錯誤校正電路及包括其的半導(dǎo)體存儲器件的制作方法
【專利摘要】一種錯誤校正電路包括：故障檢測單元，適于檢測多個數(shù)據(jù)之中的故障數(shù)據(jù)；數(shù)據(jù)輸出控制單元，適于選擇性地輸出排除了故障數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)中的與預(yù)定量相對應(yīng)的測試數(shù)據(jù)；以及錯誤校正單元，適用于對測試數(shù)據(jù)執(zhí)行單位ECC操作。
【專利說明】錯誤校正電路及包括其的半導(dǎo)體存儲器件
[0001]相關(guān)申請的交叉引用
[0002]本申請要求2015年4月22日提交的申請?zhí)枮?0-2015-0056599的韓國專利申請的優(yōu)先權(quán)，其通過引用整體合并于此。
技術(shù)領(lǐng)域
[0003]本發(fā)明的各種實施例涉及一種半導(dǎo)體設(shè)計技術(shù)，更具體地說，涉及一種執(zhí)行錯誤校正碼(ECC)操作的半導(dǎo)體器件。
【背景技術(shù)】
[0004]在制造半導(dǎo)體存儲器件之后，執(zhí)行測試以篩選故障，例如，故障存儲單元。與故障存儲單元相對應(yīng)的列地址信息被儲存在儲存單元中。半導(dǎo)體存儲器件執(zhí)行ECC操作以校正數(shù)據(jù)中的錯誤。當半導(dǎo)體存儲器件具有故障列時，不對該故障列執(zhí)行ECC操作。
[0005]當半導(dǎo)體存儲器件對列線執(zhí)行ECC操作時，半導(dǎo)體存儲器件不可以一次對所有列線執(zhí)行ECC操作，而是對一組列線執(zhí)行ECC操作。對一組列線執(zhí)行的ECC操作被稱作單位ECC操作。通常，單位ECC操作中的列線的數(shù)目已經(jīng)被設(shè)置為固定值。因此，當組內(nèi)存在故障列時，半導(dǎo)體存儲器件忽略該故障列線而對剩余的列線執(zhí)行ECC操作。因此，當故障列線在組內(nèi)時，被執(zhí)行ECC操作的有效列線的數(shù)目被故障列線的數(shù)目減少。例如，當用于單位ECC操作的組具有1024字節(jié)的列線和3字節(jié)的故障列線時，有效列線可以被減少至1021字節(jié)，從而降低ECC操作的效率。

【發(fā)明內(nèi)容】

[0006]各種實施例針對一種能夠檢測故障列線并將檢測結(jié)果反映至ECC操作中的半導(dǎo)體器件。
[0007]在一個實施例中，錯誤校正電路可以包括:故障檢測單元，適于檢測故障數(shù)據(jù);數(shù)據(jù)輸出控制單元，適于選擇性地輸出排除了故障數(shù)據(jù)的與預(yù)定數(shù)目數(shù)據(jù)相對應(yīng)的測試數(shù)據(jù)；以及錯誤校正單元，適于對測試數(shù)據(jù)執(zhí)行單位ECC操作。
[0008]故障檢測單元可以檢測儲存數(shù)據(jù)的電路中以及數(shù)據(jù)通過其傳輸?shù)木€路中的故障。
[0009]在一個實施例中，一種半導(dǎo)體存儲器件可以包括:存儲單元陣列，包括耦接至多個列線的多個存儲單元;故障檢測單元，適于檢測故障列線的數(shù)目；列地址發(fā)生單元，適用于基于故障列線的數(shù)目來生成測試地址;列驅(qū)動單元，適于基于測試地址來驅(qū)動與單位ECC操作相對應(yīng)的列線；以及錯誤校正單元，適于對與列線相對應(yīng)的測試數(shù)據(jù)執(zhí)行單位ECC操作。
[0010]故障檢測單元可以包括:數(shù)據(jù)感測單元，適于感測測試數(shù)據(jù)的邏輯電平以及檢測列線中是否已經(jīng)出現(xiàn)故障；以及計數(shù)單元，適于基于檢測結(jié)果來對故障列線的數(shù)目計數(shù)。[0011 ]地址發(fā)生單元可以基于故障列線的數(shù)目來生成測試地址，所述故障列線的數(shù)目為計數(shù)單元的輸出。
