專利名稱：反射鏡位置采樣、標(biāo)定方法及裝置和激光器的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及通信技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種可調(diào)諧激光器的反射鏡位置采樣、標(biāo)定方法及裝置。
背景技術(shù)：
可調(diào)諧激光器是指可以在一定范圍內(nèi)連續(xù)改變激光輸出波長的激光器。它內(nèi)置 Laser Array(激光器陣列)作為發(fā)光源，激光器陣列由多個LD (激光器單元)組成，每個 激光器單元均能發(fā)某個特定波長范圍的光，工作時先根據(jù)所需要的光的波長選定激光器單 元，然后再對激光器單元進行控制，從而控制發(fā)射光的波長，實現(xiàn)波長的可調(diào)諧?？烧{(diào)諧激光器結(jié)構(gòu)原理圖如圖1所示可調(diào)諧激光器通過集成開關(guān)電路1 (Swith ICs)選擇激光器陣列2 (Laser Array)中的某個激光器單元，激光器單元發(fā)射的、光經(jīng)反射 鏡3反射到后級光路，在后級光路中有2個分光器(Beamsplitters)4、5，將光束分為3路， 主光路經(jīng)耦合透鏡(Coupling lens)6聚焦到尾纖(fiber pigtail) 7輸出到可調(diào)諧激光 器外部；另外兩路是主光路的分支，能量較小，一路經(jīng)過波長測定儀(Etalon)S用于波長鎖 定，另一路入射到四相探測器(Quad detector) 9，用于對反射鏡位置鎖定和激光器單元發(fā) 光功率監(jiān)控反饋。只有當(dāng)主光路經(jīng)耦合透鏡聚焦到尾纖的纖芯時，輸出的光能量才能達到最大，這 在現(xiàn)有技術(shù)中是通過可調(diào)諧激光器的四相探測器結(jié)合外部光功率計對反射鏡的位置進行 標(biāo)定來實現(xiàn)的。反射鏡的位置在一定角度范圍內(nèi)可以通過加在其上的電壓進行控制，而所述電壓 的數(shù)值可由四相探測器進行反饋并讀取。其具體標(biāo)定過程如下先根據(jù)所需要光的波長選定激光器單元，然后控制該激光器單元發(fā)出所需要的 光，并將發(fā)射光的功率調(diào)節(jié)到一定強度(發(fā)射功率規(guī)格附近)，然后邊調(diào)節(jié)反射鏡位置控制 電壓，邊用光功率計讀取此時尾纖輸出的光的功率，記錄光功率計讀數(shù)最大值時四相探測 器(Quad detector)的數(shù)值，至此標(biāo)定完成。發(fā)明人發(fā)現(xiàn)在上述標(biāo)定過程中，存在以下問題現(xiàn)有標(biāo)定技術(shù)需應(yīng)用外部光功率 計，標(biāo)定過程繁瑣不便。

發(fā)明內(nèi)容
一方面，本發(fā)明實施例提供一種反射鏡位置采樣方法。一種反射鏡位置采樣方法，包括對反射鏡當(dāng)前位置反射的光進行采樣，得到采樣光；將采樣光的能量轉(zhuǎn)換成采樣值。一方面，本發(fā)明實施例提供一種反射鏡位置采樣裝置。一種反射鏡位置采樣裝置，包括采樣模塊，用于對激光進行采樣，得到采樣光；
轉(zhuǎn)換模塊，用于將采樣光的能量轉(zhuǎn)換成采樣值。一種反射鏡位置采樣裝置，包括采樣模塊，用于對第二分光器分出的光進行采樣，得到采樣光；轉(zhuǎn)換模塊，用于將采樣光的能量轉(zhuǎn)換成采樣值。一方面，本發(fā)明實施例提供了一種反射鏡位置標(biāo)定方法，解決了現(xiàn)有技術(shù)標(biāo)定過 程繁瑣不便的問題。