專利名稱：校驗適配器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種校驗適配器，該校驗適配器具有用于連接 到待校驗裝置的同軸連接器特別是連接到矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
(VNA)的測量端口的同軸連接器、特別是同軸插頭或同軸插 座或同軸耦合器，其中，同軸連接器具有內(nèi)導(dǎo)體部；與內(nèi)導(dǎo) 體部同軸配置的外導(dǎo)體部；以及能夠連接到待校驗裝置的同軸 連接器的陽端子。
背景技術(shù)：
矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)的高精度基于如下事實在實際 測量復(fù)合反射系數(shù)的大小和相位之前，通過將校驗標(biāo)準(zhǔn)部連接 到網(wǎng)絡(luò)分析儀的測量端口來校驗網(wǎng)絡(luò)分析儀。此外，現(xiàn)在存在 多種不同的校驗方法。大多數(shù)的校驗方法使用斷路 (open-circuit )、殺豆路(short-circuit)和適酉己才交-驗標(biāo)準(zhǔn)部進(jìn)4亍 系統(tǒng)校驗。通過將這些校驗標(biāo)準(zhǔn)部連接到網(wǎng)絡(luò)分析儀的測量端 口，能夠確定出現(xiàn)在網(wǎng)絡(luò)分析儀中的使測量值偏離真實值的錯 誤，并且在隨后的目標(biāo)測量期間用于數(shù)值錯誤校正。這例如從 DE 39 12 795 Al中獲知。
例如從DE 20 2004 013 305獲知具有短路部的精密空氣管 路(airline)的典型校驗標(biāo)準(zhǔn)部。借助于與調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)結(jié)合的在 內(nèi)導(dǎo)體部和外導(dǎo)體部之間的可拆卸的短路部，可獲得用于校驗 標(biāo)準(zhǔn)部的同軸耦合器的內(nèi)導(dǎo)體部和基準(zhǔn)平面(外導(dǎo)體的接觸面) 之間的可精確地調(diào)節(jié)的位移量的高品質(zhì)精度測量部件，該測量 部件能夠應(yīng)用于待校驗裝置的同軸耦合器上的外導(dǎo)體的接觸面和內(nèi)導(dǎo)體的接觸面之間的任何給定的位移量并且還將平衡位移 量中的任何成分誤差。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明基于改進(jìn)上述種類的校驗適配器的需求。 根據(jù)本發(fā)明，通過具有權(quán)利要求l中限定的如下特征的上述
種類的校驗適配器來滿足該需求。在其它權(quán)利要求中說明本發(fā)
明的其它有利的改進(jìn)。
利用上述種類的校驗適配器，本發(fā)明提供一 種校驗適配器，
該沖l馬全適配器具有筒(drum),在該筒中配置至少兩個校-瞼標(biāo) 準(zhǔn)部，其中，筒被可轉(zhuǎn)動地配置在銷上，該銷以使銷的縱向軸 線與第一罩的縱向軸線對齊的方式與第一罩中心連接，其中，
利用與陽端子相反的第二端子將同軸連接器以與第一罩的縱向 軸線偏心的方式連接到第 一 罩，校驗標(biāo)準(zhǔn)部被以如下方式配置 在筒中通過使筒相對于第一罩轉(zhuǎn)動，可以使與同軸連接器的 陽端子相反的第二端子可選地連接到其中一個校驗標(biāo)準(zhǔn)部。
這樣的優(yōu)點在于利用校驗適配器與待校驗裝置的同軸連 接器的單個連接，不必將用于每個校驗適配器的新的部分插入
部。由此，利用同一個不變的插入連接能夠采用不同的校驗標(biāo) 準(zhǔn)部，這提高了校驗的精度。同時，該校驗適配器的結(jié)構(gòu)在機(jī) 械上易于實現(xiàn)且不昂貴并且該校驗適配器的操作容易。另外， 改進(jìn)了電特性。
