專利名稱：開關(guān)實(shí)時狀態(tài)的檢測方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種開關(guān)實(shí)時狀態(tài)的檢測方法，用于實(shí)時檢測各種開關(guān)開與合的狀態(tài)。
目前有許多器件是工作在開合兩個狀態(tài)下，普通開關(guān)就是一個典型例子。在日常工作的很多場合都需要檢測它們的實(shí)時狀態(tài)。由于與計算機(jī)4連接的A/D采集卡3可以采集模擬信號，所以，用A/D采集卡3可以檢測出被檢測開關(guān)1的狀態(tài)。檢測方法是把一塊A/D采集卡3，一個電源V和被檢測開關(guān)1以及電阻R2連接成如圖1所示。使用A/D采集卡3內(nèi)置的地址命令進(jìn)行編程，然后就可以通過采集電阻R2兩端的電壓值來判斷開關(guān)的狀態(tài)。但是安裝采集卡時必須打開計算機(jī)的外殼，而且要占用計算機(jī)主板上有限的插槽，并可能會與主板上的其它集成卡(如聲卡，顯示卡等)產(chǎn)生沖突。這一切都會給使用帶來諸多不便。另一方面，因?yàn)椴杉ǖ膬r格比較高，而且需要配置一個電源，所以使用成本也比較高。
本發(fā)明的目的是為克服在先技術(shù)的不足，提供一種檢測開關(guān)實(shí)時狀態(tài)的方法，所用條件簡單，操作方便，成本低。
本發(fā)明的開關(guān)實(shí)時狀態(tài)的檢測方法，是用計算機(jī)的并行口檢測。具體做法是(1)首先取被檢測開關(guān)的兩端接頭或者直接，或者串聯(lián)一個繼電器，或者串聯(lián)一個以上的繼電器。
(2)取計算機(jī)機(jī)殼上供連接打印機(jī)并行口的含有25個針腳的D型插座。
(3)將上述被檢測開關(guān)的一端與上述D型插座上的第1針腳，或第10針腳，或第11針腳，或第12針腳，或第13針腳，或第14針腳，或第15針腳，或第16針腳，或第17針腳連接；另一端與D型插座上的第18針腳，或第19針腳，或第20針腳，或第21針腳，或第22針腳，或第23針腳，或第24針腳，或第25針腳連接。
(4)利用計算機(jī)并行口的輸入指令，輸入上述連接相應(yīng)針腳的指令，檢測相應(yīng)針腳的實(shí)時狀態(tài)，從而判斷出被檢測開關(guān)的實(shí)時狀態(tài)。上述檢測的被檢測開關(guān)與計算機(jī)并行口的連接裝置如圖2，圖3所示。
由上述的具體做法看出，本發(fā)明首先把被檢測開關(guān)與計算機(jī)的并行口的特定針腳連接起來，然后通過檢測相應(yīng)針腳的實(shí)時狀態(tài)，就可以實(shí)現(xiàn)對開關(guān)實(shí)時狀態(tài)的檢測。上述的具體做法可以歸結(jié)為二大具體步驟(1)把被檢測開關(guān)連接到并行口的特定針腳上，如圖2所示。如果被檢測開關(guān)的工作場合存在射頻干擾，則需要在被檢測開關(guān)與計算機(jī)的并行口之間串聯(lián)一個或一個以上的繼電器，如圖3所示。
(2)利用并行口的輸入指令檢測相應(yīng)針腳的實(shí)時狀態(tài)，然后就可以判斷出被檢測開關(guān)的實(shí)時狀態(tài)。
圖2所示的裝置適用于檢測工作場合中沒有射頻干擾的被檢測開關(guān)。圖2中的1是被檢測開關(guān)；6是計算機(jī)上的并行打印機(jī)專用D型插座；5和7是D型插座6上的兩個針腳，其中5可以是D型插座6上的第1，或10，或11，或12，或13，或14，或15，或16或17針腳中的任意一個，7可以是D型插座6上的第18，或19，或20，或21，或22，或23，或24，或25針腳中的任意一個；4是一臺計算機(jī)。
圖3所示裝置適用于檢測工作場合中存在射頻干擾的被檢測開關(guān)。圖3中的8是一個繼電器J1。如果串聯(lián)多個繼電器，對射頻干擾的屏蔽效果更好。
