用于測(cè)試存儲(chǔ)芯片在高溫環(huán)境下的數(shù)據(jù)保存能力的測(cè)試箱的制作方法
【專(zhuān)利摘要】本實(shí)用新型具體涉及一種用于測(cè)試存儲(chǔ)芯片在高溫環(huán)境下的數(shù)據(jù)保存能力的測(cè)試箱，包括箱體、溫度控制器、接口電路板、用于控制溫度控制器工作的控制按鍵、用于運(yùn)行存儲(chǔ)芯片的系統(tǒng)主機(jī)以及用于顯示運(yùn)行結(jié)果的主顯示屏；溫度控制器安裝在箱體內(nèi)，控制按鍵安裝在箱體表面，控制按鍵與溫度控制器電性連接；接口電路板安裝在箱體內(nèi)，接口電路板設(shè)有多個(gè)用于連接存儲(chǔ)芯片的電插口，接口電路板與系統(tǒng)主機(jī)電連接，系統(tǒng)主機(jī)與主顯示屏電連接。在溫度控制器作用下，使箱體內(nèi)溫度達(dá)到一恒定值，箱體內(nèi)安裝接口電路板，將待測(cè)試的存儲(chǔ)芯片安插在接口電路板的電插口，由系統(tǒng)主機(jī)在特定溫度下運(yùn)行存儲(chǔ)芯片，用于檢測(cè)儲(chǔ)存芯片在高溫環(huán)境下的性能。
【專(zhuān)利說(shuō)明】
用于測(cè)試存儲(chǔ)芯片在高溫環(huán)境下的數(shù)據(jù)保存能力的測(cè)試箱
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本實(shí)用新型涉及電子產(chǎn)品領(lǐng)域，尤其涉及一種測(cè)試箱。
【背景技術(shù)】
[0002]硬盤(pán)、U盤(pán)等存儲(chǔ)產(chǎn)品都是通過(guò)內(nèi)部的存儲(chǔ)顆粒對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行保存的，通常這類(lèi)產(chǎn)品都是在正常溫度環(huán)境下使用的，然而在某些特殊情況下，這些產(chǎn)品的不可避免的會(huì)處于高溫環(huán)境中。
[0003]對(duì)于產(chǎn)品內(nèi)部的存儲(chǔ)顆粒，環(huán)境的溫度不同，其工作狀態(tài)存在一定的差異，因?yàn)榇鎯?chǔ)顆粒是通過(guò)電子來(lái)存儲(chǔ)數(shù)據(jù)的，高溫下電子更加的活躍，因此，有必要測(cè)試存儲(chǔ)顆粒在高溫環(huán)境下對(duì)數(shù)據(jù)的保存能力，以判斷產(chǎn)品的整體性能。當(dāng)存儲(chǔ)顆粒發(fā)生漏電，則無(wú)法繼續(xù)保存數(shù)據(jù)。
[0004]而現(xiàn)有技術(shù)中，通常只是對(duì)硬盤(pán)等存儲(chǔ)設(shè)備進(jìn)行讀寫(xiě)能力的測(cè)試，即老化測(cè)試。讀寫(xiě)能力的測(cè)試過(guò)程為:在常溫下，不斷地對(duì)硬盤(pán)進(jìn)行寫(xiě)入數(shù)據(jù)、讀取數(shù)據(jù)等測(cè)試，以判斷硬盤(pán)的性能。
[0005]然而，根據(jù)上問(wèn)描述可知，僅僅是對(duì)硬盤(pán)進(jìn)行這類(lèi)測(cè)試，沒(méi)有測(cè)試存儲(chǔ)顆粒在高溫環(huán)境下對(duì)數(shù)據(jù)的保存能力，無(wú)法整體地衡量硬盤(pán)的性能。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0006]本實(shí)用新型的目的在于提供一種用于測(cè)試存儲(chǔ)芯片在高溫環(huán)境下的數(shù)據(jù)保存能力測(cè)試箱。