在有利的實施方式中，筒包括四個不同的校驗標(biāo)準(zhǔn)部。 如通常那樣，4交-驗標(biāo)準(zhǔn)部包括短路部，該短i 各部使同軸 連接器的內(nèi)導(dǎo)體部與同軸連接器的外導(dǎo)體部電短路；斷路部； 端子阻抗；和/或失配部(mismatch )。
6方便地，校驗標(biāo)準(zhǔn)部沿周向彼此等間距地配置在筒中。 在優(yōu)選實施方式中，外導(dǎo)體部被螺紋連接到第一罩。 方便地，第一罩被螺紋連接到銷。
在本發(fā)明的另 一優(yōu)選實施方式中，銷在背向第一罩的一端 被螺紋連接到第二罩。
為了沿朝向第一罩的方向?qū)ν彩翰⑶矣纱耸剐?險標(biāo)準(zhǔn)部
壓靠同軸連接器的第二端子，設(shè)置彈性彈簧裝置，該彈簧裝置 在第二罩和筒上作用使二者分開的推力。該彈簧裝置是例如與
銷同軸配置的螺旋彈簧。
為了引導(dǎo)筒，該筒優(yōu)選包括沿軸向延伸并且接合在第二罩 中的插座狀延伸部。
為了在筒相對于銷和第二罩的轉(zhuǎn)動期間盡可能地實現(xiàn)無摩 擦滑動，第二滑動部被配置在筒的插座狀延伸部與第二罩之間， 并且第一滑動部被配置在筒和銷之間。
由于如下事實彈簧元件以與銷沿徑向間隔開的方式^皮配 置在第一罩和筒之間，該彈簧元件在筒和第一罩上作用使二者 分開的推力，結(jié)果產(chǎn)生了相對于銷非對稱地作用在筒上的力， 該力使筒傾斜而脫離相對于銷和第 一罩的非對齊位置，由此增 加了配置在筒內(nèi)的其中一個校驗標(biāo)準(zhǔn)部與同軸連接器的第二端 子之間的接觸壓力。利用該配置，如果彈簧元件被配置成在徑 向上位于與同軸連接器相反的位置并且被固定到第一罩是特別 有利的。
通過使至少 一 個校驗標(biāo)準(zhǔn)部與筒形成為 一 件來實現(xiàn)特別不 昂貴且可靠的校驗適配器。
方便地，同軸連接器以使同軸連接器的縱向軸線與第一罩 的縱向軸線平行地延伸的方式與第一罩連接。
為了防止內(nèi)導(dǎo)體部在筒相對于第一罩的轉(zhuǎn)動期間橫向撞擊
7用于校驗標(biāo)準(zhǔn)部的一個凹部的邊緣從而可能被切掉，環(huán)狀槽形 成在筒的面對第一罩的一側(cè)，該環(huán)狀槽使筒中的用于校驗標(biāo)準(zhǔn)
部的凹部;波此連^妄并且產(chǎn)生了可用于內(nèi)導(dǎo)體部的自由空間。
現(xiàn)在將參考附圖詳細(xì)說明本發(fā)明，在附圖中 圖l示出了根據(jù)本發(fā)明的校驗適配器的優(yōu)選實施方式的分 解圖，
圖2示出了圖l中的校驗適配器的剖視圖， 圖3示出了圖1和圖2中的校驗適配器的筒的立體圖， 圖4示出了圖3中的筒的俯視圖， 圖5示出了圖3中的筒的剖視圖，
圖6示出了具有端子形式的校驗標(biāo)準(zhǔn)部的圖l和圖2中的校 驗適配器的剖視圖，
圖7示出了具有失配部形式的校驗標(biāo)準(zhǔn)部的圖l和圖2中的 校驗適配器的剖視圖，
圖8示出了具有短路部形式的校驗標(biāo)準(zhǔn)部的圖l和圖2中的 校驗適配器的剖視圖，
圖9示出了具有斷路部形式的校驗標(biāo)準(zhǔn)部的圖l和圖2中的 校驗適配器的剖視圖。
具體實施例方式
圖1和圖2所示的根據(jù)本發(fā)明的校驗適配器的優(yōu)選實施方式 包括同軸連接器IO,該同軸連接器10具有內(nèi)導(dǎo)體部12、外導(dǎo) 體部14、陽端子16以及與陽端子16相反的第二端子18;接觸銷 20;第一罩22; 4交-瞼標(biāo)準(zhǔn)部用元件24;筒26，在該筒26中配置 四個校驗標(biāo)準(zhǔn)部；第一滑動部28;壓力彈簧30;銷32;第二滑動部34;以及第二罩36。
