專利名稱：光記錄媒體寫入方法和裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及利用輻射束在光記錄媒體上寫入信息的一種光記錄裝置，特別涉及用于將輻射束的寫入?yún)?shù)設(shè)定為最佳值的一種方法，該方法包括在該記錄媒體上寫入至少一組包含各種寫入?yún)?shù)值測試模式的步驟、讀出這些測試模式以形成一個讀出信號的步驟、根據(jù)每個測試模式的讀出信號獲得讀出參數(shù)值的步驟、根據(jù)讀出參數(shù)值確定寫入?yún)?shù)最佳值的步驟。本發(fā)明還涉及用于在盤形光記錄媒體上寫入信息的一種裝置，該裝置適于實現(xiàn)所說將寫入?yún)?shù)設(shè)定為最佳值的方法。
從美國專利US-5185733中可以獲知在序言中所述的一種記錄方法。該方法確定輻射束寫入功率的最佳值。它在媒體上寫入一組測試模式，每一個后續(xù)的測試模式都以增大的寫入功率電平寫入。在讀出寫入的測試模式之后，根據(jù)每個測試模式的讀出信號的幅值獲得寫入功率的最佳值。這種已知方法的缺點是它不能對裝置和媒體的任意組合始終提供最佳寫入功率值。所以，使用由這種已知方法確定的寫入功率值可以造成信息在記錄媒體上的存儲不可靠。
本發(fā)明的一個目的是提供用于根據(jù)讀出寫入媒體上的測試模式的信號設(shè)定寫入?yún)?shù)的最佳值的一種更加可靠的方法。
當(dāng)序言部分所述方法的特征在于連續(xù)測試模式中的寫入?yún)?shù)值構(gòu)成一種對稱形式時，即可實現(xiàn)這個目的。
讀出參數(shù)通常是讀出信號的時間平均值，可以通過對讀出信號濾波獲得。濾波器固有延遲引起讀出參數(shù)測量值的誤差，該誤差隨測量時間的減少而增大。當(dāng)一組測試模式中連續(xù)測試模式的寫入?yún)?shù)值構(gòu)成對稱形式時可以減弱延遲的影響。
如果一組測試模式中前一半的寫入?yún)?shù)值與該組測試模式中后一半基本相同，第一半中的值與第二半中的值是鏡面對稱的，則稱一個模式是對稱的。因此處于一組中對稱位置的測試模式具有相同的寫入?yún)?shù)?？扇〉氖牵幱趯ΨQ位置的模式在記錄媒體上具有相等的長度。一組中不同模式的長度可以是不同的，但是可取的是選擇長度相等的模式，以簡化對讀出信號的處理。對稱模式可以這樣一種模式，其中一組寫入?yún)?shù)從范圍的下限值逐步增大到上限值，然后以相同步長下降到下限值。或者，這種逐步變化可以是從上限值到下限值，然后又回到上限值。一組中的步長不需要相等。在范圍中部的模式可以具有較小步長，而在接近范圍限值處可以具有較大步長。
當(dāng)讀出一種測試模式時，由于對讀出信號濾波產(chǎn)生的延遲，讀出參數(shù)值在該測試模式末端達(dá)不到其終值。如果一組中前一半的一種測試模式的讀出信號值從下面趨近終值，則第二半中處于對稱位置的測試模式的讀出信號就從上面趨近終值，或者是相反的情形。如果將這兩個測試模式的讀出參數(shù)，如在測試模式末端所確定的值，取平均值，則可以獲得較好的終值計算值。求平均至少部分地抵消了濾波延遲的影響。還可以對根據(jù)測得的讀出參數(shù)獲得的寫入?yún)?shù)值求平均。
本發(fā)明方法使得確定寫入?yún)?shù)最佳值與記錄裝置中延遲的相關(guān)性較小。這種與延遲的無關(guān)性對于能夠以各種速度進行寫操作的記錄裝置是重要的。因此，各個濾波器的延遲無需改變，而可以保持為一個值，與寫入速度無關(guān)。
讀出參數(shù)可以是讀出信號的調(diào)制參數(shù)、最大幅值或最小幅值。還可以是從讀出信號獲得的抖動值。寫入?yún)?shù)可以是輻射束的寫入功率或擦除功率。對于使用脈沖序列在記錄媒體上寫入一個標(biāo)記的寫入方法，還可以是該序列中第一個、中間一個或最后一個脈沖的脈沖寬度，或者是在該序列之前、其間或之后低輻射功率的持續(xù)時間。寫入?yún)?shù)還可以是記錄媒體中的輻射吸收量。該吸收量可以根據(jù)在寫入過程中對輻射束從記錄媒體上反射量的測量值，對于輻射脈沖的持續(xù)時間積分而確定。
