專利名稱：發(fā)光二極管測試機(jī)臺的自動化裝置的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種發(fā)光二極管測試儀器，具體地說涉及一種發(fā)光二極管測試機(jī)臺的自動化裝置。
背景技術(shù)：
發(fā)光二極管經(jīng)封裝完成后，須經(jīng)測試其光亮度及光波長以確保其良率或其可適用性，而其測試的方法則須利用專用的發(fā)光二極管測試儀器以進(jìn)行檢測。近幾年已經(jīng)出現(xiàn)了自動化程度較高且測試精度較為可靠的發(fā)光二極管檢測儀器。
專利號為01274956.7、授權(quán)公告號為CN 2519906Y、名稱為“發(fā)光二極管測試機(jī)臺的自動化裝置”的專利就公布了一種這樣的測試儀器。請參見圖1，該專利是這樣實(shí)現(xiàn)的主要由一組進(jìn)料結(jié)構(gòu)、一定位測試結(jié)構(gòu)及一組出料結(jié)構(gòu)所組成，該進(jìn)料結(jié)構(gòu)由下列各構(gòu)件所組成其進(jìn)料端為一圓形振動盤11，并有一平形振動盤12，如軌道般與其相連接，且該平形振動盤12延伸至測試段前端，并恰可與測試段前端相連接；該平形振動盤12向前延伸至測試段前方的適當(dāng)處時(shí)，上方設(shè)置有一擋爪21，該擋爪21為一由彈簧聯(lián)動可供開合并具擋置發(fā)光二極管的作用；擋爪21上方適當(dāng)處設(shè)置有一輔助進(jìn)料送風(fēng)口22，其與空氣輸送管連接，并有持續(xù)送風(fēng)且可將發(fā)光二極管向前吹置的作用；平形振動盤12下方與擋爪21相對位置的前端適當(dāng)處，設(shè)置有一進(jìn)料夾爪組23，其由凸輪配合橫向傳動輪及縱向傳動輪產(chǎn)生聯(lián)動，藉以控制進(jìn)料夾爪組23的閉合及其前后往復(fù)運(yùn)動；擋爪21末端適當(dāng)處設(shè)置有一導(dǎo)正爪24，該導(dǎo)正爪24側(cè)面與平形振動盤12的軌道相對位置有∏字型缺口，其前端面亦有一相同大小的∏字型缺口；導(dǎo)正爪24后端設(shè)置有一帶料爪組26，其呈一Γ型，前端立面處設(shè)置有四個(gè)等距缺口。定位測試結(jié)構(gòu)由下列各構(gòu)件所組成一定位爪組25，設(shè)置于帶料爪組26對面的相對位置，其呈一E字型，凸出的三爪的前端分別設(shè)有一內(nèi)凹的定位口，并與各測試站相對應(yīng)；定位爪組25的正下方為一測試段P，其前端恰可與平形振動盤12的末端相連接，該測試組上方呈三個(gè)測試站，第一測試站為極性測試，下接一極性探針座，可測試發(fā)光二極管的極性是否符合測試的極性方向，第二測試站下為一旋轉(zhuǎn)座，該旋轉(zhuǎn)座下接一由空氣致動的汽缸，其旋轉(zhuǎn)與否乃取決于第一測試站下方的極性探針座檢測的結(jié)果，若不符合測試的極性方向，則由空氣致動汽缸，并使其產(chǎn)生180度的旋轉(zhuǎn)，使欲受測的發(fā)光二極管的受測極性向符合受測要求，第三測試站下方為一框腳探針座，其主要由該框腳探針座與發(fā)光二極管的針腳產(chǎn)生極性接觸，并配合上方的亮度波長檢測頭27，以檢測該受測發(fā)光二極管的亮度及光波長；再者，第三測試站的一端并設(shè)置有一凸起的定位柱，其目的在使發(fā)光二極管受定位爪組的第三定位口卡持時(shí)，除第三定位口兩邊能夾持外，并與該定位柱能產(chǎn)生三點(diǎn)定位，使發(fā)光二極管不會有傾斜受測的情況。