專利名稱：接腳器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種接腳器，尤指一種適用于具有可單獨拆 裝探針簇或?qū)щ姀椥泽w的接腳器。
背景技術(shù)：
請參閱圖l，其為現(xiàn)有技術(shù)的剖視圖。如圖l所示其顯示
為一種接腳器，其用來連接一待測集成電路ioo與一電路板
110，接腳器包含一探針薄膜9、及一導(dǎo)電彈性體91，以連接 待測集成電路100的接腳101，并進行測試工作。探針薄膜9 設(shè)有多個接觸探針簇92。而導(dǎo)電彈性體91則以金線93電性連 接探針薄膜9與電路板110其電路接點120，且導(dǎo)電彈性體91 是可在金線93的特定方向電性傳導(dǎo)。
于現(xiàn)有技術(shù)中，當多個接觸探針簇92其中之一、二個接 觸探針簇92發(fā)生毀損時，由于每一接觸探針簇92是固定于探 針薄膜9之中，因此，必須將整件探針薄膜9及未損壞的接觸 探針簇92全部置換。甚至，位于與接觸探針簇92、及電路接 點120間的用以電性連接的部分金線93發(fā)生毀損而不能電性 導(dǎo)通時，亦得將整件導(dǎo)電彈性體91重新置換，非常不符合經(jīng) 濟效率。

發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明目的是提供一種接腳器，其包括有一覆蓋層、多 個接觸探針簇、以及一導(dǎo)電彈性層。覆蓋層包括有一上表面、 一下表面、及多個穿孔，多個穿孔分別貫穿覆蓋層，每一穿 孔包括有一上開口、及一下開口，上開口是小于下開口。
多個接觸探針簇分別容設(shè)于覆蓋層的多個穿孔中，每一 接觸探針簇包括有一頂端、及一底端，頂端是小于底端，頂 端并凸出覆蓋層之上表面以上。
導(dǎo)電彈性層，鋪設(shè)于覆蓋層的下表面，并電性接觸至多 個接觸探針簇的底端，導(dǎo)電彈性層于一特定方向電性傳導(dǎo)。
通過此，將測試電路板的電路接點上的測試信號，經(jīng)由 導(dǎo)電彈性層、接觸探針簇傳輸至待測集成電路的接腳上，以 便對待測集成電路進行測試作業(yè)。若當其中有任一接觸探針 簇損壞，只要掀起覆蓋層簡單取換掉其中一二顆損壞的接觸 探針簇即可，不必將整層覆蓋層與及其上全部多個接觸探針 簇一起更換，故可減省維護成本、又可減短維修時間。
此外，每一穿孔的中段可設(shè)有一頸部，每一接觸探針簇 的中段可設(shè)有一肩部，肩部并對應(yīng)嵌合頂?shù)肿☆i部，或每一 穿孔內(nèi)壁改用一線性或是非線性漸進的錐狀亦可。再者，覆 蓋層為工程塑料所制成的一靜電消除覆蓋層，因此，當待測 集成電路上聚積有的靜電時，即可透過接觸探針簇經(jīng)由覆蓋 層將靜電導(dǎo)除。
而且，每一接觸探針簇的頂端可包括有至少一刺棘，將 待測集成電路其接腳上的氧化層或油污刮除，使得待測集成電路的接腳與接觸探針簇的有良好的導(dǎo)電性。又，導(dǎo)電彈性 層是指 一 橡膠層內(nèi)等距排列有多條金線，特定方向是指多條 金線延伸方向。
另一種接腳器其與上述接腳器的差異處在于多個導(dǎo)電彈 性體，可分別容設(shè)于覆蓋層的多個穿孔中，并位于多個接觸 探針簇下方，每 一 導(dǎo)電彈性體并電性接觸至接觸探針簇的底 端，每一導(dǎo)電彈性體是于一特定方向電性傳導(dǎo)，因此，除可 達成上述單獨取換損壞的接觸探針簇的功效外，更可單獨取 換掉損壞的導(dǎo)電彈性體。


圖l是現(xiàn)有技術(shù)的剖視圖2是本發(fā)明 一 較佳實施例的剖視圖3是本發(fā)明第一較佳實施例的分解圖4是本發(fā)明第二較佳實施例的剖視圖5 7是本發(fā)明其它較佳實施例的剖視圖。
主要組件符號 覆蓋層1， 8 下開口 112 下表面13，34 接
2， 5
剌棘212
