專利名稱:6H-SiC基底反極性AlGaInP LED芯片的制作方法
技術領域:
本發(fā)明涉及四元AlGaInP發(fā)光二極管(LED)芯片的結構及其制作方法,屬半導體光電子 加工技術領域。
背景技術:
高亮度AlGalnP四元LED具有壽命長、穩(wěn)定性好、節(jié)能環(huán)保等優(yōu)點,廣泛應用于戶內外 顯示屏、城市亮化、交通信號燈、汽車用燈、液晶顯示背光源等領域。
現(xiàn)有常規(guī)AlGalnP四元LED芯片采用GaAs基底,其芯片的結構如圖1所示,包括外延層 9和GaAs基底7,外延層9的頂面設有P型電極1, GaAs基底7的底面設有N型電極8,外 延層9由上至下依次為P型GaP層2、 P型AlGalnP層3、發(fā)光層4、 N型AlGalnP層5和DBR (布拉格)反射層6, P型電極設置在P型GaP層2上。該類芯片使用的是熱導率較差的GaAs 基底(熱導率0.46W/cm K),在大電流、高功率工作條件下,GaAs基底LED芯片散熱不良, 性能提升有很大的局限性。
6H-SiC基底具有大的熱導率(達到4.9W/cm K),比GaAs基底高約十倍,在此基底上工 作的管芯可以工作在大電流下,功率增加,可靠性增加,散熱良好,能夠克服了GaAs基底上 四元AlGalnP發(fā)光二極管芯片的缺點。但是由于制備工藝的不完善,目前還沒有6H-SiC基底 四元AlGalnP發(fā)光二極管芯片的產品問世。
發(fā)明內容
本發(fā)明針對現(xiàn)有AlGalnP四元發(fā)光二極管芯片采用GaAs基底存在的不適應大電流、高輸 出功率工作條件的問題,提供一種大電流、高輸出功率的6H-SiC基底反極性AlGalnP LED芯 片及其制作方法,同時提供一種該LED芯片的制作工藝。
本發(fā)明的6H-SiC基底反極性AlGalnP LED芯片包括基底和基底上的外延層,以6H_SiC 材料作為基底,外延層由上至下依次為N型AlGalnP層、發(fā)光層、P型AlGalnP層、P型GaP 層和金屬反射及粘結層,在N型AlGalnP層上設置N型電極,在6H-SiC基底的底面或金屬反 射及粘結層上設置P型電極。金屬反射及粘結層包括一層粘接層和一個金屬反射鏡。
6H-SiC材料可以是導電6H-SiC單晶(電阻率小于0. 1歐姆 厘米)或絕緣6H-SiC單晶 (電阻率大于103歐姆,厘米)。
上述6H-SiC基底反極性AlGalnP LED芯片的制作工藝是
在經過拋光的6H-SiC基底表面上蒸鍍一層粘接層及金屬反射鏡,再通過加熱、真空及靜 壓的方法將LED外延層與6H-SiC基底粘接在一起,再用選擇腐蝕的方法將原GaAs基底腐蝕 剝離掉,制作成以6H-SiC為基底的LED晶片,經蒸鍍、刻蝕等工藝形成電極制成管芯。具體 包括以下步驟
(1) 首先在GaAs基底上生長外延結構,按常規(guī)由下至上依次外延生長N型AlGalnP層、 發(fā)光層、P型AlGalnP層和P型GaP層,制成外延層;
(2) 在經過拋光的6H-SiC基底上蒸鍍金屬反射及粘結層,金屬反射及粘結層包括一層 粘接層和一個金屬反射鏡;(3) 在20(rC 40(TC加熱、小于1Torr的真空及30PSI 80PSI的靜壓的條件下將步驟 (1)制備的外延層中P型GaP層與步驟(2)中的金屬反射及粘結層對接;
(4) 選擇性腐蝕掉GaAs基底;
(5) 在N型AlGalnP層上制作N型電極,在6H_SiC基底的底面或金屬反射及粘結層上 制作P型電極。