出料結(jié)構(gòu)接設(shè)于測試區(qū)的末端，其由下列各構(gòu)件所組成一膠質(zhì)履帶32，其內(nèi)側(cè)有等寬的凹槽，可供與傳動齒輪33相嚙合，并有數(shù)個(gè)接料爪31等距卡持于履帶上；接料爪為一倒L型的承接座，上方有一寬度及深度適中的溝槽，該溝槽可承接受測完畢的料件。該技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)了發(fā)光二極管的測試自動化，并且測試結(jié)果能夠達(dá)到較高的精度。
但是，上述方案中仍然存在以下缺點(diǎn)由于發(fā)光二極管質(zhì)量較輕，當(dāng)其在第一測試站檢測其極性，在第三測試站檢測其波長及亮度時(shí)，容易因傾斜而使針腳無法與框腳探針座接觸，從而不能將發(fā)光二極管點(diǎn)亮，使用該技術(shù)方案的測試機(jī)臺其點(diǎn)亮率只能達(dá)到70～80％。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種能夠提高點(diǎn)亮率的發(fā)光二極管測試機(jī)臺的自動化裝置。
本發(fā)明是通過以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的一種發(fā)光二極管測試機(jī)臺的自動化裝置，包括一組進(jìn)料結(jié)構(gòu)、一定位測試結(jié)構(gòu)及一組出料結(jié)構(gòu)，進(jìn)料結(jié)構(gòu)包括圓形振動盤及與其相連的平形振動盤、擋爪、進(jìn)料夾爪組及帶料爪組，帶料爪組下方為絕緣墊座；定位測試結(jié)構(gòu)包括置于帶料爪組對面的定位爪組，所述定位爪組包括四個(gè)定位口，一測試組置于定位爪組正下方，包括測試發(fā)光二極管極性的極性探針座、旋轉(zhuǎn)座及測試發(fā)光二極管亮度及光波長的框腳探針座，定位爪組第一定位口用于將進(jìn)料夾爪組送來的發(fā)光二極管進(jìn)行調(diào)位，定位爪組第二、三、四定位口分別與極性探針座、旋轉(zhuǎn)座及框腳探針座相對應(yīng)，第三測試站一端設(shè)置有定位柱；出料結(jié)構(gòu)包括傳動齒輪及與其相配合的履帶，數(shù)個(gè)接料爪卡持于履帶上，接料爪底部安裝小軸承，從與其相配合的軸承槽內(nèi)通過，這樣可保證平穩(wěn)送料，且在各接料爪后方均設(shè)置有吹氣板。
所述進(jìn)料夾爪組固定于大滑板上，大滑板上設(shè)置有小滑板，大滑板只能帶動小滑板一起做橫向移動，小滑板還可做縱向移動，帶料爪組設(shè)置于小滑板上，在小滑板上靠近進(jìn)料夾爪組的一側(cè)設(shè)有推動裝置，所述進(jìn)料夾爪組包括夾料爪、設(shè)有夾爪槽的夾爪座、擋板、推塊及擺動裝置，夾料爪由相互配合的上夾爪和下夾爪所組成，所述下夾爪置于夾爪座的夾爪槽底部，上夾爪位于下夾爪之上，兩夾爪的夾料部分從夾爪槽的一端伸出，擋板緊靠夾爪座另一端，上夾爪尾端與擋板之間設(shè)置有彈簧，所述彈簧處于自然伸縮狀態(tài)。上夾爪靠近推動裝置的一側(cè)設(shè)置有推塊，該推塊從夾爪座側(cè)面的開口伸出，且該開口的寬度大于推塊的寬度，所述擺動裝置與夾爪座為活動銷連接，兩個(gè)銷分別穿過夾爪座上的兩個(gè)長形銷孔且分別與上夾爪與下夾爪固定連接，且固定于上夾爪的銷位于夾爪座上面長形銷孔中遠(yuǎn)離擋板的一端，而固定于下夾爪的銷位于夾爪座下面長形銷孔中靠近擋板的一端，夾料爪處于閉合狀態(tài)。