[0012]測試數(shù)據(jù)可以排除從故障列線中輸出的數(shù)據(jù)。
[0013]列驅(qū)動單元可以包括:多個頁緩沖器，用于存儲單元的讀取/寫入操作；以及列解碼器，適于選擇性地驅(qū)動耦接至與測試地址相對應(yīng)的列線的頁緩沖器。
[0014]在一個實施例中，一種半導(dǎo)體存儲器件的操作方法可以包括:初始設(shè)置多個列地址之中的用于單位ECC操作的多個測試地址；檢測故障地址；重置測試地址以排除故障地址；以及對與重置測試地址相對應(yīng)的數(shù)據(jù)執(zhí)行單位ECC操作。
[0015]檢測故障地址可以包括:感測與列地址相對應(yīng)的數(shù)據(jù)的邏輯電平；以及根據(jù)鎖存的數(shù)據(jù)電平來判斷在所述列地址中是否已經(jīng)出現(xiàn)故障。
[0016]重置測試地址可以包括:根據(jù)列地址中是否已經(jīng)出現(xiàn)故障來對故障地址計數(shù)；以及將計數(shù)結(jié)果反映在測試地址中。
[0017]反映計數(shù)結(jié)果可以包括:將與計數(shù)結(jié)果相對應(yīng)的值添加至測試地址的最大值。
[0018]所述操作方法還可以包括:對與初始設(shè)置的測試地址相對應(yīng)的數(shù)據(jù)執(zhí)行單位ECC操作。
[0019]執(zhí)行單位ECC操作可以包括:對與初始設(shè)置的測試地址相對應(yīng)的第一數(shù)據(jù)執(zhí)行單位ECC操作；以及對與初始設(shè)置的測試地址相對應(yīng)的第二數(shù)據(jù)執(zhí)行單位ECC操作。
[0020]與重置測試地址相對應(yīng)的數(shù)據(jù)可以包括通過將第一數(shù)據(jù)中的與故障地址相對應(yīng)的數(shù)據(jù)被排除的數(shù)據(jù)添加至第二數(shù)據(jù)的一部分而得到的數(shù)據(jù)。
[0021]第二數(shù)據(jù)的所述部分的量可以等于與故障地址相對應(yīng)的數(shù)據(jù)的量。
【附圖說明】
[0022]圖1是圖示根據(jù)本發(fā)明的實施例的錯誤校正電路的框圖。
[0023]圖2是圖示根據(jù)本發(fā)明的實施例的半導(dǎo)體存儲器件的框圖。
[0024]圖3是用于描述圖2中示出的半導(dǎo)體存儲器件的操作的流程圖。
【具體實施方式】
[0025]下面將參照附圖來更詳細地描述各種實施例。然而，本發(fā)明可以以不同的形式來實施，而不應(yīng)當被解釋為對本文中所陳述的實施例進行限制。相反地，提供這些實施例使得本公開將是徹底且完整的，且這些實施例將向本領(lǐng)域技術(shù)人員充分地傳達本發(fā)明的范圍。在貫穿本公開中，相同的附圖標記在貫穿本發(fā)明的各種示圖和實施例中指代相同的部件。
[0026]在本公開中，當一個部件被稱作“連接”至另一部件時，這應(yīng)當被理解為前者可以“直接連接”至后者，或者經(jīng)由中間部件來“電連接”至后者。此外，當描述為一物包含(或包括或具有)一些元件時，如果不存在特定的限定，則這應(yīng)當被理解為其可以僅包含(或包括或具有)那些元件，或者其可以包含(或包括或具有)其他元件以及那些元件。除非另外說明，否則單數(shù)形式的術(shù)語可以包括復(fù)數(shù)形式。
[0027]圖1是圖示根據(jù)本發(fā)明的實施例的錯誤校正電路的框圖。
[0028]參見圖1，錯誤校正電路可以包括故障檢測單元110、數(shù)據(jù)輸出控制單元120和錯誤校正單元130。
