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一種高靈敏性按鍵的制作方法

文檔序號:6917264閱讀:159來源:國知局
專利名稱:一種高靈敏性按鍵的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及一種按鍵結(jié)構(gòu),尤其涉及一種具有高靈敏性的按鍵。
背景技術(shù)
現(xiàn)有技術(shù)中的各種按鍵結(jié)構(gòu),大體為設(shè)置一靜觸頭及動觸頭,所述靜觸 頭具有第一接觸點,所述動觸頭具有第二接觸點。按動所述動觸頭向靜觸頭 運動,迫使第二接觸點與第一接觸點相接觸,從而使按鍵導(dǎo)通。
如圖1所示為常用的按鍵結(jié)構(gòu),其包括按鍵本體4,按鍵本體4上設(shè)置 的上鍵體l (即動觸頭)、按鍵本體4上設(shè)置的下鍵體3 (靜觸頭)、在上鍵體 1上設(shè)置有第一接觸點2、下鍵體3上設(shè)置有第二接觸點7,所述第一接觸點 2為突出上鍵體1的突起,當(dāng)向下鍵體3方向按下上鍵體1時,所述第一接 觸點2與第二接觸點7接觸,從而實現(xiàn)按鍵的導(dǎo)通。
現(xiàn)有技術(shù)中的按鍵結(jié)構(gòu),須嚴格保證第一接觸點2與第二接觸點7的相 對位置,若上鍵體1發(fā)生錯位,則會導(dǎo)致第一接觸點2的位置發(fā)生變化,進 而不能準確接觸第二接觸點7,從而導(dǎo)致按鍵無法導(dǎo)通。再者,頻繁按下上 鍵體l,使第一接觸點2頻繁接觸第二接觸點7,久而久之,會使第二接觸點 7和第一接觸點2的接觸部位出現(xiàn)凹坑,若污物進入凹坑,則會阻礙第一接 觸點2與第二接觸點7的接觸,同樣會導(dǎo)致按鍵無法導(dǎo)通。

實用新型內(nèi)容
本實用新型提供一種高靈敏性按鍵,通過改進上鍵體、下鍵體的結(jié)構(gòu), 克服現(xiàn)有技術(shù)中按鍵易出現(xiàn)無法導(dǎo)通的缺點。
本實用新型所述的高靈敏性按鍵,包括上鍵體、下鍵體,還包括第一條 狀導(dǎo)體和第二條狀導(dǎo)體,其中
所述第一條狀導(dǎo)體設(shè)置于上鍵體上,所述第二條狀導(dǎo)體設(shè)置于下鍵體上,且第一條狀導(dǎo)體與第二條狀導(dǎo)體交叉設(shè)置,當(dāng)上鍵體相對下鍵體運動時,所 述第一條狀導(dǎo)體與第二條狀導(dǎo)體接觸。
本實用新型所述的高靈敏性按鍵中,所述上鍵體設(shè)有第一凹槽,所述第 一條狀導(dǎo)體置于該第一凹槽中。所述下鍵體設(shè)有第二凹槽,所述第二條狀導(dǎo) 體置于該第二凹槽中。
本實用新型所述的高靈敏性按鍵中,所述第一條狀導(dǎo)體與上鍵體一體成 型。所述第二條狀導(dǎo)體與下鍵體一體成型。
本實用新型所述的高靈敏性按鍵中,優(yōu)選方案為所述第一條狀導(dǎo)體與 第二條狀導(dǎo)體正交設(shè)置。
本實用新型通過在上鍵體和下鍵體上分別設(shè)置交叉的第一條狀導(dǎo)體和第 二條狀導(dǎo)體,即使上鍵體相對下鍵體發(fā)生錯位,仍能保證第一條狀導(dǎo)體與第 二條狀導(dǎo)體接觸,從而保證按鍵導(dǎo)通。并且,采用第一條狀導(dǎo)體與第二條狀 導(dǎo)體接觸的方式,接觸處不易形成凹坑,污物不容易聚集,且即使出現(xiàn)污物 聚集,清潔污物過程也較現(xiàn)有技術(shù)中清潔凹坑內(nèi)污物容易得多。