所述擺動裝置還包括一個(gè)在其中間設(shè)有凸軸的轉(zhuǎn)軸，該轉(zhuǎn)軸通過其凸軸穿過一擺桿中間的圓孔，與擺桿固定連接，且擺桿圓孔兩邊設(shè)置有銷孔，所述兩個(gè)銷分別固定于兩銷孔內(nèi)，所述推動裝置為設(shè)置在小滑板上擋條上的螺釘，所述夾爪座中的上夾爪上面還設(shè)置有一壓條，通過螺栓與夾爪座固定。夾爪座中的上夾爪尾端還設(shè)置有一圓孔，所述彈簧一端部置于該孔內(nèi)，擋板與上夾爪相對位置處也設(shè)置有一圓孔，所述彈簧另一端部置于該孔內(nèi)。所述上夾爪一側(cè)設(shè)置有缺口，所述推塊固定在該缺口內(nèi)。
所述帶料爪組下方的絕緣墊座上設(shè)置有一塊或一塊以上磁鐵，所述磁鐵至少有一塊或一塊以上位于框腳探針座正對面。
所述發(fā)光二極管測試機(jī)臺的自動化裝置，絕緣墊座上的磁鐵有一塊或一塊以上位于極性探針座正對面。
所述發(fā)光二極管測試機(jī)臺的自動化裝置，所述絕緣墊座上與框腳探針座相正對的表面設(shè)置有與墊片形狀大小相同的缺口，以及與該處磁鐵形狀、大小相同的孔，且磁鐵置于該孔中，所述墊片固定在絕緣墊座缺口處，將磁鐵覆蓋。
所述發(fā)光二極管測試機(jī)臺的自動化裝置，絕緣墊座上與極性探針座相正對的表面設(shè)置有與墊片形狀大小相同的缺口，以及與該處磁鐵形狀、大小相同的孔，且磁鐵置于該孔中，所述墊片固定在絕緣墊座缺口處，將磁鐵覆蓋。
所述發(fā)光二極管測試機(jī)臺的自動化裝置，框腳探針座正對面處的磁鐵可以為圓柱體、正三棱柱、正四棱柱、圓環(huán)狀等等。
所述發(fā)光二極管測試機(jī)臺的自動化裝置，極性探針座正對面處的磁鐵可以為圓柱體、正三棱柱、正四棱柱、圓環(huán)狀等等。
為保證發(fā)光二極管受到磁鐵的吸引力后不再左右傾斜，從而使管腳能夠與框腳探針座和極性探針座的探針接觸，磁鐵的形狀最好是軸對稱或者中心對稱，且框腳探針座正對面處的磁鐵中垂線正好位于框腳探針座兩探針間的中垂面上，極性探針座正對面處的磁鐵中垂線正好位于極性探針座兩探針間的中垂面上。
從上面的描述可以看出，本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)是由于采用了磁鐵與墊片，在檢測發(fā)光二極管亮度與光波長時(shí)，或測試其極性時(shí)，其管腳受到磁鐵的吸引力不會傾斜，從而能夠保證與框腳二極管或極性二極管的探針相接觸，避免了因?yàn)榘l(fā)光二極管管腳傾斜無法與探針接觸，而造成不能點(diǎn)亮情況的發(fā)生，提高了點(diǎn)亮率。


圖1是本發(fā)明背景技術(shù)的立體外觀圖；圖2是本發(fā)明的立體外觀圖；圖3是本發(fā)明中間測試部分及其板下面凸輪等部分的立體放大圖；圖4是本發(fā)明進(jìn)料夾爪組的立體外觀圖；圖5是本發(fā)明帶料爪的立體圖；圖6是定位爪及其上彈性裝置的立體圖；圖7是本發(fā)明旋轉(zhuǎn)座及其上測試組的立體外觀圖；
圖8是本發(fā)明出料結(jié)構(gòu)立體外觀圖；圖9是本發(fā)明出料結(jié)構(gòu)的截面圖；圖10是本發(fā)明裝有磁鐵的絕緣墊座分解圖；圖11是本發(fā)明裝有磁鐵的絕緣墊座側(cè)面圖；圖12是本發(fā)明小滑板上推條的螺釘對進(jìn)料夾爪組的動作示意圖；圖13～圖20是本發(fā)明進(jìn)料測試流程圖。
具體實(shí)施例方式
下面結(jié)合附圖和具體實(shí)施方式
對本發(fā)明作進(jìn)一步詳細(xì)的描述。