[0007]為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提供一種用于測(cè)試存儲(chǔ)芯片在高溫環(huán)境下的數(shù)據(jù)保存能力的測(cè)試箱，包括設(shè)有開(kāi)關(guān)門(mén)的箱體、用于控制箱體內(nèi)溫度的溫度控制器、接口電路板、用于控制溫度控制器工作的控制按鍵、用于運(yùn)行存儲(chǔ)芯片的系統(tǒng)主機(jī)以及用于顯示運(yùn)行結(jié)果的主顯示屏;所述溫度控制器安裝在箱體內(nèi)，所述控制按鍵安裝在箱體表面，所述控制按鍵與溫度控制器電性連接;所述接口電路板安裝在箱體內(nèi)，所述接口電路板設(shè)有多個(gè)用于連接存儲(chǔ)芯片的電插口，所述接口電路板與系統(tǒng)主機(jī)電連接，所述系統(tǒng)主機(jī)與主顯示屏電連接。
[0008]優(yōu)選的，所述接口電路板上設(shè)有與電插口一一對(duì)應(yīng)、用于指示存儲(chǔ)芯片是否丟失數(shù)據(jù)的指示燈。
[0009]優(yōu)選的，所述箱體上還設(shè)有用于顯示溫度、時(shí)間信息的副顯示屏，所述副顯示屏與溫度控制器電性連接。
[0010]本實(shí)用新型的有益效果是:本實(shí)用新型提供的用于測(cè)試存儲(chǔ)芯片在高溫環(huán)境下的數(shù)據(jù)保存能力的測(cè)試箱，在溫度控制器作用下，使箱體內(nèi)溫度達(dá)到一恒定值，控制按鍵用于調(diào)整該恒定值的大小，例如，對(duì)于硬盤(pán)來(lái)，通?？刂茷?0 0C或85 °C來(lái)進(jìn)行測(cè)試;箱體內(nèi)安裝接口電路板，將待測(cè)試的存儲(chǔ)芯片安插在接口電路板的電插口，由系統(tǒng)主機(jī)在特定溫度下運(yùn)行存儲(chǔ)芯片，并對(duì)存儲(chǔ)芯片進(jìn)行數(shù)據(jù)寫(xiě)入操作，以寫(xiě)完一輪為一次，寫(xiě)入預(yù)設(shè)次數(shù)后，將存儲(chǔ)芯片取出，看是否產(chǎn)生壞區(qū)，產(chǎn)生的壞區(qū)越小，則芯片的性能越好。接口電路板設(shè)有多個(gè)電插口，可以一次性測(cè)試多個(gè)存儲(chǔ)芯片，工作效率較高。
【附圖說(shuō)明】
[0011]圖1為本實(shí)用新型提供的測(cè)試箱的結(jié)構(gòu)圖。
[0012]主要元件符號(hào)說(shuō)明如下:
[0013]11、箱體12、溫度控制器
[0014]13、接口電路板 14、控制按鍵
[0015]15、系統(tǒng)主機(jī)16、主顯示屏
[0016]17、副顯示屏18、存儲(chǔ)芯片。
【具體實(shí)施方式】
[0017]為了更清楚地表述本實(shí)用新型，下面結(jié)合附圖對(duì)本發(fā)明作進(jìn)一步地描述。
[0018]參閱圖1，本實(shí)用新型提供的用于測(cè)試存儲(chǔ)芯片在高溫環(huán)境下的數(shù)據(jù)保存能力的測(cè)試箱，包括設(shè)有開(kāi)關(guān)門(mén)的箱體11、用于控制箱體11內(nèi)溫度的溫度控制器12、接口電路板13、用于控制溫度控制器12工作的控制按鍵14、用于運(yùn)行存儲(chǔ)芯片18的系統(tǒng)主機(jī)15以及用于顯示運(yùn)行結(jié)果的主顯示屏16;溫度控制器12安裝在箱體11內(nèi)，控制按鍵14安裝在箱體11表面，控制按鍵14與溫度控制器12電性連接;接口電路板13安裝在箱體11內(nèi)，接口電路板13設(shè)有多個(gè)用于連接存儲(chǔ)芯片18的電插口，接口電路板13與系統(tǒng)主機(jī)15電連接，系統(tǒng)主機(jī)15與主顯示屏16電連接。
