專利名稱:一種紅外接收芯片的cp測試系統(tǒng)的制作方法
【專利摘要】本實用新型適用于半導(dǎo)體集成電路測試領(lǐng)域，提供了一種紅外接收芯片的CP測試系統(tǒng)。該測試系統(tǒng)中，集成電路測試系統(tǒng)的DACM音頻信號輸出端子連接紅外接收芯片的輸入引腳并向紅外接收芯片的輸入引腳輸出38KHZ的正弦信號，紅外接收芯片通過悍盤連接高電平信號脈沖或通過調(diào)修悍盤連接電壓電流較小的高電平以模擬變頻信號，相對于現(xiàn)有技術(shù)，無需額外增加設(shè)備且不會延長測試時間，測試成本低。另外，紅外接收芯片的輸出引腳通過峰值采樣電路連接集成電路測試系統(tǒng)，相對于現(xiàn)有技術(shù)，將對紅外接收芯片輸出信號峰值采樣處理方式轉(zhuǎn)變?yōu)橹绷鳒y試，所需測試時間更短，測試的時間成本低，且使得集成電路測試系統(tǒng)易于測試并能滿足多site要求。
【專利說明】一種紅外接收芯片的CP測試系統(tǒng)

【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001]本實用新型屬于半導(dǎo)體集成電路測試領(lǐng)域，尤其涉及一種紅外接收芯片的CP測試系統(tǒng)。

【背景技術(shù)】
[0002]晶圓(Chip Probe，CP)測試是指芯片在wafer階段，測試機(jī)通過探針卡的探針直接與芯片上的焊墊或凸塊接觸，以完成對芯片的性能及功能的測試。
[0003]由于當(dāng)前紅外遙控信號收發(fā)芯片市場的激烈競爭，導(dǎo)致此類芯片的設(shè)計公司需提供性能更好且更廉價的產(chǎn)品來占領(lǐng)市場，對樣，便對此類芯片的測試測試方案和成本控制有了更高的要求。
[0004]對紅外接收芯片的CP測試中，中心頻率調(diào)整測試是通過對紅外接收芯片的中心頻率的修調(diào)來使其具有更高的精度和一致性。對紅外接收芯片的中心頻率的修調(diào)過程主要是通過監(jiān)測紅外接收芯片對38KHZ上下區(qū)間輸入的正弦信號的放大曲線實現(xiàn)的，這就需要向紅外接收芯片提供變頻輸入信號以逐次測試其輸出。
[0005]現(xiàn)有技術(shù)中，主要采用掃頻儀或使用測試機(jī)的DACM音頻信號源向紅外接收芯片提供變頻信號。前者需要額外增加設(shè)備，硬件成本高，后者則大大加長了測試時間，時間成本高，即是說，兩種方式都會增加紅外接收芯片的測試成本。另外，由于紅外接收芯片的輸出為交流信號，不能采用測試機(jī)的一般直流資源通道去測試，現(xiàn)有技術(shù)中，采用測試機(jī)的DIG通道或者外加DIG測試板卡儀器實現(xiàn)輸出信號的采集。利用DIG直接采集需要較長的測試時間，且資源通道不足又不能滿足多site測試要求，同樣使得紅外接收芯片的測試成本尚。
實用新型內(nèi)容
[0006]本實用新型的目的在于提供一種紅外接收芯片的CP測試系統(tǒng)，旨在解決現(xiàn)有技術(shù)采用掃頻儀或使用測試機(jī)的DACM音頻信號源向紅外接收芯片提供變頻信號，且利用DIG直接采集輸出信號，使得紅外接收芯片的CP測試成本高的問題。
[0007]本實用新型是這樣實現(xiàn)的，一種紅外接收芯片的CP測試系統(tǒng)，所述CP測試系統(tǒng)包括:
[0008]集成電路測試系統(tǒng)，所述集成電路測試系統(tǒng)的DACM音頻信號輸出端子連接至少一個紅外接收芯片的輸入引腳，所述集成電路測試系統(tǒng)通過所述DACM音頻信號輸出端子向所述紅外接收芯片的輸入引腳輸出38KHZ的正弦信號；