本發(fā)明的AlGalnP LED芯片是以熱導率高于GaAs材料10倍的6H-SiC材料為基底,將 LED發(fā)光層從GaAs上轉移到6H_SiC基底上,與現(xiàn)有的AlGalnP四元LED芯片的外延層結構 自上至下正好相反,制作出了大電流、高輸出功率的AlGalnP四元LED芯片。由于6H-SiC材 料的熱導率高,可大幅度改善產品的高溫特性,提高產品可靠性,在大功率應用方面存在著 其它類型LED無法比擬的優(yōu)勢。
圖1是現(xiàn)有GaAs基底的AlGalnP常規(guī)LED四元芯片結構示意圖。
圖2是本發(fā)明實施例l的以導電6H-SiC為基底的反極性AlGalnP LED芯片的結構示意圖。
圖3是本發(fā)明實施例2的以絕緣6H-SiC為基底的反極性AlGalnP LED芯片結構示意圖。
圖4是本發(fā)明制作工藝中的外延層結構示意圖。
圖5是6H-SiC基底、金屬反射層及粘結層制作步驟示意圖。
圖6是6H-SiC基底與外延層粘接步驟的示意圖。
圖7是GaAs基底腐蝕剝離步驟的示意圖。
圖8是外延層局部蝕刻步驟的示意圖。
圖中1、 P型電極,2、 P型GaP層,3、 P型AlGalnP層,4、發(fā)光層,5、 N型AlGalnP 層,6、 DBR反射層,7、 GaAs基底,8、 N型電極,9、外延層,10、金屬反射及粘結層,11、 導電6H-SiC基底,12、絕緣6H-SiC基底。
具體實施方式
實施例l
本實施例的6H-SiC基底反極性AlGalnP LED芯片是以導電6H-SiC為基底的,其芯片結 構如圖2所示,也包括外延層9,但是外延層9由上至下依次為N型AlGalnP層5、發(fā)光層4、 P型AlGalnP層3 、 P型GaP層2和金屬反射及粘結層10 (包括一層粘接層及一個金屬反射 鏡),在N型AlGalnP層5的上面(外延層9的頂面)設置N型電極8。外延層9生長在導電 的6H-SiC基底ll上,在導電6H-SiC基底ll的底面設置P型電極l。由此可見本發(fā)明是以 熱導率高于GaAs材料10倍的6H-SiC材料為基底,將LED發(fā)光層從GaAs基底上轉移到6H-SiC 基底上,與現(xiàn)有的AlGalnP四元LED芯片的結構正好相反,成為反極性LED芯片。 上述以導電6H-SiC為基底的反極性AlGalnP LED芯片的制作工藝步驟如下
1. 首先在GaAs基底7上生長外延結構,如圖4所示,按常規(guī)由下至上依次外延生長N 型AlGalnP層5、發(fā)光層4、 P型AlGalnP層3和P型GaP層2,制成外延片。
2. 在2英寸導電6H-SiC基底ll上蒸鍍金屬反射及粘結層lO,如圖5所示。
3. 在加熱(200。C 400。C)、真空(真空度小于lTorr)及靜壓(30~80PSI)的條件下將 步驟1制備的外延片與步驟2制備的蒸鍍有金屬反射及粘結層10的導電6H-SiC基底11粘接 在一起,如圖6所示,粘接時,是將P型GaP層2與金屬反射及粘結層10對接。4. 選擇性腐蝕GaAs基底,腐蝕液(按體積比)硫酸雙氧水水=3: 1: l的比例配制, 直到全部去掉GaAs材料。如圖7所示。
5. 如圖2所示在N型AlGalnP層5上制作N型電極8,在導電6H-SiC基底11的底面制 作P型電極1。
實施例2
本實施例的6H-SiC基底反極性AlGalnP LED芯片是以絕緣6H-SiC為基底,如圖3所示, 以絕緣6H-SiC基底12替代實施例1的導電6H-SiC基底11,并且將P型電極1制作在金屬 反射及粘結層10上,其余結構與實施例1的以導電6H-SiC為基底的反極性AlGalnP四元LED 芯片一樣。
