專利名稱：6線大功率插入式元器件老化測試插座的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實(shí)用新型涉及一種微電子元器件老化測試裝置，尤其能對6線大功率插入式元器件可 靠性進(jìn)行高溫老化試驗(yàn)和測試的插座。
背景技術(shù)：
目前，在我國可靠性技術(shù)領(lǐng)域，國內(nèi)老化試驗(yàn)插座系列產(chǎn)品本體材料采用的是非耐高溫 普通工程塑料，在對被測器件進(jìn)行測試時，老化工作溫度僅為-25'C +85°C，且老化工作時 間短暫，插座接觸件表面鍍銀，結(jié)構(gòu)簡單，存在著與被測器件之間接觸電阻大、耐環(huán)境弱、 一致性不高和機(jī)械壽命不長的重大缺陷。在我國微電子元器件可靠性領(lǐng)域，大功率插入式器 件高端技術(shù)產(chǎn)品，因無高溫老化可靠性試驗(yàn)的專用裝置，不能滿足對器件性能指標(biāo)的測試要 求，容易引發(fā)工程質(zhì)量事故。發(fā)明內(nèi)容為克服現(xiàn)有老化試驗(yàn)插座在接觸電阻、耐高溫和一致性以及使用壽命方面的不足，本實(shí) 用新型提供一種高溫老化測試試驗(yàn)插座。該插座不僅能將老化工作溫度范圍從-25'C +85'C 擴(kuò)大到-65°C +150°C， 一次老化連續(xù)工作時間長達(dá)lOOOh (150°C)以上，插拔壽命5000次 以上，而且在對被測試器件進(jìn)行高溫老化試驗(yàn)和性能測試過程中，具有接觸電阻小、 一致性 好、可靠性高、方便使用、表面耐磨和零插拔力的優(yōu)點(diǎn)，大大提高了插座的可靠性和使用壽 命。本實(shí)用新型解決技術(shù)問題所采用的技術(shù)方案是按照6線單列型大功率插入式元器件的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和尺寸要求，將插座設(shè)計(jì)成三大組成部分，即插座體、接觸件和鎖緊裝置。插座體 由座、蓋組成，選用進(jìn)口的耐高溫型特種高溫工程塑料，經(jīng)高溫注塑成型工藝技術(shù)制造成插座本體，用于被試器件的定位安裝。接觸件以鈹青銅材料沖壓成型，經(jīng)30(TC高溫淬火處理 及電鍍硬金層技術(shù)表面鍍金，采用與被試器件引出線相對應(yīng)、縱向排列、自動鎖緊和零插拔 力結(jié)構(gòu)安裝于插座體的座中。鎖緊裝置由滑塊和手柄組成，該實(shí)用新型首次采用雙滑塊特殊 結(jié)構(gòu)，改變了以往的單滑塊模式，可達(dá)到最佳的鎖果緊效。當(dāng)手柄受力向下翻轉(zhuǎn)90。時，由 于手柄的徑向尺寸差，從而使兩個滑塊產(chǎn)生相對運(yùn)動，下滑塊向右移動，上滑塊向左移動， 兩個滑塊的相對運(yùn)動促使接觸件上端閉緊，接觸件自動鎖緊被試器件引出線，達(dá)到鎖緊器件 的效果，通電后進(jìn)行高溫老化試驗(yàn)和性能測試。這種以與被試器件引出線相對應(yīng)的、縱向排 列、橫向自鎖式和零插拔力為設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)的試驗(yàn)插座，徹底解決了在高溫老化試驗(yàn)和性能測試 過程中的接觸電阻大、耐環(huán)境弱、 一致性差和機(jī)械壽命不長的技術(shù)難點(diǎn)。同時該實(shí)用新型可滿足被試器件不同引線的要求，且可將兩個該實(shí)用新型同時使用，以滿足任意跨距雙列器件 老化測試試驗(yàn)的需求。本實(shí)用新型的有益效果是該實(shí)用新型可以滿足軍民通用6線和其它同類大功率插入式 元器件高溫老化試驗(yàn)和性能測試，填補(bǔ)了國內(nèi)空白，替代進(jìn)口，為國家節(jié)約了外匯，為用戶 節(jié)約了成本，可以獲得較大的經(jīng)濟(jì)效益和社會效益。