為達到上述目的，本發(fā)明實施例采用以下技術(shù)方案一種反射鏡位置標(biāo)定方法，其特征在于，包括A、對反射鏡當(dāng)前位置反射的光進行采樣，得到采樣光；B、將采樣光的能量轉(zhuǎn)換成采樣值；C、判斷所述采樣值是否為最大值；如果是，則將反射鏡當(dāng)前位置標(biāo)定為最佳位置；否則，調(diào)節(jié)反射鏡的位置，返回步 驟A。一方面，本發(fā)明實施例提供了一種反射鏡位置標(biāo)定裝置，解決了現(xiàn)有技術(shù)標(biāo)定過 程繁瑣不便的問題。為達到上述目的，本發(fā)明實施例采用以下技術(shù)方案一種反射鏡位置標(biāo)定裝置，包括采樣模塊，用于對激光進行采樣，得到采樣光；轉(zhuǎn)換模塊，用于將采樣光的能量轉(zhuǎn)換成采樣值；
位置標(biāo)定模塊，用于根據(jù)采樣值標(biāo)定反射鏡的位置。另一方面，本發(fā)明實施例提供了一種激光器，解決了現(xiàn)有技術(shù)標(biāo)定過程繁瑣不便 的問題。為達到上述目的，本發(fā)明實施例采用以下技術(shù)方案一種可調(diào)諧激光器系統(tǒng)，包括激光器陣列；該激光器陣列包括至少兩個激光器 單元；與所述激光器單元連接有集成開關(guān)電路；與激光器陣列正對的位置置有反射鏡；反 射鏡的一側(cè)置有第一分光器；第一分光器的下方平行置有第二分光器；在第二分光器遠離 反射鏡的一側(cè)置有透鏡；集成開關(guān)電路選通激光器陣列中的激光器單元；激光器單元所發(fā)出的光經(jīng)反射鏡 反射到第一分光器；第一分光器按照一定能量比例將光分為兩路；一路用于波長鎖定，另 一路入射至第二分光器；第二分光器按照一定能量比例將光分為兩路；一路入射到四相探 測器，另一路經(jīng)透鏡聚焦形成激光；可調(diào)諧激光器系統(tǒng)還包括采樣模塊，對所述激光進行采樣，得到采樣光；轉(zhuǎn)換模塊，將采樣光的能量轉(zhuǎn)換成采樣值；位置標(biāo)定模塊，根據(jù)采樣值標(biāo)定反射鏡的位置。另一種可調(diào)諧激光器系統(tǒng)，包括激光器陣列；該激光器陣列包括至少兩個激光 器單元；與所述激光器單元連接有集成開關(guān)電路；與激光器陣列正對的位置置有反射鏡； 反射鏡的一側(cè)置有第一分光器；第一分光器的下方平行置有第二分光器；在第二分光器遠 離反射鏡的一側(cè)置有透鏡；集成開關(guān)電路選通激光器陣列中的激光器單元；激光器單元所發(fā)出的光經(jīng)反射鏡反射到第一分光器；第一分光器按照一定能量比例將光分為兩路；一路用于波長鎖定，另一路入射至第二分光器；第二分光器按照一定能量比例將光分為兩路；一路入射到四相探 測器，另一路經(jīng)透鏡聚焦形成激光；可調(diào)諧激光器系統(tǒng)還包括采樣模塊，對所述第二分光器分出的光進行采樣，得到采樣光；轉(zhuǎn)換模塊，將采樣光的能量轉(zhuǎn)換成采樣值；位置標(biāo)定模塊，根據(jù)采樣值標(biāo)定反射鏡的位置。本發(fā)明實施例在對反光鏡進行標(biāo)定的過程中，不需要外部功率計的輔助，采用光 耦合反饋技術(shù)，按能量比例對輸出光進行采樣反饋，對反饋的光進行光電轉(zhuǎn)換、跨阻放大、 模擬/數(shù)字轉(zhuǎn)換等處理，實現(xiàn)了激光器耦合輸出效率閉環(huán)控制，達到了節(jié)省耦合輸出效率 標(biāo)定時間的目的。


