專利名稱：光記錄載體和掃描裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種包括記錄層的光記錄載體，該記錄層具有用于以光可檢測標(biāo)記圖案記錄信息的基本上平行的記錄道，該記錄道具有搖擺式槽紋以及沿著該記錄道的預(yù)定位置，在該位置以凹坑(pit)形式存儲信息。本發(fā)明還涉及一種用于掃描這種記錄載體的方法以及用于執(zhí)行該方法的裝置。
當(dāng)通過掃描發(fā)光點把用戶信息寫在記錄載體上時，通常需要知道發(fā)光點在記錄載體上的位置。由于在空白可記錄載體上不能得到用戶信息，因此該位置可以通過讀取存儲在記錄載體的壓印搖擺式(wobbled)記錄槽或壓印凹坑中的位置信息而確定。
通常，記錄道是在記錄載體上由掃描設(shè)備所跟蹤的一條線，其具有該記錄載體的特性尺寸量級的長度。在矩形記錄載體上的記錄道具有基本上等于該記錄載體的長度或?qū)挾鹊某叽纭Ｔ诒P狀記錄載體上的記錄道是在該盤上360度旋轉(zhuǎn)的連續(xù)螺線或環(huán)線。
記錄道可以是凹槽和/或凹槽之間的平臺部分。凹槽在記錄層的平臺部分中成溝道狀，溝道的底部更加接近或遠離記錄載體的光入射面。用戶信息可以記錄在平臺或凹槽中。凹坑可以位于平臺或凹槽中。
前文中所述的記錄載體可以從歐洲專利申請0800165號中得知，其中公開了一種光記錄載體，其具有無相位躍變以恒定頻率放射狀擺動的凹槽以及形成在搖擺凹槽的圈之間的預(yù)定位置處的凹坑。該凹坑處于這樣的位置處，其中當(dāng)從凹坑的中部測量時，該擺動具有最小或最大的偏移。已知記錄載體的一個缺點是當(dāng)用戶信息記錄在該記錄槽中時，凹坑檢測的可靠性下降。
本發(fā)明的一個目的是提供一種可以更加可靠的檢測具有坑-槽結(jié)構(gòu)的記錄載體。
根據(jù)本發(fā)明，如在開篇中所述的記錄載體的特征在于在預(yù)定位置處的擺動的相位適合于凹坑在這種預(yù)定位置的出現(xiàn)。當(dāng)掃描記錄載體時，記錄槽的擺動可以增強從凹坑獲得的信號。根據(jù)本發(fā)明，在沿著記錄道的預(yù)定位置處擺動的相位必須適合于在這種位置處凹坑的出現(xiàn)或缺失。當(dāng)該相位在存在凹坑的預(yù)定位置處具有第一數(shù)值并且在沒有凹坑的預(yù)定位置處具有不同的第二數(shù)值時，凹坑的檢測容限明顯增加。增加的檢測容限使得能夠減小凹坑的尺寸，從而減小來自凹坑的對記錄在記錄道上表示用戶信息的信號造成的串?dāng)_。
最好，從連接沿著記錄道的凹坑的中線測量時，該搖擺在存在凹坑的預(yù)定位置處具有最小值，在沒有凹坑的預(yù)定位置處具有最大值。當(dāng)凹坑位于兩個相鄰凹槽的平臺(land)部分時，兩個凹槽最好處于反相狀態(tài)。當(dāng)凹坑在平臺中為凹陷并且凹槽為溝道狀，則具有凹坑的預(yù)定位置最好位于平臺具有最小寬度的位置處，并且沒有凹坑的預(yù)定位置最好位于該平臺具有最大寬度的位置處。
該預(yù)定位置可以沿著記錄道等距離分布。它們還可以按系列分組，并且最好在記錄道方向中的預(yù)定位置的相繼系列之間的擺動表示信息。當(dāng)在該擺動中的信息通過相移鍵控來編碼時，搖擺的同相偏差可以用于在預(yù)定位置的位置處的凹槽的一部分，并且用于在預(yù)定位置系列之間的凹槽的一部分。
預(yù)定位置最好以兩個相鄰預(yù)定位置的二位字節(jié)分組，并且僅僅一個凹坑存在于每個二位字節(jié)中。單個邏輯值可以分配給一個二位字節(jié)，例如，一個凹坑跟隨著一個非凹坑表示“1”，并且一個非凹坑跟隨著一個凹坑表示“0”。當(dāng)確定在二位字節(jié)的兩個位置處存在凹坑時，則與在單個位置處檢測相比，在“1”和“0”之間的檢測容限增加。
