專利名稱：適合靈活選擇掃描測試的系統(tǒng),方法和裝置的制作方法
領(lǐng)域本內(nèi)容涉及電子集成電路測試領(lǐng)域。更具體而言，涉及易于靈活選擇總線驅(qū)動器部件的掃描測試系統(tǒng)和方法。本內(nèi)容涉及在掃描測試操作期間易于靈活控制總線驅(qū)動器的系統(tǒng)和方法。
背景電子系統(tǒng)和線路被用于多種應(yīng)用之中以獲取有益的結(jié)果，它對現(xiàn)代社會的進(jìn)步已做出了顯著的貢獻(xiàn)。眾多的電子技術(shù)，諸如數(shù)字計(jì)算機(jī)，計(jì)算器，音響設(shè)備，視頻裝置和電話系統(tǒng)包括有處理器，這些處理器在商務(wù)，科學(xué)，教育和娛樂的多數(shù)領(lǐng)域內(nèi)對數(shù)據(jù)，理念和趨勢的分析和交流都起到了提高生產(chǎn)率和降低成本的作用。設(shè)計(jì)用于提供這些結(jié)果的電子系統(tǒng)常常包括帶有微電子集成電路的多種部件。為確保集成電路(IC)準(zhǔn)確工作，對IC芯片進(jìn)行高效益和可靠的性能測試是至關(guān)重要的。
通常采用的集成電路其復(fù)雜性已顯著提高，因而內(nèi)置自測試(BIST)診斷能力對電路的有效測試，調(diào)試和維修都是關(guān)鍵的?，F(xiàn)代BIST技術(shù)，典型地是將一種掃描測試結(jié)構(gòu)塞入IC內(nèi)以提供對IC部件的可控性和可觀察性。復(fù)雜的電子系統(tǒng)和電路的掃描測試常常要求應(yīng)用測試矢量去刺激電路的某些方面(例如，功能邏輯部件)以分析測量點(diǎn)(如適當(dāng)選取的電路結(jié)點(diǎn))。例如，典型的微電子芯片在功能邏輯部件之間有許多連接，而這些連接往往就是測試故障隔離和探測的合適電路結(jié)點(diǎn)。通常測試的作用范圍越大，其掃描測試系統(tǒng)和方法探測故障的能力就越強(qiáng)。但是并非IC的所有特征(例如，連接結(jié)點(diǎn)，功能邏輯部件等)都必須和掃描測試方式操作相兼容。
有些集成電路的特征是對某種掃描測試矢量會產(chǎn)生相反的反應(yīng)，因而不能提供足夠的掃描測試操作可預(yù)示性水平。例如，掃描測試單元通常包括寄存器，這些寄存器同時用于正常操作和掃描測試操作。因此，假如某種掃描測試矢量移位入寄存器就會出現(xiàn)這些掃描測試矢量在功能部件內(nèi)觸發(fā)不適當(dāng)操作的潛在危險(xiǎn)。特別是，與到總線的驅(qū)動連接相關(guān)連的功能邏輯在掃描測試期間典型地均具有產(chǎn)生總線訪問沖突的潛在可能。例如，經(jīng)由掃描測試單元接收輸出啟動信號的總線驅(qū)動器，在掃描測試期間如有不適當(dāng)?shù)男盘枱o意中被傳送，將會使總線驅(qū)動器違犯總線訪問約束。通常存在有多種困難使之難以預(yù)測在一個典型的掃描測試系統(tǒng)內(nèi)有多少IC驅(qū)動器可以被某些掃描測試矢量所激活。同一時間內(nèi)一個以上驅(qū)動器被激活將導(dǎo)致相反的總線訪問競爭條件，而這種競爭典型地會引發(fā)電路故障。


圖1是總線驅(qū)動器系統(tǒng)100的方塊圖?？偩€驅(qū)動器100包括三態(tài)總線驅(qū)動器111至118，掃描測試單元130至143和雙向總線105和107。掃描測試單元130至133分別耦合至三態(tài)總線驅(qū)動器111至114，而掃描測試單元140至143分別耦合到三態(tài)總線驅(qū)動器115至118。總線105耦合到掃描測試單元130至133以及掃描測試單元140。總線107耦合到掃描測試單元140至144以及掃描測試單元130?？偩€105和107為總線驅(qū)動器系統(tǒng)100內(nèi)各部件之間的通信提供通路。總線驅(qū)動器111至114將信號向總線105驅(qū)動，總線驅(qū)動器115至118將信號向總線107驅(qū)動。掃描測試單元130至133發(fā)射輸出啟動(OE)信號使總線驅(qū)動器111至113分別激活，掃描測試單元140至143發(fā)射輸出啟動(OE)信號使三態(tài)總線驅(qū)動器115至118分別激活。在掃描測試操作期間同時利用掃描測試單元130至143發(fā)射和捕獲掃描測試信號。
在掃描測試操作期間經(jīng)由掃描測試單元130至143漂動的串行測試矢量可以在其掃描測試捕獲周期內(nèi)同時引起多個總線驅(qū)動器試圖進(jìn)行總線訪問。在正常操作時，掃描測試單元130至143的功能是作為寄存器，它發(fā)射輸出啟動信號至總線驅(qū)動器111至118?？偩€驅(qū)動器111至118將信號向總線驅(qū)動以響應(yīng)來自總線驅(qū)動器掃描測試單元的合適信號。在掃描測試操作期間，掃描測試單元130至143作為掃描測試單元其功能是在漂移周期內(nèi)移動掃描測試信號，而在捕獲周期內(nèi)捕獲信息。在捕獲周期內(nèi)，如果有合適的激活信息偶然移位入多個掃描測試單元對不同的總線驅(qū)動器提供輸出啟動信號并且這種激活信息在掃描捕獲周期內(nèi)正處于那些掃描測試單元的一個寄存器內(nèi)，那么總線訪問的競爭問題就油然而生。例如，掃描測試單元131和掃描測試單元133正常發(fā)射邏輯值1激活總線驅(qū)動器112。在掃描測試期間，如果測試矢量移位入掃描測試單元131，而掃描測試單元133包括邏輯值1，同時在捕獲周期內(nèi)該邏輯值1存在于掃描測試單元131和134內(nèi)，則將出現(xiàn)三態(tài)總線驅(qū)動器112和114同時在總線105上驅(qū)動信息的局面而引發(fā)總線訪問沖突。