圖1為現(xiàn)有技術(shù)中按鍵的剖面結(jié)構(gòu)示意圖2為本實用新型所述高靈敏性按鍵的剖面結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實施方式
以下結(jié)合附圖對本實用新型所述高靈敏性按鍵做詳細說明。
如圖2所示,本實用新型所述高靈敏性按鍵,包括按鍵本體4,在按鍵 本體4上設(shè)置有上鍵體1和相對的下鍵體3。
所述上鍵體1上還設(shè)置有第一條狀導(dǎo)體5,該第一條狀導(dǎo)體5可與所述 上鍵體1一體成型而得,也可通過在上鍵體1上開設(shè)凹槽,再將第一條狀導(dǎo) 體5置于該凹槽中。
所述下鍵體3上還設(shè)置有第二條狀導(dǎo)體6,該第二條狀導(dǎo)體6可與所述 下鍵體3—體成型而得,也可通過在下鍵體3上開設(shè)凹槽,再將第二條狀導(dǎo) 體置于該凹槽中。本實用新型所述的高靈敏性按鍵中,所述的第一條狀導(dǎo)體5與第二條狀 導(dǎo)體6須保證交叉設(shè)置,這樣,當(dāng)上鍵體1相對下鍵體3運動時,所述第一 條狀導(dǎo)體5與第二條狀導(dǎo)體6接觸,從而使按鍵導(dǎo)通。而且,即使上鍵體1 發(fā)生相對于下鍵體3的錯位時,仍能保證第一條狀導(dǎo)體5與第二條狀導(dǎo)體6 相接觸。
本實用新型所述的高靈敏性按鍵中,所述的第一條狀導(dǎo)體5與第二條狀 導(dǎo)體6的優(yōu)選交叉設(shè)置方式為正交設(shè)置。
本實用新型所述的高靈敏性按鍵中,第一條狀導(dǎo)體5與第二條狀導(dǎo)體6 相交接觸,其接觸位置會形成凹槽,而不會形成四周高中間底的凹坑,因此, 如接觸的凹槽位置出現(xiàn)污物,其清潔過程較清潔凹坑方便得多。
盡管本實用新型的實施方案已公開如上,但其并不僅僅限于說明書和實 施方式中所列運用,它完全可以被適用于各種適合本實用新型的領(lǐng)域,對于 熟悉本領(lǐng)域的人員而言,可容易地實現(xiàn)另外的修改,因此在不背離權(quán)利要求 及等同范圍所限定的一般概念下,本實用新型并不限于特定的細節(jié)和這里示 出與描述的圖例。
權(quán)利要求1. 一種高靈敏性按鍵,包括上鍵體、下鍵體,其特征在于,還包括第一條狀導(dǎo)體和第二條狀導(dǎo)體,其中所述第一條狀導(dǎo)體設(shè)置于上鍵體上,所述第二條狀導(dǎo)體設(shè)置于下鍵體上,且第一條狀導(dǎo)體與第二條狀導(dǎo)體交叉設(shè)置,當(dāng)上鍵體相對下鍵體運動時,所述第一條狀導(dǎo)體與第二條狀導(dǎo)體接觸。
2. 如權(quán)利要求1所述的高靈敏性按鍵,其特征在于,所述上鍵體設(shè)有第 一凹槽,所述第一條狀導(dǎo)體置于該第一凹槽中。
3. 如權(quán)利要求1或2所述的高靈敏性按鍵,其特征在于,所述下鍵體設(shè)有第二凹槽,所述第二條狀導(dǎo)體置于該第二凹槽中。
4. 如權(quán)利要求1所述的高靈敏性按鍵,其特征在于,所述第一條狀導(dǎo)體 與第二條狀導(dǎo)體正交設(shè)置。
5. 如權(quán)利要求1所述的高靈敏性按鍵,其特征在于,所述第一條狀導(dǎo)體 與上鍵體一體成型。
6. 如權(quán)利要求1所述的高靈敏性按鍵,其特征在于,所述第二條狀導(dǎo)體 與下鍵體一體成型。
專利摘要本實用新型公開了一種高靈敏性按鍵,包括上鍵體、下鍵體,還包括第一條狀導(dǎo)體和第二條狀導(dǎo)體,其中所述第一條狀導(dǎo)體設(shè)置于上鍵體上,所述第二條狀導(dǎo)體設(shè)置于下鍵體上,且第一條狀導(dǎo)體與第二條狀導(dǎo)體交叉設(shè)置,當(dāng)上鍵體相對下鍵體運動時,所述第一條狀導(dǎo)體與第二條狀導(dǎo)體接觸。本實用新型通過在上鍵體和下鍵體上分別設(shè)置交叉的第一條狀導(dǎo)體和第二條狀導(dǎo)體,即使上鍵體相對下鍵體發(fā)生錯位,仍能保證第一條狀導(dǎo)體與第二條狀導(dǎo)體接觸,從而保證按鍵導(dǎo)通。并且,采用第一條狀導(dǎo)體與第二條狀導(dǎo)體接觸的方式,接觸處不易形成凹坑,污物不容易聚集,且即使出現(xiàn)污物聚集,清潔污物過程也較現(xiàn)有技術(shù)中清潔凹坑內(nèi)污物容易得多。
文檔編號H01H13/14GK201285722SQ20082017814
公開日2009年8月5日 申請日期2008年11月21日 優(yōu)先權(quán)日2008年11月21日
發(fā)明者闖 李, 羅汗明 申請人:李 闖;羅汗明
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