在記錄載體中，平臺位置位于相鄰凹槽之間，該平臺位置最好交替存在凹坑和無凹坑。當(dāng)掃描凹槽時，僅僅凹槽一側(cè)上具有凹坑，從而減少了相鄰記錄道之間的串?dāng)_。
一種根據(jù)本發(fā)明的用于掃描光記錄載體的裝置，該光記錄載體具有以光可檢測標(biāo)記圖案記錄用戶信息的基本上平行的記錄道，該記錄道具有搖擺式槽紋以及沿著該記錄道的預(yù)定位置，在該位置以凹坑形式存儲信息，該裝置包括用于通過光束掃描記錄道的光學(xué)系統(tǒng)、用于檢測來自記錄載體的光束的檢測器、以及用于從檢測器的輸出信號提取由凹坑所表示的信息的第一信號處理器，其特征在于該裝置具有用于從檢測器的輸出信號提取由擺動所表示的信息的第二信號處理器，以及用于從第一信號處理器的信息輸出信號以及第二信號處理器的信息輸出信號形成信息信號的選擇器。
一種根據(jù)本發(fā)明的掃描光記錄載體的方法，該光記錄載體具有以光可檢測標(biāo)記圖案記錄用戶信息的基本上平行的記錄道，該記錄道具有搖擺式槽紋以及沿著該記錄道的預(yù)定位置，在該位置以凹坑形式存儲信息，其特征在于，在掃描過程中，根據(jù)選擇的標(biāo)準(zhǔn)從凹坑、擺動以及凹坑和擺動中的一種提取信息信號。
從下文本發(fā)明優(yōu)選實施例的具體描述中，本發(fā)明的目的、優(yōu)點和特點將變得清楚，如附圖所示，其中

圖1a和1b示出根據(jù)本發(fā)明的記錄載體的實施例，圖2a和2b示出在記錄載體上的4個相鄰記錄道的放大截面視圖，圖3示出根據(jù)本發(fā)明的記錄載體的位元，圖4示出根據(jù)本發(fā)明的掃描設(shè)備，圖5示出由凹坑和凹槽擺動所調(diào)制的信號，以及圖6示出用于從檢測器信號獲取位置信息的信號處理器。
圖1示出根據(jù)本發(fā)明的記錄載體1的一個實施例，圖1a為平面視圖，圖1b示出沿著線b-b截取的一小部分截面視圖。記錄載體1包括一系列記錄道，每個形成360度旋轉(zhuǎn)的螺線，在圖中示出8條記錄道。一條記錄道例如是由預(yù)先形成的凹槽4或凸脊5或者凹槽和凸脊的組合所構(gòu)成。該記錄道用于把光束定位在記錄道上。為了記錄信息，記錄載體1包括記錄層6，其淀積在透明基片7上，并且由保護涂層8所覆蓋。該記錄道由通過基片7進入記錄載體的光束所掃描。記錄層由感光材料所制成，如果它暴露在適當(dāng)?shù)墓庀聞t發(fā)生光可檢測的變化。這種層面例如可以是碲這種材料的薄層，其在由光束加熱時改變反射率。另外，該層面可以由磁光或者相變材料所構(gòu)成，它們分別在加熱時改變磁化方向或晶體結(jié)構(gòu)。相變材料的例子是包含碲的組合物，例如AgInSbTe或者GeSbTe。當(dāng)該記錄道被其強度根據(jù)要記錄的信息而調(diào)制的光束所掃描時，獲得光可檢測標(biāo)記的信息圖案，該圖案表示信息。在不可記錄的只讀記錄載體中，層面6可以是反射層，例如由鋁或銀這樣的金屬所制成。在這種記錄載體中的信息是在其制造過程中預(yù)先記錄在該記錄載體上的，例如以壓印凹坑的形式記錄。
在記錄載體的徑向方向上的槽周期是0.74μm，平臺部分5和凹槽4的寬度相等。凹槽的深度是50nm。記錄載體適合于用具有635和650nm之間的波長的光束來掃描。
圖2a和2b示出4個相鄰記錄道的兩個截面的放大平面視圖。本實施例的盤狀記錄載體被分為16個區(qū)段，從而把每個記錄道分為等角寬度的16個連續(xù)區(qū)段。記錄道的每個區(qū)段被分為16個序列。圖2a示出相鄰記錄道10、11、12和13的第一序列。圖2b示出記錄道10、11、12和13的第二至第十六序列的每一個序列的分布。每個序列包含四個連續(xù)的位元14、15、16和17。