有些系統(tǒng)試圖通過消除某些掃描測試作用范圍來限制掃描測試期間的總線潛在沖突。在有些總線驅(qū)動器系統(tǒng)內(nèi)，將三態(tài)總線驅(qū)動器用硬件編碼或硬件寫入以限制整個掃描測試期間只有一個特定的總線驅(qū)動器激活，而且該特定的總線驅(qū)動器保持不變。例如，可將總線驅(qū)動器111硬件編碼使在掃描測試操作期間訪問總線105，而余下的耦合至總線105的總線驅(qū)動器(如總線驅(qū)動器112至114)被硬件編碼以防止它們在掃描測試期間訪問總線105。因此余下的耦合至總線105的總線驅(qū)動器(如總線驅(qū)動器112至114)向總線105驅(qū)動信號的能力不可以在掃描測試期間加以檢驗(yàn)。另一種例子的做法是有些總線驅(qū)動器系統(tǒng)在掃描測試期間將所有三態(tài)總線驅(qū)動器“三態(tài)化”，或者限制在涉及掃描測試情況時使用三態(tài)總線。在這些情形下，由于采用硬件編碼將總線驅(qū)動器的激活限制到一個特定的總線驅(qū)動器，或在掃描測試期間將全部總線驅(qū)動器三態(tài)化，都將使掃描測試的作用范圍縮小。尤其是，因?yàn)樗锌偩€驅(qū)動器不能全部參與掃描測試，使合適掃描測試總線驅(qū)動器部件(例如，總線驅(qū)動器111至118)的能力受到限制。沒有這種合適控制到總線驅(qū)動器輸入和觀察輸出的能力，總線驅(qū)動器不可能合適地加以測試以判斷它們的功能是否正常。
圖1A是總線驅(qū)動器系統(tǒng)100A的屏蔽圖。除掃描測試單元140A和掃描測試單元130A分別直接耦合到總線105和總線107處，總線驅(qū)動器系統(tǒng)100A與總線驅(qū)動器系統(tǒng)100相似。因此，當(dāng)跨越總線105和107之間的橋進(jìn)行通信時在總線105和107之間其信息并沒有被鎖住。假如總線驅(qū)動器115A和111A兩者同時被啟動，則信息可圍繞橋而形成不合適的環(huán)路。因此，假如掃描測試矢量的邏輯值移位入掃描測試單元140A和掃描測試單元130A并且偶然地與被認(rèn)定的掃描測試驅(qū)動器啟動信號的邏輯值相符合，則在總線105和107之間的橋周圍形成不合適的信息環(huán)路。這種不合適的環(huán)路可導(dǎo)致未知的或不確定的值而使故障檢測范圍降低。
易于對總線驅(qū)動器進(jìn)行靈活掃描測試的系統(tǒng)和方法是我們所要求的。該系統(tǒng)和方法應(yīng)當(dāng)允許設(shè)計(jì)者高效益和高效率地掃描測試其系統(tǒng)而不會永久損失總線驅(qū)動器的掃描測試作用范圍。這種系統(tǒng)和方法應(yīng)當(dāng)允許選取不同的總線驅(qū)動器參與掃描測試操作，同時消除測試矢量在捕獲周期內(nèi)引起總線訪問沖突的可能性。本發(fā)明的這種系統(tǒng)和方法還應(yīng)當(dāng)易于避免通過總線之間的橋而形成不合適的信息環(huán)路。
概述本公開通過易于靈活限制來自所選掃描測試單元的輸出傳輸降低了由于與測試矢量值相關(guān)的偶然效應(yīng)在掃描測試期間對功能部件所產(chǎn)生的負(fù)面影響。本發(fā)明的系統(tǒng)和方法允許有選擇地屏蔽不同的掃描測試單元輸出，使之對掃描測試操作有更大的控制和改善可觀察性而不會永久損失掃描測試單元的掃描測試作用范圍。本公開的系統(tǒng)和方法允許高效益和高效率地掃描測試其系統(tǒng)，同時消除了測試矢量對功能部件產(chǎn)生負(fù)面條件的可能性。
在本公開的一種實(shí)施方案中，通過允許在掃描測試操作期間靈活屏蔽總線驅(qū)動器啟動信號使掃描測試單元限制系統(tǒng)易于對總線驅(qū)動器系統(tǒng)進(jìn)行合適的掃描測試。掃描測試單元屏蔽部件有選擇性地將從該總線系統(tǒng)到功能部件的掃描測試單元的輸出傳輸加以屏蔽。掃描測試單元屏蔽部件對移位期內(nèi)移位進(jìn)入該掃描測試單元內(nèi)的邏輯值加以屏蔽，這種移位是在掃描測試操作的捕獲周期內(nèi)與掃描測試單元的功能部件通訊。本發(fā)明降低了與移位入掃描測試單元給總線驅(qū)動器饋送啟動信號的測試矢量相關(guān)的偶然性負(fù)面影響的危險(xiǎn)。通過掃描測試單元輸出選擇部件使掃描測試單元屏蔽部件激活，同時變化所選擇的掃描測試單元屏蔽部件使多種總線驅(qū)動器一次一個地參與測試操作。
附圖簡述圖1是現(xiàn)有技術(shù)總線驅(qū)動器系統(tǒng)方塊圖，在該系統(tǒng)內(nèi)信息在總線之間被鎖住。
圖1A是一種優(yōu)先的總線驅(qū)動器系統(tǒng)方塊圖，在該系統(tǒng)內(nèi)信息在總線之間未被鎖住。
圖2是包括在本發(fā)明一種實(shí)施方案中的靈活選擇掃描測試鏈的方塊圖。
圖3是靈活掃描測試系統(tǒng)的方塊圖，本發(fā)明的一種實(shí)施方案。
圖3A是靈活掃描測試系統(tǒng)的一種實(shí)施方案的真實(shí)表。
圖4是掃描可測試總線驅(qū)動器系統(tǒng)的方塊圖，本發(fā)明的一種實(shí)施方案。
圖4A是掃描可測試總線驅(qū)動器系統(tǒng)的方塊圖，是本發(fā)明的一種實(shí)施方案，在本方案中其掃描可測試總線驅(qū)動器系統(tǒng)不具備在總線之間進(jìn)行信息通信的收發(fā)機(jī)。
圖5是包括在本發(fā)明靈活掃描測試方法中的一種實(shí)施方案中的方法流程圖。