實(shí)施例進(jìn)料結(jié)構(gòu)由下列各構(gòu)件所組成請參見圖2、圖3，其進(jìn)料端為一圓形振動盤13，并有一平形振動盤14與其相連，且該平形振動盤14延伸至測試段前端，并剛好與測試段前端相連接；該平形振動盤14向前延伸至測試段前方的適當(dāng)處時(shí)，上方設(shè)置有一擋爪15；在平形振動盤14末端一側(cè)的大滑板上設(shè)置有進(jìn)料夾爪組4，在小滑板上靠近進(jìn)料夾爪組4一側(cè)的擋條(圖未示)上設(shè)有推動螺釘，請參見圖4，所述進(jìn)料夾爪組包括夾料爪41、設(shè)有夾爪槽的夾爪座42、擋板43及擺動裝置44、壓條45，所述夾料爪包括上夾爪411和下夾爪412，所述下夾爪412置于夾爪座42最底部，上夾爪411置于夾爪座42中部，壓條45設(shè)置在最上面，該壓條45通過螺栓與夾爪座42固定。兩夾爪的夾料部分從夾爪槽的一端伸出，且該夾料部分剛好位于發(fā)光二極管移動軌道的正下方，擋板43緊靠夾爪座42另一端，上夾爪411尾端與擋板43之間設(shè)置有彈簧46，且上夾爪411上靠近擋條一側(cè)設(shè)置有推塊47，該推塊47從夾爪座42的開口中伸出，所述擺動裝置44與夾爪座42為活動銷連接，擺動裝置44的兩個(gè)銷441、442分別穿過夾爪座42上的長形銷孔且分別與上夾爪411與下夾爪412固定連接。擺動裝置44還包括一個(gè)在其中間設(shè)置有凸軸的轉(zhuǎn)軸443，該轉(zhuǎn)軸443通過其凸軸穿過一擺桿444中間的圓孔，與擺桿固定連接，且擺桿444圓孔兩邊設(shè)置有銷孔，所述兩個(gè)銷441、442分別固定于兩銷孔內(nèi)；所述進(jìn)料夾爪組4一側(cè)的小滑板上設(shè)置有帶料爪組5及擋條(圖未示)，請參見圖12擋條上設(shè)置有螺釘9，當(dāng)小滑板縱向后移時(shí)，將推動進(jìn)料夾爪組4上的推塊47，因此小滑板的縱向前移或縱向后移將控制夾料爪41的開合；請參見圖5所述帶料爪組5呈一Γ形，前端立面處設(shè)置有四個(gè)等距缺口。
定位測試結(jié)構(gòu)包括置于帶料爪組對面的定位爪組6，該定位爪組6設(shè)置有四個(gè)定位口，一測試組P置于定位爪組6正下方，請參見圖6、圖7第一定位口61與測試組上的調(diào)位點(diǎn)P0對應(yīng)，用于將進(jìn)料夾爪組4送來的發(fā)光二極管進(jìn)行調(diào)整定位，具第二、三、四定位口62、63、64分別與各測試站相對應(yīng)，該測試組上方呈三個(gè)測試站，第一測試站P1測試發(fā)光二極管的極性，下接一極性探針座，第二測試站P2為一旋轉(zhuǎn)座，該旋轉(zhuǎn)座下接一由空氣致動的汽缸，其旋轉(zhuǎn)與否取決于第一測試站P1下方的極性探針座檢測的結(jié)果，如果不符合測試的極性方向，則由空氣致動汽缸，并使其產(chǎn)生180度旋轉(zhuǎn)，使欲受測的發(fā)光二極管的受測極性向符合受測要求；第三測試站P3下方為一框腳探針座，其主要由該框腳探針座與發(fā)光二極管的針腳產(chǎn)生極性接觸，并配合上方的亮度波長檢測頭，以檢測該受測發(fā)光二極管的亮度及光波長；第三測試站P3一端設(shè)置有一凸起的定位柱P31。
所述定位爪組的第四定位口64處設(shè)置有一彈性組件7，該彈性組件包括彈簧71、定位件72，所述定位件72為V形小零件，且置于第四定位口64中，一連接件73位于定位件72之上且與定位件72固定連接，另有一固定件74固定于定位爪組6之上，且與第四定位口64相正對，所述固定件74上設(shè)有一光滑圓孔，一螺釘75穿過該圓孔與固定件74活動連接，彈簧71套在螺釘桿上，其螺釘桿的端部與連接件73通過螺紋相連接，所述彈簧71置于連接件73與固定件74之間。所述螺釘75與固定件74為活動連接，當(dāng)發(fā)光二極管通過定位件72擠壓彈性組件7時(shí)，螺釘頭的一端可在固定件74的圓孔中自由進(jìn)出，則彈簧在連接件73與固定件74之間被壓縮。