[0009]至少一個峰值采樣電路，所述至少一個峰值采樣電路與所述至少一個紅外接收芯片分別一一對應(yīng)，所述峰值采樣電路的輸入端子連接對應(yīng)的紅外接收芯片的輸出引腳，所述峰值采樣電路的輸出端子連接所述集成電路測試系統(tǒng)，所述峰值采樣電路采集對應(yīng)的紅外接收芯片的交流輸出信號的正向峰值并放大后輸出給所述集成電路測試系統(tǒng)；
[0010]人機(jī)交互系統(tǒng)，所述人機(jī)交互系統(tǒng)連接所述集成電路測試系統(tǒng)。
[0011]在一種情況下，所述CP測試系統(tǒng)還可包括:
[0012]探針卡，所述探針卡的探針連接所述紅外接收芯片內(nèi)的悍盤或凸塊，所述探針卡的輸入/輸出端子連接所述集成電路測試系統(tǒng)。
[0013]在另一種情況下，所述CP測試系統(tǒng)還可包括:
[0014]芯片解碼功能測試電路，所述芯片解碼功能測試電路的輸出端子連接所述紅外接收芯片的輸入引腳，所述芯片解碼功能測試電路的輸出端子向所述紅外接收芯片的輸入引腳輸出調(diào)制信號。
[0015]進(jìn)一步地，所述芯片解碼功能測試電路可包括:51單片機(jī)、第八電容CS、第九電容C9、第十電容C10、第十電阻R10、第^^一電阻R11、開關(guān)K1、晶振Xl和光信號收發(fā)電路；所述51單片機(jī)的復(fù)位引腳連接所述第十電容ClO的第一端、所述第十一電阻Rll的第一端以及所述第十電阻RlO的第一端，所述第十電容ClO的第二端連接+5V直流電、并連接所述開關(guān)Kl的第一端，所述開關(guān)Kl的第二端連接所述第十一電阻Rll的第二端，所述第十電阻RlO的第二端接地，所述晶振Xl連接在所述51單片機(jī)的第一晶振引腳和第二晶振引腳之間，所述晶振Xl的兩端分別通過所述第八電容CS和所述第九電容C9接地，所述51單片機(jī)的與每一紅外接收芯片對應(yīng)的輸入/輸出引腳通過所述光信號收發(fā)電路連接所述紅外接收芯片的輸入引腳。
[0016]更進(jìn)一步地，所述光信號收發(fā)電路可包括:第十二電阻R12、發(fā)光二極管D2、光敏二極管D3、NPN型的三極管Ql ;所述51單片機(jī)的與每一紅外接收芯片對應(yīng)的輸入/輸出引腳連接所述三極管Ql的基極，所述三極管Ql的發(fā)射極接地，所述三極管Ql的集電極通過所述第十二電阻R12連接所述發(fā)光二極管D2的陰極，所述發(fā)光二極管D2的陽極連接+5V直流電，所述光敏二極管D3的陽極接地，所述光敏二極管D3的陰極作為所述芯片解碼功能測試電路的輸出端。
[0017]更進(jìn)一步地，所述發(fā)光二極管D2與所述光敏二極管D3之間的距離可為7.5mm。
[0018]更進(jìn)一步地，當(dāng)所述至少一個紅外接收芯片為多個紅外接收芯片時，所述光信號收發(fā)電路可封裝在一屏蔽盒內(nèi)。
[0019]上述的紅外接收芯片的CP測試系統(tǒng)中，所述峰值采樣電路可包括:型號為0PA2350的第一運(yùn)算放大器U21、型號為0PA2350的第二運(yùn)算放大器U22、第一電阻R1、第二電阻R2、第三電阻R3、第四電阻R4、第五電阻R5、第六電阻R6、第七電阻R7、第八電阻R8、第九電阻R9、第一電容Cl、第四電容C4、第七電容C7、二極管Dl ;所述第一電阻R1、所述第二電阻R2、所述第三電阻R3串聯(lián)在一直流電和地之間，所述第二電阻R2與所述第三電阻R3連接的一端同時連接所述第一運(yùn)算放大器U21的第一差分信號正引腳，所述第一運(yùn)算放大器U21的第一差分信號負(fù)引腳與所述第一運(yùn)算放大器U21的第一輸出引腳連接、并連接所述第五電阻R5的第一端，所述第五電阻R5的第二端連接所述第一運(yùn)算放大器U21的第二差分信號正引腳、并通過所述第四電阻R4連接所述第一電容Cl的第一端，所述第一電容Cl的第二端作為所述峰值采樣電路的輸出端子，所述第六電阻R6和所述第七電阻R7串聯(lián)在所述第一運(yùn)算放大器U21的第二輸出引腳與地之間，所述第六電阻R6與所述第七電阻R7連接的一端連接所述第一運(yùn)算放大器U21的第二差分信號負(fù)引腳；所述第二運(yùn)算放大器U22的第一輸出引腳連接所述二極管Dl的陽極，所述二極管Dl的陰極連接所述第二運(yùn)算放大器U22的第一差分信號負(fù)引腳和所述第二運(yùn)算放大器U22的第二差分信號正引腳、并通過所述第八電阻R8接地、并通過所述第四電容C4接地，所述第二運(yùn)算放大器U22的第一差分信號正引腳連接所述第一運(yùn)算放大器U21的第二輸出引腳，所述第二運(yùn)算放大器U22的第二差分信號負(fù)引腳連接所述第二運(yùn)算放大器U22的第二輸出引腳、并通過所述第九電阻R9連接所述第七電容C7的第一端，所述第七電容C7的第二端接地，所述第七電容C7的第一端同時作為所述峰值米樣電路的輸入端子。
[0020]上述的紅外接收芯片的CP測試系統(tǒng)中，所述集成電路測試系統(tǒng)可以是型號為CTA8280的集成電路測試系統(tǒng)。
[0021]本實用新型提供的紅外接收芯片的CP測試系統(tǒng)中，集成電路測試系統(tǒng)的DACM音頻信號輸出端子連接紅外接收芯片的輸入引腳并向紅外接收芯片的輸入引腳輸出38KHZ的正弦信號，紅外接收芯片通過悍盤連接高電平信號脈沖或通過調(diào)修悍盤連接電壓電流較小的高電平以模擬變頻信號，相對于現(xiàn)有技術(shù)，無需額外增加設(shè)備且不會延長測試時間，測試成本低。另外，紅外接收芯片的輸出引腳通過峰值采樣電路連接集成電路測試系統(tǒng)，相對于現(xiàn)有技術(shù)，將對紅外接收芯片輸出信號峰值采樣處理方式轉(zhuǎn)變?yōu)橹绷鳒y試，所需測試時間更短，測試的時間成本低，且使得集成電路測試系統(tǒng)易于測試并能滿足多site要求。

【附圖說明】

[0022]圖1是本實用新型第一實施例提供的紅外接收芯片的CP測試系統(tǒng)的電路圖；
[0023]圖2是本實用新型第一實施例的峰值采樣電路的電路圖；
[0024]圖3是本實用新型第二實施例提供的紅外接收芯片的CP測試系統(tǒng)的電路圖；
[0025]圖4是本實用新型第三實施例提供的紅外接收芯片的CP測試系統(tǒng)的電路圖；
[0026]圖5是本實用新型第三實施例的芯片解碼功能測試電路的電路圖。

【具體實施方式】
[0027]為了使本實用新型的目的、技術(shù)方案及優(yōu)點(diǎn)更加清楚明白，以下結(jié)合附圖及實施例，對本實用新型進(jìn)行進(jìn)一步詳細(xì)說明。應(yīng)當(dāng)理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本實用新型，并不用于限定本實用新型。
[0028]針對現(xiàn)有技術(shù)存在的問題，本實用新型提出的紅外接收芯片的CP測試系統(tǒng)是以集成電路測試系統(tǒng)的DACM音頻信號源提供固定38KHZ的正弦輸入信號、通過對紅外接收芯片的功能悍盤(PAD2)施加高電平脈沖信號或?qū)t外接收芯片的調(diào)修悍盤(PAD)施加高電平的編碼組合來模擬輸入變頻信號；同時，通過峰值采樣電路采集紅外接收芯片的交流輸出信號的正向峰值并放大后，輸出給集成電路測試系統(tǒng)。
[0029]圖1示出了本實用新型第一實施例提供的紅外接收芯片的CP測試系統(tǒng)的電路，為了便于說明，僅示出了與本實用新型第一實施例相關(guān)的部分。