詳細(xì)描述現(xiàn)在將詳細(xì)地描述本發(fā)明的優(yōu)選實(shí)施方案，一種易于靈活掃描測試總線驅(qū)動器的方法和系統(tǒng)，并以附圖展示其例子。應(yīng)當(dāng)明了，在結(jié)合優(yōu)選實(shí)施方案對本發(fā)明進(jìn)行闡述時，其旨意并非將本發(fā)明局限于這些實(shí)施方案。相反，本發(fā)明旨在復(fù)蓋各種選擇，改進(jìn)和類同情況，而所有這些都可以包括在隨后的權(quán)利要求中對本發(fā)明所定義的旨意和范圍之內(nèi)。而且在下面對本發(fā)明的詳細(xì)闡述中將陳述無數(shù)特殊細(xì)節(jié)，為的是提供對本發(fā)明的透徹理解。但是，對本專業(yè)領(lǐng)域內(nèi)的普通技術(shù)人員而言都知道無需這些特殊細(xì)節(jié)亦可將本發(fā)明付諸實(shí)施。在其它例子中，對那些熟知的方法，程序，部件和電路并未加以詳細(xì)描述以避免對本發(fā)明造成不必要的干擾。
本發(fā)明的這種系統(tǒng)和方法通過允許靈活屏蔽從所選定的掃描測試單元至功能部件的信號而簡化掃描測試操作。在測試操作的捕獲周期內(nèi)對功能部件的負(fù)面影響的可能性得以降低。本發(fā)明的系統(tǒng)和方法提供屏蔽測試矢量值的能力，這種矢量值在功能部件內(nèi)會偶然觸發(fā)某種不期望的事件。尤其是，本發(fā)明的這種系統(tǒng)和方法可使包含總線驅(qū)動器的系統(tǒng)特別受益。通過使用與本發(fā)明相關(guān)的屏蔽能力可防止移位入掃描測試單元的測試矢量值偶然讓多于一個總線驅(qū)動器啟動。除此之外，本發(fā)明允許對不同掃描測試單元的輸出選擇性地進(jìn)行屏蔽。因此，本發(fā)明的系統(tǒng)和方法允許設(shè)計(jì)者高效益和高效率地掃描測試其系統(tǒng)而不會永久地?fù)p失總線驅(qū)動器的掃描測試作用范圍。
圖2是靈活選擇掃描測試鏈200的方塊圖，包括在本發(fā)明內(nèi)的一種掃描鏈實(shí)施方案。靈活選擇掃描測試鏈200包括掃描測試單元(STC)297，掃描測試單元299，功能邏輯部件275。掃描測試單元297的輸出耦合到掃描測試單元屏蔽部件270和掃描測試單元299。掃描測試單元屏蔽部件270耦合到功能邏輯部件240，而240耦合到掃描測試單元299的輸入。掃描測試單元297包括啟動Mux 291和掃描D觸發(fā)器(IF)293。啟動Mux 291耦合至信號210，掃描串行輸入信號230，掃描啟動信號220和掃描DFF 293中的正常數(shù)據(jù)。掃描DFF 293同時還耦合到時鐘信號231，掃描串行信號233和掃描測試單元299。掃描測試單元299包括啟動Mux 294和D觸發(fā)器(DFF)295。啟動Mux 294耦合至功能邏輯部件240，掃描串行信號233，掃描啟動信號220和掃描DFF295。掃描DFF 295同時也耦合至?xí)r鐘信號231，正常數(shù)據(jù)輸出信號237和掃描串行輸出信號250。
在掃描測試操作期間靈活選擇掃描測試鏈200參與功能邏輯部件240的測試。在正常操作期間將掃描測試單元297和299適配到儲存鎖定功能值。在掃描測試操作期間，將掃描測試單元297和299適配到移動測試矢量和捕獲功能信息。在本發(fā)明的一種實(shí)施方案中，在掃描方式信號225被認(rèn)定后掃描測試操作開始。啟動Mux 291根據(jù)掃描啟動信號220的邏輯狀態(tài)選擇信號210中的正常數(shù)據(jù)或串行數(shù)據(jù)輸入信號230用于傳輸以掃描DFF 293。當(dāng)掃描啟動信號220為有效時，啟動Mux 291允許串行輸入信號中的信息移位入DFF 293。掃描DFF 293將來自啟動Mux 291的信號鎖住以響應(yīng)時鐘信號231中的過渡。掃描DFF 293發(fā)出該鎖住信號的邏輯值至掃描測試單元屏蔽部件270和啟動Mux 294作為掃描串行信號233。假如掃描啟動信號220仍然被認(rèn)定，則啟動Mux 294將串行信號233向前發(fā)送至掃描DFF 295，因而使信息沿掃描鏈“串行移動”。
參照圖2，掃描測試單元選擇部件275適于選擇掃描測試單元屏蔽部件270是否對從掃描測試單元297到功能邏輯部件240的信號進(jìn)行了屏蔽。掃描測試單元選擇部件275對耦合到信號278的其他掃描測試單元屏蔽部件(未示出)進(jìn)行類似的控制。在本發(fā)明的另一種實(shí)施方案中，掃描測試單元選擇部件275根據(jù)來自掃描啟動信號220的輸入，掃描測試方式信號225和編程輸入進(jìn)行選擇。根據(jù)來自掃描測試單元選擇部件275的屏蔽指令信號，掃描測試單元屏蔽部件270適合于從掃描測試單元297到功能邏輯部件240進(jìn)行傳輸或屏蔽。如果掃描測試單元屏蔽部件270未獲得掃描測試單元選擇部件275的指令去屏蔽信號，則允許該信號傳至功能邏輯部件240。在對所希望的測試數(shù)據(jù)作用之后為了捕獲功能邏輯部件240的輸出，將掃描啟動信號220解除認(rèn)定。通過解除啟動信號220，Mux 294將功能邏輯部件240的輸出傳輸至掃描DFF 295而非串行信號233。當(dāng)功能邏輯部件240的輸出被傳輸至掃描DFF 295之后，該輸出或作為通過正常操作輸出插頭(末示出)的正常輸出237信號，或者作為經(jīng)由其他掃描測試單元(未示出)或直接至TDO輸出插頭(未示出)的串行輸出信號250。