圖1為現(xiàn)有的可調(diào)諧激光器系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖；圖2為本發(fā)明實施例提供的反射鏡位置采樣方法的流程圖；圖3為本發(fā)明實施例提供的反射鏡位置標(biāo)定方法的流程圖；圖4為本發(fā)明實施例提供的可調(diào)諧激光器系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖；圖5為本發(fā)明實施例提供的發(fā)射鏡位置采樣裝置結(jié)構(gòu)圖；圖6為本發(fā)明實施例提供的反射鏡位置標(biāo)定裝置結(jié)構(gòu)圖；圖7為本發(fā)明實施例提供的另一種可調(diào)諧激光器系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖；圖8為本發(fā)明實施例提供的采樣模塊的結(jié)構(gòu)圖；圖9為本發(fā)明實施例提供的對反射鏡當(dāng)前位置反射的光進行采樣，得到采樣光的 方法的流程圖；圖10為本發(fā)明實施例提供的另一種對反射鏡當(dāng)前位置反射的光進行采樣，得到 采樣光的方法的流程圖；圖11為本發(fā)明實施例提供的將采樣光的能量轉(zhuǎn)換成采樣值的方法的流程圖。
具體實施例方式為解決現(xiàn)有技術(shù)標(biāo)定過程繁瑣不便的問題，本發(fā)明提供了一種反射鏡位置采樣、 標(biāo)定方法及裝置和激光器。下面分別進行介紹如圖2所示，本發(fā)明實施例反射鏡位置采樣方法，包括201、對反射鏡當(dāng)前位置反射的光進行采樣，得到采樣光；采樣過程可以具體通過分光器來完成，按照一定的能量比例，將一少部分能量的 光分出，并反饋回來，作為采樣光；202、將采樣光的能量轉(zhuǎn)換成采樣值。如圖3所示，一種反射鏡位置標(biāo)定方法，其特征在于，包括301、對反射鏡當(dāng)前位置反射的光進行采樣，得到采樣光；302、將采樣光的能量轉(zhuǎn)換成采樣值；303、判斷所述采樣值是否為最大值；如果是，則將反射鏡當(dāng)前位置標(biāo)定為最佳位置；否則，調(diào)節(jié)反射鏡的位置，返回步驟 301。為了便于理解本發(fā)明實施例反射鏡位置采樣方法和標(biāo)定方法，先對本發(fā)明實施例提供的激光器進行介紹如圖4所示，包括激光器陣列1 ；該激光器陣列包括至少兩個激光器單元；與所述激光器單元連接有集成開關(guān)電路2 ；與激光器陣列正對的位置置有反射鏡3 ；反射鏡的一 側(cè)置有第一分光器4 ；第一分光器的下方平行置有第二分光器5 ；在第二分光器遠離反射鏡 的一側(cè)置有耦合透鏡6。集成開關(guān)電路選通激光器陣列中的激光器單元；激光器單元所發(fā)出的光經(jīng)反射鏡 3反射到第一分光器4 ；第一分光器4按照一定能量比例將光分為兩路；一路用于波長鎖定 7，另一路入射至第二分光器5 ；第二分光器5按照一定能量比例將光分為兩路；一路入射到 四相探測器8，另一路經(jīng)耦合透鏡6聚焦，在尾纖9上形成激光。所述激光器系統(tǒng)還包括反射鏡位置采樣裝置和標(biāo)定裝置。參見圖5，本發(fā)明實施例提供的反射鏡位置采樣裝置包括采樣模塊501，對所述激光進行采樣，得到采樣光；轉(zhuǎn)換模塊502，將采樣光的能量轉(zhuǎn)換成采樣值。所述采樣模塊可以是3:97分光器11 ；所述轉(zhuǎn)換模塊包括光電轉(zhuǎn)換設(shè)備，跨阻放 大器，模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片；其中，光電轉(zhuǎn)換設(shè)備，用于將采樣光轉(zhuǎn)換成電流；與該光電轉(zhuǎn)換設(shè)備連接有跨阻放大器，所述跨阻放大器用于將所述電流轉(zhuǎn)換成電 壓，并將該電壓放大；與跨阻放大器連接有模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片，所述模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片用于將所述電壓轉(zhuǎn)換成采 樣值，所述采樣值與反射鏡當(dāng)前位置相對應(yīng)，之后將采樣值傳送給反射鏡位置標(biāo)定裝置的 位置標(biāo)定模塊。