請參見圖8、圖9，出料結(jié)構(gòu)接設(shè)于測試區(qū)的末端，其由下列各構(gòu)件所組成一膠質(zhì)履帶81，其內(nèi)側(cè)有等寬的凹槽，可供與傳動齒輪83相嚙合，并有數(shù)個(gè)接料爪82等距卡持于履帶上；接料爪82為一倒L型的承接座，上方有一寬度及深度適中的溝槽88，該溝槽88可承接受測完畢的料件，吹氣板86上的氣孔87與溝槽88相對應(yīng)；接料爪82底部設(shè)置有小軸承84，所述小軸承84從軸承槽85內(nèi)通過。
請參見圖10、圖11所述發(fā)光二極管測試機(jī)臺的自動化裝置，帶料爪組5下方與框腳探針座、極性探針座相正對的絕緣墊座173上分別設(shè)置有圓孔，兩圓孔外部設(shè)有兩個(gè)缺口，且兩圓孔分別與極性探針座、框腳探針座相正對，兩圓孔的直徑均為8厘米，深度均為2厘米，其中置有圓柱形磁鐵172，大小尺寸與兩圓孔完全相同，，所述圓孔外面的兩個(gè)缺口中固定有與其大小相同的絕緣墊片171，將磁鐵覆蓋，所述絕緣墊片的厚度與缺口深度一樣，也就是說將絕緣墊片171固定在缺口處以后，絕緣墊片171表面與絕緣墊座173表面在一個(gè)平面上。
由上述的進(jìn)料結(jié)構(gòu)、定位測試結(jié)構(gòu)及出料結(jié)構(gòu)所組成的發(fā)光二極管測試機(jī)臺的自動化裝置，即為本發(fā)明。
本發(fā)明發(fā)光二極管測試機(jī)臺的自動化結(jié)構(gòu)所提供的測試進(jìn)程如下
進(jìn)行測試前，將已完成封裝的發(fā)光二極管集中于圓形振動盤13中，因振動發(fā)光二極管會一顆顆不分方向整列送至平形振動盤14的入口端，平形振動盤14逐漸將發(fā)光二極管往前移動至擋爪15，檢測程序開始時(shí)，請參見圖12、圖13，小滑板縱向后移，定位爪組同時(shí)縱向前移，夾料爪張開；請參見圖14，大滑板16接著橫向后移，進(jìn)料夾爪組4隨之移至擋爪15前的發(fā)光二極管處，此時(shí)帶料爪組5的四個(gè)缺口與定位爪組6的四個(gè)定位口依次相正對；請參見圖15，小滑板繼而縱向前移，定位爪組也隨之縱向后退，夾料爪41隨之閉合夾住發(fā)光二極管的管腳；請參見圖16，然后大滑板16橫向前移復(fù)位，進(jìn)料夾爪組4將發(fā)光二極管帶至調(diào)位點(diǎn)P0處，第一進(jìn)程結(jié)束；請參見圖17，當(dāng)小滑板再次縱向后移時(shí)，即開始第二進(jìn)程，夾料爪張開，與此同時(shí)，定位爪組6縱向前移，以第一定位口61套住發(fā)光二極管調(diào)整其位置；請參見圖18，大滑板16接著橫向后移，進(jìn)料夾爪組4移至擋爪前；請參見圖19，然后小滑板縱向前移，夾料爪41隨之閉合夾住發(fā)光二極管的管腳，與此同時(shí)，定位爪組6縱向后移，小滑板上的帶料爪組5隨著小滑板縱向前移，帶料爪組5第一缺口套住第一進(jìn)程的發(fā)光二極管；請參見圖20，然后大滑板16橫向復(fù)位，帶料爪組5第一缺口將調(diào)位點(diǎn)P0處第一進(jìn)程的發(fā)光二極管帶至第一測試站P1，進(jìn)料夾爪組4將發(fā)光二極管帶至調(diào)位點(diǎn)P0處，第二進(jìn)程結(jié)束；同樣，當(dāng)小滑板繼續(xù)縱向后移時(shí)，第三進(jìn)程開始