在許多應(yīng)用中，寫入記錄媒體上的本發(fā)明的一組測試模式足以獲得寫入?yún)?shù)的可靠值。但是，盤形記錄媒體的記錄靈敏度有時表現(xiàn)出作為媒體角位置的函數(shù)而變化。這些變化可能是由于媒體記錄材料靈敏度的變化或者媒體的彎曲引起的。這種還可能由于記錄裝置與媒體之間的相互作用而引起，例如裝置轉(zhuǎn)臺沒有正確地支承媒體，造成媒體的歪斜。彎曲和歪斜導(dǎo)致由輻射束在媒體中形成的光點的與角位置相關(guān)的畸變，影響了裝置的寫入性能。如果，例如，一個測試模式寫入媒體的低靈敏區(qū)，則已知方法會產(chǎn)生一個對于媒體上大多數(shù)區(qū)域來說過高的寫入功率值。
本發(fā)明方法的一個專門的實施例通過在媒體上寫入至少兩組基本相似的測試模式，使之基本均勻地分布在媒體一周上，解決了這個問題。如果將對這兩組測試模式的測量值求平均，所得的寫入?yún)?shù)最佳值適合于在媒體的整個區(qū)域上進行可靠的寫入。如果兩組測試模式均勻地分布在媒體上，就會大大減小記錄靈敏度變化的影響?？扇〉氖且唤M測試模式中寫入?yún)?shù)變化范圍對于所有各組都是相同的以對媒體的各個位置進行相似的測試?？扇〉氖沁@個范圍中包含寫入?yún)?shù)的最佳值。該范圍可以通過讀出所記錄的記錄媒體上的范圍下限值和上限值選擇出來?；蛘?，該記錄裝置可以寫入覆蓋較大范圍的一組測試模式，并從這組模式中確定一個較小的范圍，在根據(jù)本發(fā)明寫入至少兩組測試模式時使用所說較小范圍的寫入?yún)?shù)。
當(dāng)角距離相近的兩組起點或末尾之間的角距離基本等于360°/n時，n組模式均勻地分布在媒體一周上。由于記錄靈敏度的變化常常表現(xiàn)出每繞媒體一周循環(huán)一次，所以每周兩組的測試記錄就可以提供可靠的寫入?yún)?shù)。較多組的測試模式提高在媒體上的平均度。但是，組數(shù)不應(yīng)過高，因為同時也使得確定寫入?yún)?shù)時的計算量增大。所以每周的優(yōu)選組數(shù)為3。這種組數(shù)比兩組具有更佳的平均度，并且使計算量保持在合理的限度內(nèi)。此外，對于許多類型的記錄媒體來說，三組模式可以寫入一周內(nèi)，從而減少了寫入和讀出測試模式所需時間量。
一組中測試模式的數(shù)目應(yīng)當(dāng)足夠大，以能夠按照在記錄媒體上寫入信息所需的精確度確定寫入?yún)?shù)?？扇〉氖菧y試模式的數(shù)目大于15。
本發(fā)明的另一方面涉及在盤形光記錄媒體上寫入信息的裝置。根據(jù)本發(fā)明這種裝置包括用于發(fā)射輻射束的一個輻射源、用于控制輻射束的寫入?yún)?shù)的一個源控制單元、用于產(chǎn)生至少兩組測試模式以寫入該記錄媒體中的一個測試控制單元，所說兩組測試模式基本均勻地分布在記錄媒體的一周上，每個測試模式具有不同的寫入?yún)?shù)值，所說的至少兩組模式中每一組的值在一個預(yù)定范圍內(nèi)，所說測試控制單元的一個輸出端與所說源控制單元的一個輸入端相連，該裝置還包括用于讀出測試模式和形成相應(yīng)的讀出信號的一個讀單元、和一個操作連接的處理器，該處理器用于根據(jù)每個測試模式的讀出信號獲得一個讀出參數(shù)值，用于根據(jù)所說讀出參數(shù)值確定最佳寫入?yún)?shù)值和形成表示最佳值的一個寫入控制信號，并用于對從所說至少兩組測試模式中獲得的參數(shù)值求平均，所說寫入控制信號傳送到所說源控制單元的一個輸入端。
從以下參照附圖對本發(fā)明優(yōu)選實施例的更加具體的描述可以充分地了解本發(fā)明的目的、特征和優(yōu)點。