所述光電轉(zhuǎn)換設(shè)備可以是光電二極管；參見圖6，本發(fā)明實施例提供的反射鏡位置標(biāo)定裝置包括采樣模塊601，對所述激光進行采樣，得到采樣光；轉(zhuǎn)換模塊602，將采樣光的能量轉(zhuǎn)換成采樣值；位置標(biāo)定模塊603，根據(jù)采樣值標(biāo)定反射鏡的位置。該位置標(biāo)定模塊包括最佳位置標(biāo)定單元，用于當(dāng)所述采樣值為最大值時，則將反射鏡當(dāng)前位置標(biāo)定為 最佳位置；反射鏡位置調(diào)節(jié)單元，用于當(dāng)所述采樣值沒有達到最大值時，調(diào)節(jié)反射鏡的位置； 在新的位置，由所述采樣模塊繼續(xù)對激光進行采樣。所述反射鏡位置調(diào)節(jié)單元，包括第一調(diào)節(jié)單元，用于當(dāng)采樣值大于反射鏡初始位置的采樣值時，繼續(xù)同方向調(diào)節(jié) 反射鏡的位置；第二調(diào)節(jié)單元，用于當(dāng)采樣值小于反射鏡初始位置的采樣值時，反方向調(diào)節(jié)反射 鏡的位置。位置標(biāo)定模塊可以是MCU (微程序處理器)，所述MCU根據(jù)模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片傳送來的 采樣值，改變加在反射鏡上的電壓，從而改變反射鏡的位置。反射鏡的位置改變后，模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片將此時反射鏡位置所對應(yīng)的采樣值傳送給位置標(biāo)定模塊，位置標(biāo)定模塊根據(jù)采樣值 標(biāo)定反射鏡的位置。本發(fā)明實施例提供的另一種激光器，如圖7所示，與上一可調(diào)諧激光器系統(tǒng)相比， 其不同之處在于采樣模塊可以具體包括第三分光器11，用于對所述第二分光器分離的光進行采樣；
第二透鏡12，用于對第三分光器分離的光進行聚焦，得到采樣光。如圖8所示，第三分光器1可以與第一分光器、第二分光器平行放置，第三分光器 的法線與第二透鏡2的光軸成45度角，并將取樣光纖3的端面放置在第二透鏡的焦點處， 則取樣光纖上的光能量能隨尾纖上光能量的變化而產(chǎn)生同比例的變化，從而達到鏡像采樣 的目的。下面詳細介紹反射鏡位置采樣方法和標(biāo)定方法。反射鏡位置采樣方法對反射鏡當(dāng)前位置反射的光進行采樣，得到采樣光。該步驟可以通過兩種情景來 實現(xiàn)第一種情景，如圖9所示，對反射鏡當(dāng)前位置反射的光進行采樣，得到采樣光的步 驟包括901、反射鏡對激光進行反射，得到反射光；902、對反射光進行分光得到三路光路；第一路光經(jīng)透鏡聚焦形成激光；進一步地，第二路光用于波長鎖定；第三路光入射到四相探測器；903、對第一路光進行采樣。具體可以將第一路光在聚焦形成激光之前，進行分光，分光后，第一路光中大部分 能量的光傳送至透鏡聚焦形成激光；第一路光中其余的小部分能量的光反饋回來并經(jīng)過透 鏡聚焦，形成采樣光。第二種情景，如圖10所示，對反射鏡當(dāng)前位置反射的光進行采樣，得到采樣光的 步驟包括1001、反射鏡對激光進行反射，得到反射光；1002、對反射光進行分光得到三路光路；第一路光經(jīng)透鏡聚焦形成激光；進一步地，第二路光用于波長鎖定；第三路光入射到四相探測器；1003、對所述激光進行采樣。具體可以將第一路光經(jīng)透鏡聚焦形成的激光，傳送至尾纖，在尾纖中對激光進行 分光，分光之后，大部分能量的激光對外輸出，少部分能量的激光反饋回來，形成采樣光。如圖11所示，將采樣光的能量轉(zhuǎn)換成采樣值的步驟包括1101、將采樣光轉(zhuǎn)換成電流；具體可以將反饋回來的采樣光送至光電轉(zhuǎn)換設(shè)備，所述光電轉(zhuǎn)換設(shè)備根據(jù)采樣光 的能量的大小產(chǎn)生與其成正比關(guān)系的電流；1102、將電流轉(zhuǎn)換成電壓；具體可以將電流送至跨阻放大器，由跨阻放大器將所述電流轉(zhuǎn)換為電壓，并線性 放大；