[0029]故障檢測單元110可以通過多個數(shù)據(jù)線來接收多個數(shù)據(jù)DATl至DATn(其中η是自然數(shù))，檢測來自在其中儲存數(shù)據(jù)的電路中和數(shù)據(jù)通過其傳輸?shù)木€路中的故障，以及輸出故障信息FAIL_INF0。故障檢測單元110可以感測數(shù)據(jù)DATl至DATn的邏輯電平以檢測是否出現(xiàn)故障。例如，當在儲存數(shù)據(jù)DATl至DATn的電路中和數(shù)據(jù)通過其傳輸?shù)木€路中出現(xiàn)故障時，預(yù)定值不能被適當?shù)貍鬏?。因此，故障檢測單元110可以通過確定該值來檢測故障。
[0030]數(shù)據(jù)輸出控制單元120可以響應(yīng)于故障信息FAIL_INF0而選擇性地輸出數(shù)據(jù)DATl至DATn之中的多個測試數(shù)據(jù)TDATl至TDATm(其中m為小于η的自然數(shù))，故障信息FAIL_INF0指示數(shù)據(jù)DATl至DATn中是否已經(jīng)出現(xiàn)故障。測試數(shù)據(jù)TDATl至TDATm可以具有可被執(zhí)行單位ECC操作的數(shù)據(jù)的最大值。在對數(shù)據(jù)DATl至DATn執(zhí)行ECC操作時，對與預(yù)定量的數(shù)據(jù)相對應(yīng)的每個組執(zhí)行單位ECC操作。
[0031]數(shù)據(jù)輸出控制單元120可以根據(jù)故障信息FAIL_INF0而將儲存故障數(shù)據(jù)的電路和故障數(shù)據(jù)通過其傳輸?shù)木€路確定為故障電路和故障線路。在此情形下，從對應(yīng)的電路和線路輸出的數(shù)據(jù)不能包括在測試數(shù)據(jù)TDATl至TDATm中。例如，當用于單位ECC操作的測試數(shù)據(jù)TDATl至TDATm的最大量為1024字節(jié)且在測試數(shù)據(jù)TDATl至TDATm中有3字節(jié)的故障數(shù)據(jù)時，與3字節(jié)相對應(yīng)的故障數(shù)據(jù)不能包括在測試數(shù)據(jù)TDATl至TDATm中，但與數(shù)據(jù)DATl至DATn中的在O字節(jié)至1023字節(jié)后所輸入的3字節(jié)相對應(yīng)的從1024字節(jié)至1026字節(jié)的數(shù)據(jù)可以包括在測試數(shù)據(jù)TDATl至TDATm中。換言之，數(shù)據(jù)輸出控制單元120可以忽略故障數(shù)據(jù)(S卩，從故障電路和故障線路輸出的數(shù)據(jù))、添加故障數(shù)據(jù)量的有效數(shù)據(jù)(即，從可用電路和可用線路輸出的數(shù)據(jù))，以及確保最大量的測試數(shù)據(jù)TDATl至TDATm。
[0032]錯誤校正單元130可以對從數(shù)據(jù)輸出控制單元120輸出的測試數(shù)據(jù)TDATl至TDATm執(zhí)行ECC操作。
[0033]S卩，錯誤校正電路可以檢測數(shù)據(jù)DATl至DATn中是否已經(jīng)出現(xiàn)故障，以及根據(jù)檢測結(jié)果而選擇性地輸出用于單位ECC操作的測試數(shù)據(jù)TDATl至TDATm。換言之，當用于單位ECC操作的最大量內(nèi)存在故障數(shù)據(jù)時，錯誤校正電路可以忽略故障數(shù)據(jù)、添加故障數(shù)據(jù)量的有效數(shù)據(jù)，以及確保用于單位ECC操作的最大量的數(shù)據(jù)。因此，即使出現(xiàn)故障數(shù)據(jù)，由于有效數(shù)據(jù)的量也未降低，因此ECC操作的條件未改變。因此，可以改善篩選以及測試結(jié)果的可靠性。
[0034]圖2是圖示根據(jù)本發(fā)明的實施例的半導(dǎo)體存儲器件的框圖。