[0030]本實用新型第一實施例提供的紅外接收芯片的CP測試系統(tǒng)包括:集成電路測試系統(tǒng)1，集成電路測試系統(tǒng)I的DACM音頻信號輸出端子連接至少一個紅外接收芯片Ul至Un (η為正整數(shù))的輸入引腳VIN，集成電路測試系統(tǒng)I通過DACM音頻信號輸出端子向紅外接收芯片的輸入引腳VIN輸出38ΚΗΖ的正弦信號；至少一個峰值采樣電路2，至少一個峰值采樣電路2與至少一個紅外接收芯片分別一一對應(yīng)，峰值采樣電路2的輸入端子連接對應(yīng)的紅外接收芯片的輸出引腳VOUT，峰值采樣電路2的輸出端子連接集成電路測試系統(tǒng)1，峰值采樣電路2采集對應(yīng)的紅外接收芯片的交流輸出信號的正向峰值并放大后輸出給集成電路測試系統(tǒng)I ;人機(jī)交互系統(tǒng)3，人機(jī)交互系統(tǒng)3連接集成電路測試系統(tǒng)I。優(yōu)選地，集成電路測試系統(tǒng)I是型號為CTA8280的集成電路測試系統(tǒng)。
[0031]本實用新型第一實施例提供的紅外接收芯片的CP測試系統(tǒng)用以完成紅外接收芯片的CP測試中的中心頻率調(diào)整測試。在進(jìn)行中心頻率調(diào)整測試過程時，集成電路測試系統(tǒng)I向紅外接收芯片的輸入引腳VIN輸出固定的38KHZ、40MVVP-P的正弦信號，對于帶有功能悍盤(PAD2)的紅外接收芯片，例如型號為QX80067的紅外接收芯片，對功能悍盤(PAD2)施加一高電平脈沖信號，該高電平脈沖信號可由直流源模擬得到，功能悍盤(PAD2)通過計數(shù)該高電平脈沖信號的個數(shù)來模擬輸入變頻信號，從而使得集成電路測試系統(tǒng)I監(jiān)測紅外接收芯片的輸出引腳VOUT輸出的相應(yīng)的放大曲線，并以該放大曲線的波峰對應(yīng)的脈沖個數(shù)作為中心頻率的TRIMMING碼，依此修調(diào)來將紅外接收芯片的中心頻率調(diào)整為38KHZ ;對于沒有功能悍盤(PAD2)的紅外接收芯片，例如型號為AP2515、XBOl等紅外接收芯片，可以采用模擬修調(diào)的方式模擬輸入變頻信號，即對調(diào)修悍盤(PAD)施加電壓電流較小的高電平，對調(diào)修悍盤(PAD)編碼組合，遍歷組合即可尋找到紅外接收芯片輸出的放大曲線的波峰對應(yīng)的組合，據(jù)此TRIMMING也可。對于頻率響應(yīng)正態(tài)分布良好的芯片測試在以上兩種方式上可以采用尋找放大曲線拐點(diǎn)或者二分法的方式以減少測試時間。
[0032]同時，為了降低測試成本并滿足多site設(shè)計需求，集成電路測試系統(tǒng)I通過峰值采樣電路2實現(xiàn)對紅外接收芯片的輸出引腳VOUT輸出波形的采集。如圖2所示，峰值采樣電路2可包括:型號為0PA2350的第一運(yùn)算放大器U21、型號為0PA2350的第二運(yùn)算放大器U22、第一電阻R1、第二電阻R2、第三電阻R3、第四電阻R4、第五電阻R5、第六電阻R6、第七電阻R7、第八電阻R8、第九電阻R9、第一電容Cl、第二電容C2、第三電容C3、第四電容C4、第五電容C5、第六電容C6、第七電容C7、二極管D1。其中，第一電阻R1、第二電阻R2、第三電阻R3串聯(lián)在直流電VDD和地之間，第二電阻R2與第三電阻R3連接的一端同時連接第一運(yùn)算放大器U21的第一差分信號正引腳A+，第一運(yùn)算放大器U21的第一差分信號負(fù)引腳A-與第一運(yùn)算放大器U21的第一輸出引腳OUTA連接、并連接第五電阻R5的第一端，第五電阻R5的第二端連接第一運(yùn)算放大器U21的第二差分信號正引腳B+、并通過第四電阻R4連接第一電容Cl的第一端，第一電容Cl的第二端作為峰值采樣電路2的輸出端子連接集成電路測試系統(tǒng)I。