一條記錄道的凹槽由粗的起伏線所表示，并且兩個相鄰線之間的區(qū)域是凹槽之間的平臺部分。為了清楚起見，與槽的寬度相比在圖2a和2b中的平臺的寬度被夸大。通過沿著凹槽的中線導(dǎo)引的光束把用戶信息寫入在凹槽中。
每個位元包括可能存在凹坑的預(yù)定位置。該預(yù)定位置在平臺部分上并且由圓圈18所表示。具有凹坑的預(yù)定位置由空圓圈19所表示，沒有凹坑的預(yù)定位置由打叉圓圈20所表示。在圖中的凹坑僅僅在記錄道10和11之間的平臺部分10’以及記錄道12和13之間的平臺部分12’上。凹槽具有20至30nm的峰-峰偏移的徑向擺動。凹坑的深度基本上與凹槽的深度相同，即在本實施例中為50nm。凹坑的寬度可能比在該凹坑位置處的平臺部分的寬度更小。但是，該寬度還可能等于平臺部分的寬度，從而形成在在平臺部分兩側(cè)的兩條凹槽之間的連接。該部分被分組為兩個相鄰部分的二位字節(jié)21中。一個位元包括擺動的4個360度周期。在所示實施例中的二位字節(jié)的預(yù)定位置使在一個位元中擺動的第二周期的90°±10°和270°±10°處。
一條記錄道在一個區(qū)段中包括16個序列，每個序列有4位元，總共每個區(qū)段有64個位元。一個區(qū)段的第一位元包含同步位，其特征在于一個二位字節(jié)具有兩個凹坑。63個后續(xù)位元的每一個包含一個具有單個凹坑的二位字節(jié)，并且表示數(shù)據(jù)位的一個邏輯值?！鞍伎印?“非凹坑”二位字節(jié)表示邏輯“1”，“非凹坑”-“凹坑”二位字節(jié)表示邏輯“0”。在該位元中的63個數(shù)值的序列表示地址信息，例如在多層記錄載體中的層數(shù)、記錄道數(shù)、區(qū)段數(shù)以及糾錯數(shù)據(jù)。
每個記錄道在一個序列開始時包括所謂的時鐘標(biāo)記23，即，相對快速的凹槽調(diào)制。在偶數(shù)記錄道10中的時鐘標(biāo)記從零偏移變?yōu)樽钚∑?，變?yōu)樽畲笃疲缓蠓祷氐搅闫?。該偏移是在預(yù)定位置處凹槽中線到平臺中線的距離。在奇數(shù)記錄道11中的時鐘標(biāo)記從零偏移變?yōu)樽钚∑?，變?yōu)樽畲笃?，然后返回到零偏移。該時鐘標(biāo)記可以用于同步。時鐘標(biāo)記的極性可以用于確定被掃描的記錄道是偶數(shù)記錄道還是奇數(shù)記錄道。
凹槽的擺動相位是在沒有凹坑的預(yù)定位置20處凹槽的偏移具有最大值，并且在具有凹坑的預(yù)定位置19處凹槽的偏移具有最小值。在圖2中所示的實施例中，這應(yīng)用于在預(yù)定位置兩側(cè)上的凹槽。因此，偶數(shù)凹槽10、12的擺動與奇數(shù)凹槽11、13的擺動反相。本實施例的擺動在包含數(shù)據(jù)位的位元中沒有相位躍變。該擺動在包含同步位的位元中具有強烈的180°相位躍變。擺動的相位取決于由位元所表示的邏輯值。這使得掃描設(shè)備不但可以從由凹坑所產(chǎn)生的來自記錄載體的光束的調(diào)制讀取存儲在位元中的信息，而且還可以從由擺動的相位所產(chǎn)生的標(biāo)志讀取信息。當(dāng)光束跟蹤凹槽10時，存儲在平臺部分10’上的凹坑中的信息可以從所謂的推挽信號中得出。當(dāng)掃描凹槽11時，可以獲得相同的信息。掃描設(shè)備可以從在第一區(qū)段22中時鐘標(biāo)記23的相位或者從凹槽擺動的相位確定它是掃描偶數(shù)凹槽11還是奇數(shù)凹槽10。存儲在平臺部分上的凹坑中的信息對于平臺部分的兩側(cè)上的兩條凹槽來說是相同的。