[0035]參見圖2，半導(dǎo)體存儲器件可以包括存儲單元陣列210、列驅(qū)動單元220、故障檢測單元230、列地址發(fā)生單元240以及錯誤校正單元250。
[0036]存儲單元陣列210可以包括多個存儲單元(未圖示)，且存儲單元可以耦接至位線BL(在下文中，被稱作列線)和字線WL。
[0037]列驅(qū)動單元220可以包括多個頁緩沖器(PB)221 j至221_k以及列解碼器222，其中，k為自然數(shù)。
[0038]頁緩沖器2211至221_k可以根據(jù)操作模式而作為寫入驅(qū)動器或感測放大器來操作。例如，在編程操作期間，頁緩沖器221_1至221_k可以作為寫入驅(qū)動器來操作以將通過輸入/輸出緩沖器(未圖示)輸入的數(shù)據(jù)儲存在存儲單元陣列210的存儲單元中。對于此操作，頁緩沖器221_1至221_k可以包括配置為暫時儲存輸入數(shù)據(jù)的高速緩沖鎖存器(未圖示)。此夕卜，頁緩沖器221_1至221_k可以作為感測放大器來操作以輸出在讀取操作期間從存儲單元陣列210的存儲單元讀取的數(shù)據(jù)。在本發(fā)明的實施例中，將描述作為感測放大器的頁緩沖器221_1至221_沾勺操作。
[0039]列解碼器222可以解碼多個列地址C_ADD并選擇性地使能頁緩沖器221_1至221_k。
[0040]故障檢測單元230可以根據(jù)耦接至多個列線的存儲單元中儲存的測試數(shù)據(jù)DATl至DATn中是否已經(jīng)出現(xiàn)故障來檢測故障列線的數(shù)目。
[0041 ] 故障檢測單元230可以包括數(shù)據(jù)感測單元231和計數(shù)單元232。
[0042]數(shù)據(jù)感測單元231可以感測與列線相對應(yīng)的測試數(shù)據(jù)DATl至DATn的電平，并檢測是否出現(xiàn)故障。與列線相對應(yīng)的測試數(shù)據(jù)DATl至DATn可以包括從耦接至列線的存儲單元中讀取的數(shù)據(jù)。此外，數(shù)據(jù)感測單元231可以檢測與所有列線相對應(yīng)的測試數(shù)據(jù)DATl至DATn中是否已經(jīng)出現(xiàn)故障。此時，輸入至列解碼器222的列地aC_ADD可以包括與所有列線相對應(yīng)的列地aC_ADD。
[0043]計數(shù)單元232可以響應(yīng)于檢測結(jié)果而對故障列線的數(shù)目FAIL_CNT計數(shù)以輸出計數(shù)值。
[0044]換言之，故障檢測單元230可以根據(jù)耦接至列線的存儲單元中儲存的數(shù)據(jù)中是否已經(jīng)出現(xiàn)故障來檢測故障列線的數(shù)目FAIL_CNT。
[0045]列地址發(fā)生單元240可以根據(jù)故障列線的數(shù)目FAIL_CNT來生成列地址C_ADD作為測試地址。初始生成的地址被稱作第一測試地址，而根據(jù)故障列線的數(shù)目來重置(或重新配置)和生成的地址被稱作第二測試地址。第一測試地址可以指示與所有列線相對應(yīng)的列地址，而第二測試地址可以指示與所有列線相對應(yīng)的列地址之中的用于單位ECC操作的最大數(shù)目的地址。即，第二測試地址指示除與故障列線相對應(yīng)的地址之外的地址。例如，當用于單位ECC操作的第二測試地址的最大數(shù)目為1024字節(jié)時，與所有列線相對應(yīng)的列地址(SP，第一測試地址)可以包括所有列地址，該所有列地址包含用于單位ECC操作的最大數(shù)目的列地址。當在1024字節(jié)內(nèi)存在故障列地址時，可以通過排除故障列地址并且添加故障列地址數(shù)目的有效地址來重置第二測試地址，所述有效地址在1024字節(jié)后的地址之中。
[0046]雖然未圖示，但是列地址發(fā)生單元240可以從CAM(未圖示)接收關(guān)于故障列地址的?目息O