銷3 2以銷3 2的縱向軸線與第 一 罩2 2的縱向軸線對齊的方式 與第一罩22中心連接。筒26被可轉(zhuǎn)動地配置在銷32上。利用第 二端子18使同軸連接器10與第一罩22偏心連接，即，使同軸連 接器10與第 一 罩2 2的縱向軸線沿徑向間隔開。利用第二端子18 使同軸連接器10螺紋連接到第 一 罩2 2 。
如可以在圖3至圖5中看到的那樣，特別地，四個不同的校 -瞼標(biāo)準(zhǔn)部、即短^各部38、斷3各部40、端子電阻42和失配部44沿 周向彼此等間距地配置并且沿徑向與銷32等間距地間隔開，使 得取決于筒26的位置，校驗標(biāo)準(zhǔn)部38、 40、 42、 44中總有一個 校驗標(biāo)準(zhǔn)部接觸同軸連接器10的第二端子18 。通過使筒2 6繞銷 32相對于第 一罩22轉(zhuǎn)動，可以分別使一個期望的校驗標(biāo)準(zhǔn)部38、 40、 42、 44與同軸連接器10連接。
筒26具有延伸到第二罩36中的軸向延伸的插座狀延伸部 (elevation ) 46。第 一滑動部28被配置在銷32和筒26之間。第 二滑動部34被配置在第二罩36和筒26的插座狀延伸部46之間。 兩個滑動部28、 34盡可能地確保了筒26相對于銷32和相對于第 二罩36的無摩擦的相對運動。
為了保持將第一罩22、筒26和第二罩36配置在一起，銷32 的 一 端被螺紋連接到第 一 罩2 2并且銷3 2的另 一 端被螺紋連接到 第二罩36。
同軸地圍繞銷3 2的螺旋彈簧3 0被預(yù)張緊地配置在筒2 6和第 二罩36之間，由此沿朝向第一罩22的方向?qū)ν?6施壓并且使筒 26撞擊同軸連接器10的外導(dǎo)體部14。這使得校馬全標(biāo)準(zhǔn)部38、 40、 42、 44中的一個校驗標(biāo)準(zhǔn)部壓靠同軸連接器10的第二端子18, 由此建立同軸連接器10的第二端子18與對應(yīng)的校驗標(biāo)準(zhǔn)部38、 40、 42、 44之間的良好的電接觸。為了使筒26轉(zhuǎn)動，手動地使
9筒在銷3 2上沿軸向且沿朝向第二罩3 6的方向移位離開第 一 罩2 2 并且被保持在該軸向移位的位置，與此同時，使筒相對于第一 罩22轉(zhuǎn)動直到一個期望的校驗標(biāo)準(zhǔn)部38、 40、 42、 44與同軸連 接器10的第二端子18對齊。在釋放筒26之后，筒26由于彈簧30 的力返回到原始位置，在該原始位置，校驗標(biāo)準(zhǔn)部38、 40、 42、 44中的一個校驗標(biāo)準(zhǔn)部撞擊同軸連接器10的第二端子18的表面 并且由于彈簧30而壓靠該表面。
另外，如圖2所示，彈簧元件48以沿徑向與同軸連接器IO 的第二端子18間隔開并且在徑向上位于與同軸連接器10的第二 端子18相反的位置的方式被配置在第一罩22上。該彈簧元件48 將力非對稱地作用在筒26上，由此使筒26傾斜而脫離相對于第 一罩的非對齊位置并且產(chǎn)生同軸連接器10的第二端子18與對應(yīng) 的才交-險標(biāo)準(zhǔn)部38、 40、 42、 44之間的接觸壓力。筒26相對于第 一罩22的該初始未對齊位置起因于如下事實筒26撞擊同軸連 接器10的外導(dǎo)體部14而不撞擊第一罩22。
圖6至圖9示出了四個不同的校驗標(biāo)準(zhǔn)部以及與同軸連接器 10的第二端子18進(jìn)行接觸的方式。在同軸連接器10的第二端子 18處，在圖6至圖9中未詳細(xì)示出其它方面的內(nèi)導(dǎo)體部的接觸銷 20上，以沿軸向彈簧加載的方式配置接觸螺栓50,由此使任何 公差均勻。圖6示出了端子42，圖7示出了失配部44，圖8示出了 短; 各部38，圖9示出了斷路部40。端子42和失配部44形成為用于 筒26中的對應(yīng)凹部的插座。斷路部40形成為筒26中的空凹部。 短路部38與筒26形成為 一件。