可以用下面2條輸入指令來檢測并行口針腳的狀態(tài)，下面進(jìn)行詳細(xì)說明。
輸入指令1對IBM單色CRT-打印機(jī)并行口本指令的I/O地址為X’3BD’，對并行打印機(jī)并行口本指令的I/O地址為X’379’。
如果圖2中的5是D型插座6上的第10,11,12,13或15針腳之一，則需要使用這條輸入指令。通過8088IN指令讀取379H地址的數(shù)據(jù)。如果圖2中5對應(yīng)的針腳的數(shù)據(jù)位值為1，則說明圖2中的被檢測開關(guān)是處于斷開狀態(tài)；反之，則被檢測開關(guān)1是閉合的。
輸入指令2對于IBM單色CRT-打印機(jī)并行口本指令的I/O地址是X’3BE’，對并行打印機(jī)并行口本指令的I/O地址為X’37a’。
這時，根據(jù)圖2中5所選擇的針腳不同，而分兩種情況。
(1)如果圖2中5是D型插座6上的第16針腳，則首先用8088OUT指令向37a地址輸出0x0F，然后用8088IN輸入37aH地址的值。如果第16針腳對應(yīng)的數(shù)據(jù)位輸入值為1，則說明圖2中被檢測開關(guān)1是斷開的；反之，則被檢測開關(guān)1是閉合的。
(2)如果圖2中5是D型插座中的第1,14和17針腳之一，則首先用8088OUT指令向37aH地址輸出0X00，然后用8088IN指令輸入37aH地址的數(shù)據(jù)。如果圖2中5所對應(yīng)的數(shù)據(jù)位是0，則被檢測開關(guān)1是斷開的；反之，被檢測開關(guān)1是閉合的。
只要不間斷地輸入圖2中5所對應(yīng)的數(shù)據(jù)位，就可以實(shí)現(xiàn)被檢測開關(guān)實(shí)時狀態(tài)的檢測。如果被檢測開關(guān)所處的環(huán)境有射頻干擾，則檢測裝置要采用圖3所示的裝置。圖3中的8是一個繼電器J1。把繼電器8和計算機(jī)4放在沒有射頻干擾或者射頻干擾較弱的地方。繼電器8和被檢測開關(guān)1是串聯(lián)在一起的，即當(dāng)被檢測開關(guān)1閉合的同時，繼電器8上的一對常開觸腳也會變成閉合；當(dāng)被檢測開關(guān)1斷開時，繼電器8上的這對常開觸腳也會斷開。因此，檢測到繼電器8上的這對常開觸腳的狀態(tài)就等于檢測到了被檢測開關(guān)1的狀態(tài)。
由于繼電器8被放在沒有射頻干擾的地方，所以檢測繼電器8上的這對常開觸腳的方法和前面直接檢測被檢測開關(guān)1的方法是完全相同。連接繼電器8的目的在于隔離射頻干擾，如果把更多的繼電器與繼電器8串聯(lián)，則可以獲得更好的效果，這取決于被檢測開關(guān)1所處場合中射頻干擾的強(qiáng)弱。用本發(fā)明的檢測方法對于一臺計算機(jī)最多同時可檢測到8個被檢測開關(guān)的實(shí)時狀態(tài)。
本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)是利用了計算機(jī)的機(jī)殼上現(xiàn)有的一個專門為連接并行打印機(jī)而設(shè)計的25腳D型插座。并行口就是通過這個D型插座實(shí)現(xiàn)與打印機(jī)之間的通信。利用計算機(jī)的并行口可以很方便的實(shí)現(xiàn)開關(guān)的實(shí)時狀態(tài)的檢測。而且只要做一個25腳D型插頭，就可以具備“即插即用”的功能，也就是說，不管插到哪一臺現(xiàn)有的計算機(jī)上都可以使用。從而克服了安裝A/D采集卡帶來的諸多不便，同時又降低了使用的成本?？傊?，本發(fā)明使用簡單，而且成本低，所以可以廣泛地應(yīng)用在具有開關(guān)特性的器件的實(shí)時狀態(tài)的檢測。


圖1為在先技術(shù)用計算機(jī)和A/D采集卡檢測被檢測開關(guān)狀態(tài)的裝置示意圖。