1103、將電壓轉(zhuǎn)換為數(shù)字數(shù)值，該數(shù)字數(shù)值即為反射鏡當(dāng)前位置對應(yīng)采樣值。將放大后的電壓提供給AD (數(shù)模轉(zhuǎn)換)芯片，AD芯片將所述電壓的大小轉(zhuǎn)換為數(shù) 字數(shù)值，即采樣值，所述采樣值與反射鏡當(dāng)前位置相對應(yīng)；然后將所述采樣值傳送給位置標(biāo) 定模塊。本發(fā)明實施例提供的反射鏡位置標(biāo)定方法，包括A、對反射鏡當(dāng)前位置反射的光進行采樣，得到采樣光；B、將采樣光的能量轉(zhuǎn)換成采樣值；C、判斷所述采樣值是否為最大值；如果是，則將反射鏡當(dāng)前位置標(biāo)定為最佳位置；否則，調(diào)節(jié)反射鏡的位置，返回步 驟A。在對反射鏡位置標(biāo)定之前，首先獲取反射鏡初始位置所對應(yīng)的采樣值，之后調(diào)節(jié) 反射鏡的位置，對調(diào)節(jié)后反射鏡對位置反射對光進行采樣，得到采樣光，并將采樣光對能量 轉(zhuǎn)換成采樣值。如果采樣值大于反射鏡初始位置所對應(yīng)的采樣值，則繼續(xù)同方向調(diào)節(jié)反射 鏡的位置，否則反方向調(diào)節(jié)反射鏡的位置。在之后的反射鏡每次調(diào)整后，都判斷調(diào)整后反射鏡位置所對應(yīng)的采樣值是否最 大。判斷的方法如下將調(diào)整后對應(yīng)的采樣值與反射鏡上一位置所對應(yīng)的采樣值相比較，若調(diào)整后對應(yīng) 的采樣值大于反射鏡上一位置所對應(yīng)的采樣值，則此時反射鏡位置所對應(yīng)的采樣值尚為達 到最大，繼續(xù)調(diào)整；若調(diào)整后對應(yīng)的采樣值小于反射鏡上一位置所對應(yīng)的采樣值，則所述反 射鏡上一位置所對應(yīng)的采樣值達到最大，將反射鏡位置調(diào)回上一位置，此時反射鏡處于最 佳位置。本發(fā)明實施例所提供的標(biāo)定方法和系統(tǒng)不僅可應(yīng)用于可調(diào)諧激光器，而且可靈活 應(yīng)用于所有需要監(jiān)控輸出光功率的場景，如EDFA(Erbium-doped OpticalFiber Amplifer, 摻鉺光纖放大器)的輸出光功率檢測、泵浦激光器的輸出光功率的閉合控制等。本領(lǐng)域普通技術(shù)人員可以理解實現(xiàn)上述實施例方法中的全部或部分步驟可以 通過程序來指令相關(guān)的硬件完成，所述的程序可以存儲于計算機可讀存儲介質(zhì)中，如ROM/ RAM、磁碟或光盤等。以上所述，僅為本發(fā)明的具體實施方式
，但本發(fā)明的保護范圍并不局限于此，任何 熟悉本技術(shù)領(lǐng)域的技術(shù)人員在本發(fā)明揭露的技術(shù)范圍內(nèi)，可輕易想到的變化或替換，都應(yīng) 涵蓋在本發(fā)明的保護范圍之內(nèi)。因此，本發(fā)明的保護范圍應(yīng)以權(quán)利要求所述的保護范圍為準。
權(quán)利要求