圖3示出在根據(jù)本發(fā)明的記錄載體的另一個實施例中的位元的凹槽-凹坑結(jié)構(gòu)。平臺部分24’包含三個等距預(yù)定位置26的系列。在圖中所示的三元組的中部沒有凹坑，外側(cè)兩個位置具有凹坑。在連續(xù)的三元組中凹坑的存在和缺失可以表示尋址信息。在平臺部分兩側(cè)上的兩個凹槽24和25分別具有用于同步的時鐘標(biāo)記26、27。存儲在平臺部分24’中的信息對于凹槽24、25來說是共同的。在凹槽的另一側(cè)上的平臺部分沒有凹坑。兩個凹槽的擺動在預(yù)定位置26附近反相，在接近凹坑處具有最小偏移，并且在沒有凹坑的預(yù)定位置處具有最大偏移。在該三元組之后的位元的部分28中，兩個凹槽的擺動被獨立調(diào)制，并且表示對每條凹槽特定的不同信息。邏輯“1”被編碼為正弦擺動的一個周期，邏輯“0”被編碼為180°相移正弦擺動的一個周期。
在另一個實施例中，每個平臺部分與一條凹槽相關(guān)，并且每個平臺部分具有預(yù)定位置。凹槽擺動的相位與在相關(guān)平臺部分中預(yù)定位置處是否存在凹坑有關(guān)。
本發(fā)明不限于圖中所示的擺動圖案。該圖案可以包括兩個或更多完整的正弦波而不只是一個。每個圖案或者一系列圖案的偏移的平均值最好等于零，以避免在光束徑向跟蹤中的偏離。該圖案可以包括具有零偏移的部分，以避免在偏移中的劇烈躍變?？梢杂闷渌鼒D案來取代正弦圖案，例如三角形圖案或者sinc函數(shù)圖案。
圖4示出用于掃描如圖1中所示的記錄載體的裝置。該裝置包括用于通過光掃描記錄載體10上的記錄道的光學(xué)系統(tǒng)31。光學(xué)系統(tǒng)31包括光源32，例如半導(dǎo)體激光器。輻射源32發(fā)射光束33，其由光束分離器34所反射，并且由物鏡35聚焦為在記錄載體10的信息層中的記錄道上的光點36。從記錄載體上反射的光被通過物鏡35和光束分離器34導(dǎo)向檢測器37。檢測器是一個分離檢測器，其在與被掃描的記錄道的方向相平行的兩半檢測器之間具有分割線。通常被稱為中央孔徑信號的兩半信號的和表示在記錄道中記錄的信息，并且被輸出為信號Si。通常稱為推挽式信號的兩半信號的差表示記錄在記錄道中的位置信息和伺服信息，并且被輸出為信號Sp。信號Sp的低頻成分表示伺服信息，表明光點36相對于被掃描的記錄道的中線的位置。在使伺服信息通過但是阻止位置信息通過的低通濾波器之后，信號Sp可能被用作為伺服電路38的輸入。通過控制光學(xué)系統(tǒng)31的位置和/或在光學(xué)系統(tǒng)中的物鏡35的位置，伺服電路控制在與記錄道的方向相垂直的方向上的光點的位置。
信號Sp還被饋送到從信號Sp中提取位置信息的信號處理器39。從信號處理器39輸出的位置信息信號被饋送到微處理器40，如圖6中所示。微處理器例如可以從位置信息信號中提取光點36在記錄載體10上的當(dāng)前位置。在讀取、擦除或?qū)懭氲倪^程中，微處理器可以把當(dāng)前位置與所需的位置相比較，并且確定用于使光學(xué)系統(tǒng)跳轉(zhuǎn)到所需位置的參數(shù)。用于跳轉(zhuǎn)的參數(shù)被饋送到伺服電路38。信息信號Si被饋送到微處理器，使其從該信號中提取情況指示信息，這可以用于控制光點的位置。信息信號被作為微處理器40的輸出信號41提供。
當(dāng)在具有包含位置信息的預(yù)先記錄的伺服記錄道的記錄載體上寫入用戶信息時，要被記錄的用戶信息被信號42饋送到微處理器40。掃描設(shè)備從伺服記錄道讀取位置信息。微處理器40把要被寫入的信息與位置信息相同步，并且產(chǎn)生一個連接到源控制單元43的控制信號。源控制單元43控制由光源32所發(fā)射的光束的光功率，從而控制在記錄載體10中的標(biāo)記的信息。該同步可能涉及在位置信息中的同步模式與存在于要被記錄的用戶信息信號中的同步模式之間的強制(imposition)固定關(guān)系。