圖1為根據(jù)本發(fā)明構(gòu)成的一種光記錄裝置的示意圖，圖2表示從兩個測試模式獲得的讀出信號，圖3以曲線圖形式表示寫入功率相對于三組測試模式的變化，圖4表示寫入的多組測試模式在媒體上的分布，圖5表示用于根據(jù)讀出信號獲得讀出參數(shù)的一個電路的一部分，圖6以曲線圖形式表示測得的調(diào)制參數(shù)及其作為寫入功率的導(dǎo)數(shù)。
圖1表示一種光記錄裝置和一種光記錄媒體1。媒體1具有一個透明基片2和形成在該基片上的一個記錄層3。所說記錄層由適合于利用輻射束寫入信息的材料構(gòu)成。所說記錄層可以是磁光型的、相變型的、染料型的或者其它適合的材料。信息可以以可光檢測區(qū)域，也稱為標(biāo)記的形式記錄在記錄層3上。該裝置包括用于發(fā)射輻射束5的一個輻射源4，例如一個半導(dǎo)體激光器。輻射束經(jīng)由一個分光器6、一個物鏡7穿過基片會聚在記錄層3上。所說媒體還可以是空氣入射型的，在這種情況下輻射束不需穿過基片而直接入射到記錄層3。從媒體1反射的輻射由物鏡7會聚，在通過分光器6之后，進入檢測系統(tǒng)8，檢測系統(tǒng)將入射輻射轉(zhuǎn)換成檢測器電信號。檢測器信號輸入電路9中。該電路從檢測器信號中獲得若干信號，例如代表從媒體1中讀出信息的讀出信號SR。輻射源4、分光器6、物鏡7、檢測系統(tǒng)8和電路9共同構(gòu)成一個讀單元10。將從電路9輸出的讀出信號在一個第一處理器11中進行處理，以從讀出信號中獲得表示一個讀出參數(shù)的信號，該信號對于控制寫入?yún)?shù)如激光器功率電平是必需的。將所獲得的參數(shù)輸入一個第二處理器12，該處理器處理一組讀出參數(shù)值，并基于這些值獲得一個寫入?yún)?shù)的最佳值和表示該最佳值的一個寫入控制信號。處理器11和12可以集成在一個處理器中。該寫入控制信號傳送到一個源控制單元13的一個輸入端。一個模式發(fā)生器14產(chǎn)生確定寫入?yún)?shù)最佳值所需的測試模式。模式發(fā)生器14的一個輸出端與源控制單元13的一個輸入端相連。模式發(fā)生器14和第二處理器12可以彼此相連或者集成在用于根據(jù)測試模式控制寫入?yún)?shù)的一個單元中。當(dāng)裝置正在寫入信息時，表示被寫入媒體1的信息的一個信息信號輸入控制單元13。控制單元1 3的輸出傳送到輻射源4，并且至少控制由源4輸出的輻射束的寫入?yún)?shù)。
輻射源4發(fā)射的實際輻射功率可以利用設(shè)置在在其它情況下不使用的輻射束旁瓣中或者輻射束光路中一個元件反射的輻射路徑中的一個未示出檢測器測量。這個檢測器的電信號可以作為用于寫入測試模式的實際寫入功率的輸入值傳送到處理器12中?；蛘?，可以將該信號傳送至處理器11，在處理器11中該信號可以與讀出信號的峰值結(jié)合，然后輸入處理器12中，所說讀出信號峰值是在記錄層3接收的輻射功率的一種量度。
現(xiàn)在參照圖1所示的裝置解釋本發(fā)明，其中寫入?yún)?shù)為輻射束的寫入功率電平，為其確定一個最佳值，所說讀出參數(shù)為從寫入的測試模式測得的讀出信號的調(diào)制參數(shù)。
為了將信息可靠地記錄在媒體1上，該裝置通過執(zhí)行下述程序?qū)⑵鋵懭牍β试O(shè)定為最佳值。第一模式發(fā)生器14產(chǎn)生三組測試模式，寫入媒體1上。應(yīng)當(dāng)選擇測試模式以便給出所需的讀出信號。如果從讀出信號獲得的讀出參數(shù)為讀出信號的最大調(diào)制參數(shù)，測試模式應(yīng)當(dāng)包括足夠長的標(biāo)記以實現(xiàn)讀出信號的最大調(diào)制參數(shù)。當(dāng)根據(jù)所謂的EFM調(diào)制參數(shù)方法對這些信息進行編碼時，這些測試模式最好包含長I11標(biāo)記。