一種反射鏡位置采樣方法，其特征在于，包括對反射鏡當(dāng)前位置反射的光進行采樣，得到采樣光；將采樣光的能量轉(zhuǎn)換成采樣值。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的反射鏡位置采樣方法，其特征在于，對反射鏡當(dāng)前位置反射 的光進行采樣，得到采樣光的步驟之前還包括反射鏡對光進行反射，得到反射光； 對反射光進行分光得到三路光路 第一路光用于輸出激光； 第二路光用于波長鎖定； 第三路光入射到四相探測器； 第一路光經(jīng)透鏡聚焦形成激光。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的反射鏡位置采樣方法，其特征在于，所述對反射鏡當(dāng)前位置 反射的光進行采樣，得到采樣光的步驟包括對第一路光進行采樣。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的反射鏡位置采樣方法，其特征在于，所述對反射鏡當(dāng)前位置 反射的光進行采樣，得到采樣光的步驟包括對激光進行采樣。
5.根據(jù)權(quán)利要求3或4所述的反射鏡位置采樣方法，其特征在于，所述將采樣光的能量 轉(zhuǎn)換成采樣值的步驟包括將采樣光轉(zhuǎn)換成電流； 將電流轉(zhuǎn)換成電壓；將電壓轉(zhuǎn)換為數(shù)字數(shù)值，該數(shù)字數(shù)值即為反射鏡當(dāng)前位置對應(yīng)采樣值。
6.一種反射鏡位置標(biāo)定方法，其特征在于，包括A、對反射鏡當(dāng)前位置反射的光進行采樣，得到采樣光；B、將采樣光的能量轉(zhuǎn)換成采樣值；C、判斷所述采樣值是否為最大值；如果是，則將反射鏡當(dāng)前位置標(biāo)定為最佳位置；否則，調(diào)節(jié)反射鏡的位置，返回步驟A。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的反射鏡位置標(biāo)定方法，其特征在于，在所述步驟A之前還包 括，獲取反射鏡初始位置的采樣值。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的反射鏡位置標(biāo)定方法，其特征在于，在所述步驟C中，調(diào)節(jié)反 射鏡的位置包括當(dāng)采樣值大于反射鏡上一位置的采樣值時，繼續(xù)同方向調(diào)節(jié)反射鏡的位置； 當(dāng)采樣值小于反射鏡上一位置的采樣值時，反方向調(diào)節(jié)反射鏡的位置。
9.根據(jù)權(quán)利要求6或8所述的反射鏡位置標(biāo)定方法，其特征在于，所述判斷所述采樣值 是否為最大值包括判斷當(dāng)當(dāng)前采樣值是否小于上一次采樣值 如果小于，則上一次采樣值為最大采樣值。
10.一種反射鏡位置采樣裝置，其特征在于，包括 采樣模塊，用于對激光進行采樣，得到采樣光；轉(zhuǎn)換模塊，用于將采樣光的能量轉(zhuǎn)換成采樣值。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的反射鏡位置采樣裝置，其特征在于，所述轉(zhuǎn)換模塊包括 光電轉(zhuǎn)換設(shè)備，用于將采樣光轉(zhuǎn)換成電流；跨阻放大器，用于將所述電流轉(zhuǎn)換成電壓，并將該電壓放大；模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片，用于將所述電壓轉(zhuǎn)換成采樣值，并將采樣值傳送給位置標(biāo)定模塊。
12.一種反射鏡位置采樣裝置，其特征在于，包括采樣模塊，用于對第二分光器分出的光進行采樣，得到采樣光； 轉(zhuǎn)換模塊，用于將采樣光的能量轉(zhuǎn)換成采樣值。
13.根據(jù)權(quán)利要求12所述的反射鏡位置采樣裝置，其特征在于，所述轉(zhuǎn)換模塊包括 光電轉(zhuǎn)換設(shè)備，用于將采樣光轉(zhuǎn)換成電流；跨阻放大器，用于將所述電流轉(zhuǎn)換成電壓，并將該電壓放大； 模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片，用于將所述電壓轉(zhuǎn)換成采樣值。