第六電阻R6和第七電阻R7串聯(lián)在第一運(yùn)算放大器U21的第二輸出引腳OUTB與地之間，第六電阻R6與第七電阻R7連接的一端連接第一運(yùn)算放大器U21的第二差分信號負(fù)引腳B-，第一運(yùn)算放大器U21的接地引腳Vss接地，第一運(yùn)算放大器U21的電源引腳VDD通過第二電容C2接地、并通過第三電容C3接地；第二運(yùn)算放大器U22的第一輸出引腳OUTA連接二極管Dl的陽極，二極管Dl的陰極連接第二運(yùn)算放大器U22的第一差分信號負(fù)引腳A-和第二運(yùn)算放大器U22的第二差分信號正引腳B+、并通過第八電阻R8接地、并通過第四電容C4接地，第二運(yùn)算放大器U22的第一差分信號正引腳A+連接第一運(yùn)算放大器U21的第二輸出引腳0UTB，第二運(yùn)算放大器U22的第二差分信號負(fù)引腳B-連接第二運(yùn)算放大器U22的第二輸出引腳0UTB、并通過第九電阻R9連接第七電容C7的第一端，第七電容C7的第二端接地，第七電容C7的第一端同時作為峰值采樣電路2的輸入端子而連接對應(yīng)的紅外接收芯片的輸出引腳V0UT，第二運(yùn)算放大器U22的接地引腳Vss接地，第二運(yùn)算放大器U22的電源引腳VDD通過第五電容C5接地、并通過第六電容C6接地。
[0033]本實用新型第一實施例提供的紅外接收芯片的CP測試系統(tǒng)中，集成電路測試系統(tǒng)I的DACM音頻信號輸出端子連接紅外接收芯片的輸入引腳并向紅外接收芯片的輸入引腳輸出38KHZ的正弦信號，紅外接收芯片通過悍盤(PAD2)連接高電平信號脈沖或通過調(diào)修悍盤(PAD)連接電壓電流較小的高電平以模擬變頻信號，相對于現(xiàn)有技術(shù)，無需額外增加設(shè)備且不會延長測試時間，測試成本低。另外，紅外接收芯片的輸出引腳通過峰值采樣電路2連接集成電路測試系統(tǒng)1，相對于現(xiàn)有技術(shù)，將對紅外接收芯片輸出信號峰值采樣處理方式轉(zhuǎn)變?yōu)橹绷鳒y試，所需測試時間更短，測試的時間成本低，且使得集成電路測試系統(tǒng)I易于測試并能滿足多site要求。
[0034]圖3示出了本實用新型第二實施例提供的紅外接收芯片的CP測試系統(tǒng)的電路，為了便于說明，僅示出了與本實用新型第二實施例相關(guān)的部分。
[0035]與第一實施例不同，第二實施例的紅外接收芯片的CP測試系統(tǒng)在第一實施例基礎(chǔ)上，還包括:探針卡4，探針卡4的探針連接紅外接收芯片內(nèi)的悍盤或凸塊，探針卡4的輸入/輸出端子連接集成電路測試系統(tǒng)I。
[0036]這樣，在實現(xiàn)第一實施例的中心頻率調(diào)整測試的基礎(chǔ)上，還進(jìn)一步利用探針卡4實現(xiàn)了 CP測試中的直流參數(shù)測試，該測試的測試項目可由用戶定制，典型的包括開路/短路(Open/Short)測試、靜態(tài)功耗電流測試、基準(zhǔn)電壓測試等。其它各組成部分及各部分的電路如第一實施例所述，不贅述。
[0037]圖4示出了本實用新型第三實施例提供的紅外接收芯片的CP測試系統(tǒng)的電路，為了便于說明，僅示出了與本實用新型第三實施例相關(guān)的部分。
[0038]本實用新型第三實施例提供的紅外接收芯片的CP測試系統(tǒng)包括:芯片解碼功能測試電路5，芯片解碼功能測試電路5的輸出端子連接紅外接收芯片的輸入引腳VIN，芯片解碼功能測試電路5的輸出端子向紅外接收芯片的輸入引腳VIN輸出調(diào)制信號。