圖2為本發(fā)明的檢測方法當(dāng)檢測工作場合中沒有射頻干擾時所用的檢測裝置示意圖。
圖3為本發(fā)明的檢測方法當(dāng)檢測工作場合中有射頻干擾時，所用的檢測裝置示意圖。
圖4為本發(fā)明的檢測方法在實(shí)驗(yàn)例中所用的裝置示意圖。
圖5為本發(fā)明的檢測方法在實(shí)驗(yàn)例中的流程圖。
下面結(jié)合實(shí)施例對該發(fā)明作進(jìn)一步地說明。
實(shí)施例本發(fā)明曾經(jīng)在一個磁控濺射鍍膜機(jī)上得到了成功的應(yīng)用。圖4是本發(fā)明實(shí)施例的使用示意圖。圖中被檢測開關(guān)1是一個微動開關(guān)；4是計算機(jī)；5是D型插座6中的第15針腳；6是計算機(jī)機(jī)殼上連接打印機(jī)的D型插座；7是D型插座6中的第25針腳，8和9分別是繼電器J1和J2；10是鍍膜工作室；11是控制機(jī)房；12是磁控濺射鍍膜機(jī)的真空室。磁控濺射鍍膜機(jī)的真空室12放在鍍膜工作室10中。被檢測開關(guān)1的微動開關(guān)在真空室12中。第一繼電器8和微動開關(guān)1串聯(lián)在一起，第二繼電器9和第一繼電器8串聯(lián)在一起。第二繼電器9的一對常開觸腳J2分別和D型插座6的第15針腳和25針腳連接在一起?？刂茩C(jī)房11和鍍膜工作室10互相隔離，第一繼電器8和第二繼電器9以及計算機(jī)4被放在控制機(jī)房11中。
檢測的時候使用8088IN指令讀取379H地址的數(shù)據(jù)，也就是使用C語言中的inportb(0x379)命令。程序的流程見圖5。
從上述內(nèi)容可以看出，本發(fā)明不僅使用簡單，而且成本很低，所以可以廣泛地應(yīng)用于工業(yè)控制。
權(quán)利要求
1．一種開關(guān)實(shí)時狀態(tài)的檢測方法，采用計算機(jī)檢測，其特征在于具體做法是<1>取被檢測開關(guān)的兩端接頭或者直接，或者串聯(lián)一個繼電器，或者串聯(lián)一個以上的繼電器；<2>取計算機(jī)機(jī)殼上供連接打印機(jī)并行口的含有25個針腳的D型插座；<3>將上述被檢測開關(guān)的一端與上述D型插座上的第1針腳，或第10針腳，或第11針腳，或第12針腳，或第13針腳，或第14針腳，或第15針腳，或第16針腳，或第17針腳連接，另一端與D型插座上的第18針腳，或第19針腳，或第20針腳，或第21針腳，或第22針腳，或第23針腳，或第24針腳，或第25針腳連接；<4>利用計算機(jī)并行口的輸入指令，輸入上述連接相應(yīng)針腳的指令，檢測相應(yīng)針腳的實(shí)時狀態(tài)，判斷出被檢測開關(guān)的實(shí)時狀態(tài)。
全文摘要
一種開關(guān)實(shí)時狀態(tài)的檢測方法,采用計算機(jī)并行口檢測。具體的做法是將被檢測開關(guān)連接到計算機(jī)機(jī)殼上供連接打印機(jī)并行口的含有25個針腳的D型插座上,利用計算機(jī)并行口的輸入指令,輸入連接到相應(yīng)針腳的指令,檢測出相應(yīng)針腳的實(shí)時狀態(tài),從而判斷出被檢測開關(guān)的實(shí)時狀態(tài)。當(dāng)檢測工作場合中有射頻干擾時,被檢測開關(guān)須要串聯(lián)一個或一個以上的繼電器。一臺計算機(jī)可以同時檢測八個開關(guān)。具有使用簡單,成本低,能夠廣泛應(yīng)用的特點(diǎn)。
文檔編號H01H9/00GK1319854SQ0012761
公開日2001年10月31日 申請日期2000年11月30日 優(yōu)先權(quán)日2000年11月30日
發(fā)明者祝國龍, 邵建達(dá), 范正修, 湯兆勝, 馮仕猛 申請人:中國科學(xué)院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所