以不同的寫入功率記錄這些測試模式。這些測試模式可以寫在媒體上任何位置。它們還可以寫入媒體上專門設(shè)置的測試區(qū)。
圖2表示從以不同的寫入功率電平寫入的兩個測試模式獲得的讀出信號18和19。這些測試模式包括一個短標(biāo)記、一個長標(biāo)記和一個短標(biāo)記，如分別在讀出信號18和19中的信號部分15、16和17所示。一種實際的測試模式可以包括從幾十直至幾千個不同長度或相等長度的標(biāo)記。這些標(biāo)記的長度和標(biāo)記之間間隔的長度可以隨機或者根據(jù)一種優(yōu)選的固定模式選擇。
圖3表示三組測試模式的作為時間函數(shù)的寫入功率PW。每條水平線表示用于寫入一種測試模式的一個寫入功率。寫入功率在從下限P1至上限P2的一個范圍內(nèi)變化。第一組從以功率P1寫入的一種測試模式開始。連續(xù)測試模式以按照測試模式之間相等步長增加的寫入功率寫入，直至達(dá)到寫入功率P2。以按照相同步長減少的寫入功率再次寫入相同的測試模式，直至達(dá)到寫入功率P1。寫入功率的三角形狀構(gòu)成一組測試模式。如圖所示，將同一組的測試模式寫入三次。
根據(jù)寫入速度和媒體一周的長度選擇每一組測試模式的持續(xù)時間。圖4表示這幾組測試模式可以分布在記錄媒體一周上的幾個示例。在圖4A中，這三組模式沿記錄媒體的一條記錄道寫入?yún)^(qū)域20、21和22中，其總長度等于一條360°記錄道的長度。圖4B表示另一個示例，其中三組測試模式的總長度比一條記錄道的長度短。寫入的模式組20’、21’和22’由中間區(qū)分開。圖4C表示三組模式總長度大于一條記錄道長度的一個示例。寫入的三組模式20”、21”和22”的總長度為兩條記錄道的長度。在圖4所示的三個示例中，這些模式組均勻分布在媒體一周上。這表明這些測試模式是以某一寫入功率按照大約120°間隔寫入的。當(dāng)將對這三組測試模式的測量值求平均時，則媒體沿記錄道的緩慢特性變化也被平均。如果在具有記錄靈敏度空間變化的記錄媒體上寫入的不是三組模式，而只是一組模式，則由此獲得的寫入?yún)?shù)可能是基于反映變化的媒體特性的一個極值的一種測試模式。如果利用這個寫入?yún)?shù)寫入信息，則寫入的信息在媒體上具有相反極值特性的那些區(qū)域中是不可靠的。
雖然圖4中的示例只表示了三組均勻分布的測試模式，但是模式組數(shù)可以等于1、2、4、5或更多，寫入一條、兩條或多條記錄道，根據(jù)記錄靈敏度的預(yù)期變化和測試可能使用的時間和記錄媒體空間進行選擇。在圖3的示例中，每一組包含2×11個測試模式。根據(jù)范圍P1-P2的大小，和從這些測試模式和計算所用算法獲得的最佳值所需的精確度，這個數(shù)值可以較小或較大。精確的確定可能需要大約每組50個測試模式。
可以采用各種方式從讀出測試模式獲得的讀出信號中求得寫入?yún)?shù)的最佳值。下面介紹從讀出信號獲得寫入功率最佳值的一種相對精確的方法。
在該裝置已經(jīng)將所說三組測試模式寫在媒體1上之后，用讀單元10讀出包含這些模式組的記錄道。用電路9處理檢測系統(tǒng)8的輸出信號，構(gòu)成讀出信號SR。處理器11從讀出信號SR獲得用以求得最佳寫入功率的一個讀出參數(shù)。一種適合的讀出參數(shù)是一個讀出信號中最小幅值的信號部分，在圖2中用’a’指示，與讀出信號的最大值’b’的比值。一種優(yōu)選的讀出參數(shù)是歸一化調(diào)制參數(shù)，即一個讀出信號的最大峰-峰值c=(b-a)與該讀出信號的最大值’b’的比值。