以下結(jié)合附圖和實(shí)例對本實(shí)用新型作進(jìn)一步說明。 圖1是本實(shí)用新型的外形結(jié)構(gòu)縱剖面構(gòu)造圖。 圖2是本實(shí)用新型外型結(jié)構(gòu)俯視圖。圖l: l壓簧2簧片3蓋 4上滑塊 5下滑塊 6座 7擋板8手柄9手柄球10不銹鋼開槽沉頭自攻螺釘具體實(shí)施方式
在圖1中，按孔的位置將下滑塊5和壓簧1裝入座6上；再將上滑塊4和壓簧1放在下 滑塊5上，并裝入座6內(nèi)；然后將簧片2裝入座6內(nèi)。裝入擋板7和手柄8;最后將蓋3按 孔放在座6之上，并用不銹鋼開槽沉頭自攻螺釘固定住蓋3與座6。該方案中，插座體用于被試器件的安裝定位，接觸件由鍍金簧片12. 7mm間距按縱向排列、 橫向自動鎖緊和零插拔力結(jié)構(gòu)安裝于插座體的座中，與被試器件引出線相對應(yīng)，鎖緊裝置由 上滑塊、下滑塊和手柄組成，安裝于插座體一側(cè)。當(dāng)手柄處于初始位置時，接觸件張開'放 入被試器件后，手柄受力向下翻轉(zhuǎn)90°時，接觸件自動鎖緊被試器件。
權(quán)利要求1. 一種適用于6線大功率插入式元器件老化測試插座，其特征是它是由插座體、接觸件和鎖緊裝置三個部分統(tǒng)一組成，插座體由座和蓋組成，插座體選用進(jìn)口的耐高溫型特種高溫工作塑料，經(jīng)高溫注塑成型工藝技術(shù)制造而成，接觸件與被試器件引出線相對應(yīng)并安裝于插座體的座中，鎖緊裝置安裝于插座體的座中。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的6線大功率插入式元器件老化測試插座，其特征是插座體、接觸件和鎖緊裝置是一個統(tǒng)一整體，接觸件由縱向排列的6線、12. 7mm間距的鍍金簧片組成， 并安裝于座內(nèi)。
3. 根據(jù)權(quán)利1所述的6線大功率插入式元器件老化測試插座，其特征是插座的鎖緊裝 置由上滑塊、下滑塊和手柄組成，以推拉式結(jié)構(gòu)把接觸件設(shè)計(jì)成自鎖式、零插拔力結(jié)構(gòu)。
專利摘要本實(shí)用新型涉及一種微電子元器件老化測試裝置，尤其能對6線大功率插入式元器件可靠性進(jìn)行高溫老化試驗(yàn)和測試的插座。按照6線單列型的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和尺寸要求，將插座設(shè)計(jì)成三大組成部分，即插座體、接觸件和鎖緊裝置。插座體由座、蓋組成，選用進(jìn)口耐高溫型特種工程塑料，經(jīng)高溫注塑成型，用于被試器件的定位安裝。接觸件以鈹青銅材料沖壓成型，采用與被試器件引出線相對應(yīng)、縱向排列、自動鎖緊和零插拔力結(jié)構(gòu)安裝于插座體座中。鎖緊裝置由滑塊和手柄組成，插座首次采用雙滑塊特殊結(jié)構(gòu)；當(dāng)手柄受力向下翻轉(zhuǎn)90°時，使兩個滑塊朝相反方向運(yùn)動接觸件自動鎖緊被試器件引出線，達(dá)到鎖緊器件的效果，通電后進(jìn)行高溫老化試驗(yàn)和性能測試。具有接觸電阻小、一致性好、可靠性高、方便使用、表面耐磨和零插拔力的優(yōu)點(diǎn)，大大提高了插座的可靠性和使用壽命。
文檔編號H01R13/639GK201112804SQ20072010931
公開日2008年9月10日 申請日期2007年5月10日 優(yōu)先權(quán)日2007年5月10日
發(fā)明者曹宏國 申請人:曹宏國