[0039]與第一實施例和第二實施例不同，第三實施例的紅外接收芯片的CP測試系統(tǒng)在實現(xiàn)第一實施例的中心頻率調(diào)整測試和/或直流參數(shù)測試的基礎(chǔ)上，還進(jìn)一步利用芯片解碼功能測試電路5模擬紅外遙控收發(fā)信號來作為紅外接收芯片的標(biāo)準(zhǔn)測試信號，以集成電路測試系統(tǒng)I的時間測量單元測試紅外接收芯片的解碼輸出功能。
[0040]進(jìn)一步地，如圖5所示，芯片解碼功能測試電路5可包括:51單片機(jī)U31、第八電容C8、第九電容C9、第十電容C10、第十電阻R10、第^^一電阻R11、開關(guān)K1、晶振Xl和光信號收發(fā)電路。其中，51單片機(jī)U31的復(fù)位引腳RST連接第十電容ClO的第一端、第^^一電阻Rll的第一端以及第十電阻RlO的第一端，第十電容ClO的第二端連接+5V直流電、并連接開關(guān)Kl的第一端，開關(guān)Kl的第二端連接第^^一電阻RlI的第二端，第十電阻RlO的第二端接地，晶振Xl連接在51單片機(jī)U31的第一晶振引腳XTALl和第二晶振引腳XTAL2之間，晶振Xl的兩端分別通過第八電容C8和第九電容C9接地；51單片機(jī)U31的電源引腳VCC連接+5V直流電，51單片機(jī)U31的與每一紅外接收芯片對應(yīng)的輸入/輸出引腳通過一光信號收發(fā)電路連接紅外接收芯片的輸入引腳VIN。
[0041]更進(jìn)一步地，光信號收發(fā)電路包括:第十二電阻R12、發(fā)光二極管D2、光敏二極管D3、NPN型的三極管Ql，其中，51單片機(jī)U31的與每一紅外接收芯片對應(yīng)的輸入/輸出引腳連接三極管Ql的基極，三極管Ql的發(fā)射極接地，三極管Ql的集電極通過第十二電阻R12連接發(fā)光二極管D2的陰極，發(fā)光二極管D2的陽極連接+5V直流電，光敏二極管D3的陽極接地，光敏二極管D3的陰極作為芯片解碼功能測試電路5的輸出端而連接對應(yīng)的紅外接收芯片的輸入引腳VIN。
[0042]在第三實施例中，芯片解碼功能測試電路5布置于一紅外發(fā)射信號板上，該紅外發(fā)射信號板與探針卡4分離，以避免電磁信號干擾。在光信號收發(fā)電路中，發(fā)光二極管D2與光敏二極管D3之間的距離優(yōu)選為7.5mm，且光敏二極管D3的陰極到對應(yīng)的紅外接收芯片的輸入引腳之間的引線要求盡量短。另外，當(dāng)進(jìn)行多site測試，即對多個紅外接收芯片進(jìn)行測試時，與每個紅外接收芯片對應(yīng)的光信號收發(fā)電路封裝在一屏蔽盒內(nèi)。
[0043]在第三實施例中，51單片機(jī)U31選取12.288M的晶振作為基準(zhǔn)時鐘，如圖5是以四組測試單元分別實現(xiàn)對四個紅外接收芯片的解碼功能測試為例，其中，對51單片機(jī)U31的輸入/輸出引腳P3.0至P3.7兩兩分組，每一組兩個引腳對應(yīng)一組測試單元，用以實現(xiàn)對對應(yīng)測試單元的頻率輸入設(shè)置，則可產(chǎn)生標(biāo)準(zhǔn)37.9KHZ的方波，調(diào)制波形經(jīng)對應(yīng)的輸入/輸出引腳輸出到光信號收發(fā)電路。光信號收發(fā)電路中的三極管Ql和第十二電阻R12控制發(fā)光二極管D2的開關(guān)輸出和功耗，之后經(jīng)光敏二極管D3轉(zhuǎn)換為電信號輸入到對應(yīng)的紅外接收芯片，之后由集成電路測試系統(tǒng)I的時間測量單元完成解調(diào)輸出測試。其它各組成部分及各部分的電路如第一實施例和第二實施例所述，不贅述。