圖5表示用于產(chǎn)生讀出參數(shù)的處理器11部分的一種可能的實現(xiàn)方式。讀出信號SR輸入兩個峰值檢測器23和24，第一個檢測器檢測SR的最小值，第二個檢測器檢測SR的最大值。在進入峰值檢測器之前可以將讀出信號高通濾波以消除讀出信號中的直流分量。每個峰值檢測器后面跟隨一個低通濾波器25、26以對峰值檢測器的輸出求平均?？刂圃O(shè)置在每個濾波器之后的一個采樣保持電路27、28在讀出信號中對應(yīng)于一種測試模式結(jié)尾的位置將濾波器的輸出傳送到一個計算電路29。如果測試模式的長度相對較短，則在測試模式結(jié)尾濾波器輸出尚未達(dá)到其限值。通過下文中所述的求平均處理可以減小在濾波器輸出端的采樣值誤差的影響。電路27、28的輸出信號分別用值’a’和’b’表示。計算電路29現(xiàn)在計算讀出信號的歸一化調(diào)制參數(shù)值(b-a)/b。
作為圖5所示電路的另一種實施方式，該電路可以確定讀出信號SR的平均幅值’d’、最大幅值與’d’之間的差值’e’和’d’與最小幅值之間的差值’f’。然后按照計算式(e+f)/(d+e)計算調(diào)制參數(shù)?；蛘?，可以按照計算式(e+f)/d計算調(diào)制參數(shù)。處理器11如圖5所示確定最大幅值和最小幅值。平均幅值’d’由不帶峰值檢測器的一個低通濾波器根據(jù)讀出信號獲得。在各個幅值信號都通過一個采樣保持電路之后可以在一個計算電路中組合最大、最小和平均幅值信號?；蛘?，可以利用一個計算電路組合所說的三個幅值信號，所說計算電路之后為一個采樣保持電路。低通濾波器25和26可以省略；但是應(yīng)當(dāng)在計算電路輸出端后面設(shè)置一個低通濾波器。
在讀出一組測試模式之后，處理器12已經(jīng)從處理器11獲得一組關(guān)于一種測試模式的調(diào)制參數(shù)和屬于該測試模式的寫入功率的成對值。根據(jù)在記錄測試模式過程中的寫入功率控制信號值，或者根據(jù)記錄過程中的輻射功率測量值，可以取得寫入功率。處理器12將以相同寫入功率寫入的模式組中第一半和第二半中的測試模式的測量值對組合并求平均。通過對以遞增寫入功率寫入模式組第一半中的一種測試模式的調(diào)制參數(shù)與以遞減寫入功率寫入第二半中的對應(yīng)測試模式的調(diào)制參數(shù)求平均，可以至少部分地消除濾波器延遲的影響。
如果用于寫入測試模式的調(diào)制碼中不含有直流分量，則可以進一步減小濾波器延遲的影響。這樣避免了測試模式之間的讀出信號平均值的跳躍。
除了對調(diào)制參數(shù)求平均，還可以對相應(yīng)測試模式的最大值和最小值’a’和’b’求平均，然后根據(jù)已經(jīng)平均的最大值和最小值計算后者的調(diào)制參數(shù)。
如果寫在媒體上的測試模式與媒體上尋址精度相比長度相對較短，則尋址偏差可以導(dǎo)致處理器將相鄰測試模式的寫入功率指定給一種測試模式的調(diào)制參數(shù)。由于在模式組中左半部的錯誤指定偏向較高功率值，而在右半部中偏向較低功率值，反之亦然，所以對于模式組左右半部的適當(dāng)平均可以在第一級上消除錯誤指定的影響。
圖6示意性表示一組測試模式的讀出信號的處理結(jié)果?！帘硎咀鳛閷懭牍β蔖函數(shù)的調(diào)制參數(shù)的測量值。根據(jù)m和P的測量值獲得寫入功率的最佳值是利用例如諸如曲線擬合和歸一化求導(dǎo)方法進行的。這種方法記載在尚未公開的歐洲專利申請No.96203397.3中，有關(guān)該方法更多的細(xì)節(jié)可以參見該專利文獻。作為這種方法的第一步驟，處理器12利用測得的調(diào)制參數(shù)值擬合一條曲線，以獲得調(diào)制參數(shù)作為寫入功率函數(shù)的解析表示式。在圖6中這條曲線用一條虛線表示。擬合可以利用眾所周知的最小二乘法擬合算法進行。用于擬合的一組適合函數(shù)為展開至三級的正交拉格郎日多項式。
在下一步驟，處理器12解析計算調(diào)制參數(shù)相對于寫入功率P的歸一化導(dǎo)數(shù)’g’。歸一化導(dǎo)數(shù)g(P)等于函數(shù)(dm/dP)P/m。從圖6中擬合調(diào)制參數(shù)獲得的函數(shù)g用實線表示。