導(dǎo)電彈性層3，91 測試電路板4
說明
穿孔ll， 81 頸部113
觸 探 針 10， 20， 30， 92 底端22， 52 金線31, 61， 93 穿孔內(nèi)壁40， 50， 60
上開口 111 上表面12， 33 簇頂端21
肩部23 橡膠層32 電路接點41， 120導(dǎo)電彈性體6 橡膠體62 待測集成電路7，100
接腳71 ， 101 探針薄膜9 電路板l 10
具體實施例方式
請參閱圖2，其顯示為本發(fā)明一較佳實施例的剖視圖。如 圖2所示本實施例關(guān)于一種接腳器，其包括一覆蓋層l、多個 接觸探針簇2、及一導(dǎo)電彈性層3。
請參閱圖3，其為本發(fā)明第一較佳實施例的分解圖。如圖 3所示，覆蓋層1包括有一上表面12、 一下表面13、及多個穿
孔ll，多個穿孔ll分別貫穿覆蓋層l，每一穿孔ll包括有一上 開口lll、及一下開口112，上開口 lll是小于下開口 112。并 且，每一穿孔11的中段更設(shè)有一頸部113。此外，覆蓋層l為
工程塑料所制成的一靜電消除覆蓋層，因此，當待測集成電 路7上聚積有的靜電時，即可透過接觸探針簇2經(jīng)由覆蓋層1
將靜電導(dǎo)除。
請參閱圖3—并參閱圖2，多個接觸探針簇2，分別容設(shè)于 覆蓋層l的多個穿孔ll中，每一接觸探針簇2包括有一頂端21、 及一底端22，頂端21是小于底端22，頂端21并凸出覆蓋層1 之上表面12以上，并在每一接觸探針簇2的頂端21凸設(shè)有至少 一刺棘212。并且，每一接觸探針簇2的中段更設(shè)有一肩部23， 肩部23并對應(yīng)嵌合頂?shù)肿☆i部113。此外，多個接觸探針簇2 為合金所制成，以增強接觸探針簇2、及刺棘212的強度及硬 度。如此，當待測集成電路7的接腳71放置于接觸探針簇2上 進行測試時，可透過刺棘212將待測集成電路7其接腳71上的氧化層或油污刮除，使得待測集成電路7的接腳71與接觸探針 簇2的有良好的導(dǎo)電性。
請一并參閱圖2、及圖3，導(dǎo)電彈性層3鋪設(shè)于覆蓋層1的 下表面13，并電性接觸至多個接觸探針簇2的底端22，導(dǎo)電彈 性層3是于一特定方向電性傳導(dǎo)，特定方向是指橡膠層32內(nèi)等 距排列的多條金線31延伸方向，于本例中多條金線31延伸方 向是由導(dǎo)電彈性層3的上表面33斜向延伸至下表面34的方向。
請翻閱圖2，上述多個接觸探針簇2的頂端21分別電性接 觸于上方待測集成電路7的接腳71，而且上述多個接觸探針簇 2的底端22透過導(dǎo)電彈性層3做特定方向的電性傳導(dǎo)至下方測 試電路板4上多個電路接點41。通過此，將測試電路板4的電 路接點41上的測試信號，經(jīng)由導(dǎo)電彈性層3、接觸探針簇2傳 輸至待測集成電路7的接腳71上，以便對待測集成電路7進行 測試作業(yè)。
如上述，由于多個接觸探針簇2只是嵌合置入于覆蓋層1 的多個穿孔ll中，若當其中有任一接觸探針簇2損壞，只要掀 起覆蓋層1簡單取換掉其中一二顆損壞的接觸探針簇2即可， 不必將整層覆蓋層1與附著于其上的全部多個接觸探針簇2 — 起更換，故可減省維護成本、又可減短維修時間。
如圖4所示，其為本發(fā)明第二較佳實施例的剖視圖。如圖 4所示，于本實施例與前一實施例的結(jié)構(gòu)大致相同，不同處在 于多個導(dǎo)電彈性體6，其是分別容設(shè)于覆蓋層8的多個穿孔81 中，并位于多個接觸探針簇5的下方，每一導(dǎo)電彈性體6并電 性接觸至接觸探針簇5的底端52，每一導(dǎo)電彈性體6是于一特 定方向電性傳導(dǎo)。其中，導(dǎo)電彈性體6是于一橡膠體62內(nèi)等距 排列有多條金線61，特定方向是指多條金線61延伸方向。于本例中，除可達成第 一 實施例中單獨取換損壞的接觸探針簇
的功效外，更可單獨取換掉損壞的導(dǎo)電彈性體6。