圖5示出部分推挽式信號Sp，其作為在光束掃描圖2a中的記錄道10的位元22其間的時間t的一個函數(shù)。時鐘標(biāo)記23被表示為具有高頻成分的一個特征45。在位元中的兩個凹坑表示為在擺動信號上的兩個峰值46。該峰值增加在峰值位置處的擺動的信號電平，從而增加檢測容限。
圖6示出用于從推挽式信號Sp提取位置信息的信號處理器39的一個實施例。信號Sp連接到高通濾波器50，其通過與時鐘標(biāo)記和凹坑相關(guān)的信號成分，但阻擋與伺服信息和擺動相關(guān)的成分。高通濾波的信號被傳送到采樣器51，其具有在每個時鐘標(biāo)記的所期望位置附近的短時間間隔過程中閉合的開關(guān)。采樣器的輸出連接到鎖相環(huán)(PLL)52，其通過時鐘標(biāo)記穩(wěn)定時鐘。該PLL設(shè)置采樣器51通過時鐘標(biāo)記的時間段，從而避免來自信號Sp中的其它高頻成分的干擾，例如來自凹坑的干擾。時鐘的頻率足夠高，以精確地設(shè)置用于從Sp中提取信息的采樣時刻。PLL的時鐘信號連接到為采樣器產(chǎn)生觸發(fā)信號的控制電路53。
由高通濾波器50所形成的濾波信號連接到由來自控制電路53的第一觸發(fā)信號所控制的采樣器54。第一觸發(fā)信號僅僅在沿著當(dāng)前被掃描的記錄道的預(yù)定位置處閉合采樣器的開關(guān)。由于該預(yù)定位置與時鐘標(biāo)記的位置有關(guān)，因此控制電路53可以根據(jù)時鐘標(biāo)記從PLL的時鐘產(chǎn)生第一觸發(fā)信號。采樣器54的輸出是第一信息輸出信號S1，其中包括由凹坑表示的信息。
信號Sp連接到帶通濾波器55，其通過在凹槽擺動的頻率中部的頻帶中的信號成分。帶通濾波信號連接到由來自控制電路53的第二觸發(fā)信號所控制的采樣器56。第二觸發(fā)信號在沿著當(dāng)前被掃描的記錄道上擺動到達極值位置的位置處閉合采樣器56的開關(guān)。采樣器56的輸出是第二信息輸出信號S2，其中包括由凹槽擺動所表示的信息。
組成單元50至54可以被看作用于從Sp中提取由凹坑所表示的信息的第一信號處理器，而組成單元50至53、55和56可以被看作為用于從Sp中提取由擺動所表示的信息的第二信號處理器。兩個信號處理器的信息信號S1和S2被饋送到選擇器裝置57，其形成從S1、S2或S1和S2的組合得出的信息信號S3。由于擺動的相位對應(yīng)于在沿著記錄道的預(yù)定位置出現(xiàn)的凹坑，因此存儲在凹坑中的信息通常與存儲在該預(yù)定位置附近的擺動中的信息相同。信號S1和S2之間的選擇可以由信號的質(zhì)量而確定，該掃描設(shè)備可以通過對該信息和嵌入在該信息中的糾錯/檢錯碼作用的糾錯/檢錯電路而對信號質(zhì)量進行確定。該選擇還可以通過記錄載體的狀態(tài)確定。由于S1的質(zhì)量對于未寫入的記錄載體通常是良好的，因此選擇裝置57在掃描未寫入的記錄載體時可以從“凹坑”信號S1形成信息信號S3，在掃描已寫入的記錄載體時可以從“擺動”信號S2形成信息信號S3。選擇器裝置57通過使用用于由凹槽所表示的信息的信號S1以及用于存儲在沿著記錄道的預(yù)定位置外側(cè)的位元的擺動中的信息的信號S2，形成作為信號S1和S2的組合的信號S3。
信號S3可以被處理以便從該信息中提取同步信號，并且把邏輯值分配給上述二位字節(jié)或三位字節(jié)。凹坑和/或擺動最好表示用于記錄載體的尋址信息。然后，信息信號S3可以被用作為微處理器40的輸入，用于控制光束在記錄載體上的位置。