本實施例的以絕緣6H-SiC為基底的反極性AlGalnP LED芯片的制作工藝步驟如下
1. 如圖4所示,同樣先在GaAs基底7上按常規(guī)外延生長LED外延結構,由下至上依次 外延生長N型AlGalnP層5、發(fā)光層4、 P型AlGalnP層3和P型GaP層2,制成外延片。
2. 在加工好的絕緣6H-SiC基底12上蒸鍍金屬反射及粘結層10,參照圖5所示。
3. 參照圖6所示,在加熱(200 400度)、真空(真空度小于1Torr)及靜壓(3(T80PSI) 的條件下將步驟1制備的外延片與步驟2制備的蒸鍍有金屬反射及粘結層10的絕緣6H-SiC 基底12粘接在一起,粘接時將P型GaP層2與金屬反射及粘結層10對接。
4. 選擇性腐蝕掉原GaAs基底7,如圖7所示。
5. 如圖8所示,將外延層的局域刻蝕掉。
6. 如圖3所示在N型AlGalnP層5上制作N型電極8,在金屬反射層及粘結層10上制 作P型電極1。
權利要求
1.一種6H-SiC基底反極性AlGaInP LED芯片,包括基底和基底上的外延層,其特征是以6H-SiC材料作為基底,外延層由上至下依次為N型AlGaInP層、發(fā)光層、P型AlGaInP層、P型GaP層和金屬反射及粘結層,在N型AlGaInP層上設置N型電極,在6H-SiC基底的底面或金屬反射及粘結層上設置P型電極。金屬反射及粘結層包括一層粘接層和一個金屬反射鏡。
2.根據(jù)權利要求1所述的6H-SiC基底反極性AlGalnP LED芯片,其特征是6H-SiC材料 是導電6H-SiC單晶或絕緣6H-SiC單晶。
3. —種權利要求1所述6H-SiC基底反極性AlGalnP LED芯片的制作工藝,其特征是包括 以下步驟(1) 首先在GaAs基底上生長外延結構,按常規(guī)由下至上依次外延生長N型AlGalnP層、 發(fā)光層、P型AlGalnP層和P型GaP層,制成外延層;(2) 在經過拋光的6H-SiC基底上蒸鍍金屬反射及粘結層,金屬反射及粘結層包括一層粘接層和一個金屬反射鏡;(3) 在200TT40(TC加熱、小于1Torr的真空及30PSI~80PSI的靜壓的條件下將步驟 (1)制備的外延層中P型GaP層與步驟(2)中的金屬反射及粘結層對接;(4) 選擇性腐蝕掉GaAs基底;(5) 在N型AlGalnP層上制作N型電極,在6H-SiC基底的底面或金屬反射及粘結層上制作 P型電極。
全文摘要
本發(fā)明公開了一種6H-SiC基底反極性AlGaInP LED芯片及其制作工藝。反極性AlGaInPLED芯片包括基底和基底上的外延層,以6H-SiC材料作為基底,外延層由上至下依次為N型AlGaInP層、發(fā)光層、P型AlGaInP層、P型GaP層和金屬反射層及粘結層,在N型AlGaInP層上設置N型電極,在6H-SiC基底的底面或金屬反射層及粘結層上設置P型電極。其制作工藝是在6H-SiC表面上蒸鍍一層金屬反射及粘接層,將外延層與6H-SiC基底粘接在一起,再用選擇腐蝕的方法將原GaAs襯底腐蝕剝離掉,經蒸鍍、刻蝕等工藝形成電極制成管芯。本發(fā)明以高熱導率的6H-SiC材料為基底,將LED發(fā)光層從GaAs上轉移到6H-SiC基底上,可改善產品高溫特性,提高產品可靠性。
文檔編號H01L33/00GK101540360SQ20091002039
公開日2009年9月23日 申請日期2009年4月29日 優(yōu)先權日2009年4月29日
發(fā)明者偉 夏, 徐現(xiàn)剛, 建 蘇 申請人:山東華光光電子有限公司