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磁盤裝置及下觸判定方法

文檔序號(hào):8362645閱讀:243來源:國知局
磁盤裝置及下觸判定方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]該發(fā)明的實(shí)施方式涉及磁盤裝置及下觸(touch down)判定方法。
【背景技術(shù)】
[0002]在具有磁盤的硬盤驅(qū)動(dòng)器(HDD)中,磁頭一邊與磁盤空出間隙,即一邊從磁盤上浮,一邊進(jìn)行相對(duì)于磁盤的記錄再現(xiàn)??墒牵鹨蛴贖DD的使用環(huán)境的溫度、濕度或高度、或者磁盤上的部分的突起等,未能良好地進(jìn)行上浮控制,存在發(fā)生磁頭觸及磁盤的稱為下觸的現(xiàn)象(以下,稱為TD)的情況。
[0003]在發(fā)生該TD的情況下,由于伴隨于TD的磁頭的高度上浮、磁頭的定位精度的降低等,發(fā)生記錄錯(cuò)誤和/或再現(xiàn)錯(cuò)誤。因此,要求高精度地進(jìn)行磁頭相對(duì)于磁盤的上浮設(shè)計(jì),使得在用戶的HDD使用環(huán)境中不會(huì)發(fā)生TD。
[0004]現(xiàn)有,關(guān)于采用HDI (Head-Disk Interface)傳感器的AC輸出的TD檢測(cè)方法已經(jīng)公開。HDI傳感器在磁頭具備有電阻元件,通過HDI傳感器的電阻值的變化能夠?qū)D進(jìn)行檢測(cè)。另一方面作為未采用HDI傳感器的TD檢測(cè)方法,存在利用伺服位置誤差信息的方法。不管是哪種方法,都要求高精度地進(jìn)行TD檢測(cè)。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0005]本發(fā)明提供可以進(jìn)行正確的下觸檢測(cè)的磁盤裝置及下觸判定方法。
[0006]實(shí)施方式的磁盤裝置具有滑動(dòng)器、加熱器、控制部、傳感器和判定部。所述滑動(dòng)器具備相對(duì)于所述磁盤進(jìn)行記錄或再現(xiàn)的磁頭元件。所述加熱器設(shè)置于所述滑動(dòng)器,通過被供給電力對(duì)所述滑動(dòng)器進(jìn)行加熱,并通過伴隨于該加熱的所述滑動(dòng)器的熱變形,使所述磁頭元件相對(duì)于所述磁盤的突出量可變。所述控制部進(jìn)行使與供給于所述加熱器的電力相關(guān)的控制量按一定周期變動(dòng)的DHl (Dynamic Flying Height,動(dòng)態(tài)飛行高度)控制。所述傳感器設(shè)置于所述滑動(dòng)器,輸出對(duì)應(yīng)于相應(yīng)于所述DHl控制的所述磁頭元件的突出量的信號(hào)。所述判定部基于作為相應(yīng)于所述DHl控制的所述傳感器的直流輸出分量的DC輸出信號(hào)的峰值,對(duì)所述磁盤和所述滑動(dòng)器的一部分相接觸的下觸進(jìn)行判定。
【附圖說明】
[0007]圖1是表示一個(gè)實(shí)施方式涉及的磁盤裝置的構(gòu)成的框圖。
[0008]圖2A是表示從磁盤的記錄面?zhèn)瓤吹降拇蓬^的構(gòu)成的圖。
[0009]圖2B是表示從磁盤的周緣部側(cè)看到的磁頭的構(gòu)成的圖。
[0010]圖3是不意地表不HDI傳感器和檢測(cè)電路的電路圖。
[0011]圖4是用于對(duì)通過Dra發(fā)生的磁頭上浮量控制的概念進(jìn)行說明的圖。
[0012]圖5是用于對(duì)下觸的狀態(tài)進(jìn)行說明的圖。
[0013]圖6是用于關(guān)于進(jìn)行下觸檢測(cè)、對(duì)磁頭上浮量進(jìn)行調(diào)整的方法進(jìn)行說明的圖。
[0014]圖7是Dra的控制量和實(shí)際的Dra突出量的關(guān)系的概念圖。
[0015]圖8是表示對(duì)加熱電力進(jìn)行了脈沖控制的情況下的Dra的控制量和實(shí)際的Dra突出量的關(guān)系的概念圖。
[0016]圖9是表示通過HDI傳感器的DC輸出監(jiān)控對(duì)加熱電力進(jìn)行了脈沖控制的情況下的實(shí)際的Dra突出量的例的圖。
[0017]圖10是關(guān)于TD附近的Dra控制量表示與圖9同樣的監(jiān)控值的圖。
[0018]圖11是關(guān)于各DFH的值表不相對(duì)于各DFH控制量的HDI傳感器輸出振幅的峰值平均值和谷值平均值的圖。
[0019]圖12是關(guān)于在圖10進(jìn)行了說明的TD判定方法表示實(shí)際的測(cè)定例的圖。
[0020]圖13表示對(duì)DHl的突出量進(jìn)行脈沖控制、通過HDI傳感器進(jìn)行下觸檢測(cè)的流程。
【具體實(shí)施方式】
[0021]在以下,對(duì)磁盤裝置及TD判定方法的實(shí)施方式基于附圖詳細(xì)地進(jìn)行說明。