處理器12通過使歸一化導(dǎo)數(shù)取屬于預(yù)定值g0的寫入功率值P可以獲得一個中間寫入功率Pi，如圖6中虛線所示。g0值可以是由記錄裝置制造商設(shè)定并存儲在裝置存儲器中的一個值，或者是存儲在被寫入媒體上的一個值，并在所說程序之前或期間讀出，以設(shè)定最佳寫入功率。再下一步，將中間功率值Pi乘以大于1的一個常數(shù)h，結(jié)果獲得第一組測試模式的最佳寫入功率值P0。
預(yù)定值g0和相乘常數(shù)h的值由媒體制造商確定或者由使用者在初始化媒體時確定。g0值設(shè)定在0.5至2.0的范圍。對于大于2.0的值，歸一化導(dǎo)數(shù)偏離其預(yù)測值，因為接近漸近線使得與g0相關(guān)的P值都靠近寫入功率軸。對于小于0.5的g0值歸一化導(dǎo)數(shù)具有較小的斜率，因此，導(dǎo)數(shù)值的較小誤差會導(dǎo)致與g0相關(guān)的Pi值的較大發(fā)散。相乘常數(shù)h最好設(shè)定在1.00至1.35的范圍。最佳寫入功率P0，等于(hPi)，通常設(shè)定為接近調(diào)制參數(shù)m開始飽和的寫入功率值。
在設(shè)定g0和h的一種優(yōu)選方法中，一種特定媒體的最佳寫入功率是通過求得使寫入媒體信息的讀出信號抖動最小的寫入功率而確定的?？扇〉氖撬f信息為隨機信息。接著，根據(jù)如上所述的一組寫入的測試模式確定歸一化導(dǎo)數(shù)dm/dP(P/m)。選擇一個Pi值，使得相關(guān)的g0值處于上述范圍中，在這個范圍中歸一化導(dǎo)數(shù)既不太平緩，也不太陡直。于是，就可以對所有這種類型的媒體和所有記錄裝置使用相關(guān)的h值，等于P0/Pi，和g0值。
對于另外兩組寫在媒體上的測試模式重復(fù)根據(jù)一組測試模式獲得寫入功率最佳值的上述程序。然后將三個最佳值求平均，給出寫入功率的平均最佳值，用于在媒體的所有區(qū)域上寫入信息。處理器12將寫入控制信號設(shè)定為代表該寫入功率最佳值的一個值，并將其輸入源控制單元13，該源控制單元利用這個信號記錄信息。
處理器12可以具有一個檢驗程序，該程序檢驗溢出的最佳值，即處于預(yù)期值范圍以外的最佳值。過大的值通常是由于媒體上偶然產(chǎn)生的缺陷如污點減小了入射到信息記錄層3上的功率值造成的。檢驗程序去除了這些過大值?？梢允褂妙愃频臋z驗程序去除測試模式的調(diào)制參數(shù)的過大測量值。
除了使用曲線擬合之外，還可以利用例如記載在歐洲專利申請EP-0762399中的一種差值方法從調(diào)制參數(shù)值確定其導(dǎo)數(shù)。
在上述方法中對于三組模式的平均是對寫入?yún)?shù)的最佳值進行的。也可以通過將幅值’a’和’b’相對于三組模式的左半部和右半部中相應(yīng)的測試模式求平均將對于每組右半部和左半部的平均值和對這三組的平均值組合。然后可以使用’a’和’b’的平均值計算調(diào)制參數(shù)的平均值，獲得如圖6所示的一條曲線以確定寫入功率最佳值?；蛘?，可以計算三組模式中每一種測試模式的調(diào)制參數(shù)值和三組中相應(yīng)測試模式的調(diào)制參數(shù)平均值。
在本發(fā)明方法的上述實施例中，用于確定寫入?yún)?shù)最佳值的讀出參數(shù)為讀出信號的調(diào)制參數(shù)。此外，讀出參數(shù)可以是一個不對稱參數(shù)β。參數(shù)β定義為上述差值’e’和’f”的差值與這兩個差值之和的比值。作為寫入功率函數(shù)的這個β值通常為一條正斜率的直線，從負(fù)β值到正β值。本發(fā)明的方法必須將寫入功率設(shè)定為這樣一個值，使得β基本等于按照標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定或記錄在該記錄媒體上的一個預(yù)定值。β的公用預(yù)定值為0和+0.04。該裝置通過對一種模式讀出信號的最大、最小和平均幅值的濾波值采樣，然后根據(jù)它們計算差值’e’和’f’值，就可以確定參數(shù)β。