再請看圖5 圖7，其為本發(fā)明其它較佳實施例的剖視圖。
其與上述的第二實施例的結(jié)構(gòu)大致相同，不同處在于穿孔內(nèi) 壁40， 50, 60、及接觸探針簇IO， 20， 30的中段分別改用一線性
或是非線性漸進的錐狀。
上述實施例僅為了方便說明而舉例而已，本發(fā)明所主張 的權(quán)利范圍自應(yīng)以申請專利范圍所述為準，而非僅限于上述 實施例。
權(quán)利要求
1. 一種接腳器，其特征在于包括一覆蓋層，包括有一上表面、一下表面、及多個穿孔，該多個穿孔分別貫穿該覆蓋層，每一穿孔包括有一上開口、及一下開口，該上開口是小于該下開口；多個接觸探針簇，分別容設(shè)于該覆蓋層的該多個穿孔中，每一接觸探針簇包括有一頂端、及一底端，該頂端小于該底端，該頂端并凸出該覆蓋層的該上表面以上；以及一導(dǎo)電彈性層，鋪設(shè)于該覆蓋層的該下表面，并電性接觸至該多個接觸探針簇的該底端，該導(dǎo)電彈性層是于一特定方向電性傳導(dǎo)。
2. 如權(quán)利要求l所述的接腳器，其特征在于，所述每一穿孔的中段更設(shè)有一頸部，每一接觸探針簇的中段更設(shè)有一肩部，該肩部并對應(yīng)嵌合頂?shù)肿≡擃i部。
3. 如權(quán)利要求l所述的接腳器，其特征在于，該覆蓋層為一靜電消除覆蓋層。
4. 如權(quán)利要求l所述的接腳器，其特征在于，所述每一接觸探針簇的該頂端包括有至少一刺棘。
5. 如權(quán)利要求l所述的接腳器，其特征在于，該導(dǎo)電彈性層是于一橡膠層內(nèi)等距排列有多條金線，該特定方向是指該多條金線延伸方向。
6. —種接腳器，其特征在于包括一覆蓋層，包括有一上表面、 一下表面、及多個穿孔，該多個穿孔分別貫穿該覆蓋層，每一穿孔包括有一上開口、及一下開口，該上開口小于該下開口；多個接觸探針簇，分別容設(shè)于該覆蓋層的該多個穿孔中，每一接觸探針簇包括有一頂端、及一底端，該頂端小于該底端，該頂端并凸出該覆蓋層的該上表面以上；以及多個導(dǎo)電彈性體，分別容設(shè)于該覆蓋層的該多個穿孔中，并分別位于該多個接觸探針簇下方，每一導(dǎo)電彈性體并電性接觸至該接觸探針簇的該底端，每一導(dǎo)電彈性體是于一特定方向電性傳導(dǎo)。
7. 如權(quán)利要求6所述的接腳器，其特征在于，所述每一穿孔的中段更設(shè)有一頸部，每一接觸探針簇的中段更設(shè)有一肩部，該肩部并對應(yīng)嵌合頂?shù)肿≡擃i部。
8. 如權(quán)利要求6所述的接腳器，其特征在于，該覆蓋層為一靜電消除覆蓋層。
9. 如權(quán)利要求6所述的接腳器，其特征在于，所述每一接觸探針簇的該頂端更包括有至少一刺棘。
10. 如權(quán)利要求6所述的接腳器，其特征在于，每一導(dǎo)電彈性體是于一橡膠體內(nèi)等距排列有多條金線，該特定方向是指該多條金線延伸方向。
全文摘要
本發(fā)明一種接腳器，是于一覆蓋層開設(shè)有多個穿孔，每一穿孔之上開口均小于下開口，并將多個接觸探針簇分別容設(shè)于多個穿孔中，每一接觸探針簇的頂端小于底端，且其頂端凸出于覆蓋層的上表面以上、底端電性接觸至導(dǎo)電彈性層或?qū)щ姀椥泽w并于特定方向作電性傳導(dǎo)。通過此，可將下方測試電路板的電路接點上的測試信號，經(jīng)由導(dǎo)電彈性層或?qū)щ姀椥泽w、接觸探針簇傳輸至上方待測集成電路的接腳上以進行測試作業(yè)。故只要掀開覆蓋層，便可以單獨取換損壞的接觸探針簇即可，不必將整層覆蓋層與全部的接觸探針簇一起更換，可減省成本。
文檔編號H01R33/74GK101478106SQ20081000190
公開日2009年7月8日 申請日期2008年1月3日 優(yōu)先權(quán)日2008年1月3日
發(fā)明者林源記 申請人:京元電子股份有限公司