靈活選擇掃描測試鏈200易于降低掃描測試期間對功能邏輯部件240的負(fù)面影響。通過屏蔽來自掃描測試單元297的某些信號，掃描測試單元屏蔽部件270防止從被發(fā)送至功能邏輯部件240經(jīng)由掃描測試單元297而偶然被移動的非兼容信號。例如，在某些情形下不宜于在掃描期間對從掃描測試單元297至功能邏輯部件240(例如，數(shù)據(jù)使功能邏輯部件240執(zhí)行不合適的功能)的測試矢量數(shù)據(jù)的傳輸進(jìn)行屏蔽。在另外一些情形下，在掃描期間宜于將數(shù)據(jù)(如測試矢量)傳輸給功能邏輯部件240以允許功能邏輯部件240進(jìn)行掃描測試。例如，在本發(fā)明的一種實(shí)施方案中，靈活選擇掃描測試鏈200是在總線驅(qū)動器系統(tǒng)內(nèi)完成的，在該系統(tǒng)內(nèi)功能邏輯部件(例如，功能邏輯部件240)是總線驅(qū)動器，而掃描測試單元屏蔽部件(例如，掃描測試單元屏蔽部件270)通過允許靈活選擇參與掃描測試操作的總線驅(qū)動器而防止測試矢量數(shù)據(jù)的不合適傳輸。因此，偶爾與啟動總線驅(qū)動器的信號相同的靈活選擇掃描測試鏈200的測試矢量信號被阻止一時不恰當(dāng)?shù)貑涌偩€驅(qū)動器，并且允許啟動總線驅(qū)動器的掃描測試矢量信號在合適的時候(例如，測試總線驅(qū)動器時)傳送到總線驅(qū)動器。
圖3是靈活掃描測試系統(tǒng)300的方塊圖，本發(fā)明的一種實(shí)施方案。靈活掃描測試系統(tǒng)300包括掃描測試單元部件310，掃描測試單元321至324，以及掃描測試屏蔽部件351至354。掃描測試單元選擇部件310包括掃描測試單元選擇寄存器部件311和掃描測試選擇解碼器部件312。掃描測試單元選擇部件寄存器部件311耦合到掃描測試單元選擇解碼器部件312，而312又耦合到掃描測試方式信號391和掃描啟動信號392。掃描測試單元屏蔽部件351至354分別耦合至掃描測試單元選擇解碼器部件312至324和功能邏輯部件(未示出)。在靈活掃描測試系統(tǒng)300的一種實(shí)施方案中，掃描測試單元屏蔽部件351至354是NAND部件，而掃描測試單元選擇解碼器部件312是1至4個解碼器。
靈活掃描測試系統(tǒng)300的部件協(xié)同動作而易于包括測試功能部件的掃描測試操作，而在掃描測試時防止對多功能邏輯部件的不合適的激活。掃描測試單元選擇寄存器部件311適合于儲存識別信息。在本發(fā)明的一種實(shí)施方案中，識別信息同掃描測試單元(如掃描測試單元321至324)相關(guān)并且識別掃描測試單元。在本發(fā)明的其他實(shí)施方案中，掃描測試單元選擇寄存器儲存掃描測試單元屏蔽部件351至354或耦合至信號371至374的功能部件(未示出)的識別信息。掃描測試單元選擇解碼器部件312適于將來自于掃描測試單元選擇寄存器部件311的被傳送的信息解碼并且發(fā)出屏蔽認(rèn)定信號。在本發(fā)明的一種實(shí)施方案中，掃描測試單元選擇解碼器部件適合于發(fā)出屏蔽認(rèn)定信號，該信號指導(dǎo)與被識別的掃描測試單元相關(guān)連的掃描測試單元屏蔽部件發(fā)送被識別的掃描測試單元的內(nèi)容，同時屏蔽來自其他掃描測試單元的信號。在本發(fā)明的另一種實(shí)施方案中，掃描測試選擇解碼器部件適合于發(fā)出信號以指導(dǎo)與被識別的掃描測試單元相關(guān)連的掃描測試單元屏蔽部件對來自被識別掃描測試單元的信號加以屏蔽，同時發(fā)送來自另外掃描測試單元的信號。
當(dāng)掃描方式信號391和掃描啟動信號392被激活后，表明掃描操作正在進(jìn)行，掃描測試單元選擇解碼器部件312將從掃描測試單元選擇寄存器部件311傳送來的信息解碼。從掃描測試單元選擇寄存器部件311至掃描測試單元選擇解碼器部件312發(fā)送的信息從掃描測試單元321至324中識別一個掃描測試單元。掃描測試單元選擇解碼器部件312發(fā)出邏輯0信號給與被識別的掃描測試單元相關(guān)的掃描測試單元屏蔽部件，同時發(fā)出邏輯1信號給其他掃描測試單元。例如，在靈活掃描測試系統(tǒng)300的一種實(shí)施方案中，該掃描測試單元321至324分別通過邏輯值00至11在掃描測試單元選擇寄存器部件311內(nèi)被加以識別。因此，假如當(dāng)掃描測試方式信號為邏輯值1和掃描啟動信號為邏輯值0而掃描測試單元選擇寄存器部件311正儲存著邏輯值10時，則掃描測試單元解碼器部件312允許掃描測試單元屏蔽部件353傳輸來自掃描測試單元323的信號343。根據(jù)掃描測試單元323的狀態(tài)不同，信號343與正常功能輸入信號383相同或與信號387中的掃描相同。掃描測試單元解碼器部件312指導(dǎo)掃描測試單元屏蔽部件351，352和354分別對信號341，342和344加以屏蔽。
圖3A是靈活掃描測試系統(tǒng)300的一種實(shí)施方案的真實(shí)表。如果掃描測試方式信號391是邏輯值0，則掃描測試單元屏蔽部件351至354分別將信號341至344傳輸而不管掃描測試啟動信號392的邏輯值如何。如果掃描測試方式信號391為邏輯值1而掃描測試啟動信號392的邏輯值為1，則341至344的信號被強(qiáng)制進(jìn)入三態(tài)條件。如果掃描測試方式信號391的邏輯值為1而掃描測試啟動信號392的邏輯值為0，則所選擇的掃描測試單元屏蔽部件351至354分別從信號341至344選取信號并加以發(fā)送，同時如上面所述一樣將其余的信號加以屏蔽。
圖4是掃描可測試總線驅(qū)動器系統(tǒng)400的方塊圖，本發(fā)明的一種實(shí)施方案?？偩€驅(qū)動器系統(tǒng)400包括三態(tài)總線驅(qū)動器411至418，掃描測試單元430至443，雙向總線405至407，掃描測試單元屏蔽部件452至458，掃描測試單元選擇部件471和掃描測試單元選擇部件472。掃描測試單元430至433分別耦合至總線驅(qū)動器411至414和分別耦合至掃描測試單元屏蔽部件451至454。掃描測試單元440至443分別耦合至總線驅(qū)動器415至418和分別耦合至掃描測試單元屏蔽部件455至458?？偩€405耦合至掃描測試單元430至433和掃描測試單元440。總線407耦合至掃描測試單元411至444和掃描測試單元430。掃描測試單元選擇部件471耦合至掃描測試方式信號485，掃描測試啟動信號480和掃描測試屏蔽部件455至458。掃描測試單元選擇部件472耦合至掃描測試方式信號485，掃描測試啟動信號480和掃描測試屏蔽部件451至454。在掃描可測試總線驅(qū)動器系統(tǒng)400的一種實(shí)施方案中，掃描測試單元430至443同時還耦合至掃描測試方式信號485和掃描測試啟動信號480。