，夾料爪41張開，同時(shí)，定位爪組6縱向前移，以第一定位口61套住調(diào)位點(diǎn)P0處的發(fā)光二極管，調(diào)整其位置，以第二定位口62套住第一測試站P1處的發(fā)光二極管，并對其進(jìn)行極性檢測，然后大滑板16橫向后移，進(jìn)料夾爪組4移至擋爪15前，然后小滑板縱向前移，夾料爪41隨之閉合并夾住發(fā)光二極管的管腳，與此同時(shí)，定位爪組6縱向后移，帶料爪組5以第一缺口套住調(diào)位點(diǎn)P0處的發(fā)光二極管，以第二缺口套住第一測試站處P1的發(fā)光二極管，然后大滑板橫向復(fù)位，帶料爪組5第一缺口將發(fā)光二極管帶至第一測試站P1，第二缺口將發(fā)光二極管帶至第二測試站P2，進(jìn)料夾爪組4將所夾發(fā)光二極管帶至調(diào)位點(diǎn)P0處，第三進(jìn)程結(jié)束；當(dāng)小滑板接著縱向后移時(shí)，第四進(jìn)程開始，夾料爪41張開，同時(shí)，定位爪組6縱向前移，以第一定位口套住調(diào)位點(diǎn)P0處的發(fā)光二極管，調(diào)整其位置，以第二定位口套住第一測試站P1處的發(fā)光二極管，對其進(jìn)行極性檢測，以第三定位口套住第二測試站P2處的發(fā)光二極管，依據(jù)第三進(jìn)程的檢測結(jié)果對其進(jìn)行旋轉(zhuǎn)或等待，然后大滑板16橫向后移，進(jìn)料夾爪組4移至擋爪前，然后小滑板縱向前移，夾料爪41隨之閉合并夾住發(fā)光二極管的管腳，與此同時(shí)，定位爪組6縱向后移，帶料爪組5以第一缺口套住調(diào)位點(diǎn)P0處的發(fā)光二極管，以第二缺口套住第一測試站處P1的發(fā)光二極管，以第三缺口套住第二測試站P2處的發(fā)光二極管，然后大滑板16橫向復(fù)位，帶料爪組5第一缺口將發(fā)光二極管帶至第一測試站P1，第二缺口將發(fā)光二極管帶至第二測試站P2，第三缺口將發(fā)光二極管帶至第三測試站P3，進(jìn)料夾爪組將所夾發(fā)光二極管帶至調(diào)位點(diǎn)P0處，第四進(jìn)程結(jié)束；依此類推，當(dāng)?shù)谖暹M(jìn)程的發(fā)光二極管被進(jìn)料夾爪組4帶至調(diào)位點(diǎn)P0處時(shí)，帶料爪組5第四缺口已將第三測試站P3處檢測完的發(fā)光二極管帶至接料爪82上，如此不斷周而復(fù)始的藉由帶料爪組5及進(jìn)料夾爪組4的循環(huán)動作，可對發(fā)光二極管進(jìn)行自動化測試，且結(jié)構(gòu)簡單。
盡管本發(fā)明已作了詳細(xì)的說明并引證了具體實(shí)例，但對于本領(lǐng)域技術(shù)熟練人員來說，只要不離開本發(fā)明的精神和范圍可作各種變化或修正是顯然的，都應(yīng)包括在本發(fā)明權(quán)利要求的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求
1.一種發(fā)光二極管測試機(jī)臺的自動化裝置，包括一組進(jìn)料結(jié)構(gòu)、一定位測試結(jié)構(gòu)及一組出料結(jié)構(gòu)所組成，進(jìn)料結(jié)構(gòu)包括圓形振動盤及與其相連的平形振動盤、進(jìn)料爪組及帶料爪組，帶料爪組下方為絕緣墊座，定位測試結(jié)構(gòu)包括置于帶料爪組對面的定位爪組，一測試組置于定位爪組正下方，包括測試發(fā)光二極管極性的極性探針座、旋轉(zhuǎn)座及測試發(fā)光二極管亮度及光波長的框腳探針座，出料結(jié)構(gòu)包括傳動齒輪及與其相配合的履帶，數(shù)個(gè)出料座卡持于履帶上，且在各出料座后方均設(shè)置有氣動推桿，其特征在于所述絕緣墊座上設(shè)置有至少一塊磁鐵，所述磁鐵至少有一塊位于框腳探針座正對面。