[0047]列驅(qū)動單元220可以響應(yīng)于根據(jù)故障列線的數(shù)目而重置的列地址C_ADD(即，第二測試地址)來驅(qū)動列線之中的與單位ECC操作相對應(yīng)的列線。
[0048]錯誤校正單元250可以對從響應(yīng)于第二測試地址而驅(qū)動的列線輸出的測試數(shù)據(jù)來執(zhí)行單位ECC操作。
[0049]圖3是用于描述圖2中示出的半導(dǎo)體存儲器件的操作的流程圖。
[0050]參見圖2和圖3，在步驟S310處，列地址發(fā)生單元240可以對多個列地址之中的用于單位ECC操作的測試地址進行初始設(shè)置。
[0051]在步驟S320處，故障檢測單元230可以檢測列地址之中的故障地址。在檢測故障地址時，數(shù)據(jù)感測單元231可以感測與列地址相對應(yīng)的數(shù)據(jù)的邏輯電平，以及檢測列地址中是否已經(jīng)出現(xiàn)故障。當在步驟S330處檢測到故障地址時，在步驟S340處，列地址發(fā)生單元240可以響應(yīng)于故障地址而重置(或重新配置)測試地址。具體地說，當在初始設(shè)置的預(yù)定數(shù)目的測試地址中檢測到故障地址時，列地址發(fā)生單元240通過添加與故障地址的數(shù)目相對應(yīng)的有效地址來重置測試地址。然后，在步驟S350處，錯誤校正單元250可以對與重置測試地址相對應(yīng)的數(shù)據(jù)執(zhí)行ECC操作。
[0052]另一方面，當在步驟S330處未檢測到故障地址時，在步驟S350處，錯誤校正單元250可以對與初始設(shè)置的測試地址相對應(yīng)的數(shù)據(jù)執(zhí)行ECC操作。
[0053]S卩，半導(dǎo)體存儲器件可以檢測列線中是否已經(jīng)出現(xiàn)故障，并對故障列線的數(shù)目計數(shù)。此外，半導(dǎo)體存儲器件可以根據(jù)故障列線的數(shù)目來重置用于單位ECC操作的最大值(SP，測試地址的預(yù)定數(shù)目)。換言之，當與故障列線相對應(yīng)的地址在用于單位ECC操作的最大值內(nèi)時，半導(dǎo)體存儲器件可以忽略故障列地址，并添加與故障地址的數(shù)目相對應(yīng)的有效地址，從而維持用于單位ECC操作的最大數(shù)目的測試地址。因此，半導(dǎo)體存儲器件可以將與故障列線的數(shù)目相對應(yīng)的有效地址添加至測試地址并執(zhí)行單位ECC操作。因此，盡管存在故障地址，但是ECC操作的條件未改變。因此，可以改善篩選和測試結(jié)果的可靠性。
[0054]雖然已經(jīng)出于說明的目的而描述了各種實施例，但對于本領(lǐng)域技術(shù)人員而言將明顯的是，在不脫離如所附權(quán)利要求書所限定的本發(fā)明的精神和范圍的情況下，可以做出各種改變和變型。
[0055]通過以上實施例可以看出，本申請?zhí)峁┮韵录夹g(shù)方案。
[0056]技術(shù)方案1.一種錯誤校正電路，包括:
[0057]故障檢測單元，適于檢測故障數(shù)據(jù)；
[0058]數(shù)據(jù)輸出控制單元，適于選擇性地輸出排除了故障數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)中的與預(yù)定數(shù)目相對應(yīng)的測試數(shù)據(jù)；以及
[0059]錯誤校正單元，適于對測試數(shù)據(jù)執(zhí)行單位ECC操作。
[0060]技術(shù)方案2.如技術(shù)方案I所述的錯誤校正電路，其中，故障檢測單元檢測儲存數(shù)據(jù)的電路中以及數(shù)據(jù)通過其傳輸?shù)木€路中的故障。
[0061]技術(shù)方案3.—種半導(dǎo)體存儲器件，包括:
[0062]存儲單元陣列，包括耦接至多個列線的多個存儲單元；