[0022]圖1是表示本實(shí)施方式涉及的磁盤裝置I的構(gòu)成的框圖。本實(shí)施方式的磁盤裝置I作為簡要構(gòu)成,在殼體(未圖示)的內(nèi)部,具備磁盤11、使磁盤11旋轉(zhuǎn)的錠子電動(dòng)機(jī)(SPM)12、磁頭22、致動(dòng)臂15、音圈電動(dòng)機(jī)(VCM) 16和燈23等。
[0023]磁盤11通過SPM12旋轉(zhuǎn)。致動(dòng)臂15轉(zhuǎn)動(dòng)自如地安裝于樞軸17。在該致動(dòng)臂15的一端安裝磁頭22。在致動(dòng)臂15的另一端連接VCM16。該VCM16使致動(dòng)臂15繞樞軸17旋轉(zhuǎn),使磁頭22在上浮的狀態(tài)下定位于磁盤11的任意的半徑位置上。
[0024]并且,本實(shí)施方式涉及的磁盤裝置I作為電硬件構(gòu)成,如示于圖1地,具備電動(dòng)機(jī)驅(qū)動(dòng)器 21、磁頭放大器 24、RDC (Read Write Channel,讀寫通道)25、HDC (Hard DiskController,硬盤控制器)31、CPU (Central Processing Unit,中央處理單兀)26、作為工作用存儲(chǔ)器的SRAM (Random Access Memory,隨機(jī)存取存儲(chǔ)器)27、作為非易失性存儲(chǔ)器的Flash ROM (Read Only Memory,只讀存儲(chǔ)器)28和暫時(shí)存儲(chǔ)用的緩沖RAM29。
[0025]電動(dòng)機(jī)驅(qū)動(dòng)器21通過來自CPU26的指令,對(duì)SPM12進(jìn)行驅(qū)動(dòng),使磁盤11以旋轉(zhuǎn)軸為中心以預(yù)定的旋轉(zhuǎn)速度旋轉(zhuǎn)。并且,電動(dòng)機(jī)驅(qū)動(dòng)器21通過來自CPU26的指令,對(duì)VCM16進(jìn)行驅(qū)動(dòng),使致動(dòng)臂15的前端的磁頭22移動(dòng)于磁盤11的半徑方向。
[0026]磁頭22對(duì)于磁盤11寫入數(shù)據(jù),并且,讀入記錄于磁盤11的數(shù)據(jù)。
[0027]圖2A及圖2B是磁頭22的簡要構(gòu)成圖。圖2A表示從磁盤11的記錄面?zhèn)瓤吹降拇蓬^22的構(gòu)成,圖2B表示從磁盤11的周緣部側(cè)看到的磁頭22的構(gòu)成。
[0028]本實(shí)施方式的磁頭22如示于圖2A、2B地構(gòu)成為:在磁頭滑動(dòng)器205,設(shè)置有記錄頭201、再現(xiàn)頭202、作為加熱部的加熱器204和作為檢測(cè)部的HDI傳感器203。
[0029]記錄頭201通過從其磁極發(fā)生的磁場(chǎng),在磁盤11的數(shù)據(jù)區(qū)域進(jìn)行數(shù)據(jù)的寫入。再現(xiàn)頭202通過讀取磁盤11上的磁場(chǎng)的變化,進(jìn)行記錄于磁盤11的數(shù)據(jù)的讀出。還有,在磁盤11的旋轉(zhuǎn)停止時(shí)等,磁頭22退避于燈23 (參照?qǐng)D1)上。
[0030]HDI傳感器203具備電阻元件(在圖2A、2B中未圖示),通過該電阻元件對(duì)記錄頭201或再現(xiàn)頭202與磁盤11的接觸進(jìn)行檢測(cè)。還有,關(guān)于通過HDI傳感器203進(jìn)行的檢測(cè)的詳情后述。
[0031]加熱器204接受來自電力供給部33的電力供給而對(duì)磁頭22的磁頭滑動(dòng)器205進(jìn)行加熱。通過該加熱,磁頭22因?yàn)榇蓬^滑動(dòng)器205熱變形,所以磁頭22的離開磁盤11的上浮量變化。
[0032]返回到圖1,電力供給部33通過來自CPU26的指令,對(duì)于加熱器204進(jìn)行電力供給。關(guān)于通過加熱器204的加熱進(jìn)行的磁頭22的上浮量的控制的詳情后述。
[0033]磁頭放大器24對(duì)再現(xiàn)頭202從磁盤11讀取的再現(xiàn)波形的信號(hào)進(jìn)行放大而輸出于RDC25。并且,磁頭放大器24對(duì)從RDC25供給的寫入信號(hào)進(jìn)行放大,輸出于記錄頭201。
[0034]磁頭放大器24除了具有如此的放大功能之外,而且如示于圖1地,具備作為檢測(cè)部的檢測(cè)電路101。檢測(cè)電路101為通過對(duì)HDI傳感器203的電阻元件的電阻值的變化進(jìn)行檢測(cè),對(duì)磁頭的突出量進(jìn)行檢測(cè)的電路。并且,在磁頭放大器24,內(nèi)置使HDI傳感器203的電阻元件401 (參照?qǐng)D3)通電的恒流源(未圖示)。
[0035]圖3是示
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