14.一種反射鏡位置標(biāo)定裝置，其特征在于，包括 采樣模塊，用于對激光進行采樣，得到采樣光； 轉(zhuǎn)換模塊，用于將采樣光的能量轉(zhuǎn)換成采樣值； 位置標(biāo)定模塊，用于根據(jù)采樣值標(biāo)定反射鏡的位置。
15.根據(jù)權(quán)利要求14所述的反射鏡位置標(biāo)定裝置，其特征在于，所述位置標(biāo)定模塊包括最佳位置標(biāo)定單元，當(dāng)所述采樣值為最大值時，則將反射鏡當(dāng)前位置標(biāo)定為最佳位置；反射鏡位置調(diào)節(jié)單元，當(dāng)所述采樣值沒有達到最大值時，調(diào)節(jié)反射鏡的位置；在新的位 置，由所述采樣模塊繼續(xù)對激光進行采樣。
16.根據(jù)權(quán)利要求14所述的反射鏡位置標(biāo)定裝置，其特征在于，所述反射鏡位置調(diào)節(jié) 單元，包括第一調(diào)節(jié)單元，用于當(dāng)采樣值大于反射鏡初始位置的采樣值時，繼續(xù)同方向調(diào)節(jié)反射 鏡的位置；第二調(diào)節(jié)單元，用于當(dāng)采樣值小于反射鏡初始位置的采樣值時，反方向調(diào)節(jié)反射鏡的 位置。
17.—種激光器，其特征在于，包括采樣模塊，用于對所述激光進行采樣，得到采樣光； 轉(zhuǎn)換模塊，用于將采樣光的能量轉(zhuǎn)換成采樣值； 位置標(biāo)定模塊，用于根據(jù)采樣值標(biāo)定反射鏡的位置。
18.根據(jù)權(quán)利要求17所述的激光器，其特征在于，所述采樣模塊為第三分光器；所述轉(zhuǎn) 換模塊包括光電轉(zhuǎn)換設(shè)備，用于將采樣光轉(zhuǎn)換成電流；跨阻放大器，用于將所述電流轉(zhuǎn)換成電壓，并將該電壓放大；模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片，用于將所述電壓轉(zhuǎn)換成采樣值。
19.一種激光器，其特征在于，包括采樣模塊，對所述第二分光器分出的光進行采樣，得到采樣光；轉(zhuǎn)換模塊，將采樣光的能量轉(zhuǎn)換成采樣值；位置標(biāo)定模塊，根據(jù)采樣值標(biāo)定反射鏡的位置。
20.根據(jù)權(quán)利要求19所述的激光器，其特征在于，所述采樣模塊包括第三分光器；對所述第二分光器分離的光進行采樣；第二透鏡，對第三分光器分離的光進行聚焦，得到采樣光；或者所述轉(zhuǎn)換模塊包括光電轉(zhuǎn)換設(shè)備，用于將采樣光轉(zhuǎn)換成電流；跨阻放大器，用于將所述電流轉(zhuǎn)換成電壓，并將該電壓放大；模數(shù)轉(zhuǎn)換芯片，用于將所述電壓轉(zhuǎn)換成采樣值。
全文摘要
本發(fā)明實施例公開了一種反射鏡位置采樣、標(biāo)定方法及裝置和激光器，涉及通信技術(shù)領(lǐng)域。為解決現(xiàn)有技術(shù)標(biāo)定過程緩慢、產(chǎn)品生命周期內(nèi)不能隨時進行標(biāo)定的問題而發(fā)明。本發(fā)明提供的標(biāo)定方法包括對反射鏡當(dāng)前位置反射的光進行采樣，得到采樣光；將采樣光的能量轉(zhuǎn)換成采樣值；根據(jù)采樣值標(biāo)定反射鏡的位置。本發(fā)明實施例在進行標(biāo)定過程中不需要外部功率計的輔助，實現(xiàn)了激光器耦合輸出效率閉環(huán)控制，達到了節(jié)省耦合輸出效率標(biāo)定時間、產(chǎn)品生命周期內(nèi)可標(biāo)定的目的。
文檔編號H01S5/40GK101806579SQ20091000567
公開日2010年8月18日 申請日期2009年2月16日 優(yōu)先權(quán)日2009年2月16日
發(fā)明者陳書宏 申請人:華為技術(shù)有限公司