在筒26的面對第 一罩22的 一側(cè)，形成如圖3和圖4所示的環(huán) 狀槽52，該環(huán)狀槽使筒26中的用于校驗標(biāo)準(zhǔn)部38、 40、 42、 44 的凹部彼此連接。在筒26相對于第一罩22的轉(zhuǎn)動期間，該環(huán)狀 槽52被用作彈簧加載的接觸螺栓50用的自由空間，由此防止了接觸螺纟全504黃向撞擊用于校-驗標(biāo)準(zhǔn)部38、 40、 42、 44的凹部中 的 一 個凹部的邊纟彖并且可以防止接觸螺栓5 0 一皮切斷。
權(quán)利要求
1.一種校驗適配器，該校驗適配器具有用于連接到待校驗裝置的同軸連接器特別是連接到矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)的測量端口的同軸連接器(10)、特別是同軸插頭或同軸插座或同軸耦合器，其中，同軸連接器(10)具有內(nèi)導(dǎo)體部(12)；與所述內(nèi)導(dǎo)體部(12)同軸配置的外導(dǎo)體部(14)；以及能夠被連接到待校驗裝置的同軸連接器的陽端子(16)，其特征在于所述校驗適配器具有筒(26)，在所述筒(26)中配置至少兩個校驗標(biāo)準(zhǔn)部(38，40，42，44)，其中，所述筒(26)被可轉(zhuǎn)動地配置在銷(32)上，所述銷(32)以使所述銷(32)的縱向軸線與第一罩(22)的縱向軸線對齊的方式被在中心連接到所述第一罩(22)，其中，利用與所述陽端子(16)相反的第二端子(18)將所述同軸連接器(10)以與所述第一罩(22)的縱向軸線偏心的方式連接到所述第一罩(22)，所述校驗標(biāo)準(zhǔn)部(38，40，42，44)以如下方式被配置在所述筒(26)中通過所述筒(26)相對于所述第一罩(22)的轉(zhuǎn)動，能夠使與所述同軸導(dǎo)體(10)的所述陽端子(16)相反的所述第二端子(18)可選地與所述校驗標(biāo)準(zhǔn)部(38，40，42，44)中的一個校驗標(biāo)準(zhǔn)部連接。
2. 根據(jù)權(quán)利要求l所述的校驗適配器，其特征在于，所述 筒(26)具有四個不同的校驗標(biāo)準(zhǔn)部(38, 40, 42, 44)。
3. 根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的校驗適配器，其特征在于，所 述才交馬全標(biāo)準(zhǔn)部包括短i 各部(38)，該短3各部(38)使所述同軸 連接器(10)的所述內(nèi)導(dǎo)體部(12)與所述同軸連接器(10) 的所述外導(dǎo)體部(14)電短路；失配部(40);端子阻抗(42); 和/或失配部(44)。
4. 根據(jù)前述權(quán)利要求中的至少一項所述的校驗適配器，其 特4i在于，所述校一驗標(biāo)準(zhǔn)部(38, 40, 42， 44)沿周向彼此等 間距地配置在所述筒(26)中。
5. 根據(jù)前述權(quán)利要求中的至少一項所述的校驗適配器，其特征在于，所述外導(dǎo)體部(14)被螺紋連接到所述第一罩(22)。
6. 根據(jù)前述權(quán)利要求中的至少一項所述的校驗適配器，其 特征在于，所述第一罩(22)被螺紋連接到所述銷(32)。
7. 根據(jù)前述權(quán)利要求中的至少一項所述的校驗適配器，其 特征在于，所述銷(32)在所述第二罩(36)的背向所述第一 罩(22)的端部被螺紋連接到所述第二罩(36)。
8. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的校驗適配器，其特征在于，設(shè)置 彈性彈簧裝置(30)，所述彈簧裝置(30)沿軸向在所述第二罩(36)和所述筒(26)上作用使所述第二罩(36)和所述筒(26) 分開的推力。
9. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的校驗適配器，其特征在于，所述 彈簧裝置是與所述銷(32)同軸配置的螺旋彈簧(30)。