權(quán)利要求
1.在利用輻射束將信息寫在一種光記錄媒體上的一種光記錄裝置中，一種將所說輻射束寫入?yún)?shù)設(shè)定為最佳值的一種方法，該方法包括將至少一組測試模式寫在所說記錄媒體上的步驟，所說測試模式具有各種寫入?yún)?shù)值，讀出所說的多組測試模式以產(chǎn)生讀出信號的步驟，從每種測試模式的讀出信號獲得讀出參數(shù)值的步驟，根據(jù)所說讀出參數(shù)值確定寫入?yún)?shù)最佳值的步驟，其特征在于連續(xù)測試模式的所說寫入?yún)?shù)值構(gòu)成一種對稱形式。
2.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于所說對稱形式為三角形。
3.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于該方法包括將從位于一組中對稱位置的測試模式獲得的參數(shù)值求平均的步驟。
4.如權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于在盤形記錄媒體上至少寫入兩組測試模式，所說多組測試模式基本均勻地分布在記錄媒體的一周上，所說至少兩組中每一組的寫入?yún)?shù)值都處于一個預(yù)定范圍內(nèi)，并且包括將從所說至少兩組測試模式獲得的參數(shù)值求平均的步驟。
5.如權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于寫入三組測試模式。
6.如權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于所說求平均對于所說讀出參數(shù)值進行。
7.如權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于所說求平均對于根據(jù)讀出參數(shù)值確定的寫入?yún)?shù)值進行。
8.用于在一種光記錄媒體上寫入信息的一種裝置，它包括用于發(fā)射輻射束的一個輻射源，用于控制所說輻射束寫入?yún)?shù)的一個源控制單元，用于產(chǎn)生一組被寫入所說記錄媒體上的測試模式的一個測試控制單元，所說測試模式具有不同的寫入?yún)?shù)值，所說測試控制單元的一個輸出端與所說源控制單元的一個輸入端相連，用于讀出測試模式和產(chǎn)生相應(yīng)的讀出信號的一個讀單元，和操作連接的一個處理器，該處理器用于根據(jù)每種測試模式的讀出信號獲得讀出參數(shù)值，用于根據(jù)所說讀出參數(shù)值確定寫入?yún)?shù)的最佳值，和用于產(chǎn)生表示所說最佳值的寫入控制信號，所說寫入控制信號傳送到所說源控制單元的一個輸入端，其特征在于所說連續(xù)測試模式中的寫入?yún)?shù)值構(gòu)成一種對稱形式。
全文摘要
本申請記載了用于設(shè)定在一種光記錄媒體上記錄信息的最佳寫入功率的一種方法。將一組測試模式(20’,21’,22’)寫在媒體上,這些測試模式用不同的寫入功率寫入。連續(xù)測試模式的寫入功率值構(gòu)成一種對稱形式。在讀出測試模式時,確定每個讀出信號的調(diào)制參數(shù)。根據(jù)調(diào)制參數(shù)確定寫入功率的最佳值。
文檔編號G11B7/125GK1234899SQ98800873
公開日1999年11月10日 申請日期1998年4月27日 優(yōu)先權(quán)日1997年5月1日
發(fā)明者P·C·J·胡芬 申請人:皇家菲利浦電子有限公司