在掃描可測試總線驅(qū)動器系統(tǒng)400的一種實(shí)施方案中，掃描測試選擇部件471包括掃描測試單元選擇解碼器部件490，掃描測試單元選擇解碼器部件495，而掃描測試單元選擇部件472包括掃描測試單元選擇寄存器部件490和掃描測試單元選擇寄存器部件495。掃描測試單元選擇寄存器部件470耦合至掃描測試單元選擇解碼器部件490，而掃描測試單元選擇寄存器部件475耦合至掃描測試單元選擇解碼器部件495。掃描測試單元選擇解碼器部件490耦合至掃描測試單元屏蔽部件451至454，而451至454又分別耦合至總線驅(qū)動器411至414。掃描測試單元選擇解碼器部件495耦合至掃描測試單元屏蔽部件455至458，而455至458又分別耦合至總線驅(qū)動器415至418。
圖4中所示的掃描可測試總線驅(qū)動器系統(tǒng)400的部件協(xié)同動作易于對包括不同總線驅(qū)動器測試的掃描測試操作。總線405與407為總線驅(qū)動器系統(tǒng)400的各部件之間的通信提供通路。三態(tài)總線驅(qū)動器411至414將信號向總線405驅(qū)動，而三態(tài)總線驅(qū)動器415至418則將信號向總線407驅(qū)動。掃描測試單元430至433發(fā)射輸出啟動(OE)信號，分別激活三態(tài)總線驅(qū)動器411至414，而總線測試單元440至443發(fā)射輸出啟動(OE)信號分別激活三態(tài)總線驅(qū)動器415至418。掃描測試單元430至443在掃描測試操作期間也被用來發(fā)射和捕獲掃描測試信號。依據(jù)來自掃描測試單元選擇部件472的指令，掃描測試單元屏蔽部件451至454將來自掃描測試單元430至431的信號屏蔽。類似地，掃描測試單元屏蔽部件455至458根據(jù)來自掃描測試單元選擇部件471的指令對來自掃描測試單元440至443的信號屏蔽。
掃描測試單元選擇部件472和471適合于給掃描測試單元提供屏蔽通知信號。掃描測試單元選擇解碼器部件490和495分別將來自掃描測試單元選擇寄存器部件470和475的信息解碼。掃描測試單元選擇解碼器部件490和495也適合于發(fā)射屏蔽觸發(fā)信號分別給掃描測試單元屏蔽部件451至454和掃描測試單元屏蔽部件455至458。掃描測試單元選擇寄存器部件470和475發(fā)射識別信息，分別用以識別耦合至總線405和407的所選掃描測試單元屏蔽部件。在本發(fā)明的一種實(shí)施方案中，用以識別所選掃描測試單元屏蔽部件的信息被動態(tài)編程到掃描測試單元選擇寄存器部件內(nèi)(例如，掃描測試單元選擇寄存器部件470)。
參照圖4，掃描可測試總線驅(qū)動器系統(tǒng)400防止經(jīng)掃描測試單元430穿越443的被傳輸?shù)拇袦y試矢量啟動多個總線驅(qū)動器以試圖在掃描測試捕獲周期內(nèi)同時對總線進(jìn)行訪問。在本發(fā)明的一種實(shí)施方案中，掃描測試單元431至443正常發(fā)射邏輯0值以分別激活總線驅(qū)動器411至418或分別使它們啟動。假如在測試矢量的一個偶爾邏輯0值位于掃描測試單元431至433中的一個以上單元之中時而捕獲周期被啟動，則掃描可測試總線驅(qū)動器400允許三態(tài)總線驅(qū)動器411至414試圖一次一個地在總線405上驅(qū)動信息，因而避免了總線訪問沖突。掃描可測試驅(qū)動器系統(tǒng)400的一種實(shí)施方案自動辨認(rèn)包括邏輯值使總線驅(qū)動器啟動的一種掃描測試矢量，然后采取措施防止在掃描操作捕獲周期內(nèi)該邏輯值觸發(fā)偶然性總線訪問的企圖。例如，當(dāng)解碼器490和解碼器495分別指導(dǎo)掃描測試單元屏蔽部件451至458對分別來自掃描測試單元部件430至443的信號進(jìn)行屏蔽時，掃描測試單元屏蔽部件451至458則將一預(yù)置的邏輯值(例如，邏輯值1)發(fā)送給總線驅(qū)動器411至418，而這一預(yù)置邏輯值是不會激活總線驅(qū)動器的。
在利用本發(fā)明的掃描測試移動操作的一種實(shí)施中，自動測試模式發(fā)生(ATPG)工具發(fā)生測試矢量1010，該測試矢量通過掃描測試單元431和433被傳輸(“移位”)。在本發(fā)明的一種實(shí)施方案中，通過掃描測試單元選擇解碼器部件490指導(dǎo)掃描測試單元屏蔽部件452和452對分別來自掃描測試單元431和433的信號進(jìn)行屏蔽。在掃描可測試總線驅(qū)動器系統(tǒng)400的一種例子中，通過掃描測試選擇解碼器部件490指導(dǎo)掃描測試單元屏蔽部件452和454對來自掃描測試單元之一(例如，掃描測試單元433)的信號加以屏蔽和對來自其他掃描測試單元(例如，掃描測試單元430至432)的信號加以屏蔽。在掃描可測試總線驅(qū)動器系統(tǒng)400的一個例子中，給掃描測試單元選擇寄存器部件470編程以通知掃描測試單元選擇解碼器部件495去指導(dǎo)掃描測試單元屏蔽部件454允許將掃描測試單元433內(nèi)的邏輯0值傳輸至總線驅(qū)動器414。同時給掃描測試單元選擇寄存器部件470編程以通知掃描測試單元選擇解碼器部件495去指導(dǎo)掃描測試單元屏蔽部件451至453對掃描測試單元431至433內(nèi)相應(yīng)邏輯值到總線驅(qū)動器411至413的傳輸加以屏蔽。掃描測試單元屏蔽部件451至453發(fā)送邏輯1值至總線驅(qū)動器412。因此，總線驅(qū)動器414亦可以訪問總線405而總線驅(qū)動器412則不能，這樣就避免了總線競爭沖突。