[0019]相較于現(xiàn)有技術(shù)，本實(shí)用新型提供的用于測(cè)試存儲(chǔ)芯片在高溫環(huán)境下的數(shù)據(jù)保存能力的測(cè)試箱，在溫度控制器12作用下，使箱體11內(nèi)溫度達(dá)到一恒定值，控制按鍵14用于調(diào)整該恒定值的大小，例如，對(duì)于硬盤(pán)來(lái)，通常控制為70 °C或85 °C來(lái)進(jìn)行測(cè)試;箱體11內(nèi)安裝接口電路板13，將待測(cè)試的存儲(chǔ)芯片18安插在接口電路板13的電插口，由系統(tǒng)主機(jī)15在特定溫度下運(yùn)行存儲(chǔ)芯片18，并對(duì)存儲(chǔ)芯片18進(jìn)行數(shù)據(jù)寫(xiě)入操作，以寫(xiě)完一輪為一次，寫(xiě)入預(yù)設(shè)次數(shù)后，將存儲(chǔ)芯片18取出，看是否產(chǎn)生壞區(qū)，產(chǎn)生的壞區(qū)越小，則芯片的性能越好。因此，能夠更全面的評(píng)價(jià)儲(chǔ)存芯片的性能。
[0020]接口電路板13設(shè)有多個(gè)電插口，可以一次性測(cè)試多個(gè)存儲(chǔ)芯片18，工作效率較高。
[0021]在本實(shí)施例中，接口電路板13上設(shè)有與電插口一一對(duì)應(yīng)、用于指示存儲(chǔ)芯片18是否丟失數(shù)據(jù)的指示燈。
[0022]在系統(tǒng)主機(jī)15運(yùn)行存儲(chǔ)芯片18的過(guò)程中，如果檢測(cè)到存儲(chǔ)芯片18已丟失數(shù)據(jù)，則指示燈亮或改變顏色，表示該存儲(chǔ)芯片18在高溫測(cè)試時(shí)已丟失數(shù)據(jù)。
[0023]在本實(shí)施例中，箱體11上還設(shè)有用于顯示溫度、時(shí)間信息的副顯示屏17，副顯示屏17與溫度控制器12電性連接，副顯示屏17用于顯示箱體11內(nèi)的溫度等參數(shù)信息，結(jié)果更加直觀。
[0024]以上僅為本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施方式，應(yīng)當(dāng)指出，對(duì)于本技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來(lái)說(shuō)，在不脫離本實(shí)用新型技術(shù)原理的前提下，還可以做出若干改進(jìn)和潤(rùn)飾，這些改進(jìn)和潤(rùn)飾也應(yīng)視為本實(shí)用新型的保護(hù)范圍。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種用于測(cè)試存儲(chǔ)芯片在高溫環(huán)境下的數(shù)據(jù)保存能力的測(cè)試箱，其特征在于，包括設(shè)有開(kāi)關(guān)門(mén)的箱體、用于控制箱體內(nèi)溫度的溫度控制器、接口電路板、用于控制溫度控制器工作的控制按鍵、用于運(yùn)行存儲(chǔ)芯片的系統(tǒng)主機(jī)以及用于顯示運(yùn)行結(jié)果的主顯示屏；所述溫度控制器安裝在箱體內(nèi)，所述控制按鍵安裝在箱體表面，所述控制按鍵與溫度控制器電性連接;所述接口電路板安裝在箱體內(nèi)，所述接口電路板設(shè)有多個(gè)用于連接存儲(chǔ)芯片的電插口，所述接口電路板與系統(tǒng)主機(jī)電連接，所述系統(tǒng)主機(jī)與主顯示屏電連接。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于測(cè)試存儲(chǔ)芯片在高溫環(huán)境下的數(shù)據(jù)保存能力的測(cè)試箱，其特征在于，所述接口電路板上設(shè)有與電插口一一對(duì)應(yīng)、用于指示存儲(chǔ)芯片是否丟失數(shù)據(jù)的指示燈。3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于測(cè)試存儲(chǔ)芯片在高溫環(huán)境下的數(shù)據(jù)保存能力的測(cè)試箱，其特征在于，所述箱體上還設(shè)有用于顯示溫度、時(shí)間信息的副顯示屏，所述副顯示屏與溫度控制器電性連接。
【文檔編號(hào)】G11C29/56GK205428496SQ201620194260
【公開(kāi)日】2016年8月3日
【申請(qǐng)日】2016年3月14日
【發(fā)明人】昌林, 陸松林
【申請(qǐng)人】深圳市云儲(chǔ)科技有限公司