[0044]綜上所述，本實用新型提供的紅外接收芯片的CP測試系統(tǒng)中，集成電路測試系統(tǒng)I的DACM音頻信號輸出端子連接紅外接收芯片的輸入引腳并向紅外接收芯片的輸入引腳輸出38KHZ的正弦信號，紅外接收芯片通過悍盤(PAD2)連接高電平信號脈沖或通過調(diào)修悍盤(PAD)連接電壓電流較小的高電平以模擬變頻信號，相對于現(xiàn)有技術(shù)，無需額外增加設(shè)備且不會延長測試時間，測試成本低。另外，紅外接收芯片的輸出引腳通過峰值采樣電路2連接集成電路測試系統(tǒng)1，相對于現(xiàn)有技術(shù)，將對紅外接收芯片輸出信號峰值采樣處理方式轉(zhuǎn)變?yōu)橹绷鳒y試，所需測試時間更短，測試的時間成本低，且使得集成電路測試系統(tǒng)I易于測試并能滿足多site要求。另外，通過增加連接集成電路測試系統(tǒng)I和紅外接收芯片的探針卡4，可進(jìn)一步實現(xiàn)直流參數(shù)測試功能。另外，通過增加芯片解碼功能測試電路5來模擬紅外遙控收發(fā)信號，以集成電路測試系統(tǒng)I的時間測量單元測試紅外接收芯片的解碼輸出功能。
[0045]以上所述僅為本實用新型的較佳實施例而已，并不用以限制本實用新型，凡在本實用新型的精神和原則之內(nèi)所作的任何修改、等同替換和改進(jìn)等，均應(yīng)包含在本實用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
【權(quán)利要求】
1.一種紅外接收芯片的CP測試系統(tǒng)，其特征在于，所述CP測試系統(tǒng)包括: 集成電路測試系統(tǒng)，所述集成電路測試系統(tǒng)的DACM音頻信號輸出端子連接至少一個紅外接收芯片的輸入引腳，所述集成電路測試系統(tǒng)通過所述DACM音頻信號輸出端子向所述紅外接收芯片的輸入引腳輸出38KHZ的正弦信號； 至少一個峰值采樣電路，所述至少一個峰值采樣電路與所述至少一個紅外接收芯片分別一一對應(yīng)，所述峰值采樣電路的輸入端子連接對應(yīng)的紅外接收芯片的輸出引腳，所述峰值采樣電路的輸出端子連接所述集成電路測試系統(tǒng)，所述峰值采樣電路采集對應(yīng)的紅外接收芯片的交流輸出信號的正向峰值并放大后輸出給所述集成電路測試系統(tǒng)； 人機(jī)交互系統(tǒng)，所述人機(jī)交互系統(tǒng)連接所述集成電路測試系統(tǒng)。2.如權(quán)利要求1所述的紅外接收芯片的CP測試系統(tǒng)，其特征在于，所述CP測試系統(tǒng)還包括: 探針卡，所述探針卡的探針連接所述紅外接收芯片內(nèi)的悍盤或凸塊，所述探針卡的輸入/輸出端子連接所述集成電路測試系統(tǒng)。3.如權(quán)利要求1所述的紅外接收芯片的CP測試系統(tǒng)，其特征在于，所述CP測試系統(tǒng)還包括: 芯片解碼功能測試電路，所述芯片解碼功能測試電路的輸出端子連接所述紅外接收芯片的輸入引腳，所述芯片解碼功能測試電路的輸出端子向所述紅外接收芯片的輸入引腳輸出調(diào)制信號。4.如權(quán)利要求3所述的紅外接收芯片的CP測試系統(tǒng)，其特征在于，所述芯片解碼功能測試電路包括:51單片機(jī)、第八電容C8、第九電容C9、第十電容C10、第十電阻R10、第^^一電阻RU、開關(guān)K1、晶振Xl和光信號收發(fā)電路； 所述51單片機(jī)的復(fù)位引腳連接所述第十電容ClO的第一端、所述第十一電阻Rll的第一端以及所述第十電阻RlO的第一端，所述第十電容ClO的第二端連接+5V直流電、并連接所述開關(guān)Kl的第一端，所述開關(guān)Kl的第二端連接所述第十一電阻Rll的第二端，所述第十電阻RlO的第二端接地，所述晶振Xl連接在所述51單片機(jī)的第一晶振引腳和第二晶振引腳之間，所述晶振Xl的兩端分別通過所述第八電容CS和所述第九電容C9接地，所述51單片機(jī)的與每一紅外接收芯片對應(yīng)的輸入/輸出引腳通過所述光信號收發(fā)電路連接所述紅外接收芯片的輸入引腳。