圖4A是掃描可測試總線驅(qū)動器系統(tǒng)400A的方塊圖，本發(fā)明的一種實(shí)施方案。除掃描可測試總線驅(qū)動器系統(tǒng)400A不具備在總線A和B之間進(jìn)行信息通信的收發(fā)機(jī)外，掃描可測試總線驅(qū)動器系統(tǒng)400A與掃描可測試總線驅(qū)動器系統(tǒng)400相似。在圖4所示的掃描可測試總線驅(qū)動器系統(tǒng)400的該實(shí)施方案中，從總線A到總線B的數(shù)據(jù)傳輸被鎖住。在圖4A所示的掃描可測試總線系統(tǒng)400A中，從總線A到總線B的數(shù)據(jù)傳輸沒被鎖住。掃描可測試總線驅(qū)動器系統(tǒng)400A除增加比較器499外，其他部件與掃描可測試總線驅(qū)動器系統(tǒng)400相同。掃描測試單元440A和掃描測試單元430A不直接分別與總線405和407耦合，而是使總線驅(qū)動器415A和411A直接耦合到總線405和407。因此，在掃描測試單元440A和掃描測試單元430A內(nèi)總線之間的正常通信沒有被鎖住。掃描測試單元屏蔽部件451和455耦合至比較器499，而499則耦合至總線驅(qū)動器415A和411A。
掃描可測試總線驅(qū)動器系統(tǒng)400A的部件協(xié)同動作，因而易于掃描測試操作，這些測試操作包括不同總線驅(qū)動器的測試。同時這種協(xié)同動作也易于避免通過總線405和407之間的橋而形成的信息循環(huán)。通過允許靈活選擇參與掃描測試操作的總線驅(qū)動器，掃描可測試總線驅(qū)動器系統(tǒng)400A易于對總線驅(qū)動器系統(tǒng)進(jìn)行掃描測試。用同上面描述的對掃描可測試總線驅(qū)動器系統(tǒng)400相類似的方式，掃描可測試總線驅(qū)動器系統(tǒng)400有選擇地屏蔽到達(dá)總線驅(qū)動器的掃描測試單元的部件輸出的傳輸，因而防止多個總線驅(qū)動器的偶然啟動。通過壓制對總線驅(qū)動器415A和總線驅(qū)動器411A的總線驅(qū)動器啟動信號，比較器499防止總線405和407之間出現(xiàn)的偶然信息回路。
比較器499分析對總線驅(qū)動器415A和411A的總線驅(qū)動器啟動信號，然后判斷是否要對兩個總線驅(qū)動器啟動信號加以認(rèn)定。假如一個總線驅(qū)動器的啟動信號被認(rèn)定，比較器499則將其信號發(fā)送到相應(yīng)的總線驅(qū)動器(例如，總線驅(qū)動器415A或411A)。如果兩個總線驅(qū)動器信號均被認(rèn)定，則比較器向其中一個總線驅(qū)動器(如總線驅(qū)動器411A)發(fā)送認(rèn)定信號而向另一個總線驅(qū)動器(如總線驅(qū)動器415A)發(fā)送解除認(rèn)定信號。在一個例子中，掃描測試矢量移位入偶然地包含有指示方向的邏輯值的掃描測試單元440A和430A而使總線驅(qū)動器415A和411A分別啟動，同時掃描測試單元屏蔽部件455和451發(fā)送該邏輯值，比較器499選擇性地向總線驅(qū)動器415A或411A發(fā)送被認(rèn)定的總線驅(qū)動器啟動信號而向其他的驅(qū)動器發(fā)送被解除認(rèn)定的總線驅(qū)動器啟動信號。因此，通過讓總線之間的一個橋啟動而其他的被阻塞，而允許信息朝一個方向流動而在另一個方向被阻塞，比較器499有效地避免了在總線405和總線407間形成不合適的信息環(huán)路。
圖5是包括在靈活掃描測試方法500中的階段流程圖。通過允許對從所選掃描測試單元到功能部件的信號實(shí)行靈活的屏蔽，靈活掃描測試方法500易于進(jìn)行高效益和高效率地掃描測試操作。本發(fā)明降低了在測試操作捕獲周期內(nèi)測試矢量值在功能部件內(nèi)偶然觸發(fā)某些不希望的事件的潛在可能。在本發(fā)明的一種實(shí)施方案中，靈活掃描測試方法500是在一種包含有總線驅(qū)動器的系統(tǒng)內(nèi)實(shí)現(xiàn)的。通過利用靈活掃描測試方法500，防止測試矢量值移位入掃描測試單元使多于一個總線驅(qū)動器偶然啟動，同時又保持了單個測試總線驅(qū)動器的能力。
在階段510內(nèi)，測試矢量是通過包含掃描測試單元的掃描鏈移動的。在靈活掃描測試方法500的一種實(shí)施方案中，通過認(rèn)定掃描測試方式信號和掃描測試啟動信號并應(yīng)用測試矢量，測試矢量通過掃描測試鏈移動。在一種例子中，其測試矢量是由自動測試模式發(fā)生(ATPG)工具發(fā)生的。在靈活掃描測試方法500的一種實(shí)施方案中，其掃描鏈類似于靈活選擇掃描測試鏈200。
在階段520中，靈活掃描測試方法500從功能邏輯部件捕獲值。在一種實(shí)施方案中，通過對掃描測試啟動信號解除認(rèn)定而保持掃描測試方式信號，靈活掃描測試方法500從功能邏輯部件捕獲值。來自功能單元的值被捕獲在掃描測試單元的寄存器內(nèi)。在靈活掃描測試方法500的一種例子中，其掃描測試單元與掃描測試單元299相類似。