[0063]故障檢測單元，適于檢測故障列線的數(shù)目；
[0064]列地址發(fā)生單元，適于基于故障列線的數(shù)目來生成測試地址；
[0065]列驅(qū)動單元，適于基于測試地址來驅(qū)動與單位ECC操作相對應(yīng)的列線；以及
[0066]錯誤校正單元，適于對與列線相對應(yīng)的測試數(shù)據(jù)執(zhí)行單位ECC操作。
[0067]技術(shù)方案4.如技術(shù)方案3所述的半導(dǎo)體存儲器件，其中，故障檢測單元包括:
[0068]數(shù)據(jù)感測單元，適于感測測試數(shù)據(jù)的邏輯電平以及檢測列線中是否已經(jīng)出現(xiàn)故障；以及
[0069]計數(shù)單元，適于基于檢測結(jié)果來對故障列線的數(shù)目計數(shù)。
[0070]技術(shù)方案5.如技術(shù)方案4所述的半導(dǎo)體存儲器件，其中，地址發(fā)生單元基于故障列線的數(shù)目來生成測試地址，故障列線的數(shù)目為計數(shù)單元的輸出。
[0071]技術(shù)方案6.如技術(shù)方案3所述的半導(dǎo)體存儲器件，其中，測試數(shù)據(jù)排除了從故障列線中輸出的數(shù)據(jù)。
[0072]技術(shù)方案7.如技術(shù)方案3所述的半導(dǎo)體存儲器件，其中，列驅(qū)動單元包括:
[0073]多個頁緩沖器，用于存儲單元的讀取/寫入操作；以及
[0074]列解碼器，適于選擇性地驅(qū)動耦接至與測試地址相對應(yīng)的列線的頁緩沖器。
[0075]技術(shù)方案8.一種半導(dǎo)體存儲器件的操作方法，包括:
[0076]對多個列地址之中的用于單位ECC操作的多個測試地址進行初始設(shè)置；
[0077]檢測故障地址；
[0078]重置測試地址以排除故障地址；以及
[0079]對與經(jīng)重置的測試地址相對應(yīng)的數(shù)據(jù)執(zhí)行單位ECC操作。
[0080]技術(shù)方案9.如技術(shù)方案8所述的操作方法，其中，檢測故障地址的步驟包括:
[0081 ]感測與列地址相對應(yīng)的數(shù)據(jù)的邏輯電平；以及
[0082]根據(jù)鎖存的數(shù)據(jù)電平來判斷在列地址中是否已經(jīng)出現(xiàn)故障。
[0083]技術(shù)方案10.如技術(shù)方案9所述的操作方法，其中，重置測試地址的步驟包括:
[0084]根據(jù)列地址中是否已經(jīng)出現(xiàn)故障來對故障地址計數(shù)；以及
[0085]將計數(shù)結(jié)果反映在測試地址中。
[0086]技術(shù)方案11.如技術(shù)方案10所述的操作方法，其中，反映計數(shù)結(jié)果的步驟包括:將與計數(shù)結(jié)果相對應(yīng)的值添加至測試地址的最大值。
[0087]技術(shù)方案12.如技術(shù)方案8所述的操作方法，還包括:對與初始設(shè)置的測試地址相對應(yīng)的數(shù)據(jù)執(zhí)行單位ECC操作。
[0088]技術(shù)方案13.如技術(shù)方案12所述的操作方法，其中，執(zhí)行單位ECC操作的步驟包括:
[0089]對與初始設(shè)置的測試地址相對應(yīng)的第一數(shù)據(jù)執(zhí)行單位ECC操作；以及
[0090]對與初始設(shè)置測試地址相對應(yīng)的第二數(shù)據(jù)執(zhí)行單位ECC操作。
[0091]技術(shù)方案14.如技術(shù)方案13所述的操作方法，其中，與經(jīng)重置的測試地址相對應(yīng)的數(shù)據(jù)包括通過將在第一數(shù)據(jù)中的與故障地址相對應(yīng)的數(shù)據(jù)被排除的數(shù)據(jù)添加至第二數(shù)據(jù)中的一部分而得到的數(shù)據(jù)。