5.如權(quán)利要求4所述的紅外接收芯片的CP測試系統(tǒng)，其特征在于，所述光信號收發(fā)電路包括:第十二電阻R12、發(fā)光二極管D2、光敏二極管D3、NPN型的三極管Ql ； 所述51單片機(jī)的與每一紅外接收芯片對應(yīng)的輸入/輸出引腳連接所述三極管Ql的基極，所述三極管Ql的發(fā)射極接地，所述三極管Ql的集電極通過所述第十二電阻R12連接所述發(fā)光二極管D2的陰極，所述發(fā)光二極管D2的陽極連接+5V直流電，所述光敏二極管D3的陽極接地，所述光敏二極管D3的陰極作為所述芯片解碼功能測試電路的輸出端。6.如權(quán)利要求5所述的紅外接收芯片的CP測試系統(tǒng)，其特征在于，所述發(fā)光二極管D2與所述光敏二極管D3之間的距離為7.5mm。7.如權(quán)利要求5所述的紅外接收芯片的CP測試系統(tǒng)，其特征在于，當(dāng)所述至少一個紅外接收芯片為多個紅外接收芯片時，所述光信號收發(fā)電路封裝在一屏蔽盒內(nèi)。8.如權(quán)利要求1至7任一項所述的紅外接收芯片的CP測試系統(tǒng)，其特征在于，所述峰值采樣電路包括:型號為0PA2350的第一運(yùn)算放大器U21、型號為0PA2350的第二運(yùn)算放大器U22、第一電阻R1、第二電阻R2、第三電阻R3、第四電阻R4、第五電阻R5、第六電阻R6、第七電阻R7、第八電阻R8、第九電阻R9、第一電容Cl、第四電容C4、第七電容C7、二極管Dl ； 所述第一電阻R1、所述第二電阻R2、所述第三電阻R3串聯(lián)在一直流電和地之間，所述第二電阻R2與所述第三電阻R3連接的一端同時連接所述第一運(yùn)算放大器U21的第一差分信號正引腳，所述第一運(yùn)算放大器U21的第一差分信號負(fù)引腳與所述第一運(yùn)算放大器U21的第一輸出引腳連接、并連接所述第五電阻R5的第一端，所述第五電阻R5的第二端連接所述第一運(yùn)算放大器U21的第二差分信號正引腳、并通過所述第四電阻R4連接所述第一電容Cl的第一端，所述第一電容Cl的第二端作為所述峰值采樣電路的輸出端子，所述第六電阻R6和所述第七電阻R7串聯(lián)在所述第一運(yùn)算放大器U21的第二輸出引腳與地之間，所述第六電阻R6與所述第七電阻R7連接的一端連接所述第一運(yùn)算放大器U21的第二差分信號負(fù)引腳； 所述第二運(yùn)算放大器U22的第一輸出引腳連接所述二極管Dl的陽極，所述二極管Dl的陰極連接所述第二運(yùn)算放大器U22的第一差分信號負(fù)引腳和所述第二運(yùn)算放大器U22的第二差分信號正引腳、并通過所述第八電阻R8接地、并通過所述第四電容C4接地，所述第二運(yùn)算放大器U22的第一差分信號正引腳連接所述第一運(yùn)算放大器U21的第二輸出引腳，所述第二運(yùn)算放大器U22的第二差分信號負(fù)引腳連接所述第二運(yùn)算放大器U22的第二輸出引腳、并通過所述第九電阻R9連接所述第七電容C7的第一端，所述第七電容C7的第二端接地，所述第七電容C7的第一端同時作為所述峰值采樣電路的輸入端子。9.如權(quán)利要求1至7任一項所述的紅外接收芯片的CP測試系統(tǒng)，其特征在于，所述集成電路測試系統(tǒng)是型號為CTA8280的集成電路測試系統(tǒng)。
【文檔編號】H01L21-66GK204303759SQ201420770052
【發(fā)明者】曹景華, 劉偉, 王健, 孔曉琳 [申請人]深圳安博電子有限公司