在階段530中，從掃描測試單元到功能邏輯部件的信號被屏蔽。在本發(fā)明的一種實(shí)施方案中，通過對掃描測試屏蔽部件識別信息的儲存，解碼和發(fā)出指導(dǎo)信息以屏蔽耦合到掃描測試屏蔽部件而未被認(rèn)別的信號，靈活掃描測試方法500選擇從掃描測試單元向功能邏輯部件發(fā)送信號。在本發(fā)明的另一種實(shí)施方案中，發(fā)出指導(dǎo)信號以屏蔽耦合到掃描測試屏蔽部件已被識別的信號。在靈活掃描測試方法500的一種例子中，掃描測試單元與掃描測試單元392相似，而在靈活掃描測試方法500的另一種例子中，其掃描測試單元與掃描測試單元432相似。在本發(fā)明的一種實(shí)施方案中，對從掃描測試單元到功能邏輯部件的信號是通過利用邏輯部件(如NAND門)將一預(yù)定邏輯值強(qiáng)加在該信號上而實(shí)現(xiàn)其屏蔽的。例如，在一個包含經(jīng)由掃描測試單元接收啟動信號的總線驅(qū)動器系統(tǒng)內(nèi)，靈活掃描測試方法500用不會使總線驅(qū)動器啟動的邏輯值(例如邏輯1)將來自掃描測試單元的信號屏蔽。
在階段540中，靈活掃描測試方法500選擇從掃描測試單元向功能邏輯部件發(fā)送信號。
在本發(fā)明的一種實(shí)施方案中，通過對掃描測試屏蔽部件識別信息的儲存，解碼和發(fā)出指導(dǎo)信息以傳輸耦合至該被識別掃描測試屏蔽部件的信號，靈活掃描測試方法500選擇從掃描測試單元向功能邏輯部件發(fā)送信號。在本發(fā)明的一種實(shí)施方案中，掃描測試屏蔽部件的選擇是通過類似于掃描測試單元選擇部件310的掃描測試單元選擇部件來完成的。
在本發(fā)明的一種實(shí)施方案中，靈活掃描測試方法500分析對耦合到眾多總線的總線驅(qū)動器的總線驅(qū)動器啟動信號。靈活掃描測試方法500判斷是否兩個總線驅(qū)動器啟動信號均被認(rèn)定。如果只有一個總線驅(qū)動器啟動信號被認(rèn)定，則靈活掃描測試方法500將該信號發(fā)送到該相應(yīng)的總線驅(qū)動器。如果有多個總線驅(qū)動器信號被認(rèn)定，則靈活掃描測試方法500對其中一個總線驅(qū)動器(如總線驅(qū)動器411A)發(fā)送認(rèn)定信號，而對其他總線驅(qū)動器(如總線驅(qū)動器415A)發(fā)送解除認(rèn)定信號。因此，通過讓總線之間一個橋啟動而其他的橋不啟動，靈活掃描測試方法500易于避免在總線之間出現(xiàn)不合適的信息環(huán)路。
因此，本發(fā)明簡化了總線驅(qū)動器的靈活掃描測試。本發(fā)明的系統(tǒng)和方法允許設(shè)計(jì)者高效益和高效率地掃描測試其系統(tǒng)而不會損失總線驅(qū)動器的掃描測試作用范圍。本發(fā)明的系統(tǒng)和方法允許選取參與掃描測試操作的不同總線驅(qū)動器，同時消除了在捕獲周期內(nèi)測試矢量誘發(fā)總線訪問沖突的可能性。本發(fā)明的系統(tǒng)和方法同樣易于避免信息通過總線之間的橋而形成不合適的環(huán)路。
為了展示和說明，它對本發(fā)明的特定實(shí)施方案進(jìn)行了闡述。但是這些闡述并非是包羅無遺，或有意將本發(fā)明局限于已公開的精細(xì)形式。很明顯，就上述傳授而言，仍可有許多修改和變動。選取這些實(shí)施方案并加以闡述為的是更好地解釋本發(fā)明的原理和它的實(shí)際應(yīng)用，因而能使本專業(yè)領(lǐng)域內(nèi)的其他技術(shù)人員更好地利用本發(fā)明和利用經(jīng)不同修改的各種實(shí)施方案以適合所企盼的特殊用途。通過隨后附帶的權(quán)利要求和其相應(yīng)的說明，旨在對本發(fā)明的范圍加以定義。
權(quán)利要求
1.靈活選擇掃描測試鏈，包括適合于完成正常操作的功能邏輯部件；耦合至所說的功能邏輯部件的掃描測試單元部件；所說的掃描測試單元部件適合于移位測試矢量并從所說的功能邏輯部件捕獲被發(fā)送的功能信息；耦合至所說的掃描測試單元的掃描測試單元屏蔽部件，所說的掃描測試單元屏蔽部件適合于發(fā)送或屏蔽從所說的掃描測試單元至功能邏輯部件的傳輸；和耦合至所說的掃描測試單元屏蔽部件的掃描測試單元選擇部件，所說的掃描測試單元選擇部件適合于選擇是否轉(zhuǎn)發(fā)或屏蔽從所說的掃描測試單元到所說的功能邏輯部件的信號。
2.權(quán)利要求1的靈活選擇掃描測試鏈，其中掃描測試單元屏蔽部件包括NAND邏輯部件。
3.權(quán)利要求1的靈活選擇掃描測試鏈，其中掃描測試單元選擇部件進(jìn)一步包括適合于儲存和識別的掃描測試單元選擇寄存器部件；和耦合至所說的掃描測試單元選擇寄存器的掃描測試單元選擇解碼器，所說的掃描測試單元選擇解碼器部件適合于解碼從所說的掃描測試單元選擇寄存器部件發(fā)送的信息和發(fā)出屏蔽認(rèn)定信號。
4.權(quán)利要求3的靈活選擇掃描測試鏈，其中所說的識別信息與掃描測試單元相關(guān)。
5.權(quán)利要求1至4任意一項(xiàng)的靈活選擇掃描測試鏈，其中當(dāng)掃描方式信號被認(rèn)定后掃描操作開始。
6.權(quán)利要求5的靈活選擇掃描測試鏈，其中當(dāng)掃描啟動信號是有效時，所說的掃描測試單元允許串行輸入信號中的信息移位入所說的掃描測試單元，而當(dāng)所說的掃描啟動信號被解除認(rèn)定后捕獲來自所說的功能部件的信息。
7.權(quán)利要求1，2，3，4或6中任意一項(xiàng)的靈活選擇掃描測試鏈，其中所說的掃描測試單元選擇部件根據(jù)來自掃描啟動信號的輸入，掃描測試方式信號和編程輸入進(jìn)行選擇。
8.權(quán)利要求1的靈活選擇掃描測試鏈，其中所說的掃描測試單元屏蔽部件防止通過所說的掃描測試單元從發(fā)射點(diǎn)到所說的功能邏輯部件偶然移位入的不合適信號。
9.如權(quán)利要求1，2，3，4或6的任意一項(xiàng)所描述的靈活選擇掃描測試鏈，其中所說的掃描測試單元屏蔽部件防止使總線驅(qū)動器啟動的掃描測試信號在某種情況下不合適地將總線驅(qū)動器啟動，同時允許所說的啟動總線驅(qū)動器的掃描測試矢量信號在合適時間傳輸?shù)剿f的總線驅(qū)動器。