10. 根據(jù)權(quán)利要求7至權(quán)利要求9中的至少一項所述的校驗 適配器，其特征在于，所述筒(26)具有沿軸向延伸并且接合 在所述第二罩(36)中的插座狀延伸部(46)。
11. 根據(jù)權(quán)利要求10所述的校驗適配器，其特征在于，第 二滑動部(34)被配置在所述第二罩(36)和所述筒(26)的 所述插座狀延伸部(46)之間。
12. 根據(jù)前述權(quán)利要求中的至少 一 項所述的校驗適配器， 其特征在于，第一滑動部(28)被配置在所述筒(26)與所述 銷(32 )之間。
13. 根據(jù)前述權(quán)利要求中的至少 一 項所述的校驗適配器， 其特征在于，彈簧元件(48)以沿徑向與所述銷(32)間隔開 的方式被配置在所述第一罩(22)和所述筒(26)之間，所述 彈簧元件(48)在所述筒(26)和所述第一罩(22)上作用使 所述筒(26)和所述第一罩(22)分開的推力。
14. 根據(jù)權(quán)利要求13所述的校驗適配器，其特征在于，所 述彈簧元件(48)被配置成在徑向上位于與所述同軸連接器(10) 相反的位置。
15. 根據(jù)權(quán)利要求13或14所述的校驗適配器，其特征在于， 所述彈簧元件(48)被固定到所述第一罩(22)。
16. 根據(jù)前述權(quán)利要求中的至少一項所述的校驗適配器， 其特;f正在于，所述才交馬全標(biāo)準(zhǔn)部(38, 40, 42, 44)中的至少一 個校驗標(biāo)準(zhǔn)部與所述筒(26)形成為一件。
17. 根據(jù)前述權(quán)利要求中的至少一項所述的校驗適配器， 其特征在于，所述同軸連接器(10)以所述同軸連接器(10) 的縱向軸線與所述第一罩(22)的縱向軸線平行地延伸的方式 與所述第一罩(22)連接。
18. 根據(jù)前述權(quán)利要求中的至少 一 項所述的校驗適配器， 其特征在于，環(huán)狀槽(52)形成在所述筒(26)的面對所述第 一罩(22)的一側(cè)，所述環(huán)狀槽(52)使所述筒(26)的用于 所述才交-瞼標(biāo)準(zhǔn)部(38, 40， 42, 44)的凹部4皮此連接。
全文摘要
本發(fā)明涉及一種校驗適配器，該校驗適配器具有用于連接到待校驗裝置的同軸連接器特別是連接到矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)的測量端口的同軸連接器(10)、特別是同軸插頭或同軸插座或同軸耦合器，其中，同軸連接器(10)具有內(nèi)導(dǎo)體部(12)；與內(nèi)導(dǎo)體部(12)同軸配置的外導(dǎo)體部(14)；以及能夠被連接到待校驗裝置的同軸連接器的陽端子(16)。根據(jù)本發(fā)明，校驗適配器具有筒(26)，在該筒(26)中配置至少兩個校驗標(biāo)準(zhǔn)部(38，40，42，44)，其中，所述筒(26)被可轉(zhuǎn)動地配置在銷(32)上，該銷(32)以使銷(32)的縱向軸線與第一罩(22)的縱向軸線對齊的方式被中心連接到第一罩(22)，其中，利用與陽端子(16)相反的第二端子(18)將同軸連接器(10)以與第一罩(22)的縱向軸線偏心的方式連接到第一罩(22)，校驗標(biāo)準(zhǔn)部(38，40，42，44)以如下方式被配置在所述筒(26)中通過筒(26)相對于第一罩(22)的轉(zhuǎn)動，能夠使與同軸連接器(10)的陽端子(16)相反的第二端子(18)可選地與校驗標(biāo)準(zhǔn)部(38，40，42，44)中的一個校驗標(biāo)準(zhǔn)部連接。
文檔編號H01R13/646GK101657733SQ200880009547
公開日2010年2月24日 申請日期2008年1月31日 優(yōu)先權(quán)日2007年3月23日
發(fā)明者弗蘭克·維斯 申請人:羅森伯格高頻技術(shù)有限及兩合公司