[0092]技術(shù)方案15.如技術(shù)方案14所述的操作方法，其中，第二數(shù)據(jù)的所述一部分的量等于與故障地址相對應(yīng)的數(shù)據(jù)的量。
【主權(quán)項】
1.一種錯誤校正電路，包括: 故障檢測單元，適于檢測故障數(shù)據(jù)； 數(shù)據(jù)輸出控制單元，適于選擇性地輸出排除了故障數(shù)據(jù)的數(shù)據(jù)中的與預(yù)定數(shù)目相對應(yīng)的測試數(shù)據(jù)；以及 錯誤校正單元，適于對測試數(shù)據(jù)執(zhí)行單位ECC操作。2.如權(quán)利要求1所述的錯誤校正電路，其中，故障檢測單元檢測儲存數(shù)據(jù)的電路中以及數(shù)據(jù)通過其傳輸?shù)木€路中的故障。3.—種半導(dǎo)體存儲器件，包括: 存儲單元陣列，包括耦接至多個列線的多個存儲單元； 故障檢測單元，適于檢測故障列線的數(shù)目； 列地址發(fā)生單元，適于基于故障列線的數(shù)目來生成測試地址； 列驅(qū)動單元，適于基于測試地址來驅(qū)動與單位ECC操作相對應(yīng)的列線；以及 錯誤校正單元，適于對與列線相對應(yīng)的測試數(shù)據(jù)執(zhí)行單位ECC操作。4.如權(quán)利要求3所述的半導(dǎo)體存儲器件，其中，故障檢測單元包括: 數(shù)據(jù)感測單元，適于感測測試數(shù)據(jù)的邏輯電平以及檢測列線中是否已經(jīng)出現(xiàn)故障；以及 計數(shù)單元，適于基于檢測結(jié)果來對故障列線的數(shù)目計數(shù)。5.如權(quán)利要求4所述的半導(dǎo)體存儲器件，其中，地址發(fā)生單元基于故障列線的數(shù)目來生成測試地址，故障列線的數(shù)目為計數(shù)單元的輸出。6.如權(quán)利要求3所述的半導(dǎo)體存儲器件，其中，測試數(shù)據(jù)排除了從故障列線中輸出的數(shù)據(jù)。7.如權(quán)利要求3所述的半導(dǎo)體存儲器件，其中，列驅(qū)動單元包括: 多個頁緩沖器，用于存儲單元的讀取/寫入操作；以及 列解碼器，適于選擇性地驅(qū)動耦接至與測試地址相對應(yīng)的列線的頁緩沖器。8.一種半導(dǎo)體存儲器件的操作方法，包括: 對多個列地址之中的用于單位ECC操作的多個測試地址進行初始設(shè)置； 檢測故障地址； 重置測試地址以排除故障地址；以及 對與經(jīng)重置的測試地址相對應(yīng)的數(shù)據(jù)執(zhí)行單位ECC操作。9.如權(quán)利要求8所述的操作方法，其中，檢測故障地址的步驟包括: 感測與列地址相對應(yīng)的數(shù)據(jù)的邏輯電平；以及 根據(jù)鎖存的數(shù)據(jù)電平來判斷在列地址中是否已經(jīng)出現(xiàn)故障。10.如權(quán)利要求9所述的操作方法，其中，重置測試地址的步驟包括: 根據(jù)列地址中是否已經(jīng)出現(xiàn)故障來對故障地址計數(shù)；以及 將計數(shù)結(jié)果反映在測試地址中。
【文檔編號】G06F11/10GK106067326SQ201510926474
【公開日】2016年11月2日
【申請日】2015年12月14日 公開號201510926474.3, CN 106067326 A, CN 106067326A, CN 201510926474, CN-A-106067326, CN106067326 A, CN106067326A, CN201510926474, CN201510926474.3
【發(fā)明人】車載元, 樸宰佑
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