10.靈活掃描可測試總線驅(qū)動器系統(tǒng)包括適合于在所說的總線驅(qū)動器系統(tǒng)的部件之間提供通信通路的總線；耦合至所說總線的總線驅(qū)動器，所說的總線驅(qū)動器適合于將信號向所說的總線驅(qū)動；耦合至所說的總線驅(qū)動器的掃描測試單元，所說的掃描測試單元適合于發(fā)射激活所說的總線驅(qū)動器的輸出啟動(OE)信號；耦合至所說的掃描測試單元的掃描測試單元屏蔽部件，所說的掃描測試單元屏蔽部件適合于屏蔽來自所說的掃描測試單元的信號；和耦合至所說的掃描測試單元屏蔽部件的掃描測試單元選擇部件，所說的掃描測試單元選擇部件適合于對所說的掃描測試單元提供屏蔽通知信號。
11.權(quán)利要求10的靈活掃描可測試總線驅(qū)動器系統(tǒng)，其中所說的掃描測試單元屏蔽部件防止啟動總線驅(qū)動器的掃描測試信號在某種情況下不合適地啟動總線驅(qū)動器，同時允許啟動總線驅(qū)動器的掃描測試矢量信號在合適時傳輸給所說的總線驅(qū)動器。
12.權(quán)利要求10的靈活掃描可測試總線驅(qū)動系統(tǒng)，其中所說的掃描測試單元選擇部件包括適合于儲存識別所說的掃描測試單元屏蔽部件的信息的掃描測試單元選擇寄存器部件；和耦合至所說的掃描測試單元選擇寄存器部件的掃描測試單元選擇解碼器部件；所說的掃描測試單元選擇解碼器部件適合于解碼從所說的掃描測試單元選擇寄存器部件發(fā)送的信息。
13.權(quán)利要求12的靈活掃描可測試總線驅(qū)動器系統(tǒng)，其中將對所選掃描測試單元屏蔽部件的識別動態(tài)編程到所說的掃描測試單元選擇寄存器部件。
14.權(quán)利要求10至13的任意一項(xiàng)靈活掃描可測試總線驅(qū)動器系統(tǒng)進(jìn)一步包括耦合至所說的總線驅(qū)動器的第二總線，所說的第二總線適合于信息通信；和耦合至所說的總線驅(qū)動器的比較器，所說的比較器適合于防止在所說的總線和所說的第二總線之間形成偶然的信息環(huán)路。
15.權(quán)利要求10至13的任意一項(xiàng)的靈活掃描可測試總線驅(qū)動器系統(tǒng)，其中所說的比較器通過抑制給所說的總線驅(qū)動器的總線驅(qū)動器啟動信號以防止在所說的總線和第二總線之間形成偶然的信息環(huán)路。
16.靈活掃描測試方法包括階段移動測試矢量通過包含掃描測試單元的掃描鏈；從功能邏輯部件捕獲值；屏蔽從掃描測試單元到功能邏輯部件的信號；和選擇從掃描測試單元到功能邏輯部件發(fā)送信號。
17.權(quán)利要求16的靈活掃描測試方法，其中所說的通過掃描測試鏈移動測試矢量又包括方法認(rèn)定掃描測試方式信號和掃描測試啟動信號；和應(yīng)用測試矢量。
18.權(quán)利要求16的靈活掃描測試方法，其中所說的從其功能邏輯部件捕獲所說值又包括方法對掃描測試啟動信號解除認(rèn)定；和保持掃描測試方式信號。
19.權(quán)利要求16至18任意一項(xiàng)的靈活掃描測試方法進(jìn)一步包括方法儲存掃描測試屏蔽部件識別信息，對所說的識別信息解碼，和發(fā)出指導(dǎo)信息以屏蔽耦合至未被識別的掃描測試屏蔽部件的信號。
20.權(quán)利要求16至18的任意一項(xiàng)的靈活掃描測試方法進(jìn)一步包括利用邏輯部件對信號強(qiáng)加以預(yù)定邏輯值的方法。
21.權(quán)利要求16至18任意一項(xiàng)的靈活掃描測試方法進(jìn)一步包括方法儲存掃描測試屏蔽部件識別信息；對所說的識別信息解碼；和發(fā)出指導(dǎo)信息以發(fā)送耦合至所說的被識別的掃描測試屏蔽部件的信號。
22.權(quán)要求16至18任意一項(xiàng)的靈活掃描測試方法進(jìn)一步包括方法分析總線驅(qū)動器啟動信號；判斷是否有多個所說的總線驅(qū)動器啟動信息被認(rèn)定；將一個認(rèn)定信號轉(zhuǎn)發(fā)至第一總線驅(qū)動器；和轉(zhuǎn)發(fā)解除認(rèn)定信號給第二總線驅(qū)動器。
23.權(quán)利要求16至18任意一項(xiàng)的靈活掃描測試方法進(jìn)一步包括方法啟動多個總線之間的第一橋；和禁止多個總線之間的其他橋。
全文摘要
本發(fā)明提供一種系統(tǒng)和方法,它易于限制所選掃描測試單元的輸出傳輸和降低掃描測試期間來自偶然測試矢量值對功能部件的負(fù)面影響。本發(fā)明的系統(tǒng)和方法對測試矢量值在功能部件內(nèi)偶然觸發(fā)某些不希望的事件提供屏蔽的能力。在一種實(shí)施方案中,對移位入與總線驅(qū)動器啟動信號相耦合的掃描測試單元內(nèi)的測試矢量值,本發(fā)明的系統(tǒng)和方法將給以屏蔽。在本發(fā)明的一種例子中,通過允許靈活屏蔽掃描測試操作期間的總線驅(qū)動器啟動信號使一個總線驅(qū)動器啟動而其余的驅(qū)動器阻塞,因而使掃描測試單元限制系統(tǒng)易于對總線驅(qū)動器系統(tǒng)進(jìn)行合適的掃描操作。掃描測試單元選擇部件選擇掃描測試單元屏蔽部件是否發(fā)送或屏蔽從掃描測試單元到功能邏輯部件的信號。本發(fā)明的系統(tǒng)和方法還易于靈活選擇何種掃描測試單元的輸出被屏蔽,允許掃描測試單元將掃描測試矢量值提供給相關(guān)的功能部件和防止不合適的測試矢量值的偶然不合適傳輸。在一種實(shí)施方案中,本發(fā)明還防止偶然測試矢量值在總線之間產(chǎn)生不合適的橋環(huán)。
文檔編號H01L21/822GK1357110SQ00805925
公開日2002年7月3日 申請日期2000年12月1日 優(yōu)先權(quán)日1999年12月2日
發(fā)明者S·阿杜蘇米利, M·錢德蘭 申請人:皇家菲利浦電子有限公司