信號處理器39可以包括用于確定時鐘標(biāo)記23的相位的相位檢測器。該相位可以被用于確定當(dāng)前被掃描的記錄道是偶數(shù)記錄道還是奇數(shù)記錄道。
權(quán)利要求
1．一種包括記錄層的光記錄載體，該記錄層具有基本上平行的記錄道用于以光可檢測的標(biāo)記圖案記錄信息，該記錄道具有搖擺凹槽以及沿著該記錄道的預(yù)定位置，在其上以凹坑形式存儲位置信息，其特征在于，在預(yù)定位置處的擺動的相位適應(yīng)于在這種預(yù)定位置處凹坑的存在情況。
2．根據(jù)權(quán)利要求1所述的光記錄載體，其特征在于，該擺動在具有凹坑的預(yù)定位置處具有最小值，并且在沒有凹坑的預(yù)定位置處具有最大值。
3．根據(jù)權(quán)利要求1所述的光記錄載體，其特征在于，預(yù)定位置被按系列分組，并且在預(yù)定位置的系列之間在記錄道方向上的擺動表示信息。
4．根據(jù)權(quán)利要求3所述的光記錄載體，其特征在于，在擺動中的信息按照相移鍵控方法編碼。
5．根據(jù)權(quán)利要求1所述的光記錄載體，其特征在于，預(yù)定位置被設(shè)置在相鄰凹槽之間。
6．根據(jù)權(quán)利要求5所述的光記錄載體，其特征在于，僅僅一個相鄰凹槽的擺動的相位適合于表示在一個預(yù)定位置處凹坑的存在情況。
7．根據(jù)權(quán)利要求5所述的光記錄載體，其特征在于，兩個相鄰凹槽的相位適合于表示在預(yù)定位置處凹坑的存在，并且在兩個相鄰凹槽的擺動是反相的。
8．根據(jù)權(quán)利要求1所述的光記錄載體，其特征在于，預(yù)定位置被歸組在兩個相鄰預(yù)定位置的二位字節(jié)中，并且一個凹坑表示在每個二位字節(jié)中。
9．根據(jù)權(quán)利要求1所述的光記錄載體，其特征在于，平臺部分設(shè)置在相鄰凹槽之間，并且平臺部分交替地分布凹坑和無凹坑。
10．一種用于掃描光記錄載體的裝置，該光記錄載體具有基本上平行的記錄道用于以光可檢測的標(biāo)記圖案記錄信息，該記錄道具有搖擺凹槽以及沿著該記錄道的預(yù)定位置，在其上以凹坑形式存儲信息，該裝置包括用于以光束掃描記錄道的光學(xué)系統(tǒng)、用于檢測來自記錄載體的光束的檢測器、以及用于從該檢測器的輸出信號得出由該凹坑所表示的信息的第一信號處理器，其特征在于，該裝置具有用于從檢測器的輸出信號獲得由擺動所表示的信息的第二信號處理器，以及用于從第一信號處理器和第二信號處理器的信息輸出信號形成信息信號的選擇器裝置。
11．根據(jù)權(quán)利要求10所述的裝置，其特征在于，該選擇器裝置被有效連接，以根據(jù)檢測器輸出信號的質(zhì)量在信息輸出信號之間選擇。
12．根據(jù)權(quán)利要求10所述的裝置，其特征在于，由該凹坑所表示的信息至少部分地與由擺動所表示的信息相同。
13．一種掃描光記錄載體的方法，該光記錄載體具有基本上平行的記錄道用于以光可檢測的標(biāo)記圖案記錄信息，該記錄道具有搖擺凹槽以及沿著該記錄道的預(yù)定位置，在其上以凹坑形式存儲信息，其特征在于，在掃描過程中，信息信號從凹坑、擺動、以及獨立于選擇標(biāo)準(zhǔn)的凹坑和擺動中的一種獲得。
全文摘要
一種光記錄載體(1)具有在徑向上擺動的凹槽(4)以及沿著該記錄道的預(yù)定位置(18)的記錄道。接近預(yù)定位置的擺動的相位取決于在預(yù)定位置(20)處凹坑的存在情況。
文檔編號G11B7/24082GK1301382SQ99806217
公開日2001年6月27日 申請日期1999年3月11日 優(yōu)先權(quán)日1998年3月16日
發(fā)明者G·J·范登恩登, J·H·M·斯普瑞特, J·J·L·M·范弗萊肯, R·R·德倫滕 申請人:皇家菲利浦電子有限公司