記錄介質(zhì)1上。在這種情況下，這種激光束8的能量是大于記錄介質(zhì)1材料的軟化能量，但小于記錄介質(zhì)1材料的損壞能量。
實(shí)現(xiàn)記錄和消除信息的實(shí)例如下。
由硫族化物玻璃制成的薄膜記錄介質(zhì)1的厚度是60毫微米，鏡頭9將激光束8聚焦成一個(gè)直徑為1.3微米的園斑。激光輻射的功率在1至82毫瓦范圍內(nèi)。為了使薄膜記錄介質(zhì)11充電，采用電暈放電1此時(shí)接線端子10和11之間的電位差為18千伏。最大充電電流不超過8微安，充電時(shí)間是20毫秒。光記錄脈沖的延續(xù)時(shí)間等于90毫微秒。當(dāng)薄膜記錄介質(zhì)1的充電量等于1.5×10-6庫侖時(shí)，用于光熱記錄所必須的最小輻射功率為6毫瓦，而對(duì)于已經(jīng)泄漏充電荷的薄膜介質(zhì)，用于記錄所必須的最小輻射功率為13毫瓦。信息的讀出是借助于功率為1毫瓦的電磁輻射線來實(shí)現(xiàn)的。記錄介質(zhì)1自身漏電所需的時(shí)間為2.8×103秒。記錄介質(zhì)1的快速電荷泄漏是在接線端子10和11之間加上一個(gè)18千伏的，與充電電荷的符號(hào)相反的電位差，通過電暈放電實(shí)現(xiàn)的。信息的局部消除是用散焦的激光輻射加熱記錄介質(zhì)1的方法實(shí)現(xiàn)的。記錄介質(zhì)1上園斑的直徑是3.0微米。
消除信息是借助于功率為39毫瓦的激光輻射實(shí)現(xiàn)的。
這樣一來，當(dāng)記錄介質(zhì)1的表面充電時(shí)，記錄介質(zhì)1的表面能量就發(fā)生變化，為光熱記錄所必須的輻射功率就減少，因此，就可以防止記錄介質(zhì)1材料的損壞，并在光熱記錄，讀出和消除信息過程中，保證記錄介質(zhì)1的最佳變形條件。在充電以后的記錄介質(zhì)1上信息的光熱記錄是在功率小于兩倍多的情況下進(jìn)行的。當(dāng)記錄時(shí)，在充電的記錄介質(zhì)1上激光束8的能量為4×10-10焦耳/微米2，這超過記錄介質(zhì)材料損壞能量。這樣一來，記錄介質(zhì)1上帶有電荷可以保證在不損壞記錄材料的最佳條件下進(jìn)行信息畢特的記錄，這就大大提高了記錄信息的可靠性，并且在消除信息之后，還可以多次重復(fù)記錄。
用能量為0.9×10-10焦耳/微米2的輻射作用以實(shí)現(xiàn)信息的讀出，這個(gè)能量遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于記錄介質(zhì)1材料的軟化能量。
用能量為5×10-10焦耳/微米2的激光束以完成信息的消除，這個(gè)能量大于記錄介質(zhì)1材料的軟化能量，而小于記錄介質(zhì)1材料的損壞能量。
于是，光熱記錄，讀出，消除信息的可靠性得到了提高，并使信息多次重復(fù)記錄成為可能。另外還減小了信息光熱記錄，讀出和消除裝置的重量和體積。
本發(fā)明可用于計(jì)算技術(shù)，用于電視錄相和錄音設(shè)備，用于信息存儲(chǔ)和處理系統(tǒng)。
權(quán)利要求
一種光熱記錄，讀出和消除信息的方法是在信息的光熱記錄過程中，在襯底的記錄介質(zhì)1的深度方向上使一系列信息單位中的每一個(gè)信息單位都形成具有兩種高度水平的凹凸起伏，而在讀出和消除信息的過程中，則將調(diào)制電磁射線8以與信息單位畢特的尺寸具有同一數(shù)量級(jí)的大小尺寸定位作用在記錄介質(zhì)1上，這種介質(zhì)材料在軟化狀態(tài)時(shí)可以浸流在襯底上，本發(fā)明的特征是，在信息的光熱記錄之前，先在記錄介質(zhì)1的表面充以電荷，當(dāng)調(diào)制電磁射線8以與信息單位畢特的尺寸有同一數(shù)量級(jí)的尺寸大小定位作用在記錄介質(zhì)1上時(shí)，用于記錄和消除信息的能量亦大于記錄介質(zhì)1材料的軟化能量，而小于記錄介質(zhì)1材料的損壞能量，當(dāng)在讀出信息的過程中，則所需能量小于記錄介質(zhì)1材料的軟化能量，而在消除信息之前將記錄介質(zhì)1的表面上的電荷泄漏掉。
專利摘要
一種光熱記錄、讀出和消除信息的方法包括在光熱記錄之前在記錄介質(zhì)表面充電，而后在光熱記錄和消除信息的過程中，在記錄介質(zhì)上作用一個(gè)與信息單位的尺寸同一數(shù)量級(jí)大小的調(diào)制電磁射線。其能量大于記錄介質(zhì)的材料軟化能量，而在讀出過程中，其能量小于記錄介質(zhì)的材料軟化能量。在消除信息之前，記錄介質(zhì)要經(jīng)過放電。
文檔編號(hào)G11B7/30GK87101892SQ87101892
公開日1987年10月7日 申請(qǐng)日期1987年2月7日
發(fā)明者夫亞奇斯拉夫·瓦希利維奇·彼特羅夫, 德米特里·阿萊克桑德羅維奇·格倫科, 阿萊克桑德·阿萊克桑德羅維奇·安托諾夫, 安德里·安德里維奇·克爾米金 申請(qǐng)人:烏克蘭共和國動(dòng)力模擬科學(xué)研究所導(dǎo)出引文BiBTeX, EndNote, RefMan