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管測試機(jī)臺的自動化裝置，其特征在于所述絕緣墊座上的磁鐵至少有一塊位于極性探針座正對面。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的發(fā)光二極管測試機(jī)臺的自動化裝置，其特征在于所述絕緣墊座上與框腳探針座相正對的表面設(shè)置有與墊片形狀大小相同的缺口，以及與該處磁鐵形狀、大小相同的孔，且磁鐵置于該孔中，所述墊片固定在絕緣墊座缺口處，將磁鐵覆蓋。
4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的發(fā)光二極管測試機(jī)臺的自動化裝置，其特征在于所述絕緣墊座上與極性探針座相正對的表面設(shè)置有與墊片形狀大小相同的缺口，以及與該處磁鐵形狀、大小相同的孔，且磁鐵置于該孔中，所述墊片固定在絕緣墊座缺口處，將磁鐵覆蓋。
5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的發(fā)光二極管測試機(jī)臺的自動化裝置，其特征在于所述磁鐵為圓柱體。
6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的發(fā)光二極管測試機(jī)臺的自動化裝置，其特征在于所述磁鐵為圓柱體。
7.根據(jù)權(quán)利要求3所述的發(fā)光二極管測試機(jī)臺的自動化裝置，其特征在于所述磁鐵為正棱柱。
8.根據(jù)權(quán)利要求4所述的發(fā)光二極管測試機(jī)臺的自動化裝置，其特征在于所述磁鐵為正棱柱。
9.根據(jù)權(quán)利要求3所述的發(fā)光二極管測試機(jī)臺的自動化裝置，其特征在于所述磁鐵為圓環(huán)狀。
10.根據(jù)權(quán)利要求4所述的發(fā)光二極管測試機(jī)臺的自動化裝置，其特征在于所述磁鐵為圓環(huán)狀。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種發(fā)光二極管測試機(jī)臺的自動化裝置，包括一組進(jìn)料結(jié)構(gòu)、一定位測試結(jié)構(gòu)及一組出料結(jié)構(gòu)所組成，進(jìn)料結(jié)構(gòu)包括圓形振動盤及與其相連的平形振動盤、進(jìn)料爪組及帶料爪組，帶料爪組下方為絕緣墊座，定位測試結(jié)構(gòu)包括置于帶料爪組對面的定位爪組，一測試組置于定位爪組正下方，包括測試發(fā)光二極管極性的極性探針座、旋轉(zhuǎn)座及測試發(fā)光二極管亮度及光波長的框腳探針座，出料結(jié)構(gòu)包括傳動齒輪及與其相配合的履帶，數(shù)個(gè)出料座卡持于履帶上，且在各出料座后方均設(shè)置有氣動推桿，所述絕緣墊座上設(shè)置有至少一塊磁鐵，所述磁鐵至少有一塊位于框腳探針座正對面。該發(fā)明能夠保證發(fā)光二極管與框腳二極管或極性二極管的探針相接觸，提高了點(diǎn)亮率。
文檔編號H01L21/66GK1825073SQ200510033308
公開日2006年8月30日 申請日期2005年2月22日 優(yōu)先權(quán)日2005年2月22日
發(fā)明者韓金龍, 羅會才, 楊少辰 申請人:韓金龍, 羅會才, 楊少辰